CN109557738A - 测试线路、测试方法及显示面板 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及一种测试线路、显示面板及显示装置。该测试线路包括：测试短棒；至少一组连接头，所述连接头的一端与所述测试短棒电连接，所述连接头的另一端与所述阵列基板的扇出区的数据线电连接；至少两组视角反差线，两组视角反差线分别置于所述连接头的两侧；第一视角反差线、第二视角反差线及连接头三者相互平行；每组视角反差线包括N条子视角反差线，N≥1，且N为整数；子视角反差线的宽度大于所述数据线的宽度；以及精度标识，设置于连接头与视角反差线之间；精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直。本申请可有效降低激光切割时的切割浪费。

Description

测试线路、测试方法及显示面板
技术领域
本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种测试线路、测试方法及显示面板。
背景技术
随着显示技术的发展，显示装置因具有高画质、省电、机身薄等优点而被广泛应用，其中，画质的好坏是影响消费者体验的最主要的因素。而通常一台好的显示装置在出厂之前，还要进行一系列的测试，来保证最终的成品的高质量和高稳定性。
加电点亮测试作为显示装置测试环节中的非常重要一环，其主要用于检测阵列基板上各类电子元器件的电连接关系是否正确。其具体可以是在阵列基板的边缘处设置测试短棒(shorting bar)，同时测试短棒还连接有测试片(test pad)和连接头(lead)，连接头的一端与测试短棒连接，另一端与扇出区(fan-out)的数据线(data line)连接。其主要原理为给测试片加电经过测试短棒的走线传给连接头，连接头通过扇出区的走线，最终传导给显示区的像素以进行点亮测试。一般在测试完成后，需要用激光将测试短棒和连接头之间的连接切断。但是由于监控激光切割的图像传感器的倍率有限，当激光切割多切的时候，就无法准确的检查到，从而导致切割浪费。所以，如何准确的检查激光切割以降低切割浪费是亟需解决的问题。
发明内容
基于此，有必要针对由于图像传感器的倍率有限导致激光切割时的切割浪费等问题，提供一种测试线路、测试方法及显示面板。
一种测试线路，用于阵列基板的加电点亮测试，所述测试线路包括：
测试短棒，用于将设置于所述阵列基板的源极侧的数据线进行短接；
至少一组连接头，所述连接头的一端与所述测试短棒电连接，所述连接头的另一端与所述阵列基板的扇出区的数据线电连接；
至少两组视角反差线，两组视角反差线分别定义为第一视角反差线和第二视角反差线，所述第一视角反差线和所述第二视角反差线分别置于所述连接头的两侧，所述第一视角反差线、所述第二视角反差线及所述连接头三者相互平行；其中，每组视角反差线包括N条子视角反差线，N≥1，且N为整数；所述子视角反差线的宽度大于所述数据线的宽度；以及
精度标识，所述精度标识设置于所述连接头与所述视角反差线之间；所述精度标识与所述视角反差线的中心处于同一直线上，所述精度标识的开口方向与所述连接头的延伸方向垂直。
在其中一个实施例中，所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识，所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间，所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间，所述第一子精度标识与所述第二子精度标识呈镜面对称。
在其中一个实施例中，所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识，所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间，所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间，所述第一子精度标识与所述第二子精度标识的开口方向相同。
在其中一个实施例中，所述第一视角反差线的材料与所述第二视角反差线的材料相同。
在其中一个实施例中，每组连接头包括三个子连接单元，每一子连接单元与一数据线对应连接。
在其中一个实施例中，每组视角反差线包括三条子视角反差线，三条子视角反差线定义为第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线，所述第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线的材料相同。
在其中一个实施例中，每组视角反差线包括三条子视角反差线，三条子视角反差线定义为第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线，所述第一子视角反差线与所述第三子视角反差线的材料相同，所述第一字视角反差线与所述第二子视角反差线的材料不同。
在其中一个实施例中，所述子视角反差线的宽度大于等于10微米。
一种测试方法，使用如前述所述的测试线路进行测试，包括：
提供一测试装置，所述测试装置与所述测试短棒连接；
对所述测试装置加电以对所述阵列基板进行加电点亮测试；
完成所述加电点亮测试后，根据所述视角反差线及所述精度标识产生的视角差异对所述测试短棒和所述连接头之间的切割区域进行寻找；
完成寻找后以垂直于所述视角反差线、并经过所述第一视角反差线和第二视角反差线的线段为切割线，同时参照所述精度标识对所述测试短棒和所述连接头之间的电连接进行激光切割。
一种显示面板，包括显示区域和非显示区域，所述非显示区域包括如前述所述的测试线路。
上述测试线路，通过在连接头的两侧设置视角反差线，同时在视角反差线与连接头之间设置精度标识，由于每组视角反差线包括N条子视角反差线，并且子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，可以在图像传感器的倍率有限的情况下对测试短棒和连接头之间的电连接进行激光切割时增大激光切割的视角差异。进一步地，由于精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直，亦可增加视角差异。更进一步地，由于精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，故，在进行激光切割的时候可通过参照精度标识来控制激光切割的精度，实现准确的激光切割，从而可有效改善由于图像传感器的倍率有限导致的切割浪费以及产能浪费等问题。
附图说明
图1为一实施例中的测试线路的结构示意图；
图2为另一实施例中的测试线路的结构示意图；
图3为再一实施例中的测试线路的结构示意图；
图4为一实施例中的测试方法的流程示意图；
图5为一实施例中的显示面板的结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。
请参阅图1，为一实施例中的测试线路的结构示意图。该测试线路用于阵列基板的加电点亮测试。加电点亮测试主要用于检测阵列基板上各类电子元器件的电连接关系是否正确。该测试线路可以包括：测试短棒10，至少一组连接头20，精度标识30及至少两组视角反差线40。其中，测试短棒10用于将设置于阵列基板(图1未标示)的源极侧的数据线进行短接，换句话说，测试短棒10将设置于源极侧的数据线进行短接，其中，数据线(图1未标示)可以包括红色信号线R、绿色信号线G和蓝色信号线B(分别对应红R/绿G/蓝B的测试)，且按照一定的顺序设置(顺序例如为红色信号线R、绿色信号线G和蓝色信号线B，但不限于此，顺序也可以为绿色信号线G、蓝色信号线B、红色信号线R)。
至少一组连接头20，换句话说，在该测试线路中，可以有两组或者三组甚至更多的连接头20。连接头20的一端与测试短棒10电连接，另一端与阵列基板的扇出区的数据线电连接，即，连接头20设置在测试短棒10与扇出区的数据线之间。
至少两组视角反差线40，为了便于区分，可将两组视角反差线40分别定义为第一视角反差线410和第二视角反差线420，第一视角反差线410和第二视角反差线420分别置于连接头20的两侧，并且第一视角反差线410、第二视角反差线420及连接头20三者相互平行。每组视角反差线40可以包括N条子视角反差线，N≥1，并且N为整数。换句话说，第一视角反差线410可以包括N条子视角反差线，N≥1，并且N为整数；第二视角反差线420可以包括N条子视角反差线，N≥1，并且N为整数。子视角反差线的宽度大于数据线的宽度。
精度标识30，设置于连接头20与视角反差线40之间，由于该测试线路至少包括两组视角反差线，并且精度标识30又设置于连接头20与视角反差线40之间，所以，应当理解，精度标识30的数量和视角反差线40的数量一致。精度标识30的中心与视角反差线40的中心处于同一条直线上。
上述测试线路，通过在连接头的两侧设置视角反差线，同时在视角反差线与连接头之间设置精度标识，由于每组视角反差线包括N条子视角反差线，并且子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，可以在图像传感器的倍率有限的情况下对测试短棒和连接头之间的电连接进行激光切割时增大激光切割的视角差异。进一步地，由于精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直，亦可增加视角差异。更进一步地，由于精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，故，在进行激光切割的时候可通过参照精度标识来控制激光切割的精度，实现准确的激光切割，从而可有效改善由于图像传感器的倍率有限导致的切割浪费以及产能浪费等问题。
进一步地，一组连接头20可以包括三个子连接单元210，每一个子连接单元210与一条数据线对应连接。可以理解，对于具体的连接头20的组数以及连接头20中的子连接单元210的数量可以根据具体的数据线的数量进行选择和调整，在此不做进一步地限定。
第一视角反差线410和第二视角反差线420的材料可以相同，例如，第一视角反差线410和第二视角反差线420的材料均为钼、钛、铝和铜中的一种。视角反差线40可以包括N条子视角反差线，其中，N≥1，并且N为整数。换句话说，第一视角反差线410包括N条子视角反差线，其中，N≥1，并且N为整数，和第二视角反差线420包括N条子视角反差线，其中，N≥1，并且N为整数。其中，第一视角反差线410和第二视角反差线420中的子视角反差线的数量可以相等，也可以不相等。子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，具体地，子视角反差线的宽度可以大于等于10微米。也即是说，视角反差线40中的子视角反差线的宽度都可以选取这个范围内的数值，对于其中每一根子视角反差线的宽度值可以根据本领域技术人员的实际情况进行选取，例如，全部取一样的宽度值，或者取两种宽度值，或者取三种宽度值。在选取有不同的宽度值的情况下可进行一定的排序及调整。
在本具体实施例中，第一视角反差线410和第二视角反差线420中的子视角反差线的数量均为三条，并且三条子视角反差线的宽度值相等。如图1所示，以第一视角反差线410为例，可将三条子视角反差线分别定义为第一子视角反差线412、第二子视角反差线414及第三子视角反差线416，第一子视角反差线412、第二子视角反差线414及第三子视角反差线416的材料可以相同，也即是说，当第一子视角反差线412的材料为铜时，第二子视角反差线414及第三子视角反差线416的材料也为铜。其他材料也可以类似地推导。
在一个实施例中，第一子视角反差线412与第三子视角反差线416的材料可以相同，第一子视角反差线412与第二子视角反差线414的材料不同。具体来讲，当第一子视角反差线412的材料选择铜的时候，第三子视角反差线416的材料也为铜，而第二子视角反差线414的材料就可以为铝或者钛或者钼。反之亦然。将第一子视角反差线412与第三子视角反差线416选择相同的材料，而第二子视角反差线414选择不同的材料，即视角反差线410中的三条子视角反差线间隔设置，可进一步增大视角差异。类似地，可依据本实施例进行拓展，在此不再一一例举。
在一个实施例中，精度标识30可以为将“E”字形顺时针旋转180°得到，可结合图1进行理解。可以看到，精度标识30由于是将“E”字形顺时针旋转180°得到，所以其具有两个开口，在本具体实施例中，两个开口的方向与连接头20的延伸方向垂直，同时，两个精度标识30的开口方向的朝向相同。将精度标识30的开口方向设置为与连接头20的延伸方向垂直，可增加视角差异。精度标识30的材料可以为钼、钛、铝和铜中的一种。精度标识30在第一方向上的高度与视角反差线40在第一方向上的长度可以相等，其中，以连接头20的延伸方向为第一方向。精度标识30的在第一方向上的高度与视角反差线40在第一方向上的长度也可以不相等，其中，以连接头20的延伸方向为第一方向，但是还是应当保证精度标识30与视角反差线40的中心处于同一直线上。将精度标识30与视角反差线40的中心设置在同一直线上，可以便于依据精度标识30来进行准确切割。
请参阅图2，为另一实施例中的测试线路的结构示意图。该测试线路可以包括：测试短棒10、至少一组连接头20、精度标识30及至少两组视角反差线40。其中，测试短棒10用于将设置于阵列基板(图2未标示)的源极侧的数据线进行短接，换句话说，测试短棒10将设置于源极侧的数据线进行短接，其中，数据线(图2未标示)可以包括红色信号线R、绿色信号线G和蓝色信号线B(分别对应红R/绿G/蓝B的测试)，且按照一定的顺序设置(顺序例如为红色信号线R、绿色信号线G和蓝色信号线B，但不限于此，顺序也可以为绿色信号线G、蓝色信号线B、红色信号线R)。可以理解，对于测试短棒10、连接头20、视角反差线40以及精度标识30的描述可以参照前述实施例。在此不做进一步赘述。
进一步地，请继续参阅图2，精度标识30还可以包括第一子精度标识310和第二子精度标识320，第一子精度标识310设置于连接头20与第一视角反差线410之间，第二子精度标识320设置于连接头20与第二视角反差线420之间，第一子精度标识310与第二子精度标识320呈镜面对称。具体地，第一子精度标识310为将“E”字形顺时针旋转180°之后得到的，而第二子精度标识320就为“E”字形。进一步地，在第一子精度标识310由“E”字形旋转得到、第二子精度标识320为“E”字形的情况下，对应“E”字的三个延伸部分分别刻有代表精度值的数值，如图2所示，只在第二子精度标识320上示出，三个精度值分别为+50、0及-50，单位为微米。可以理解，还可以为其他的数值，在此不做限定。
上述测试线路，通过在连接头的两侧设置视角反差线，同时在视角反差线与连接头之间设置精度标识，由于每组视角反差线包括N条子视角反差线，并且子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，并且精度标识为呈镜面对称的“E”字形，可以在图像传感器的倍率有限的情况下对测试短棒和连接头之间的电连接进行激光切割时增大激光切割的视角差异。进一步地，由于精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直，亦可增加视角差异。更进一步地，由于精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，故，在进行激光切割的时候可通过参照精度标识来控制激光切割的精度，实现准确的激光切割，从而可有效改善由于图像传感器的倍率有限导致的切割浪费以及产能浪费等问题。
请参阅图3，为再一实施例中的测试线路的结构示意图。该测试线路可以包括：测试短棒10，至少一组连接头20，精度标识30及至少两组视角反差线40。其中，测试短棒10用于将设置于阵列基板(图3未标示)的源极侧的数据线进行短接，换句话说，测试短棒10将设置于源极侧的数据线进行短接，其中，数据线(图3未标示)可以包括红色信号线R、绿色信号线G和蓝色信号线B(分别对应红R/绿G/蓝B的测试)，且按照一定的顺序设置(顺序例如为红色信号线R、绿色信号线G和蓝色信号线B，但不限于此，顺序也可以为绿色信号线G、蓝色信号线B、红色信号线R)。可以理解，对于测试短棒10、连接头20、视角反差线40以及精度标识30的描述可以参照前述实施例。在此不做进一步赘述。
进一步地，请继续参阅图3，精度标识30还可以包括第一子精度标识310和第二子精度标识320，第一子精度标识310设置于连接头20与第一视角反差线410之间，第二子精度标识320设置于连接头20与第二视角反差线420之间，第一子精度标识310和第二子精度标识320的开口方向相同，也即是第一子精度标识310和第二子精度标识320的开口方向的朝向相同，在本具体实施例中，第一子精度标识310和第二子精度标识320为“E”字形，进一步地，对应“E”字的三个延伸部分分别刻有代表精度值的数值，如图3所示，只在第二子精度标识320上示出，三个精度值分别为+50、0及-50，单位为纳米。可以理解，还可以为其他的数值，在此不做限定。
请参阅图4，为一实施例中的测试方法的流程示意图。该测试方法使用前述所述的测试线路进行测试，该测试方法可以包括步骤：S100-S400。
步骤S100，提供一测试装置，所述测试装置与所述测试短棒连接。
具体的，请辅助参阅图5，测试装置可例如为图5中的测试片(test pad)50，并且测试片50的数量可以为多个。
步骤S200，对所述测试装置加电以对所述阵列基板进行加电点亮测试。
具体的，可通过对测试装置进行加电的方式来进行加电点亮测试。
步骤S300，完成所述加电点亮测试后，根据所述视角反差线及所述精度标识产生的视角差异对所述测试短棒和所述连接头之间的切割区域进行寻找。
具体的，完成加电点亮测试之后，由于视角反差线与连接头相互平行，视角反差线中的子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，同时精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直，所以，视角反差线、连接头及精度标识之间会由于排列方式、宽度大小的不同而产生视角差异。进一步地，可使用例如图像传感器的装置对产生视角差异的地方进行寻找，产生视角差异的地方也可以理解为切割区域，也即是图1中的A1区。
步骤S400，完成寻找后以垂直于所述视角反差线、并经过所述第一视角反差线和第二视角反差线的线段为切割线，同时参照所述精度标识对所述测试短棒和所述连接头之间的电连接进行激光切割。
具体的，找到了切割区域A1之后，可使用激光以垂直于视角反差线，并且经过第一视角反差线和第二视角反差线的线段作为切割线，同时参照精度标识对测试短棒和连接头之间的电连接进行切割。由于精度标识上刻有精度值，所以在切割的时候可以辅助参阅精度标识来完成准确的激光切割，避免造成过多的切割浪费。
上述测试方法，通过采用前述的测试线路进行测试，并在测试完成后根据视角反差线及精度标识产生的视角差异对测试短棒和连接头之间的切割区域进行寻找；完成寻找后以垂直于视角反差线、并经过第一视角反差线和第二视角反差线的线段为切割线，同时参照精度标识对测试短棒和连接头之间的电连接进行激光切割。由于测试线路是通过在连接头的两侧设置视角反差线，同时在视角反差线与连接头之间设置精度标识，每组视角反差线包括N条子视角反差线，并且子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，可以在图像传感器的倍率有限的情况下对测试短棒和连接头之间的电连接进行激光切割时增大激光切割的视角差异。进一步地，由于精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直，亦可增加视角差异。更进一步地，由于精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，故，在进行激光切割的时候可通过参照精度标识来控制激光切割的精度，实现准确的激光切割，从而可有效改善由于图像传感器的倍率有限导致的切割浪费以及产能浪费等问题。
请参阅图5，为一实施例中的显示面板的结构示意图，显示面板可例如为TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Displayer，薄膜晶体管液晶显示器)显示面板、OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)显示面板、QLED(Quantum DotLight Emitting Diodes，量子点发光二极管)显示面板、曲面显示面板或其他显示面板。该显示面板可以包括显示区域S2和非显示区域S1，其中，非显示区域S1中包括前述所述的测试线路，该测试线路可以包括：测试短棒10，至少一组连接头20，每组连接头20包括三个子连接单元210，每一个子连接单元210与一条数据线对应连接，子连接单元210的一端与测试短棒10电连接，另一端与阵列基板的扇出区S12的数据线D电连接。至少两组视角反差线40，每组视角反差线40包括N条子视角反差线，N≥1，且N为整数；同时，子视角反差线的宽度大于数据线的宽度。设置于视角反差线40与子连接单元210之间的精度标识30，同时精度标识30为“E”字形旋转180°等到，精度标识30上还刻有精度值，精度标识30的开口方向与连接头20的延伸方向垂直。视角反差线40与精度标识30的中心处于同一直线上。以及用于加电点亮测试中进行加电的测试片50。
上述显示面板，由于采用具有前述实施例所描述的测试线路，该测试线路通过在连接头的两侧设置视角反差线，同时在视角反差线与连接头之间设置精度标识，由于每组视角反差线包括N条子视角反差线，并且子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，并且精度标识为旋转180°后的“E”字形，可以在图像传感器的倍率有限的情况下对测试短棒和连接头之间的电连接进行激光切割时增大激光切割的视角差异。进一步地，由于精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直，亦可增加视角差异。更进一步地，由于精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，故，在进行激光切割的时候可通过参照精度标识来控制激光切割的精度，实现准确的激光切割，从而可有效改善由于图像传感器的倍率有限导致的切割浪费以及产能浪费等问题。
一种显示装置，可以包括背光模组(图未标示)和显示面板(图未标示)，其中，显示面板为前述实施例所描述的显示面板。上述显示装置，由于采用前述实施例所描述的测试线路的显示面板，且该测试线路通过在连接头的两侧设置视角反差线，同时在视角反差线与连接头之间设置精度标识，由于每组视角反差线包括N条子视角反差线，并且子视角反差线的宽度大于数据线的宽度，并且精度标识为旋转180°后的“E”字形，可以在图像传感器的倍率有限的情况下对测试短棒和连接头之间的电连接进行激光切割时增大激光切割的视角差异。进一步地，由于精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直，亦可增加视角差异。更进一步地，由于精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，故，在进行激光切割的时候可通过参照精度标识来控制激光切割的精度，实现准确的激光切割，从而可有效改善由于图像传感器的倍率有限导致的切割浪费以及产能浪费等问题。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试线路，用于阵列基板的加电点亮测试，其特征在于，所述测试线路包括：
测试短棒，用于将设置于所述阵列基板的源极侧的数据线进行短接；
至少一组连接头，所述连接头的一端与所述测试短棒电连接，所述连接头的另一端与所述阵列基板的扇出区的数据线电连接；
至少两组视角反差线，两组视角反差线分别定义为第一视角反差线和第二视角反差线，所述第一视角反差线和所述第二视角反差线分别置于所述连接头的两侧，所述第一视角反差线、所述第二视角反差线及所述连接头三者相互平行；其中，每组视角反差线包括N条子视角反差线，N≥1，且N为整数；所述子视角反差线的宽度大于所述数据线的宽度；以及
精度标识，所述精度标识设置于所述连接头与所述视角反差线之间；所述精度标识与所述视角反差线的中心处于同一直线上，所述精度标识的开口方向与所述连接头的延伸方向垂直。
2.根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识，所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间，所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间，所述第一子精度标识与所述第二子精度标识呈镜面对称。
3.根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识，所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间，所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间，所述第一子精度标识与所述第二子精度标识的开口方向相同。
4.根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，所述第一视角反差线的材料与所述第二视角反差线的材料相同。
5.根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，每组连接头包括三个子连接单元，每一子连接单元与一数据线对应连接。
6.根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，每组视角反差线包括三条子视角反差线，三条子视角反差线定义为第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线，所述第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线的材料相同。
7.根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，每组视角反差线包括三条子视角反差线，三条子视角反差线定义为第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线，所述第一子视角反差线与所述第三子视角反差线的材料相同，所述第一子视角反差线与所述第二子视角反差线的材料不同。
8.根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，所述子视角反差线的宽度大于等于10微米。
9.一种测试方法，其特征在于，使用如权利要求1-8所述的测试线路进行测试，包括：
提供一测试装置，所述测试装置与所述测试短棒连接；
对所述测试装置加电以对所述阵列基板进行加电点亮测试；
完成所述加电点亮测试后，根据所述视角反差线及所述精度标识产生的视角差异对所述测试短棒和所述连接头之间的切割区域进行寻找；
完成寻找后以垂直于所述视角反差线、并经过所述第一视角反差线和第二视角反差线的线段为切割线，同时参照所述精度标识对所述测试短棒和所述连接头之间的电连接进行激光切割。
10.一种显示面板，包括显示区域和非显示区域，其特征在于，所述非显示区域包括如权利要求1-8任一项所述的测试线路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110262106A (zh) * 2019-06-24 2019-09-20 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板及其激光切割方法
CN110379345A (zh) * 2019-06-12 2019-10-25 北海惠科光电技术有限公司 阵列基板和显示面板
WO2022227676A1 (zh) * 2021-04-29 2022-11-03 惠科股份有限公司 阵列基板、液晶显示面板及液晶显示装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100498197B1 (ko) * 2002-03-27 2005-06-29 가부시끼가이샤 도시바 포토마스크, 포커스 모니터 방법, 노광량 모니터 방법 및반도체 장치의 제조 방법
US20100044715A1 (en) * 2008-08-20 2010-02-25 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Thin film transistor array substrate and method of fabricating the same
CN102162961A (zh) * 2010-12-20 2011-08-24 友达光电股份有限公司 阵列基板
CN103771694A (zh) * 2014-01-08 2014-05-07 合肥鑫晟光电科技有限公司 激光切割方法及激光切割系统
CN204964956U (zh) * 2015-09-16 2016-01-13 厦门天马微电子有限公司 一种阵列基板及显示面板
CN105785610A (zh) * 2016-04-28 2016-07-20 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板测试线路
CN205427375U (zh) * 2016-03-18 2016-08-03 合肥鑫晟光电科技有限公司 初始阵列基板、切割装置和显示面板
CN107015387A (zh) * 2017-05-19 2017-08-04 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于阵列基板的测试线路
CN107085350A (zh) * 2017-05-11 2017-08-22 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板或显示母板以及制作显示母板上的切割标记的方法
KR20180109012A (ko) * 2017-03-24 2018-10-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조 방법 및 표시 장치

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100498197B1 (ko) * 2002-03-27 2005-06-29 가부시끼가이샤 도시바 포토마스크, 포커스 모니터 방법, 노광량 모니터 방법 및반도체 장치의 제조 방법
US20100044715A1 (en) * 2008-08-20 2010-02-25 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Thin film transistor array substrate and method of fabricating the same
CN102162961A (zh) * 2010-12-20 2011-08-24 友达光电股份有限公司 阵列基板
CN103771694A (zh) * 2014-01-08 2014-05-07 合肥鑫晟光电科技有限公司 激光切割方法及激光切割系统
CN204964956U (zh) * 2015-09-16 2016-01-13 厦门天马微电子有限公司 一种阵列基板及显示面板
CN205427375U (zh) * 2016-03-18 2016-08-03 合肥鑫晟光电科技有限公司 初始阵列基板、切割装置和显示面板
CN105785610A (zh) * 2016-04-28 2016-07-20 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板测试线路
KR20180109012A (ko) * 2017-03-24 2018-10-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조 방법 및 표시 장치
CN107085350A (zh) * 2017-05-11 2017-08-22 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板或显示母板以及制作显示母板上的切割标记的方法
CN107015387A (zh) * 2017-05-19 2017-08-04 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于阵列基板的测试线路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110379345A (zh) * 2019-06-12 2019-10-25 北海惠科光电技术有限公司 阵列基板和显示面板
CN110379345B (zh) * 2019-06-12 2022-07-22 北海惠科光电技术有限公司 阵列基板和显示面板
CN110262106A (zh) * 2019-06-24 2019-09-20 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板及其激光切割方法
CN110262106B (zh) * 2019-06-24 2021-12-28 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板及其激光切割方法
WO2022227676A1 (zh) * 2021-04-29 2022-11-03 惠科股份有限公司 阵列基板、液晶显示面板及液晶显示装置

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