KR20120046972A - 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 및 방법 - Google Patents

액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치는 동일 기종 또는 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 데이터를 생성하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 인가하는 테스트 칩; 상기 복수의 타이밍 컨트롤러가 실장되는 복수의 테스트 소켓; 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 구동을 위한 기준 클럭을 생성하여, 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 공급하는 클럭 생성부; 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 테스트 결과를 표시하는 표시부;를 포함하고, 상기 테스트 칩은 상기 테스트 데이터에 따른 테스트 출력 신호들을 상기 복수의 타이밍 컨트롤러로부터 수신하고, 수신된 테스트 출력 신호들 각각과 기준 신호를 비교하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 정상 또는 불량을 판별하는 것을 특징으로 한다.

Description

액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 및 방법{TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TIMMING CONTROLLER OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}
본 발명은 액정 표시장치에 관한 것으로, 특히 액정 표시장치의 제조효율은 높이고, 제조비용을 절감시킬 수 있는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.
이동통신 단말기, 노트북 컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 평판 표시장치(Flat Panel Display Device)에 대한 요구가 점차 증대되고 있다.
평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display Device), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display Device) 등이 연구되고 있다.
평판 표시장치 중에서 액정 표시장치는 양산 기술의 발전, 구동수단의 용이성, 저전력 소비, 얇은 두께, 고화질 구현 및 대화면 구현의 장점으로 확고한 시장을 확보하고 있으며, 적용 분야가 계속 확대되고 있다.
이러한, 액정 표시장치는 각 화소 별로 화소전극과 공통전극 사이에 형성된 전계에 따라 액정의 배열 상태가 변화되고, 상기 액정의 배열을 통해 백라이트 유닛으로부터 공급되는 광의 투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다.
액정 표시장치는 액정 패널을 구동시키기 위한 구동 회로부를 포함한다. 구동 회로부는 게이트 라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이버(G-IC); 데이터 라인들에 영상 신호에 따른 데이터 전압을 공급하기 위한 데이터 드라이버(D-IC); 상기 게이트 드라이버 및 데이터 드라이버에 제어신호를 공급함과 아울러, 상기 데이터 드라이버에 영상 데이터를 공급하는 타이밍 컨트롤러(T-con); 상기 액정 패널에 광을 공급하는 광원(백라이트)을 구동시키는 백라이트 구동부;를 포함한다.
이러한 구동 회로부 중에서 타이밍 컨트롤러는 일반적으로 10인치 이상의 액정 패널이 적용되는 액정 표시장치에 적용되며, 액정 패널을 구동시키기 위한 핵심 구성이다.
액정 표시장치는 게이트 라인에 스캔 신호를 순차적으로 공급하므로, 액정 패널에 영상 데이터가 공급되는 과정에서 시간차가 발생하게 되고, 이러한 시간차는 화면의 잔상(끌림 현상)과 같은 화질 저하의 요인이 된다. 타이밍 컨트롤러는 데이터 공급의 타이밍 및 제어 신호들의 공급을 일괄적으로 제어하여 영상의 화질을 최적화시키는 역할을 수행하다.
상술한 타이밍 컨트롤러는 액정 표시장치의 제조과정 중 웨이퍼 레벨(wafer lever)과 패키지 레벨(package level)에서 테스트가 이루어진다.
상기 웨이퍼 레벨에서 1회의 테스트를 진행하여 합격 판정된 타이밍 컨트롤러에 대해 패키지 레벨에서 개별 타이밍 컨트롤러에 대해 최종적으로 테스트를 수행하여 합격(good)과 불량(bad)를 판별하게 된다.
타이밍 컨트롤러는 액정 표시장치의 모델에 따라서 서로 상이한 특성을 가지는 여러 기종이 존재하게 되는데, 여러 기종의 타이밍 컨트롤러 각각에 대해 최적화된 테스트 시스템이 구비되어 있지 않다. 따라서, 공통적인 사항들에 대해서만 테스트가 이루어지고 있어 타이밍 컨트롤러의 풀 테스트가 수행되지 못하는 문제점이 있다.
또한, 액정 표시장치의 제조사에서는 고가의 자동 테스트 장비(ATE: Automatic Test Equipment)를 보유하고 있는 외부 업체에 비용을 지불하고 타이밍 컨트롤러의 테스트를 의뢰하고 있다. 이로 인한 타이밍 컨트롤러의 테스트 비용의 증가로 액정 표시장치의 제조비용이 증가되고, 타이밍 컨트롤러의 테스트에 장시간이 소요되어 제조효율이 저하되는 문제점이 있다.
최근에 들어, 액정 표시장치가 고속 구동함에 따라 고속 구동의 타이밍 컨트롤러가 적용되고 있지만, 종래 기술에서는 고속 구동 타이밍 컨트롤러를 테스트할 수 있는 테스트 시스템이 구비되지 않아 타이밍 컨트롤로의 풀 테스트가 이루어지지 못하는 문제점이 있다. 특히, 종래 기술의 AET 장비를 이용한 타이밍 컨트롤러 테스트 방법은 타이밍 컨트롤러의 테스트 항목과 타이밍 컨트롤러가 실장되는 구동 환경이 상이하여, 타이밍 컨트롤러의 기능(function)을 100% 커버할 수 없어 테스트 단계 및 실장 단계에서 예상치 못한 불량이 발생될 수 있는 문제점 있다.
이와 같이, 여러 기종의 타이밍 컨트롤러에 대해 풀 테스트가 이어지지 못함으로 인해, 타이밍 컨트롤러가 액정 표시장치에 실장된 이후, 테스트 단계에서 판별되지 못한 불량으로 인해 액정 표시장치의 구동 신뢰성이 낮아지는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 액정 표시장치의 제조효율을 높일 수 있는 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
본 발명은 상술한 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 액정 표시장치의 제조비용을 절감시킬 수 있는 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
본 발명은 상술한 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 타이밍 컨트롤러의 테스트 항목과 실제 구동환경을 일치시켜 타이밍 컨트롤러의 기능을 풀 테스트 할 수 있는 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
본 발명은 상술한 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 액정 표시장치의 구동 신뢰성을 향상시킬 수 있는 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
위에서 언급된 본 발명의 기술적 과제 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치는 동일 기종 또는 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 데이터를 생성하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 인가하는 테스트 칩; 상기 복수의 타이밍 컨트롤러가 실장되는 복수의 테스트 소켓; 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 구동을 위한 기준 클럭을 생성하여, 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 공급하는 클럭 생성부; 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 테스트 결과를 표시하는 표시부;를 포함하고, 상기 테스트 칩은 상기 테스트 데이터에 따른 테스트 출력 신호들을 상기 복수의 타이밍 컨트롤러로부터 수신하고, 수신된 테스트 출력 신호들 각각과 기준 신호를 비교하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 정상 또는 불량을 판별하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 방법은 테스트 칩을 이용하여 동일 기종 또는 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 데이터를 생성하고, 생성된 테스트 데이터를 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 인가하는 단계; 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 구동을 위한 기준 클럭을 생성하여, 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 공급하는 단계; 상기 테스트 데이터에 따른 테스트 출력 신호들을 상기 복수의 타이밍 컨트롤러로부터 수신하는 단계; 수신된 테스트 출력 신호들 각각과 기준 신호를 비교하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 정상 또는 불량을 판별하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 통해 액정 표시장치의 제조효율을 높일 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 통해 액정 표시장치의 제조비용을 절감시킬 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 통해 타이밍 컨트롤러의 테스트 항목과 실제 구동환경을 일치시켜 타이밍 컨트롤러의 기능(function)을 풀 테스트 할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 통해 여러 기종의 타이밍 컨트롤러들을 동시에 테스트하여 타이밍 컨트롤러의 테스트 효율을 향상시킬 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러의 테스트 장치 및 방법을 통해 타이밍 컨트롤러의 풀 테스트를 수행하여 액정 표시장치의 구동 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
위에서 언급된 본 발명의 특징 및 효과들 이외에도 본 발명의 실시 예들을 통해 본 발명의 또 다른 특징 및 효과들이 새롭게 파악될 수도 있을 것이다.
도 1은 액정 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면.
도 2 및 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러 테스트 장치를 나타내는 도면.
도 4 및 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러 테스트 방법을 나타내는 도면.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 타이밍 컨트롤러를 포함하는 액정 표시장치의 구성 및 동작방법에 대하여 간략하게 설명하고, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 및 방법에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 액정 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이고, 도 2 및 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러 테스트 장치를 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 액정 표시장치는 입력된 영상 데이터에 따라 화상을 표시하는 액정 패널; 액정 패널에 광을 공급하는 백라이트 유닛; 액정 패널 및 백라이트 유닛의 광원을 구동시키기 위한 구동 회로부를 포함하여 구성된다.
상기 액정 패널은 액정층을 사이에 두고 합착된 상부 기판과 하부 기판을 포함하며, 화상을 표시하는 복수의 화소(Pixel)들이 매트릭스 형태로 배열된다.
상부 기판은 복수의 화소 각각에 대응되도록 화소 영역을 정의하는 블랙 매트릭스; 상기 블랙 매트릭스에 의해 정의된 각 화소 영역에 형성된 적색(Red), 녹색(Green), 청색(Blue) 컬러필터;를 포함한다.
하부 기판은 복수의 게이트 라인(GL1~GLn)과 복수의 데이터 라인(DL1~DLm)을 포함하고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차에 의해 상기 복수의 화소가 정의된다.
상기 복수의 화소 각각은 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 형성되는 박막 트랜지스터(TFT) 및 스토리지 커패시터(Cst)를 포함한다. 상기 박막 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 게이트 라인과 접속되고, 소스 단자는 데이터 라인과 접속되며, 드레인 단자는 화소전극과 접속된다.
상기 상부기판 또는 하부기판에는 공통전극이 형성되고, 상기 박막 트랜지스터의 스위칭에 따라 화소전극에 공급된 데이터 전압(영상 데이터)과 공통전극에 공급된 공통전압(Vcom)을 통해 전계가 형성되어 각 화소의 액정이 구동된다.
백라이트 유닛은 상기 액정 패널에 광을 공급하기 위한 것으로, 광을 발생시키는 복수의 백라이트와, 상기 백라이트에서 발생된 광을 상기 액정 패널 방향으로 안내하고, 액정 패널에 조사되는 광의 효율을 향상시키는 광학 부재(도광판, 확산판, 확산 시트, 프리즘 시트, DBEF 필름)를 포함할 수 있다.
상기 복수의 백라이트는 CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp) 또는 LED(Light Emitting Diode)가 적용될 수 있으며, 백라이트 구동부의 제어에 따라 온-오프 타임(on-off time), 디밍(dimming)이 조절된다.
상기 구동 회로부는 게이트 드라이버(Gate Driver); 데이터 드라이버(Data Driver); 백라이트 구동부(인버터/LED Driver); 타이밍 컨트롤러(T-CON);를 포함한다.
타이밍 컨트롤러(T-con)는 수직/수평 동기신호(Vsync/Hsync) 및 클럭신호(CLK)들을 이용하여 게이트 드라이버의 제어를 위한 게이트 제어신호(GCS) 및 데이터 드라이버의 제어를 위한 데이터 제어신호(DCS)를 생성한다. 생성된 게이트 제어신호를 게이트 드라이버에 공급하고, 데이터 제어신호를 데이터 드라이버에 공급한다.
여기서, 상기 게이트 제어신호(GCS)는 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock) 및 게이트 출력 인에이블(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 데이터 제어신호(DCS)는 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블(SOE: Source Output Enable) 및 극성 제어신호(POL: Polarity) 등을 포함할 수 있다.
게이트 드라이버는 타이밍 컨트롤러(T-con)로부터 공급되는 게이트 제어신호(GCS)에 기초하여 액정 패널의 화소 각각에 형성된 박막 트랜지스터를 구동시키기 위한 스캔신호를 생성하고, 생성된 스캔신호를 복수의 게이트 라인들에 순차적으로 공급한다.
상기 데이터 드라이버는 상기 타이밍 컨트롤러(T-con)로부터 제공되는 디지털 영상 데이터(R, G, B)를 아날로그 데이터 전압으로 변환시킨다. 그리고, 상기 타이밍 컨트롤러(T-con)로부터 공급되는 데이터 제어신호(DCS)에 기초하여 각 화소의 박막 트랜지스터(TFT)가 턴-온되는 시간에 맞춰 변환된 데이터 전압을 복수의 데이터 라인들에 공급한다.
상기 백라이트 구동부는 액정 패널에서 표시되는 영상이 명확히 표현될 수 있도록 백라이트의 온-오프 타임 및 디밍을 제어한다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치(100)는 테스트 칩(110); 제1 분배기(120); 복수의 테스트 소켓(130); 제2 분배기(140); 클럭 생성부(150); 표시부(160); 및 입력부(170)를 포함하여 구성된다. 또한, 도면에 도시되지 않았지만, 복수의 타이밍 컨트롤러를 이송하는 이송 수단을 포함한다.
상기 구성들을 포함하는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치(100)는 액정 표시장치에 타이밍 컨트롤러(T-con)가 실장되는 레벨에서 테스트가 이루어지도록 하는 것으로 보드(board) 형태로 구현될 수 있다.
테스트 칩(110)은 다양한 액정 표시장치의 실장되는 여러 기종의 타이밍 컨트롤러(T-con 1 ~ T-con N)의 기능에 대한 풀 테스트가 가능하도록 구성된 것으로, 여러 기종의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 프로그램이 기동되는 메인 프로세서를 포함한다.
상기 여러 기종의 타이밍 컨트롤러의 기능에 대응되는 테스트 프로그램은 입력부(170)를 통해 테스트 칩(110)에 입력될 수도 있고, 테스트 칩(110)에 별도로 마련된 메모리(미도시)에 저장되어 있다가 상기 메인 프로세서로 입력될 수도 있다.
테스트 칩(110)은 입력부(170)를 통해 테스트가 이루어질 타이밍 컨트롤러의 정보(테스트가 이루어질 타이밍 컨트롤러의 개수, 각 타이밍 컨트롤러의 기종 데이터)가 입력되면, 상기 테스트 프로그림에 따라 테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 테스트 데이터(test data)를 생성하고, 생성된 테스트 데이터(test data)를 제1 분배기(120)로 출력한다.
여기서, 상기 복수의 테스트 소켓(130)에 실장된 타이밍 컨트롤러가 서로 상이한 기종인 경우, 테스트 칩(110)은 각 타이밍 컨트롤러의 기종에 따른 복수의 테스트 데이터를 생성한다. 그리고, 생성된 복수의 테스트 데이터를 상기 제1 분배기(142)를 통해 해당 타이밍 컨트롤러가 실장된 테스트 소켓(130)에 각각 공급한다.
또한, 테스트 칩(110)은 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트의 테스트를 위한 클럭 제어 신호를 클럭 생성부(150)에 공급한다.
제1 분배기(120)는 테스트 칩(110)으로부터 공급받은 테스트 데이터를 해당하는 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 분배하여 공급한다. 이를 위해 제1 분배기(120)위 복수의 테스트 소켓(130)은 복수의 라인을 통해 연결되어 있다.
복수의 테스트 소켓(130, S1~SN)은 도 3에 도시된 바와 같이 타이밍 컨트롤러가 실장되는 구성으로, 다수의 타이밍 컨트롤러를 동시에 테스트 할 수 있도록 제1 분배기(120)로부터 공급된 테스트 데이터를 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 입력 단자에 공급한다. 그리고, 복수의 타이밍 컨트롤러의 출력 단자로부터 테스트 출력 신호(test data output)를 테스트 칩(110)으로 공급한다.
상기 테스트 데이터는 상기 제1 분배기(120)를 통해 테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러에 동시에 공급될 수도 있고, 시간 분할 방식(time sharing system)을 이용하여 순차적으로 공급될 수도 있다.
이러한, 복수의 테스트 소켓(130)에는 동일 기종의 타이밍 컨트롤러들이 실장될 수 도 있고, 서로 상이한 기종의 타이밍 컨트롤러들이 실장될 수도 있다. 본 발명에서는 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러들도 동일 테스트 기간에 동시에 테스트가 이루어지도록 30개 ~ 40개의 테스트 소켓(130)을 포함한다.
그러나, 상기 테스트 소켓(130)의 개수에는 특별한 제한이 없으며, 액정 표시장치의 제조 회사별 타이밍 컨트롤러의 테스트 방식에 따라 상기 테스트 소켓(130)의 개수는 자유롭게 설계될 수 있다.
상기 복수의 테스트 소켓(130)의 출력 단자와 상기 테스트 칩(110)은 적어도 하나의 라인을 통해 연결되어 있으며, 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트 출력 신호(test data output)는 상기 복수의 테스트 소켓(130)의 출력 단자를 통해 테스트 칩(110)으로 공급된다.
클럭 생성부(150)는 테스트 칩(110)으로부터 공급된 클럭 제어 신호에 기초하여 복수의 타이밍 컨트롤러(T-con 1 ~ T-con N) 각각의 테스트를 위한 기준 클럭(R-CLK: reference clock)을 생성하고, 생성된 기준 클럭(R-CLK)을 제2 분배기(140)에 공급한다.
제2 분배기(140)는 복수의 라인을 통해 상기 복수의 테스트 소켓(130)과 연결되어 있으며, 클럭 생성부(150)로부터 공급된 기준 클럭(R-CLK)을 복수의 테스트 소켓(130)에 공급한다.
이때, 기준 클럭(R-CLK)은 상기 제2 분배기(140)를 통해 테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러에 동시에 공급될 수도 있고, 시간 분할 방식(time sharing system)을 이용하여 순차적으로 공급될 수도 있다.
여기서, 상기 복수의 테스트 소켓(130)에 실장된 타이밍 컨트롤러가 서로 상이한 기종인 경우, 클럭 생성부(150)는 각 타이밍 컨트롤러의 기종에 따른 복수의 기준 클럭을 생성한다. 그리고, 생성된 복수의 기준 클럭을 상기 제2 분배기(140)를 통해 해당 타이밍 컨트롤러가 실장된 테스트 소켓(130)에 각각 공급한다.
표시부(160)는 테스트가 이루어진 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 정상 또는 불량 여부를 표시하는 구성으로, LED와 같이 발광소자로 구성될 수 있다. 이때, 표시부(160)는 테스트 칩(110)으로부터 공급된 테스트 결과 데이터를 이용하여 타이밍 컨트롤러의 테스트 결과를 표시할 수 있다.
일 예로서, 표시부(160)는 상기 테스트 소켓(130)의 개수와 동일하게 복수의 표시기(160a ~ 160n)으로 구성될 수 있으며, 복수의 타이밍 컨트롤러 중 정상(good)으로 판별된 타이밍 컨트롤러는 초록색을 점등하여 테스트 결과를 표시하고, 불량(fail)으로 판별된 타이밍 컨트롤러는 적색을 점등하여 테스트 결과를 표시할 수 있다.
다른 예로서, 표시부(160)는 복수의 타이밍 컨트롤러 중에서 불량이 발생된 타이밍 컨트롤러가 실장된 테스트 소켓(130)의 번호를 바이너리(Binary) 방식으로로 표시하여 테스트 결과를 표시할 수도 있다.
도면에 도시되지 않았지만, 테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러는 핸들러(handler)와 같은 이송 수단에 의해 상기 복수의 테스트 소켓(130)에 로딩(loading)될 수 있다. 그리고, 테스트가 완료된 복수의 타이밍 컨트롤러는 정상 또는 불량 판별 결과에 따라서, 상기 핸들러에 의해 상기 복수의 테스트 소켓(130)에 언로딩(unloading)되어 이송될 수 있다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러 테스트 방법을 나타내는 도면이다. 이하, 도 4 및 도 5를 참조하여 발명의 실시 예에 따른 타이밍 컨트롤러 테스트 방법에 대하여 설명하기로 한다.
타이밍 컨트롤러는 액정 표시장치의 제조과정 중 웨이퍼 레벨(wafer lever)과 패키지 레벨(package level)에서 테스트가 이루어진다.
먼저, 웨이퍼 레벨에서 타이밍 컨트롤러의 테스트를 수행한다(S10).
이어서, S10의 테스트 결과, 합격 판정된 웨이퍼를 정상 웨이퍼로 분류한다(S20).
이어서, 합격 판정된 웨이퍼를 개별 타이밍 컨트롤러 단위로 컷팅하여 각각의 타이밍 컨트롤러를 패키지 조립한다(S30).
이어서, 상기 S10에서 합격 판정되어 패키징 된 복수의 타이밍 컨트롤러를 최종적으로 테스트를 실장 테스트 하여 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 대해 합격(good)과 불량(bad)를 판별한다(S40).
이때, 상기 S40의 실장 테스트는 복수의 타이밍 컨트롤러 각각이 액정 표시장치에 탑재되어 구동되는 실제 환경과 동일 조건하에서 기능의 테스트가 이루어지게 된다. 여기서, 동일 테스트 기간에 테스트가 이루어지는 복수의 타이밍 컨트롤러는 동일 기종일 수도 있고, 서로 상이한 기종일 수도 있다.
이어서, 테스트 결과에 따라 정상 판별된 타이밍 컨트롤러와 불량 판별된 타이밍 컨트롤러를 분류한다(S50).
도 3 및 5를 참조하여, 상기 S40의 테스트 방법에 대하여 구체적으로 설명하기로 한다.
핸들러와 같은 이송 수단을 이용하여 테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러를 복수의 테스트 소켓(130) 각각에 로딩한다.
이어서, 복수의 테스트 소켓(130)에 실장되어 테스트가 이루어질 타이밍 컨트롤러 각각의 정보를 입력부(170)를 통해 테스트 칩(110)에 공급한다(S41).
이어서, 테스트 칩에 기종 별 타이밍 컨트롤러의 테스트 프로그램을 입력한다(S42). 이때, 상기 테스트 프로그램은 입력부(170)를 통해 테스트 칩(110)에 입력될 수도 있고, 상기 테스트 칩(110)에 마련된 메모리에 저장된 테스트 프로그램을 테스트 칩(110)의 메인 프로세서에 입력할 수도 있다.
이어서, 테스트 칩(110)은 상기 제1 분배기(120)를 통해 테스트 데이터를 실장된 테스트 소켓(130)에 실장된 복수의 타이밍 컨트롤러 각각으로 출력한다.
또한, 테스트 칩(110)은 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트의 테스트를 위한 클럭 제어 신호를 클럭 생성부(150)에 공급하고, 클럭 생성부(150)는 테스트 칩(110)으로부터 공급된 클럭 제어 신호에 기초하여 복수의 타이밍 컨트롤러(T-con 1 ~ T-con N) 각각의 테스트를 위한 기준 클럭(R-CLK: reference clock)을 생성하여, 제2 분배기(140)를 통해 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 공급한다(S43).
구체적으로, 타이밍 컨트롤러 내부 LVDS 수신단(RX)에 6bit 또는 8bit의 입력 신호를 인가할 수 있도록 테스트 프로그램이 코딩(Coding)된 테스트 칩(110)에서 상기 타이밍 컨트롤러 수신단(RX)에 테스트 데이터를 인가한다.
이와 함께, 클럭 생성부(150)에서 복수의 타이밍 컨트롤러 각각을 구동시키는 기준 클럭(Reference Clock)을 생성하여, 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 인가한다.
여기서, 상기 복수의 테스트 소켓(130)에 실장된 타이밍 컨트롤러가 서로 상이한 기종인 경우, 테스트 칩(110)은 각 타이밍 컨트롤러의 기종에 따른 복수의 테스트 데이터를 생성한다. 그리고, 생성된 복수의 테스트 데이터를 상기 제1 분배기(142)를 통해 해당 타이밍 컨트롤러가 실장된 테스트 소켓(130)에 각각 공급한다.
이때, 상기 테스트 데이터는 상기 제1 분배기(120)를 통해 테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러에 동시에 공급될 수도 있고, 시간 분할 방식(time sharing system)을 이용하여 순차적으로 공급될 수도 있다.
상기 기준 클럭(R-CLK)은 상기 제2 분배기(140)를 통해 테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러에 동시에 공급될 수도 있고, 시간 분할 방식(time sharing system)을 이용하여 순차적으로 공급될 수도 있다.
상기 복수의 테스트 소켓(130)에 실장된 타이밍 컨트롤러가 서로 상이한 기종인 경우, 클럭 생성부(150)는 각 타이밍 컨트롤러의 기종에 따른 복수의 기준 클럭을 생성한다. 그리고, 생성된 복수의 기준 클럭을 상기 제2 분배기(140)를 통해 해당 타이밍 컨트롤러가 실장된 테스트 소켓(130)에 각각 공급한다.
테스트 칩(110)에서 복수의 타이밍 컨트롤러로 인가되는 테스트 데이터는 타이밍 컨트롤러 내부에서 Serializer / Deserializer 프로세싱(Processing) 과정이 이루어진다.
이어서, Serializer/Deserializer 프로세싱(Processing) 과정이 이루어진 후, Mini-LVDS 출력(TX) 블록(Block)에서 6bit 또는 8bit의 테스트 출력 신호(test data Output)로 출력되고, 테스트 출력 신호(test data Output)는 테스트 칩(110)에 인가된다. 이를 통해, 테스트 칩(110)은 복수의 타이밍 컨트롤러 각각으로부터 테스트 출력 신호(test data Output)를 수신한다(S44).
이어서, 테스트 칩(110)은 기준 신호와 복수의 타이밍 컨트롤러로부터 수신된 테스트 출력 신호(test data Output) 비교하여 복수의 타이밍 컨트롤러 각각이 실장 환경에서 정상 동작하는지를 판별한다(S45).
복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 테스트 결과, 정상으로 판별된 타이밍 컨트롤러는 표시부(160)를 통해 테스트 결과를 정상으로 표시한다(S46).
한편, 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 테스트 결과, 불량으로 판별된 타이밍 컨트롤러는 표시부(160)를 통해 테스트 결과를 불량으로 표시한다(S47).
이때, 표시부(160)는 LED와 같이 발광소자로 구성될 수 있으며, 테스트 칩(110)으로부터 공급된 테스트 결과 데이터를 이용하여 타이밍 컨트롤러의 테스트 결과를 표시할 수 있다.
일 예로서, 표시부(160)는 상기 테스트 소켓(130)의 개수와 동일하게 복수의 표시기(160a ~ 160n)으로 구성될 수 있으며, 복수의 타이밍 컨트롤러 중 정상(good)으로 판별된 타이밍 컨트롤러는 초록색을 점등하여 테스트 결과를 표시하고, 불량(fail)으로 판별된 타이밍 컨트롤러는 적색을 점등하여 테스트 결과를 표시할 수 있다.
다른 예로서, 표시부(160)는 복수의 타이밍 컨트롤러 중에서 불량이 발생된 타이밍 컨트롤러가 실장된 테스트 소켓(130)의 번호를 바이너리(Binary) 방식으로로 표시하여 타이밍 컨트롤러의 테스트 결과를 표시할 수도 있다.
이어서, 테스트가 완료된 복수의 타이밍 컨트롤러는 정상 또는 불량 판별 결과에 따라 분류하고, 핸들러에 의해 상기 복수의 테스트 소켓(130)에서 언로딩(unloading)되어 이송된다(S50).
일 예로서, 테스트가 완료된 복수의 타이밍 컨트롤러 중 정상 판별된 타이밍 컨트롤러는 정상 샘플 트레이(tray)에 언로딩하고, 불량 판별된 타이밍 컨트롤러는 불량 샘플 트레이에 언로딩할 수 있다.
상술한 S41 내지 S50의 과정을 반복 수행하여 다수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 효율적으로 수행할 수 있다. 이를 통해, 타이밍 컨트롤러의 테스트에 소요되는 비용 및 시간을 줄여 액정 표시장치의 제조효율을 높이고, 제조비용을 절감시킬 수 있다.
또한, 상기 테스트 칩(110)을 통해 여러 기종의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 데이터를 생성하고, 생성된 테스트 데이터를 통해 타이밍 컨트롤러의 테스트를 수행하여 기종이 상이한 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 동시에 수행할 수 있는 효과를 제공할 수 있다.
또한, 액정 표시장치에 실장되는 레벨에서 타이밍 컨트롤러의 기능에 대해 풀 테스트를 수행하여, 타이밍 컨트롤러의 정상 또는 불량을 판별함으로써 액정 표시장치의 구동 안정성을 확보할 수 있다.
상술한 설명에서는 평판 표지장치 중에서 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 및 방법에 대하여 설명하였다. 그러나, 본 발명의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 및 방법은 액정 표시장치에 한정되지 않고, 이외의 다른 평판 표시장치의 구동 칩에 대해서도 동일하게 적용될 수 있다.
본 발명이 속하는 기술분야의 당 업자는 상술한 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100: 타이밍 컨트롤러 테스트 장치 110: 테스트 칩
120: 제1 분배기 130: 테스트 소켓
140: 제2 분배기 150: 클럭 생성부
160: 표시부 170: 입력부

Claims (10)

  1. 동일 기종 또는 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 데이터를 생성하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 인가하는 테스트 칩;
    상기 복수의 타이밍 컨트롤러가 실장되는 복수의 테스트 소켓;
    상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 구동을 위한 기준 클럭을 생성하여, 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 공급하는 클럭 생성부;
    상기 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트 결과를 표시하는 표시부;를 포함하고,
    상기 테스트 칩은 상기 테스트 데이터에 따른 테스트 출력 신호들을 상기 복수의 타이밍 컨트롤러로부터 수신하고, 수신된 테스트 출력 신호들 각각과 기준 신호를 비교하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 정상 또는 불량을 판별하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 칩은 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 프로그램을 실장하고, 상기 테스트 프로그램을 이용하여 상기 테스트 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 칩으로부터 출력된 테스트 데이터를 분배하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러에 공급하는 제1 분배기; 및
    상기 클럭 생성부로부터 입력된 기준 클럭을 분배하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러에 공급하는 제2 분배기;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 테스트 칩은
    기준 클럭의 생성을 위한 클럭 제어 신호를 생성하고, 생성된 클럭 신호를 상기 클럭 생성부에 공급하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 표시부는
    복수의 타이밍 컨트롤러 중 정상으로 판별된 타이밍 컨트롤러와 불량으로 판별된 타이밍 컨트롤러를 분류하여 LED 점등을 통해 테스트 결과를 표시하거나, 또는
    복수의 타이밍 컨트롤러 중 정상으로 판별된 타이밍 컨트롤러와 불량으로 판별된 타이밍 컨트롤러가 실장된 테스트 소켓의 번호를 바이너리 방식으로 표시하는 것을 특징으로 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    테스트가 이루어질 복수의 타이밍 컨트롤러를 상기 테스트 소켓에 로딩하고, 테스트가 완료된 복수의 타이밍 컨트롤러를 테스트 결과에 따라 분류하여 언로딩하는 이송 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 장치.
  7. 테스트 칩을 이용하여 동일 기종 또는 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 데이터를 생성하고, 생성된 테스트 데이터를 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 인가하는 단계;
    상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 구동을 위한 기준 클럭을 생성하여, 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 공급하는 단계;
    상기 테스트 데이터에 따른 테스트 출력 신호들을 상기 복수의 타이밍 컨트롤러로부터 수신하는 단계;
    수신된 테스트 출력 신호들 각각과 기준 신호를 비교하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 정상 또는 불량을 판별하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 정상 또는 불량을 판별 결과에 기초하여, 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각의 테스트 결과를 시인 가능한 방식으로 표시하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 방법.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 테스트 칩에는 서로 다른 기종의 복수의 타이밍 컨트롤러의 테스트를 위한 테스트 프로그램이 실장되고, 상기 테스트 프로그램을 이용하여 상기 테스트 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 방법.
  10. 제 7 항에 있어서,
    제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 칩은 상기 기준 클럭의 생성을 위한 클럭 제어 신호를 생성하여 클럭 생성부에 공급하고,
    상기 클럭 생성부는 상기 클럭 제어 신호에 따라 상기 기준 클럭을 생성하여 상기 복수의 타이밍 컨트롤러 각각에 공급하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 타이밍 컨트롤러 테스트 방법.
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