CN107632421A - 点灯测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法，其中，点灯测试装置包括：控制模块，根据测试要求提供模式信息和参数信息；以及逻辑模块，用于在模式信息未转换时，根据模式信息和参数信息产生逻辑数据；转换模块，用于将逻辑数据转换成显示装置可识别的显示数据，所述转换模块对显示装置输出显示数据以进行点灯测试，其中，逻辑模块包括片内缓存区，片内缓存区用于在模式信息发生切换时，将切换后的模式信息和相应的参数信息储存为缓存信息，逻辑模块在相邻两帧之间的间隔区内根据缓存信息更新逻辑数据，用于点灯测试，可以有效解决模式切换时的闪屏画异现象。

Description

点灯测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉及显示装置技术领域，更具体地涉及一种用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有轻薄、节能、无辐射等诸多优点，因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示器被广泛应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。

液晶显示装置在经过出厂之前必须都经过点灯测试。所谓点灯测试指的是将液晶显示装置的时序信号以及红、绿、蓝像素的灰阶电压、数据信号输入液晶显示装置，以检查液晶显示装置是否可以正常的工作。图1示出传统的点灯测试装置结构示意图。如图1所示，点灯测试装置100包括控制模块110、逻辑模块120、以及转换模块130。控制模块110例如为ARM(Acorn RISC Machine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并且将模式信息与参数信息通过SPI(Serial Peripheral Interface，串行外设接口)通信发送至逻辑模块120，逻辑模块120例如为现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)。逻辑模块120根据所述模式信息与参数信息产生逻辑数据，所述逻辑数据包括时序信号和图像数据。转换模块130将所述逻辑数据转换成为显示装置140可识别的移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号或者嵌入式显示器端口(Embedded Display Port，EDP)信号，并发送给显示装置140，以完成对显示装置140的点灯测试，这里的转换模块130可以使用桥芯片(Bridge IC)。

然而，传统的点灯测试装置100在切换模式时，控制模块110会提供新的模式信息与参数信息，若当前帧的画面还没有刷新完成，会出现闪屏画异的现象。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法，可以有效解决模式切换时的闪屏画异现象。

根据本发明的一方面提供一种用于显示装置的点灯测试装置，包括：一种用于显示装置的点灯测试装置，包括：控制模块，根据测试要求提供模式信息和参数信息；以及逻辑模块，用于在模式信息未转换时，根据所述模式信息和所述参数信息产生逻辑数据；转换模块，用于将所述逻辑数据转换成所述显示装置可识别的显示数据，所述转换模块对所述显示装置输出所述显示数据以进行点灯测试，其中，所述逻辑模块包括片内缓存区，所述片内缓存区用于在模式信息发生切换时，将切换后的所述模式信息和相应的所述参数信息储存为缓存信息，所述逻辑模块在相邻两帧之间的间隔区内根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

优选地，所述逻辑模块还包括：检测单元，用于根据所述参数信息产生触发信号，在相邻两帧之间的所述间隔区内所述触发信号有效；以及输出单元，用于在所述模式信息未被切换时根据所述模式信息和所述参数信息产生所述逻辑数据，在所述模式信息被切换且所述触发信号有效时根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

优选地，所述逻辑数据包括图像数据和时序信号，所述输出单元与所述转换模块相连以提供所述图像数据，所述转换模块根据所述图像数据产生所述显示数据，所述输出单元与所述显示装置相连以提供所述时序信号，所述显示装置很具所述时序信号和所述显示数据显示画面。

优选地，所述控制模块提供控制信号，所述转换模块在所述控制信号的作用下产生所述显示数据。

优选地，所述逻辑模块包括可编程逻辑模块，所述片内缓存区位于所述可编程逻辑模块的片内随机存取存储器中。

优选地，所述控制模块包括ARM架构的微处理器。

优选地，所述控制模块通过串行外设接口协议向所述逻辑模块提供所述参数信息和所述模式信息。

根据本发明的另一方面提供一种用于显示装置的点灯测试方法，其特征在于，包括以下步骤：在逻辑模块中划分出片内缓存区；根据测试要求提供模式信息和参数信息；检测所述模式信息是否发生切换；当所述模式信息未发生切换时，所述逻辑模块根据所述模式信息和所述参数信息产生逻辑数据；当所述模式信息发生切换时，将切换后的所述模式信息和相应的所述参数信息作为缓存信息存储在所述片内缓存区中，所述逻辑数据在相邻两帧之间的间隔区间内根据所述缓存信息更新所述逻辑数据；根据所述逻辑数据完成每一帧的点亮操作。

优选地，所述逻辑数据包括时序信号和图像数据，根据所述逻辑数据完成每一帧的点亮操作的步骤包括：将所述图像数据转换成用于所述显示装置可识别的显示数据；根据所述显示数据和所述时序信号完成每一帧的所述点亮操作。

优选地，所述逻辑数据在相邻两帧之间的间隔区间内根据所述缓存信息更新所述逻辑数据的步骤包括：在所述相邻两帧之间的间隔区产生有效的触发信号；当所述触发信号有效时，根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

本发明实施例提供的用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法，在逻辑模块内部划分片内缓存区，当发生模式切换时将切换后的模式信息和参数信息储存为缓存信息，并在相邻两帧之间的间隔区将缓存信息更新成逻辑数据，进行点灯测试，可以有效解决模式切换时的闪屏画异现象。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。

图1示出传统的点灯测试装置结构示意图。

图2示出现有技术的点灯测试装置结构示意图。

图3示出根据本发明实施例的点灯测试装置结构示意图。

图4示出根据本发明实施例的逻辑模块结构示意图。

图5示出根据本发明实施例的逻辑模块工作时序示意图。

图6示出根据本发明的点灯测试方法的流程图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。

在下文中描述了本发明的许多特定的细节，例如部件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本发明。

应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。

图2示出现有技术的点灯测试装置结构示意图。

如图2所示，现有技术的用于显示装置的点灯测试装置200包括：控制模块210、逻辑模块220、转换模块230以及存储模块250。

控制模块210例如为ARM(Acorn RISC Machine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并且将模式信息与参数信息通过SPI(Serial PeripheralInterface，串行外设接口)通信发送至逻辑模块220，逻辑模块220例如为现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)。逻辑模块220根据所述模式信息与参数信息产生逻辑数据，转换模块230将所述逻辑数据转换成为显示装置240可识别的移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号或者嵌入式显示器端口(Embedded Display Port，EDP)信号，并发送给显示装置240，以完成对显示装置240的点灯测试，这里的转换模块230可以使用桥芯片(Bridge IC)。现有技术的点灯测试装置200在模式切换时，逻辑模块220会先将模式信息和参数信息存储至存储模块250，在相邻两帧画面的间隔区，逻辑模块220将模式信息与参数信息从存储模块250中提取出来转换成逻辑数据。存储模块250例如是SD卡(Secure Digital Memory Card，安全数码卡)或者至少一个DDR存储器(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)。

现有技术虽然解决了在模式切换过程中的切屏画异现象，但是增加芯片会占用测试板的空间，并且会增加测试板的制造成本。

下面参照附图对本发明实施例进行详细说明。

图3示出根据本发明实施例的点灯测试装置结构示意图。

如图3所示，本发明实施例提供的点灯测试装置300包括：控制模块310、逻辑模块320以及转换模块330。控制模块310例如为ARM(Acorn RISC Machine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并且将模式信息与参数信息通过SPI(SerialPeripheral Interface，串行外设接口)通信发送至逻辑模块320，逻辑模块320例如为现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)。所述逻辑模块320包括片内缓存区323，逻辑模块320判断当前模式信息是否发生转换，如果模式信息没有发生转换，则逻辑模块320根据所述模式信息与参数信息产生逻辑数据，所述逻辑数据包括图像数据和时序信号。转换模块330用于所述逻辑数据转换成为显示装置340可识别的显示数据，具体包括移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号或者嵌入式显示器端口(Embedded Display Port，EDP)信号，并将所述显示数据发送给显示装置340，以完成对显示装置340的点灯测试，这里的转换模块330可以使用桥芯片(Bridge IC)。优选地，控制模块310提供控制信号，所述转换模块330在所述控制信号的作用下产生所述显示数据。如果模式信息发生转换，则逻辑模块320会将模式信息与参数信息存储到内部缓存区323作为缓存信息，在相邻两帧画面的间隔区将所述缓存信息转换成为逻辑数据，继续点灯测试。

图4示出根据本发明实施例的逻辑模块结构示意图。

如图4所示，逻辑模块320还包括：检测单元321以及输出单元322.所述检测单元321会根据所述参数信息产生触发信号，在相邻两帧之间的间隔区内触发信号有效。输出单元322用于在模式信息未被切换时根据模式信息和参数信息产生所述逻辑数据，在模式信息发生切换且触发信号有效时根据缓存信息更新逻辑数据。优选地，输出单元322与转换模块330相连接，向转换模块330提供所述图像数据，转换模块330将图像数据转换成显示数据。输出单元322与显示装置340相连接，向所述显示装置340提供时序信号。

图5示出根据本发明实施例的逻辑模块工作时序示意图。

如图5所示，时间间隔t1为相邻两帧显示画面的间隔区，可以看出在时间间隔t1，检测单元321产生的触发信号有效，输出单元322根据缓存信息更新逻辑数据。

图6示出根据本发明的点灯测试方法的流程图。

根据本发明的另一方面，提供一种用于显示装置的点灯测试方法，如图6所示，本发明提供的点灯测试方法包括以下步骤：

步骤S1，在逻辑模块中划分出片内缓存区。

步骤S2，控制模块根据测试要求提供模式信息和参数信息。

步骤S3，检测模式信息是否发生切换。

若模式信息未发生切换，则进行步骤S4，逻辑模块根据模式信息和参数信息产生逻辑数据，所述逻辑数据包括时序信号和图像数据。

若模式信息发生切换，则进行步骤S5，将切换后的模式信息和参数信息储存为缓存信息。以及步骤S6，逻辑模块在相邻两帧之间的间隔区根据缓存信息更新逻辑数据。其中，步骤S6具体包括：在相邻两帧之间的间隔区产生有效的触发信号。当所述触发信号有效时，根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

本发明提供的点灯测试方法还包括：

步骤S7，根据逻辑数据完成每一帧的点亮操作。其中，步骤S7具体包括：将图像数据转换成用于显示装置可识别的显示数据，根据显示数据和时序信号完成每一帧的点亮操作。

综上所述，本发明实施例提供的用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法，在逻辑模块内部划分片内缓存区，当发生模式切换时将切换后的模式信息和参数信息储存为缓存信息，并在相邻两帧之间的间隔区将缓存信息更新成逻辑数据，进行点灯测试，可以有效解决模式切换时的闪屏画异现象。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种用于显示装置的点灯测试装置，其特征在于，包括：

控制模块，根据测试要求提供模式信息和参数信息；以及

逻辑模块，用于在模式信息未转换时，根据所述模式信息和所述参数信息产生逻辑数据；

转换模块，用于将所述逻辑数据转换成所述显示装置可识别的显示数据，所述转换模块对所述显示装置输出所述显示数据以进行点灯测试，其中，

所述逻辑模块包括片内缓存区，所述片内缓存区用于在模式信息发生切换时，将切换后的所述模式信息和相应的所述参数信息储存为缓存信息，所述逻辑模块在相邻两帧之间的间隔区内根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

2.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述逻辑模块还包括：

检测单元，用于根据所述参数信息产生触发信号，在相邻两帧之间的所述间隔区内所述触发信号有效；以及

输出单元，用于在所述模式信息未被切换时根据所述模式信息和所述参数信息产生所述逻辑数据，在所述模式信息被切换且所述触发信号有效时根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

3.根据权利要求2所述的点灯测试装置，其特征在于，所述逻辑数据包括图像数据和时序信号，

所述输出单元与所述转换模块相连以提供所述图像数据，所述转换模块根据所述图像数据产生所述显示数据，

所述输出单元与所述显示装置相连以提供所述时序信号，所述显示装置很具所述时序信号和所述显示数据显示画面。

4.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述控制模块提供控制信号，所述转换模块在所述控制信号的作用下产生所述显示数据。

5.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述逻辑模块包括可编程逻辑模块，所述片内缓存区位于所述可编程逻辑模块的片内随机存取存储器中。

6.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述控制模块包括ARM架构的微处理器。

7.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，所述控制模块通过串行外设接口协议向所述逻辑模块提供所述参数信息和所述模式信息。

8.一种用于显示装置的点灯测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

在逻辑模块中划分出片内缓存区；

根据测试要求提供模式信息和参数信息；

检测所述模式信息是否发生切换；

当所述模式信息未发生切换时，所述逻辑模块根据所述模式信息和所述参数信息产生逻辑数据；

当所述模式信息发生切换时，将切换后的所述模式信息和相应的所述参数信息作为缓存信息存储在所述片内缓存区中，所述逻辑数据在相邻两帧之间的间隔区间内根据所述缓存信息更新所述逻辑数据；

根据所述逻辑数据完成每一帧的点亮操作。

9.根据权利要求8所述的点灯测试方法，其特征在于，所述逻辑数据包括时序信号和图像数据，

根据所述逻辑数据完成每一帧的点亮操作的步骤包括：

将所述图像数据转换成用于所述显示装置可识别的显示数据；

根据所述显示数据和所述时序信号完成每一帧的所述点亮操作。

10.根据权利要求7所述的点灯测试方法，其特征在于，所述逻辑数据在相邻两帧之间的间隔区间内根据所述缓存信息更新所述逻辑数据的步骤包括：

在所述相邻两帧之间的间隔区产生有效的触发信号；

当所述触发信号有效时，根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。