KR101192050B1 - 평판표시장치의 검사방법 및 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 표시영역의 화소 어레이와 함께 기판 상에 게이트 구동회로가 직접 형성된 평판표시장치의 자동 검사가 가능하도록 한 평판표시장치의 검사방법 및 장치에 관한 것이다.

이 평판표시장치의 검사방법은 다수의 데이터라인들과 다수의 게이트라인들이 교차되는 평판표시패널의 기판 상에 상기 게이트라인들에 스캔신호를 발생하기 위한 게이트 구동회로와 함께 상기 게이트 구동회로의 입력단자에 접속된 검사용 신호배선들, 및 상기 검사용 신호배선들에 접속된 다수의 검사용 패드들을 형성하는 단계와; 상기 게이트 구동회로의 구동에 필요한 제어신호들과 구동전압들을 발생하는 검사모듈에 형성된 다수의 프로브들을 상기 검사용 패드들에 접촉시켜 상기 기판 상에 형성된 게이트 구동회로를 구동하여 상기 게이트 구동회로의 불량여부를 검사하는 단계를 포함한다.

Description

평판표시장치의 검사방법 및 장치{Method and Apparatus for Inspecting Flat Panel Display}

도 1은 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치를 나타내는 사시도.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 나티내는 블록도.

도 3은 검사모듈과, 그 검사모듈에 부착되는 가요성 인쇄회로필름을 보여 주는 사시도.

도 4는 도 3에 도시된 검사모듈과 가요성 인쇄회로필름을 보여 주는 단면도.

도 5는 도 3에 도시된 검사용 신호배선군, 패드군 및 게이트 구동부를 상세히 나타내는 도면.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

11, 17 : 편광판 12, 16, 24A : 유리기판

13 : 컬러필터 14 : 공통전극

15 : 액정층 18 : 게이트라인

19 : 데이터라인 20 : 박막트랜지스터

21 : 화소전극 22 : 컬러필터 기판

23 : TFT 어레이 기판 24 : 액정표시패널

25, 25A, 25B, 501a~506d : 검사용 패드

26, 26A, 26B, 601a~606d : 검사용 신호배선

27 : 타이밍 콘트롤러 28 : 데이터 구동부

29A, 29B : 게이트 구동부 31 : 검사용 회로 칩

32 : 검사모듈 33 : FPC 상에 형성된 신호배선

34 : FPC

35, 36 : 검사모듈의 기판 상에 형성된 신호배선

S/R1 내지 S/Rn+1 : 게이트 쉬프트 레지스터의 스테이지들

본 발명은 평판표시장치에 관한 것으로, 특히 표시영역의 화소 어레이와 함께 기판 상에 게이트 구동회로가 직접 형성된 평판표시장치의 자동 검사가 가능하도록 한 평판표시장치의 검사방법 및 장치에 관한 것이다.

최근의 정보화 사회에서 표시소자는 시각정보 전달매체로서 그 중요성이 어느 때보다 강조되고 있다. 현재 주류를 이루고 있는 음극선관(Cathode Ray Tube) 또는 브라운관은 무게와 부피가 큰 문제점이 있다.

평판표시장치에는 액정표시소자(Liquid Crystal Display : LCD), 전계 방출 표시소자(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : PDP) 및 유기발광다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode : OLED) 등이 있고 이들 대부분이 실용화되어 시판되고 있다.

액정표시소자는 전자제품의 경박단소 추세를 만족할 수 있고 양산성이 향상되고 있어 많은 응용분야에서 음극선관을 빠른 속도로 대체하고 있다.

특히, 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하, "TFT"라 한다)를 이용하여 액정셀을 구동하는 액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자는 화질이 우수하고 소비전력이 낮은 장점이 있으며, 최근의 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화로 급속히 발전하고 있다.

액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자는 도 1과 같이 액정층(15)을 사이에 두고 합착되는 컬러필터 기판(22)과 TFT 어레이 기판(23)을 구비한다. 도 1에 도시된 액정표시소자는 일부 화면의 화소 어레이를 나타낸 것이다.

컬러필터 기판(22)에는 상부 유리기판(12)의 배면 상에 도시하지 않은 블랙 매트릭스, 컬러필터(13)와 공통전극(14)이 형성된다. 상부 유리기판(12)의 전면 상에는 편광판(11)이 부착된다. 컬러필터(13)는 적(R), 녹(G) 및 청(B) 색의 컬러필터를 포함하여 특정 파장대역의 가시광을 투과시킴으로써 컬러표시를 가능하게 한다.

TFT 어레이 기판(23)에는 하부 유리기판(16)의 전면에 데이터라인들(19)과 게이트라인들(18)이 상호 교차되며, 그 교차부에 TFT들(20)이 형성된다. 그리고 하부 유리기판(16)의 전면에는 데이터라인(19)과 게이트라인(18) 사이의 셀 영역에 화소전극(21)이 형성된다. TFT(20)는 게이트라인(18)으로부터의 게이트펄스(또는 스캔신호)에 응답하여 데이터라인(19)과 화소전극(21) 사이의 데이터 전송패스를 절환함으로써 화소전극(21)을 구동하게 된다. TFT 어레이 기판(23)의 배면에는 편광판(17)이 부착된다.

액정층(15)은 자신에게 인가된 전계에 의해 TFT 어레이 기판(23)을 경유하여 입사되는 빛의 투과량을 조절한다.

컬러필터 기판(22)과 TFT 기판(23) 상에 부착된 편광판들(11,17)은 어느 한 방향으로 편광된 빛을 투과시키게 되며, 액정(15)이 90°TN 모드일 때 그들의 편광방향은 서로 직교하게 된다.

컬러필터 기판(22)과 어레이 TFT 기판(23)의 액정 대향면들에는 도시하지 않은 배향막이 형성된다.

액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자를 제조하기 위한 제조공정은 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막형성/러빙 공정, 기판합착/액정주입 공정, 실장 공정, 검사 공정, 리페어(Repair) 공정 등으로 나뉘어진다.

기판세정 공정은 액정표시소자의 기판 표면에 오염된 이물질을 세정액으로 제거한다.

기판 패터닝 공정은 컬러필터 기판의 패터닝 공정과 TFT 어레이 기판의 패터닝 공정으로 나뉘어 실시된다.

배향막형성/러빙 공정은 컬러필터 기판과 TFT 어레이 기판 각각에 배향막을 도포하고 그 배향막을 러빙포 등으로 러빙하게 된다.

기판합착/액정주입 공정은 실재(Sealant)를 이용하여 컬러필터 기판과 TFT 어레이기판을 합착하고 액정주입구를 통하여 액정과 스페이서를 주입한 다음, 그 액정주입구를 봉지한다.

실장공정은 게이트 드라이브 집적회로 및 데이터 드라이브 집적회로 등의 집적회로가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하, "TCP"라 한다)를 기판 상의 패드부에 접속시키게 된다. 이러한 드라이브 집적회로는 전술한 TCP를 이용한 테이프 오토메이티드 본딩(Tape Automated Bonding) 방식 이외에 칩 온 글라스(Chip On Glass, COG) 방식 등으로 기판 상에 직접 실장될 수도 있다. 최근에는 화소 어레이와 함께 하부 유리기판(16) 상에 드라이브 집적회로들이 직접 형성되는 기술도 개발된 바 있다.

검사 공정은 드라이브 집적회로에 대한 검사, TFT 어레이 기판에 형성된 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선 검사, 화소전극이 형성된 후에 실시되는 검사, 기판합착/액정주입 공정 후에 실시되는 검사를 포함한다. 리페어 공정은 검사 공정에 의해 리페어가 가능한 것으로 판정된 기판의 신호배선 불량, TFT 불량에 대한 복원 공정을 실시한다. 검사 공정에서 리페어가 불가능한 기판들은 폐기처분된다.

드라이브 집적회로가 TCP나 COG 형태로 패널의 기판 상에 실장되는 경우에는 TCP와 COG용 칩(Chip)등에 대한 자동 검사장치가 상용화되어 있다. 이에 비하여, 기판 상에 드라이브 집적회로가 직접 형성되는 패널은 자동 검사에 필요한 패드 구조가 개발되지 않고 있기 때문에 자동 검사가 어려운 문제점이 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 표시영역의 화소 어레이와 함께 기판 상에 게이트 구동회로가 직접 형성된 평판표시장치의 자동 검사가 가능하도록 한 평판표시장치의 검사방법 및 장치를 제공함에 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치의 검사방법은 다수의 데이터라인들과 다수의 게이트라인들이 교차되는 평판표시패널의 기판 상에 상기 게이트라인들에 스캔신호를 발생하기 위한 게이트 구동회로와 함께 상기 게이트 구동회로의 입력단자에 접속된 검사용 신호배선들, 및 상기 검사용 신호배선들에 접속된 다수의 검사용 패드들을 형성하는 단계와; 상기 게이트 구동회로의 구동에 필요한 제어신호들과 구동전압들을 발생하는 검사모듈에 형성된 다수의 프로브들을 상기 검사용 패드들에 접촉시켜 상기 기판 상에 형성된 게이트 구동회로를 구동하여 상기 게이트 구동회로의 불량여부를 검사하는 단계를 포함한다.

상기 평판표시패널은 다수의 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치되는 액정표시소자를 포함한다.

상기 평판표시장치의 검사방법은 상기 검사모듈에서 액정셀들의 공통전극에 공급할 공통전압을 발생하여 상기 프로브들 중 일부 프로브를 통해 출력하는 단계와; 상기 공통전압이 공급되는 상기 프로브를 상기 검사용 패드들 중 일부 패드에 접촉시켜 상기 액정셀들의 공통전극에 상기 공통전압을 공급하는 단계를 더 포함한다.

상기 검사용 패드들은 상기 기판 상에서 나란히 배치되고, 상기 검사모듈의 프로브들은 상기 검사용 패드들과 대응하여 나란하게 배치되고 상기 검사용 패드들에 1:1로 접촉된다.

본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치의 검사장치는 다수의 데이터라인들과 다수의 게이트라인들이 교차되고 상기 게이트라인들에 스캔신호를 발생하기 위한 게이트 구동회로와 함께 상기 게이트 구동회로의 입력단자에 접속된 다수의 제1 신호배선들, 및 상기 제1 신호배선들에 접속된 다수의 검사용 패드들이 형성된 평판표시패널과; 다수의 제2 신호배선들과, 상기 제2 신호배선들을 통해 연결된 다수의 프로브들을 통해 상기 게이트 구동회로의 구동에 필요한 제어신호들과 구동전압들을 발생하는 검사모듈을 구비하고, 상기 다수의 프로브들을 상기 검사용 패드들에 접촉시켜 상기 평판표시패널의 기판 상에 형성된 게이트 구동회로들을 구동하여 상기 게이트 구동회로의 불량여부를 검사한다.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.

이하, 도 2 내지 도 5를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치를 나타낸다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 다수의 데이터라인들(D1~Dm) 및 다수의 게이트라인들(G1~Gn)이 교차되며 그 교차부에 액정셀들(Clc)을 구동하기 위한 TFT들이 형성된 액정표시패널(24)과, 그 액정표시패널(24)을 구동하기 위한 데이터 구동부(28), 게이트 구동부(29A, 29B) 및 타이밍 콘트롤러(27)를 구비한다.

액정표시패널(24)은 두 장의 유리기판 사이에 액정이 주입되며, 그 하부 유리기판 상에 데이터라인들(D1~Dm), 게이트라인들(G1~Gn)이 상호 직교되도록 형성된다. 데이터라인들(D1~Dm)과 게이트라인들(G1~Gn)의 교차부에 형성된 TFT는 게이트라인(G1~Gn)으로부터의 스캔펄스에 응답하여 데이터라인들(D1~Dm)로부터의 데이터를 액정셀(Clc)에 공급하게 된다. 이를 위하여, TFT의 게이트전극은 게이트라인(G1~Gn)에 접속되며, 소스전극은 데이터라인(D1~Dm)에 접속된다. 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극에 접속된다. 또한, 액정표시패널(24)의 하부유리기판 상에는 액정셀(Clc)의 전압을 유지시키기 위한 스토리지 캐패시터(Storage Capacitor, Cst)가 형성된다. 이 스토리지 캐패시터(Cst)는 액정셀(Clc)과 전단 게이트라인(G1~Gn) 사이에 형성될 수도 있으며, 액정셀(Clc)과 별도의 공통라인 사이에 형성될 수도 있다.

타이밍 콘트롤러(27)는 수직/수평 동기신호(V,H)와 픽셀클럭을 이용하여 게이트 구동부들(29A, 29B)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호(GDC), 데이터 구동부(28)의 동작 타이밍과 데이터의 극성을 제어하기 위한 데이터 제어신호(DDC)를 발생한다. 게이트 제어신호(GDC)는 게이트 구동부에 포함된 쉬프트 레 지스터의 동작에 필요한 모든 제어신호 예컨대, 스타트전압(VST), 쉬프트 클럭(CLK) 및 구동 제어 클럭(GPW) 등을 포함한다.

데이터 구동부(28)는 쉬프트레지스터, 타이밍 콘트롤러(27)로부터의 디지털 비디오 데이터(RGB)를 일시저장하기 위한 레지스터, 쉬프트레지스터로부터의 클럭신호에 응답하여 데이터를 1 라인분씩 저장하고 저장된 1 라인분의 데이터를 동시에 출력하기 위한 래치, 래치로부터의 디지털 데이터값에 대응하여 아날로그 정극성/부극성의 감마보상전압을 선택하기 위한 디지털/아날로그 변환기, 정극성/부극성 감마보상전압이 공급되는 데이터라인(D1~Dm)을 선택하기 위한 멀티플렉서, 및 멀티플렉서와 데이터라인(D1~Dm) 사이에 접속된 출력버퍼 등으로 구성된다. 이 데이터 구동부(28)는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 입력받고 그 디지털 비디오 데이터(RGB)를 아날로그 정극성/부극성 감마보상전압으로 변환하며, 그 아날로그 정극성/부극성 감마보상전압을 화소전압으로써 타이밍 콘트롤러(27)의 제어 하에 액정표시패널(24)의 데이터라인들(D1~Dm)에 공급한다. 이러한 데이터 구동부(28)는 TCP에 실장되어 액정표시패널(24)의 하부 유리기판 상에 이방성 도전필름(Anisotropic Conductive Film, ACF)으로 접착되거나, COG 형태로 하부 유리기판 상에 ACF로 접착되거나 혹은, 하부 유리기판 상에 직접 형성될 수 있다.

게이트 구동부들(29A, 29B)는 액정표시패널(24)의 하부 유리기판 상에서 양측으로 분리되고, 데이터라인들(D1~Dm), 게이트라인들(G1~Gn), TFT들 및 화소전극들과 함께 하부 유리기판 상에 직접 형성된다. 이 게이트 구동부들(23A, 23B)은 타이밍 콘트롤러(27)로부터의 게이트 제어신호(GDC)에 응답하여 동시에 구동되어 스캔펄스(또는 게이트펄스)를 순차적으로 발생하는 쉬프트 레지스터를 포함한다. 게이트 구동부들(29A, 29B)로부터 발생되는 스캔펄스에 의해 게이트라인(G1~Gn)에 접속된 TFT들은 턴-온(Turn-on)되고 그 결과, 데이터의 화소전압 즉, 아날로그 감마보상전압이 공급될 1 수평라인의 액정셀들(Clc)이 순차적으로 선택된다. 데이터 구동부(28)로부터 발생되는 데이터들은 스캔펄스에 동기됨으로써 선택된 1 수평라인의 액정셀들(Clc)에 공급된다.

한편, 게이트 구동부(29A, 29B)에는 도시하지 않은 레벨쉬프트 회로에 의해 스윙폭이 증가된 구동전압들이 공급된다.

이러한 액정표시장치의 게이트 구동부(29A, 29B)를 오토-프로브 방식(Auto-probe system)으로 검사하기 위하여, 액정표시패널(24)의 하부 유리기판 상에는 다수의 패드들이 나란하게 배치된 패드군들(25A, 26B)과, 패드군들(25A, 25B)과 게이트 구동부들(23A, 23B)의 입력단자에 접속되고 다수의 신호배선들을 포함한 검사용 신호배선군(26A, 26B)이 형성된다. 패드군들(25A, 26B)에는 도 3 및 도 4와 같은 검사모듈(32) 및 가요성 인쇄회로필름(Flexible Printed Circuit Film : 이하, "FPC"라 함)(34)을 통해 게이트 구동부들(23A, 23B)의 쉬프트 클럭을 포함한 검사용 게이트 제어신호와 구동전압들과, 액정셀들(Clc)의 공통전극에 공급될 공통전압이 공급된다.

도 3 및 도 4를 참조하면, 검사모듈(32)은 기판 상에 형성된 검사용 회로 칩(31)과, 신호배선들(35, 36), 및 프로브들(probe)(37)을 구비한다. 검사용 회로 칩(31)은 타이밍 신호 발생기와 레벨 쉬프터를 포함하여 검사용 게이트 제어신호와 게이트 구동전압들을 발생한다.

검사용 회로 칩(31)은 신호배선들(35, 36)을 통해 프로브들(37)에 공급된다.

프로브들(37)은 신호배선들(35, 36)과 1:1로 접속되도록 검사모듈(32)에 나란히 부착된다. 또한, 프로브들(37)은 액정표시패널(24)의 하부 유리기판 상에 형성된 패드군(25, 25A, 25B)의 패드들의 피치와 동일한 피치로 검사모듈(32)에 부착된다. 이 프로브들(35)은 패드군(25A, 25B)의 패드들에 전기적으로 접속되어, 패드군(25, 25A, 25B)의 패드들에 검사용 게이트 제어신호들, 게이트 구동전압들, 공통전압 등을 공급한다.

이러한 검사모듈(32)에는 ACF로 FPC(34)가 부착된다. FPC(34)는 신호배선들(33)이 형성되고, 그 신호배선들(33)은 검사용 회로 칩(31)의 출력핀들과 검사모듈(32) 상의 신호배선들을 1:1로 연결시킨다.

게이트 구동부들(29A, 29B)의 검사공정에서 프로브들(37)이 부착된 검사모듈(32)과 FPC(34)는 도시하지 않은 지그에 장착되어 기계적인 동력이나 수동으로 하강하여 액정표시패널(24)의 하부 유리기판(24A) 상에 형성된 패드군들(25A, 25B)의 패드들에 전기적으로 접속되어 검사용 게이트 제어신호들, 게이트 구동전압들, 공통전압(Vcom) 등을 패드군들(25, 25A, 25B)에 공급한다. 따라서, 게이트 구동부들(29A, 29B)의 검사 공정에서, 검사모듈(32)로부터 발생된 검사용 게이트 제어신호들과 게이트 구동전압들이 게이트 구동부들(29A, 29B)의 입력단자들에 공급되어 게이트 구동부들(29A, 29B)은 정상적으로 구동되어 스캔펄스들을 순차적으로 게이트라인들(G1~Gn)에 공급하게 된다. 또한, 검사모듈(32)로부터 발생되는 공통전압 (Vcom)은 하부 유리기판(24A) 상에 형성되어 상부 유리기판 상에 형성된 액정셀들(Clc)의 공통전극에 전기적으로 접속된 은 도트(Ag Dot) 또는 실런트 내에 혼입된 금 도전볼(Au Conductive ball)을 통해 액정셀들(Clc)의 공통전극에 공급된다.

한편, 게이트 구동부들(29A, 29B)의 검사공정에서 데이터라인들(D1~Dm)에는 테스트 데이터 전압이 도시하지 않은 테스트 보드로부터 공급된다. 따라서, 검사자는 검사모듈(32)의 프로브들(37)을 액정표시패널(24)의 패드군들(25A, 25B)에 접촉시키고 육안 또는 전기적 검사를 통해 게이트 구동부들(29A, 29B)의 불량여부를 쉽게 알 수 있고 또한, 검사용 회로 칩(31)과 FPC(34)의 불량여부도 쉽게 알 수 있다.

도 5는 액정표시패널(24)의 하부 유리기판(24A)에 형성된 패드군(25A, 25B) 중 어느 하나와 검사용 신호배선군(26A, 26B) 중 어느 하나를 상세히 나타내는 도면이다. 도 5에 있어서, "S/R1 내지 S/Rn+1"은 게이트 구동부들(25A, 25B)의 게이트 쉬프트 레지스터에서 스타트 전압(Vst)을 순차적으로 쉬프트 시키기 위한 n+1 개의 스테이지를 나타낸다.

도 5를 참조하면, 액정표시패널(24)의 하부 유리기판(24A) 상에는 게이트 쉬프트 레지스터의 스테이지들(S/R1, S/Rn+1)과, 검사모듈(32)의 프로브들(37)에 접촉 가능한 패드들(501~506d)과, 스테이지들(S/R1~S/Rn+1)의 입력단자들과 패드들(501a~506d) 사이에 접속된 검사용 신호배선들(601~606d)이 형성된다.

도 5에 있어서, "Vst"는 게이트 구동부들(29A, 29B)의 첫 번째 스캔펄스를 발생시키기 위한 스타트전압, "CLK1~CLK4, GPW1~GPW4"는 스테이지들(S/R1~S/Rn+1) 의 클럭단자들에 입력되어 스캔펄스의 쉬프트 및 출력 타이밍을 지시하는 쉬프트 클럭이다. 그리고 "VSS"는 기저전압 또는 저전위 전원전압, "VDD"는 고전위 전압전압, "Vcom"은 액정셀들(Clc)의 공통전극에 인가되는 공통전압을 각각 의미한다. 이러한 검사용 게이트 제어신호들, 게이트 구동전압 및 공통전압 등은 프로브들(37)을 통해 게이트 쉬프트 레지스터의 스테이지들(S/R1~S/Rn+1)에 인가된다. 그리고 도 5에서 "○(507)"는 정전기 보호소자로써(Electro-static Protecting Device)이다. 이 정전기 보호소자는 정전기가 발생되지 않을 때 양단 사이를 전기적으로 분리시키는 반면, 정전기가 발생될 때 턴-온되어 양단 사이에 전류패스를 형성함으로써 정전기로 인하여 순간적으로 발생되는 과전압, 과전류를 방전시키는 역할을 한다.

스테이지들(S/R1~S/Rn+1) 중에는 하나 이상의 더미 스테이지(S/Rn+1)이 포함된다. 더미 스테이지(S/Rn+1)은 불량 스테이지가 발생되었을 때, 불량 스테이지를 대체하는 역할을 한다.

액정표시패널(24)의 하부 유리기판 상에 직접 형성된 게이트 쉬프트 레지스터 회로는 본원 출원인에 의해 기출원된 국내 특허출원 제2005-0053124호, 제2005-0056537호, 제2005-0058454호, 제2005-0058142호, 제05-058734호, 제2005-0058108호 등의 회로로 구현될 수 있다.

한편, 상세한 설명에서는 액정표시장치를 중심으로 설명되었지만, 본 발명의 기술적 사상은 액정표시장치에만 국한되는 것이 아니라, 표시패널 상에 게이트 구동회로(또는 스캔 구동회로)가 직접 형성된 어떠한 평판표시장치에도 적용 가능하 다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 평판표시장치의 검사방법 및 장치는 평판표시패널의 기판 상에 직접 형성된 게이트 구동회로의 검사가 가능한 패드들과 신호배선들을 상기 기판 상에 형성하고 그 패드들에 오토 프로브 방식으로 게이트 제어신호, 게이트 구동전압 등을 공급하여 게이트 구동회로의 불량여부를 자동으로 판정할 수 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범0위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims (8)

1. 다수의 데이터라인들과 다수의 게이트라인들이 교차되는 평판표시패널의 기판 상에 상기 게이트라인들에 스캔신호를 발생하기 위한 게이트 구동회로와 함께 상기 게이트 구동회로의 입력단자에 접속된 검사용 신호배선들, 및 상기 검사용 신호배선들에 접속된 다수의 검사용 패드들을 형성하는 단계와;

   상기 게이트 구동회로의 구동에 필요한 제어신호들과 구동전압들을 발생하는 검사모듈에 형성된 다수의 프로브들을 상기 검사용 패드들에 접촉시켜 상기 기판 상에 형성된 게이트 구동회로를 구동하여 상기 게이트 구동회로의 불량여부를 검사하는 단계를 포함하고,

   상기 게이트 구동회로는 쉬프트 레지스터를 포함하고, 상기 쉬프트 레지스터는 게이트 스타트 전압을 순차적으로 쉬프트 시키기 위한 다수의 스테이지들을 포함하고, 상기 검사용 신호배선들은 상기 다수의 스테이지 입력단자와 상기 다수의 검사용 패드 사이에 접속되고,

   상기 검사모듈은 검사용 회로 칩을 포함하고, 상기 검사용 칩의 출력핀과 상기 검사모듈 상의 신호배선을 연결시키는 배선을 가지는 FPC를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사방법.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 평판표시패널은 다수의 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치되는 액정표시소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사방법.
3. 제 2 항에 있어서,

   상기 검사모듈에서 액정셀들의 공통전극에 공급할 공통전압을 발생하여 상기 프로브들 중 일부 프로브를 통해 출력하는 단계와;

   상기 공통전압이 공급되는 상기 프로브를 상기 검사용 패드들 중 일부 패드에 접촉시켜 상기 액정셀들의 공통전극에 상기 공통전압을 공급하는 단계를 더 포 함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사방법.
4. 제 1 항에 있어서,

   상기 검사용 패드들은 상기 기판 상에서 나란히 배치되고;

   상기 검사모듈의 프로브들은 상기 검사용 패드들과 대응하여 나란하게 배치되고 상기 검사용 패드들에 1:1로 접촉되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사방법.
5. 다수의 데이터라인들과 다수의 게이트라인들이 교차되고 상기 게이트라인들에 스캔신호를 발생하기 위한 게이트 구동회로와 함께 상기 게이트 구동회로에 접속된 다수의 검사용 신호배선들, 및 상기 검사용 신호배선들에 접속된 다수의 검사용 패드들이 형성된 평판표시패널과;

   다수의 신호배선과, 검사용 회로 칩과, 상기 검사용 회로 칩의 출력핀과 상기 다수의 신호배선을 연결시키는 FPC와, 상기 다수의 신호배선들과 연결되고 상기 검사용 패드에 직접 접촉되어 상기 게이트 구동회로의 구동에 필요한 제어신호들과 구동전압들을 공급하기 위한 프로브들을 포함하는 검사모듈을 구비하고,

   상기 게이트 구동회로는 쉬프트 레지스터를 포함하고, 상기 쉬프트 레지스터는 게이트 스타트 전압을 순차적으로 쉬프트 시키기 위한 다수의 스테이지들을 포함하고, 상기 검사용 신호배선들은 상기 다수의 스테이지 입력단자와 상기 다수의 검사용 패드 사이에 접속되고,

   상기 다수의 프로브들을 상기 검사용 패드들에 접촉시켜 상기 평판표시패널의 기판 상에 형성된 게이트 구동회로들을 구동하여 상기 게이트 구동회로의 불량여부를 검사하는 평판표시장치의 검사장치.
6. 제 5 항에 있어서,

   상기 평판표시패널은 다수의 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치되는 액정표시소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사장치.
7. 제 6 항에 있어서,

   상기 검사모듈은,

   상기 액정셀들의 공통전극에 공급할 공통전압을 발생하여 상기 프로브들 중 일부 프로브를 통해 출력하고;

   상기 공통전압이 공급되는 상기 프로브를 상기 검사용 패드들 중 일부 패드에 접촉시켜 상기 액정셀들의 공통전극에 상기 공통전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사장치.
8. 제 5 항에 있어서,

   상기 검사용 패드들은 상기 기판 상에서 나란히 배치되고;

   상기 검사모듈의 프로브들은 상기 검사용 패드들과 대응하여 나란하게 배치되고 상기 검사용 패드들에 1:1로 접촉되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사장치.

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