CN105892109B - 检测液晶玻璃pi不良点的装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种检测液晶玻璃PI不良点的装置，其通过CCD摄像头来对液晶玻璃进行拍照并通过微处理器对液晶玻璃PI不良点进行自动识别。本发明对液晶玻璃PI不良点的检测效率较高，并且较容易识别出PI不良点，而且偏光片不需要报废。

Description

检测液晶玻璃PI不良点的装置及方法
技术领域
本发明涉及一种检测液晶玻璃PI不良点的装置。
背景技术
PI即液晶玻璃上的聚酰亚胺薄膜，通过对聚酰亚胺薄膜的摩擦在聚酰亚胺薄膜上形成一定的沟槽结构，以便于液晶分子按照特定的方向进行取向，但是目前的液晶玻璃在制造完成后可能会具有PI不良点，即液晶玻璃上的PI的某一个位置点无法正常导光。
这样，在液晶玻璃制造完成后，需要对液晶玻璃进行检测，以检测出具有PI不良点的液晶玻璃并剔除，以保证液晶玻璃的出货质量。
目前一般采用人工检测的方式来对液晶玻璃进行检测，即先在液晶玻璃的两表面上贴好偏光片，然后将贴好偏光片的液晶玻璃放置到背光板上，背光板对液晶玻璃进行照明，然后通过人眼观察，来查看液晶玻璃上是否有过亮或过暗的点，过亮或过暗的点即为PI不良点。
采用上述方法来对液晶玻璃进行检测时，由于采用人工检测，效率较低；并且人眼较难辨识PI不良点，使得对PI不良点的识别较为困难；而且由于偏光片贴在液晶玻璃上，这样，在检测出液晶玻璃具有PI不良点后，该液晶玻璃和偏光片都一起报废了。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是，提供一种检测液晶玻璃PI不良点的装置，其对液晶玻璃PI不良点的检测效率较高，并且较容易识别出PI不良点，而且偏光片不需要报废。
为解决上述技术问题，本发明提供的检测液晶玻璃PI不良点的装置，包括：
一底座，该底座上设置有连接座；
一背光板，该背光板设置于底座的上表面上；
一下偏光片，该下偏光片位于背光板的上方；
一透明盖板，该透明盖板位于下偏光片的上方，用于放置待检测的液晶玻璃；
一转动板，该转动板的一侧与连接座通过水平铰接轴相铰接，该转动板的另一侧为自由侧，连接座上设置有用于在转动板向下翻转到水平状态时对转动板进行限位的结构，转动板上具有透明视窗区域；
一上偏光片，该上偏光片覆盖在转动板上且位于透明视窗区域内；
至少一用于透过上偏光片来对放置在透明盖板上的液晶玻璃进行拍照的CCD摄像头；
一微处理器，该微处理器与CCD摄像头电连接；
一显示屏，该显示屏与微处理器电连接。
本发明还提供了一种检测液晶玻璃PI不良点的方法，包括以下步骤：
（1）、将待检测液晶玻璃放置到透明盖板上；
（2）、将转动板向下翻转到水平状态；
（3）、CCD摄像头透过上偏光片来对待检测液晶玻璃进行拍照，并将相应数据发送至微处理器，微处理器将待检测液晶玻璃的图像在显示屏上进行显示；
（4）、微处理器获取待检测液晶玻璃的图像的各个像素点的亮度值，并计算各个像素点的亮度值的平均值，然后将每个像素点的亮度值与该平均值进行比较，如果某一像素点的亮度值比该平均值大X或某一像素点的亮度值比该平均值小Y，则判定该像素点为坏点，在显示屏的液晶玻璃图像上对判定为坏点的像素点进行标示，此像素点即为液晶玻璃的PI不良点。
本发明还提供了另一种检测液晶玻璃PI不良点的方法，包括以下步骤：
（1）、将待检测液晶玻璃放置到透明盖板上；
（2）、将转动板向下翻转到水平状态；
（3）、CCD摄像头透过上偏光片来对液晶玻璃进行拍照，并将相应数据发送至微处理器，微处理器将待检测液晶玻璃的图像在显示屏上进行显示；
（4）、微处理器获取待检测液晶玻璃的图像的各个像素点的亮度值，然后调取微处理器中预存的标准品液晶玻璃的图像，将待检测液晶玻璃的图像的各个像素点与标准品液晶玻璃的图像的相应像素点一一对应的进行比较，如果待检测液晶玻璃的图像的某一像素点的亮度值比标准品液晶玻璃的图像的相应像素点的亮度值大A或待检测液晶玻璃的图像的某一像素点的亮度值比标准品液晶玻璃的图像的相应像素点的亮度值小B，则判定待检测液晶玻璃的图像的该像素点为坏点，在显示屏的液晶玻璃图像上对判定为坏点的像素点进行标示，此像素点即为液晶玻璃的PI不良点。
采用以上结构和方法后，本发明与现有技术相比，具有以下的优点：
本发明中，可以通过微处理器对液晶玻璃PI不良点进行自动识别，使得检测效率较高，且较容易识别出PI不良点，而且不需要将偏光片贴在液晶玻璃上，这样，在检测出液晶玻璃具有PI不良点后，只需要将液晶玻璃进行报废，而不需要使得偏光片一起报废。
附图说明
图1是本发明的结构示意图；
图2是本发明的侧视图（显示屏未显示）；
图3是图2中A区域的剖视图；
图4是图2中B区域的剖视图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细地说明。
由图1~图4所示，本发明检测液晶玻璃PI不良点的装置包括一底座1、一背光板2、一下偏光片3、一透明盖板8、一转动板4、一上偏光片5、至少一CCD摄像头6、一微处理器、一显示屏7。
底座1上设置有连接座101。
背光板2设置于底座1的上表面上，背光板2水平设置。
下偏光片3固定于底座1上且位于背光板2的上方，下偏光片3水平设置。
透明盖板8位于下偏光片3的上方，透明盖板8的上表面用于放置待检测的液晶玻璃9，透明盖板8水平设置。
转动板4的一侧与连接座101通过水平铰接轴相铰接，该转动板4的另一侧为自由侧，这样，该转动板4可以以水平铰接轴为轴进行上下翻转，连接座101上设置有用于在转动板4向下翻转到水平状态时对转动板4进行限位的结构，转动板4上具有透明视窗区域401。
所述的连接座101上设置有用于在转动板4向下翻转到水平状态时对转动板4进行限位的结构是指在连接座101上设置有一延伸部102，延伸部102的上端面为水平面，延伸部102位于转动板4的下方，这样，在转动板4向下翻转到与延伸部102的上端面相抵的位置时，转动板4即被限位，转动板4无法继续向下翻转，转动板4被延伸部102所支撑，此时转动板4处于水平状态。
上偏光片5覆盖在转动板4上且位于透明视窗区域401内。
CCD摄像头6设置在转动板4的上表面上，CCD摄像头6用于透过上偏光片5来对放置在透明盖板8上的液晶玻璃9进行拍照，CCD摄像头6可以设置多个，这样可以通过多个CCD摄像头6分别获取液晶玻璃各个区域的图像，然后组合成整个液晶玻璃的图像，这样就可以较为准确的获取整个液晶玻璃的图像。
微处理器与CCD摄像头6电连接。
显示屏7与微处理器电连接，显示屏7可以进行转动。
本发明提供了一种检测液晶玻璃PI不良点的方法，包括以下步骤：
（1）、将待检测液晶玻璃放置到透明盖板上；
（2）、将转动板向下翻转到水平状态；
（3）、CCD摄像头透过上偏光片来对待检测液晶玻璃进行拍照，并将相应数据发送至微处理器，微处理器将待检测液晶玻璃的图像在显示屏上进行显示；
（4）、微处理器获取待检测液晶玻璃的图像的各个像素点的亮度值，并计算各个像素点的亮度值的平均值，然后将每个像素点的亮度值与该平均值进行比较，如果某一像素点的亮度值比该平均值大X或某一像素点的亮度值比该平均值小Y，则判定该像素点为坏点，在显示屏的液晶玻璃图像上对判定为坏点的像素点进行标示，此像素点即为液晶玻璃的PI不良点，此处的X和Y可以根据不同检测精度进行相应的设置。
本发明还提供了另一种检测液晶玻璃PI不良点的方法，包括以下步骤：
（1）、将待检测液晶玻璃放置到透明盖板上；
（2）、将转动板向下翻转到水平状态；
（3）、CCD摄像头透过上偏光片来对液晶玻璃进行拍照，并将相应数据发送至微处理器，微处理器将待检测液晶玻璃的图像在显示屏上进行显示；
（4）、微处理器获取待检测液晶玻璃的图像的各个像素点的亮度值，然后调取微处理器中预存的标准品液晶玻璃的图像，将待检测液晶玻璃的图像的各个像素点与标准品液晶玻璃的图像的相应像素点一一对应的进行比较，如果待检测液晶玻璃的图像的某一像素点的亮度值比标准品液晶玻璃的图像的相应像素点的亮度值大A或待检测液晶玻璃的图像的某一像素点的亮度值比标准品液晶玻璃的图像的相应像素点的亮度值小B，则判定待检测液晶玻璃的图像的该像素点为坏点，在显示屏的液晶玻璃图像上对判定为坏点的像素点进行标示，此像素点即为液晶玻璃的PI不良点，此处的A和B可以根据不同检测精度进行相应的设置。
以上仅就本发明应用较佳的实例做出了说明，但不能理解为是对权利要求的限制，本发明的结构可以有其他变化，不局限于上述结构。总之，凡在本发明的独立权利要求的保护范围内所作的各种变化均在本发明的保护范围内。

Claims (2)

1.一种检测液晶玻璃PI不良点的方法，其特征在于，应用于一种检测液晶玻璃PI不良点的装置，所述装置包括：
一底座（1），该底座（1）上设置有连接座（101）；
一背光板（2），该背光板（2）设置于底座（1）的上表面上；
一下偏光片（3），该下偏光片（3）位于背光板（2）的上方；
一透明盖板（8），该透明盖板（8）位于下偏光片（3）的上方，用于放置待检测的液晶玻璃；
一转动板（4），该转动板（4）的一侧与连接座（101）通过水平铰接轴相铰接，该转动板（4）的另一侧为自由侧，连接座（101）上设置有用于在转动板（4）向下翻转到水平状态时对转动板（4）进行限位的结构，转动板（4）上具有透明视窗区域（401）；
一上偏光片（5），该上偏光片（5）覆盖在转动板（4）上且位于透明视窗区域（401）内；
至少一用于透过上偏光片（5）来对放置在透明盖板（8）上的液晶玻璃进行拍照的CCD摄像头（6）；
一微处理器，该微处理器与CCD摄像头（6）电连接；
一显示屏（7），该显示屏（7）与微处理器电连接；
所述方法包括以下步骤：
（1）、将待检测液晶玻璃放置到透明盖板上；
（2）、将转动板向下翻转到水平状态；
（3）、CCD摄像头透过上偏光片来对待检测液晶玻璃进行拍照，并将相应数据发送至微处理器，微处理器将待检测液晶玻璃的图像在显示屏上进行显示；
（4）、微处理器获取待检测液晶玻璃的图像的各个像素点的亮度值，并计算各个像素点的亮度值的平均值，然后将每个像素点的亮度值与该平均值进行比较，如果某一像素点的亮度值比该平均值大X或某一像素点的亮度值比该平均值小Y，则判定该像素点为坏点，在显示屏的液晶玻璃图像上对判定为坏点的像素点进行标示，此像素点即为液晶玻璃的PI不良点。
2.一种检测液晶玻璃PI不良点的方法，其特征在于，应用于一种检测液晶玻璃PI不良点的装置，所述装置包括：
一底座（1），该底座（1）上设置有连接座（101）；
一背光板（2），该背光板（2）设置于底座（1）的上表面上；
一下偏光片（3），该下偏光片（3）位于背光板（2）的上方；
一透明盖板（8），该透明盖板（8）位于下偏光片（3）的上方，用于放置待检测的液晶玻璃；
一转动板（4），该转动板（4）的一侧与连接座（101）通过水平铰接轴相铰接，该转动板（4）的另一侧为自由侧，连接座（101）上设置有用于在转动板（4）向下翻转到水平状态时对转动板（4）进行限位的结构，转动板（4）上具有透明视窗区域（401）；
一上偏光片（5），该上偏光片（5）覆盖在转动板（4）上且位于透明视窗区域（401）内；
至少一用于透过上偏光片（5）来对放置在透明盖板（8）上的液晶玻璃进行拍照的CCD摄像头（6）；
一微处理器，该微处理器与CCD摄像头（6）电连接；
一显示屏（7），该显示屏（7）与微处理器电连接；
所述方法包括以下步骤：
（1）、将待检测液晶玻璃放置到透明盖板上；
（2）、将转动板向下翻转到水平状态；
（3）、CCD摄像头透过上偏光片来对液晶玻璃进行拍照，并将相应数据发送至微处理器，微处理器将待检测液晶玻璃的图像在显示屏上进行显示；
（4）、微处理器获取待检测液晶玻璃的图像的各个像素点的亮度值，然后调取微处理器中预存的标准品液晶玻璃的图像，将待检测液晶玻璃的图像的各个像素点与标准品液晶玻璃的图像的相应像素点一一对应的进行比较，如果待检测液晶玻璃的图像的某一像素点的亮度值比标准品液晶玻璃的图像的相应像素点的亮度值大A或待检测液晶玻璃的图像的某一像素点的亮度值比标准品液晶玻璃的图像的相应像素点的亮度值小B，则判定待检测液晶玻璃的图像的该像素点为坏点，在显示屏的液晶玻璃图像上对判定为坏点的像素点进行标示，此像素点即为液晶玻璃的PI不良点。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106773189A (zh) * 2017-03-27 2017-05-31 武汉华星光电技术有限公司 宏观自动检查机及提升显示异常区域量测效率的方法
CN108426897B (zh) * 2018-05-07 2021-03-12 芜湖良匠机械制造有限公司 一种玻璃基板缺陷检测装置
CN109031726A (zh) * 2018-08-31 2018-12-18 贵州华旭光电技术有限公司 用于液晶显示屏的检测装置
CN111897154B (zh) * 2020-08-21 2023-08-18 京东方科技集团股份有限公司 透过率测试治具及测试方法
CN117872632B (zh) * 2024-03-08 2024-05-14 深圳市恒伟信业显示科技有限公司 一种液晶显示屏的碎亮点检测方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001013476A (ja) * 1999-06-30 2001-01-19 Ricoh Co Ltd 表示ムラ検査装置及び表示ムラ検査方法
WO2003069396A2 (en) * 2002-02-15 2003-08-21 Elop Electro-Optics Industries Ltd. Device and method for varying the reflectance or transmittance of light
JP2005195515A (ja) * 2004-01-08 2005-07-21 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 平面表示装置の検査装置及びその方法
JP2008134160A (ja) * 2006-11-28 2008-06-12 Sharp Corp 検査装置、検査方法、プログラム、及び、記録媒体
WO2008102996A1 (en) * 2007-02-22 2008-08-28 Okins Electronics Co., Ltd. Device for detecting pixel state of display element array substrate
CN103185989A (zh) * 2013-03-21 2013-07-03 江西合力泰科技股份有限公司 一种液晶显示的立体眼镜镜片
CN105116572A (zh) * 2015-09-18 2015-12-02 信利（惠州）智能显示有限公司 液晶基板检测装置
CN105116647A (zh) * 2015-08-11 2015-12-02 江西合力泰科技有限公司 一种双盒裸眼3d lcd
CN205027994U (zh) * 2015-10-14 2016-02-10 深圳市易天自动化设备有限公司 一种偏光片精度检测装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0361993A (ja) * 1989-07-28 1991-03-18 Nec Corp 液晶表示素子の検査方法および検査装置
JP3501661B2 (ja) * 1998-10-12 2004-03-02 シャープ株式会社 液晶表示パネルの検査方法および検査装置
KR100560397B1 (ko) * 1999-11-12 2006-03-14 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 셀 불량 검사 장치 및 방법
JP2004200770A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Fuji Photo Film Co Ltd 明るさ調整システム
JP2004294202A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Seiko Epson Corp 画面の欠陥検出方法及び装置
JP2008241254A (ja) * 2007-03-23 2008-10-09 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 点灯検査方法及び平面表示装置の製造方法
CN100510675C (zh) * 2007-04-24 2009-07-08 友达光电股份有限公司 显示面板的检测方法
CN101329281B (zh) * 2007-06-20 2011-08-10 佛山普立华科技有限公司 影像感测晶片污点检测系统及其检测方法
KR101068364B1 (ko) * 2007-07-11 2011-09-28 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법
JP2009079983A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Seiko Epson Corp 点欠陥検出装置、および点欠陥検出方法
JP5474420B2 (ja) * 2009-07-02 2014-04-16 Ｃｋｄ株式会社 蛍光ランプ検査装置
CN101710217A (zh) * 2009-12-18 2010-05-19 厦门京东方电子有限公司 背光模组制作治具
JP5549364B2 (ja) * 2010-05-11 2014-07-16 株式会社Ｓｕｍｃｏ ウェーハ欠陥検査装置及びウェーハ欠陥検査方法
JP5867268B2 (ja) * 2011-06-21 2016-02-24 ソニー株式会社 むら検査装置およびむら検査方法
JP2013104952A (ja) * 2011-11-11 2013-05-30 Toyobo Co Ltd 液晶表示装置
CN103617783B (zh) * 2013-11-21 2017-02-08 深圳Tcl新技术有限公司 液晶模组像素亮度调节方法及系统
CN103713406B (zh) * 2013-12-18 2016-08-17 电子科技大学 一种液晶显示器检测方法
CN105301810A (zh) * 2015-11-24 2016-02-03 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种屏幕缺陷检测方法及装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001013476A (ja) * 1999-06-30 2001-01-19 Ricoh Co Ltd 表示ムラ検査装置及び表示ムラ検査方法
WO2003069396A2 (en) * 2002-02-15 2003-08-21 Elop Electro-Optics Industries Ltd. Device and method for varying the reflectance or transmittance of light
JP2005195515A (ja) * 2004-01-08 2005-07-21 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 平面表示装置の検査装置及びその方法
JP2008134160A (ja) * 2006-11-28 2008-06-12 Sharp Corp 検査装置、検査方法、プログラム、及び、記録媒体
WO2008102996A1 (en) * 2007-02-22 2008-08-28 Okins Electronics Co., Ltd. Device for detecting pixel state of display element array substrate
CN103185989A (zh) * 2013-03-21 2013-07-03 江西合力泰科技股份有限公司 一种液晶显示的立体眼镜镜片
CN105116647A (zh) * 2015-08-11 2015-12-02 江西合力泰科技有限公司 一种双盒裸眼3d lcd
CN105116572A (zh) * 2015-09-18 2015-12-02 信利（惠州）智能显示有限公司 液晶基板检测装置
CN205027994U (zh) * 2015-10-14 2016-02-10 深圳市易天自动化设备有限公司 一种偏光片精度检测装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Dong-Myoung Lee.Square‐cross‐patterned Vertical Alignment Liquid Crystal Mode with High Brightness Characteristics.SID Symposium Digest of Technical Papers.2016,全文. *
沈亭婷 ; .浅谈液晶显示器.中国科技信息.(第18期),全文. *

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