CN106918933A - 对比度测试系统 - Google Patents
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Abstract
本公开提供一种对比度测试系统。该对比度测试系统包括点灯系统以及测试系统,其中,所述点灯系统采用待测试显示屏的BIST模式进行自动点灯和黑白画面的切换,并通过所述测试系统间隔预设时间分别获取所述待测试显示屏的黑画面亮度值和白画面亮度值;所述对比度测试系统根据所述黑画面亮度值和所述白画面亮度值计算获得所述待测试显示屏的对比度值。本公开可以解决现有产线无法对显示屏的对比度进行有效检测的问题。
Description
技术领域
本公开涉及显示技术领域,具体而言,涉及一种对比度测试系统。
背景技术
随着液晶显示技术的发展,液晶显示屏应用越来越广泛。液晶显示屏在开发、测试、光学部件进行二元化导入节点等过程中,为保证产品良率,需要对液晶显示屏的多种光学参数进行测试,例如亮度、对比度、色域以及色彩分布等等。其中,对比度值是液晶显示屏的一项较为重要的光学特性,对比度对视觉效果的影响非常关键,一般来说,对比度越大,图像越清晰醒目,色彩也越鲜明艳丽,而对比度越小,图像越模糊,故对比度的检测至关重要。目前较常采用的检测方式是人工检测方式,工作人员通过采集液晶显示屏黑白画面下的亮度值,进行人工计算得到对比度值,然后将计算出的对比度值与设定值进行比较,进而判断该对比度值是否满足要求。一般地,采用人工测试对比度的检测方式,测试过程繁琐,并且测试效率低,容易出现测试错误,测量精度较低。
因此,现有技术中的技术方案还存在有待改进之处。
需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于提供一种对比度测试系统,进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。
本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得清晰,或者部分地通过本公开的实践而习得。
根据本公开的一个方面,提供一种对比度测试系统,包括点灯系统以及测试系统,其中,
所述点灯系统采用待测试显示屏的BIST模式进行自动点灯和黑白画面的切换,并通过所述测试系统间隔预设时间分别获取所述待测试显示屏的黑画面亮度值和白画面亮度值;
所述对比度测试系统根据所述黑画面亮度值和所述白画面亮度值计算获得所述待测试显示屏的对比度值。
在本公开的一种示例性实施例中,所述点灯系统包括第一探针、第二探针和第三探针,所述第一探测、所述第二探针和所述第三探测能够分别插入所述待测试显示屏的电路板上预留的按照预设方式排布的三个测试点中,对所述待测试显示屏进行供电。
在本公开的一种示例性实施例中,所述第一探针为电源电压输入探针,所述第二探针为接地探针,所述第三探针为BIST模式电压输入探针。
在本公开的一种示例性实施例中,所述第一探针、所述第二探针和所述第三探针为能够收缩的弹性探针。
在本公开的一种示例性实施例中,所述电路板的三个测试点并列放置,且所述三个测试点之间保持预设间隔。
在本公开的一种示例性实施例中,所述对比度测试系统还包括:传输系统,所述传输系统用于将所述待测试显示屏传输到所述对比度测试系统上并将所述待测试显示屏的中心位置与所述测试系统的光学探头进行自动对位。
在本公开的一种示例性实施例中,所述传输系统包括传送带。
在本公开的一种示例性实施例中,当所述待测试显示屏为液晶显示屏时,所述对比度测试系统还包括:光源,所述光源设置于所述光学探头的正下方;其中,
所述传送带中间设置有圆孔;
当所述液晶显示屏放置于所述传送带上时,将所述液晶显示屏的中心位置与所述圆孔进行对位,然后将所述液晶显示屏通过所述传送带传送至预设高度的所述光学探头的正下方。
在本公开的一种示例性实施例中,所述对比度测试系统还包括:电路板固定装置,用于所述点灯系统进行点灯时对所述待测试显示屏进行固定。
在本公开的一种示例性实施例中,还包括:控制系统,所述控制系统用于将所述对比度值打印并贴附于所述待测试显示屏上。
本公开某些实施例中的对比度测试系统,通过采用待测试显示屏的BIST模式进行自动点灯和黑白画面的切换的点灯系统,一方面,不需要操作点灯机,也不需要操作人员进行连线,不用插接连接器,减少了人工接触待测试显示屏引起二次不良的风险;另一方面,自动化点灯并切换画面,不需要人工操作。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出本公开示例性实施例中一种对比度测试系统的结构示意图。
图2示出本公开示例性实施例中一种点灯系统以及电路板测试点设置的示意图。
图3示出本公开示例性实施例中另一种对比度测试系统的结构示意图。
图4示出本公开示例性实施例中一种对比度测试方法的流程示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的范例;所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本公开的实施方式的充分理解。然而,本领域技术人员将意识到,可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多,或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。
需要指出的是,在附图中,为了图示的清晰可能会夸大层和区域的尺寸。而且可以理解,当元件或层被称为在另一元件或层“上”时,它可以直接在其他元件上,或者可以存在中间的层。另外,可以理解,当元件或层被称为在另一元件或层“下”时,它可以直接在其他元件下,或者可以存在一个以上的中间的层或元件。另外,还可以理解,当层或元件被称为在两层或两个元件“之间”时,它可以为两层或两个元件之间唯一的层,或还可以存在一个以上的中间层或元件。通篇相似的参考标记指示相似的元件。
图1示出本公开示例性实施例中一种对比度测试系统的结构示意图。
如图1所示,该对比度测试系统10可以包括点灯系统11以及测试系统12。
其中,所述点灯系统11采用待测试显示屏20的BIST模式进行自动点灯和黑白画面的切换,并通过所述测试系统12间隔预设时间分别获取所述待测试显示屏20的黑画面亮度值和白画面亮度值;所述对比度测试系统10根据所述黑画面亮度值和所述白画面亮度值计算获得所述待测试显示屏20的对比度值。
对比度(contrast,以下简称为CR)是待测试显示屏20上同一点最亮(例如L255亮度值)时与最暗(例如L0亮度值)时的亮度的比值。其中,高的对比度意味着较高的亮度和呈现颜色的艳丽程度。因此,在显示领域,CR是目前关注的一个关键因素,其值可以用以下公式计算得到:
在示例性实施例中,测试系统12可选用亮度计或图像传感器或色彩分析仪等。但不仅限于此,以上例举的测试系统仅是对本发明实施例进行的举例说明而不是限制。
在示例性实施例中,所述点灯系统11可以包括第一探针、第二探针和第三探针,所述第一探测、所述第二探针和所述第三探测能够分别插入所述待测试显示屏20的电路板上预留的按照预设方式排布的三个测试点中,对所述待测试显示屏20进行供电。
在示例性实施例中,对比度测试系统10还可以包括电源系统和控制系统。其中电源系统的电源电压输出端电连接点灯系统11的相应探针以提供相应的电源供应,控制系统电连接所述电源系统,在所述控制系统的控制下,点灯系统11的探针扎入待测试显示屏的电路板(Printed Circuit Board,PCB,例如可以为柔性电路板(Flexible PrintedCircuit,FPC))上预留的测试点中或者断开与测试点的电连接。例如,当控制系统发出测试指令时,点灯系统11的探针扎入电路板上的相应测试点中,对待测试显示屏20进行供电,该待测试显示屏20显示预设画面(例如黑画面或者白画面);当控制系统发出测试完成指令时,点灯系统11的探针与测试点的电连接断开,不再对待测试显示屏20进行供电,待测试显示屏20关闭。
图2示出本公开示例性实施例中一种点灯系统以及电路板测试点设置的示意图。
在图2所示的实施例中,所述第一探针为电源电压输入探针(VCC),所述第二探针为接地探针(GND),所述第三探针为BIST模式电压输入探针(BIST)。其中,VCC一般可以为3.3V,BIST一般可以为3.3V、2.5V、1.8V等,但本公开不限定于此。
电源电压输入探针(VCC)、接地探针(GND)、BIST模式电压输入探针(BIST)分别连接到所述电源系统的电压电压输出端、接地端和BIST模式电压输出端,且该电源系统电连接至控制系统,在控制系统的控制下,例如控制系统发出测试指令时,将该三个探针分别扎入待测试显示屏的电路板的预留的用于CR测试的三个测试点中进行点灯,从而为该待测试显示屏供电,开始显示黑白画面。
在示例性实施例中,该待测试显示屏20的PCB上的Tcon芯片中可以预存好显示画面(例如黑白画面),不需外接信号发生器即可在给显示屏供电后显示黑白画面。但本公开并不限定于此,也可以通过
传统的点灯系统是点灯机,通过转线连接到待测试显示屏进行点灯并切换画面。而本发明实施例采用简单的三个探针进行点灯,具体例如可以分别为VCC、GND、BIST。在FOG(film on glass)状态下,目前的显示屏设计都有BIST模式,在BIST模式下可以自动切换L255,L0,R255,G255,B255共五个画面,一般可以设置每个画面停留2s。在本发明实施例中BIST模式下的各个画面的停留时间和选择显示的画面以及所选择的画面切换的顺序可以根据需求预先进行设定,例如,为了进行对比度测试,设置在BIST模式下按照预设时间间隔轮流显示黑画面(例如L255)和白画面(例如L0)。因此,通过BIST模式测试L0亮度值和L255亮度值可以满足本发明实施例中测试CR的要求。
在示例性实施例中,所述第一探针、所述第二探针和所述第三探针为能够收缩的弹性探针。本发明实施例采用三个可以伸缩的探针进行点灯,即探针设置成可伸缩的弹性探针,一方面,可以保证为待测试显示屏20进行供电时探针扎针后与测试点之间连接的稳定性;另一方面,还可以防止探针扎针时对待测试显示屏20的PCB的压力过大导致PCB损坏。
继续参考图2的实施例,所述电路板的三个测试点并列放置,且所述三个测试点之间保持预设间隔。例如,在PCB上将三个测试点并列放置,并彼此相邻的两个测试点之间保持间隔为1mm,这样就可以进行点灯。之所以三个测试点之间需要保持所述预设间隔,是因为如果三个测试点之间的间距太大,会占据PCB上较大空间;而如果三个测试点之间的间隔太小,彼此之间可能产生干扰。但本公开并不限定于此,三个测试点也可以不并列设置,且三个测试点相互之间的间隔也不一定为1mm,其可以根据具体的应用场景例如PCB上芯片的结构布局、PCB的面积等选择合适的间隔,且各相邻的两个测试点之间可以是等间隔设置,也可以是非等间隔设置。
本发明实施方式提供的对比度测试系统采用三根探针,针对不同的待测试显示屏产品都可以自动点灯和切换画面,不用人工操作,解决了现有技术中点灯需要专门的线材和对应的点灯机、手工进行插拔连接时用力导致FPC折损,以及人工接触待测试显示屏(panel)引起二次不良等带来的技术问题。
下面以待测试显示屏20为液晶显示屏为例进行举例说明,但本公开并不限定于此,例如还可以是OLED等任意其他显示屏。
图3示出本公开示例性实施例中另一种对比度测试系统的结构示意图。
如图3所示,该对比度测试系统包括点灯系统11和测试系统,其中点灯系统11包括三个探针111、112、113(可以分别为VCC、GND、BIST),三个探针111、112、113分别能够扎入待测试显示屏21(这里假设为液晶显示屏)的电路板22上预留的三个测试点221、222和223。其中,测试系统包括光学探头121。
由于液晶本身不发光,因此,在图3所示的实施例中,该对比度测试系统还可以包括光源14(例如背光),在测试过程中,光源14为待测试显示屏21提供充足的亮度与均匀的光源,使待测试显示屏21能够正常显示影像。例如,当背光接收到控制系统输出的测试指令,执行该执行指令照亮待测试显示屏21。
在应用该对比度测试系统对同一批次或不同批次的多张显示屏进行测试时,可以使用同一背光,不用更换。由于待测试显示屏的规格可能不同,其正常工作所需要的光源的亮度也可能不同,则相应的背光所需要的电流大小不同,因此,还可以包括用于调节向所述背光的电源输入端子输出的电流大小的电流调节结构,操作人员可通过旋转电流调节结构或者控制系统根据待测试显示屏的规格自动调节输出的电流大小。
由于测试系统的光学探头121与光源14的距离和角度会影响使用测试系统的光学探头121测量待测试显示屏21的对比度,因此,为了更加准确的测量,可使测试系统的光学探头121与待测试显示屏21的距离固定。同时,由于光源14与待测试显示屏21的距离和角度均会影响待测试显示屏21表里面的照度,从而影响使用测试系统的光学探头121对待测试显示屏21对比度的测量,因此,可使光源14与待测试显示屏21的距离和角度均固定,避免光源14与待测试显示屏21的距离和角度对测试结果的影响。
在图3所示的实施例中,在测试时,使光学探头121、待测试显示屏21的中心位置以及光源14处于同一垂直线上,且光学探头121与待测试显示屏21之间的垂直距离固定,例如为2mm,同时光源14设置于光学探头121的正下方。但本公开不限定于此,可以根据对比度测试要求,设置光学探头121与待测试显示屏21之间合适的垂直距离。其中,如果光学探头121与待测试显示屏21之间的垂直距离太远可能有外部光线影响测试结果的准确性,而如果太近则可能会导致光学探头121接触待测试显示屏21导致二次不良,因此,需要对测试系统的光学探头的伸出长度有所控制。
在示例性实施例中,还可以在光学探头121上加入压力传感器,当发生光学探头121接触到待测试显示屏21等异常情况时,压力传感器检测到压力就停止光学探头121继续伸出。
在示例性实施例中,还可以在光学探头121上加橡胶等有弹性的材料,这样即使光学探头121不小心接触到待测试显示屏121,也不会对待测试显示屏121造成二次不良。
在示例性实施例中,所述对比度测试系统还可以包括:传输系统,所述传输系统用于将所述待测试显示屏21传输到所述对比度测试系统上并将所述待测试显示屏21的中心位置与所述测试系统的光学探头121进行自动对位。
在示例性实施例中,所述传输系统可以包括驱动器、动力输出装置、至少一条传送带和/或机械手,所述传送带和/或机械手可设置一个或者多个。该传输系统的工作原理为:驱动器接收到控制系统输出的传输指令或停止传输指令后输出或停止输出驱动信号;动力输出装置接收驱动器输出的驱动信号,并依据该驱动信号向外输出动力;传送带或机械手在动力输出装置输出的动力作用下执行动作。
继续参考图3,以所述传输系统包括传送带13为例进行说明,但本公开不限定于此。传送带13接收所述控制系统输出的传输指令、停止传输指令或测试完成指令,并依据指令执行传输、停止传输或将待测试显示屏21传送出所述传送带13。
在示例性实施例中,传送带13的电机可以选择用步进电机(图中未示出),可以用PWM(Pulse Width Modulation,脉冲宽度调制)波控制步进电机,可以精确控制转动的角度,保证下述对位的精确性。其中,步进电机是将电脉冲信号转变为角位移或线位移的开环控制元步进电机件。在非超载的情况下,步进电机的转速、停止的位置只取决于脉冲信号的频率和脉冲数,而不受负载变化的影响,当步进电机接收到一个脉冲信号,它就驱动步进电机按设定的方向转动一个固定的角度,称为“步距角”,它的旋转是以固定的角度一步一步运行的。可以通过控制脉冲个数来控制角位移量,从而达到准确定位的目的;同时可以通过控制脉冲频率来控制电机转动的速度和加速度,从而达到调速的目的。可以预先通过设置好脉冲的个数,来设定步进电机旋转的角度,进而控制传送带移动的距离;或者,也可以通过设置步进电机的旋转角度,来控制传送带的移动距离。
在图3所示的实施例中,传送带13的中间设置有一镂空的圆孔131。当所述液晶显示屏21放置于所述传送带13上时,要进行对位,确保镂空圆孔131在液晶显示屏21的中心位置,即首先将所述液晶显示屏21的中心位置与所述传送带13上的圆孔131进行对位,然后将所述液晶显示屏21通过所述传送带13传送,圆孔131到达至预设高度(例如2mm)的所述光学探头121的正下方时,传送带13停止传送。此时,镂空的圆孔131下方为背光14,光可以通过圆孔131到达液晶显示屏21上。然后,点灯系统的探针进行对位找到电路板上相应测试点位置,并压合送电。
在示例性实施例中,将所述液晶显示21屏的中心位置与所述圆孔131进行对位可以通过传感器或限位装置或者标记(mark)限位等任意的对位方式,实时监测经所述传送带13传输的待测试显示屏21是否已到达所述圆孔131的位置,并向所述控制系统输出监测到位信号。
在示例性实施例中,将液晶显示屏21的中心位置、传送带13的圆孔131、光学探头121、光源14进行对位,可以采用任意的对位方式均可,例如mark对位,本公开对此不作限定,只要保证测试时光学探头、panel的中心位置、传送带上的圆孔、背光对准即可。
在示例性实施例中,所述传输系统可以也可以传送带和机械手同时使用,即在将待测试显示屏21的中心位置与圆孔131对位时,机械手在驱动器的作用下可用于将待测试显示屏21放置在传送带13上,对位后,传送带13可以将待测试显示屏21传送至对比度测试系统下方;在测试完成时,待测试显示屏21可通过机械手取出传送带,也可通过传送带进入下游物料台或其他工作台。这样,可以进一步提高测试效率。
在图3所示的实施例中,是采用光学探头121以及光源14在竖直方向上固定而移动待测试显示屏21的方式来实现对比度测试时的对位,但本公开不限定于此,例如还可以采用待测试显示屏21固定而移动光学探头121和/或光源14的方式来实现对比度测试时的对位。
在示例性实施例中,将所述液晶显示屏21通过所述传送带13传送至预设高度的所述光学探头121的正下方,所述控制系统输出测试指令后所述待测试显示屏21的电路板按照预设程序输出驱动信号,并将该驱动信号输入至所述待测试显示屏21中进行点灯检测。
产线作业的正常流程是:FOG bonding-点胶-FOG点灯测试,点灯后液晶显示屏21放在传送带13上往后续工序传送。本发明实施例的对比度测试系统放置在点胶工位后,点胶后的液晶显示屏21传送到CR测试系统上。
其中FOG(film on glass),即电路板搭载在玻璃面板上的组合,表示贴完偏光片以及绑定芯片和电路板后的产品形态;与FOG对应的另一种状态是模组MDL(module)状态,即表示贴完偏光片、绑定芯片和柔性电路板以及贴完背光模组后的产品形态。
本发明实施例采用自动化的方式对FOG状态的显示屏进行CRsorting,可以监控CR状态并拦截不良品,防止不良品流入后端浪费资材。
需要说明的是,上述的实施例中是以待测试显示屏为液晶显示屏为例进行举例说明的,但实际上,本公开的方案可以应用于任意的显示屏,例如OLED,当待测试显示屏为OLED时,由于其不需要背光,此时该对比度测试系统的传送带上可以不预先设置圆孔131,且该传送带下面可以不放置光源14。
在示例性实施例中,所述对比度测试系统还可以包括:电路板固定装置(图中未示出),用于所述点灯系统11进行点灯时对所述待测试显示屏21进行固定。例如,为了保证探针(111、112、113)扎针送电时的稳定性,本发明实施例还可以在PCB 22下方设置真空吸嘴,这样可以对PCB 22进行固定,防止在扎针送电过程中PCB 22发生移动,影响点灯。但本公开不限于用真空吸嘴的固定方式,例如还可以采用夹紧装置夹紧该PCB 22,但是夹紧装置可能对PCB 22用力造成折损,而真空吸嘴不会对待测试显示屏造成损伤。
本发明实施例中,可以采用色彩分析仪(例如CA310)测试L0和L255画面的亮度,并进行计算得到该待测试显示屏21的CR测试结果。
在示例性实施例中,所述控制系统可以为单片机(51系列,ARM芯片,MSP430等)为核心的嵌入式系统进行控制,或者通过PC机编程对整个对比度测试系统进行控制、调控。控制系统用于控制整个对比度测试系统有序的工作。下面的实施例中以所述控制系统为PC为例进行说明。
本发明实施例中可以采用CA310搭配PC进行控制计算。CA310用于对待测试显示屏的黑画面亮度值和白画面亮度值进行测量,PC机可以通过例如USB接口连接CA310,读取CA310每次测试的亮度值并进行计算得到CR值。
在示例性实施例中,所述控制系统还可以用于将所述对比度值打印成标签15并贴附于所述待测试显示屏21上。本发明实施例中,CR测试结果可以通过PC控制系统打印并粘贴在panel上,便于后续工位进行分级。
在示例性实施例中,PC机可以记录整个批次panel的CR情况,便于后期进行产品性能监控和分析。
在示例性实施例中,该对比度测试系统还可以包括报警系统,当对比度测试过程中存在异常情况时,例如光学探头接触到panel时,进行报警。
CR的测试需要测试L255和L0画面的亮度,影响该测试结果的主要有以下因素:(1)测试系统的光学探头的对位情况,为了保持测试的准确性,可以将光学探头垂直于待测试显示屏;(2)测试环境的照度,要求环境照度低,不能影响L0的亮度测量;(3)背光的亮度,理论上背光亮度对CR没有影响,但是实测结果发现有轻微的影响;(4)光学探头到待测试显示屏的距离。光学探头不能和待测试显示屏接触,否则会导致屏变形,产生漏光,也不能过远,否则外接的光线可能会影响测试结果的准确性。
现有的测试方法是在模组组装好后,进行点灯,并手工用CA310等测试L0和L255画面下的亮度值,并计算得到对比度值。用该方法存在测试麻烦,消耗时间长,并且在测试过程中容易引起二次不良,如PSmura(支撑柱变形,显示异常),FPC折损等问题。同时,CR的测试和作业手法有相关性,光学探头的对位情况(到待测试显示屏panel的距离和倾角)对测试结果有一定影响。因此,目前针对CR的检测只能通过抽检,来衡量整个批次产品的CR特性。但是有些panel之间会有差异,例如rubbing方向(液晶显示器制造技术中的摩擦工艺,是指用柔软的布,以一定方向在配向膜的表面摩擦,从而使液晶依一定方向排列的沟槽),POL(偏光片)贴附等情况等都会CR有影响,这样的抽检结果不准确,容易让不良品流入客户,或者发现有不良后,产线没有进行CR分类(sorting)出货的可操作性,影响产品量产和出货。
本发明实施例通过探针,用BIST模式快速点灯来进行CR测试,测试流程全自动处理,并且可以自动打印贴附测试结果,将CR值由信赖性结果变成可以全部监控的产品特性,降低出货风险,减少开发周期和难度(例如10.1WU(分辨率)因CR问题,2%左右的CR low不良,影响了产品开发难度和周期),解决了现有技术产线对CR的测试只能手工进行,无法对CR进行100%监控和无法对CR不良进行拦截的问题,进而提高了产品的量产和出货。
本发明实施方式提供的对比度测试系统,一方面,采用三根探针,针对不同的产品都能够实现快速自动点灯和自动切换测试画面,而现有技术中的点灯需要专门的线材和对应的点灯机,手工进行插拔连接,再进行点灯并切换画面。另一方面,本发明实施例中还可以实现通过控制系统自动对位测量亮度。再一方面,本发明实施例中还可以通过控制系统自动计算对比度值并记录测试结果,而传统的测试方法需要手工记录测试亮度并计算结果,本发明实施例可以通过PC机读取亮度测试结果,计算CR值并打印贴附在显示屏上。每片显示屏的测试结果可以记录在对比度测试系统中,便于后续整体分析。此外,本发明实施例中的对比度测试系统是一种全自动测试系统,传统的测试方法需要人员对应,本公开实施例的对比度测试系统全自动进行,从panel的传送、点灯、CR的测试计算、CR值的打印贴附以及测试结果的统计等等。下面参考下表一的一个实测结果进行对比说明。
本发明实施方式提供了一种对比度测试系统,可以快速全自动进行显示屏对比度的测试,该对比度测试系统包括了点灯系统、传输系统、测试系统、控制系统等。通过该对比度测试系统可以快速对FOG状态的显示屏进行对比度测试、分类,防止不良品流入客户端,并且在FOG状态就进行拦截不良产品,与模组状态拦截相比可以降低成本,快速进行设备的自动检测,还可以降低手动测试引起的各种二次不良(例如PSmura),提高良率。同时还解决了产线无法对显示屏对比度进行100%测试并拦截不良的困难。
图4示出本公开示例性实施例中一种对比度测试方法的流程示意图。这里还是以待测试显示屏为液晶显示屏为例进行说明的,如果待测试显示屏为OLED,则可以做适应性的调整和修改。
如图4所示,该对比度测试方法可以包括以下步骤:
在步骤S100中,待测试显示屏放入传送带后和所述传送带上的圆孔对位。
例如,将待测试显示屏的中心位置与传送带的镂空圆孔对准。
在步骤S110中,将所述待测试显示屏传送到测试系统的光学探头下方。
例如,将待测试显示屏的中心位置与传送带的镂空圆孔对准后,传送带将该待测试显示屏传送到测试系统的光学探头的正下方。此时通过对位调节,可以实现待测试显示屏的中心位置、光学探头、光源、圆孔四者的在竖直方向上的对准。
在步骤S120中,探针识别电路板上的测试点进行对位。
例如,点灯系统的探针识别电路板上的相应测试点并进行对位。
在步骤S130中,探针电源打开供电。
例如,对位之后,控制系统发出测试指令,响应于该测试指令,与探针电连接的电源系统打开,探针扎入电路板上的相应测试点,对待测试显示屏进行供电,开始测试。
在步骤S140中,光学探头伸出。
其中,光学探头伸出的距离不能接触到待测试显示屏,以避免对待测试显示屏造成损伤,另一方面,光学探头也不能距离待测试显示屏太远,避免外界光线对测试结果的准确性造成影响。
在步骤S150中,背光打开。
背光发出的光通过传送带上的圆孔照射待测试显示屏,以供其正常显示影像。其中,可以根据待测试显示屏的规格调节背光的电流大小。
在步骤S160中,测试L255亮度值。
需要说明的是,虽然本发明实施例中,以先测试黑画面亮度值为例进行说明,但实际上,也可以先测试白画面亮度值,然后间隔预设时间后再测试黑画面亮度值,本公开对此不作限定。
在步骤S170中,间隔5s后,测试L0亮度值。
需要说明的是,虽然本发明实施例中,目前CA310的测试时间为3s左右,将黑白画面的亮度值的测试间隔时间设置为5s,但本公开对此不作限定。其中,测试L255和L0亮度的时间间隔可以由BIST模式的设置和光学探头的灵敏度决定。BIST模式中画面的切换顺序和时间间隔可以自由设置。因此,实际黑白画面的亮度值的测试的时间间隔可以根据实际情况进行调整。其中,在BIST模式设置的时间间隔一定的情况下,光学探头越灵敏,测试时间间隔可以设置的越短。
在示例性实施例中,所述方法还可以包括:在步骤S180中,根据步骤S160获得的L255亮度值和步骤S170中的L0亮度值,计算获得该待测试显示屏的对比度,并将测试结果打印在该待测试显示屏上。
在示例性实施例中,为了匹配产线的机器节拍,还可以一条主线装置两台CR测试系统,并列运行。
在示例性实施例中,测试系统和标签打印可以异步进行,即测试第N片显示屏时,测试结果打印贴附第N-1片显示屏,这样可以减少整个的机器作业周期,提高产能。
本发明提供的优选实施方式不能理解为对本发明保护范围的限定。
此外,上述驱动方法法中各步骤的具体细节已经在对应的对比度测试系统中进行了详细的描述,因此此处不再赘述。而且,尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤,但是,这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤,或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的,可以省略某些步骤,将多个步骤合并为一个步骤执行,以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。
Claims (10)
1.一种对比度测试系统,其特征在于,包括点灯系统以及测试系统,其中,
所述点灯系统采用待测试显示屏的BIST模式进行自动点灯和黑白画面的切换,并通过所述测试系统间隔预设时间分别获取所述待测试显示屏的黑画面亮度值和白画面亮度值;
所述对比度测试系统根据所述黑画面亮度值和所述白画面亮度值计算获得所述待测试显示屏的对比度值。
2.根据权利要求1所述的对比度测试系统,其特征在于,所述点灯系统包括第一探针、第二探针和第三探针,所述第一探测、所述第二探针和所述第三探测能够分别插入所述待测试显示屏的电路板上预留的按照预设方式排布的三个测试点中,对所述待测试显示屏进行供电。
3.根据权利要求2所述的对比度测试系统,其特征在于,所述第一探针为电源电压输入探针,所述第二探针为接地探针,所述第三探针为BIST模式电压输入探针。
4.根据权利要求2所述的对比度测试系统,其特征在于,所述第一探针、所述第二探针和所述第三探针为能够收缩的弹性探针。
5.根据权利要求2所述的对比度测试系统,其特征在于,所述电路板的三个测试点并列放置,且所述三个测试点之间保持预设间隔。
6.根据权利要求1所述的对比度测试系统,其特征在于,所述对比度测试系统还包括:传输系统,所述传输系统用于将所述待测试显示屏传输到所述对比度测试系统上并将所述待测试显示屏的中心位置与所述测试系统的光学探头进行自动对位。
7.根据权利要求6所述的对比度测试系统,其特征在于,所述传输系统包括传送带。
8.根据权利要求7所述的对比度测试系统,其特征在于,当所述待测试显示屏为液晶显示屏时,所述对比度测试系统还包括:光源,所述光源设置于所述光学探头的正下方;其中,
所述传送带中间设置有圆孔;
当所述液晶显示屏放置于所述传送带上时,将所述液晶显示屏的中心位置与所述圆孔进行对位,然后将所述液晶显示屏通过所述传送带传送至预设高度的所述光学探头的正下方。
9.根据权利要求1所述的对比度测试系统,其特征在于,所述对比度测试系统还包括:电路板固定装置,用于所述点灯系统进行点灯时对所述待测试显示屏进行固定。
10.根据权利要求1所述的对比度测试系统,其特征在于,还包括:控制系统,所述控制系统用于将所述对比度值打印并贴附于所述待测试显示屏上。
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