CN104246468A - 显示装置的检查方法和显示装置的检查装置 - Google Patents

显示装置的检查方法和显示装置的检查装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104246468A
CN104246468A CN201380019266.4A CN201380019266A CN104246468A CN 104246468 A CN104246468 A CN 104246468A CN 201380019266 A CN201380019266 A CN 201380019266A CN 104246468 A CN104246468 A CN 104246468A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pixel
display
mentioned
brightness
coordinate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201380019266.4A
Other languages
English (en)
Chinese (zh)
Inventor
西村吉弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Publication of CN104246468A publication Critical patent/CN104246468A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/10—Dealing with defective pixels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
CN201380019266.4A 2012-05-25 2013-04-15 显示装置的检查方法和显示装置的检查装置 Pending CN104246468A (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012-120121 2012-05-25
JP2012120121 2012-05-25
PCT/JP2013/002546 WO2013175703A1 (ja) 2012-05-25 2013-04-15 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104246468A true CN104246468A (zh) 2014-12-24

Family

ID=49623418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201380019266.4A Pending CN104246468A (zh) 2012-05-25 2013-04-15 显示装置的检查方法和显示装置的检查装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPWO2013175703A1 (ja)
KR (1) KR20140132769A (ja)
CN (1) CN104246468A (ja)
WO (1) WO2013175703A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106405894A (zh) * 2016-11-15 2017-02-15 南京华东电子信息科技股份有限公司 一种液晶面板缺陷自动定位方法
CN106469532A (zh) * 2015-08-17 2017-03-01 株式会社弘益技术 显示面板亮灯检查方法
CN110325893A (zh) * 2017-02-22 2019-10-11 株式会社电装 车辆用显示装置
CN111198191A (zh) * 2018-10-30 2020-05-26 三星显示有限公司 用于检查显示装置的装置及其检查方法
CN112394064A (zh) * 2020-10-22 2021-02-23 惠州高视科技有限公司 一种屏幕缺陷检测的点线测量方法
CN114383815A (zh) * 2021-12-13 2022-04-22 长春希达电子技术有限公司 一种显示屏像素失控点快速检测方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109767711B (zh) * 2019-03-14 2022-05-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的故障检测方法、装置、系统及存储介质
KR102045940B1 (ko) 2019-05-21 2019-11-18 (주)케이테크놀로지 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법
CN112466258A (zh) * 2020-12-04 2021-03-09 深圳思凯测试技术有限公司 基于fpga的任意画面组件生成方法

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06236162A (ja) * 1993-02-09 1994-08-23 Sharp Corp カラー液晶パネル欠陥検査方法および装置
JPH095525A (ja) * 1995-06-14 1997-01-10 Dainippon Printing Co Ltd ホログラムカラーフィルターの評価方式
JPH10253497A (ja) * 1997-01-10 1998-09-25 Hitachi Ltd 画質測定方法及び装置、これを用いた表示装置の製造方法
JP2006214834A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Seiko Epson Corp 検査プローブ、光学パネルの検査装置、光学パネルの検査方法
CN101038233A (zh) * 2007-04-24 2007-09-19 友达光电股份有限公司 显示面板的检测方法
JP2008067154A (ja) * 2006-09-08 2008-03-21 Micronics Japan Co Ltd カラー表示板の画質検査方法および画質検査装置
CN101297338A (zh) * 2005-09-21 2008-10-29 富士通天株式会社 显示设备、检查和制造该设备的方法以及检查和制造显示面板的方法
JP2009085892A (ja) * 2007-10-02 2009-04-23 Sharp Corp 欠陥検査装置、欠陥検査方法、画像処理装置、プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
CN101861516A (zh) * 2007-10-05 2010-10-13 株式会社尼康 显示器件的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置
JP2010276537A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Bridgestone Corp 情報表示用パネルの検査方法およびその装置
JP2010286817A (ja) * 2009-05-11 2010-12-24 Sharp Corp 液晶パネルおよび液晶パネルの欠陥修正方法
JP2011038938A (ja) * 2009-08-13 2011-02-24 Fujitsu Ltd 表示装置の検査方法及び検査装置
CN102460106A (zh) * 2009-06-18 2012-05-16 夏普株式会社 显示面板的缺陷检查方法和缺陷检查装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005147911A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Seiko Epson Corp 表示パネルの画素評価方法及びその装置
JP4930775B2 (ja) * 2007-01-12 2012-05-16 横河電機株式会社 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2012052969A (ja) * 2010-09-02 2012-03-15 Sharp Corp 平面表示パネルの表示領域検出装置、表示領域検出方法、表示領域検出用プログラムおよび記録媒体

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06236162A (ja) * 1993-02-09 1994-08-23 Sharp Corp カラー液晶パネル欠陥検査方法および装置
JPH095525A (ja) * 1995-06-14 1997-01-10 Dainippon Printing Co Ltd ホログラムカラーフィルターの評価方式
JPH10253497A (ja) * 1997-01-10 1998-09-25 Hitachi Ltd 画質測定方法及び装置、これを用いた表示装置の製造方法
JP2006214834A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Seiko Epson Corp 検査プローブ、光学パネルの検査装置、光学パネルの検査方法
CN101297338A (zh) * 2005-09-21 2008-10-29 富士通天株式会社 显示设备、检查和制造该设备的方法以及检查和制造显示面板的方法
JP2008067154A (ja) * 2006-09-08 2008-03-21 Micronics Japan Co Ltd カラー表示板の画質検査方法および画質検査装置
CN101038233A (zh) * 2007-04-24 2007-09-19 友达光电股份有限公司 显示面板的检测方法
JP2009085892A (ja) * 2007-10-02 2009-04-23 Sharp Corp 欠陥検査装置、欠陥検査方法、画像処理装置、プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
CN101861516A (zh) * 2007-10-05 2010-10-13 株式会社尼康 显示器件的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置
JP2010286817A (ja) * 2009-05-11 2010-12-24 Sharp Corp 液晶パネルおよび液晶パネルの欠陥修正方法
JP2010276537A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Bridgestone Corp 情報表示用パネルの検査方法およびその装置
CN102460106A (zh) * 2009-06-18 2012-05-16 夏普株式会社 显示面板的缺陷检查方法和缺陷检查装置
JP2011038938A (ja) * 2009-08-13 2011-02-24 Fujitsu Ltd 表示装置の検査方法及び検査装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106469532A (zh) * 2015-08-17 2017-03-01 株式会社弘益技术 显示面板亮灯检查方法
CN106405894A (zh) * 2016-11-15 2017-02-15 南京华东电子信息科技股份有限公司 一种液晶面板缺陷自动定位方法
CN106405894B (zh) * 2016-11-15 2019-08-02 南京华东电子信息科技股份有限公司 一种液晶面板缺陷自动定位方法
CN110325893A (zh) * 2017-02-22 2019-10-11 株式会社电装 车辆用显示装置
CN110325893B (zh) * 2017-02-22 2021-06-18 株式会社电装 车辆用显示装置
CN111198191A (zh) * 2018-10-30 2020-05-26 三星显示有限公司 用于检查显示装置的装置及其检查方法
CN112394064A (zh) * 2020-10-22 2021-02-23 惠州高视科技有限公司 一种屏幕缺陷检测的点线测量方法
CN114383815A (zh) * 2021-12-13 2022-04-22 长春希达电子技术有限公司 一种显示屏像素失控点快速检测方法
CN114383815B (zh) * 2021-12-13 2023-11-14 长春希达电子技术有限公司 一种显示屏像素失控点快速检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2013175703A1 (ja) 2016-01-12
KR20140132769A (ko) 2014-11-18
WO2013175703A1 (ja) 2013-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104246468A (zh) 显示装置的检查方法和显示装置的检查装置
KR101949257B1 (ko) 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법
CN102279189B (zh) 缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法
WO2016031597A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及び、画像処理システム
CN105306843A (zh) 一种图像传感器的坏点处理方法及系统
CN108090890B (zh) 检查装置以及检查方法
CN107024476A (zh) 显示面板检测系统及其检测装置与检测方法
KR20090071344A (ko) 표시 패널의 휘도 측정 장치, 휘도 측정 방법 및 표시 장치
JP2018179698A (ja) シート検査装置
JP2006266750A (ja) 欠陥検査方法および欠陥検査装置
CN110740314B (zh) 彩色线阵相机坏点校正方法及系统
KR101261016B1 (ko) 평판패널 기판의 자동광학검사 방법 및 그 장치
JP5466099B2 (ja) 外観検査装置
CN112985587B (zh) 发光物料影像处理方法
CN105628195A (zh) 光源亮度检测系统及方法
KR102286470B1 (ko) 원본 영상 정보 및 표출 촬상 정보 유사도 분석을 통한 led 디지털 사이니지 불량 감지 시스템
KR100807249B1 (ko) 카메라 테스트 유닛 및 이를 이용한 카메라 검사 방법
CN101843090B (zh) 白/黑像素校正装置和方法以及成像系统
KR101559338B1 (ko) 카메라 모듈용 결함 픽셀 평가 시스템 및 이를 사용한 카메라 모듈용 결함 픽셀 평가 방법
KR101993654B1 (ko) 표시패널의 얼룩 검사 장치 및 그 방법
KR101218637B1 (ko) 윤곽선 검출을 위한 대각선 스캔방법
KR101351004B1 (ko) 상하 이동이 가능한 결함 검출용 카메라 어레이가 구비된 이송장치
KR102014171B1 (ko) 유기발광소자의 혼색 불량 검출장치 및 검출방법
JP4822468B2 (ja) 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法
KR20150137474A (ko) 컬러 이미지 분리를 이용한 비전검사 방법

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20141224