KR102045940B1 - 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 - Google Patents
평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102045940B1 KR102045940B1 KR1020190059690A KR20190059690A KR102045940B1 KR 102045940 B1 KR102045940 B1 KR 102045940B1 KR 1020190059690 A KR1020190059690 A KR 1020190059690A KR 20190059690 A KR20190059690 A KR 20190059690A KR 102045940 B1 KR102045940 B1 KR 102045940B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pixel
- image
- lit
- area
- flat panel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 19
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 17
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 claims abstract description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 8
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 7
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 4
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229920001621 AMOLED Polymers 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 101001045744 Sus scrofa Hepatocyte nuclear factor 1-beta Proteins 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
본 발명은 패널의 불량 화소를 검출 시 라운드 타입의 에지 부분으로 인한 미검이나 과검을 줄일 수 있는 평판 디스플레이 액정 셀 패널의 에지 검사방법을 제공하기 위한 것이다.
이에 본 발명에서는 평판 디스플레이 패널의 에지 부분을 점등 상태로 촬영한 점등 영상(image)과, 비점등 상태로 촬영한 비점등 영상(image)을 획득하는 단계, 상기 비점등 영상에서 오브젝트를 검출하여 픽셀 영역을 설정하는 단계, 상기 설정된 픽셀 영역과 상기 점등 영상의 점등 영역을 매칭하여 에러 검출을 위한 카운트 영역을 구하는 단계, 상기 카운트 영역에 대한 불량 픽셀을 검출하는 단계를 포함하는 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법을 개시한다.
이에 본 발명에서는 평판 디스플레이 패널의 에지 부분을 점등 상태로 촬영한 점등 영상(image)과, 비점등 상태로 촬영한 비점등 영상(image)을 획득하는 단계, 상기 비점등 영상에서 오브젝트를 검출하여 픽셀 영역을 설정하는 단계, 상기 설정된 픽셀 영역과 상기 점등 영상의 점등 영역을 매칭하여 에러 검출을 위한 카운트 영역을 구하는 단계, 상기 카운트 영역에 대한 불량 픽셀을 검출하는 단계를 포함하는 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법을 개시한다.
Description
본 발명은 평판 디스플레이 액정 셀(cell)에 발생할 수 있는 픽셀 불량을 검출하기 위한 검사방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 OLED 셀의 봉지 공정(encapsulation) 후에 불량 화소(pixel)를 검출 시 라운드 타입의 에지 부분으로 인한 미검이나 과검을 줄일 수 있는 평판 디스플레이 액정 셀 패널의 에지 검사방법에 관한 것이다.
최근 휴대폰, 태블릿, 노트북, 게임기, 캠코더 등의 휴대성이 중요한 소형 기기에 폭넓게 활용되고 있는 평판 디스플레이(Flat Panel Display)는 화면을 표시하는 방식에 따라 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), OLED(Organic Light Emitting Diode) 등으로 대별할 수 있다.
이 중에서 OLED는 화면을 구동하는 방식에 따라 PMOLED(Passive Matrix OLED: 수동형 유기 발광 다이오드)와 AMOLED(Active Matrix OLED: 능동형 유기 발광 다이오드)로 나뉜다.
PMOLED는 화면 상에 배열된 발광 소자의 가로축과 세로축에 각각 전압을 넣어 그 교차점을 빛나게 하는 방식으로, 구조가 비교적 간단하고 생산 비용도 비교적 적게 드는 편이지만 정교한 화면을 구현하기가 어려운 데다, 화면의 크기가 커질수록 소비 전력이 기하 급수적으로 증가하는 단점이 있다.
AMOLED는 발광 소자마다 박막 트랜지스터(TFT: Thin Film Transistor)를 내장하여 각 소자의 발광 여부를 개별적으로 제어할 수 있다. 이러한 특성 덕분에 AMOLED는 PMOLED 방식에 비해 정교한 화면을 구현하기 쉬우며, 소비 전력도 줄어드는 장점이 있다.
이러한 평판 디스플레이 제조공정은 통상적으로 TFT-어레이 공정, 컬러필터(CF) 공정, 액정(LC)/셀(cell) 공정, 모듈 공정으로 구분할 수 있다.
특히 액정(LC)/셀(cell) 공정은 TFT-어레이 공정과 컬러 필터(CF) 공정에서 만들어진 2개의 글라스, 즉 TFT 기판과 CF 기판을 하나로 정밀하게 합착하고, 이를 여러 개의 셀(cell) 단위로 절단(scribing)한 후 그 각각의 분리된 기판 사이에 액정을 주입하고 주입구를 봉지제로 봉합하여 패널을 만들고, 화상 신호를 인가하여 휘점(어두운 화면에서도 색이 표시되는 픽셀), 암점(밝은 화면에서도 제대로 표시가 되지 않는 픽셀) 등 셀의 화소(pixel)에 대한 불량 여부(pixel error)를 검사한다.
이때, 셀 패널의 화소 점등 상태에서 특정 화면을 표시(display)하고 카메라를 통해 영상(image)을 취득한 후, 그 영상의 모든 위치에서 상하좌우로 서로 대응하는 일정한 거리의 두 점, 즉 근접 피치(pitch) 내 화소의 밝기를 비교하여 기준 밝기 대비 어둡거나 밝은 것이 있는 경우 불량으로 인식하는 이른바 점등 검사 방법을 적용하고 있다.
그런데 이와 같은 종래의 검사 방법은 최근 들어 휴대폰이나 태블릿 등은 셀의 에지를 둥글고 부드럽게 처리(round)하는 디자인적 특성 및 경향을 보이면서 라운드 영역의 경우 화소(pixel)가 존재하지 않는 위치와 점등 위치 또는 비점등 위치를 비교하여 모두 불량으로 판별하기 때문에 불량이 있는데 인식을 하지 못하는 미검률과 불량이 없는데 불량으로 판별하는 과검률이 매우 높을 수밖에 없어 신뢰성과 수율이 떨어지는 문제점이 있다.
또한, 셀 패널의 접촉 위치와 FPCB의 접촉 위치가 일치하지 않는 콘택트 미스(contact miss)로 인해 점등이 되지 않는 영역을 정확하게 구분하지 못하는 한계가 있다.
여기서 상술한 배경기술 또는 종래기술은 본 발명자가 보유하거나 본 발명을 도출하는 과정에서 습득한 정보로서 본 발명의 기술적 의의를 이해하는데 도움이 되기 위한 것일 뿐, 본 발명의 출원 전에 이 발명이 속하는 기술분야에서 널리 알려진 기술을 의미하는 것은 아님을 밝히며, 아울러 종래기술에서의 도면 부호는 본 발명에서의 도면 부호와 상호 무관한 것이다.
이에 본 발명자는 상술한 제반 사항을 종합적으로 고려하면서 기존의 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법이 지닌 기술적 한계 및 문제점을 해결하려는 발상에서, 불량 화소(pixel)를 검출 시 라운드 타입의 에지 부분으로 인한 미검이나 과검을 줄이는 효과를 도모할 수 있는 새로운 셀의 에지 검사방법을 개발하고자 각고의 노력을 기울여 부단히 연구하던 중 그 결과로써 본 발명을 창안하게 되었다.
따라서 본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제 및 목적은 라운드 타입의 에지 부분으로 인한 불량 화소(pixel)의 미검 또는 과검을 줄일 수 있도록 하는 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법을 제공하는 데 있는 것이다.
여기서 본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제 및 목적은 이상에서 언급한 기술적 과제 및 목적으로 국한하지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제 및 목적들은 아래의 기재로부터 당업자가 명확하게 이해할 수 있을 것이다.
상술한 바와 같은 목적을 달성 및 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시 태양(aspect)에 따른 구체적 수단 및 원리는, (A) 카메라로 평판 디스플레이 패널의 에지 부분을 비점등 상태로 촬영한 비점등 영상(image)과, 점등 상태로 촬영한 점등 영상(image)을 획득하는 단계, (B) 획득된 비점등 영상에 대해 전처리를 수행하고 오브젝트를 검출하여 픽셀 영역을 추출하는 단계, (C) 추출된 픽셀 영역과 획득된 점등 영상의 점등 영역을 매칭하여 에러 검출을 위한 카운트 영역을 설정하는 단계, (D) 설정된 카운트 영역에 대한 불량 픽셀을 검출하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법을 제시한다.
이로써 본 발명은, 라운드 타입의 에지 부분에 불량 화소(pixel)를 검출 시 영상의 모든 위치의 픽셀 밝기를 비교하여 발생하는 미검이나 과검을 최대한 줄일 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시 태양(aspect)으로 상기 (B) 단계는, (B-1) 획득된 비점등 영상에 대해 전처리를 수행하고 오브젝트를 검출하는 단계, (B-2) 검출된 오브젝트를 이용하여 픽셀 위치를 체크하는 단계, (B-3) 체크된 픽셀 위치 중 최외곽에 위치하는 픽셀들을 이어서 픽셀 윤곽을 추출하는 단계, (B-4) 추출된 픽셀 윤곽의 내부를 픽셀 영역으로 정의하는 단계를 포함하여 이루어짐으로써 미검이나 과검 발생을 더욱 효과적으로 줄일 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시 태양(aspect)으로 상기 (B-1) 단계는, 획득된 비점등 영상 내에 주변 색상과 어울리지 않는 색상을 블러(blur) 처리하여 노이즈를 제거하고, RGB(Red, Blue, Green) 픽셀의 특정 밝기 값(gray value)을 이용하여 배경을 제거하고, 이 과정에서 제거되지 않은 배경은 H(hue), S(saturation) 값을 이용하여 완전히 제거하여 오브젝트를 검출하고, 상기 (B-2) 단계는, 검출된 오브젝트의 크기 및 형태(circularity)를 이용하여 픽셀 위치를 체크하며, 상기 (B-3) 단계는, 체크된 픽셀 위치 중에서 블록 껍질(ConvexHull) 알고리즘을 이용해 최외곽의 점들을 잇는 다각형을 만들어서 픽셀 윤곽을 추출할 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시 태양(aspect)으로 상기 (D) 단계는, 상기 카운트 영역 내의 점등 영상에서 서로 대응하는 일정한 거리의 두 픽셀의 밝기를 비교하여 미리 정해진 설정값을 초과하는 경우 불량으로 식별함으로써 더욱 확실하게 미검이나 과검을 줄일 수 있다.
상기와 같은 목적의 달성과 기술적 과제를 해결하기 위한 수단 및 구성을 갖춘 본 발명의 실시 태양(aspect)은, 비점등 영상에서 획득한 픽셀 영역과 점등 영상의 점등 영역을 매칭하여 에러 검출을 위한 카운트 영역을 구하고, 이에 대해서만 불량 화소(pixel)를 검출함으로써 영상의 모든 위치의 픽셀 밝기를 비교하여 발생하는 미검이나 과검을 최소화할 수 있다.
따라서 검사의 신뢰성과 신속성을 제고함은 물론 수율을 향상시킬 수 있다.
여기서 본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 국한하지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자가 명확하게 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법을 나타낸 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법에서 평판 디스플레이 패널의 에지 부분을 비점등 상태로 촬영한 비점등 영상과 점등 상태로 촬영한 점등 영상을 나타낸 이미지이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 중 비점등 영상에서 카운트 영역을 구하는 과정을 나타낸 이미지이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 중 비점등 영상에서 검출한 오브젝트를 이용하여 픽셀 위치를 확인하는 과정을 나타낸 이미지이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 중 카운트 영역 내에서 피치 검사로 불량 화소를 식별하는 과정을 나타낸 이미지이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법에서 평판 디스플레이 패널의 에지 부분을 비점등 상태로 촬영한 비점등 영상과 점등 상태로 촬영한 점등 영상을 나타낸 이미지이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 중 비점등 영상에서 카운트 영역을 구하는 과정을 나타낸 이미지이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 중 비점등 영상에서 검출한 오브젝트를 이용하여 픽셀 위치를 확인하는 과정을 나타낸 이미지이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 중 카운트 영역 내에서 피치 검사로 불량 화소를 식별하는 과정을 나타낸 이미지이다.
이하, 본 발명에 따른 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 보다 구체적으로 설명한다.
이에 앞서, 후술하는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 것으로서, 이는 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 개념과 당해 기술분야에서 통용 또는 통상적으로 인식되는 의미로 해석하여야 함을 명시한다.
또한, 본 발명과 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
여기서 첨부된 도면들은 기술의 구성 및 작용에 대한 설명과, 이해의 편의 및 명확성을 위해 일부분을 과장하거나 간략화하여 도시한 것으로, 각 구성요소가 실제의 크기 및 형태와 정확하게 일치하는 것은 아님을 밝힌다.
아울러 본 명세서에서 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함하는 의미이며, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 포함한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
즉, 본 명세서에서 설시하는 특징, 개수, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 의미하는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 개수, 단계 동작 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 배제하지 않는 것으로 이해해야 한다.
이외에도 "부" 및 "유닛"의 용어에 대한 의미는 시스템에서 목적하는 적어도 하나의 기능이나 어느 일정한 동작을 처리하는 단위 또는 역할을 하는 모듈 형태를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 혹은 하드웨어 및 소프트웨어의 결합 등을 통한 수단이나 독립적인 동작을 수행할 수 있는 디바이스 또는 어셈블리 등으로 구현할 수 있다.
그리고 상단, 하단, 상면, 하면, 또는 상부, 하부, 상측, 하측, 전후, 좌우 등의 용어는 각 구성요소에 있어 상대적인 위치를 구별하기 위해 편의상 사용한 것이다. 예를 들어, 도면상의 위쪽을 상부로 아래쪽을 하부로 명명하거나 지칭하고, 길이 방향을 전후 방향으로, 폭 방향을 좌우 방향으로 명명하거나 지칭할 수 있다.
또한, 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는 데 사용될 수 있다. 즉, 제1, 제2 등의 용어는 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하는 목적으로 사용될 수 있다. 예를 들어, 제1 구성요소는 본 발명의 보호범위를 벗어나지 않는 한에서 제2 구성요소로 명명할 수 있고, 또 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명할 수도 있다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법은, 크게 (A) 영상 획득단계, (B) 픽셀 영역 추출단계, (C) 카운트 영역 설정단계, (D) 불량 픽셀 검출단계를 포함하고 있다.
(A) 영상 획득단계
도 2에 도시된 바와 같이, 평판 디스플레이 셀 패널의 에지 부분을 비점등 상태로 촬영한 비점등 영상(image)과, 점등 상태로 촬영한 점등 영상(image)을 각각 카메라로 촬영하여 획득한다.
여기서 점등 영상은 평판 디스플레이 셀 패널을 점등 온(on)한 상태에서 조명은 끄고 그 에지 부분을 카메라로 촬영한 캡처 이미지이며, 비점등 영상은 평판 디스플레이 셀 패널을 점등 오프(off)한 상태에서 조명은 켜고 그 에지 부분을 카메라로 촬영한 캡처 이미지이다.
(B) 픽셀 영역 추출단계
도 3에 도시된 바와 같이, 획득된 비점등 영상에 대해 전처리를 수행하고 오브젝트를 검출하여 픽셀 영역을 추출한다.
구체적으로, 획득된 비점등 영상에 대해 전처리를 수행하고 오브젝트를 검출한 다음 이를 이용하여 픽셀 위치를 체크한다. 계속해서 체크된 픽셀 위치 중 최외곽에 위치하는 픽셀들을 이어서 픽셀 윤곽을 추출한 후, 그 픽셀 윤곽의 내부를 픽셀 영역으로 정의함으로써 픽셀 영역을 추출할 수 있다.
예를 들면, 비점등 영상 내에 주변 색상과 어울리지 않는 색상을 노이즈로 간주하여 이를 블러(blur) 처리하여 노이지를 제거하는 전처리를 수행한다.
이후, RGB(Red, Blue, Green) 픽셀의 특정 밝기 값(gray value)을 이용하여 배경을 제거하며, 이 과정에서 제거되지 않은 배경은 H(hue), S(saturation) 값을 이용하여 완전히 제거하여 오브젝트를 검출한다.
계속해서 검출된 오브젝트의 RGB 픽셀 별 크기 및 형태(circularity)를 이용하여 픽셀 위치를 체크한다.
이때, 상하좌우 피치(pitch) 거리의 위치를 확인하는 방법으로 정확한 픽셀 위치를 체크할 수 있다.
예를 들면, 도 4에 도시된 바와 같이 ①의 적색 원 안에 위치하는 픽셀이 오브젝트의 RGB 픽셀 별 크기 및 형태(circularity)를 이용하여 검출된 상태이면, ①의 적색 원 안에 위치하는 픽셀의 우측에 위치하는 픽셀, 즉 황색 원 안의 픽셀은 픽셀 위치로 검출되었으므로 그 ①의 적색 원 안에 위치하는 픽셀은 픽셀 위치에 포함한다.
아울러 ②의 적색 원 안에 위치하는 픽셀의 상측 및 우측에 위치하는 픽셀, 즉 황색 원 안의 픽셀은 픽셀 위치로 검출되지 않았으므로 그 ②의 적색 원 안에 위치하는 픽셀은 픽셀 위치에서 제외한다.
다음으로, 픽셀 위치 중에서 블록 껍질(ConvexHull) 알고리즘을 이용해 최외곽의 점들을 잇는 다각형을 만들어서 픽셀 윤곽을 추출하고, 그 픽셀 윤곽의 내부를 픽셀 영역으로 정의한다.
다른 예로, 비점등 영상은 RGB(Red, Blue, Green)에서 색상, 밝기 및 채도 정보인 HLS(Hue Luminance Saturation)로 컬러 스페이스 변환하여 루미넌스(휘도) 색공간을 분리한다.
그리고 이미지에 포함된 픽셀의 분포를 바탕으로 복수의 세그먼트로 분할하고, 각 세그먼트 별 픽셀 값에 기초하여 오브젝트의 경계를 검출하고, 상기 오브젝트의 경계를 기초로 오브젝트들을 제외한 나머지 영상(image) 영역을 구별한 후, 오브젝트들과 나머지 영상 영역을 서로 다른 효과(effect)를 처리 및 표시하여 식별되는 오브젝트들을 픽셀 영역으로 체크한다.
여기서 오브젝트란, 화면 상에 표시되는 촬영 이미지에 포함되어 육안으로 식별 가능한 이미지의 일 영역을 의미한다. 예를 들면, 도 1의 비점등 영상에 포함되어 있는 픽셀들은 개별적인 오브젝트이다.
또한, 오브젝트의 경계 검출 구현은, 특정 (x, y) 좌표를 중심으로 상하좌우 방향으로 픽셀 간의 거리 차이를 연산을 통해 경계를 찾는 플러드 필(flood fill) 알고리즘이 적용될 수 있으나, 이에 한정되지는 않으며 노멀라이즈 컷(Normalized cut), 그래프 컷(Gragh cut) 등 다양한 알고리즘 기법이 적용 가능할 것이다.
아울러 오브젝트들과 나머지 영상 영역이 구별되면 오브젝트의 경계를 기초로 오브젝트와 상기 나머지 이미지 영역을 이진화하여 마스크 영상(Mask image)을 생성할 수 있고, 이 마스크 영상을 이용하여 오브젝트와 나머지 영상 영역에 대해 서로 다른 효과를 적용할 수 있다.
즉, 마스크 영상을 이용하여 오브젝트에 제1효과를 적용하고, 나머지 이미지 영역에 제2효과를 적용할 수 있다.
한편, 픽셀 영역은 표준편차 알고리즘을 이용하여 전체 이미지에서 분리할 수도 있다. 참고로, 표준편차 결과에서 임계값을 초과하는 곳이 픽셀 영역이며, 표준편차 알고리즘은 하향식 접근방법을 사용하여 픽셀 영역을 찾을 수 있을 때까지 반복적으로 임계값을 업데이트하는 방식을 사용한다.
(C) 카운트 영역 설정단계
픽셀 영역과 점등 영상의 점등 영역을 매칭하여 대조함으로써 에러 검출을 위한 체크 부분, 즉 픽셀 불량을 검사할 카운트 영역을 설정한다.
여기서 매칭은 픽셀 영역 이미지의 레이어와 점등 영상의 점등 영역 이미지의 레이어를 중첩하는 형태로 두고, 그 각각의 레이어에서 픽셀 영역과 점등 영역이 서로 겹치는 부분을 체크하는 방식으로 이루어질 수 있다.
(D) 불량 픽셀 검출단계
도 5에 도시된 바와 같이, 카운트 영역 내의 픽셀에 대한 검사로 불량 픽셀을 검출한다.
즉, 카운트 영역 내의 점등 영상 중 서로 대응하는 일정한 거리의 두 픽셀의 밝기(intensity) 값, 색상 값의 한계치를 비교하여 미리 정해진 설정값을 초과하는 경우 불량으로 식별한다.
이처럼 본 발명의 실시 예에 따른 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법은, 실제 픽셀이 분포하는 영역을 비점등 영상에서 획득하고, 이를 점등 영상의 점등 영역과 매칭하여 에러 검출을 위한 카운트 영역을 구한 후, 이에 대해서만 불량 화소(pixel)를 검출함으로써 영상의 모든 위치의 픽셀 밝기를 비교하여 발생하는 미검이나 과검을 최소화할 수 있다.
한편, 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 안에서 예시되지 않은 여러 가지로 다양하게 변형하고 응용할 수 있음은 물론이고 각 구성요소의 치환 및 균등한 타 실시 예로 변경하여 폭넓게 적용할 수도 있음은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백하다.
그러므로 본 발명의 기술적 특징을 변형하고 응용하는 것에 관계된 내용은 본 발명의 기술사상 및 범위 내에 포함되는 것으로 해석하여야 할 것이다.
Claims (6)
- 카메라로 평판 디스플레이 패널의 에지 부분을 비점등 상태로 촬영한 비점등 영상(image)과, 점등 상태로 촬영한 점등 영상(image)을 획득하는 단계(A); 획득된 비점등 영상에 대해 전처리를 수행하고 오브젝트를 검출하여 픽셀 영역을 추출하는 단계(B); 추출된 픽셀 영역과 획득된 점등 영상의 점등 영역을 매칭하여 에러 검출을 위한 카운트 영역을 설정하는 단계(C); 설정된 카운트 영역에 대한 불량 픽셀을 검출하는 단계(D)를 수행하며;
상기 단계(B)는, 획득된 비점등 영상에 대해 전처리를 수행하고 오브젝트를 검출하는 단계(B-1); 검출된 오브젝트를 이용하여 픽셀 위치를 체크하는 단계(B-2); 체크된 픽셀 위치 중 최외곽에 위치하는 픽셀들을 이어서 픽셀 윤곽을 추출하는 단계(B-3); 추출된 픽셀 윤곽의 내부를 픽셀 영역으로 정의하는 단계(B-4);를 포함하고;
상기 단계(B-1)는, 획득된 비점등 영상 내에 주변 색상과 어울리지 않는 색상을 블러(blur) 처리하여 노이즈를 제거하고, RGB(Red, Blue, Green) 픽셀의 특정 밝기 값(gray value)을 이용하여 배경을 제거하고, 이 과정에서 제거되지 않은 배경은 H(hue), S(saturation) 값을 이용하여 완전히 제거하여 오브젝트를 검출하며;
상기 단계(B-2)는, 검출된 오브젝트의 크기 및 형태(circularity)를 이용하여 픽셀 위치를 체크하고;
상기 단계(B-3)는, 체크된 픽셀 위치 중에서 블록 껍질(ConvexHull) 알고리즘을 이용해 최외곽의 점들을 잇는 다각형을 만들어서 픽셀 윤곽을 추출하며;
상기 단계(D)는, 설정된 카운트 영역 내의 점등 영상에서 서로 대응하는 일정한 거리의 두 픽셀의 밝기(intensity) 값을 비교하여 미리 정해진 설정값을 초과하는 경우 불량으로 식별하는 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190059690A KR102045940B1 (ko) | 2019-05-21 | 2019-05-21 | 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190059690A KR102045940B1 (ko) | 2019-05-21 | 2019-05-21 | 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR102045940B1 true KR102045940B1 (ko) | 2019-11-18 |
Family
ID=68727655
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190059690A Expired - Fee Related KR102045940B1 (ko) | 2019-05-21 | 2019-05-21 | 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102045940B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112561913A (zh) * | 2021-02-23 | 2021-03-26 | 武汉精创电子技术有限公司 | 一种显示面板mura缺陷样本数据的生成方法及装置 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004294202A (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Seiko Epson Corp | 画面の欠陥検出方法及び装置 |
| KR100951461B1 (ko) | 2008-01-15 | 2010-04-07 | 주식회사 디쌤 | 기판 에지 검사장치 및 방법 |
| KR20120099608A (ko) * | 2009-07-23 | 2012-09-11 | 가시오게산키 가부시키가이샤 | 화상 처리 장치, 화상 처리 방법, 및 기록 매체 |
| KR20140132769A (ko) | 2012-05-25 | 2014-11-18 | 샤프 가부시키가이샤 | 표시장치의 검사방법, 및 표시장치의 검사장치 |
| KR20150000580A (ko) | 2013-06-25 | 2015-01-05 | 주식회사 서희정보기술 | 엘이디 백라이트 시스템을 이용한 액정 디스플레이 패널의 광학영상검사시스템 |
| KR101668039B1 (ko) | 2015-08-17 | 2016-10-20 | 주식회사 홍익기술 | 디스플레이 패널 점등 검사방법 |
| KR20170010753A (ko) * | 2014-03-27 | 2017-02-01 | 애니라인 게엠베하 | 부호의 광학적 검출 방법 |
| KR20170126128A (ko) | 2016-05-09 | 2017-11-17 | 세메스 주식회사 | 디스플레이 셀 검사 방법 |
| KR20190016368A (ko) | 2017-08-08 | 2019-02-18 | 주식회사 비에프테크 | 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체 |
-
2019
- 2019-05-21 KR KR1020190059690A patent/KR102045940B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004294202A (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Seiko Epson Corp | 画面の欠陥検出方法及び装置 |
| KR100951461B1 (ko) | 2008-01-15 | 2010-04-07 | 주식회사 디쌤 | 기판 에지 검사장치 및 방법 |
| KR20120099608A (ko) * | 2009-07-23 | 2012-09-11 | 가시오게산키 가부시키가이샤 | 화상 처리 장치, 화상 처리 방법, 및 기록 매체 |
| KR20140132769A (ko) | 2012-05-25 | 2014-11-18 | 샤프 가부시키가이샤 | 표시장치의 검사방법, 및 표시장치의 검사장치 |
| KR20150000580A (ko) | 2013-06-25 | 2015-01-05 | 주식회사 서희정보기술 | 엘이디 백라이트 시스템을 이용한 액정 디스플레이 패널의 광학영상검사시스템 |
| KR20170010753A (ko) * | 2014-03-27 | 2017-02-01 | 애니라인 게엠베하 | 부호의 광학적 검출 방법 |
| KR101668039B1 (ko) | 2015-08-17 | 2016-10-20 | 주식회사 홍익기술 | 디스플레이 패널 점등 검사방법 |
| KR20170126128A (ko) | 2016-05-09 | 2017-11-17 | 세메스 주식회사 | 디스플레이 셀 검사 방법 |
| KR20190016368A (ko) | 2017-08-08 | 2019-02-18 | 주식회사 비에프테크 | 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112561913A (zh) * | 2021-02-23 | 2021-03-26 | 武汉精创电子技术有限公司 | 一种显示面板mura缺陷样本数据的生成方法及装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108280822B (zh) | 屏幕划痕的检测方法及装置 | |
| US9805458B2 (en) | Method and system for detecting defective pixels and screen imperfections of a mobile device | |
| KR20140076963A (ko) | 디스플레이 장치의 무라 검출 장치 및 방법 | |
| KR102703545B1 (ko) | 향상된 전처리를 갖는 화이트 스팟 무라 검출 시스템 및 방법 | |
| CN104749184A (zh) | 自动光学检测方法和系统 | |
| TW201935025A (zh) | 顯示器上的缺陷偵測系統及方法 | |
| WO2011152445A1 (ja) | 太陽電池パネルのｅｌ検査装置、及びｅｌ検査方法 | |
| CN105301810A (zh) | 一种屏幕缺陷检测方法及装置 | |
| CN103218961A (zh) | 一种lcd缺陷在线检测方法及系统 | |
| CN110009607A (zh) | 显示屏坏点检测方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
| CN105528993A (zh) | 一种调整oled显示器像素的方法及装置 | |
| CN109905700A (zh) | 虚拟显示设备及其检测方法、装置、计算机可读存储介质 | |
| JP2014164221A (ja) | 表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置 | |
| CN114937003A (zh) | 一种针对玻璃面板的多类型缺陷检测系统和方法 | |
| KR102045940B1 (ko) | 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 | |
| JP4242796B2 (ja) | 画像認識方法及び画像認識装置 | |
| US9513414B2 (en) | Method for repairing display substrate, display substrate and display apparatus | |
| CN115700757A (zh) | 消防水炮的控制方法、装置及电子设备 | |
| JP2005249415A (ja) | シミ欠陥の検出方法及び装置 | |
| KR101409568B1 (ko) | 표시패널 검사장치 및 그 검사방법 | |
| KR20050022320A (ko) | 결함 검사 방법 및 장치 | |
| CN105092604A (zh) | 线路信息及非线路区信息撷取方法、线路缺陷检测方法 | |
| CN112597829A (zh) | 一种交通诱导屏故障检测的方法和装置及设备 | |
| US20210383168A1 (en) | Method for labeling image | |
| CN112215816A (zh) | 一种生产线中显示器故障的实时检测方法、存储介质和装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20190521 |
|
| PA0201 | Request for examination | ||
| PA0302 | Request for accelerated examination |
Patent event date: 20190522 Patent event code: PA03022R01D Comment text: Request for Accelerated Examination Patent event date: 20190521 Patent event code: PA03021R01I Comment text: Patent Application |
|
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20190718 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20191015 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20191112 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20191113 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration | ||
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20221103 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20240823 |