KR102113620B1

KR102113620B1 - 표시장치의 테스트장치

Info

Publication number: KR102113620B1
Application number: KR1020130161170A
Authority: KR
Inventors: 권영호
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2013-12-23
Filing date: 2013-12-23
Publication date: 2020-06-02
Also published as: KR20150073460A

Abstract

본 발명은 표시패널; 및 상기 표시패널과 체결되고 상기 표시패널에 각종 신호 및 전원을 공급하는 회로기판을 포함하되, 상기 전원은 커넥터를 통한 물리적 또는 전기적 체결이 이루어져야만 상기 표시패널로 공급되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치를 제공한다.

Description

표시장치의 테스트장치{TEST APPARATUS FOR DISPLAY DEVICE}

본 발명은 표시장치의 테스트장치에 관한 것이다.

정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 액정표시장치, 유기전계발광표시장치, 전기영동표시장치 및 플라즈마표시장치 등과 같은 표시장치의 사용이 증가하고 있다.

앞서 설명한 바와 같은 표시장치는 영상을 표시하는 표시패널, 표시패널을 구동하는 구동부 및 구동부를 제어하는 제어부 등이 포함된다. 표시장치에 사용되는 표시패널의 종류는 다양하지만 기본적으로 표시패널을 제작한 후, 표시패널에 대한 에이징이나 결함 유무 등을 검사하는 공정이 요구됨은 동일하다.

표시장치의 테스트장치는 표시패널에 전원 및 각종신호 등을 공급하고, 표시패널에 대한 에이징이나 결함 유무 등을 검사할 수 있다. 표시장치의 테스트장치에는 표시패널에서 요구하는 전원을 생성하는 전원공급부와 외부 신호원으로부터 공급된 각종 신호를 표시패널에 전달하는 신호배선들 등이 포함된다. 전원공급부는 자체적으로 전원을 생성하지 않고 외부 신호원으로부터 공급된 전원을 기반으로 표시패널에서 요구하는 다양한 레벨의 전원으로 변환한다.

통상 표시패널에 대한 검사를 수행하기 위해서는 작업자가 외부 신호원이나 표시장치의 테스트장치의 전원을 차단한 후 표시장치의 테스트장치와 표시패널에 형성된 커넥터를 체결해야 한다.

그런데, 작업자가 외부 신호원이나 표시장치의 테스트장치의 전원을 차단하지 않고 표시장치의 테스트장치와 표시패널에 형성된 커넥터를 체결하면 순간적인 전기적 접촉으로 과전류나 과전압 등이 발생한다. 이 경우, 종래에 제안된 표시장치의 테스트장치는 과전류나 과전압 등에 의해 기인하는 정전기 방전(ESD)이나 전기적 과부하 스트레스(EOS)를 유발하여 표시패널을 손상시키는 문제가 있어 이의 개선이 요구된다.

상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 각종 지그(Jig)류와 표시패널 간의 체결 시 작업자 주의 사항을 설계적으로 해결하고, 각종 지그류 체결 과정에서 발생 가능한 문제를 방지하고, 표시패널 모듈의 불량율 저감하여 잠재적인 불량을 가진 표시패널의 유출을 방지(고객 만족)할 수 있는 표시장치의 테스트장치를 제공하는 것이다.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명은 표시패널; 및 상기 표시패널과 체결되고 상기 표시패널에 각종 신호 및 전원을 공급하는 회로기판을 포함하되, 상기 전원은 커넥터를 통한 물리적 또는 전기적 체결이 이루어져야만 상기 표시패널로 공급되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치를 제공한다.

상기 회로기판은 상기 액정패널과 커넥터를 통한 체결 여부에 따라 상기 전원이 출력되도록 턴온 또는 턴오프되는 스위치부를 포함할 수 있다.

상기 스위치부는 로직로우신호 또는 그라운드전압이 공급되면 턴온될 수 있다.

상기 스위치부는 상기 액정패널과 커넥터를 통한 체결시 상기 액정패널로부터 공급된 신호나 전압에 대응하여 턴온될 수 있다.

상기 회로기판은 외부 또는 내부 신호원으로부터 출력된 전원을 기반으로 N(N은 1 이상 정수)개의 전원을 생성하는 전원공급부를 포함하고, 상기 전원공급부는 상기 스위치부의 턴온 또는 턴오프 여부에 대응하여 상기 전원을 출력할 수 있다.

상기 스위치부의 제1단자는 상기 외부 또는 내부 신호원에 연결되고, 상기 스위치부의 제2단자는 상기 전원공급부의 입력단에 연결되고, 상기 스위치부의 제3단자는 상기 회로기판 상에 형성된 커넥터에 연결될 수 있다.

상기 회로기판과 상기 표시패널이 체결되면 상기 외부 또는 내부 신호원으로부터 출력된 고전위전압 또는 그라운드전압은 상기 표시패널을 경유하여 상기 스위치부로 공급되고, 상기 스위치부는 상기 고전위전압 또는 상기 그라운드전압에 대응하여 턴온될 수 있다.

상기 회로기판은 상기 스위치부를 제어하는 스위치 제어부를 포함하고, 상기 스위치 제어부는 상기 회로기판과 상기 표시패널이 커넥터를 통해 체결되면 상기 스위치부를 턴온하는 활성화신호를 출력하고, 상기 회로기판과 상기 표시패널이 미체결되면 상기 스위치부를 턴오프하는 비활성화신호를 출력할 수 있다.

상기 스위치 제어부는 지연 시간을 갖고 상기 활성화신호를 출력할 수 있다.

상기 회로기판은 외부 시스템과 커넥터를 통한 체결 여부에 따라 상기 전원이 출력되도록 턴온 또는 턴오프되는 스위치부를 포함할 수 있다.

본 발명은 정전기 방전(ESD)이나 전기적 과부하 스트레스(EOS)로 표시패널이 손상되는 문제를 방지할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 각종 지그(Jig)류와 표시패널 간의 체결 시 작업자 주의 사항을 설계적으로 해결하고, 각종 지그류 체결 과정에서 발생 가능한 문제를 방지하고, 표시패널 모듈의 불량율 저감하여 잠재적인 불량을 가진 표시패널의 유출을 방지(고객 만족)할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도.
도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 회로 구성도.
도 3은 종래에 제안된 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 5는 도 4의 일부를 구체화한 도면.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 7은 도 6의 일부를 구체화한 도면.
도 8은 본 발명의 제3실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 9는 본 발명의 제4실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 10은 본 발명의 제5실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면.

이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.

본 발명의 실시예에서는 표시패널에 대한 검사나 에이징 등을 포함하는 각종 테스트를 목적으로 하는 표시장치의 테스트장치이다. 표시장치의 테스트장치는 표시패널과 체결되고 표시패널에 각종 신호 및 전원을 공급하는 회로기판으로 구성된다. 표시장치의 테스트장치는 유기전계발광표시장치, 전기영동표시장치 및 플라즈마표시장치 등에 적용될 수 있다. 그러나, 이하에서는 설명의 편의를 위해 액정표시장치를 일례로 표시장치의 테스트장치에 대해 설명한다.

<제1실시예>

도 1은 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 회로 구성도이다.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 액정표시장치에는 타이밍제어부(130), 게이트구동부(140), 데이터구동부(150), 액정패널(160) 및 백라이트유닛(170)이 포함된다.

타이밍제어부(130)는 외부로부터 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(Data Enable, DE), 클럭신호(CLK), 데이터신호(DATA)를 공급받는다. 타이밍제어부(130)는 수직 동기신호, 수평 동기신호, 데이터 인에이블 신호, 클럭신호 등의 타이밍신호를 이용하여 데이터구동부(150)와 게이트구동부(140)의 동작 타이밍을 제어한다. 타이밍제어부(130)는 1 수평기간의 데이터 인에이블 신호를 카운트하여 프레임기간을 판단할 수 있으므로 외부로부터 공급되는 수직 동기신호와 수평 동기신호는 생략될 수 있다.

타이밍제어부(130)에서 생성되는 제어신호들에는 게이트구동부(140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어신호(GDC)와 데이터구동부(150)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호(DDC)가 포함될 수 있다. 타이밍제어부(130)는 데이터 타이밍 제어신호(DDC)와 함께 데이터신호(DATA)를 데이터구동부(150)에 공급한다. 타이밍제어부(130)는 IC(Integrated Circuit) 형태로 형성된다. 타이밍제어부(130)는 액정패널(160)과 연결되는 인쇄회로기판 상에 실장된다.

게이트구동부(140)는 타이밍제어부(130)로부터 공급된 게이트 타이밍 제어신호(GDC)에 응답하여 게이트전압의 레벨을 시프트시키면서 게이트신호를 출력한다. 게이트구동부(140)는 게이트라인들(GL)을 통해 액정패널(160)에 게이트신호를 공급한다. 게이트구동부(140)는 IC 형태로 형성되거나 액정패널(160)에 게이트인패널(Gate In Panel) 방식으로 형성된다.

데이터구동부(150)는 타이밍제어부(130)로부터 공급된 데이터 타이밍 제어신호(DDC)에 응답하여 데이터신호(DATA)를 샘플링하고 래치하며 감마 기준전압에 대응하여 아날로그 형태로 변환하여 출력한다. 데이터구동부(150)는 데이터라인들(DL)을 통해 액정패널(160)에 데이터신호(DATA)를 공급한다. 데이터구동부(150)는 IC 형태로 형성된다. 데이터구동부(150)는 액정패널(160)과 연결되는 연성회로기판 상에 실장된다. 연성회로기판은 인쇄회로기판과 연결된다.

액정패널(160)은 박막 트랜지스터 등이 형성된 하부 기판, 컬러필터 등이 형성된 상부 기판 그리고 이들 사이에 위치하는 액정층으로 구성된다. 하부 기판과 하부 기판의 내부 상층부에는 액정의 프리틸트각(pre-tilt angle)을 설정하기 위한 배향막이 형성된다. 하부 기판의 하부면에는 하부 편광판이 부착되고, 상부 기판의 상부면에는 상부 편광판이 부착된다. 또한, 액정패널(160)은 투과형 액정표시장치, 반투과형 액정표시장치, 반사형 액정표시장치 등 어떠한 형태로도 구현될 수 있다.

액정패널(160)은 게이트구동부(140)로부터 공급된 게이트신호와 데이터구동부(150)로부터 공급된 데이터신호(DATA)에 대응하여 영상을 표시한다. 액정패널(160)은 백라이트유닛(170)을 통해 제공된 광을 제어하는 서브 픽셀들이 포함된다. 하나의 서브 픽셀(SP)에는 박막 트랜지스터(TFT), 스토리지 커패시터(Cst) 및 액정층(Clc)이 포함된다.

박막 트랜지스터(TFT)의 게이트전극은 게이트라인(GL1)에 연결되고 소오스전극은 데이터라인(DL1)에 연결된다. 스토리지 커패시터(Cst)는 박막 트랜지스터(TFT)의 드레인전극에 일단이 연결되고 공통전압라인(Vcom)에 타단이 연결된다. 액정층(Clc)은 박막 트랜지스터(TFT)의 드레인전극에 연결된 화소전극(1)과 공통전극(2) 사이에 형성된다.

백라이트유닛(170)은 액정패널(160)에 빛을 제공한다. 백라이트유닛(170)은 발광다이오드(이하 LED), LED를 구동하는 LED구동부, LED로부터 출사된 광을 면광원으로 변환시키는 도광판, 도광판으로부터 출사된 광을 집광 및 확산하는 광학시트류 등이 포함된다. 백라이트유닛(170)은 LED뿐만 아니라 다른 광원을 이용하는 방식으로 액정패널(160)에 빛을 제공할 수 있다.

앞서 설명된 액정패널(160)은 제작이 완료된 이후 표시장치의 테스트장치와 접속되어 액정패널(160)의 에이징이나 결함 유무 등을 검사하는 공정이 진행된다. 표시장치의 테스트장치는 액정패널(160)에 전원 및 각종신호 등을 공급하고, 액정패널(160)에 대한 에이징이나 결함 유무 등을 검사할 수 있다.

이하, 종래에 제안된 표시장치의 테스트장치와 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 비교하여 설명한다. 다만, 이하에서 설명되는 액정패널(160)은 게이트구동부(140), 데이터구동부(150) 및 타이밍제어부(130)를 포함하는 표시 모듈 단위인 것을 참조한다.

[종래 기술]

도 3은 종래에 제안된 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면이며, 도 5는 도 4의 일부를 구체화한 도면이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 종래에 제안된 표시장치의 테스트장치(190)에는 전원공급부(195), 제1 및 제2커넥터(IF CNT, P/G CNT) 및 전원 접속부(DC Jack) 등이 포함된다.

전원공급부(195), 제1 및 제2커넥터(IF CNT, P/G CNT) 및 전원 접속부(DC Jack) 등은 액정패널(160, LCM)과 별도로 구분된 인터페이스기판(또는 인터페이스보드) 상에 형성된다.

전원공급부(195)는 액정패널(160)에서 요구하는 전원을 생성한다. 전원공급부(195)는 자체적으로 전원을 생성하지 않고 외부 신호원(180)으로부터 공급된 전원을 기반으로 액정패널(160)에서 요구하는 N(N은 1 이상 정수)개의 다양한 레벨의 전원을 생성한다.

전원공급부(195)는 전원 접속부(DC Jack)를 통해 외부 신호원(180)과 접속된다. 전원공급부(195)에는 제1구동전압(AVDD)을 생성하는 제1전원공급부(DC/DC), 제2구동전압(DVDD)을 생성하는 제2전원공급부(LDO) 및 제3구동전압(VBL)을 생성하는 제3전원공급부(LED IC) 등이 포함된다.

제1커넥터(IF CNT)는 액정패널(160)의 커넥터에 접속된다. 제2커넥터(P/G CNT)는 외부 신호원(180)의 케이블 등에 접속된다. 제2커넥터(P/G CNT)는 외부 신호원(180)으로부터 공급된 각종 신호(Signal)를 제1커넥터(IF CNT)에 전달한다. 외부 신호원(180)으로부터 공급된 각종 신호(Signal)는 액정패널(160)에 대한 검사나 에이징 등을 포함하는 각종 테스트를 수행할 수 있는 신호로 선택된다.

표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(미도시)가 체결되면 외부 신호원(180)으로부터 공급된 각종 신호(Signal)와 전원공급부(195)로부터 생성된 전원은 액정패널(160)에 전달된다.

그런데, 종래에 제안된 표시장치의 테스트장치(190)는 작업자가 외부 신호원(180)이나 표시장치의 테스트장치(190)의 전원을 차단하지 않고 표시장치의 테스트장치(190)와 액정패널(160)에 형성된 커넥터를 체결하면 순간적인 전기적 접촉으로 과전류나 과전압 등이 발생한다. 이 경우, 종래에 제안된 표시장치의 테스트장치(190)는 과전류나 과전압 등에 의해 기인하는 정전기 방전(ESD)이나 전기적 과부하 스트레스(EOS)를 유발하여 액정패널(160)을 손상시키는 문제가 있다.

[본 발명의 제1실시예]

도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 테스트장치(190)에는 전원공급부(195), 제1 및 제2커넥터(IF CNT, P/G CNT), 전원 접속부(DC Jack), 버퍼부(BUF) 및 스위치부(S/W) 등이 포함된다.

전원공급부(195), 제1 및 제2커넥터(IF CNT, P/G CNT), 전원 접속부(DC Jack), 버퍼부(BUF) 및 스위치부(S/W) 등은 액정패널(160, LCM)과 별도로 구분된 인터페이스기판(또는 인터페이스보드) 상에 형성된다.

버퍼부(BUF)는 제2전원공급부(LDO)로부터 출력된 제2구동전압(DVDD)를 기반으로 제2커넥터(P/G CNT)를 통해 공급된 각종 신호(Signal)를 드라이빙하여 제1커넥터(IF CNT)로 전달한다. 제2커넥터(P/G CNT)를 통해 공급된 각종 신호(Signal)는 전송선로의 길이가 길어짐에 따라 신호의 왜곡이나 잡음 등에 의한 영향을 받을 수 있다. 버퍼부(BUF)는 신호의 왜곡이나 잡음 등에 의한 영향을 최소화하기 위해 제2커넥터(P/G CNT)를 통해 공급된 각종 신호(Signal, Data & Control Signal)의 세기를 증폭시킨다. 그러나, 버퍼부(BUF)는 표시장치의 테스트장치(190)의 크기에 따라 생략될 수도 있다.

스위치부(S/W)는 전원 접속부(DC Jack)와 전원공급부(195) 사이에 위치한다. 스위치부(S/W)는 적어도 3개의 단자를 갖는다. 스위치부(S/W)의 제1단자는 전원 접속부(DC Jack)의 출력단에 연결되고 스위치부(S/W)의 제2단자는 전원공급부(195)의 입력단에 연결되고 스위치부(S/W)의 제3단자는 제1커넥터(IF CNT)에 연결된다.

스위치부(S/W)는 표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT) 간의 체결 여부에 따라 턴온 또는 턴오프된다. 즉, 전원 접속부(DC Jack)를 통해 공급되는 전원은 스위치부(S/W)가 턴온되어야만 전원공급부(195)로 공급된다.

표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT)가 미체결되면 스위치부(S/W)는 턴오프(High: Off)된다. 즉, 스위치부(S/W)의 제3단자는 로직하이신호나 플로팅 상태가 되면 턴오프된다.

반면, 표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT)가 체결되면 스위치부(S/W)는 턴온(Low: On)된다. 즉, 스위치부(S/W)의 제3단자는 로직로우신호나 그라운드 이하의 전압이 공급되면 턴온된다.

제1커넥터(IF CNT)나 제3커넥터(LCM CNT)에는 그라운드전압을 전달하는 그라운드라인들(GND)에 연결된 핀들이 존재한다. 제1커넥터(IF CNT)의 핀들에 연결된 그라운드라인들(GND)은 표시장치의 테스트장치(190) 상에서 상호 연결되고, 제3커넥터(LCM CNT)의 핀들에 연결된 그라운드라인들(GND)은 액정패널(160) 상에서 상호 연결된다.

제1커넥터(IF CNT)의 핀들 중 그라운드라인들(GND)에 연결된 제N번째 핀을 스위치부(S/W)의 제3단자와 연결되도록 할당하고, 다른 그라운드라인들(GND)과 전기적으로 분리시킨다. 여기서, 제1커넥터(IF CNT)의 제N번째 핀은 제3커넥터(LCM CNT)의 제N번째 핀에 대응하여 위치하고, 제3커넥터(LCM CNT)의 제N번째 핀은 액정패널(160) 상에서 다른 그라운드라인들(GND)과 연결된 핀이다.

그러므로, 제1커넥터(IF CNT)와 제3커넥터(LCM CNT)가 체결되면 제1커넥터(IF CNT)를 통해 공급된 그라운드전압은 제3커넥터(LCM CNT)를 경유하여 스위치부(S/W)의 제3단자로 공급된다. 그리고, 스위치부(S/W)는 자신의 제3단자로 공급 그라운드전압에 대응하여 턴온(Low: On)된다.

한편, 본 발명의 제1실시예에서는 발명의 이해를 돕고자 스위치부(S/W)가 전기적인 전압이나 신호의 인가 여부에 대응하여 턴온 또는 턴오프되는 것을 일례로 설명하였다. 그러나, 스위치부(S/W)는 표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT)가 체결되면 턴온되도록 구성할 수 있는바, 이는 물리적 또는 기계적 스위치로 구성될 수도 있다.

<제2실시예>

도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면이며, 도 7은 도 6의 일부를 구체화한 도면이다.

도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 테스트장치(190)에는 전원공급부(195), 제1 및 제2커넥터(IF CNT, P/G CNT), 전원 접속부(DC Jack), 버퍼부(BUF) 및 스위치부(S/W) 등이 포함된다.

전원 접속부(DC Jack)의 전원라인(VL)은 제1커넥터(IF CNT)의 제N-1번째 핀에 연결되고 제3커넥터(LCM CNT)의 제N-1번째 핀과 제N번째 핀을 경유하여 제1커넥터(IF CNT)의 제N번째 핀으로 돌아온 후 스위치부(S/W)의 제3단자에 연결되도록 배선된다. 그리고 스위치부(S/W)는 트랜지스터(FET) 등으로 구성된다.

표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT)가 미체결되면 스위치부(S/W)는 턴오프된다. 이 경우, 전원 접속부(DC Jack)의 전원라인(VL)을 통해 출력된 전원(Vol)은 제1커넥터(IF CNT)와 제3커넥터(LCM CNT)를 경유하여 스위치부(S/W)로 돌아오지 못한다. 그러므로, 스위치부(S/W)의 제3단자에는 전원(Vol)이 미공급되기 때문에 턴오프된다.

반면, 표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT)가 체결되면 스위치부(S/W)는 턴온된다. 이 경우, 전원 접속부(DC Jack)의 전원라인(VL)을 통해 출력된 전원(Vol)은 제1커넥터(IF CNT)와 제3커넥터(LCM CNT)를 경유하여 스위치부(S/W)로 돌아온다. 그러므로, 스위치부(S/W)의 제3단자에는 전원(Vol)이 공급되기 때문에 턴온된다.

그러므로, 제1커넥터(IF CNT)와 제3커넥터(LCM CNT)가 체결되면 제1커넥터(IF CNT)를 통해 공급된 전원(Vol)은 제3커넥터(LCM CNT)를 경유하여 스위치부(S/W)의 제3단자로 공급된다. 그리고, 스위치부(S/W)는 자신의 제3단자로 공급 전원(Vol)에 대응하여 턴온된다.

한편, 전원 접속부(DC Jack)의 전원라인(VL)을 통해 출력된 전원(Vol)은 스위치부(S/W)를 구성하는 트랜지스터(FET)의 타입에 대응하여 선택된다. 예컨대, 스위치부(S/W)를 구성하는 트랜지스터(FET)의 타입이 N타입인 경우, 전원라인(VL)을 통해 출력된 전원(Vol)은 고전위전압(또는 고전위전원)이 된다. 반면, 스위치부(S/W)를 구성하는 트랜지스터(FET)의 타입이 P타입인 경우, 전원라인(VL)을 통해 출력된 전원(Vol)은 그라운드전압이 된다.

<제3실시예>

도 8은 본 발명의 제3실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 표시장치의 테스트장치(190)에는 전원공급부(195), 제1 및 제2커넥터(IF CNT, P/G CNT), 전원 접속부(DC Jack), 버퍼부(BUF), 스위치부(S/W) 및 스위치 제어부(Micom) 등이 포함된다.

전원공급부(195), 제1 및 제2커넥터(IF CNT, P/G CNT), 전원 접속부(DC Jack), 버퍼부(BUF), 스위치부(S/W) 및 스위치 제어부(Micom) 등은 액정패널(160, LCM)과 별도로 구분된 인터페이스기판(또는 인터페이스보드) 상에 형성된다.

전원공급부(195)는 전원 접속부(DC Jack)를 통해 외부 신호원(180)과 접속된다. 전원공급부(195)에는 제1구동전압(AVDD)을 생성하는 제1전원공급부(DC/DC), 제2구동전압(DVDD)을 생성하는 제2전원공급부(LDO2), 제3구동전압(VBL)을 생성하는 제3전원공급부(LED IC) 및 제4구동전압(Vcc)을 생성하는 제4전원공급부(LDO1) 등이 포함된다.

스위치부(S/W)는 전원 접속부(DC Jack)와 전원공급부(195) 사이에 위치한다. 스위치부(S/W)는 적어도 3개의 단자를 갖는다. 스위치부(S/W)의 제1단자는 전원 접속부(DC Jack)의 출력단에 연결되고 스위치부(S/W)의 제2단자는 전원공급부(195)의 입력단에 연결되고 스위치부(S/W)의 제3단자는 스위치 제어부(Micom)의 출력단에 연결된다.

제4전원공급부(LDO1)는 전원 접속부(DC Jack)로부터 공급된 전원에 대응하여 제4구동전압(Vcc)을 대기 전원으로 생성한다. 스위치 제어부(Micom)는 제4전원공급부(LDO1)의 출력단에 전원단이 연결된다. 즉, 스위치 제어부(Micom)는 제4전원공급부(LDO1)로부터 출력된 제4구동전압(Vcc)을 입력 전원으로 사용한다.

풀업저항(Pull-up 저항)의 일단은 스위치 제어부(Micom)의 입출력 핀 중 하나에 연결된다. 또한, 풀업저항(Pull-up 저항)의 일단은 제1커넥터(IF CNT)의 핀들 중 제3커넥터(LCM CNT)의 그라운드라인(GND)과 연결되는 제N번째 핀에 연결된다. 풀업저항(Pull-up 저항)의 타단은 스위치 제어부(Micom)의 전원단과 제4전원공급부(LDO1)의 출력단에 연결된다.

한편, 스위치 제어부(Micom)는 프로그래밍이 가능한 마이컴 등으로 구성된다. 스위치 제어부(Micom)의 내부에는 풀업저항(Pull-up 저항)의 일단에 연결된 입출력핀을 통해 공급된 신호에 대응하여 스위치부(S/W)를 턴온 또는 턴오프하는 신호를 출력하도록 프로그래밍 된다.

스위치 제어부(Micom)는 풀업저항(Pull-up 저항)을 통해 제4구동전압(Vcc)을 공급받게 되므로, 디폴트(default)로 로직하이(High) 상태가 된다.

그러므로, 표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT)가 미체결되면, 풀업저항(Pull-up 저항)의 일단에 로직하이신호(High)에 대응되는 신호나 전원이 공급되므로 스위치 제어부(Micom)는 스위치부(S/W)를 턴오프하는 스위치 비활성화신호를 출력한다.

반면, 표시장치의 테스트장치(190)의 제1커넥터(IF CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(LCM CNT)가 체결되면, 풀업저항(Pull-up 저항)의 일단에 로직로우신호(Low)에 대응되는 신호나 전원이 공급되므로 스위치 제어부(Micom)는 스위치부(S/W)를 턴온하는 스위치 활성화신호(Enable)를 출력한다. 한편, 스위치 제어부(Micom)로부터 출력되는 스위치 활성화신호(Enable)는 지연(delay) 시간을 갖고 출력되도록 프로그래밍될 수 있다.

한편, 본 발명의 제1 내지 제3실시예에서는 표시장치의 테스트장치(190)가 액정패널(160)과 구분된 별도의 인터페이스기판(또는 인터페이스보드) 형태로 제작되고 케이블과 커넥터를 통해 체결되는 것을 일례로 하였다. 그러나, 표시장치의 테스트장치(190)는 액정패널(160)과 연결된 인쇄회로기판이나 사용자회로기판 등에 형성될 수도 있는바 이하에서는 이를 예로 설명한다.

<제4실시예>

도 9는 본 발명의 제4실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제4실시예에 따른 표시장치의 테스트장치(161)에는 전원공급부(165), 제3커넥터(LCM CNT) 및 스위치부(S/W) 등이 포함된다.

전원공급부(165), 제3커넥터(LCM CNT) 및 스위치부(S/W) 등은 액정패널(160)과 연결된 인쇄회로기판 상에 형성된다. 인쇄회로기판은 타이밍제어부 등이 실장되는 회로보드로 정의될 수도 있다. 즉, 표시장치의 테스트장치(161)는 액정패널(160)과 함께 모듈 형태로 제작된다.

전원공급부(165)는 액정패널(160)에서 요구하는 전원을 생성한다. 전원공급부(165)는 자체적으로 전원을 생성하지 않고 사용자 시스템(200)으로부터 공급된 전원을 기반으로 액정패널(160)에서 요구하는 N(N은 1 이상 정수)개의 다양한 레벨의 전원을 생성한다.

전원공급부(165)는 제3커넥터(LCM CNT)를 통해 사용자 시스템(200)과 접속된다. 전원공급부(165)에는 제1구동전압(AVDD, VGH, VGL)을 생성하는 제1전원공급부(DC/DC), 제2구동전압(DVDD)을 생성하는 제2전원공급부(LDO2) 및 제3구동전압(VLED)을 생성하는 제3전원공급부(LED IC) 등이 포함된다.

제3커넥터(LCM CNT)는 사용자 시스템(200)에 접속된다. 제3커넥터(LCM CNT)는 사용자 시스템(200)의 제4커넥터(USR CNT) 등을 통해 접속된다. 사용자 시스템(200)은 사용자가 제작한 사용자회로기판 등으로 구성된다.

사용자 시스템(200)은 외부 신호원과 연결되고 외부 신호원으로부터 공급된 각종 신호(Signal)나 전원을 표시장치의 테스트장치(161)의 제3커넥터(LCM CNT)로 전달한다. 외부 신호원으로부터 공급된 각종 신호(Signal)는 액정패널(160)에 대한 검사나 에이징 등을 포함하는 각종 테스트를 수행할 수 있는 신호로 선택된다. 사용자 시스템(200)에는 각종 신호(Signal)의 왜곡이나 잡음 등에 의한 영향을 최소화하기 위한 버퍼부(BUF)가 위치할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.

사용자 시스템(200)의 제4커넥터(USR CNT)에 연결된 핀들 중 하나인 제N번째 핀은 그라운드전압을 전달하는 그라운드라인(GND)에 연결된다. 사용자 시스템(200)의 제4커넥터(USR CNT)에 연결된 핀들 중 하나인 제N+2번째 핀은 전원을 전달하는 고전위전압라인(VCC, VBL)에 연결된다.

스위치부(S/W)는 제3커넥터(LCM CNT)와 전원공급부(195) 사이에 위치한다. 스위치부(S/W)는 적어도 3개의 단자를 갖는다. 스위치부(S/W)의 제1단자는 제3커넥터(LCM CNT)의 핀들 중 하나인 제N+2번째 핀에 연결되고 스위치부(S/W)의 제2단자는 전원공급부(195)의 입력단에 연결되고 스위치부(S/W)의 제3단자는 제3커넥터(LCM CNT)의 핀들 중 하나인 제N번째 핀에 연결된다. 스위치부(S/W)는 로직하이신호나 플로팅 상태가 되면 턴오프되고, 로직로우신호나 그라운드전압이 공급되면 턴온된다.

스위치부(S/W)는 표시장치의 테스트장치(161)의 제3커넥터(LCM CNT)와 사용자 시스템(200) 간의 체결 여부에 따라 턴온 또는 턴오프된다. 즉, 제3커넥터(LCM CNT)를 통해 공급되는 전원은 스위치부(S/W)가 턴온되어야만 전원공급부(195)로 공급된다.

표시장치의 테스트장치(161)의 제3커넥터(LCM CNT)와 사용자 시스템(200)의 제4커넥터(USR CNT)가 미체결되면, 스위치부(S/W)는 로직하이신호나 플로팅 상태가 되므로 턴오프된다.

반면, 표시장치의 테스트장치(161)의 제3커넥터(LCM CNT)와 사용자 시스템(200)의 제4커넥터(USR CNT)가 체결되면, 스위치부(S/W)는 로직로우신호나 그라운드전압을 공급받게 되므로 턴온된다. 이 경우, 사용자 시스템(200)의 제4커넥터(USR CNT)에 연결된 제N+2번째 핀과 표시장치의 테스트장치(161)의 제3커넥터(LCM CNT)에 연결된 제N+2번째 핀은 전기적으로 연결된다. 그리고 표시장치의 테스트장치(161)의 제3커넥터(LCM CNT)에 연결된 제N+2번째 핀을 통해 공급된 전원은 스위치부(S/W)를 통해 전원공급부(165)에 공급된다.

한편, 스위치부(S/W)가 능동소자나 마이컴 등으로 구성된 경우, 스위치부(S/W)를 통해 출력되는 전원은 지연(delay) 시간을 갖고 출력되므로 전원공급부(165)를 소프트 스타트(Soft Start)시킬 수 있다.

<제5실시예>

도 10은 본 발명의 제5실시예에 따른 표시장치의 테스트장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 10에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제5실시예에 따른 표시장치의 테스트장치(261)에는 전원공급부(265), 제4커넥터(USR CNT), 버퍼부(BUF) 및 스위치부(S/W) 등이 포함된다.

전원공급부(265), 제4커넥터(USR CNT), 버퍼부(BUF) 및 스위치부(S/W) 등은 액정패널(160)과 별도로 구분된 사용자회로기판 상에 형성된다.

전원공급부(265)는 액정패널(160)에서 요구하는 전원을 생성한다. 전원공급부(265)는 자체적으로 전원을 생성하지 않고 표시장치의 테스트장치(261)에 형성된 내부 신호원 또는 외부 신호원으로부터 공급된 전원을 기반으로 액정패널(160)에서 요구하는 N(N은 1 이상 정수)개의 다양한 레벨의 전원을 생성한다.

전원공급부(265)에는 제1구동전압을 생성하는 제1전원공급부(DC/DC), 제2구동전압을 생성하는 제2전원공급부(LDO) 및 제3구동전압을 생성하는 제3전원공급부(LED IC) 등이 포함된다.

제4커넥터(USR CNT)는 액정패널(160)의 제3커넥터(미도시)와 접속된다. 액정패널(160)은 제4커넥터(USR CNT)를 통해 각종 신호(Signal)와 전원을 공급받는다. 외부 신호원으로부터 공급된 각종 신호(Signal)는 액정패널(160)에 대한 검사나 에이징 등을 포함하는 각종 테스트를 수행할 수 있는 신호로 선택된다.

제4커넥터(USR CNT)의 핀들 중 하나인 제N번째 핀은 액정패널(160)의 제3커넥터(미도시)와 접속시 로직로우신호나 그라운드전압(GND)이 전달된다. 로직로우신호나 그라운드전압(GND)은 각종 신호(Signal)를 기반으로 생성되거나 제4커넥터(USR CNT)로부터 출력된 그라운드전압(GND)이 액정패널(160)의 제3커넥터(미도시)를 경유하여 되돌아온 것일 수 있다.

버퍼부(BUF)는 제2전원공급부(LDO)로부터 출력된 제2구동전압를 기반으로 외부 신호원 또는 내부 신호원을 통해 공급된 각종 신호(Signal)를 드라이빙하여 제4커넥터(USR CNT)로 전달한다. 버퍼부(BUF)는 신호의 왜곡이나 잡음 등에 의한 영향을 최소화하기 위해 각종 신호(Signal, Data & Control Signal)의 세기를 증폭시킨다. 그러나, 버퍼부(BUF)는 표시장치의 테스트장치(200)의 크기에 따라 생략될 수도 있다.

전원공급부(265)는 스위치부(S/W)를 통해 전원을 공급받는다. 스위치부(S/W)는 외부 신호원 또는 내부 신호원과 전원공급부(195) 사이에 위치한다. 스위치부(S/W)는 적어도 3개의 단자를 갖는다. 스위치부(S/W)의 제1단자는 외부 신호원 또는 내부 신호원에 연결되고 스위치부(S/W)의 제2단자는 전원공급부(195)의 입력단에 연결되고 스위치부(S/W)의 제3단자는 제4커넥터(USR CNT)의 핀들 중 하나인 제N번째 핀에 연결된다. 스위치부(S/W)는 로직하이신호나 플로팅 상태가 되면 턴오프되고, 로직로우신호나 그라운드전압이 공급되면 턴온된다.

스위치부(S/W)는 표시장치의 테스트장치(200)의 제4커넥터(USR CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(미도시) 간의 체결 여부에 따라 턴온 또는 턴오프된다. 즉, 외부 신호원 또는 내부 전원을 통해 공급되는 전원은 스위치부(S/W)가 턴온되어야만 전원공급부(195)로 공급된다.

표시장치의 테스트장치(200)의 제4커넥터(USR CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(미도시)가 미체결되면, 스위치부(S/W)는 로직하이신호나 플로팅 상태가 되므로 턴오프(High: S/W Off)된다. 즉, 스위치부(S/W)의 제3단자는 로직하이신호나 플로팅 상태가 되면 턴오프된다.

반면, 표시장치의 테스트장치(200)의 제4커넥터(USR CNT)와 액정패널(160)의 제3커넥터(미도시)가 체결되면, 스위치부(S/W)는 로직로우신호나 그라운드전압을 공급받게 되므로 턴온(Low: S/W On)된다. 즉, 스위치부(S/W)의 제3단자는 로직로우신호나 그라운드 이하의 전압이 공급되면 턴온된다.

이상 본 발명의 실시예들에 따른 표시장치의 테스트장치는 표시패널과 물리적 또는 전기적(또는 물리적 및 전기적)으로 체결되어야만 전원공급부에 전원이 공급된다. 따라서, 작업자는 외부 신호원이나 표시장치의 테스트장치의 전원을 수동으로 차단하거나 공급하지 않아도 된다. 그러므로, 본 발명의 실시예들에 따른 표시장치의 테스트장치는 정전기 방전(ESD)이나 전기적 과부하 스트레스(EOS)로 표시패널이 손상되는 문제를 방지할 수 있는 효과가 있다.

이상 본 발명의 실시예들에 따르면, 각종 지그(Jig)류와 표시패널 간의 체결 시 작업자 주의 사항을 설계적으로 해결하고, 각종 지그류 체결 과정에서 발생 가능한 문제를 방지하고, 표시패널 모듈의 불량율 저감하여 잠재적인 불량을 가진 표시패널의 유출을 방지(고객 만족)할 수 있는 효과가 있다. 한편, 본 발명의 실시예들은 하나 이상 조합하여 다른 형태로 구성할 수도 있다.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

130: 타이밍제어부 140: 게이트구동부
150: 데이터구동부 160: 액정패널
DC Jack: 전원 접속부 BUF: 버퍼부
S/W: 스위치부 Micom: 스위치 제어부
IF CNT, P/G CNT, LCM CNT, USR CNT: 커넥터

Claims

표시패널과 체결되고 상기 표시패널에 적어도 하나의 테스트 신호와 복수 레벨의 전원을 공급하는 커넥터;
상기 복수 레벨의 전원을 생성하는 전원공급부; 및
상기 표시패널과 체결될 경우 상기 복수레벨의 전원이 출력되도록 턴온되는 스위치부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
삭제
제1항에 있어서,
상기 스위치부는
로직로우신호 또는 그라운드전압이 공급되면 턴온되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
제1항에 있어서,
상기 스위치부는
상기 표시패널과 커넥터를 통한 체결시 상기 표시패널로부터 공급된 신호나 전압에 대응하여 턴온되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
제1항에 있어서,
상기 전원공급부는 외부 신호원 및 내부 신호원 중 어느 하나로부터 출력된 전원을 기반으로 상기 복수 레벨의 전원을 생성하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
제5항에 있어서,
상기 스위치부의 제1단자는 상기 외부 신호원 및 상기 내부 신호원 중 어느 하나에 연결되고,
상기 스위치부의 제2단자는 상기 전원공급부의 입력단에 연결되고,
상기 스위치부의 제3단자는 상기 커넥터에 연결된 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치
제6항에 있어서,
상기 커넥터와 상기 표시패널이 체결되면,
상기 외부 신호원 및 상기 내부 신호원 중 어느 하나로부터 출력된 고전위전압 또는 그라운드전압은 상기 표시패널을 경유하여 상기 스위치부로 공급되고,
상기 스위치부는 상기 고전위전압 또는 상기 그라운드전압에 대응하여 턴온되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
제1항에 있어서,
상기 스위치부를 제어하는 스위치 제어부를 더 포함하고,
상기 스위치 제어부는
상기 커넥터와 상기 표시패널이 체결되면 상기 스위치부를 턴온하는 활성화신호를 출력하고,
상기 커넥터와 상기 표시패널이 미체결되면 상기 스위치부를 턴오프하는 비활성화신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
제8항에 있어서,
상기 스위치 제어부는
지연 시간을 갖고 상기 활성화신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
삭제