CN115938255A - 显示检测装置、检测方法及检测系统 - Google Patents

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CN115938255A CN202211639240.7A CN202211639240A CN115938255A CN 115938255 A CN115938255 A CN 115938255A CN 202211639240 A CN202211639240 A CN 202211639240A CN 115938255 A CN115938255 A CN 115938255A
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李俊雨
廖柏凯
李玫忆
郭豫杰
洪春长
周上杰
吕侑儒
林裕勋
陈俊硕
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Abstract

本发明公开了一种显示检测装置、检测方法及检测系统，其中该显示检测装置包含面板、检测板及检测转接板。面板用以进行显示。检测板耦接于面板，并用以输入检测信号。检测转接板耦接于面板，并用以响应检测信号，藉以产生检测结果。

Description

显示检测装置、检测方法及检测系统
技术领域
本案涉及显示检测领域。详细而言，本案涉及一种显示检测装置、检测方法及检测系统。
背景技术
现有显示检测装置设计为通过控制面板阵列电路的晶体管形成检测的封闭回路，以测量电流或电压判断面板阵列电路的晶体管是否损坏。然而，使用测量电流或电压方式，会因为晶体管损坏程度较不严重，如微小漏电，而无法被检测出来。因此，控制晶体管形成检测的封闭回路，使用测量电流或电压方式判断面板阵列电路的晶体管是否损坏，无法完整模拟面板的情况。
再者，由于显示装置中的微发光二极管的成本昂贵，于检测过程中可能造成微发光二极管的损坏。
因此，上述技术尚存诸多缺陷，而有待本领域从业人员研发出其余适合的检测电路设计。
发明内容
本案的一面向涉及一种显示检测装置。显示检测装置包含面板、检测板及检测转接板。面板用以进行显示。检测板耦接于面板，并用以输入检测信号。检测转接板耦接于面板，并用以响应检测信号，藉以产生检测结果。
本案的另一面向涉及一种检测方法。检测方法包含以下步骤：结合检测转接板的检测回路至显示检测装置的面板；通过显示检测装置的检测板输入检测信号至面板；以及通过检测转接板的检测回路响应检测信号，以产生检测结果。
本案的另一面向涉及一种检测系统。检测系统用以检测显示检测装置。检测系统包含显示检测装置及测试机台。显示检测装置包含面板、检测板及检测转接板。面板用以进行显示，并用以自检测系统的点灯治具传输检测信号。检测板耦接于面板，并用以传输自面板的检测信号。检测转接板耦接于面板，并用以响应检测信号，藉以产生检测结果。测试机台包含探针平台及感测器。探针平台用以定位及校准显示检测装置的面板。感测器耦接于探针平台，并用以撷取检测转接板的检测结果，以产生特征影像，藉以根据特征影像评估显示检测装置是否异常。
附图说明
参照后续段落中的实施方式以及下列图式，当可更佳地理解本案的内容：
图1为根据本案一些实施例绘示的显示检测装置的电路方块示意图；
图2为根据本案一些实施例绘示的检测方法的步骤流程示意图；
图3为根据本案一些实施例绘示的检测系统的电路方块示意图；
图4为根据本案一些实施例绘示的检测系统的电路方块示意图；以及
图5为根据本案一些实施例绘示的检测系统的局部区域放大示意图。
其中，附图标记：
100：显示检测装置
110：面板
111：面板阵列电路
120：检测板
130：检测转接板
T1～TN：控制晶体管
E1～EN：电极板
P1～PN：薄膜探针
D1～DN：检测二极管
L1～LN：光强度
900：光学检测系统
910：电性检测板
200：方法
210～230：步骤
2000：检测系统
2100：显示检测装置
2110：面板
2111：面板阵列电路
D1：检测二极管
2120：检测板
2130：检测转接板
2200：测试机台
2210：探针平台
2220：感测器
2211～2213：辅助感测器
P1～P2：站点
B：基板
3000：检测系统
3100：显示检测装置
3110：面板
2120：检测板
3130：检测转接板
3200：测试机台
3210：探针平台
3220：检测感测器
3211～3212：对位感测器
3213：点灯治具
3214：铝挤型支架
Z：局部区域
3121：探针卡头
3122：探针卡印刷电路板
3131：弹簧针
3132：印刷电路板
N1：线针
具体实施方式
以下将以图式及详细叙述清楚说明本案的精神，任何所属技术领域中具有通常知识者在了解本案的实施例后，当可由本案所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本案的精神与范围。
本文的用语只为描述特定实施例，而无意为本案的限制。单数形式如“一”、“这”、“此”、“本”以及“该”，如本文所用，同样也包含复数形式。
关于本文中所使用的“包含”、“包括”、“具有”、“含有”等等，均为开放性的用语，即意指包含但不限于。
关于本文中所使用的用词(terms)，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在本案的内容中与特殊内容中的平常意义。某些用以描述本案的用词将于下或在此说明书的别处讨论，以提供本领域技术人员在有关本案的描述上额外的引导。
图1为根据本案一些实施例绘示的显示检测装置100的电路方块示意图。在一些实施例中，请参阅图1，显示检测装置100包含面板110、检测板120及检测转接板130。在一些实施例中，面板110包含多个面板阵列电路111。
在一些实施例中，面板110用以进行显示。检测板120耦接于面板110，并用以输入检测信号。检测转接板130直接或间接耦接于面板110，并用以响应检测信号，藉以产生检测结果。
在一些实施例中，多个面板阵列电路111用以进行显示。
在一些实施例中，多个面板阵列电路111皆包含控制晶体管(例如：控制晶体管T1)及成对电极板(例如：电极板E1)。须说明的是，成对电极板E1之间具有空隙，成对电极板E1的空隙用以设置发光元件。进一步说明的是，多个面板阵列电路111于检测过程中因无设置发光元件而无法显示，因此，本案面板110显示为全黑画面。
在一些实施例中，检测转接板130包含多个检测回路(例如:检测二极管D1通过薄膜探针P1耦接于面板阵列电路111的回路、检测二极管D2通过薄膜探针P2耦接于面板阵列电路111的回路及检测二极管DN通过薄膜探针PN耦接于面板阵列电路111的回路)。多个检测回路分别耦接于每一多个面板阵列电路111，以响应检测信号，藉以产生检测结果。通过光学检测系统900撷取检测结果以进行分析。
在一些实施例中，每一多个检测回路包含至少一薄膜探针(例如:薄膜探针P1)及检测二极管(例如:检测二极管D1)。须说明的是，主要以图式中最左侧的检测回路作举例，多个检测回路皆相同，薄膜探针(例如:薄膜探针P1)耦接于每一多个检测回路及每一多个面板阵列电路111，以形成封闭回路。检测二极管D1耦接于薄膜探针P1，并用以根据检测信号进行发光，藉以判定面板110的多个面板阵列电路111是否异常。
在一些实施例中，当面板110显示全暗画面时，每一多个检测回路的检测二极管用以根据检测信号判断每一多个面板阵列电路111是否产生漏电流。须说明的是，面板110通常由面板阵列电路111中的控制晶体管T1至TN进行驱动。于全暗画面下，控制晶体管T1至TN根据显示检测装置100的控制信号不驱动面板110。
在一些实施例中，若多个面板阵列电路111其中一者产生漏电流，则通过检测二极管(例如:检测二极管D1、检测二极管D2及检测二极管D3)根据漏电流的大小进行发光，以产生多种光强度(例如：第一光强度L1、第二光强度L2至第N个光强度LN)。
在一些实施例中，若多个面板阵列电路111并未产生漏电流，则通过显示检测装置100外部的电性检测板910对检测转接板130进行电压检测或进行电流检测，以判断多个面板阵列电路111是否缺损。须说明的是，显示检测装置100外部的电性检测板910会另外电性连接于多个检测回路。于检测完后，电性检测板910会被移除。
在一些实施例中，为使本案的显示检测装置100的操作易于理解，请一并参阅图1至图2，图2为根据本案一些实施例绘示的检测方法200的步骤流程示意图。在一些实施例中，检测方法200可由图1的显示检测装置100所执行。本案的检测方法200的步骤如后所述。
于步骤210中，结合检测转接板的检测回路至显示检测装置的面板。在一些实施例中，请参阅图1至图2，以图1最左侧电路举例，通过检测转接板130的检测回路的至少一薄膜探针P1耦接于面板110的面板阵列电路111，以形成封闭回路。
于步骤220中，通过显示检测装置的检测板输入检测信号至面板。在一些实施例中，请参阅图1至图2，以图1最左侧电路举例，当面板110显示全黑画面时，通过显示检测装置100的检测板120输入检测信号至面板110，并通过检测转接板130的检测回路的检测二极管D1响应检测信号，以产生检测结果。
在一些实施例中，请参阅图1，显示检测装置100的面板110包含第一区域及第二区域(图中未示)。第一区域及第二区域不重叠。在一些实施例中，通过显示检测装置100的检测板120分别输入检测信号至第一区域及第二区域。须说明的是，面板110通常包含阵列式的显示像素。阵列式的显示像素通常为由多行及多列所组成。此处区域指的是一行或一列或感兴趣区域(region of interest,ROI)。区域的形状及大小由使用者根据实际需求设计，并不以本案实施例为限。
在一些实施例中，请参阅图1，通过显示检测装置100的检测板120同时输入检测信号至第一区域及第二区域(图中未示)。
于步骤230中，通过检测转接板的检测回路响应检测信号，以产生检测结果。在一些实施例中，请参阅图1至图2，以图1最左侧电路举例，通过检测二极管D1根据检测信号判断面板110的最左侧面板阵列电路111是否产生漏电流。
接着，若面板阵列电路111产生漏电流，则通过检测二极管D1根据漏电流的大小进行发光，以产生多种光强度(例如：第一光强度L1)。
再者，若多个面板阵列电路111并未产生漏电流，则通过显示检测装置100外部的电性检测板910对检测转接板130进行电压检测或进行电流检测，以判断多个面板阵列电路111是否缺损。
图3为根据本案一些实施例绘示的检测系统2000的电路方块示意图。在一些实施例中，请参阅图3，检测系统2000用以检测显示检测装置2100。检测系统2000包含显示检测装置2100及测试机台2200。
在一些实施例中，显示检测装置2100包含面板2110、检测板2120及检测转接板2130。面板2110用以进行显示，并用以自检测系统2000的点灯治具(图中未示)传输检测信号。检测板2120耦接于面板2110，并用以传输自面板2110的检测信号。检测转接板2130直接或间接耦接于面板2110，并用以响应检测信号，藉以产生检测结果。
在一些实施例中，测试机台2200包含探针平台2210、感测器2220及辅助感测器2211～2213。探针平台2210用以定位及校准显示检测装置2100的面板2110。感测器2220耦接于探针平台2210，并用以撷取检测转接板2130的检测结果，以产生特征影像，藉以根据特征影像评估显示检测装置2100是否异常。
须说明的是，图3的显示检测装置2100对应至图1的显示检测装置100，其余结构及操作已于上述段落进行解说，于此不作赘述。
在一些实施例中，测试机台2200可为自动化光学检测系统(Automated OpticalInspection,AOI)。测试机台2200通过感测器2220撷取显示检测装置2100的检测转接板2130检测结果的光学影像，将亮度、颜色、像素分布等讯息转换为数字影像信号，再由电脑与程序对数字影像信号进行各种数学运算，以抽取目标的特征、分析及解释影像内容，再根据预设的容许度和其他要求条件输出结果。藉此通过检测转接板2130的检测二极管D1～DN的发光强度(例如:第一光强度L1、第二光强度L2至第N个光强度LN)来检测面板2110。
图4为根据本案一些实施例绘示的检测系统3000的电路方块示意图。在一些实施例中，请参阅图4，图4的检测系统3000及图3的检测系统2000的差异在于检测板3120的位置改变以及测试机台3200的探针平台3210包含点灯治具3213及铝挤型支架3214，其余结构与图3的检测系统2000相似。
在一些实施例中，检测系统3000包含显示检测装置3100及测试机台3200。在一些实施例中，显示检测装置3100包含面板3110、检测板3120及检测转接板3130。在一些实施例中，测试机台3200包含探针平台3210、检测感测器3220、对位感测器3211及对位感测器3212、点灯治具3213及铝挤型支架3214。
在一些实施例中，面板3110用以进行显示，并用以自检测系统3000的测试机台3200的探针平台3210的点灯治具3213传输检测信号。检测板3120耦接于面板3110，并用以传输自面板3110的检测信号。检测转接板3130通过检测板3120间接耦接于面板3110，并用以响应检测信号，藉以产生检测结果。
在一些实施例中，探针平台3210的点灯治具3213用以产生检测信号至面板3110，再通过检测板3120传输至上方的检测转接板3130的检测二极管D1至检测二极管DN之中。
在一些实施例中，检测感测器3220、对位感测器3211及对位感测器3212分别设置于铝挤型支架3214上。
图5为根据本案一些实施例绘示的图4的检测系统3000的局部区域Z放大示意图。在一些实施例中，请参阅图4及图5，检测板3120更包含探针卡头3121及探针卡印刷电路板3122。探针卡头3121包含多个线针N1。多个线针N1的底部与图4的面板3110接触(图中未示)。多个线针N1的顶部与探针卡印刷电路板3122接触。探针卡印刷电路板3122内部具有多组连接图4的面板3110及检测转接板3130的线路。
在一些实施例中，检测转接板3130包含检测二极管D1至检测二极管DN、弹簧针3131及印刷电路板3132。检测转接板3130内部具有从图4的面板3110向上延伸的多组线路。检测转接板3130的底部采用弹簧针3131进行连结。弹簧针3131的顶部与检测转接板3130的印刷电路板3132接触。
在一些实施例中，请参阅图3至图5，图5的检测二极管D1至检测二极管DN的位置将对应图4的面板3110的面板阵列电路(或称为像素)位置，其位置对应方式相似于图3中多个面板阵列电路2111及检测转接板2130的检测二极管D1的位置对应方式。因此，可通过检测二极管D1至检测二极管DN的发光强度来检测图4的面板3110。
依据前述实施例，本案提供一种显示检测装置、检测方法及检测系统，藉以于全暗画面下检测面板中电路是否产生漏电流，并根据漏电流转换的光强度判别面板的瑕疵。
虽然本案以详细的实施例揭露如上，然而本案并不排除其他可行的实施态样。因此，本案的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准，而非受于前述实施例的限制。
对本领域技术人员而言，在不脱离本案的精神和范围内，当可对本案作各种的更动与润饰。基于前述实施例，所有对本案所作的更动与润饰，亦涵盖于本案的保护范围内。

Claims (20)

1.一种显示检测装置，其特征在于，包含：
一面板，用以进行显示；
一检测板，耦接于该面板，并用以输入一检测信号；以及
一检测转接板，耦接于该面板，并用以响应该检测信号以产生一检测结果。
2.如权利要求1所述的显示检测装置，其特征在于，该面板包含：
多个面板阵列电路，用以进行显示。
3.如权利要求2所述的显示检测装置，其特征在于，该检测转接板包含：
多个检测回路，分别耦接于每一该些面板阵列电路，以响应该检测信号，藉以产生该检测结果。
4.如权利要求3所述的显示检测装置，其特征在于，每一该些检测回路包含：
至少一薄膜探针，耦接于每一该些检测回路及每一该些面板阵列电路，以形成一封闭回路；以及
一检测二极管，耦接于该至少一薄膜探针，并用以根据该检测信号进行发光，藉以判定该面板的该些面板阵列电路是否异常。
5.如权利要求4所述的显示检测装置，其特征在于，当该面板显示一全暗画面时，每一该些检测回路的该检测二极管用以根据该检测信号判断每一该些面板阵列电路是否产生漏电流。
6.如权利要求5所述的显示检测装置，其特征在于，若该些面板阵列电路其中一者产生该漏电流，则通过该检测二极管根据该漏电流的大小进行发光，以产生多种光强度。
7.如权利要求5所述的显示检测装置，其特征在于，若该些面板阵列电路并未产生该漏电流，则通过该显示检测装置外部的一电性检测板对该检测转接板进行电压检测或进行电流检测，以判断每一该些面板阵列电路是否缺损。
8.一种检测方法，其特征在于，包含：
结合一检测转接板的一检测回路至一显示检测装置的一面板；
通过该显示检测装置的一检测板输入一检测信号至该面板；以及
通过该检测转接板的该检测回路响应该检测信号，以产生一检测结果。
9.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于，该结合该检测转接板的该检测回路至该显示检测装置的该面板的步骤包含：
通过该检测转接板的该检测回路的至少一薄膜探针耦接于该面板的多个面板阵列电路其中一者，以形成一封闭回路。
10.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于，通过该显示检测装置的该检测板输入该检测信号的步骤包含：
当该面板显示一全黑画面时，通过该显示检测装置的该检测板输入该检测信号至该面板，并通过该检测转接板的该检测回路的一检测二极管响应该检测信号，以产生该检测结果。
11.如权利要求10所述的检测方法，其特征在于，通过该检测转接板的该检测回路响应该检测信号，以产生该检测结果的步骤包含：
通过该检测二极管根据该检测信号判断该面板的多面板阵列电路是否产生一漏电流；以及
若该些面板阵列电路其中一者产生该漏电流，则通过该检测二极管根据该漏电流的大小进行发光，以产生多种光强度。
12.如权利要求10所述的检测方法，其特征在于，通过该检测转接板的该检测回路响应该检测信号，以产生该检测结果的步骤更包含：
若多个面板阵列电路并未产生一漏电流，则通过该显示检测装置外部的一电性检测板对该检测转接板进行电压检测或进行电流检测，以判断该些面板阵列电路是否缺损。
13.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于，该显示检测装置的该面板包含一第一区域及一第二区域，其中该第一区域及该第二区域不重叠，其中通过该显示检测装置的该检测板输入该检测信号的步骤包含：
通过该显示检测装置的该检测板分别输入该检测信号至该第一区域及该第二区域。
14.如权利要求13所述的检测方法，其特征在于，通过该显示检测装置的该检测板输入该检测信号的步骤更包含：
通过该显示检测装置的该检测板同时输入该检测信号的该第一区域及该第二区域。
15.一种检测系统，其特征在于，包含：
一显示检测装置，包含：
一面板，用以进行显示，并用以自该检测系统的一点灯治具传输一检测信号；
一检测板，耦接于该面板，并用以传输自该面板的该检测信号；以及
一检测转接板，耦接于该面板，并用以响应该检测信号，藉以产生一检测结果；以及
一测试机台，包含：
一探针平台，用以定位及校准该显示检测装置的该面板；以及
一感测器，耦接于该探针平台，并用以撷取该检测转接板的该检测结果，以产生一特征影像，藉以根据该特征影像评估该显示检测装置是否异常。
16.如权利要求15所述的检测系统，其特征在于，该面板包含：
多个面板阵列电路，用以进行显示。
17.如权利要求16所述的检测系统，其特征在于，该检测转接板包含：
多个检测回路，分别耦接于每一该些面板阵列电路，以响应该检测信号，藉以产生该检测结果。
18.如权利要求17所述的检测系统，其特征在于，每一该些检测回路包含：
至少一薄膜探针，耦接于每一该些检测回路及每一该些面板阵列电路，以形成一封闭回路；以及
一检测二极管，耦接于该至少一薄膜探针，并用以根据该检测信号进行发光，藉以判定该面板的该些面板阵列电路是否异常。
19.如权利要求18所述的检测系统，其特征在于，当该面板显示一全暗画面时，每一该些检测回路的该检测二极管用以根据该检测信号判断该些面板阵列电路是否产生漏电流，其中若该些面板阵列电路其中一者产生该漏电流，则通过该检测二极管根据该漏电流的大小进行发光，以产生多种光强度，该测试机台的该感测器更用以根据该些光强度产生该特征影像。
20.如权利要求19所述的检测系统，其特征在于，若该些面板阵列电路并未产生该漏电流，则通过该显示检测装置外部的一电性检测板对该检测转接板进行电压检测或进行电流检测，以判断每一该些面板阵列电路是否缺损。
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