CN105116572A - 液晶基板检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种液晶基板检测装置，包括：光源组件、第一偏光片、第二偏光片、感光元件和图像处理单元，所述第一偏光片和所述第二偏光片分别平行设置于待测基板的两侧，所述第一偏光片的偏振方向垂直于所述第二偏光片的偏振方向，所述光源组件设置于所述第一偏光片背对所述待测基板的一侧，所述感光元件设置于所述第二偏光片背对所述待测基板的一侧，所述感光元件与所述图像处理单元电连接。通过偏振方向相互垂直的两个偏光片对透过待测基板的光线进行过滤，图像处理单元通过处理感光元件拍摄的图片检测待测基板是否具有坏点，有效提高了检测精度，降低了误判率。

Description

液晶基板检测装置

技术领域

本发明涉及液晶检测技术领域，特别是涉及液晶基板检测装置。

背景技术

液晶盒在灌入液晶后，液晶盒密封形成液晶基板，成盒后的液晶基板需要进行检测，检测时，在液晶基板背投钠灯或白炽灯，通过人工肉眼目视检查基板外观是否具有缺陷。由于液晶基板的成盒检测是液晶生产的重要环节，对当前工艺是否出现异常的判定有最早期的预警，因此检测结果非常重要。但是，目前通过人工肉眼观测，经常会出现漏检、误判的情况，造成预警延迟，带有缺陷的成品批量流到后工序，导致材料浪费，使得生产成本上升；此外，人工肉眼检测效率低下，无法满足生产需求。

发明内容

基于此，有必要针对人工肉眼检测液晶基板漏检率高、误判率高的缺陷，提供一种检测精度高，有效降低误判率的液晶基板检测装置。

一种液晶基板检测装置，包括：光源组件、第一偏光片、第二偏光片、感光元件和图像处理单元，所述第一偏光片和所述第二偏光片分别平行设置于待测基板的两侧，所述第一偏光片的偏振方向垂直于所述第二偏光片的偏振方向，所述光源组件设置于所述第一偏光片背对所述待测基板的一侧，所述感光元件设置于所述第二偏光片背对所述待测基板的一侧，所述感光元件与所述图像处理单元电连接。

在一个实施例中，还包括传送带和机械臂，所述传送带用于传送所述待测基板，所述机械臂与所述图像处理单元电连接，且所述机械臂设置于所述传动带一侧。

在一个实施例中，所述感光元件设置为三个。

在一个实施例中，所述第一偏光片与所述待测基板的间距为5cm。

在一个实施例中，所述第二偏光片与所述待测基板的间距为5cm。

在一个实施例中，所述第一偏光片和所述第二偏光片分别水平转动设置于所述待测基板的两侧。

在一个实施例中，所述第一偏光片连接有第一转动杆，所述第一转动杆用于水平转动所述第一偏光片。

在一个实施例中，所述第二偏光片连接有第二转动杆，所述第二转动杆用于水平转动所述第二偏光片。

在一个实施例中，所述光源组件为钠灯。

在一个实施例中，所述光源组件为白炽灯。

上述液晶基板检测装置，通过偏振方向相互垂直的两个偏光片对透过待测基板的光线进行过滤，图像处理单元通过处理感光元件拍摄的图片检测待测基板是否具有坏点，有效提高了检测精度，降低了误判率。

附图说明

图1为本发明一个实施例的液晶基板检测装置的一方向结构示意图；

图2为本发明一个实施例的液晶基板检测装置的另一方向结构示意图；

图3为本发明一个实施例的液晶基板检测装置的一方向平面示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1、图2所示，其为本发明一较佳实施例的液晶基板检测装置10，包括：

光源组件130、第一偏光片110、第二偏光片120、感光元件和图像处理单元，例如，所述感光元件为具有感光拍摄功能的设备，例如，所述感光元件为摄像头150，所述图像处理单元为具有图像处理功能的设备，例如，如图3所示，所述图像处理单元为计算机160，所述第一偏光片110和所述第二偏光片120分别平行设置于待测基板200的两侧，所述第一偏光片110的偏振方向垂直于所述第二偏光片120的偏振方向，所述光源组件130设置于所述第一偏光片110背对所述待测基板200的一侧，所述摄像头150设置于所述第二偏光片120背对所述待测基板200的一侧，例如，请再次参见图1和图2，所述第一偏光片110和所述第二偏光片120分别平行设置于待测基板200的下方和上方，所述光源组件130设置于所述第一偏光片110的下方，所述摄像头150设置于所述第二偏光片120的上方，所述摄像头150与所述计算机160电连接，所述摄像头150用于拍摄所述待测基板200，所述计算机160用于解析并处理所述摄像头150拍摄的图像。

通过偏振方向相互垂直的两个偏光片对透过待测基板200的光线依次进行过滤，计算机160通过处理摄像头150拍摄的图片检测待测基板200是否具有坏点，有效提高了检测精度，降低了误判率，而且，由于检测光线来自光源组件130，而无需通电点亮待测基板200，大大提高了检测效率。

为了提高效率检测效率，如图1至图3所示，本发明液晶基板检测装置还包括传送带300和机械臂400，其中，图2中方向A为传送带300运动方向，所述传送带300用于传送所述待测基板200，所述机械臂400与所述计算机160电连接，且所述机械臂400设置于所述传动带一侧，例如，如图1、图3所示，所述传送带300包括两个平行间隔设置的第一传动带310和第二传动带320，所述第一传动带310和所述第二传动带320上架设有透明板500，所述透明板500随所述第一传动带310和所述第二传动带320的传动而运动，待测基板200设置在透明板500上，所述第一传动带310和所述第二传动带320之间的下方固定设置有光源组件130，所述光源组件130上方对应依次设置有第一偏光片110、第二偏光片120和摄像头150，且所述透明板500和待测基板200水平活动于所述第一偏光片110和所述第二偏光片120之间，当待测基板200随着传送带300运动至所述光源组件130上方时，光线依次穿透第一偏光片110、待测基板200和第二偏光片120，摄像头150对待测基板200进行拍摄，并将拍摄图像传送至计算机160进行处理，计算机160解析拍摄的图像，判断待测基板200是否存在坏点，如存在坏点，则在待测基板200运动随传送带300运动至机械臂400所对应的位置时，所述计算机160控制所述机械臂400将具有坏点的待测基板200从传送带300上截取，例如，将待测基板200从传送带300上取下，避免具有坏点的待测基板200流入下一工序，造成材料损失。例如，可以在传送带300上间隔架设多个透明板500用于承载并传送多个待测基板200，这样，可以快速地对多个待测基板200进行检测，提高检测效率。

为了便于观测人员对具有坏点的待测基板200的分析，例如，如图3所示，所述传送带300一侧还设置有承载装置600，所述承载装置600临近于所述机械臂400，例如，当检测到待测基板200具有坏点时，所述机械臂400将待测基板200截取并防止在承载装置600上，承载装置600用于集中放置具有坏点的待测基板200，便于观测人员对具有坏点的待测基板200的集中分析。例如，所述承载装置600为物料篮，或者所述承载装置600为物料架，或者物料框，或者任一适用于承载待测基板200，与待测基板200大小适配的承载容器。

为了进一步提高检测效率，提高检测精度，例如，所述摄像头150设置为三个，例如，三个所述摄像头150并排设置，具体来说，将传送带300运动方向定义为纵向，将与传动带运动方向垂直的方向定义为横向，三个所述摄像头150并排横向设置，当待测基板200运动至所述摄像头150对应的位置时，三个所述摄像头150可以在横向方向上覆盖待测基板200的，待测基板200沿传送带300运动时，三个所述摄像头150通过间断拍摄从而在纵向方向上覆盖待测基板200，从而实现对待测基板200全面覆盖拍摄，无需将待测基板200切割成多块进行检测，大大提高了检测效率和检测精度。又如，第一偏光片旁设置第一导光板组，第二偏光片旁设置第二导光板组，用于增强拍摄效果，例如，每一导光板组，包括第一导光板组与第二导光板组，设置一对导光板，例如，所述导光板具有弧形截面，和/或，所述导光板上设置若干凸槽，优选的，各所述凸槽平行设置。又如，每一导光板组至少部分包覆一摄像头。例如，三个所述摄像头并排设置，其中一个摄像头位于两个导光板组之间，并且在每一导光板组处设置一个摄像头。这样，可以提升检测精度、提高检测效果，例如，根据待测基板200的尺寸设置多个摄像头150。为了进一步提高精度，例如，设置多组摄像头150，每组摄像头150包括三个并排横向设置的摄像头150，且每组摄像头150之间纵向间隔设置，例如，每组摄像头150设置四个摄像头150，例如，组摄像头150设置五个摄像头150，以满足不同尺寸的待测基板200的检测需求，并提高检测精度。

应该理解的是，偏光片与待测基板200的间距如果太近，则无法完全过滤光线，如果间距太远，则无法很好覆盖待测基板，更大面积的偏光片，导致生产成本提高，为了进一步提高检测精度，例如，所述第一偏光片110与所述待测基板200的间距为5cm，所述第二偏光片120与所述待测基板200的间距为5cm，这样可使得光线偏振方向上完全过滤，同时，偏光片覆盖待测基板200更大的面积，使得成本降低。

为了使得本发明液晶基板检测装置可适用不同的液晶基板的检测，如图1、图2所示，所述第一偏光片110和所述第二偏光片120分别水平转动设置于所述待测基板200的两侧，这样，通过转动所述第一偏光片110和所述第二偏光片120，同时使得所述第一偏光片110和所述第二偏光片120的偏振方向相互垂直，从而使得所述第一偏光片110与待测基板200、待测基板200与所述第二偏光片120分别具有不同的偏振角度，实现对不同规格的待测基板200的检测，而无需另外设置一套检测装置，大大降低了检测成本。又如，所述待测基板的两侧分别设置一个转轴，两个所述转轴平行设置，所述第一偏光片和所述第二偏光片分别通过一对应的所述转轴转动设置于所述待测基板的两侧，例如，水平转动设置于所述待测基板的两侧。

例如，请再次参见图1和图2，所述第一偏光片110连接有第一转动杆，所述第一转动杆用于水平转动所述第一偏光片110，例如，所述第二偏光片120连接有第二转动杆121，所述第二转动杆121用于水平转动所述第二偏光片120，例如，所述传送带300一侧固定设置有支架(图未示)，所述第一转动杆和所述第二转动杆121转动设置于所述支架上，且所述第一转动杆和所述第二转动杆121分别与所述第一偏光片110和所述第二偏光片120连接，通过控制所述第一转动杆和第二转动杆121从而使得所述第一偏光片110和所述第二偏光片120分别转动，实现对不同规格的待测基板200的检测。

为了使得本发明液晶基板检测装置可适用不同的液晶基板的检测，所述光源组件130为钠灯，或者，所述光源组件130为白炽灯，例如所述钠灯和所述白炽灯可切换，使得本发明液晶基板检测装置可适用于不同工艺参数的液晶基板的检测，例如，所述光源组件130位置可调整，以适应不同尺寸的待测基板200，以此降低检测成本。

为了让观测人员及时发现待测基板200的坏点，例如，所述液晶基板检测装置10还包括报警装置，所述报警装置与所述计算机160连接，或者，所述报警装置设置于所述计算机160，例如，所述计算机160具有报警功能。当所述计算机160对待测基板200的检测结果为由坏点，则所述计算机160控制所述报警装置发出警报，以提醒观测人员；所述警报包括声音警报、发光警报或声光警报；又如，当多个待测基板200出现坏点的位置相同时，则所述计算机160发出警报，例如，单个待测基板出现坏点时发出的警报和多个待测基板在同一个位置出现坏点时发出的警报不相同，这样，可以很好的区分是待测基板200出现坏点是偶然导致单个待测基板200出现瑕疵还是待测基板200批量生产工艺出现问题。

对应本发明上述各实施例的液晶基板检测装置，本发明还包括一种液晶基板检测方法，所述方法包括：

通过传送带传送多个待测基板，使得待测基板依次通过第一偏光片110和第二偏光片之间；

通过光源组件照射，使得光线依次照射经过第一偏光片、待测基板和第二偏光片；

通过感光元件在第二偏光片背对所述待测基板一侧，从光源组件照射方向的反向对待测基板进行拍摄，获得检测图像；

解析所述检测图像是否含有坏点，是则控制机械臂400截取所述待测基板200。

在一个实施例中，为了通过检测结果判断前面生产工艺是否存在纰漏或瑕疵，对生产过程做预警分析，进一步降低生产成本，所述解析所述检测图像是否含有坏点，是则控制机械臂截取所述待测基板的步骤进一步包括：

解析所述检测图像是否含有坏点，是则获取所述坏点在所述待测基板的位置参数，记录所述位置参数，控制机械臂截取所述待测基板；

解析多个待测基板的坏点的位置参数，判断多个待测基板的坏点的位置参数是否相同，是则发出预警信息。

应该理解的是，在同一批次的检测当中，待测基板的尺寸及规格一致，对待测基板的尺寸进行预处理，获得待测基板上各个位置的位置参数，相应的，待测基板上出现坏点，则坏点具有相应的位置参数用于表示所述坏点位于待测基板上的位置，当多个待测基板的坏点的位置参数的相同时，表示多个待测基板上的相同位置上出现了坏点，则不能简单的将其作为废料截取处理，而应该对其进行分析，因为坏点的出现是随机的，如果多次重复重现，意味着前面的生产流程出现了纰漏或瑕疵，从而导致待测基板批量出现问题，则根据此解析判断结果发出预警，并将所述位置参数显示，从而实现对前面生产流程预警分析，避免更多的液晶基板出现问题，进一步降低生产成本。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种液晶基板检测装置，其特征在于，包括：光源组件、第一偏光片、第二偏光片、感光元件和图像处理单元，所述第一偏光片和所述第二偏光片分别平行设置于待测基板的两侧，所述第一偏光片的偏振方向垂直于所述第二偏光片的偏振方向，所述光源组件设置于所述第一偏光片背对所述待测基板的一侧，所述感光元件设置于所述第二偏光片背对所述待测基板的一侧，所述感光元件与所述图像处理单元电连接。

2.根据权利要求1所述的液晶基板检测装置，其特征在于，还包括传送带和机械臂，所述传送带用于传送所述待测基板，所述机械臂与所述图像处理单元电连接，且所述机械臂设置于所述传动带一侧。

3.根据权利要求1所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述感光元件设置为三个。

4.根据权利要求1所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述第一偏光片与所述待测基板的间距为5cm。

5.根据权利要求1所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述第二偏光片与所述待测基板的间距为5cm。

6.根据权利要求1所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述第一偏光片和所述第二偏光片分别水平转动设置于所述待测基板的两侧。

7.根据权利要求6所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述第一偏光片连接有第一转动杆，所述第一转动杆用于水平转动所述第一偏光片。

8.根据权利要求6所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述第二偏光片连接有第二转动杆，所述第二转动杆用于水平转动所述第二偏光片。

9.根据权利要求1所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述光源组件为钠灯。

10.根据权利要求1所述的液晶基板检测装置，其特征在于，所述光源组件为白炽灯。