KR20110064783A - 평판 표시장치 및 그의 테스트 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 평판 표시장치의 조립 공정시 발생되는 정전기가 표시영역의 내부로 유입되는 것을 방지함과 아울러 평판 표시장치의 조립 공정 후에도 언제든지 테스트 공정을 수행할 수 있도록 한 평판 표시장치 및 그의 테스트 방법에 관한 것으로, 평판 표시장치는 표시영역과 비표시영역을 가지는 기판; 상기 표시영역에 서로 교차하도록 형성된 복수의 게이트 배선과 복수의 데이터 배선; 상기 비표시영역에 형성되어 상기 복수의 게이트 배선에 게이트 신호를 순차적으로 공급하는 게이트 구동회로부; 상기 비표시영역에 실장되어 상기 복수의 데이터 배선에 데이터 신호를 공급함과 아울러 게이트 구동회로부의 구동을 제어하는 구동 집적회로; 및 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호와 상기 적어도 하나의 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하도록 상기 비표시영역에 형성된 테스트부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
평판 표시장치, 정전기, 테스트, 스위칭 소자, 게이트 신호, 데이터 신호

Description

평판 표시장치 및 그의 테스트 방법{FLAT PANEL DISPLAY AND TESTING METHOD THEREOF}
본 발명은 평판 표시장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 평판 표시장치의 조립 공정시 발생되는 정전기가 표시영역의 내부로 유입되는 것을 방지함과 아울러 평판 표시장치의 조립 공정 후에도 언제든지 테스트 공정을 수행할 수 있도록 한 평판 표시장치 및 그의 테스트 방법에 관한 것이다.
정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 유기 발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diodes Display) 및 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel) 등과 같은 평판 표시장치(Flat Panel Display)의 사용이 증가하고 있다.
일반적으로, 평판 표시장치 중 액정 표시장치는 서로 대향하여 일정한 셀-갭이 유지되도록 합착된 트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 기판과, 그 두 기판 사이의 일정한 셀-갭에 충진된 액정층으로 구성된 액정 표시패널과, 액정 표시패널을 구동시키기 위한 구동회로부와; 액정 표시패널의 하부에 배치되어 액정 표시패널에 광을 조사하는 백 라이트 유닛과; 백 라이트 유닛과 액정 표시패널을 수납하는 프레임과, 액정 표시패널의 가장자리와 프레임을 측면을 감싸도록 프레임에 체결되는 케이스를 포함하여 구성된다.
상기의 액정 표시장치는 최근 그 수요가 증가되고 있으며, 이러한 수요를 충족시키기 위하여 대량 생산되고 있는데, 제품의 대량생산에 있어서 중요한 문제 중 하나인 제품의 불량률을 최소화하기 위하여 각 제조 공정마다 테스트 공정을 진행하고 있다.
한편, 종래의 액정 표시장치의 제조 공정에서는 액정 표시패널에 제조된 후에는 점등 테스트를 수행하여 화소 불량을 테스트하게 된다. 이러한 점등 테스트를 실시하기 위해 구동 집적회로(Integrated Circuit)의 범프(Bump) 내에 테스트용 패드를 배치하고 테스트장치에 연결된 프로브로 콘택하는 방식을 사용하였다.
또한, 종래의 액정 표시장치의 제조 공정에서는 상기의 점등 테스트를 완료한 후, 백 라이트 유닛, 액정 표시패널, 구동 회로부 등을 프레임 내에 수납하고, 프레임에 케이스를 체결하는 조립 공정을 통해 최종적으로 액정 표시장치를 제품으로써 완성하게 된다.
그러나, 종래의 액정 표시장치의 제조 공정에서는 액정 표시장치의 조립 공정시 발생되는 정전기가 액정 표시패널의 내부 회로에 유입되어 내부 회로가 손상된다는 문제점이 있다.
상기와 같은 문제점은 액정 표시장치 이외의 평판 표시장치의 제조 공정에서도 동일하게 발생되게 된다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 평판 표시장치의 조립 공정시 발생되는 정전기가 표시영역의 내부로 유입되는 것을 방지함과 아울러 평판 표시장치의 조립 공정 후에도 언제든지 테스트 공정을 수행할 수 있도록 한 평판 표시장치 및 그의 테스트 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 표시장치는 표시영역과 비표시영역을 가지는 기판; 상기 표시영역에 서로 교차하도록 형성된 복수의 게이트 배선과 복수의 데이터 배선; 상기 비표시영역에 형성되어 상기 복수의 게이트 배선에 게이트 신호를 순차적으로 공급하는 게이트 구동회로부; 상기 비표시영역에 실장되어 상기 복수의 데이터 배선에 데이터 신호를 공급함과 아울러 게이트 구동회로부의 구동을 제어하는 구동 집적회로; 및 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호와 상기 적어도 하나의 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하도록 상기 비표시영역에 형성된 테스트부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상기 테스트부는 적어도 하나의 게이트 테스트 패드를 가지는 제 1 테스트 패드군; 적어도 하나의 데이터 테스트 패드를 가지는 제 2 테스트 패드군; 상기 테스트용 제어신호가 인가되는 테스트용 제어신호 인가 패드; 상기 테스트용 제어신호 인가 패드를 통해 인가되는 상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 적 어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 상기 제 1 테스트 패드군으로 출력하는 제 1 스위칭부; 및 상기 테스트용 제어신호 인가 패드를 통해 인가되는 상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 적어도 하나의 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 상기 제 2 테스트 패드군으로 출력하는 제 2 스위칭부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 표시장치의 테스트 방법은 표시영역과 비표시영역을 가지는 기판; 상기 표시영역에 서로 교차하도록 형성된 복수의 게이트 배선과 복수의 데이터 배선; 상기 비표시영역에 형성되어 상기 복수의 게이트 배선에 게이트 신호를 순차적으로 공급하는 게이트 구동회로부; 및 상기 비표시영역에 실장되어 상기 복수의 데이터 배선에 데이터 신호를 공급함과 아울러 게이트 구동회로부의 구동을 제어하는 구동 집적회로를 포함하여 구성된 평판 표시장치의 테스트 방법에 있어서, 테스트용 제어신호를 생성하는 단계; 상기 구동 집적회로와 상기 게이트 구동회로부를 구동하여 상기 복수의 게이트 배선에 상기 게이트 신호를 순차적으로 공급함과 동시에 상기 복수의 데이터 배선에 상기 데이터 신호를 공급하는 단계; 적어도 하나의 게이트 배선과 적어도 하나의 데이터 배선에 전기적으로 접속되도록 상기 비표시영역에 형성된 테스트부에 상기 테스트용 제어신호를 공급하는 단계; 및 상기 테스트용 제어신호에 의한 상기 테스트부의 스위칭에 따라 상기 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호와 상기 적어도 하나의 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 평판 표시장치 및 그의 테스트 방법은 표시영역에 형성되는 배선과 비표시영역에 형성되는 테스트 패드 사이에 테스트용 제어신호에 의해 스위칭되는 스위칭 소자를 형성함으로써 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 테스트용 제어신호에 따라 스위칭 소자를 제어하여 표시영역에 형성된 배선에 공급되는 신호를 출력할 수 있기 때문에 평판 표시장치의 조립 공정이 완료되어 최종적으로 제품이 생산된 이후에도 언제든지 테스트 공정을 수행할 수 있다는 효과가 있다.
둘째, 오프 상태의 스위칭 소자를 통해 조립 공정시 발생되는 정전기가 표시영역의 배선으로 유입되는 것이 차단하여 정전기로부터 내부 회로를 보호할 수 있다는 효과가 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대해 상세히 설명한다.
먼저, 본 발명은 평판 표시장치의 조립 공정시 발생되는 정전기가 표시패널의 내부 회로에 유입되는 것을 방지함과 아울러 평판 표시장치의 조립 공정 후에도 평판 표시장치에 대한 테스트 공정을 수행할 수 있도록 한 것으로, 이하에서는 평판 표시장치에 있어서, 표시패널의 트랜지스터 어레이 기판만을 예로 들어 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 평판 표시장치에 있어서, 표시패널의 트랜지스터 어레이 기판을 개략적으로 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 도 1에 도 시된 테스트부를 나타내는 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 평판 표시장치의 트랜지스터 어레이 기판은 기판(100), 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm)과 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn); 게이트 구동회로부(110); 구동 집적회로(120); 및 테스트부(130)를 포함하여 구성된다.
기판(100)은 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm)과 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn) 등의 내부 회로에 공급되는 신호에 따라 화상을 표시하는 표시영역(102), 및 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm)과 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn) 등의 내부 회로에 신호를 공급하는 회로들이 형성되는 비표시영역(104)을 포함하여 구성된다.
표시영역(102) 내에는 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm)과 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn)이 서로 교차하도록 일정한 간격으로 형성되고, 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm)과 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn)의 교차에 의해 정의되는 화소 영역마다 화소가 형성된다.
화소(P)는 하나의 게이트 배선(GL)과 하나의 데이터 배선(DL)에 접속된 박막 트랜지스터(T)를 포함하여 구성된다. 이러한, 화소(P)는 박막 트랜지스터(T)를 통해 데이터 배선(DL)으로부터 공급되는 데이터 신호에 대응되는 화상을 표시하게 된다. 예를 들어, 화소(P)는 박막 트랜지스터(T)를 통해 데이터 배선(DL)으로부터 공급되는 데이터 신호에 따라 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하는 액정셀이 될 수 있다. 다른 예로, 화소(P)는 박막 트랜지스터(T)를 통해 데이터 배 선(DL)으로부터 공급되는 데이터 신호에 대응되는 전류에 따라 발광함으로써 화상을 표시하는 발광셀이 될 수도 있다.
게이트 구동회로부(110)는 복수의 게이트 배선(GL)의 일측, 즉 표시영역(102)의 일측에 대응되는 비표시영역(104)의 기판(100)에 형성된다. 여기서, 게이트 구동회로(110)는 화소(P)에 형성되는 박막 트랜지스터(T)의 형성 공정과 동시에 형성된다. 이러한, 게이트 구동회로부(110)는 구동 집적회로(120)로부터 공급되는 게이트 제어신호에 따라 게이트 신호를 생성하여 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm)에 순차적으로 공급한다.
게이트 제어신호는 게이트 스타트 펄스, 게이트 쉬프트 클럭, 게이트 출력 인에이블, 게이트 하이 전압, 및 게이트 로우 전압 등이 될 수 있다.
구동 집적회로(120)는 표시영역(102)의 일측, 예를 들어 표시영역(102)의 하측에 대응되는 비표시영역(104)의 기판(100)에 실장된다. 이러한, 구동 집적회로(120)는 기판(100)에 부착된 연성 회로 기판(122)로부터 입력되는 전원, 타이밍 동기신호 등을 이용하여 화소(P)의 구동에 필요한 전압, 및 클럭 신호 등을 생성함과 아울러 게이트 구동회로부(110)의 구동을 제어하기 위한 게이트 제어신호를 생성하여 게이트 구동회로부(110)에 공급한다. 또한, 구동 집적회로(120)는 연성 회로 기판(122)로부터 입력되는 디지털 입력 데이터를 아날로그 데이터 신호로 변환하고, 변환된 데이터 신호를 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn)에 데이터 신호를 공급한다.
테스트부(130)는 표시영역(102)의 일측에 대응되는 비표시영역(104)의 기 판(100)에 형성된다. 이러한, 테스트부(130)는 테스트 공정시 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 첫 번째 데이터 배선(DL1) 및 마지막 데이터 배선(DLn) 각각에 공급되는 데이터 신호와, 마지막 게이트 배선(GLm)에 공급되는 게이트 신호를 출력한다.
이를 위해, 테스트부(130)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 제 1 테스트 패드군(131), 제 2 테스트 패드군(133), 테스트용 제어신호 인가 패드(135), 제 1 스위칭부(137), 및 제 2 스위칭부(139)를 포함하여 구성된다.
제 1 테스트 패드군(131)은 하나의 게이트 테스트 패드(131a)를 포함하도록 기판(100)의 비표시영역(104)에 형성된다.
제 2 테스트 패드군(133)은 제 1 및 제 2 데이터 테스트 패드(133a, 133b)를 포함하도록 기판(100)의 비표시영역(104)에 형성된다.
테스트용 제어신호 인가 패드(135)는 기판(100)의 비표시영역(104)에 형성되어 테스트 공정시 외부로부터 테스트용 제어신호가 인가된다.
제 1 스위칭부(137)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)를 통해 인가되는 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 마지막 게이트 배선(GLm)에 공급되는 게이트 신호를 게이트 테스트 패드(131a)로 출력하는 게이트 스위칭 소자(GS)를 포함하여 구성된다.
게이트 스위칭 소자(GS)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 전기적으로 접속되는 제어 단자, 마지막 게이트 배선(GLm)에 전기적으로 접속된 입력 단자, 및 게이트 테스트 패드(131a)에 전기적으로 접속된 출력 단자를 포함하여 구성된다. 여기서, 게이트 스위칭 소자(GS)는 NMOS형 박막 트랜지스터로 구성될 수 있다. 이러한, 게이트 스위칭 소자(GS)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 인가되는 하이(High) 상태의 테스트용 제어신호에 따라 턴-온됨으로써 게이트 구동회로부(110)로부터 마지막 게이트 배선(GLm)에 공급되는 게이트 신호를 게이트 테스트 패드(131a)로 출력한다.
제 2 스위칭부(139)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)를 통해 인가되는 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 첫 번째 및 마지막 데이터 배선(DL1, DLn) 각각에 공급되는 데이터 신호를 제 1 및 제 2 데이터 테스트 패드(133a, 133b)로 출력하는 제 1 및 제 2 데이터 스위칭 소자(DS1, DS2)를 포함하여 구성된다.
제 1 데이터 스위칭 소자(DS1)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 전기적으로 접속되는 제어 단자, 첫 번째 데이터 배선(DL1)에 전기적으로 접속된 입력 단자, 및 제 1 데이터 테스트 패드(133a)에 전기적으로 접속된 출력 단자를 포함하여 구성된다. 여기서, 제 1 데이터 스위칭 소자(DS1)는 NMOS형 박막 트랜지스터로 구성될 수 있다. 이러한, 제 1 데이터 스위칭 소자(DS1)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 인가되는 하이(High) 상태의 테스트용 제어신호에 따라 턴-온됨으로써 구동 집적회로(120)로부터 첫 번째 데이터 배선(DL1)에 공급되는 데이터 신호를 제 1 데이터 테스트 패드(133a)로 출력한다.
한편, 제 1 데이터 스위칭 소자(DS1)의 입력 단자는 복수의 데이터 패드(미도시) 중 첫 번째 데이터 패드에 전기적으로 접속될 수 있다. 여기서, 복수의 데이터 패드(미도시)는 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn) 각각에 전기적으로 접속됨 과 아울러 구동 집적회로(120)의 데이터 출력 단자 각각에 전기적으로 접속되도록 비표시영역(104)에 형성된다.
제 2 데이터 스위칭 소자(DS2)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 전기적으로 접속되는 제어 단자, 마지막 데이터 배선(DLn)에 전기적으로 접속된 입력 단자, 및 제 2 데이터 테스트 패드(133b)에 전기적으로 접속된 출력 단자를 포함하여 구성된다. 여기서, 제 2 데이터 스위칭 소자(DS2)는 NMOS형 박막 트랜지스터로 구성될 수 있다. 이러한, 제 2 데이터 스위칭 소자(DS2)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 인가되는 하이(High) 상태의 테스트용 제어신호에 따라 턴-온됨으로써 구동 집적회로(120)로부터 마지막 데이터 배선(DLn)에 공급되는 데이터 신호를 제 2 데이터 테스트 패드(133b)로 출력한다.
한편, 제 2 데이터 스위칭 소자(DS2)의 입력 단자는 상술한 복수의 데이터 패드 중 마지막 데이터 패드에 전기적으로 접속될 수 있다.
이와 같은, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 평판 표시장치의 트랜지스터 어레이 기판은 테스트 공정시 테스트부(130)의 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 하이 상태의 테스트용 제어신호를 인가하여 테스트부(130)에 구성된 스위칭 소자(GS, DS1, DS2)를 동시에 턴-온시킴으로써 마지막 게이트 배선(GLm), 첫 번째 데이터 배선(DL1) 및 마지막 데이터 배선(DLn)에 인가되는 신호를 외부로 출력하여 테스트 공정을 진행할 수 있도록 한다. 이에 따라, 본 발명은 평판 표시장치의 조립 공정이 완료되어 최종적으로 제품이 생산된 이후에, 테스트부(130)에 하이 상태의 테스트용 제어신호를 인가함으로써 상기의 테스트 공정을 언제라도 실시할 수 있게 된다. 또한, 본 발명은 상술한 외부로 노출된 테스트 패드(131a, 133a, 133b)에 유입되는 정전기가 스위칭 소자(GS, DS1, DS2)에 의해 차단되므로 정전기로부터 내부 회로를 보호할 수 있다.
상술한 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 평판 표시장치의 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 평판 표시장치의 테스트 방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 테스트용 제어신호를 생성한다.
그런 다음, 구동 집적회로(120)와 게이트 구동회로부(110)를 구동하여 복수의 게이트 배선(GL)에 게이트 신호를 순차적으로 공급함과 동시에 복수의 데이터 배선(DL)에 데이터 신호를 공급한다.
그런 다음, 마지막 게이트 배선(GLm), 첫 번째 데이터 배선(DL1) 및 마지막 데이터 배선(DLn)에 전기적으로 접속되도록 비표시영역(104)에 형성된 테스트부(130)에 하이 상태의 테스트용 제어신호를 공급한다. 여기서, 하이 상태의 테스트용 제어신호는 제 1 스위칭부(137)의 게이트 스위칭 소자(GS)의 제어 단자에 공급됨과 동시에 제 2 스위칭부(139)의 제 1 및 제 2 데이터 스위칭 소자(DS1, DS2) 각각의 제어 단자에 공급된다.
그런 다음, 하이 상태의 테스트용 제어신호에 의한 턴-온되는 게이트 스위칭 소자(GS), 제 1 및 제 2 데이터 스위칭 소자(DS1, DS2) 각각으로부터 출력되는 게이트 신호와 데이터 신호 각각을 테스트 패드(131a, 133a, 133b) 각각으로 출력한다.
이에 따라, 테스트부(130)의 테스트 패드(131a, 133a, 133b)로부터 출력되는 게이트 신호 및 데이터 신호를 이용하여 게이트 구동회로부(110)와 구동 집적회로(120)의 구동 상태 및/또는 게이트 배선(GL)과 데이터 배선(DL)의 불량 유무를 확인한다.
한편, 상술한 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 평판 표시장치와 테스트 방법에서, 테스트부(130)가 하이 상태의 테스트용 제어신호에 따라 마지막 게이트 배선(GLm), 첫 번째 데이터 배선(DL1) 및 마지막 데이터 배선(DLn) 각각에 공급되는 신호를 출력하도록 구성되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정되지 않고, 테스트부(130)는 하이 상태의 테스트용 제어신호에 따라 복수의 게이트 배선(GL) 중 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 게이트 신호를 출력함과 동시에 복수의 데이터 배선(DL) 중 어느 하나 또는 적어도 3개의 데이터 배선에 공급되는 데이터 신호를 출력하도록 구성될 수도 있다.
도 3은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 평판 표시장치에 있어서, 표시패널의 트랜지스터 어레이 기판을 개략적으로 설명하기 위한 도면이고, 도 4는 도 3에 도시된 테스트부를 나타내는 도면이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 평판 표시장치의 트랜지스터 어레이 기판은 기판(100), 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm)과 복수의 데이터 배선(DL1 내지 DLn); 게이트 구동회로부(210); 구동 집적회로(120); 및 테스트부(230)를 포함하여 구성된다. 이러한 구성을 가지는 본 발명의 제 2 실시 예는 게이트 구동회로부(210)와 테스트부(230)를 제외한 다른 구성은 상술한 본 발명의 제 1 실시 예와 동일하기 때문에 동일한 구성에 대한 설명은 상술한 설명으로 대신하기로 한다.
게이트 구동회로부(210)는 제 1 및 제 2 게이트 구동부(210a. 210b)를 포함하여 구성된다.
제 1 게이트 구동부(210a)는 복수의 게이트 배선(GL)의 일측, 즉 표시영역(102)의 일측에 대응되는 비표시영역(104)의 기판(100)에 형성된다. 여기서, 제 1 게이트 구동부(210a)는 화소(P)에 형성되는 박막 트랜지스터(T)의 형성 공정과 동시에 형성된다. 이러한, 제 1 게이트 구동부(210a)는 구동 집적회로(120)로부터 공급되는 상술한 게이트 제어신호에 따라 게이트 신호를 생성하여 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm) 중 홀수번째 게이트 배선에 순차적으로 공급한다.
제 2 게이트 구동부(210b)는 복수의 게이트 배선(GL)의 타측, 즉 표시영역(102)의 타측에 대응되는 비표시영역(104)의 기판(100)에 형성된다. 여기서, 제 2 게이트 구동부(210b)는 화소(P)에 형성되는 박막 트랜지스터(T)의 형성 공정과 동시에 형성된다. 이러한, 제 2 게이트 구동부(210b)는 구동 집적회로(120)로부터 공급되는 상술한 게이트 제어신호에 따라 게이트 신호를 생성하여 복수의 게이트 배선(GL1 내지 GLm) 중 짝수번째 게이트 배선에 순차적으로 공급한다.
테스트부(230)는 표시영역(102)의 일측에 대응되는 비표시영역(104)의 기판(100)에 형성된다. 이러한, 테스트부(230)는 테스트 공정시 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 홀수번째 마지막 게이트 배선(GLm-1)과 짝수번째 마지막 게이트 배선(GLm)에 공급되는 게이트 신호와, 첫 번째 데이터 배선(DL1) 및 마지막 데이터 배선(DLn) 각각에 공급되는 데이터 신호를 출력한다.
이를 위해, 테스트부(230)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 테스트 패드군(231), 제 2 테스트 패드군(133), 테스트용 제어신호 인가 패드(135), 제 1 스위칭부(237), 및 제 2 스위칭부(139)를 포함하여 구성된다. 이러한 구성을 가지는 테스트부(230)는 제 1 테스트 패드군(231)과 제 1 스위칭부(237)를 제외한 다른 구성은 상술한 본 발명의 제 1 실시 예의 테스트부(130)와 동일하기 때문에 동일한 구성에 대한 설명은 상술한 테스트부(130)의 설명으로 대신하기로 한다.
제 1 테스트 패드군(231)은 제 1 및 제 2 게이트 테스트 패드(231a, 231b)를 포함하도록 기판(100)의 비표시영역(104)에 형성된다.
제 1 스위칭부(237)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)를 통해 인가되는 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 홀수번째 및 짝수번째 마지막 게이트 배선(GLm-1, GLm) 각각에 공급되는 게이트 신호를 제 1 및 제 2 게이트 테스트 패드(231a, 231b)로 출력하는 제 1 및 제 2 게이트 스위칭 소자(GS1, GS2)를 포함하여 구성된다.
제 1 게이트 스위칭 소자(GS1)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 전기적으로 접속되는 제어 단자, 홀수번째 마지막 게이트 배선(GLm-1)에 전기적으로 접속된 입력 단자, 및 제 1 게이트 테스트 패드(231a)에 전기적으로 접속된 출력 단자를 포함하여 구성된다. 여기서, 제 1 게이트 스위칭 소자(GS1)는 NMOS형 박막 트랜지스터로 구성될 수 있다. 이러한, 제 1 게이트 스위칭 소자(GS1)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 인가되는 하이(High) 상태의 테스트용 제어신호에 따라 턴-온됨으로써 제 1 게이트 구동부(210a)로부터 홀수번째 마지막 게이트 배선(GLm- 1)에 공급되는 게이트 신호를 제 1 게이트 테스트 패드(231a)로 출력한다.
제 2 게이트 스위칭 소자(GS2)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 전기적으로 접속되는 제어 단자, 짝수번째 마지막 게이트 배선(GLm)에 전기적으로 접속된 입력 단자, 및 제 2 게이트 테스트 패드(231b)에 전기적으로 접속된 출력 단자를 포함하여 구성된다. 여기서, 제 2 게이트 스위칭 소자(GS2)는 NMOS형 박막 트랜지스터로 구성될 수 있다. 이러한, 제 2 게이트 스위칭 소자(GS2)는 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 인가되는 하이(High) 상태의 테스트용 제어신호에 따라 턴-온됨으로써 제 2 게이트 구동부(210b)로부터 짝수번째 마지막 게이트 배선(GLm)에 공급되는 게이트 신호를 제 2 게이트 테스트 패드(231b)로 출력한다.
이와 같은, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 평판 표시장치의 트랜지스터 어레이 기판은 테스트 공정시 테스트부(230)의 테스트용 제어신호 인가 패드(135)에 하이 상태의 테스트용 제어신호를 인가하여 테스트부(230)에 구성된 스위칭 소자(GS1, GS2, DS1, DS2)를 동시에 턴-온시킴으로써 홀수번째 및 짝수번째 마지막 게이트 배선(GLm-1, GLm), 첫 번째 데이터 배선(DL1) 및 마지막 데이터 배선(DLn)에 인가되는 신호를 외부로 출력하여 테스트 공정을 진행할 수 있도록 한다. 이에 따라, 본 발명은 평판 표시장치의 조립 공정이 완료되어 최종적으로 제품이 생산된 이후에, 테스트부(130)에 하이 상태의 테스트용 제어신호를 인가함으로써 상기의 테스트 공정을 언제라도 실시할 수 있게 된다. 또한, 본 발명은 상술한 외부로 노출된 테스트 패드(231a, 231b, 133a, 133b)에 유입되는 정전기가 스위칭 소자(GS1, GS2, DS1, DS2)에 의해 차단되므로 정전기로부터 내부 회로를 보호할 수 있다.
상술한 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 평판 표시장치의 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 평판 표시장치의 테스트 방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 테스트용 제어신호를 생성한다.
그런 다음, 구동 집적회로(120)와 제 1 및 제 2 게이트 구동부(210a, 210b)를 구동하여 복수의 게이트 배선(GL)에 게이트 신호를 순차적으로 공급함과 동시에 복수의 데이터 배선(DL)에 데이터 신호를 공급한다.
그런 다음, 홀수번째 및 짝수번째 마지막 게이트 배선(GLm-1, GLm), 첫 번째 데이터 배선(DL1) 및 마지막 데이터 배선(DLn)에 전기적으로 접속되도록 비표시영역(104)에 형성된 테스트부(230)에 하이 상태의 테스트용 제어신호를 공급한다. 여기서, 하이 상태의 테스트용 제어신호는 제 1 스위칭부(237)의 제 1 및 제 2 게이트 스위칭 소자(GS1, GS2)의 제어 단자에 공급됨과 동시에 제 2 스위칭부(139)의 제 1 및 제 2 데이터 스위칭 소자(DS1, DS2) 각각의 제어 단자에 공급된다.
그런 다음, 하이 상태의 테스트용 제어신호에 의해 동시에 턴-온되는 제 1 및 제 2 게이트 스위칭 소자(GS1, GS2), 제 1 및 제 2 데이터 스위칭 소자(DS1, DS2) 각각으로부터 출력되는 게이트 신호와 데이터 신호 각각을 테스트 패드(231a, 231b, 133a, 133b) 각각으로 출력한다.
이에 따라, 테스트부(230)의 테스트 패드(231a, 231b, 133a, 133b)로부터 출력되는 게이트 신호 및 데이터 신호를 이용하여 제 1 및 제 2 게이트 구동부(210a, 210b)와 구동 집적회로(120)의 구동 상태 및/또는 게이트 배선(GL)과 데이터 배선(DL)의 불량 유무를 확인한다.
한편, 상술한 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 평판 표시장치 및 테스트 방법에서, 테스트부(230)가 하이 상태의 테스트용 제어신호에 따라 홀수번째 및 짝수번째 마지막 게이트 배선(GLm-1, GLm), 첫 번째 및 마지막 데이터 배선(DL1, DLn) 각각에 공급되는 신호를 출력하도록 구성되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정되지 않고, 테스트부(230)는 하이 상태의 테스트용 제어신호에 따라 홀수번째 게이트 배선(GL) 중 적어도 하나의 게이트 배선 및 짝수번째 게이트 배선(GL) 중 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 게이트 신호를 출력함과 동시에 복수의 데이터 배선(DL) 중 어느 하나 또는 적어도 3개의 데이터 배선에 공급되는 데이터 신호를 출력하도록 구성될 수도 있다.
본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 평판 표시장치에 있어서, 표시패널의 트랜지스터 어레이 기판을 개략적으로 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 테스트부를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 평판 표시장치에 있어서, 표시패널의 트랜지스터 어레이 기판을 개략적으로 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 도 3에 도시된 테스트부를 나타내는 도면이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호설명 >
100: 기판 102: 표시영역
104: 비표시영역 110: 게이트 구동회로부
120: 구동 집적회로 130, 230: 테스트부
131, 231: 제 1 테스트 패드군 133: 제 2 테스트 패드군
135: 테스트용 제어신호 인가 패드 137, 237: 제 1 스위칭부
139: 제 2 스위칭부 210a, 210b: 게이트 구동부

Claims (9)

  1. 표시영역과 비표시영역을 가지는 기판;
    상기 표시영역에 서로 교차하도록 형성된 복수의 게이트 배선과 복수의 데이터 배선;
    상기 비표시영역에 형성되어 상기 복수의 게이트 배선에 게이트 신호를 순차적으로 공급하는 게이트 구동회로부;
    상기 비표시영역에 실장되어 상기 복수의 데이터 배선에 데이터 신호를 공급함과 아울러 게이트 구동회로부의 구동을 제어하는 구동 집적회로; 및
    테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호와 상기 적어도 하나의 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하도록 상기 비표시영역에 형성된 테스트부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트부는,
    적어도 하나의 게이트 테스트 패드를 가지는 제 1 테스트 패드군;
    적어도 하나의 데이터 테스트 패드를 가지는 제 2 테스트 패드군;
    상기 테스트용 제어신호가 인가되는 테스트용 제어신호 인가 패드;
    상기 테스트용 제어신호 인가 패드를 통해 인가되는 상기 테스트용 제어신호 에 따라 스위칭되어 상기 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 상기 제 1 테스트 패드군으로 출력하는 제 1 스위칭부; 및
    상기 테스트용 제어신호 인가 패드를 통해 인가되는 상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 적어도 하나의 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 상기 제 2 테스트 패드군으로 출력하는 제 2 스위칭부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 테스트 패드군은 하나의 게이트 테스트 패드를 포함하며,
    상기 제 1 스위칭부는 상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 마지막 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 상기 게이트 테스트 패드로 출력하는 게이트 스위칭 소자를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 게이트 구동회로부는,
    상기 복수의 게이트 배선의 일측에 대응되도록 상기 비표시영역에 형성되며, 상기 구동 집적회로의 제어에 따라 상기 게이트 신호를 생성하여 상기 복수의 게이트 배선 중 홀수번째 게이트 배선에 순차적으로 공급하는 제 1 게이트 구동회로; 및
    상기 복수의 게이트 배선의 타측에 대응되도록 상기 비표시영역에 형성되며, 상기 구동 집적회로의 제어에 따라 상기 게이트 신호를 생성하여 상기 복수의 게이트 배선 중 짝수번째 게이트 배선에 순차적으로 공급하는 제 2 게이트 구동회로를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 테스트 패드군은 제 1 및 제 2 게이트 테스트 패드를 포함하며,
    상기 제 1 스위칭부는,
    상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 홀수번째 마지막 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 상기 제 1 게이트 테스트 패드로 출력하는 제 1 게이트 스위칭 소자; 및
    상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 상기 짝수번째 마지막 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 상기 제 2 게이트 테스트 패드로 출력하는 제 2 게이트 스위칭 소자를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
  6. 제 2 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 2 테스트 패드군은 제 1 및 제 2 데이터 테스트 패드를 포함하며,
    상기 제 2 스위칭부는,
    상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 첫 번째 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 상기 제 1 데이터 테스트 패드로 출력하는 제 1 데이터 스위칭 소자; 및
    상기 테스트용 제어신호에 따라 스위칭되어 마지막 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 상기 제 2 데이터 테스트 패드로 출력하는 제 2 데이터 스위칭 소자를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
  7. 표시영역과 비표시영역을 가지는 기판; 상기 표시영역에 서로 교차하도록 형성된 복수의 게이트 배선과 복수의 데이터 배선; 상기 비표시영역에 형성되어 상기 복수의 게이트 배선에 게이트 신호를 순차적으로 공급하는 게이트 구동회로부; 및 상기 비표시영역에 실장되어 상기 복수의 데이터 배선에 데이터 신호를 공급함과 아울러 게이트 구동회로부의 구동을 제어하는 구동 집적회로를 포함하여 구성된 평판 표시장치의 테스트 방법에 있어서,
    테스트용 제어신호를 생성하는 단계;
    상기 구동 집적회로와 상기 게이트 구동회로부를 구동하여 상기 복수의 게이트 배선에 상기 게이트 신호를 순차적으로 공급함과 동시에 상기 복수의 데이터 배선에 상기 데이터 신호를 공급하는 단계;
    적어도 하나의 게이트 배선과 적어도 하나의 데이터 배선에 전기적으로 접속되도록 상기 비표시영역에 형성된 테스트부에 상기 테스트용 제어신호를 공급하는 단계; 및
    상기 테스트용 제어신호에 의한 상기 테스트부의 스위칭에 따라 상기 적어도 하나의 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호와 상기 적어도 하나의 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특 징으로 하는 평판 표시장치의 테스트 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 데이터 신호와 상기 게이트 신호를 출력하는 단계는,
    상기 테스트용 제어신호에 따라 마지막 게이트 배선에 접속된 게이트 스위칭 소자를 턴-온시켜 상기 마지막 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 출력하는 단계;
    상기 테스트용 제어신호에 따라 첫 번째 데이터 배선에 접속된 제 1 데이터 스위칭 소자를 턴-온시켜 상기 첫 번째 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하는 단계; 및
    상기 테스트용 제어신호에 따라 마지막 데이터 배선에 접속된 제 2 데이터 스위칭 소자를 턴-온시켜 상기 마지막 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 테스트 방법.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 데이터 신호와 상기 게이트 신호를 출력하는 단계는,
    상기 테스트용 제어신호에 따라 홀수번째 마지막 게이트 배선에 접속된 제 1 게이트 스위칭 소자를 턴-온시켜 상기 홀수번째 마지막 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 출력하는 단계;
    상기 테스트용 제어신호에 따라 짝수번째 마지막 게이트 배선에 접속된 제 2 게이트 스위칭 소자를 턴-온시켜 상기 짝수번째 마지막 게이트 배선에 공급되는 상기 게이트 신호를 출력하는 단계;
    상기 테스트용 제어신호에 따라 첫 번째 데이터 배선에 접속된 제 1 데이터 스위칭 소자를 턴-온시켜 상기 첫 번째 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하는 단계; 및
    상기 테스트용 제어신호에 따라 마지막 데이터 배선에 접속된 제 2 데이터 스위칭 소자를 턴-온시켜 상기 마지막 데이터 배선에 공급되는 상기 데이터 신호를 출력하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 테스트 방법.
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