JP3485166B2 - 液晶表示装置の検査方法および検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置の検
査方法および検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】任意の文字，図形を表示することができ
るマトリクス型表示を行なう液晶表示装置(ＬＣＤパネ
ル)は、複数の絵素電極パターン配線および当該絵素電
極パターン配線に対向する対向電極がそれぞれ形成され
た一対の基板部材間に、マトリクス状に配列された複数
の絵素の表示媒体である液晶層などが挟持された構成を
有している。このようなＬＣＤパネルの検査方法とし
て、従来では、表示に欠陥が無いか否かを、実際に使用
条件で点灯させて検査を実施している。この際、表示に
よる検査では、色むらや異物，電極パターン配線のカケ
など、寸法や色の程度を判定する微妙なものの他に、電
極パターン配線の断線やショート(短絡)などの致命的な
欠陥を排除することが必要とされている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、断線に
ついては、液晶表示装置は極めて低消費電力の電圧駆動
型表示装置であるため、たとえＩＴＯなどの電極パター
ン配線が切れかかっていても、わずかにつながっていれ
ばほとんど問題なく点灯してしまい、後に完全な断線に
至るような配線のクラックなどを検出することは困難で
あった。

【０００４】本発明は、後で断線になる可能性の高い、
電極パターン配線の細りやクラック，キズなどのあるも
のを容易に検出し、極めて信頼性の高い液晶表示装置
(ＬＣＤパネル)を提供することの可能な液晶表示装置の
検査方法および検査装置を提供することを目的としてい
る。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の発明は、液晶表示装置の電極パター
ン配線に所定周波数の駆動信号を供給し、電極パターン
配線に欠陥があるときには、電極パターン配線に供給さ
れる駆動信号の波形の実効値が低下し、該電極パターン
配線の表示ラインの輝度が電極パターン配線に欠陥がな
いときに比べて高くまたは低くなることを検出し、これ
に基づいて、液晶表示装置の良否の判定を行なう液晶表
示装置の検査方法であって、用いる駆動信号の周波数に
応じて良品限度を設定し、着目する電極パターン配線の
表示ラインの輝度と正常な表示ラインの輝度との差であ
る輝度差を検出し、該輝度差と用いる駆動信号の周波数
に応じた良品限度とに基づいて、液晶表示装置の良否の
判定を行なうようになっており、前記良品限度として複
数の良品限度が設定されており、複数の良品限度を前記
輝度差と比較することにより、液晶表示装置のランク付
けをすることを特徴としている。

【０００６】

【０００７】

【０００８】

【０００９】

【００１０】

【００１１】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載の液晶表示装置の検査方法において、駆動信号の周波
数を１５０Ｈｚ〜２００ＫＨｚの範囲とすることを特徴
としている。

【００１２】また、請求項３記載の発明は、液晶表示装
置の電極パターン配線に供給するための駆動信号を発生
する駆動信号発生手段と、液晶表示装置の電極パターン
配線に駆動信号を供給したときに着目する電極パターン
配線の表示ラインの輝度と正常な表示ラインの輝度との
差である輝度差を検出する輝度検出手段と、輝度検出手
段で検出された輝度差に基づいて液晶表示装置の良否の
判定を行なう良否判定手段とを有し、前記駆動信号発生
手段は、駆動信号の周波数を段階的に可変に設定するこ
とが可能に構成されており、前記良否判定手段には、駆
動信号発生手段において設定される駆動信号の周波数に
対応した良品限度の輝度差が予め設定されており、前記
良否判定手段は、着目する電極パターン配線の表示ライ
ンの輝度と正常な表示ラインの輝度との差である輝度差
が前記輝度検出手段において検出されたときに、検出さ
れた輝度差と予め設定されている前記良品限度の輝度差
とを比較して、液晶表示装置の良否の判定を行なうよう
になっており、前記良品限度として複数の良品限度が設
定されており、前記良否判定手段は、前記輝度検出手段
において検出された輝度差と複数の前記良品限度の輝度
差に基づいて、液晶表示装置の不良の程度を判別し、不
良の程度に応じて液晶表示装置の選別を行なうようにな
っていることを特徴としている。

【００１３】

【００１４】また、請求項４記載の発明は、請求項３記
載の液晶表示装置の検査装置において、駆動信号の周波
数を１５０Ｈｚ〜２００ＫＨｚの範囲とすることを特徴
としている。

【００１５】

【００１６】

【００１７】また、請求項５記載の発明は、請求項３ま
たは請求項４記載の液晶表示装置において、前記輝度検
出手段にはＣＣＤセンサが用いられることを特徴として
いる。

【００１８】

【００１９】

【００２０】

【００２１】

【００２２】

【００２３】

【００２４】

【００２５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図１は本発明の液晶表示装置の検査
方法および検査装置の基本原理を説明するための図であ
る。図１には、例として、液晶表示装置(ＬＣＤパネル)
のＩＴＯなどの電極パターン配線１に発生したクラック
２のところを、矩形波で構成された駆動信号を通過させ
たときの、駆動信号波形の実効値低下の様子が示されて
いる。すなわち、電極パターン配線１のクラック２の部
分は抵抗が高くなっており、矩形波で構成された駆動信
号の波形(クラック手前の波形)は、クラック２を通過
後、波形がなまる。特に、周波数の高い矩形波は角がな
まることで、実効値が低下する。

【００２６】図１の例では、矩形波の周波数が２ｋＨｚ
程度の単純な矩形波の場合が示されている。ＩＴＯにわ
ずかなクラックがあった場合でも、通常の３０〜８０Ｈ
ｚ程度の駆動波形では波形のなまりが少ないため、実効
値の低下がごく少なく、ＬＣＤパネルの表示に影響が及
ぶことが少ないが、たとえばこの場合、駆動波形の周波
数を２ｋＨｚ程度まで上げると、図１に示すように駆動
波形の角がなまり、その分、実効値が低下し、ＬＣＤパ
ネルの表示ライン(画面表示)が薄くまたは濃くなり(Ｏ
Ｎ状態で黒の表示モードの場合には、正常時に比べて輝
度が高くなり、また、ＯＮ状態で白の表示モードの場合
には、正常時に比べて輝度が低くなり)、異常を発見す
ることが可能になる。

【００２７】このように、本発明は、液晶表示装置の電
極パターン配線に所定周波数の駆動信号を供給し、電極
パターン配線に欠陥があるときには、電極パターン配線
に供給される駆動信号の波形の実効値が低下し、該電極
パターン配線の表示ラインの輝度が電極パターン配線に
欠陥がないときに比べて高くまたは低くなることを検出
し、これに基づいて、液晶表示装置の良否の判定を行な
うことを特徴としている。

【００２８】この際、電極パターン配線に供給される駆
動信号は、周波数を可変に設定可能であって、電極パタ
ーン配線に供給される駆動信号の波形の周波数を変化さ
せると、電極パターン配線に供給される駆動信号の波形
の実効値が変動し、電極パターン配線の表示ラインの輝
度が変化することを利用して、液晶表示装置の良否の判
定を行なうようになっている。

【００２９】より具体的に、電極パターン配線に欠陥が
あるときに、電極パターン配線に供給される駆動信号の
波形の周波数を高く設定すると、電極パターン配線に供
給される駆動信号の波形の実効値の低下が大きくなり、
電極パターン配線の表示ラインの輝度が電極パターン配
線に欠陥がないときに比べて顕著に高くまたは低くなる
ことを利用して、液晶表示装置の良否の判定を行なうよ
うになっている。

【００３０】図２(ａ)，(ｂ)には、駆動信号が通常の周
波数(例えば３０〜８０Ｈｚ程度)であるときの液晶表示
装置(ＬＣＤパネル)の表示画面の状態(モニタ画像イメ
ージ)が示されており、このときには、各電極パターン
配線の表示ラインの輝度は、図２(ｃ)のように、いずれ
かの電極パターン配線に欠陥があったとしても、ほぼ同
じになり、これから欠陥を検出することは困難である。
すなわち、液晶表示装置の良否の判定を行なうことは困
難である。

【００３１】これに対し、図３(ａ)，(ｂ)には、駆動信
号が２ｋＨｚ程度の周波数であるときの液晶表示装置
(ＬＣＤパネル)の表示画面の状態(モニタ画像イメージ)
が示されており、このときには、各電極パターン配線の
表示ラインの輝度は、図３(ｃ)のように、欠陥のある電
極パターン配線のところで高輝度になり、これから欠陥
を容易に検出することができる。すなわち、液晶表示装
置の良否の判定を容易に行なうことが可能になる。

【００３２】なお、図１の例では、説明の便宜上、ＬＣ
Ｄパネルの電極パターン配線への駆動信号の波形を単純
な矩形波で説明したが、実際の時分割駆動等での複雑な
矩形波の組み合わせで構成された駆動信号波形でも、同
様な効果が得られる。

【００３３】図４は本発明に係る液晶表示装置の検査装
置の構成例を示す図である。図４を参照すると、本発明
に係る液晶表示装置の検査装置は、液晶表示装置（ＬＣ
Ｄパネル）１３の電極パターン配線に供給するための駆
動信号を発生する駆動信号発生手段５と、液晶表示装置
１３の電極パターン配線に駆動信号を供給したときに液
晶表示装置１３の電極パターン配線の表示ラインの輝度
を検出する輝度検出手段６と、輝度検出手段６で検出さ
れた輝度に基づいて液晶表示装置１３の良否の判定を行
なう良否判定手段７とを有し、駆動信号発生手段５は、
駆動信号の波形のフレーム反転周期を連続的にあるいは
段階的に可変に設定することが可能に構成されている。

【００３４】ここで、駆動信号発生手段５は、単一の矩
形波、または、各種の矩形波の組み合わせによる波形を
有している駆動信号を発生するようになっている。

【００３５】また、輝度検出手段６は、着目する電極パ
ターン配線の表示ラインの輝度と正常な表示ラインの輝
度との差である輝度差を検出し、良否判定手段７は、輝
度検出手段６によって検出された輝度差に基づいて、液
晶表示装置１３の良否の判定を行なうようになってい
る。

【００３６】ここで、正常な表示ラインの輝度として
は、例えば、予め設定された標準的な輝度を用いること
もできるし、あるいは、全ての電極パターン配線の表示
ラインの輝度の平均値を用いたりすることもできる。

【００３７】そして、良否判定手段７は、輝度検出手段
６によって検出された輝度差が、例えば、所定の輝度差
以内でないときに、液晶表示装置が不良であると判定す
るようになっている。

【００３８】具体的には、良否判定手段７には、駆動信
号発生手段５において設定される駆動信号の周波数に対
応した良品限度の輝度差が予め設定されており、良否判
定手段７は、輝度検出手段６において着目する電極パタ
ーン配線の表示ラインの輝度と正常な表示ラインの輝度
との差である輝度差が検出されたときに、検出された輝
度差と予め設定されている前記良品限度の輝度差とを比
較して、液晶表示装置の良否の判定を行なうようになっ
ている。

【００３９】より詳細に、検出された輝度差が良品限度
の輝度差よりも大きくなったときに、液晶表示装置が不
良であると判定するようになっている。

【００４０】また、本発明では、良否判定手段７は、輝
度検出手段６において検出された輝度差に基づいて、液
晶表示装置１３の不良の程度を判別し、不良の程度に応
じて液晶表示装置の選別を行なうようになっている。

【００４１】なお、欠陥を発見するための駆動信号の周
波数は、被検査ＬＣＤパネルがスタティック駆動であっ
たり、時分割駆動であったり等、駆動信号の波形に応じ
て大きく変わる。これは、本発明の利用している原理
が、矩形波の角のなまりによる実効値低下を利用してい
るからであるが、有効な周波数の範囲としては、駆動信
号波形のフレーム反転周波数(フレーム反転周期)で定義
すると、１／４８０デューティなどの高次の時分割駆動
を行なうパネルでは、１５０Ｈｚ以上で欠陥を発見する
効果が得られる。また、単純な矩形波で駆動するスタテ
ィック駆動のパネルにおいても２００ｋＨｚ程度を上限
として、それ以下の周波数領域で欠陥を発見する十分な
効果を得ることができる。駆動周波数をあまり高くして
しまうと、波形のなまりが正常なラインにも見られるよ
うになり、かえって欠陥を発見しにくくなることがあ
り、それぞれのＬＣＤパネル製品に応じて、発見したい
欠陥を見つけるのに最適な駆動周波数を設定することが
肝要である。これらの性質を鑑みて、本発明の検査装置
では、周波数を連続的にまたは段階的に可変に設定でき
る駆動信号発生手段５(信号源)を用いて、例えば、この
周波数で表示ライン(画面表示)が薄く見えなければ(Ｏ
Ｎ状態で黒の表示モードの場合、輝度が高くならなけれ
ば)欠陥がない、といった具合に、配線等の欠陥のレベ
ルの上限を設定したりすることを行なっている。

【００４２】図５は本発明に係る検査装置の具体例を示
す図であり、図２の例では、検査を自動化させる検査装
置が示されている。図５を参照すると、この検査装置
は、ＬＣＤパネル１３を保持する固定治具(図示せず)
と、駆動信号を発生し、この際、駆動波形(駆動信号の
波形)の周波数(ＬＣＤパネル１３の駆動フレーム周波
数)を連続的にまたは段階的に可変にできる周波数可変
信号源１５と、ＬＣＤパネル１３に周波数可変信号源１
５からの駆動信号を入力させるためのプローバ等の信号
入力手段１４と、ＬＣＤパネル１３の表示画面全域を撮
像できるＣＣＤカメラ（ＣＣＤセンサ）１６と、ＣＣＤ
カメラ１６で撮像した画像を処理する画像処理装置１７
と、コントロール装置１８とを備えている。

【００４３】ここで、画像処理装置１７は、ＬＣＤパネ
ル１３の表示画面を撮像したＣＣＤカメラ１６からの信
号を画像化し、ＬＣＤパネル１３の表示画面内の輝度差
を比較検知するための画像処理を行なうようになってい
る。より具体的に、画像処理装置１７では、ＣＣＤカメ
ラ１６で取り込んだ画像の各ドットや各ラインの輝度を
数値化し、あらかじめ決めておいた輝度の数値と比較し
たり、全体の平均値や、偏差等から割り出した判断数値
などと比較したりするようになっている。

【００４４】また、コントロール装置１８は、システム
全体の動きをコントロールする機能を有している。具体
的には、コントロール装置１８は、信号源１５の周波数
をコントロールしたり、ＣＣＤカメラ１６や画像処理装
置１７の動作をコントロールしたり、画像処理装置１７
からの輝度データをもとに良否判定を行なったりするよ
うになっている。

【００４５】なお、上述の説明からもわかるように、周
波数可変信号源１５および信号入力手段１４は、図４の
駆動信号発生手段５に対応し、また、ＣＣＤカメラ１６
および画像処理装置１７は、図４の輝度検出手段６に対
応し、また、コントロール装置１８は、図４の良否判定
手段７に対応している。

【００４６】また、上述の例では、輝度を検知可能なデ
バイス，すなわち輝度検出手段２として、ＣＣＤカメラ
１６を用いたが、ＣＣＤカメラ１６のかわりに、フォト
マルや輝度計などを用いることもできる。

【００４７】図５の検査装置では、例えば、ドットマト
リクス液晶パネルのセグメントのドット列をＣＣＤカメ
ラ１６などにより観察している。液晶パネルのセグメン
トのドット列，セグメント側の電極パターン配線が断線
しかかったりして、これらのドット列に入力される配線
の抵抗が高くなっていると、この液晶パネルの電極パタ
ーン配線を高周波の駆動信号で駆動したときに、駆動信
号の波形の角が鈍り、実効値が低下し、結果としてその
ドット列の表示が薄くなる（そのドット列の輝度が高く
なる）。この、表示の薄く見える程度（輝度が高くなる
程度）で良否を判断するが、良否判定レベルは輝度の差
として定量化できる。すなわち、周囲の正常な部分の輝
度とその薄くなった部分の輝度との差（輝度差）が所定
閾値以上になったとき、不良と判断する。

【００４８】より具体的に、例として、ドットマトリク
ス液晶パネルのセグメントのドット列の線状の欠陥を検
知するには、ドット列を走査する様に(１次元的に)輝度
を測定する。正常なパネルであれば、各ドット列の輝度
は一定範囲となるが、薄くなったドット列があった場合
は、その部分の輝度が、他と異なることが検知できる
(薄くなっている場合は輝度が高くなる)。このときの輝
度差が所定閾値以上大きい場合は、そのドット列を異常
とみなす。ここで、輝度を検知可能なデバイスとして、
輝度計を使う場合は、パネルのドット列を走査する様
に、機械的に測定位置を動かしてやれば良い。また、Ｃ
ＣＤラインセンサを使用すれば、機械的に測定位置を動
かさず、全列を一度に撮えることができる。２次元的に
はＣＣＤカメラを使って液晶画面全体をとらえ、撮影し
た画像のなかに、輝度が所定閾値以上大きいドットがな
いか、線状に輝度が大きくなっている部分がないかなど
(数値化した各ドットのデータを比較計算して調べて)判
定することもできる。

【００４９】また、図５の検査装置では、ＬＣＤパネル
１３の駆動フレーム周波数を可変し、それに応じて検出
すべき表示画面の輝度差をあらかじめ設定しておくこと
で(各駆動周波数あるいは一定範囲の駆動周波数それぞ
れに、良品限度として規定した輝度差をあらかじめ設定
して、良品の限度を決めておくことで)、ＬＣＤ駆動波
形のフレーム反転周期を可変にできる信号源１５との連
動により、設定した幾つかの駆動周波数、あるいは、一
定範囲内で連続的に変化させた駆動周波数での良品限度
の表示輝度差に基づき、不良の程度ごとにＬＣＤパネル
を選別することができ、自動検査にも柔軟に対応させる
ことが可能となる。

【００５０】例えば、通常の周波数での駆動信号で駆動
し画像を捕らえて欠陥を検査した結果、問題がなかった
ものについては、次に、駆動信号の周波数を上げて欠陥
を検査する。駆動信号の周波数を高くした方が、欠陥検
出能力が高くなるから、このように、何段階かで周波数
を上げながら検査を繰り返して行なうことで、不良欠陥
レベルのランク付けができる(どの周波数で不良と判断
されたかでランク付けされる)。周波数の可変は、段階
的でも可能である。

【００５１】図６には、駆動信号の周波数（段階的に設
定される周波数）に対してランク付けされる良品限度の
輝度差の設定例が示されている。図６の例では、例え
ば、駆動信号の周波数が１５０Ｈｚである場合、ランク
Ａについての良品限度の輝度差は“３”，ランクＢにつ
いての良品限度の輝度差は“５”として設定され、ま
た、駆動信号の周波数が２ｋＨｚである場合、ランクＡ
についての良品限度の輝度差は“２０”，ランクＢにつ
いての良品限度の輝度差は“２８”として設定されてい
る。

【００５２】この場合、駆動信号の周波数を１５０Ｈｚ
で駆動したときに検出された輝度差が例えば“２”であ
れば、ランクＡとして選別され、また、検出された輝度
差が例えば“４”であれば、ランクＢとして選別され、
また、検出された輝度差が例えば“７”であれば、欠陥
品として選別される。

【００５３】また、駆動信号の周波数を２ｋＨｚで駆動
したときに検出された輝度差が例えば“１１”であれ
ば、ランクＡとして選別され、また、検出された輝度差
が例えば“２５”であれば、ランクＢとして選別され、
また、検出された輝度差が例えば“３３”であれば、欠
陥品として選別される。

【００５４】このようにして、この周波数では輝度差が
この程度までならランクＡとか、ここまでならランクＢ
とか、輝度差に応じて、等級付けができる。例えば、一
級品，二級品などに選別できる。

【００５５】このように、本発明の液晶表示装置の検査
方法および検査装置では、ＬＣＤパネルを点灯検査する
際に駆動波形の周波数を上げ、通常よりも高い周波数で
駆動させる。もし、ＬＣＤパネルの配線に、異常に細く
なったり、断線しかかったりなどして、配線抵抗が他と
比べて大きくなった箇所があった場合、この抵抗部分で
駆動波形が鈍り、実効値が低下する。それにより、異常
のあるラインの表示が薄くなるため（輝度が高くなるた
め）、配線の欠陥部を容易に発見でき、後に断線に至る
ような危険部分の存在するＬＣＤパネルを容易にリジェ
クトできる。これにより信頼性の高いＬＣＤパネルを提
供することが可能になる。より詳細に、駆動波形の周波
数が高いほど、抵抗による駆動信号波形の鈍り方が顕著
となり、実効値の低下が大きくなり、正常部分との差が
大きくなる。この結果、正常な表示ラインとの輝度差が
大きくなり、より微妙な配線抵抗の差を検知でき、良否
の判定を容易に行なうことができる。換言すれば、良否
の判定がしやすいレベルに周波数を調整することで、通
常の配線抵抗の正常な範囲のばらつきによる抵抗値増加
による影響と明確に区別することが可能で、極めて有効
な検査方法となり得る。

【００５６】換言すれば、本発明は、ＬＣＤパネルを点
灯検査する際に矩形波の組み合わせで構成された駆動波
形のフレーム反転周波数を上げ、通常の使用時よりも高
い周波数で駆動させるものである。もし、ＬＣＤパネル
の各画素電極までの間に、周囲の配線に比べ異常に細く
なったり、クラックがあったり、断線しかかったりなど
して、配線抵抗が他と比べて大きくなった場所があった
場合、この抵抗部分で駆動波形が鈍ることで実効値が低
下する。それにより、抵抗の大きくなったラインが駆動
する部分のＬＣＤの画面表示が薄くなるため、配線の欠
陥部を容易に発見することができる。これにより後に断
線に至るような危険部分の存在するパネルを容易に発見
できるため、信頼性の高いＬＣＤパネルだけを選別する
ことが可能になる。駆動波形の周波数は、高いほど、抵
抗による波形の鈍り方が顕著であり、実効値の低下が大
きくなるため、良否の判定がしやすいレベルに周波数を
調整することで、通常の配線抵抗の正常な範囲のばらつ
きによる抵抗値増加による影響と明確に区別することが
可能で、極めて有効な検査方法となり得る。また、検査
装置にフォトマルやＣＣＤなどの輝度を検知可能なデバ
イスを付加し、自動検査を行なう場合、ＬＣＤ駆動周波
数の可変と良否判定輝度差設定値を対応させることで、
不良の程度ごとにＬＣＤパネルを選別することも可能に
なる。

【００５７】また、液晶表示装置（ＬＣＤパネル）１３
を形成する電極付基板にマトリクス状に配列されている
複数の電極パターン配線の一端に、電圧印加用のコンタ
クトプローブを接触させて電圧を印加して、配線の断線
および／またはショート(短絡)の欠陥を検査する検査方
法では、従来、図７あるいは図８のように各電極パター
ン配線のそれぞれに、順次に、検査用電圧を印加してパ
ターンの断線とショート(短絡)の検査を行なっていた。
なお、図７の例では、コモン用コンタクトプローブ３１
ａとセグメント用コンタクトプローブ３１ｂとの２つの
プローブを用いる場合が示され、図８の例では、ＬＣＤ
パネル１３内でコモンあるいはセグメントが上下の導通
部を介すことにより、コモン側の電極パターン配線とセ
グメント側の電極パターン配線との取出し方向が同じで
あって、コモン用とセグメント用との両方を含む１つの
コンタクトプローブ３１を用いる場合が示されている。

【００５８】具体的に、図７の例では、液晶表示装置
(ＬＣＤパネル)１３のコモン側の各電極パターン配線３
３ａ−１〜３３ａ−ｍのそれぞれに、対応したコンタク
トプローブ端子３１ａ−１〜３１ａ−ｍを接触させ、ま
た、セグメント側の各電極パターン配線３３ｂ−１〜３
３ｂ−ｋのそれぞれに、対応したコンタクトプローブ端
子３１ｂ−１〜３１ｂ−ｋを接触させ、検査用信号源３
２からの検査用電圧をコモン用のコンタクトプローブ３
１ａのコンタクトプローブ端子３１ａ−１〜３１ａ−ｍ
を介して各電極パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍの
それぞれに、順次に与え、また、検査用信号源３２から
の検査用電圧をセグメント用のコンタクトプローブ３１
ｂのコンタクトプローブ端子３１ｂ−１〜３１ｂ−ｋを
介して各電極パターン配線３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋのそ
れぞれに、順次に与えて、各電極パターン配線３３ａ−
１〜３３ａ−ｍ，３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋの断線とショ
ート(短絡)の検査を行なっていた。

【００５９】図８の例においても、図７の例と同様にし
て、各電極パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍ，３３
ｂ−１〜３３ｂ−ｋの断線とショート(短絡)の検査を行
なっていた。

【００６０】しかしながら、上記のような検査方法で
は、各電極パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍ，３３
ｂ−１〜３３ｂ−ｋを順番に検査していくために、検査
に時間がかかるだけでなく、信号源３２から延びるコン
タクトプローブ端子も各電極パターン配線３３ａ−１〜
３３ａ−ｍ，３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋのそれぞれに対応
したものを用意する必要があり、これに伴い、検査用電
圧を印加するための装置(検査用信号源３２の構成)も複
雑になるという問題がある。

【００６１】さらに、単純マトリクスなどは電極に透明
の導電性材料を使っているため、電極の位置が解りにく
く、位置合わせに時間を取られることがある。

【００６２】本発明は、さらに、液晶表示装置を形成す
る電極付基板にマトリクス状に配列されている複数の電
極パターン配線に、電圧印加用のコンタクトプローブを
接触させて電圧を印加し、断線およびショート(短絡)の
欠陥を検査する検査方法における上記問題を解決するこ
とを意図している。

【００６３】図９は本発明に係る液晶表示装置の検査装
置の他の構成例を示す図であり、図９の例は、図７に示
す従来の検査装置に対応したものとなっている。図９を
参照すると、この検査装置は、検査用電圧を発生する検
査用信号源２２と、液晶表示装置(ＬＣＤパネル)１３の
コモン側の電極パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍに
電気的に接触するコモン用コンタクトプローブ２０ａ
と、セグメント側の電極パターン配線３３ｂ−１〜３３
ｂ−ｋに電気的に接触するセグメント用コンタクトプロ
ーブ２０ｂとを備えており、液晶表示装置１５を形成す
る電極付基板に配列されている複数の電極パターン配線
３３ａ−１〜３３ａ−ｍ，３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋの一
端に、電圧印加用のコンタクトプローブ２０ａ，２０ｂ
を接触させて電圧を印加し、断線および／またはショー
ト(短絡)の欠陥を検査する際、前記複数の電極パターン
配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍ，３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋ
を、配列の順番に従って偶数番目のパターン配線のグル
ープと奇数番目のパターン配線のグループとに分けて、
偶数番目のパターン配線のグループと奇数番目のパター
ン配線のグループとのそれぞれに検査用電圧を印加し
て、断線および／またはショート(短絡)の欠陥を検査す
るようになっている。

【００６４】ここで、偶数番目のパターン配線のグルー
プと奇数番目のパターン配線のグループとのグループ分
けは、コンタクトプローブ２０ａ，２０ｂ上でなされて
いる。

【００６５】すなわち、図９の例では、コモン側の電極
パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍのうち、偶数番目
のパターン配線３３ａ−２，３３ａ−４，…を１つのグ
ループとし、このグループを１つのコンタクトプローブ
端子２２ａで検査するようにまとめ、また、奇数番目の
パターン配線３３ａ−３，３３ａ−５，…を他の１つの
グループとし、このグループを１つのコンタクトプロー
ブ端子２３ａで検査するようにまとめている。

【００６６】また、セグメント側の電極パターン配線３
３ｂ−１〜３３ａ−ｋのうち、偶数番目のパターン配線
３３ｂ−２，３３ｂ−４，…を１つのグループとし、こ
のグループを１つのコンタクトプローブ端子２２ｂで検
査するようにまとめ、また、奇数番目のパターン配線３
３ｂ−３，３３ｂ−５，…を他の１つのグループとし、
このグループを１つのコンタクトプローブ端子２３ｂで
検査するようにまとめている。

【００６７】また、図９の例では、複数の電極パターン
配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍ，３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋ
のうち、配列の一番外側のパターン配線３３ａ−１，３
３ａ−ｍ，３３ｂ−１，３３ｂ−ｋだけを点灯させるよ
うに、配列の一番外側のパターン配線３３ａ−１，３３
ａ−ｍ，３３ｂ−１，３３ｂ−ｋをそれぞれ独立したグ
ループにして検査用の電圧を印加して、断線および／ま
たはショート(短絡)の欠陥を検査するようになってい
る。

【００６８】すなわち、コモン側の電極パターン配線３
３ａ−１〜３３ａ−ｍのうち、一番外側のパターン配線
３３ａ−１，３３ａ−ｍをそれぞれ独立したグループに
し、パターン配線３３ａ−１，３３ａ−ｍの各グループ
をコンタクトプローブ端子２１ａ，２５ａでそれぞれ検
査するようにしている。同様に、セグメント側の電極パ
ターン配線３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋのうち、一番外側の
パターン配線３３ｂ−１，３３ｂ−ｋをそれぞれ独立し
たグループにし、パターン配線３３ｂ−１，３３ｂ−ｋ
の各グループをコンタクトプローブ端子２１ｂ，２５ｂ
でそれぞれ検査するようにしている。

【００６９】また、図９の例では、偶数番目のパターン
配線のグループと奇数番目のパターン配線のグループと
の同じグループ内においてもパターンの引き回しにより
同じグループ内で一のパターン配線と他のパターン配線
とのショート(短絡)が考えられる場合は、ショート(短
絡)が考えられるパターン配線のどちらか一方を、前記
偶数番目のパターン配線のグループと奇数番目のパター
ン配線のグループとは独立したグループにして検査用の
電圧を印加して、断線および／またはショート(短絡)の
欠陥を検査するようにしている。

【００７０】すなわち、セグメント側の電極パターン配
線３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋのうち、例えば奇数番目のパ
ターン配線３３ｂ−３，３３ｂ−５，．．．のグループ
に属するパターン配線３３ｂ−ｉがこの奇数番目のグル
ープのあるパターン配線とショート（短絡）することが
考えられるときは、パターン配線３３ｂ−ｉを独立した
グループにし、パターン配線３３ｂ−ｉをコンタクトプ
ローブ端子２４ｂで検査するようにしている。

【００７１】次に、このような構成における検査方法を
具体的に説明する。図９の構成では、検査用信号源２２
からの検査用信号をコモン用コンタクトプローブ２０ａ
とセグメント用コンタクトプローブ２０ｂを介してコモ
ン側の各電極パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍ，セ
グメント側の各電極パターン配線３３ｂ−１〜３３ｂ−
ｋに印加する。コモン用コンタクトプローブ２０ａで
は、プローブ端子を、各電極パターン配線３３ａ−１〜
３３ａ−ｍの偶数番目のグループに対応したプローブ端
子２２ａと奇数番目のグループに対応したプローブ端子
２３ａとに分けている。また、セグメント用コンタクト
プローブ２０ｂでは、プローブ端子を、各電極パターン
配線３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋの偶数番目のグループに対
応したプローブ端子２２ｂと奇数番目のグループに対応
したプローブ端子２３ｂとに分けている。このようにグ
ループ分けされたプローブ端子の１つに、検査用信号源
２２からの検査用信号を印加し、それ以外のプローブ端
子から信号が検出されなければ正常と判断する一方、そ
れ以外のプローブ端子から信号が検出された場合はパタ
ーン配線間のショート(短絡)が考えられる。このような
仕方で、液晶表示装置(ＬＣＤパネル)の検査を行なうこ
とができる。

【００７２】すなわち、本発明は、コンタクトプローブ
上で複数の電極パターンを偶数番目のグループと奇数番
目のグループとに分けて、検査用電圧を印加することに
より、検査する端子の数を見掛上減らすことができ、検
査の時間を短縮させることができる。

【００７３】また、図９のＬＣＤパネル１３のように、
隣接するアイコンが同じグループに接続されている場合
(図９の例では、“Ｂ”と“Ｃ”の隣接するアイコンが
奇数番目のセグメントに接続されている)、そのどちら
か一方を独立させて(図９の例では、“Ｃ”のアイコン
が接続されているセグメント３３ｂ−ｉに対応するプロ
ーブ端子２４ｂをプローブ端子２２ｂ，２３ｂと独立さ
せて)、検査用信号(電圧)を印加する。

【００７４】なお、図９の例では、アイコンがセグメン
ト側に接続されていたが、アイコンがコモン側に接続さ
れている場合も、同様に、どちらか一方を独立させて、
検査用信号を印加する。

【００７５】このように、同じグループ内においても、
アイコンなどのパターンの引き回しにより同じグループ
内の他のパターンとのショートが考えられる場合は、そ
のどちらか一方を独立したグループとすることにより、
検査の精度を上げることができる。

【００７６】また、図９の例では、マトリクス状に配置
されたドット部の外周だけを点灯(枠状に点灯)させられ
るよう、コモンとセグメントの一番外側の電極パターン
配線３３ａ−１，３３ａ−ｍ，３３ｂ−１，３３ｂ−ｋ
のそれぞれに対応するプローブ端子２１ａ，２５ａ，２
１ｂ，２５ｂを他のプローブ端子から独立させている。
これにより、検査開始時にＬＣＤパネル１３とコモン用
コンタクトプローブ２０ａおよびセグメント用コンタク
トプローブ２０ｂとの位置合わせを行なう場合、ドット
の外周だけを点灯させることができ、これによって、図
１０に示すように、位置合わせが正しく行なわれている
かどうかがわかる。

【００７７】すなわち、図１０(ａ)〜(ｉ)において、図
１０(ｅ)が位置合わせが正しく行なわれた場合であり、
この場合には、ドットの外周全てが点灯することで位置
合わせが正しく行なわれたことがわかる。また、図１０
(ｂ)はコモン用コンタクトプローブ２０ａが上にずれて
いる場合を示し、また、図１０(ｈ)はコモン用コンタク
トプローブ２０ａが下にずれている場合を示し、また、
図１０(ｄ)はセグメント用コンタクトプローブ２０ｂが
左にずれている場合を示し、また、図１０(ｆ)はセグメ
ント用コンタクトプローブ２０ｂが右にずれている場合
を示している。このように、ドットの外周だけを点灯さ
せることができ、これによって、図１０に示すように、
位置合わせが正しく行なわれているかどうかがわかる。

【００７８】また、図１１は本発明に係る液晶表示装置
の検査装置の他の構成例を示す図であり、図１１の例は
図８に示す従来の検査装置に対応したものとなってい
る。すなわち、図１１の例は、ＬＣＤパネル１３内でコ
モンあるいはセグメントが上下の導通部を介すことによ
り、コモン側の電極パターン配線とセグメント側の電極
パターン配線との取出し方向が同じであって、コモン用
とセグメント用との両方を含む１つのコンタクトプロー
ブ２０を用いる場合が示されている。

【００７９】図１１の場合も、図９の場合と同様に、コ
モン側，セグメント側のいずれも、コンタクトプローブ
２０上で、各電極パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−
ｍ，３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋの偶数番目のグループに対
応したプローブ端子２２ａ，２２ｂと、奇数番目のグル
ープに対応したプローブ端子２３ａ，２３ｂとに分けて
いる。

【００８０】すなわち、図９の例では、コモン側の電極
パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍのうち、偶数番目
のパターン配線３３ａ−２，３３ａ−４，…を１つのグ
ループとし、このグループを１つのコンタクトプローブ
端子２２ａで検査するようにまとめ、また、奇数番目の
パターン配線３３ａ−３，３３ａ−５，…を他の１つの
グループとし、このグループを１つのコンタクトプロー
ブ端子２３ａで検査するようにまとめている。

【００８１】また、セグメント側の電極パターン配線３
３ｂ−１〜３３ｂ−ｋのうち、偶数番目のパターン配線
３３ｂ−２，３３ｂ−４，…を１つのグループとし、こ
のグループを１つのコンタクトプローブ端子２２ｂで検
査するようにまとめ、また、奇数番目のパターン配線３
３ｂ−３，３３ｂ−５，…を他の１つのグループとし、
このグループを１つのコンタクトプローブ端子２３ｂで
検査するようにまとめている。

【００８２】このように、コンタクトプローブ２０上で
複数の電極パターンを偶数番目のグループと奇数番目の
グループとに分けて、検査用電圧を印加することによ
り、検査する端子の数を見掛上減らすことができ、検査
の時間を短縮させることができる。

【００８３】また、図１１の例においても、隣接するア
イコンが同じグループに接続されている場合(図１１の
例では、“Ｂ”と“Ｃ”の隣接するアイコンが奇数番目
のセグメントに接続されている)、そのどちらか一方を
独立させて(図１１の例では、“Ｃ”のアイコンが接続
されているセグメント３３ｂ−ｉに対応するプローブ端
子２４ｂをプローブ端子２２ｂ，２３ｂと独立させ
て)、検査用信号を印加するようにしている。

【００８４】また、図１１のＬＣＤパネルのように、コ
モン側の電極パターン配線３３ａ−１〜３３ａ−ｍが上
下２分割されて、かつ、左右に引き出されている場合、
引出し方向が切り替わる電極パターン配線(図１１の例
では、３３ａ−５)が反対側から引き出される電極の終
端部とショートすることが考えられる。このような場
合、引出し方向が切り替わる電極パターン配線３３ａ−
５も独立させて(電極パターン配線３３ａ−５に対応す
るプローブ端子２４ａを他のプローブ端子と独立させ
て)、検査用信号を印加するようにしている。

【００８５】このように、同じグループ内においても、
アイコンなどのパターンの引き回しにより同じグループ
内の他のパターンとのショートが考えられる場合は、そ
のどちらか一方を独立したグループとすることにより、
検査の精度を上げることができる。

【００８６】さらに、図１１の構成においても、図９の
構成と同様、マトリクス状に配置されたドット部の外周
だけを点灯(枠状に点灯)させられるよう、コモンとセグ
メントの一番外側の電極パターン配線３３ａ−１，３３
ａ−ｍ，３３ｂ−１，３３ｂ−ｋのそれぞれに対応する
プローブ端子２１ａ，２５ａ，２１ｂ，２５ｂを他のプ
ローブ端子から独立させている。これにより、検査開始
時にＬＣＤパネル３とコモン用コンタクトプローブ２０
ａおよびセグメント用コンタクトプローブ２０ｂとの位
置合わせを行なう場合、ドットの外周だけを点灯させる
ことができ、これによって、図１０に示したと同様に、
位置合わせが正しく行なわれているかどうかがわかる。

【００８７】

【発明の効果】以上に説明したように、請求項１乃至請
求項５記載の発明によれば、後で断線になる可能性の高
い、配線の細りやクラック，キズなどのある危険なもの
が容易に検出可能となり、迷わず排除できるため、極め
て信頼性の高い液晶表示装置(ＬＣＤパネル)を提供する
ことができる。

【００８８】

【００８９】

【００９０】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の液晶表示装置の検査方法および検査装
置の基本原理を説明するための図である。

【図２】駆動信号が通常の周波数(例えば３０〜８０Ｈ
ｚ程度)であるときの液晶表示装置(ＬＣＤパネル)の表
示画面の状態(モニタ画像イメージ)を示す図である。

【図３】駆動信号が２ｋＨｚ程度の周波数であるときの
液晶表示装置(ＬＣＤパネル)の表示画面の状態(モニタ
画像イメージ)を示す図である。

【図４】本発明に係る液晶表示装置の検査装置の構成例
を示す図である。

【図５】本発明に係る検査装置の具体例を示す図であ
る。

【図６】駆動信号の周波数（段階的に設定される周波
数）に対してランク付けされる良品限度の輝度差の設定
例を示す図である。

【図７】液晶表示装置の従来の検査方法を説明するため
の図である。

【図８】液晶表示装置の従来の検査方法を説明するため
の図である。

【図９】本発明に係る液晶表示装置の検査装置の他の構
成例を示す図である。

【図１０】検査開始時にＬＣＤパネルとコモン用コンタ
クトプローブおよびセグメント用コンタクトプローブと
の位置合わせが正しく行なわれているか否かを示す図で
ある。

【図１１】本発明に係る液晶表示装置の検査装置の他の
構成例を示す図である。

【符号の説明】

１ 配線 ２ クラック ５ 駆動信号発生手段 ６ 輝度検出手段 ７ 良否判定手段 １３ 液晶表示装置（ＬＣＤパネル） １４ 信号入力手段 １５ 周波数可変信号源 １６ ＣＣＤカメラ １７ 画像処理装置 １８ コントロール装置 ２１ コンタクトプローブ ２１ａ コモン用コンタクトプローブ ２１ｂ セグメント用コンタクトプローブ ２２ 検査用信号源 ３３ａ−１〜３３ａ−ｍ コモン側の電極パターン
配線 ３３ｂ−１〜３３ｂ−ｋ セグメント側の電極パタ
ーン配線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平11−30790（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−72437（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−20183（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−243980（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02F 1/13 - 1/141

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 液晶表示装置の電極パターン配線に所定
   周波数の駆動信号を供給し、電極パターン配線に欠陥が
   あるときには、電極パターン配線に供給される駆動信号
   の波形の実効値が低下し、該電極パターン配線の表示ラ
   インの輝度が電極パターン配線に欠陥がないときに比べ
   て高くまたは低くなることを検出し、これに基づいて、
   液晶表示装置の良否の判定を行なう液晶表示装置の検査
   方法であって、用いる駆動信号の周波数に応じて良品限
   度を設定し、着目する電極パターン配線の表示ラインの
   輝度と正常な表示ラインの輝度との差である輝度差を検
   出し、該輝度差と用いる駆動信号の周波数に応じた良品
   限度とに基づいて、液晶表示装置の良否の判定を行なう
   ようになっており、前記良品限度として複数の良品限度
   が設定されており、複数の良品限度を前記輝度差と比較
   することにより、液晶表示装置のランク付けをすること
   を特徴とする液晶表示装置の検査方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の液晶表示装置の検査方法
   において、駆動信号の周波数を１５０Ｈｚ〜２００ＫＨ
   ｚの範囲とすることを特徴とする液晶表示装置の検査方
   法。
3. 【請求項３】 液晶表示装置の電極パターン配線に供給
   するための駆動信号を発生する駆動信号発生手段と、液
   晶表示装置の電極パターン配線に駆動信号を供給したと
   きに着目する電極パターン配線の表示ラインの輝度と正
   常な表示ラインの輝度との差である輝度差を検出する輝
   度検出手段と、輝度検出手段で検出された輝度差に基づ
   いて液晶表示装置の良否の判定を行なう良否判定手段と
   を有し、前記駆動信号発生手段は、駆動信号の周波数を
   段階的に可変に設定することが可能に構成されており、
   前記良否判定手段には、駆動信号発生手段において設定
   される駆動信号の周波数に対応した良品限度の輝度差が
   予め設定されており、前記良否判定手段は、着目する電
   極パターン配線の表示ラインの輝度と正常な表示ライン
   の輝度との差である輝度差が前記輝度検出手段において
   検出されたときに、検出された輝度差と予め設定されて
   いる前記良品限度の輝度差とを比較して、液晶表示装置
   の良否の判定を行なうようになっており、前記良品限度
   として複数の良品限度が設定されており、前記良否判定
   手段は、前記輝度検出手段において検出された輝度差と
   複数の前記良品限度の輝度差に基づいて、液晶表示装置
   の不 良の程度を判別し、不良の程度に応じて液晶表示装
   置の選別を行なうようになっていることを特徴とする液
   晶表示装置の検査装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載の液晶表示装置の検査装置
   において、駆動信号の周波数を１５０Ｈｚ〜２００ＫＨ
   ｚの範囲とすることを特徴とする液晶表示装置の検査装
   置。
5. 【請求項５】 請求項３または請求項４記載の液晶表示
   装置において、前記輝度検出手段にはＣＣＤセンサが用
   いられることを特徴とする液晶表示装置の検査装置。