JPWO2013175703A1 - 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置 - Google Patents

Abstract

欠陥画素の座標や色を容易に特定できるようにするため、表示装置の検査方法は、各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面を撮像し（Ｓ１０１〜Ｓ１０３）、各表示画素について、撮像素子画素座標、表示画素座標、および色の間の対応関係を求め（Ｓ１０７）、全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で表示画面を撮像し（Ｓ１０４〜Ｓ１０６）、その撮像画像と上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める（Ｓ１０９）。

Description

本発明は、液晶表示パネルなどの表示装置における欠陥画素の位置を検出する検査装置に関するものである。

表示装置を検査するために、表示装置の各画素に画像信号を供給し、表示画面をカメラで撮像することによって、欠陥画素の位置を検出する技術が用いられている。また、複数の画素の画像信号配線を互いに接続し、複数の画素に共通の画像信号を供給することによって、検査時に供給する画像信号の数を少なく抑え、検査装置の簡素化を図る技術も知られている。

この場合、欠陥画素のアドレス（例えば表示画面の端から何番目の画素であるか）を求めるために、例えばカメラを表示画面に沿って移動させ、その移動距離と画素サイズ等に関する情報から上記アドレスを求める技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。また、同文献では、欠陥画素のアドレスを正確に特定するために、表示画面を撮像するためにカラーカメラを用い、撮像された画素の色と、カメラの移動距離によって求められたアドレスの画素の色とを照合する技術が用いられている。

特開２０１１−４７９９９号公報

しかしながら、上記のように画素の色に基づいて欠陥画素のアドレスを特定するためにカラーカメラを用いる場合、解像度が高いカメラを用いる必要があり製造コストが高くなりがちであるうえ、画像データのデータ量も大きくなるため、必要とされるデータ処理能力や処理時間も増大しがちであるという問題点を有していた。

本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的は、モノクロカメラや、解像度が比較的低いカメラを用いても、欠陥画素の座標や色を容易に特定できるようにすることにある。

第１の発明は、
複数の色の表示画素を有する表示装置の表示画面をカメラで撮像して、欠陥画素を検出する表示装置の検査方法であって、
表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面を撮像し、カメラの撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力する高輝度表示画面撮像ステップと、
上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づき、各表示画素について、
上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
上記表示画素の色
の間の対応関係を求める対応関係決定ステップと、
全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面を撮像する低輝度表示画面撮像ステップと、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定ステップと、
を有することを特徴とする。

これにより、表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面が撮像された撮像画像に基づいて求められた対応関係に基づいて、輝点画素の表示画素座標および色が求められるので、モノクロカメラを用いても、欠陥画素の座標や色が容易に特定される。また、カラー画像を撮像する場合に比べてデータ量が少なく抑えられるので、データ処理の負荷や時間を低減することも容易にできる。

第２の発明は、
第１の発明の表示装置の検査方法であって、
上記対応関係決定ステップは、撮像画像における所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を各表示画素に対応する撮像素子画素座標として求め、上記対応関係を求めることを特徴とする。

これにより、解像度が比較的低いカメラを用いても、高い精度で上記対応関係を求めることが容易にできるので、カメラレンズの歪の影響などを受けずに欠陥画素の座標を高い精度で求めることが容易にできる。

第３の発明は、
第１の発明および第２の発明のうち何れか１つの表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に最低輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする。

第４の発明は、
第１の発明および第２の発明のうち何れか１つの表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に画像信号が供給されない状態で、表示画面を撮像することを特徴とする。

第５の発明は、
第１の発明および第２の発明のうち何れか１つの表示装置の検査方法であって、
上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に上記高輝度表示と最低輝度表示との間の輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする。

これらにより、種々の要因によって生じる輝点画素を容易に検出することができる。

第６の発明は、
第２の発明から第５の発明のうち何れか１つの表示装置の検査方法であって、
上記輝点画素座標決定ステップは、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を輝点画素の撮像素子画素座標として求め、
上記輝点画素の撮像素子画素座標と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求めることを特徴とする。

これにより、所定の閾値以上の輝度で連続する画素群が抽出され、撮像ノイズの影響が容易に除去されるとともに、輝度についての重心の撮像素子画素座標が輝点画素の撮像素子画素座標として求められるので、やはり、欠陥画素の座標を高い精度で求めることが容易にできる。

第７の発明は、
第６の発明の表示装置の検査方法であって、
上記輝点画素座標決定ステップは、
上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続し、かつ、所定以上の面積を有する撮像素子画素群ごとに、上記輝度についての重心の撮像素子画素座標を求めることを特徴とする。

これにより、所定以上の面積を有する画素群が抽出されるので、さらに撮像ノイズの影響が容易に除去される。

第８の発明は、
第６の発明および第７の発明のうち何れか１つの表示装置の検査方法であって、
上記輝度についての重心の撮像素子画素座標が求められた撮像素子画素群の合計輝度、色、および標準比視感度に基づいて、輝点欠陥の程度が判別されることを特徴とする。

これにより、画素群の合計輝度、色、および標準比視感度に基づいて、輝点欠陥の程度が判別されるので、欠陥画素を的確に検出することが容易にできる。

第９の発明は、
第１の発明から第８の発明のうち何れか１つの表示装置の検査方法であって、
さらに、上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づいて、所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する表示画素群ごとに、表示画素群内の画素の最高輝度が所定の閾値以下である低輝度画素、および上記表示画素群が表示ライン方向の所定の長さの範囲に存在しない黒点画素を検出する低輝度、黒点画素検出ステップを有することを特徴とする。

これにより、低輝度画素や黒点画素を検出することも容易にできる。

第１０の発明は、
複数の色の表示画素を有する表示装置の欠陥画素を検出する表示装置の検査装置であって、
検査対象の表示装置に供給される駆動信号を制御する駆動信号制御部と、
表示装置の表示画面が、撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力するカメラで撮像された撮像画像に基づいて欠陥画素を検出する検査処理部と、
を備え、
上記検査処理部は、
表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面が撮像された高輝度表示画面撮像画像に基づき、各表示画素について、
上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
上記表示画素の色
の間の対応関係を求める対応関係決定部と、
全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面が撮像された低輝度表示画面撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定部と、
を有することを特徴とする。

これにより、やはり、表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面が撮像された撮像画像に基づいて求められた対応関係に基づいて、輝点画素の表示画素座標および色が求められるので、モノクロカメラを用いても、欠陥画素の座標や色が容易に特定される。また、カラー画像を撮像する場合に比べてデータ量が少なく抑えられるので、データ処理の負荷や時間を低減することも容易にできる。

本発明では、モノクロカメラや、解像度が比較的低いカメラを用いても、欠陥画素の座標を容易に特定できるようにすることができる。

発明の実施形態の検査装置１０１を含む検査システムの概略構成を示すブロック図である。 表示装置１０３の構成を模式的に示す平面図である。 検査装置１０１で行われる処理を示すフローチャートである。 各色の画素が最高輝度の表示状態で撮像された画像の輝度の例を示すグラフである。 座標対応テーブルの例を示す説明図である。 輝点画素の抽出の例を示す説明図である。 中間調表示の輝点画素の抽出の例を示す説明図である。 低輝度点の検出の例を示すグラフである。 レーザー修正カメラで欠陥が修正される状態を模式的に示す説明図である。

以下、本発明の実施形態の例を図面に基づいて詳細に説明する。

例えば液晶表示パネルが用いられた表示装置１０３の検査装置１０１（駆動信号制御部、検査処理部、対応関係決定部、輝点画素座標決定部）には、図１に示すように、モノクロ画像を撮像する撮像素子である例えばＣＣＤ（charge-coupled device）を用いたカメラ１０２が接続され、偏光板１０４を介して撮像された表示装置１０３の画像の画像データが入力されるようになっている。検査装置１０１には、また、同期ケーブルを介して信号発生器１０５が接続され、表示装置１０３に与えられる駆動信号が制御されるようになっている。

表示装置１０３は、例えば図２に示すように、表示部１０３ａと、その表示部１０３ａにおける互いに隣り合う２辺の外方側に設けられた端子部１０３ｂと、そのさらに外方側に設けられたショーティングバー部１０３ｃとを有している。表示部１０３ａには、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の画素領域Ｒ０…，Ｇ０…，Ｂ０…が形成されている。表示部１０３ａからショーティングバー部１０３ｃにかけては、各画素領域における図示しないスイッチング素子のゲートノードまたはソースノードに接続されたゲートライン１０３ｄ、およびソースライン１０３ｆが配置されている。ショーティングバー部１０３ｃには、複数のゲートライン１０３ｄに共通に接続されたゲート信号パッド１０３ｅと、複数の同色の画素ごとのソースライン１０３ｆに共通に接続されたソース信号パッド１０３ｇとが設けられている。このショーティングバー部１０３ｃは、例えば表示装置１０３の検査が終了した後に除去されることによって、各ゲートライン１０３ｄ、およびソースライン１０３ｆが互いに切り離され、それぞれ独立した信号が入力され得るようになっている。

ここで、同図の例では、偶数の表示ライン（走査ライン）と奇数の表示ラインとで、ゲートライン１０３ｄが別個のゲート信号パッド１０３ｅに接続されるとともに、互いに隣り合う同色の画素のソースライン１０３ｆが別個のソース信号パッド１０３ｇに接続されている。このようにゲート信号パッド１０３ｅ、ソース信号パッド１０３ｇが分けられている場合には、一般に、信号発生器１０５の駆動能力の関係等により、いわゆる信号波形のなまりを低減しやすいが、これに限るものではない。

検査装置１０１は、信号発生器１０５から出力される駆動信号を制御して、表示装置１０３の表示状態を制御するとともに、そのときに表示装置１０３に表示される表示画面をカメラ１０２によって撮像し、表示欠陥を検出するようになっている。具体的には、検査装置１０１では、例えば図３、および以下に示すような処理が行われる。

（Ｓ１０１〜Ｓ１０３） まず、表示ラインの方向がカメラ１０２のＣＣＤの走査ラインの方向と一致するように配置された表示装置１０３の全てのＲ画素が最高輝度の表示状態にされて、その表示画面が撮像される。より詳しくは、ゲート信号パッド１０３ｅを介して全てのゲートライン１０３ｄにハイレベルのゲート信号が印加されるとともに、全てのＲ画素に対して、最高輝度の駆動信号が、ソース信号パッド１０３ｇ、およびソースライン１０３ｆを介して供給され、撮像が行われる。

また、同様に、全てのＧ画素、およびＢ画素に対して、それぞれ順次最高輝度の表示画面が撮像される。

（Ｓ１０４） 次に、全てのゲートライン１０３ｄに印加されるゲート信号がローレベルにされて、非点灯画面が撮像される。すなわち、ゲート信号がローレベルであれば、本来、非点灯であるはずにも係わらず輝点となる欠陥画素を検出するための撮像が行われる。

（Ｓ１０５） また、全てのゲートライン１０３ｄに印加されるゲート信号はハイレベルにされるとともに、全ての色の画素に対して、最低輝度（黒表示）の駆動信号が供給され、黒表示画面が撮像される。すなわち、ゲート信号がハイレベルである場合に、ソースライン１０３ｆに供給される駆動信号は黒表示のレベルであっても、輝点となる欠陥画素を検出するための撮像が行われる。

（Ｓ１０６） さらに、やはり全てのゲートライン１０３ｄに印加されるゲート信号がハイレベルにされるとともに、全ての色の画素に対して、中間調輝度の駆動信号が供給され、中間調表示画面が撮像される。すなわち、ソースライン１０３ｆに供給される駆動信号が黒表示のレベルでは輝点とはならなくても、中間調輝度の駆動信号が供給されたときに、本来の中間調輝度よりも高い輝度になるような欠陥画素を検出するための撮像が行われる。

（Ｓ１０７） 次に、上記（Ｓ１０１〜Ｓ１０３）で撮像されたＲ、Ｇ、Ｂの最高輝度の撮像画像に基づいて、ＣＣＤ画素と表示画素との座標（撮像素子画素座標と表示画素座標と）を対応付ける座標対応テーブルが作成される。具体的には、例えばＲ、Ｇ、Ｂの各撮像画像における各表示ラインについて、ＣＣＤの各画素によって検出された輝度が図４に太実線、破線、または１点鎖線で示すようになったとすると、例えば輝度が７０（画素判別閾値）以上の連続するＣＣＤ画素群ごとに、輝度についての重心のＣＣＤ画素座標が求められ、例えば図５に示すように表示画素座標（表示画面の端から各色の何番目の画素であるか）、および／または表示画面の実座標（表示画面の端からの距離）と対応させて、座標対応テーブルとして保持される。

（Ｓ１０８） また、上記（Ｓ１０４〜Ｓ１０６）で撮像された非点灯画面、黒表示画面、および中間調表示画面の撮像画像に対して、輝点欠陥画素候補（輝点画素）の抽出、すなわちノイズを除去して、輝点欠陥である可能性が高い画素の抽出が行われる。具体的には、例えば、まず、図６、および図７に示すように、非点灯画面、および黒表示画面の場合には、撮像画像における輝度が例えば３０以上の画素（ＣＣＤ画素）が抜き出され、中間調表示画面の場合には、その中間調のグレーレベルよりも所定量だけ高い中間調輝点閾値以上の輝度の画素が抜き出される。さらに、そのうち、例えば４画素以上隣接しているＣＣＤ画素群が抜き出されて輝点欠陥画素候補とされ、輝度の重心のＣＣＤ画素座標が求められる。また、このとき、後述する輝点欠陥の分類のために用いられる合計輝度が求められる。

（Ｓ１０９） 次に、上記（Ｓ１０７）（図５）で説明した座標対応テーブルが参照され、上記輝点欠陥画素候補の輝度の重心のＣＣＤ画素座標に対応する、表示画素座標、および／または実座標とともに、その表示画素の色が求められる。すなわち、輝点欠陥画素候補の輝度の重心のＣＣＤ画素座標が座標対応テーブルから検索され、表示画素座標等が読み出される。ここで、重心のＣＣＤ画素座標に正確に一致する座標が検索されるのに限らず、例えば±１ＣＣＤ画素などの誤差範囲を含めて検索されるなどしてもよい。

（Ｓ１１０） また、Ｒ、Ｇ、Ｂの最高輝度の撮像画像からは、実際には最高輝度の表示がなされない低輝度点欠陥や、ほとんど光らないような黒点欠陥も、以下のようにして検出することができる。

低輝度点欠陥は、例えば図８に示すように、画素判別閾値以上の輝度であることによって表示画素が判別できる画素Ｇ１〜Ｇ５のうち、ピーク輝度が低輝度点閾値よりも低い画素Ｇ２が、低輝度点欠陥として検出され得る。

また、画素判別閾値以上の輝度にならない画素については、例えば、その画素の両側で画素判別閾値以上の輝度になる画素間の距離が画素ピッチよりも大幅に長い（約２倍以上などの）場合に、黒点欠陥として検出され得る。なお、上記のような検出に代えて、またはこれと併せて、例えば各色の画素がＲ、Ｇ、Ｂの順序で検出されないことなどによって黒点欠陥が検出されるようにしてもよい。

（Ｓ１１１） 上記（Ｓ１０８）で求められた、輝点欠陥画素候補についてのＣＣＤ画素の合計輝度が、標準比視感度、および必要に応じてＣＣＤの各色の検出感度等に応じて、例えば以下のように換算されて、換算合計輝度が求められる。
緑の画素の換算合計輝度＝合計輝度
赤の画素の換算合計輝度＝合計輝度×０．４
青の画素の換算合計輝度＝合計輝度×０．２

（Ｓ１１２） 上記換算合計輝度に基づいて、輝点欠陥の程度等が分類され、例えば換算合計輝度が所定以上の場合は輝点大などとされる。一方、例えば換算合計輝度が所定の閾値以下の場合は擬似欠陥（欠陥でない）であるなどとされる。また、例えば、輝点欠陥や黒点欠陥が３画素以上など連続する線欠陥の判定、分類も行われる。

（Ｓ１１３） あらかじめ定められた輝点大のルール、例えば欠陥の分類ごとの許容数などに基づいて、表示装置１０３が良品であるか不良品であるかなどの欠陥判定が行われる。

（Ｓ１１４） 上記判定結果が、図示しない管理装置などに送信される。

上記のように、モノクロのカメラ１０２を用いても、Ｒ画素、Ｇ画素、およびＢ画素が順次最高輝度にされて撮像された撮像画像に基づいて輝点欠陥の正確な座標、および色が容易に求められるので、例えばレーザー修正カメラで欠陥を修正する際に、図９に示すようにレーザー修正カメラの視野が比較的狭い場合でも、断線が生じた箇所などを迅速に探すことが容易にでき、修正工程での処理時間を短縮することなどが容易にできる。

しかも、カラーカメラが用いられる場合に比べて、安価で比較的低い解像度のカメラを用いることが容易にできる。さらに、比較的低い解像度のカメラが用いられる場合でも、カメラを移動させずに表示画面全体を撮像することも容易になり、検査時間を短縮することなども、より容易にできるうえ、検査装置の製造コストを低減することも容易にできる。

（変形例）
上記の例では、（Ｓ１０１〜Ｓ１０６）で種々の撮像が行われた後に座標対応テーブルの作成や欠陥画素の検出等が行われる例を示したが、これに限らず、例えば、Ｒ、Ｇ、Ｂの最高輝度の表示画面が撮像された時点で座標対応テーブルが作成され、その後、非点灯画面等が撮像されて、欠陥画素の検出等が行われるなどしてもよい。

また、上記のような座標対応テーブルが用いられるのに限らず、誤差範囲を含む重心のＣＣＤ画素座標の範囲と表示画素座標等の対応関係が保持されたテーブルが用いられたり、各色ごとに別個に作成されたテーブルや、ＣＣＤ画素座標をインデックスとして表示画素座標が記憶されたテーブルが用いられるなど、座標の対応関係が求められる種々の手法を適用してもよい。

また、座標対応テーブルによって、表示画素座標と、表示画面の実座標とが両方とも求められるのに限らず、一方の座標が求められた後、その座標と、表示画素のサイズや配列等を示す情報とに基づいて、他方の座標が求められるなどしてもよい。

また、検査装置１０１は、例えば欠陥画素候補の抽出だけを行い、表示画素座標や色の判別、欠陥判定等は他の装置で行われるなどしてもよい。

また、輝点欠陥画素候補等の輝度の重心のＣＣＤ画素座標が用いられるのに限らず、例えば輝度がピークとなる座標や、所定の閾値以上の領域の中央の座標などが用いられてもよい。ただし、通常は、重心の座標が用いられる場合には、カメラ１０２の解像度が比較的低い場合、例えば表示装置１０３の約２表示画素が１ＣＣＤ画素で撮像される場合などでも、比較的正確に表示画素座標や色を求めることができる。

また、表示装置１０３の表示画像の撮像は、表示ラインの方向がカメラ１０２のＣＣＤの走査ラインの方向と一致するように配置された状態で行われるのに限らず、撮像画像の輝度分布等に基づいて表示ラインと走査ラインの方向のずれが求められ、座標軸の回転変換などの補正等が行われるようにしてもよい。また、そのような表示ラインと走査ラインの方向のずれが所定以下になるように表示装置１０３の配置が自動調整されるようにしてもよい。また、例えば偶数番目または奇数番目の表示ラインのゲートライン１０３ｄだけにゲート信号が入力されるようにして、上記のような表示ラインと走査ラインの方向のずれが容易に求められるようにしてもよい。

また、中間調表示画面が撮像される際（Ｓ１０６）の中間調輝度の駆動信号の供給は、全ての色の画素に対して同時に行われるのに限らず、各色ごとに順次行われるようにしてもよい。この場合には、中間調での輝点欠陥画素の色については、座標対応テーブルを参照しなくても確定することができる。

また、赤、緑、および青の表示画素を有する液晶表示パネルが用いられた表示装置１０３が検査される例を説明したが、これに限らず、例えば４色以上の画素や他の色の表示画素を有する表示装置や、有機ＥＬ（Electro Luminescence）表示パネルが用いられた表示装置でも、同様に検査することができる。また、ノーマリホワイトの液晶表示パネルに限らずノーマリブラックの液晶表示パネルの場合でも同様である。

また、検査装置１０１と信号発生器１０５とが別個に設けられている例を示したが、これに限らず、検査装置１０１に信号発生器１０５が含められてもよい。また、カメラ１０２も検査装置１０１に含められるなどしてもよい。

以上説明したように、本発明は、液晶表示パネルなどの表示装置における欠陥画素の位置を検出する検査装置等について有用である。

１０１ 検査装置
１０２ カメラ
１０３ 表示装置
１０３ａ 表示部
１０３ｂ 端子部
１０３ｃ ショーティングバー部
１０３ｄ ゲートライン
１０３ｅ ゲート信号パッド
１０３ｆ ソースライン
１０３ｇ ソース信号パッド
１０４ 偏光板
１０５ 信号発生器

Claims (10)

1. 複数の色の表示画素を有する表示装置の表示画面をカメラで撮像して、欠陥画素を検出する表示装置の検査方法であって、
   表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面を撮像し、カメラの撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力する高輝度表示画面撮像ステップと、
   上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づき、各表示画素について、
   上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
   上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
   上記表示画素の色
   の間の対応関係を求める対応関係決定ステップと、
   全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面を撮像する低輝度表示画面撮像ステップと、
   上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定ステップと、
   を有することを特徴とする表示装置の検査方法。
2. 請求項１の表示装置の検査方法であって、
   上記対応関係決定ステップは、撮像画像における所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を各表示画素に対応する撮像素子画素座標として求め、上記対応関係を求めることを特徴とする表示装置の検査方法。
3. 請求項１および請求項２のうち何れか１項の表示装置の検査方法であって、
   上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に最低輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする表示装置の検査方法。
4. 請求項１および請求項２のうち何れか１項の表示装置の検査方法であって、
   上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に画像信号が供給されない状態で、表示画面を撮像することを特徴とする表示装置の検査方法。
5. 請求項１および請求項２のうち何れか１項の表示装置の検査方法であって、
   上記低輝度表示画面撮像ステップは、全ての表示画素に上記高輝度表示と最低輝度表示との間の輝度の表示がなされる画像信号が供給される状態で、表示画面を撮像することを特徴とする表示装置の検査方法。
6. 請求項２から請求項５のうち何れか１項の表示装置の検査方法であって、
   上記輝点画素座標決定ステップは、
   上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続する撮像素子画素群ごとに、輝度についての重心の撮像素子画素座標を輝点画素の撮像素子画素座標として求め、
   上記輝点画素の撮像素子画素座標と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求めることを特徴とする表示装置の検査方法。
7. 請求項６の表示装置の検査方法であって、
   上記輝点画素座標決定ステップは、
   上記低輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像における所定の閾値以上の輝度で連続し、かつ、所定以上の面積を有する撮像素子画素群ごとに、上記輝度についての重心の撮像素子画素座標を求めることを特徴とする表示装置の検査方法。
8. 請求項６および請求項７のうち何れか１項の表示装置の検査方法であって、
   上記輝度についての重心の撮像素子画素座標が求められた撮像素子画素群の合計輝度、色、および標準比視感度に基づいて、輝点欠陥の程度が判別されることを特徴とする表示装置の検査方法。
9. 請求項１から請求項８のうち何れか１項の表示装置の検査方法であって、
   さらに、上記高輝度表示画面撮像ステップで撮像された撮像画像に基づいて、所定の閾値以上の輝度で表示ライン方向に連続する表示画素群ごとに、表示画素群内の画素の最高輝度が所定の閾値以下である低輝度画素、および上記表示画素群が表示ライン方向の所定の長さの範囲に存在しない黒点画素を検出する低輝度、黒点画素検出ステップを有することを特徴とする表示装置の検査方法。
10. 複数の色の表示画素を有する表示装置の欠陥画素を検出する表示装置の検査装置であって、
    検査対象の表示装置に供給される駆動信号を制御する駆動信号制御部と、
    表示装置の表示画面が、撮像素子における各画素での検出輝度に応じた信号を出力するカメラで撮像された撮像画像に基づいて欠陥画素を検出する検査処理部と、
    を備え、
    上記検査処理部は、
    表示装置における各色の表示画素ごとに高輝度表示された状態で、それぞれの表示画面が撮像された高輝度表示画面撮像画像に基づき、各表示画素について、
    上記表示画素からの光が入射した撮像素子の画素の座標である撮像素子画素座標、
    上記表示画素の表示画面上での座標である表示画素座標、および
    上記表示画素の色
    の間の対応関係を求める対応関係決定部と、
    全ての表示画素が上記高輝度表示よりも低い輝度の低輝度表示された状態で、その表示画面が撮像された低輝度表示画面撮像画像と、上記対応関係とに基づいて、輝点画素の表示画素座標および色を求める輝点画素座標決定部と、
    を有することを特徴とする表示装置の検査装置。

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