CN100510675C - 显示面板的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明有关于一种显示面板的检测方法，其检测方法先设置多个测试点于一显示基板，显示基板包括多个显示面板，该多个测试点与该多个显示面板电性连接，接着输入一测试信号于该多个测试点，再检测该多个显示面板的画面质量。因此，在贴附偏光板之前检测显示面板，以避免偏光板的浪费。

Description

显示面板的检测方法

技术领域

本发明有关于一种检测方法，更详细地说，关于一种显示面板的检测方法。

背景技术

现今科技蓬勃发展，信息商品种类推陈出新，满足了众多使用者的需求。早期显示器多半为阴极射线管(Cathode Ray Tube，CRT)显示器，由于其体积庞大与耗电量大，而且所产生的辐射线，对于长时间使用显示器的使用者而言有危害身体健康的疑虑，因此，现今市面上的显示器渐渐将由液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)取代旧有的CRT显示器。液晶显示器具有轻薄短小、低辐射与耗电量低等优点，也因此成为目前市场主流。

一般显示器出厂时，都必须经过测试，以控管显示器的质量，避免显示器于自动化生产时，因各种因素而使显示器出现各种的问题，诸如显示器的画面的亮度不均匀或是色彩不均匀等。

现今的显示面板的制造中，包含分别对两片较大面积的上、下基板加工，之后将该较大面积的上、下基板组合形成一较大面积的显示基板，再将该较大面积的显示基板切割并加工制作成多个显示面板，最后分别测试该多个显示面板以确认显示面板的质量。

请参阅图1，其为公知技术的显示面板的检测示意图。如图所示，传统的显示面板20’的检测方式需先将整片显示基板10’切割成多片显示面板20’，并于显示面板20’进行偏光片的贴附后再进行检测，若在检测过程中发现显示面板20’为瑕疵品时，必须将瑕疵的显示面板20’报废，因此，无法在贴偏光片前预先检知工艺异常及不良，便会造成偏光片的浪费。且公知技术的检测方式，因为采用单片显示面板(panel)的检查方式，需要较多的检查设备及检测人员导致成本增加。

因此，针对上述问题提出一种新的显示面板检测方法，不仅可避免偏光片的浪费的缺点，又可同时检测多个显示面板以加快工艺的速度。

发明内容

本发明的目的之一，在于提供一种显示面板的检测方法，其在贴附偏光板之前检测显示面板，以避免偏光板之浪费。

本发明的目的之一，在于提供一种显示面板的检测方法，其设置多个测试点于一显示基板，以同时检测多个显示面板。

本发明的目的之一，在于提供一种显示面板的检测方法，其利用一光学组件配合一偏极化光源以自动化检测多个显示面板。

本发明的显示面板的检测方法，包含先设置多个测试点于一显示基板，显示基板包括多个显示面板，设置该些测试点于该多个显示基板周围，该多个测试点至少包含一电源端与一接地端，该多个测试点与该多个显示面板电性连接，接着输入一测试信号于该测试点，以传送该测试信号至该多个显示面板而显示画面，再检测该多个显示面板的画面质量。

再者，在检测该显示面板的步骤中，在显示基板的一侧设置一偏极化光源，并于显示基板的另一侧使用一光学组件检测该多个显示面板，其中光学组件可设置一偏光片并以自动化方式检测该多个显示面板。

附图说明

图1为公知技术的显示面板的检测示意图；

图2为本发明的一较佳实施例的流程图；

图3为本发明的一较佳实施例的切割显示面板的立体示意图；

图4为本发明的一较佳实施例的切割后显示面板的俯视图；

图5A为本发明的一较佳实施例的测试点与显示面板连接示意图；

图5B为本发明的另一较佳实施例的测试点与显示面板连接示意图；

图5C为本发明的另一较佳实施例的测试点与显示面板连接示意图；

图6A为本发明的一较佳实施例的显示面板的测试示意图；

图6B为本发明的另一较佳实施例的显示面板的测试示意图；

图6C为本发明的另一较佳实施例的显示面板的测试示意图；

图6D为本发明的另一较佳实施例的显示面板的测试示意图；以及

图6E为本发明的另一较佳实施例的显示面板的测试示意图。

其中，附图标记：

10’显示基板

20’显示面板

10 显示基板

12 上基板

14 下基板

16 多余基板

18 测试点

20 显示面板

30 偏光板

32 偏光片

40 测试台

42 探针

50 光源

52 偏极化光源

具体实施方式

为使本发明的结构特征及所达成的功效有更容易了解与认识，以较佳的实施例及配合详细的说明，说明如下：

请一并参阅图2、图3与图4，其分别为本发明的一较佳实施例的流程图、切割显示基板的立体图与显示基板切割后的俯视图。如图所示，本发明的显示面板的测试方法，首先，执行步骤S10设置多个测试点18于一显示基板10的一下基板14，显示基板10包括多个显示面板20，该多个测试点18与该多个显示面板20电性连接(如图5A至图5C所示)。接着执行步骤S12，输入一测试信号于该多个测试点18，以传送测试信号至该多个显示面板20而显示画面，接下来执行步骤S14，检测该多个显示面板20的画面质量，此步骤可初步通过肉眼观看该多个显示面板20在输入信号后，是否有显示画面，即可得知显示面板20是否正常，进而可再利用检测仪器检测该多个显示面板20所显示的画面质量，确保显示面板的质量符合客户要求。如此，可通过输入一测试信号于设置于一显示基板10的多个测试点18，以同时检测多个显示面板20。

承上所述，在步骤S12中，由于该多个测试点设置于显示基板10的下基板14中，因此，在输入测试信号于该多个测试点18之前必须例如是切割显示基板10的上基板12的多余基板16以露出测试点18，如图3与图4所示。其中，该多个测试点18例如是设置于显示基板10的下基板14的边缘，以方便切割显示基板10的上基板12以露出测试点18。此外，由于现今部分制作显示基板10的工艺中，即会设置多个焊垫(Pad)于显示基板10，所以本发明于此种工艺中，即可利用该多个焊垫作为该多个测试点18以进行测试，而不需额外设置该多个测试点18。

接着，请一并参阅图5A至图5C，其为测试点与显示面板连接示意图。如图所示，该多个测试点18与该多个显示面板20的电性连接的方式可为多种不同的类型，例如是一对一连接、网状连接以及总线连接的方式。在图5A中，该多个测试点18与该多个显示面板20以一对一方式连接，每一显示面板20由不同的测试点18提供信号。在图5B中，该多个测试点18与该多个显示面板20以网状连接方式，该多个测试点18与该多个显示面板20电性连接，且在显示基板10中的该多个显示面板20彼此电性连接，如此可避免一对一连接方式时，该多个测试点18与该多个显示面板20因各种因素产生接触不良或更甚至断线时信号无法传输至显示面板。在图5C中，该多个测试点18与该多个显示面板20以总线的方式连接，如此仅需利用一组测试点18即可对该多个显示面板20进行测试，以减少测试时所需的成本并可节省显示基板10的空间。上述的该多个测试点18与该多个显示面板20的连接方式仅为本发明的实施方式，并不仅局限于这三种连接方式。

承接上述，该多个测试点18包括一电源端与一接地端以接收外部电路所输入的测试信号而使该多个显示面板20显示画面，测试信号包括一电源信号与一接地信号。如此可通过输入简单的信号点亮该多个显示面板20，初步检测显示面板20是否正常。进而可再利用检测仪器检测该些显示面板20所显示的画面质量，确认显示面板20质量符合客户要求。

以下以检测仪器检测该多个显示面板20进行说明。请一并参阅图6A至图6E，其为本发明之一较佳实施例的显示面板的测试示意图。如图6A所示，其检测仪器包括测试台40、光源50以及光学组件60。显示基板10的两侧分别设置偏光板30，测试台40利用探针42提供测试信号至测试点18，光源50设置于显示基板10的一侧，光学组件60设置于显示基板10相对于光源50的另一侧，以检测该多个显示面板20。其中，如图6B所示，光源50可为一偏极化光源52，如此无须在显示基板10的下方设置偏光板30，以节省制作上的成本。其中，光学组件60为一电荷耦合组件(Charge-Coupled Device，CCD)、一互补式金氧半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，CMOS)摄影机、一单一线型摄影机或一矩阵型摄影机的其中之一。

同理，请参阅图6C，可在光学组件60的镜头多设置一偏光片32，可免除在显示基板10的上方设置偏光板30，以节省制作上的成本。又，请参阅图6D，除了光学组件60的镜头多设置一偏光片32，又在显示基板10的下方设置偏极化光源52，如此可同时节省在显示基板10的两侧设置偏光板30，再者，请参阅图6E，其设置偏极化光源52于显示基板10的一侧，显示基板10的另一侧设置光学组件60，并相对应偏极化光源52而使用光学组件60以检测显示面板20，在此时实施例中，因为光学组件与光源为对应设置，因此可节省光源数量。在本实施例中更可在光学组件60的镜头多设置偏光片32可免除在显示基板10的上方设置偏光板30，以节省制作上的成本。该检测仪器可使用自动化机械装置自动化检测多个显示面板20，例如一轴可移动式滑轨装置或二轴可移动式滑轨装置。

检测后的显示基板10将进行切割工序，将显示基板10切割为多个显示面板20继续后续工序。

综上所述，本发明的显示面板的检测方法，其可通过该多个测试点与该多个显示面板的电性连接，并输入测试信号于该多个测试点，以检测该多个显示面板，如此可同时检测多个显示面板，且该检测方式在贴附偏光板之前进行，可避免偏光板的浪费。

以上所述，仅为本发明的较佳实施例，并非用来限定本发明实施的范围，举凡依本发明权利要求书所述的形状、构造、特征及精神所为的均等变化与修饰，均应包括于本发明的权利要求书保护范围内。

Claims (12)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，步骤包含：

设置多个测试点于一显示基板，该显示基板包括多个显示面板，设置该些测试点于该多个显示面板周围，该多个测试点至少包含一电源端与一接地端；

该多个测试点与该多个显示面板电性连接；

输入一测试信号于该多个测试点，以传送该测试信号至该多个显示面板而显示画面；以及

检测该多个显示面板的画面质量。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其中于检测该多个显示面板的画面质量的步骤中，其特征在于，包括：

分别设置一偏光板于该显示基板的两侧；

设置一光源于该显示基板的一侧；以及

使用一光学组件于该显示基板的另一侧，以检测该多个显示面板的画面质量。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，该光学组件包含一电荷耦合组件、一互补式金属氧化物半导体摄影机、一单一线型摄影机或一矩阵型摄影机。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在检测该多个显示面板的画面质量的步骤中，包含：

设置一偏光板于该显示基板的一侧；

设置一偏极化光源于该显示基板的另一侧；以及

使用一光学组件位于该偏光板的一侧而检测该多个显示面板的画面质量。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，该光学组件包含一电荷耦合组件、一互补式金属氧化物半导体摄影机、一单一线型摄影机或一矩阵型摄影机。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在检测该多个显示面板的画面质量的步骤中，包含：

设置一偏光板于该显示基板的一侧；

设置一光源于该偏光板的一侧；以及

使用一光学组件位于该显示基板的另一侧，检测该多个显示面板的画面质量，其中，该光学组件具有一偏光片。

7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在检测该多个显示面板的画面质量的步骤中，包含：

设置一偏极化光源于该显示基板的一侧；以及

设置一光学组件于该显示基板的另一侧，并使用该光学组件配合该偏极化光源而检测该显示面板，其中，该光学组件具有一偏光片。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，该光学组件包括一电荷耦合组件、一互补式金属氧化物半导体摄影机、一单一线型摄影机或一矩阵型摄影机。

9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该多个测试点与该多个显示面板的电性连接方式包含一对一连接、网状连接或总线连接。

10.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该设置多个测试点于一显示基板的步骤中，该显示基板包括一上基板以及一下基板，该上基板包括多个显示面板，设置多个测试点于该显示基板的下基板上，并对应于该多个测试点而切割该显示基板的上基板以露出该多个测试点。

11.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该检测该多个显示面板的步骤后更包含：

分割该多个显示面板。

12.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该测试信号至少包含一电源信号与一接地信号。

Images