CN107818748B - 显示面板检测方法与装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板检测方法与装置。其中，显示面板检测方法包括依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息；根据多个像素位置信息，对多个像素电荷量进行排列，以产生图文件信息；将图文件信息中的多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息；将图文件信息中的多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。通过本发明，以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

Description

显示面板检测方法与装置

技术领域

本发明涉及显示面板检测技术领域，尤其涉及一种显示面板检测方法与装置。

背景技术

随着科技的进步，显示面板以广泛的应用于各种电子产品中，如手机、个人数字助理(PDA)、电视等。一般来说，显示面板在制造完成后都需要进行检测，以确认出显示面板是否有异常现象，而辨别出良品或是不良品。

然而，现行显示面板的检测作业，大都仍是仰赖人工处理，也就是透过人为的方式进行检测，会增加许多的人力成本，并且某些异常现象也不是人为可以分别出来的，使得显示面板的生产量率降低。因此，显示面板的检测方式仍有改善的空间。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种显示面板检测方法与装置，以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

为解决上述问题，本发明提供一种显示面板检测方法，包括依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息；根据多个像素位置信息，对多个像素电荷量进行排列，以产生图文件信息；将图文件信息中的多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息；将图文件信息中的多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。

本发明另提供一种显示面板检测装置，适于对显示面板进行检测，显示面板具有驱动电路与像素电路，驱动电路与像素电路电性连接，像素电路包括多个像素。显示面板检测装置包括控制单元、感测单元与处理单元。控制单元电性连接驱动电路，控制驱动电路依序驱动像素电路中的多个像素。感测单元，电性连接像素电路，感测多个像素所产生的电荷，以取得多个像素的像素电荷量与多个像素位置信息。处理单元，电性连接控制单元与感测单元，驱动控制单元，并接收多个像素的像素电荷量与多个像素位置信息，以根据像素位置信息，对多个像素电荷量进行排列，以产生图文件信息，且将图文件信息中的多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息及将图文件信息中的多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。

本发明所提供的显示面板检测方法与装置，通过依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息，并根据像素位置信息，对像素电荷量进行排列，以产生图文件信息，且将图文件信息中的像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息以及将图文件信息中的像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。如此一来，以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为根据本发明一实施例的显示面板检测装置的方块图。

图2为根据本发明一实施例的显示面板检测方法的流程图。

图3为图2的步骤S206的详细流程图。

图4为图2的步骤S208的详细流程图。

图5为根据本发明一实施例的显示面板检测方法的另一流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图及具体实施例，对本发明作进一步地详细说明。

以下所列举的各实施例中，将以相同的标号代表相同或相似的组件或构件。

图1为根据本发明一实施例的显示面板检测装置的方块图。本实施例的显示面板检测装置100适用于对显示面板190进行检测。其中，显示面板190包括有驱动电路191与像素电路192，驱动电路191与像素电路192电性连接，像素电路192包括多个像素。在本实施例中，显示面板190例如为有源矩阵有机发光二极管(Active matrix organic lightemitting diode)显示面板。

显示面板检测装置100包括控制单元110、感测单元120与处理单元130。控制单元110电性连接驱动电路191，以控制驱动电路191依序驱动像素电路中的多个像素，以写入电位给像素，使像素对应产生电荷。感测单元120电性连接像素电路192，感测像素电路192中的像素所产生的电荷，以取得多个像素的像素电荷量与像素位置信息。

处理单元130电性连接感测单元110与控制单元120，驱动控制单元110对驱动电路191进行控制，并接收像素的像素电荷量与像素位置信息，并根据像素位置信息，对像素的像素电荷量进行排列，以产生图文件信息。也就是说，处理单元130会将像素的像素电荷量根据其对应的像素的位置依序排列，以呈现出与显示面板190显示画面相符的图文件信息。

接着，处理单元130将图文件信息中的像素的像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息。进一步来说，处理单元130将所有的像素电荷量依大小比例转换成对应具有明暗的灰阶信息。也就是说，当处理单元130判断出像素电荷量较大时，则将此像素电荷量转换成较明亮的灰阶。当处理单元130判断出像素电荷量较小时，则将此像素电荷量转换成较暗的灰阶。

将所有像素电荷量转换成对应具有明暗的灰阶后，处理单元130还会进一步将灰阶信息中的所有灰阶进行对比及亮度的调整，以产生影像调整信息。也就是说，处理单元130调整所有灰阶的对比及亮度，例如将对比调到最大且亮度调到最亮，或是将对比调到最小且亮度调到最暗，以产生影像调整信息。

接着，处理单元130再对影像调整信息进行分析，以找到影像调整信息中的哪些区块有显示不均的现象，并将分析结果作为第一检测信息。如此一来，用户便可根据第一检测信息来得知哪些区块有显示不均的现象，可以实时地反馈此信息给前端的站点，以对应此方式进行除错及修补，以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

当显示面板190的尺寸较大时，显示面板190可能是由多个区块(芯片)所衔接组成，使得某些区块的像素之间有衔接的部分，即像素衔接处。在取得第一检测信息之后，处理单元130会根据第一检测信息，判断画面显示不均处是否为像素衔接处，以便对像素衔接处的影像信息进行优化处理。举例来说，当处理单元130判断出画面显示不均处不是像素衔接处时，即在独立的区块中发生画面显示不均，则处理单元130不进行优化处理。当处理单元130判断出画面显示不均处是像素衔接处时，处理单元130将像素衔接处的影像进行比对再进行优化处理。也就是说，处理单元130发现大多数的像素衔接处所显示的影像都为明显状态，而某一像素衔接处所显示的影像为不明显状态，则处理单元130会将影像为不明型的像素衔接处进行优化处理，也就是将此像素衔接处调整成明显状态，使得显示面板190可呈现较好的画质。

接着，处理单元130还具有用户接口，以通过用户接口导入显示面板190设计时的光罩数据，并将第一检测信息与光罩数据进行整合，以确定出显示不均的现象的区块对应于显示面板190的哪个坐标。另外，用户接口还用以供用户导入制程设备指纹、各站点制成分布特性、测试组件群(test element group,TEG)电性检测结果，使得处理单元130可以将第一检测信息与制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果进行比对分析，以产生对应的分析结果，进而提供显示面板在制作过程中在哪个环节(例如哪个站点)出现了问题，如此就能推测影响量测数据所在的光罩层或制程站点。

其中，所述制程设备指纹例如包括制程设备的接脚(Pin)，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系，亦即当第一检测结果显示某一像素有问题时，可以找出对应制程设备的接脚，并对此接脚进行修补或提换，以便提升显示面板制作的良率。所述各站点制成分布特性例如包括在显示面板的中间跟周围(边缘)所导入的电浆的分布特性，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系，亦即当第一检测结果显示某一像素有问题时，可以找出显示面板中哪的部分所导入的电浆出现问题，并对此部分所导入的电浆进行修补或调整，以便提升显示面板制作的良率。

此外，TEG电性检测结果例如包括在显示面板上导入标准化TEG测试键(即增加几个测试点)，并且预先设定这些TEG测试键之间的关联性，以便作为后续分析的依据。举例来说，假设标准化TEG测试键例如分别为TEG1、TEG2、TEG3、TEG4和TEG5，且TEG1例如与TEG2、TEG3、TEG4和TEG5具有关联性，即这些标准化TEG测试键之间具有相关制程。接着，便可通过这些所增加的标准化TEG测试键量测显示面板的电性分布特性，以取得TEG电性检测结果。并且，根据TEG电性检测结果与预先设定这些TEG测试键之间的关联性，分析TEG测试键是否有问题的情况发生。当测试发现TEG1有问题时，会进一步分析TEG1与TEG2-TEG5各别的关联性，并且在进一步的分析结果中发现TEG1与TEG3一起失效并且有关系趋势存在，则判断TEG3对应的制程站点有问题。

之后，当第一检测结果显示某一像素有问题时，便可以根据TEG电性检测结果与光罩数据(如光罩制程结构)进行相应的分析及比对，找出或推测出显示面板可能在哪个环节或站点出现问题，如此就能推测影响量测数据所在的光罩层或制程站点，以实时对这些环节跟站点进行修补或调整，以便提升显示面板制作的良率。如此一来，用户便可通过上述信息，可以实时地反馈此信息给前端的站点，以对应此方式进行除错及修补，以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

另外，处理单元130会将图文件信息中的多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。进一步来说，处理单元130将像素电荷量各自依大小比例转换成对应的电压值，并且将转换后的电压值依序与基准值进行比对，确认出各个像素电荷量对应的电压差异，以取得电压差异信息。接着，处理单元130会将各个电压差异信息与其对应像素的位置进行记录，例如制作成一查询表，以作为第二检测信息。

如此一来，用户便可通过此第二检测信息的内容，可以得知像素电路中哪一些像素需要进行电压的补偿，并将此信息提供给后端的站点，以将对应的补偿电压值提供给显示面板190的驱动电路的固件，使得驱动电路190可以补偿电压值对显示面板190进行补偿而让显示面板可以呈现出较好的画质，以达到除错及修补的效果，进而达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

在本实施例中，基准值例如为多个电压值中占最多数量的电压值。也就是说，当处理单元130将所有电合量转换成电压值时，会将所有电压值进行统计，以取得所有电压值中占最多数量的电压值，并以此电压值作为基准值。举例来说，假设像素共有10个，并且对应各像素的像素电荷量转换成的电压值例如为5V、4.5V、5V、5V、5V、5V、5.5V、5V、4.5V、5V，其中5V的数量为7个，4.5V的数量为1个，5.5V的数量为1个，此时处理单元130便会以5V作为进行比对的基准值。上述的举例仅为本发明的一种实施态样，不用以限制本发明。

此外，在产生第二检测信息之后，处理单元130可以进一步驱动控制单元110，以控制驱动电路191将像素电路192的像素进行点亮，取得点亮画面，且处理单元130再对对所述点亮画面进行强化操作，以取得点亮强化画面，进而明确地显示像素点亮时画面的不均匀处，即将画面不均匀处强化出来，以有效地减少判断画面是否有不均匀的时间。接着，处理单元130可根据点亮画面与点亮强化画面，取得像素电路的像素点亮时的亮度差异信息，也就是将像素电路中的像素都点亮时所取得的点亮画面作为基准值，并将强化后的像素的亮度(即点亮强化画面)与基准值进行比对，而产生的亮度差异信息。接着，处理单元130将亮度差异信息与第二检测信息进行比对，也就是将亮度差异信息与电压差异信息进行比对，以取得电压补偿信息。

举例来说，当亮度差异信息中呈现无差异(表示该像素正常显示)且电压差异信息成现有差异或无差异时，处理单元130不会提供对应的补偿电压信息。当亮度差异信息呈现有差异且电压差异信息也呈现有差异时，处理单元130会提供需要补偿的电压值作为补偿电压信息。

如此一来，用户便可根据电压补偿信息来得知哪一些像素需要进行电压补偿，并将此信息提供给后端的站点，以将对应的补偿电压值提供给显示面板190的芯片的固件，使得芯片可以补偿电压值对显示面板190进行补偿而让显示面板可以呈现出较好的画质，以达到除错及修补的效果，进而达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

另外，在本实施例中，处理单元130还电性连接显示面板190的芯片193，且芯片193也电性连接像素电路192，以便在处理单元130取得电压补偿信息后，处理单元130可以直接将补偿电压信息传送到显示面板190的芯片193，使芯片193可根据补偿电压信息中需要补偿的电压值进行补偿，亦可达到让显示面板可以呈现出较好的画质的效果。

由上述实施例的说明，可以归纳出一种显示面板检测方法。图2为根据本发明一实施例的显示面板检测方法的流程图。

在步骤S202中，依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息。在步骤S204中，根据像素位置信息，对像素电荷量进行排列，以产生图文件信息。在步骤S206中，将图文件信息中的像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息。在步骤S208中，将图文件信息中的像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。在本实施例中，先执行步骤S206再执行步骤S208，但本发明不限于此，亦可先执行步骤S208再执行步骤S206，亦可达成相同的效果。

图3为图2的步骤S206的细流程图。在步骤S302中，将像素电荷量依大小等比例转换为具有明暗的灰阶信息。在步骤S304中，对灰阶信息进行对比及亮度调整，以产生影像调整信息。在步骤S306中，对影像调整信息进行分析，以产生第一检测信息。

图4为图2的步骤S208的详细流程图。在步骤S402中，将多个像素电荷量各自转换成电压值。在步骤S404中，将电压值与基准值进行比对，取得电压差异信息，并记录电压差异信息及其对应像素的位置，以产生第二检测信息。在本实施例中，基准值为多个电压值中占最多数量的电压值。

图5为根据本发明一实施例的显示面板检测方法的另一流程图。在步骤S202中，依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息。在步骤S204中，根据像素位置信息，对像素电荷量进行排列，以产生图文件信息。在步骤S206中，将图文件信息中的像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息。在步骤S502中，导入显示面板设计时的光罩数据、制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果，并第一检测信息与光罩数据进行整合以及将第一检测信息与制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果进行比对分析，以产生对应的分析结果，如此就能推测影响量测数据所在的光罩层或制程站点。

另一方面，在步骤S208中，将图文件信息中的像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。在步骤S504中，将像素电路的所述像素进行点亮，取得点亮画面，并对点亮画面进行强化处理，以取得点亮强化画面。在步骤S506中，根据点亮画面与点亮强化画面，取得像素电路的像素点亮时的亮度差异信息。在步骤S508中，将亮度差异信息与第二检测信息中的电压差异信息进行比对，以取得电压补偿信息。在步骤S510中，将电压补偿信息传送到显示面板的芯片，以进行补偿操作。

综上所述，本发明通过依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息，并根据像素位置信息，对像素电荷量进行排列，以产生图文件信息，且将图文件信息中的像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息以及将图文件信息中的像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。如此一来，以精准监控失效模式、快速判断与反应与对策生产异常，准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。

Claims (12)

1.一种显示面板检测方法，其特征在于，包括下列步骤：

依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息；

根据所述多个像素位置信息，对所述多个像素电荷量进行排列，以产生图文件信息；

将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息，其中还包括下列步骤：

将所述多个像素电荷量依大小等比例转换为具有明暗的灰阶信息；

对所述灰阶信息进行对比及亮度调整，以产生影像调整信息；

对所述影像调整信息进行分析，以产生所述第一检测信息，之后还包括导入所述显示面板设计时的光罩数据、制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果，并所述第一检测信息与所述光罩数据进行整合以及将所述第一检测信息与所述制程设备指纹、所述各站点制成分布特性、所述TEG电性检测结果进行比对分析，以产生对应的分析结果，其中所述制程设备指纹包括制程设备的接脚，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系，所述各站点制成分布特性包括在显示面板的中间跟周围所导入的电浆的分布特性，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系；以及

将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。

2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，还包括导入标准化TEG测试键，且设定所述标准化TEG测试键之间的关联性，再通过所述标准化TEG测试键量测所述显示面板的电性分布特性并进行分析，产生所述TEG电性检测结果，且将所述TEG电性检测结果与所述光罩数据进行分析及比对。

3.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生所述第二检测信息的步骤中，还包括下列步骤：

将所述多个像素电荷量各自转换成电压值；以及

将所述多个电压值与基准值进行比对，取得电压差异信息，并记录电压差异信息及其对应像素的位置，以产生所述第二检测信息。

4.根据权利要求3所述的显示面板检测方法，其特征在于，产生所述第二检测信息的步骤之后，还包括下列步骤：

将所述像素电路的所述像素进行点亮，取得点亮画面，并对所述点亮画面进行强化处理，以取得点亮强化画面；

根据所述点亮画面与所述点亮强化画面，取得所述像素电路的所述像素点亮时的亮度差异信息；以及

将所述亮度差异信息与所述第二检测信息中的电压差异信息进行比对，以取得电压补偿信息。

5.根据权利要求4所述的显示面板检测方法，其特征在于，取得所述电压补偿信息的步骤之后，还包括下列步骤：

将所述电压补偿信息传送到显示面板的芯片，以进行补偿操作。

6.根据权利要求3所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述基准值为所述多个电压值中占最多数量的电压值。

7.一种显示面板检测装置，适于对显示面板进行检测，所述显示面板具有驱动电路与像素电路，所述驱动电路与所述像素电路电性连接，所述像素电路包括多个像素，其特征在于，所述显示面板检测装置包括：

控制单元，电性连接所述驱动电路，控制所述驱动电路依序驱动所述像素电路中的所述多个像素；

感测单元，电性连接所述像素电路，感测所述多个像素所产生的电荷，以取得多个像素的像素电荷量与多个像素位置信息；以及

处理单元，电性连接所述控制单元与所述感测单元，驱动所述控制单元，并接收所述多个像素的像素电荷量与所述多个像素位置信息，以根据所述像素位置信息，对所述多个像素电荷量进行排列，以产生图文件信息，且将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息及将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息；

其中所述处理单元还将所述多个像素电荷量依大小等比例转换为具有明暗的灰阶信息，并对所述灰阶信息进行对比及亮度调整，以产生影像调整信息，且对所述影像调整信息进行分析，以产生所述第一检测信息；

所述处理单元还包括用户接口，以通过所述用户接口导入所述显示面板设计时的光罩数据、制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果，使所述处理单元将所述第一检测信息与所述光罩数据进行整合以及将所述第一检测信息与所述制程设备指纹、所述各站点制成分布特性、所述TEG电性检测结果进行比对分析，以产生对应的分析结果，所述制程设备指纹包括制程设备的接脚，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系，所述各站点制成分布特性包括在显示面板的中间跟周围所导入的电浆的分布特性，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系。

8.根据权利要求7所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述处理单元还包括导入标准化TEG测试键，且设定所述标准化TEG测试键之间的关联性，再通过所述标准化TEG测试键量测所述显示面板的电性分布特性并进行分析，产生所述TEG电性检测结果，且将所述TEG电性检测结果与所述光罩数据进行分析及比对。

9.根据权利要求7所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述处理单元还将所述多个像素电荷量各自转换成电压值，且将所述多个电压值与基准值进行比对，取得电压差异信息，并记录电压差异信息及其对应像素的位置，以产生所述第二检测信息。

10.根据权利要求9所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述处理单元还驱动所述控制单元将所述像素电路的所述像素进行点亮，取得点亮画面，并对所述点亮画面进行强化操作，以取得点亮强化画面，且根据所述点亮画面与所述点亮强化画面，取得所述像素电路的所述像素点亮时的亮度差异信息，并将所述亮度差异信息与所述第二检测信息中的电压差异信息进行比对，以取得电压补偿信息。

11.根据权利要求10所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述处理单元还将所述电压补偿信息传送到所述显示面板的芯片，以进行补偿操作。

12.根据权利要求9所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述基准值为所述多个电压值中占最多数量的电压值。

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