CN106990573A - 光学测量装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种光学测量装置及方法，该装置包括测试背板、光线发射器、中心点探测器和移动装置，移动装置设置于测试背板上，移动装置上设置有被测样品；光线发射器，用于在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点；中心点探测器，用于探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点；移动装置，用于移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合。本发明能够准确地实现被测样品和测试背板的中心点对位，有效减小了光学测试结果误差，从而提高了光学测试结果的准确性。

Description

光学测量装置及方法
技术领域
本发明涉及光学领域，特别涉及一种光学测量装置及方法。
背景技术
液晶显示面板具备轻薄、节能、无辐射等诸多优点，广泛应用于高清晰数字电视、台式计算机、笔记本电脑、移动手机、数码相机等电子设备中。目前，液晶显示面板在出厂前都必须经过光学测试工作，测试合格的产品才能进行后续的生产加工，通常采用FPMS对液晶显示面板进行光学测试。
采用FPMS进行光学测试时，当安装被测样品时，测试人员只能通过主观判断放置被测样品的位置，然后测试探头随着被测样品的位置而移动以进行光学测试。由于固定被测样品时是由测试人员主观判断，通常被测样品中心点与测试背板的中心点(也即设备转动轴的中心点)势必会存在一些偏差，因此，在后续测试被测样品的视角、色偏等光学参数时，被测样品的被测点位会随着设备转动而发生移动，从而造成测试结果有较大误差。
发明内容
本发明提供一种光学测量装置及方法，能够快速准确地实现被测样品和测试背板的中心点对位，有效减小光学测试结果误差，从而提高光学测试结果的准确性。
为实现上述目的，本发明提供了一种光学测量装置，包括测试背板、光线发射器、中心点探测器和移动装置，所述移动装置设置于所述测试背板上，所述移动装置上设置有被测样品；
所述光线发射器，用于在所述被测样品上显示第一中心点，所述第一中心点为所述测试背板的中心点；
所述中心点探测器，用于探测出第二中心点并在所述被测样品上显示第二中心点，所述第二中心点为所述被测样品的中心点；
所述移动装置，用于移动所述被测样品以使所述第一中心点和所述第二中心点重合。
可选地，所述中心点探测器用于测量所述被测样品的尺寸信息，根据所述尺寸信息计算出所述第二中心点的位置信息，并根据所述第二中心点的位置信息向所述被测样品发射光线以在所述被测样品上显示第二中心点。
可选地，还包括设置于所述测试背板上的真空吸附装置；
所述真空吸附装置，用于在所述第一中心点和所述第二中心点重合之后，将所述被测样品吸附固定于所述测试背板上。
可选地，所述移动装置包括第一支架和第二支架，所述被测样品设置于所述第一支架上，所述第一支架设置于所述第二支架上；
所述第一支架，用于沿第二方向移动以带动所述被测样品沿所述第二方向移动；
所述第二支架，用于沿所述第一方向移动以带动所述第一支架沿所述第一方向移动，以使被测样品沿所述第一方向移动，所述第一方向和所述第二方向交叉设置。
可选地，所述第一支架的数量为两个，两个所述第一支架平行设置。
可选地，还包括四个固定结构，其中，两个固定结构设置于一个所述第一支架上，另两个固定结构设置于另一个所述第一支架上；
所述被测样品的每个顶角部位位于对应的固定结构上，以设置于所述第一支架上。
可选地，位于每个所述第一支架上的两个固定结构之间的距离根据所述被测样品的尺寸设置。
可选地，两个所述第一支架之间的距离根据所述被测样品的尺寸设置。
可选地，所述第二支架的数量为两个，两个所述第二支架平行设置。
可选地，还包括测试探头和测试探头支架；
所述光线发射器位于所述测试探头内，所述中心点探测器位于所述测试探头上方；
所述测试探头位于所述测试探头支架上。
可选地，还包括底部转盘和设备支架；
所述测试背板设置于所述设备支架上，所述设备支架设置于所述底部转盘上；
所述底部转盘沿转动轴线转动以带动所述测试背板转动，所述底部转盘的中心点与所述第一中心点位于所述转动轴线上。
为实现上述目的，本发明提供了一种光学测量方法，包括：
所述光线发射器在所述被测样品上显示第一中心点，所述第一中心点为所述测试背板的中心点；
所述中心点探测器探测出第二中心点并在所述被测样品上显示第二中心点，所述第二中心点为所述被测样品的中心点；
所述移动装置移动所述被测样品以使所述第一中心点和所述第二中心点重合。
可选地，所述中心点探测器探测出第二中心点并在所述被测样品上显示第二中心点包括：
所述中心点探测器测量出所述被测样品的尺寸信息；
所述中心点探测器根据所述尺寸信息计算出所述第二中心点的位置信息；
所述中心点探测器根据所述第二中心点的位置信息向所述被测样品发射光线以在所述被测样品上显示第二中心点。
可选地，所述移动装置移动所述被测样品以使所述第一中心点和所述第二中心点重合之后还包括：
所述真空吸附装置在所述第一中心点和所述第二中心点重合之后，将所述被测样品吸附固定于所述测试背板上。
可选地，所述真空吸附装置将所述被测样品吸附固定于所述测试背板上之后还包括：
所述光线发射器停止显示所述第一中心点；
所述中心点探测器停止显示所述第二中心点；
所述被测样品开启；
所述被测样品执行光学测试。
本发明具有以下有益效果：
本发明提供的技术方案中，光线发射器在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点，中心点探测器探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点，移动装置移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合，本发明能够准确地实现被测样品和测试背板的中心点对位，有效减小了光学测试结果误差，从而提高了光学测试结果的准确性。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种光学测量装置的结构示意图；
图2为图1中被测样品的中心点探测示意图；
图3为图1中移动装置的结构示意图；
图4为本发明实施例二提供的一种光学测量方法的流程示意图；
图5为本发明实施例三提供的一种光学测量方法的流程示意图；
其中：
101：底部转盘、102：第一测试背板支架、103：第二测试背板支架、104：第三测试背板支架、105：第四测试背板支架、106：测试背板转盘、107：固定测试背板装置、108：测试背板、109：被测样品、110：第二光路、111：第一光路、112：中心点探测器、113：测试探头、114：光线发射器、115：测试探头支架、116：转动轴线、117：第一支架、118：第二支架、119：固定结构；A：第一中心点、B：第二中心点。
具体实施方式
为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例一提供的一种光学测量装置的结构示意图，如图1所示，该光学测量装置包括测试背板108、光线发射器114、中心点探测器112和移动装置(图1中未示出)，移动装置设置于测试背板108上，移动装置上设置有被测样品109；光线发射器114用于在被测样品109上显示第一中心点A，第一中心点A为测试背板108的中心点；中心点探测器112用于探测出第二中心点B，第二中心点B为被测样品109的中心点；移动装置用于移动被测样品109以使第一中心点A和第二中心点B重合。本实施例中，被测样品109位于测试背板108的靠近光线发射器114和中心点探测器112的一侧。本实施例中，被测样品109可以包括液晶显示面板、背光、整机或者其他与测试背板108接触部分较为平整的待测物品。
本实施例中，光线发射器114用于沿第一光路111向测试背板108的中心位置发射光线，以在被测样品109上显示测试背板108的第一中心点A。具体地，在将被测样品109设置于移动装置上之前，光线发射器114可直接将光线照射至测试背板108上，光线发射器114可通过调整光路使发射的光线照射到测试背板108的中心位置，此时调整后的光路为第一光路111，光线发射器114沿第一光路111向测试背板108上发射光线时就可以在测试背板108上显示第一中心点A。而后将被测样品109设置于测试背板108的移动装置上之后，由于被测样品109位于测试背板108的靠近光线发射器114的一侧，被测样品109遮挡了光线发射器114照射到测试背板108上的光线，因此光线发射器114发出的光线会在被测样品109上显示第一中心点A。需要说明的是：在图1中，第一中心点A标示于测试背板108上，是为说明第一中心点A为测试背板108的中心点，在实际应用中，该第一中心点A具体显示于被测样品109上。被测样品109上显示第一中心点A和第二中心点B的示意图可参照下图3所示。特别地，当被测样品109为透明显示面板时，该第一中心点A既显示在被测样品109上，也显示在测试背板108上。图1中测试背板108的中心位置、第一中心点A和第一光路111位于一条直线上，优选地，测试背板108的中心位置、第一中心点A和第一光路111位于一条水平直线上。本实施例中，测试背板108作为固定装置是保持不动的，因此光线向测试背板108的中心位置照射而形成的第一中心点A也是保持不动的。需要说明的是：图1中所示第一光路111为虚拟线。当显示在被测样品109上的第一中心点A及第二中心点B重合时，完成了被测样品109和测试背板108的中心点的对位，表示确定出被测样品109在测试背板108上的位置，后续可将被测样品109固定于测试背板108上。进一步地，在后续光学测试过程中，测试背板108以第一光路111为转动轴转动，以带动被测样品109以第一光路111为转动轴转动。
优选地，光线发射器114发射的光线为激光。第一中心点A为亮点。
本实施例中，中心点探测器112用于测量被测样品109的尺寸信息，根据尺寸信息计算出第二中心点B的位置信息，并根据第二中心点B的位置信息向被测样品109发射光线以在被测样品109上显示第二中心点B。
本实施例中，中心点探测器112沿第二光路110发射光线，实现对被测样品109第二中心点B的探测和显示。中心点探测器112通过超声波及光学测量方法计算被测样品109的第二中心点B的位置信息。优选地，中心点探测器112发射的光线为激光，第二中心点B为亮点。优选地，中心点探测器112为光学传感器。
具体地，图2为图1中被测样品的中心点探测示意图。如图1和图2所示，中心点探测器112测量被测样品109的尺寸信息，被测样品109为矩形结构，其尺寸信息包括被测样品109的长度与宽度，换言之，中心点探测器112通过向被测样品109的边缘发射光线而测量出被测样品109的长度和宽度，而后根据被测样品109的长度和宽度画取一个经过被测样品109四个顶点的大圆，大圆以被测样品109的对角线长度为直径，定位大圆圆心，大圆圆心的位置即为被测样品109的第二中心点B的位置。
或者，中心点探测器112测量被测样品109的尺寸信息，被测样品109为矩形结构，其尺寸信息包括被测样品109的宽度，换言之，中心点探测器112通过向被测样品109的边缘发射光线而测量出被测样品109的宽度。中心点探测器112仅根据被测样品109宽度画取一个内切于被测样品109的小圆，小圆经过被测样品109两个长边的中点，定位小圆圆心。小圆圆心的位置即为被测样品109的第二中心点B的位置。
中心点探测器112可实时执行上述测量被测样品109的尺寸信息、画取大圆定位大圆圆心或画取小圆定位小圆圆心、确定被测样品109的第二中心点B的位置的过程，从而使得在被测样品109上显示的第二中心点B始终位于被测样品109的中心位置。
进一步地，该光学测量装置还包括设置于测试背板108上的真空吸附装置(图1中未示出)，真空吸附装置用于在第一中心点A和第二中心点B重合之后，将被测样品109吸附固定于测试背板108上。采用真空吸附装置可以避免现有技术中夹具固定被测样品109时导致的固定过松被测样品109晃动不稳定以及固定过紧被测样品109变形而带来的L0漏光和碎屏的问题，从而使得对被测样品109的测试结果更准确。采用真空吸附装置吸附被测样品109，能够更好的适用于轻薄化的被测样品109，例如轻薄化的液晶显示面板。
优选地，该光学测量装置还设有固定装置，固定装置用于辅助真空吸附装置，实现对被测样品109的双重固定，固定装置设于测试背板108上。当真空吸附装置因自身结构原因或环境原因失效，导致吸附能力较弱时，固定装置能够起到加固被测样品109的作用，保证被测样品109固定安全。
进一步地，图3为图1中移动装置的结构示意图。如图3所示，该移动装置包括第一支架117和第二支架118，被测样品109设置于第一支架117上，第一支架117设置于第二支架118上；第一支架117用于沿第二方向移动以带动被测样品109沿第二方向移动；第二支架118用于沿第一方向移动以带动第一支架117沿第一方向移动，以使被测样品109沿第一方向移动，第一方向和第二方向交叉设置。
本实施例中，第一支架117横向设置，因此第一支架117为横向支架；第二支架118纵向设置，因此第二支架118位纵向支架。第一方向为纵向，第二方向为横向，第一方向和第二方向之间垂直。
本实施例中，第一支架117的数量为两个，两个第一支架117平行设置；第二支架118的数量为两个，两个第二支架118平行设置。第一支架117和第二支架118交叉设置，优选地，第一支架117和第二支架118垂直交叉设置。
进一步地，该光学测量装置还包括四个固定结构119，其中，两个固定结构119设置于一个第一支架117上，另两个固定结构119设置于另一个第一支架117上；被测样品109的每个顶角部位位于对应的固定结构119上，以设置于第一支架117上。具体地，被测样品109的每个顶角部位卡设于对应的固定结构119中，从而实现被测样品109设置于第一支架117上。
本实施例中，位于每个第一支架117上的两个固定结构119之间的距离可根据被测样品109的尺寸设置。如图3所示，可根据被测样品109的宽度根据调整每个第一支架117上的两个固定结构119之间的距离，例如，可将每个第一支架117上的两个固定结构119之间的距离增大，从而使得第一支架117上可放置宽度更大的被测样品109，同理，第一支架117上还可放置宽度更小的被测样品109。本实施例中，两个第一支架117之间的距离根据被测样品的尺寸设置。
如图3所示，可根据被测样品109的长度调整两个第一支架117之间的距离，例如，可将每个第一支架117支架的距离增大，从而使得第一支架117上可防止长度更大的被测样品，同理，第一支架117上还可放置宽度更小的被测样品109。综上所述，本实施通过调整第一支架之间的距离和固定结构之间的距离，使得第一支架117实现了能够固定不同尺寸的产品，本实施例中的光学测量装置适用于测量各种尺寸的产品，特别是可适用于尺寸较小的产品，例如尺寸小于12.5英寸的被测样品。
本实施例中，如图3所示，通过移动第一支架117，使得被测样品109能够在第一方向上上下移动。通过移动第二支架118，使得被测样品109能够在第二方向上左右移动。例如，如图3所示，被测样品109的第二中心点B位于测试背板108的第一中心点A的右上方，则向左和向下移动被测样品109，以使得第二中心点B与第一中心点A重合。
优选地，第二支架118上可设置有第一滑轨(图中未示出)，第一支架117通过第一滑轨沿第二支架118移动，从而实现沿第二方向移动。
优选地，测试背板108上设置有第二滑轨(图中未示出)，第二支架118通过第二滑轨沿第一方向移动，以带动被测样品109沿第一方向移动。
本实施例中，可通过手动方式或者自动控制方式驱动第一支架117和第二支架118移动，从而使得第二中心点B与第一中心点A重合。当采用自动控制方式驱动第一支架117和第二支架118移动时，该光学测量装置还包括驱动机构(图中未示出)，该驱动机构用于驱动第一支架117移动以及驱动第二支架118移动。例如，该驱动机构可以为驱动马达。
进一步地，如图1所示，该光学测量装置还包括测试探头113和测试探头支架115；光线发射器114位于测试探头113内，中心点探测器112位于测试探头113上方；测试探头113位于测试探头支架115上。
本实施例中，测试探头113还用于对被测样品109进行光学测试以获取被测样品109的各项光学参数。例如：光学参数具体包括视角、色偏等。被测样品109位于测试背板108的靠近测试探头支架115的一侧，换言之，被测样品109位于测试探头支架115和测试背板108之间。
本实施例中，如图1所示，该光学测量装置还包括底部转盘101和设备支架，设备支架设置于底部转盘101上，测试背板108设置于设备支架上。底部转盘101转动以带动测试背板108转动，具体地，底部转盘101沿转动轴线116转动以带动测试背板108转动，底部转盘101的中心点与第一中心点A位于转动轴线116上。
如图1所示，设备支架可包括第一测试背板支架102、第二测试背板支架103、第三测试背板支架104和第四测试背板支架105，第一测试背板支架102、第二测试背板支架103、第三测试背板支架104和第四测试背板支架105依次相连，组成设备支架以实现对测试背板108的支撑。第一测试背板支架102、第二测试背板支架103与底部转盘101相连，第一测试背板支架102设置于底部转盘101上，第二测试背板支架103设置于底部转盘101上，第二测试背板支架103还与第一测试背板支架102相连，部分第二测试背板支架103固定于第一测试背板支架102上，从而使得第一测试背板支架102对第三测试背板支架103起到一定的固定作用。具体地，第一测试背板支架102为三角结构，用于提升对第二测试背板支架103固定和支撑的稳定性。第二测试背板支架103与第三测试背板支架104连接，第三测试背板支架104与第四测试背板支架105连接，第三测试背板支架104设置于第二测试背板支架103上，第四测试背板支架105设置于第三测试背板支架104上，其中，第三测试背板支架104起到连接件的作用，用于将第二测试背板支架103和第四测试背板支架105连接。第四测试背板支架105的一端设置于第三测试背板支架104上，第四测试背板支架105的另一端向测试背板108所在位置延伸。测试背板108设置于第四测试背板支架105的另一端上。
进一步地，光学测量装置还包括测试背板转盘106，测试背板转盘106设置于测试背板108与第四测试背板支架105之间，具体地，测试背板转盘106可设置于第四测试背板支架105上，测试背板108设置于测试背板转盘106上。测试背板转盘106以第一光路111为转动轴在竖直方向转动，以带动测试背板108以第一光路111为转动轴在竖直方向转动，从而带动被测样品109以第一光路111为转动轴在竖直方向转动。
进一步地，光学测量装置还包括固定测试背板装置107，固定测试背板装置107的一端设置于测试背板108的远离被测样品109的一侧，固定测试背板装置107的另一端设置于测试背板装盘106上。换言之，固定测试背板装置107是固定于测试背板108和测试背板转盘106上一个固定装置，固定测试背板装置107用于固定测试背板108以防止测试背板108在随测试背板转盘106转动过程中发生随机滑动或摆动。
当对被测样品109进行光学测试时，底部转盘101以转动轴线116为转动轴在水平方向上转动，通过设备支架带动测试背板108转动，进而带动被测样品109转动，在转动过程中底部转盘101的中心点与测试背板108的第一中心点A位于同一条垂直线上，该垂直线即为转动轴线116，该转动轴线116为虚拟线。优选地，底部转盘101转动的角度范围可以为-85°至85°。同时，测试背板108以第一光路111为转动轴在竖直方向转动，带动被测样品109转动。被测样品109每转动到一个指定角度，即通过电脑软件切换被测样品109的画面，并由测试探头113采集数据，以实现对被测样品109上、下、左、右及其他所需测试方向上不同角度的视角、色偏的测试。
本实施例提供的光学测量装置中，光线发射器在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点，中心点探测器探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点，移动装置移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合，本实施例能够准确地实现被测样品和测试背板的中心点对位，有效减小了光学测试结果误差，从而提高了光学测试结果的准确性。通过本实施例的方案能够快速找出第一中心点和第二中心点，并快速实现被测样品和测试背板的中心点对位，从而提高了测试效率。
图4为本发明实施例二提供的一种光学测量方法的流程示意图，如图4所示，该光学测量方法包括：
步骤201、光线发射器在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点。
步骤202、中心点探测器探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点。
具体地，步骤202包括：
步骤2021、中心点探测器测量出被测样品的尺寸信息；
步骤2022、中心点探测器根据尺寸信息计算出第二中心点的位置信息；
步骤2023、中心点探测器根据第二中心点的位置信息向被测样品发射光线以在被测样品上显示第二中心点。
步骤203、移动装置移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合。
本实施例提供的光学测量方法可通过上述实施例一所提供的光学测量装置实现。
本实施例提供的光学测量方法中，光线发射器在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点，中心点探测器探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点，移动装置移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合，本实施例能够准确地实现被测样品和测试背板的中心点对位，有效减小了光学测试结果误差，从而提高了光学测试结果的准确性。通过本实施例的方案能够快速找出第一中心点和第二中心点，并快速实现被测样品和测试背板的中心点对位，从而提高了测试效率。
图5为本发明实施例三提供的一种光学测量方法的流程示意图，如图5所示，该光学测量方法包括以下步骤：
步骤301、光线发射器在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点。
步骤302、中心点探测器探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点。
步骤303、移动装置移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合。
至步骤303完成后，该光学测量方法完成了被测样品和测试背板的中心点的对位，表示确定出被测样品在测试背板上的位置，后续可将被测样品固定于测试背板上执行光学测试。
步骤304、真空吸附装置在第一中心点和第二中心点重合之后，将被测样品吸附固定于测试背板上。
步骤305、光线发射器停止显示第一中心点。
步骤306、中心点探测器停止显示第二中心点。
被测样品和测试背板的中心点的对位完成后，无需再显示第一中心点和第二中心点，为避免亮点对后续光学测试的影响，停止显示第一中心点和第二中心点。本实施例中，步骤305与步骤306可以依次执行，或者同时执行，或者先执行步骤306再执行步骤305。
步骤307、被测样品开启。
具体地，所述被测样品开启具体包括：开启被测样品的开关，点亮被测样品，显示初始画面。
步骤308、被测样品执行光学测试。对被测样品执行光学测试，光学测试包括测试视角、色偏等光学项目。此时被测样品吸附固定于测试背板上，通过整体调整测试背板及被测样品的位置和角度，实现对被测样品的光学测试。
具体地，当对被测样品进行光学测试时，底部转盘以转动轴线为转动轴在水平方向上转动，通过设备支架带动测试背板转动，进而带动被测样品转动，在转动过程中底部转盘的中心点与测试背板的第一中心点位于同一条垂直线上，该垂直线即为转动轴线，该转动轴线为虚拟线。优选地，底部转盘转动的角度范围可以为-85°至85°。同时，测试背板以第一光路为转动轴在竖直方向转动，带动被测样品转动。被测样品每转动到一个指定角度，即通过电脑软件切换被测样品的画面，并由测试探头采集数据，以实现对被测样品上、下、左、右及其他所需测试方向上不同角度的视角、色偏的测试。
本实施例提供的光学测量方法可通过上述实施例一所提供的光学测量装置实现。
本实施例提供的光学测量方法中，光线发射器在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点，中心点探测器探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点，移动装置移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合，本实施例能够准确地实现被测样品和测试背板的中心点对位，从而有效减小了光学测试结果误差，从而提高了光学测试结果的准确性。通过本实施例的方案能够快速找出第一中心点和第二中心点，并快速实现被测样品和测试背板的中心点对位，从而提高了测试效率。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (15)

1.一种光学测量装置，其特征在于，包括测试背板、光线发射器、中心点探测器和移动装置，所述移动装置设置于所述测试背板上，所述移动装置上设置有被测样品；
所述光线发射器，用于在所述被测样品上显示第一中心点，所述第一中心点为所述测试背板的中心点；
所述中心点探测器，用于探测出第二中心点并在所述被测样品上显示第二中心点，所述第二中心点为所述被测样品的中心点；
所述移动装置，用于移动所述被测样品以使所述第一中心点和所述第二中心点重合。
2.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，所述中心点探测器用于测量所述被测样品的尺寸信息，根据所述尺寸信息计算出所述第二中心点的位置信息，并根据所述第二中心点的位置信息向所述被测样品发射光线以在所述被测样品上显示第二中心点。
3.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，还包括设置于所述测试背板上的真空吸附装置；
所述真空吸附装置，用于在所述第一中心点和所述第二中心点重合之后，将所述被测样品吸附固定于所述测试背板上。
4.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，所述移动装置包括第一支架和第二支架，所述被测样品设置于所述第一支架上，所述第一支架设置于所述第二支架上；
所述第一支架，用于沿第二方向移动以带动所述被测样品沿所述第二方向移动；
所述第二支架，用于沿所述第一方向移动以带动所述第一支架沿所述第一方向移动，以使被测样品沿所述第一方向移动，所述第一方向和所述第二方向交叉设置。
5.根据权利要求4所述的光学测量装置，其特征在于，所述第一支架的数量为两个，两个所述第一支架平行设置。
6.根据权利要求4所述的光学测量装置，其特征在于，还包括四个固定结构，其中，两个固定结构设置于一个所述第一支架上，另两个固定结构设置于另一个所述第一支架上；
所述被测样品的每个顶角部位位于对应的固定结构上，以设置于所述第一支架上。
7.根据权利要求6所述的光学测量装置，其特征在于，位于每个所述第一支架上的两个固定结构之间的距离根据所述被测样品的尺寸设置。
8.根据权利要求5所述的光学测量装置，其特征在于，两个所述第一支架之间的距离根据所述被测样品的尺寸设置。
9.根据权利要求5所述的光学测量装置，其特征在于，所述第二支架的数量为两个，两个所述第二支架平行设置。
10.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，还包括测试探头和测试探头支架；
所述光线发射器位于所述测试探头内，所述中心点探测器位于所述测试探头上方；
所述测试探头位于所述测试探头支架上。
11.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，还包括底部转盘和设备支架；
所述测试背板设置于所述设备支架上，所述设备支架设置于所述底部转盘上；
所述底部转盘沿转动轴线转动以带动所述测试背板转动，所述底部转盘的中心点与所述第一中心点位于所述转动轴线上。
12.一种光学测量方法，其特征在于，包括：
所述光线发射器在所述被测样品上显示第一中心点，所述第一中心点为所述测试背板的中心点；
所述中心点探测器探测出第二中心点并在所述被测样品上显示第二中心点，所述第二中心点为所述被测样品的中心点；
所述移动装置移动所述被测样品以使所述第一中心点和所述第二中心点重合。
13.根据权利要求12所述的光学测量方法，其特征在于，所述中心点探测器探测出第二中心点并在所述被测样品上显示第二中心点包括：
所述中心点探测器测量出所述被测样品的尺寸信息；
所述中心点探测器根据所述尺寸信息计算出所述第二中心点的位置信息；
所述中心点探测器根据所述第二中心点的位置信息向所述被测样品发射光线以在所述被测样品上显示第二中心点。
14.根据权利要求12所述的光学测量方法，其特征在于，所述移动装置移动所述被测样品以使所述第一中心点和所述第二中心点重合之后还包括：
所述真空吸附装置在所述第一中心点和所述第二中心点重合之后，将所述被测样品吸附固定于所述测试背板上。
15.根据权利要求14所述的光学测量方法，其特征在于，所述真空吸附装置将所述被测样品吸附固定于所述测试背板上之后还包括：
所述光线发射器停止显示所述第一中心点；
所述中心点探测器停止显示所述第二中心点；
所述被测样品开启；
所述被测样品执行光学测试。
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