WO2013175703A1 - 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置 - Google Patents
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- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/10—Dealing with defective pixels
Definitions
- the present invention relates to an inspection device for detecting the position of a defective pixel in a display device such as a liquid crystal display panel.
- a technique is used in which an image signal is supplied to each pixel of the display device, and the position of the defective pixel is detected by imaging the display screen with a camera. Also known is a technique for simplifying an inspection apparatus by connecting image signal wirings of a plurality of pixels to each other and supplying a common image signal to the plurality of pixels, thereby reducing the number of image signals to be supplied at the time of inspection. It has been.
- FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an inspection system including an inspection apparatus 101 according to an embodiment of the invention.
- 3 is a plan view schematically showing a configuration of a display device 103.
- FIG. 3 is a flowchart showing processing performed in the inspection apparatus 101. It is a graph which shows the example of the brightness
- luminance It is explanatory drawing which shows the example of a coordinate corresponding
- the gate signal applied to all the gate lines 103d is also set to the high level, and the halftone luminance drive signal is supplied to the pixels of all the colors, so that the halftone display screen is imaged. Is done. That is, even if the drive signal supplied to the source line 103f does not become a bright spot at the black display level, the brightness becomes higher than the original halftone brightness when the drive signal of halftone brightness is supplied. Imaging for detecting such defective pixels is performed.
- the low-luminance point defect is a pixel G2 having a peak luminance lower than the low-luminance point threshold among the pixels G1 to G5 whose display pixels can be identified by the luminance being equal to or higher than the pixel determination threshold. It can be detected as a low brightness point defect.
- a defect determination such as whether the display device 103 is a non-defective product or a defective product is performed.
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Abstract
Description
複数の色の表示画素を有する表示装置の表示画面をカメラで撮像して、欠陥画素を検出する表示装置の検査方法であって、
表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面を撮像し、カメラの撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力する高輝度表示画面撮像ステップと、
上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づき、各表示画素について、
上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
上記表示画素の色
の間の対応関係を求める対応関係決定ステップと、
全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面を撮像する低輝度表示画面撮像ステップと、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定ステップと、
を有することを特徴とする。
第1の発明の表示装置の検査方法であって、
上記対応関係決定ステップは、撮像画像における所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を各表示画素に対応する撮像素子画素座標として求め、上記対応関係を求めることを特徴とする。
第1の発明および第2の発明のうち何れか1つの表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に最低輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする。
第1の発明および第2の発明のうち何れか1つの表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に画像信号が供給されない状態で、表示画面を撮像することを特徴とする。
第1の発明および第2の発明のうち何れか1つの表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に上記高輝度表示と最低輝度表示との間の輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする。
第2の発明から第5の発明のうち何れか1つの表示装置の検査方法であって、
上記輝点画素座標決定ステップは、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を輝点画素の撮像素子画素座標として求め、
上記輝点画素の撮像素子画素座標と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求めることを特徴とする。
第6の発明の表示装置の検査方法であって、
上記輝点画素座標決定ステップは、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続し、かつ、所定以上の面積を有する撮像素子画素群ごとに、上記輝度についての重心の撮像素子画素座標を求めることを特徴とする。
第6の発明および第7の発明のうち何れか1つの表示装置の検査方法であって、
上記輝度についての重心の撮像素子画素座標が求められた撮像素子画素群の合計輝度、色、および標準比視感度に基づいて、輝点欠陥の程度が判別されることを特徴とする。
第1の発明から第8の発明のうち何れか1つの表示装置の検査方法であって、
さらに、上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づいて、所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する表示画素群ごとに、表示画素群内の画素の最高輝度が所定の閾値以下である低輝度画素、および上記表示画素群が表示ライン方向の所定の長さの範囲に存在しない黒点画素を検出する低輝度、黒点画素検出ステップを有することを特徴とする。
複数の色の表示画素を有する表示装置の欠陥画素を検出する表示装置の検査装置であって、
検査対象の表示装置に供給される駆動信号を制御する駆動信号制御部と、
表示装置の表示画面が、撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力するカメラで撮像された撮像画像に基づいて欠陥画素を検出する検査処理部と、
を備え、
上記検査処理部は、
表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面が撮像された高輝度表示画面撮像画像に基づき、各表示画素について、
上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
上記表示画素の色
の間の対応関係を求める対応関係決定部と、
全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面が撮像された低輝度表示画面撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定部と、
を有することを特徴とする。
緑の画素の換算合計輝度=合計輝度
赤の画素の換算合計輝度=合計輝度×0.4
青の画素の換算合計輝度=合計輝度×0.2
上記の例では、(S101~S106)で種々の撮像が行われた後に座標対応テーブルの作成や欠陥画素の検出等が行われる例を示したが、これに限らず、例えば、R、G、Bの最高輝度の表示画面が撮像された時点で座標対応テーブルが作成され、その後、非点灯画面等が撮像されて、欠陥画素の検出等が行われるなどしてもよい。
102 カメラ
103 表示装置
103a 表示部
103b 端子部
103c ショーティングバー部
103d ゲートライン
103e ゲート信号パッド
103f ソースライン
103g ソース信号パッド
104 偏光板
105 信号発生器
Claims (10)
- 複数の色の表示画素を有する表示装置の表示画面をカメラで撮像して、欠陥画素を検出する表示装置の検査方法であって、
表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面を撮像し、カメラの撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力する高輝度表示画面撮像ステップと、
上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づき、各表示画素について、
上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
上記表示画素の色
の間の対応関係を求める対応関係決定ステップと、
全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面を撮像する低輝度表示画面撮像ステップと、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定ステップと、
を有することを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項1の表示装置の検査方法であって、
上記対応関係決定ステップは、撮像画像における所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を各表示画素に対応する撮像素子画素座標として求め、上記対応関係を求めることを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項1および請求項2のうち何れか1項の表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に最低輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項1および請求項2のうち何れか1項の表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に画像信号が供給されない状態で、表示画面を撮像することを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項1および請求項2のうち何れか1項の表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に上記高輝度表示と最低輝度表示との間の輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項2から請求項5のうち何れか1項の表示装置の検査方法であって、
上記輝点画素座標決定ステップは、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を輝点画素の撮像素子画素座標として求め、
上記輝点画素の撮像素子画素座標と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求めることを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項6の表示装置の検査方法であって、
上記輝点画素座標決定ステップは、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続し、かつ、所定以上の面積を有する撮像素子画素群ごとに、上記輝度についての重心の撮像素子画素座標を求めることを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項6および請求項7のうち何れか1項の表示装置の検査方法であって、
上記輝度についての重心の撮像素子画素座標が求められた撮像素子画素群の合計輝度、色、および標準比視感度に基づいて、輝点欠陥の程度が判別されることを特徴とする表示装置の検査方法。 - 請求項1から請求項8のうち何れか1項の表示装置の検査方法であって、
さらに、上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づいて、所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する表示画素群ごとに、表示画素群内の画素の最高輝度が所定の閾値以下である低輝度画素、および上記表示画素群が表示ライン方向の所定の長さの範囲に存在しない黒点画素を検出する低輝度、黒点画素検出ステップを有することを特徴とする表示装置の検査方法。 - 複数の色の表示画素を有する表示装置の欠陥画素を検出する表示装置の検査装置であって、
検査対象の表示装置に供給される駆動信号を制御する駆動信号制御部と、
表示装置の表示画面が、撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力するカメラで撮像された撮像画像に基づいて欠陥画素を検出する検査処理部と、
を備え、
上記検査処理部は、
表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面が撮像された高輝度表示画面撮像画像に基づき、各表示画素について、
上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
上記表示画素の色
の間の対応関係を求める対応関係決定部と、
全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面が撮像された低輝度表示画面撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定部と、
を有することを特徴とする表示装置の検査装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014516646A JPWO2013175703A1 (ja) | 2012-05-25 | 2013-04-15 | 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置 |
KR20147028121A KR20140132769A (ko) | 2012-05-25 | 2013-04-15 | 표시장치의 검사방법, 및 표시장치의 검사장치 |
CN201380019266.4A CN104246468A (zh) | 2012-05-25 | 2013-04-15 | 显示装置的检查方法和显示装置的检查装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012-120121 | 2012-05-25 | ||
JP2012120121 | 2012-05-25 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2013175703A1 true WO2013175703A1 (ja) | 2013-11-28 |
Family
ID=49623418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2013/002546 WO2013175703A1 (ja) | 2012-05-25 | 2013-04-15 | 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPWO2013175703A1 (ja) |
KR (1) | KR20140132769A (ja) |
CN (1) | CN104246468A (ja) |
WO (1) | WO2013175703A1 (ja) |
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- 2013-04-15 WO PCT/JP2013/002546 patent/WO2013175703A1/ja active Application Filing
- 2013-04-15 JP JP2014516646A patent/JPWO2013175703A1/ja active Pending
- 2013-04-15 CN CN201380019266.4A patent/CN104246468A/zh active Pending
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JPWO2013175703A1 (ja) | 2016-01-12 |
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Legal Events
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|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2014516646 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
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ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 20147028121 Country of ref document: KR Kind code of ref document: A |
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NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
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122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 13794204 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |