JP2001083474A - 液晶表示パネルの検査方法 - Google Patents

液晶表示パネルの検査方法

Info

Publication number
JP2001083474A
JP2001083474A JP2000243985A JP2000243985A JP2001083474A JP 2001083474 A JP2001083474 A JP 2001083474A JP 2000243985 A JP2000243985 A JP 2000243985A JP 2000243985 A JP2000243985 A JP 2000243985A JP 2001083474 A JP2001083474 A JP 2001083474A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
display panel
crystal display
image
color
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000243985A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Yokoyama
敦 横山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2000243985A priority Critical patent/JP2001083474A/ja
Publication of JP2001083474A publication Critical patent/JP2001083474A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高精度の位置決めを必要とせずに、検査対象
領域を特定できる液晶表示パネルの検査方法を提供す
る。 【解決手段】 液晶表示パネルの所定領域(例えば、パ
ネルの全画面領域)に、第1の信号による画像(例え
ば、黒映像)を表示し、この第1信号による画像をカメ
ラで撮像し、液晶表示パネルの所定領域(例えば、パネ
ル内の一部の領域)に、第1信号とは濃淡値が異なる第
2信号による画像(例えば、白映像)を表示し、この第
2信号による画像をカメラで撮像し、撮像された第1信
号による画像の濃淡値と、撮像された第2信号による画
像の濃淡値とを比較し、両画像間で濃淡値が所定値以上
異なる部分の外接領域を求め、この外接領域をカメラ視
野内における検査対象領域とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、カラー液晶表示パネルの検査は、
人間の目視検査により定性的に行われている。
【0003】特開平3−53291号公報には、液晶パ
ネルに中間的明るさを表示させることにより、横縞欠陥
を検出することが開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記人間の目視検査に
よる方法では、検査を行う人間によって検査結果が異な
るおそれがあり、安定した信頼性ある検査が不可能であ
る。
【0005】上記特開平3−53291号公報に開示さ
れた方法では、画素単位での欠陥検出が不可能である。
【0006】最近、カラー液晶表示パネルの分解能(画
素数)が、カラーカメラの分解能に比較して非常に高く
なってきているため、カラー液晶表示パネルの全面を一
括してカラーカメラで撮像して信頼性ある検査を行うこ
とが困難になってきている。
【0007】本発明の第1の目的は、自動化に適した、
信頼性ある、液晶表示パネルの検査方法を提供すること
にある。
【0008】本発明の第2の目的は、画素単位で欠陥を
検出できる液晶表示パネルの検査方法を提供することに
ある。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の液晶表
示パネルの検査方法は、液晶表示パネルの各画素に、明
るい表示を行わせる信号を供給し、暗い表示を行った画
素を欠陥と認定することを特徴とする。
【0010】請求項2に記載の液晶表示パネルの検査方
法は、液晶表示パネルの各画素に、暗い表示を行わせる
信号を供給し、明るい表示を行った画素を欠陥と認定す
ることを特徴とする。
【0011】請求項3に記載の液晶表示パネルの検査方
法は、液晶表示パネルの各画素に、中間的明るさの表示
を行わせる信号を供給し、輝度レベルに関する明るい方
の所定の閾値と暗い方の所定の閾値との間の輝度レベル
の表示を行わなかった画素を欠陥と認定することを特徴
とする。
【0012】請求項1の構成の液晶表示パネルの検査方
法においては、液晶表示パネルの各画素に、明るい表示
を行わせる信号が供給され、このとき暗い表示を行った
画素が欠陥と認定される。従って、滅点欠陥を検出する
ことができる。ここで、滅点欠陥とは、画素が明るく表
示すべきときに、明るく表示できずに暗く表示してしま
う欠陥をいう。
【0013】請求項2の構成の液晶表示パネルの検査方
法においては、液晶表示パネルの各画素に、暗い表示を
行わせる信号が供給され、このとき明るい表示を行った
画素が欠陥と認定される。従って、輝点欠陥を検出する
ことができる。ここで、輝点欠陥とは、画素が暗く表示
すべきときに、暗く表示できずに明るく表示してしまう
欠陥をいう。
【0014】請求項3の構成の液晶表示パネルの検査方
法においては、液晶表示パネルの各画素に、中間的明る
さの表示を行わせる信号が供給され、輝度レベルに関す
る明るい方の所定の閾値と暗い方の所定の閾値との間の
輝度レベルの表示を行わなかった画素が欠陥と認定され
る。従って、半輝滅点欠陥を検出できる。ここで、半輝
滅点欠陥とは、画素が中間の明るさを表示すべきとき
に、明るすぎる表示または暗すぎる表示をしてしまう欠
陥をいう。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は、本発明による液晶表示パ
ネルの検査方法の一実施例に使用される装置の一例、す
なわちカラー液晶表示パネル視覚検査システムを示す。
検査対象であるカラー液晶表示パネル1の両面には、偏
光板2および3が配設されている。偏光板3から所定距
離離隔して、一様な光を照射する光源4が配設されてい
る。カラー液晶表示パネル駆動装置5は、カラー液晶表
示パネル1に表示させるべき画像すなわち映像に対応し
た信号をパネル1に供給する。
【0016】カラーカメラ6は、適当な光学系を有する
撮像手段であり、偏光板2から所定距離離隔して配設さ
れ、カラー液晶表示パネル1に表示された画像すなわち
映像を撮像する。カラーカメラ6は、カメラ移動装置7
によって把持され、移動されるようになっている。画像
処理装置8は、カラー表示パネル1に表示され、カラー
カメラ6によって撮像された画像を入力として、後述の
カラー液晶表示パネル1の視覚検査を行う手段であり、
CPU、ROMおよびRAM等で構成されるが、専用の
ハードウェア回路で実現してもよい。
【0017】図2は、検査対象であるカラー液晶表示パ
ネル1の一例を示す。パネル1には、赤、緑および青の
各画素が所定のパターンに従って配列されている。
【0018】図3は、本発明の液晶表示パネルの検査方
法の一実施例、すなわち図1の装置の画像処理の流れを
示す。カラー液晶表示パネル1の分解能(画素数)が、
カラーカメラ6の解像度に対して非常に高いので、カラ
ー液晶表示パネル1の全面の画像をカラーカメラ6によ
って一括して撮り込んでしまうと、信頼性のある検査を
行うのは、困難である。そこで、本実施例では、カラー
液晶表示パネル1の全領域を複数の領域に分割し、分割
された各領域の画像を、カラーカメラ6によって画像処
理装置8に撮り込んで、以下に述べる各種の検査を行
う。
【0019】まず、図3に示された処理全体を概略的に
説明する。カラー液晶表示パネル1に対する各種欠陥検
査を、分割された領域毎に、カラーカメラ6と画像処理
装置8を使用して行うため、まず、カラーカメラ6によ
って撮像された画像を使用して画像内での分割されたパ
ネル1の領域を求める(ステップS2乃至S6)。
【0020】その後、白映像、黒映像、および灰色映像
を、それぞれ、カラー液晶表示パネル1に表示させ、各
指定領域(後述の外接領域)内で、滅点欠陥、輝点欠
陥、半輝滅点欠陥、および線欠陥について検査を行う
(ステップS7乃至S18)。ここで、白映像とは、カ
ラー液晶表示パネル1の各色の画素に、一様に明るい
(すなわち輝度の高い)表示を行わせる映像をいう。黒
映像とは、カラー液晶表示パネル1の各色の画素に、一
様に暗い(すなわち輝度の低い)表示を行わせる映像を
いう。灰色映像とは、カラー液晶表示パネル1の各色の
画素に、一様に中間的明るさ(すなわち中間の輝度の)
表示を行わせる映像をいう。
【0021】滅点欠陥とは、前述のように、カラー液晶
表示パネル1の各色の画素に、一様に明るい(すなわち
輝度の高い)表示を行わせたときに、画素が明るく表示
できず暗く表示してしまう欠陥をいう。輝点欠陥とは、
前述のように、カラー液晶表示パネル1の各色の画素
に、一様に暗い(すなわち輝度の低い)表示を行わせた
ときに、画素が暗く表示できず明るく表示してしまう欠
陥をいう。半輝滅点欠陥とは、前述のように、カラー液
晶表示パネル1の各色の画素に、一様に中間的明るさ
(すなわち中間の輝度の)表示を行わせたときに、画素
が入力信号の輝度レベルに対して暗すぎるか明るすぎる
表示をしてしまう欠陥をいう。線欠陥とは、滅点欠陥、
輝点欠陥、または半輝滅点欠陥が、線状に並ぶ欠陥をい
う。
【0022】次に、図3の各処理について詳細に説明す
る。まず、カラーカメラ6は、カラーカメラ移動装置7
によって検査位置に位置決めされる(ステップS1)。
位置決めが完了すると、カラー液晶表示パネル駆動装置
5は、カラー液晶表示パネル1に黒映像を表示させる
(ステップS2)。図4は、カラー液晶表示パネル1に
黒映像を表示させたときに、パネル1内に輝点欠陥があ
った場合一例を示す。なお、図4において、参照符号6
Sは、カメラ6の視野を示す。
【0023】次に、カラーカメラ6は、カラー液晶表示
パネル1に表示された映像を撮像し、画像処理装置8に
入力する(ステップS3)。図5は、図4に示されたカ
ラー液晶表示パネル1上の映像について、画像処理装置
8に入力された、赤、緑および青の各画像の一例を示
す。
【0024】次に、カラー液晶表示パネル駆動装置5
は、カラー液晶表示パネル1上における、カラーカメラ
6の視野6S内に完全に入る所定寸法の映像表示領域5
D(図6参照)に白映像すなわち白画像を表示させる
(ステップS4)。図6は、カラー液晶表示パネル1上
の映像表示領域5Dに白映像を表示させた例を示す。
【0025】次に、ステップS3と同様に、カラーカメ
ラ6は、カラー液晶表示パネル1に表示された映像を撮
像し、画像処理装置8に入力する(ステップS5)。図
7は、図6に示されたカラー液晶表示パネル1上の映像
について、画像処理装置8に入力された、赤、緑および
青の各画像の一例を示す。
【0026】次に、画像処理装置8は、ステップS3お
よびステップS5においてそれぞれ入力された第1の
赤、青および緑の画像(図5の画像)および第2の赤、
青および緑の画像(図7の画像)について、各色の画像
毎に、濃淡値が所定値以上異なる(すなわち変化した)
部分の外接領域を求め、この外接領域を画像内における
検査対象領域とする(ステップS6)。図8は、図7の
赤、緑および青画像内において求められた外接領域5
R、5Gおよび5Bすなわち検査対象領域の例を示す。
【0027】図9は、カラー液晶表示パネル1上におい
て高い輝度で(すなわち明るく)表示された赤、緑およ
び青の各画素を、カラーカメラ6によって撮像すること
により得られた赤、緑および青画像の例を示す。図9
(a)の赤画像は、他の色(緑および青)の画像位置に
赤成分すなわちクロストーク9Rを含み、図9(b)の
緑画像は、他の色(赤および青)の画像位置に緑成分す
なわちクロストーク9Gを含み、図9(c)の青画像
は、他の色(赤および緑)の画像位置に青成分すなわち
クロストーク9Bを含む。このようにクロストークが生
じるのは、赤、緑および青の波長が近いために、各色の
画像メモリ上の同一位置にある画素の輝度分布に重なり
が生じるからである。
【0028】このような各色間のクロストーク9R、9
Gおよび9Bをキャンセルするために、赤、緑および青
の画像の同一位置に存在する画素の赤、緑および青に関
する輝度データを比較し、この比較によって最も大きな
輝度と判定された色の輝度データを画像メモリに残し、
他の色の輝度データを画像メモリから消去する(ステッ
プS7)。図10は、図9の赤、緑および青画像からク
ロストークがキャンセルされた赤、緑および青画像を示
す。このようなクロストークキャンセル処理は、画像処
理装置8に記憶された各色すべての画像について行う。
【0029】図11は、図7の赤、緑および青画像を、
図8の外接領域5R、5Gおよび5Bでマスキングを行
った(ステップS8)ときの各色画像の例を示す。この
ようなマスキング処理を行うことにより、各色の画像内
において各種の欠陥検査を行うときに、検査対象外の領
域に対して誤って検査を行ってしまうおそれがなくな
る。
【0030】検査対象領域内の各色の画素の滅点検査に
ついては、図11に示されたような画像に対して、所定
の閾値で二値化処理を行った後、画像内における各色の
カラー液晶表示パネル1の画素数をラベリング処理等を
行うことにより、個数を数え、その結果と本来の正常な
値とを比較し、その差を滅点検査の個数とする(ステッ
プS9)。
【0031】次に、カラー液晶表示パネル駆動装置5
は、カラー液晶表示パネル1に黒映像を表示させる(ス
テップS10)。そして、カラーカメラ6は、カラー液
晶表示パネル1に表示された映像を撮像し、画像処理装
置8に入力する(ステップS11)。次に、ステップS
8と同様に、例えば図8に示された外接領域5R、5G
および5Bによってマスキングを行う(ステップS1
2)。図12は、パネル1の画面に表示された黒映像を
カメラ6で撮像して画像処理装置8に入力された赤、緑
および青画像を、図8の外接領域でマスキングを行って
得られた各色画像例を示す。
【0032】次に、ステップS12においてマスキング
されて得られた各色画像に対して輝点欠陥検査を行う
(ステップS13)。輝点欠陥検査は、各色画像に対し
て所定の閾値で二値化処理を行った後、画像内における
各色のカラー液晶表示パネル1の画素数をラベリング処
理等を行うことにより、個数を数え、その結果と本来の
正常な値とを比較し、その差を輝点検査の個数とする。
また、このとき、線欠陥検査のために、画像内における
各輝点欠陥の位置も求める。
【0033】以上、白映像と黒映像を使用して、輝点欠
陥と滅点欠陥の検査を行うことについて説明したが、灰
色映像を使用し、前述と同様な処理を行うことにより、
半輝滅点欠陥検査を行うことができる。すなわち、ま
ず、カラー液晶表示パネル駆動装置5は、カラー液晶表
示パネル1に映像を表示させる(ステップS14)。そ
して、カラーカメラ6は、カラー液晶表示パネル1に表
示された映像を撮像し、画像処理装置8に入力する(ス
テップS15)。次に、ステップS8と同様に、例えば
図8に示された外接領域5R、5Gおよび5Bによって
マスキングを行う(ステップS16)。
【0034】次に、ステップS17においてマスキング
されて得られた各色画像に対して半輝滅点欠陥検査を行
う(ステップS17)。半輝滅点欠陥検査は、輝度レベ
ルに関する明るい方の所定の閾値と暗い方の所定の閾値
との間の輝度レベルの表示を行わなかった画素を検出す
る。すなわち、各色画像について、明るい方の所定の閾
値と暗い方の所定の閾値を使用して二値化処理を行い、
暗すぎたり、明るすぎたりする、各色の画素の個数を数
えることにより、半輝滅点の個数を求める。また、この
とき、線欠陥検査のために、画像内における各半輝滅点
欠陥の位置も求める。
【0035】その後、ステップS18において各種線欠
陥検査が行われる。すなわち、ステップS13およびS
17において求められた輝点および半輝滅点欠陥の画像
内での位置を使用し、これらの画像内での位置関係を調
べ、これらが直線状に配列されているか検査する。
【0036】以上、カラー液晶表示パネル1上の一つの
指定領域すなわち外接領域5R、5Gおよび5Bについ
ての各種欠陥処理について説明したが、この後、カラー
液晶表示パネル1の残りの領域に対して同一の処理を行
うために、カメラ移動装置7によってカラーカメラ6を
適当な位置に移動させる。
【0037】カラー液晶表示パネル1の全領域に対して
前述の検査処理を行うには、カラー液晶表示パネル1の
全領域を、カラーカメラ6の視野内におさまる小領域に
等分割し、各分割領域に対し、カラー液晶表示パネル駆
動装置5によって、順次、映像を表示させ、これらの映
像をカラーカメラ6が順次撮像できるように、毎回、カ
メラ移動装置7によりカラーカメラ6を移動させればよ
い。
【0038】なお、図3の実施例において、黒映像と白
映像の処理の順番を逆にしてもよく、また、滅点欠陥検
査、輝点欠陥検査および半輝滅点欠陥検査の順番を変更
してよい。
【0039】また、図3の実施例においては、滅点欠陥
検査、輝点欠陥検査および半輝滅点欠陥検査のすべてを
行っているが、所要の検査を行うだけでも良い。
【0040】また、上記実施例は、カラー液晶表示パネ
ルに関するものであるが、本発明は、これに限定され
ず、白黒の液晶表示パネルにも適用できる。この場合に
は、カラーカメラの代わりに白黒カメラを使用し、クロ
ストークキャンセルを行わずに、各色についての検査を
一色についてのみ行えば良い。
【0041】また、上記実施例においては、カメラの視
野を移動させるために、カメラを移動させたが、この代
わりに、液晶表示パネル、偏光板および光源を移動させ
ても良い。
【0042】
【発明の効果】請求項1の液晶表示パネルの検査方法に
よれば、液晶表示パネルの各画素に、明るい表示を行わ
せる信号供給し、このとき暗い表示を行った画素を欠陥
と認定するので、滅点欠陥を画素単位で検出することが
できる。
【0043】請求項2の液晶表示パネルの検査方法によ
れば、液晶表示パネルの各画素に、暗い表示を行わせる
信号を供給し、このとき明るい表示を行った画素を欠陥
と認定するので、輝点欠陥を画素単位で検出することが
できる。
【0044】請求項3の液晶表示パネルの検査方法によ
れば、液晶表示パネルの各画素に、中間的明るさの表示
を行わせる信号を供給し、輝度レベルに関する明るい方
の所定の閾値と暗い方の所定の閾値との間の輝度レベル
の表示を行わなかった画素を欠陥と認定するので、半輝
滅点欠陥を画素単位で検出できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による液晶表示パネルの検査方法の一実
施例に使用される装置の一例を示すブロック図である。
【図2】本発明の検査対象であるカラー液晶表示パネル
の一例を示す図である。
【図3】本発明の液晶表示パネルの検査方法の一実施例
を示すフローチャートである。
【図4】カラー液晶表示パネルに黒画像を表示したとき
に輝点欠陥があった場合のパネル画面の一例を示す図で
ある。
【図5】図4のパネル画面に表示された画像をカメラで
撮像して画像処理装置に入力された赤、緑および青の各
画像例を示す図である。
【図6】カラー表示パネルの一部の所定領域に白画像を
表示した場合のパネル画面の一例をカメラ視野と関連づ
けて示す図である。
【図7】図6のパネル画面に表示された画像をカメラで
撮像して画像処理装置に入力された赤、緑および青の各
画像例を示す図である。
【図8】図7の赤、緑および青画像内において求められ
た外接領域の例を示す図である。
【図9】カラー液晶表示パネル上において高い輝度で
(すなわち明るく)表示された赤、緑および青の各画素
を、カラーカメラによって撮像することにより得られた
赤、緑および青画像の例を示す図である。
【図10】図9の赤、緑および青画像からクロストーク
がキャンセルされた赤、緑および青画像を示す図であ
る。
【図11】図7の赤、緑および青画像を、図8の外接領
域でマスキングを行った例を示す図である。
【図12】パネル画面に表示された黒映像をカメラで撮
像して画像処理装置に入力された赤、緑および青画像
を、図8の外接領域でマスキングを行って得られた画像
例を示す図である。
【符号の説明】
1 カラー液晶表示パネル, 5 カラー液晶表示パネ
ル駆動装置, 5D映像表示領域, 5R,5G,5B
外接領域, 6 カラーカメラ, 6Sカメラ視野,
8 画像処理装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液晶表示パネルの各画素に、明るい表示
    を行わせる信号を供給し、 暗い表示を行った画素を欠陥と認定することを特徴とす
    る液晶表示パネルの検査方法。
  2. 【請求項2】 液晶表示パネルの各画素に、暗い表示を
    行わせる信号を供給し、 明るい表示を行った画素を欠陥と認定することを特徴と
    する液晶表示パネルの検査方法。
  3. 【請求項3】 液晶表示パネルの各画素に、中間的明る
    さの表示を行わせる信号を供給し、 輝度レベルに関する明るい方の所定の閾値と暗い方の所
    定の閾値との間の輝度レベルの表示を行わなかった画素
    を欠陥と認定することを特徴とする液晶表示パネルの検
    査方法。
JP2000243985A 2000-08-11 2000-08-11 液晶表示パネルの検査方法 Pending JP2001083474A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000243985A JP2001083474A (ja) 2000-08-11 2000-08-11 液晶表示パネルの検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000243985A JP2001083474A (ja) 2000-08-11 2000-08-11 液晶表示パネルの検査方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4204492A Division JPH05219535A (ja) 1992-01-31 1992-01-31 液晶表示パネル検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001083474A true JP2001083474A (ja) 2001-03-30

Family

ID=18734748

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000243985A Pending JP2001083474A (ja) 2000-08-11 2000-08-11 液晶表示パネルの検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001083474A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006084496A (ja) * 2004-09-14 2006-03-30 V Technology Co Ltd 点灯検査装置
JP2006268050A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Samsung Electronics Co Ltd 画像検査装置、パネル検査方法及び表示パネルの製造方法
KR101118192B1 (ko) * 2009-05-13 2012-03-20 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 비점등 검사장치
KR101166843B1 (ko) * 2005-08-30 2012-07-19 엘지디스플레이 주식회사 Lcd 검사 장비 및 lcd 검사 방법
CN104732900A (zh) * 2013-12-20 2015-06-24 昆山国显光电有限公司 像素缺陷检测方法和装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006084496A (ja) * 2004-09-14 2006-03-30 V Technology Co Ltd 点灯検査装置
JP2006268050A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Samsung Electronics Co Ltd 画像検査装置、パネル検査方法及び表示パネルの製造方法
KR101166843B1 (ko) * 2005-08-30 2012-07-19 엘지디스플레이 주식회사 Lcd 검사 장비 및 lcd 검사 방법
KR101118192B1 (ko) * 2009-05-13 2012-03-20 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 비점등 검사장치
CN104732900A (zh) * 2013-12-20 2015-06-24 昆山国显光电有限公司 像素缺陷检测方法和装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0150689B1 (ko) 평면형 표시패널 검사장치
KR101958634B1 (ko) 디스플레이 장치의 무라 검출 장치 및 방법
WO2010146733A1 (ja) 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
WO2010146732A1 (ja) 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
US20170278232A1 (en) Method and system for detecting defective pixels and screen imperfections of a mobile device
KR20140091916A (ko) 디스플레이 패널 검사방법
WO2013175703A1 (ja) 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置
JPH1019731A (ja) 表示画面検査方法
WO2014132506A1 (ja) 表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置
JP2009085892A (ja) 欠陥検査装置、欠陥検査方法、画像処理装置、プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2009229197A (ja) 線状欠陥検出方法および線状欠陥検出装置
JPH04158238A (ja) 液晶パネルの検査方法
JP2008020369A (ja) 画像解析方法、画像解析装置、検査装置、画像解析プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP3695120B2 (ja) 欠陥検査方法
JP2001083474A (ja) 液晶表示パネルの検査方法
JP4664417B2 (ja) 表示パネル点灯検査装置、及び表示パネル点灯検査方法。
JP3584507B2 (ja) パタンムラ検査装置
JPH05219535A (ja) 液晶表示パネル検査方法
JPH06236162A (ja) カラー液晶パネル欠陥検査方法および装置
JP2005148670A (ja) 液晶パネルの検査画像作成方法及び装置並びに外観検査方法及び装置
JPH08327497A (ja) カラー液晶表示パネルの検査方法
JP3270336B2 (ja) 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法
JP2000337999A (ja) マスク板を用いた表示素子の自動画質検査方法及び装置
JP3371168B2 (ja) 欠陥検査方法
JP2837048B2 (ja) 表示パネル検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20021212