KR20170080114A

KR20170080114A - 표시 장치

Info

Publication number: KR20170080114A
Application number: KR1020150191336A
Authority: KR
Inventors: 조창훈
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2015-12-31
Filing date: 2015-12-31
Publication date: 2017-07-10
Also published as: KR102568512B1

Abstract

표시 장치가 제공된다. 표시 장치는 기판, 구동부, 테스트 배선 및 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board; PCB)를 포함한다. 기판은 표시 영역 및 비표시 영역을 포함한다. 구동부는 기판의 비표시 영역에 실장된다. 테스트 배선은 구동부의 적어도 하나의 출력단과 연결된다. 인쇄 회로 기판은 기판과 이격되고, 테스트 배선과 연결된 테스트 패드를 갖는다. 표시 장치는 기판과 이격된 인쇄 회로 기판 상의 테스트 패드와 구동부의 출력단을 서로 연결시키는 테스트 배선을 포함하므로, 검사 장치의 프로브를 배선에 직접 접촉시키는 과정에서 발생되는 배선의 파손 문제가 최소화될 수 있다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}

본 발명은 표시 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 신뢰성 및 생산성이 향상된 표시 장치 및 그 제조 방법에 관한 것이다.

액정 표시 장치(Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시 장치(Plasma Display Panel Device), 유기 발광 다이오드 표시 장치(Organic Light Emitting Diode Display Device) 등과 같은 평판 표시 장치(Flat Panel Display Device)는 얇은 두께와 낮은 소비전력으로 인해 차세대 표시 장치로서 각광을 받고있다.

평판 표시 장치는 복수의 서브-화소와 서브-화소를 구동하기 위한 구동 신호를 제공하는 구동부를 포함한다. 구동부는 외부로부터 입력된 영상 신호를 데이터 구동 신호, 게이트 구동 신호와 같은 아날로그 구동 신호로 변환하여 각각의 서브-화소의 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT)로 제공한다. 구동부는 구동 집적 회로(Drive Integrated Circuit: D-IC)로 구성되며, 구동 집적 회로는 평판 표시 장치의 표시 패널 상에 실장(packaging)되는 방식에 따라 칩 온 글래스(Chip On Glass; COG), 테이프 캐리어 패키지(Tape Carrier Package; TCP), 칩 온 필름(Chip On Film; COF) 등으로 구분된다.

이중 COG 방식은 표시 패널의 기판 상에 구동 집적 회로를 직접 실장하여 구동 집적 회로의 출력단을 기판 상의 배선 패드에 직접 연결하는 방식이다.

한편, 화상을 표시하기 위한 서브-화소는 구동부에 의해 제공되는 구동 신호에 의해 동작하므로, 평판 표시 장치의 제조 공정에서 평판 표시 장치의 동작을 확인하기 위해 구동부의 구동 신호의 특성들을 검사하는 검사 공정이 수행된다. 검사 공정은 검사 장치의 프로브를 사용해 구동부의 출력단에서 출력되는 구동 신호를 샘플링하고, 샘플링된 구동 신호의 파형을 분석하는 방식으로 수행될 수 있다.

COG 방식의 구동부는 구동부의 출력단과 배선의 패드부를 직접 접촉시키고, 구동 집적 회로를 절연 부재로 덮는 방식으로 형성된다. 따라서, 검사 장치의 프로브는 구동부의 출력단에 직접 접촉될 수 없으며, 구동 신호의 검사는 구동부의 출력단과 연결된 배선에 프로브를 직접 접촉시키는 방식으로 수행된다.

한편, COG 방식의 구동부는 기판 상에 직접 실장되므로, 기판 상에 배선들을 배치하기 위한 물리적 공간이 협소해지는 문제가 있다. 특히, 최근에는 평판 표시 장치의 디자인(design) 자유도를 향상시키고, 평판 표시 장치의 표시 영역(display area)의 면적을 극대화하도록 평판 표시 장치의 베젤(bezel)을 얇게하는 연구가 활발하게 진행되고 있다. 얇은 베젤을 갖는 평판 표시 장치의 경우, 배선들이 배치될 수 있는 영역이 극히 제한적이므로, 검사 공정을 위한 별도의 테스트 패드를 배치할 수 있는 공간이 제한된다는 문제가 있다.

한편, COG 방식의 구동부의 출력단과 연결된 배선들은 수 μm 정도의 작은 폭을 가지므로, 프로브가 배선과 직접 접촉되기 위해서는 별도의 현미경 장비가 필요하다. 또한, 프로브는 매우 날카로운 팁을 가지므로, 프로브를 배선에 접촉시키는 과정에서 배선이 손상되는 문제가 발생된다. 배선이 손상되면 구동 신호가 잘 전달되지 못하므로, 평판 표시 장치의 신뢰성이 감소될 수 있고, 배선의 손상이 심한 경우, 평판 표시 장치를 폐기해야 하므로, 평판 표시 장치의 생산 수율이 저하되고, 생산성이 감소되는 문제가 발생된다.

테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 (특허등록번호 제10-1142784호)

이에, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 기판과 이격된 인쇄 회로 기판에 구비된 테스트 패드를 사용하여 구동부의 구동 신호를 검사함으로써, 신뢰성 및 생산성이 향상된 표시 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 기판, 구동부, 테스트 배선 및 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board; PCB)를 포함한다. 기판은 표시 영역 및 비표시 영역을 포함한다. 구동부는 기판의 비표시 영역에 실장된다. 테스트 배선은 구동부의 적어도 하나의 출력단과 연결된다. 인쇄 회로 기판은 기판과 이격되고, 테스트 배선과 연결된 테스트 패드를 갖는다. 여기서, 표시 장치는 인쇄 회로 기판에 배치되어 테스트 배선과 연결되고, 테스트 패드를 갖고, 구동부의 구동 모드(mode)를 선택하는 비트 선택부를 더 포함할 수 있다. 또한, 표시 장치는 구동부의 출력단과 연결된 테스트 스위치를 더 포함할 수 있고, 테스트 배선은 테스트 스위치를 통해 구동부의 출력단과 연결될 수 있다.

전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치는 구동부, 테스트 배선, 테스트 패드 및 플렉서블 인쇄 회로 기판을 포함한다. 구동부는 기판 상에 배치된다. 테스트 배선은 구동부의 출력단과 연결되어 출력단에서 출력되는 구동 신호를 수신하도록 구성된다. 테스트 패드는 기판과 이격된 인쇄 회로 기판 상에 배치되고, 테스트 배선으로부터 구동부의 구동 신호를 수신하도록 구성된다. 플렉서블 인쇄 회로 기판은 테스트 배선과 인쇄 회로 기판의 테스트 패드를 연결한다.

기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.

본 발명은 테스트 배선을 사용하여 기판과 이격된 인쇄 회로 기판 상의 테스트 패드와 구동부의 출력단을 서로 연결함으로써, 검사 장치의 프로브를 배선에 직접 접촉시키는 과정에서 발생되는 배선의 파손 문제를 해결하는 효과가 있다.

본 발명은 인쇄 회로 기판 상에 큰 사이즈로 형성된 테스트 패드를 사용하여 구동 신호를 용이하게 샘플링함으로써, 구동 신호의 검사 시간을 단축시키고, 표시 장치의 생산성을 향상시키는 효과가 있다.

본 발명은 구동부의 출력단을 테스트 스위치를 통해 테스트 배선과 연결시키고, 테스트 배선을 인쇄 회로 기판의 비트 선택부와 연결시킴으로써, 구동 모드에 테스트 배선을 비트 선택 신호를 전달하는 용도로 활용할 수 있으므로, 협소한 공간에 배치된 배선들을 효율적으로 활용할 수 있는 효과가 있다.

본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 블럭도이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 2b은 도 2a의 표시 장치의 A영역에 대한 부분 확대 평면도이다.
도 2c는 도 2a의 표시 장치의 B영역에 대한 부분 확대 평면도이다.
도 3a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 3b는 도 3a의 표시 장치의 C영역에 대한 부분 확대 평면도이다.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.

소자 또는 층이 다른 소자 또는 층 "위 (on)"로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다.

비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.

도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 도시된 것이며, 본 발명이 도시된 구성의 크기 및 두께에 반드시 한정되는 것은 아니다.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 타이밍 컨트롤러(160), 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130) 및 비트 선택부(170)를 포함한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 액정 표시 장치, 유기 발광 표시 장치, 플라즈마 표시 장치 등과 같은 다양한 표시 장치로 구현될 수 있다. 설명의 편의를 위해 이하에서는 액정 표시 장치를 기준으로 설명하기로 한다.

표시 패널(110)은 복수의 서브-화소(SP)를 포함하고, 각각의 서브-화소(SP)의 액정 배열을 제어함으로써, 화상을 구현한다. 서브-화소(SP)는 데이터 배선(141) 및 게이트 배선(142)을 통해 제공된 데이터 구동 신호 및 게이트 구동 신호에 기초하여 동작하며, 표시 패널(110)의 기판 상에 매트릭스 형태로 배치된다. 표시 패널(110)은 서브-화소(SP)가 배치된 표시 영역(D/A) 및 표시 영역(D/A)을 둘러싸는 비표시 영역(N/A)을 포함한다.

서브-화소(SP)는 액정, 액정의 배열을 제어하기 위한 화소 전극 및 공통 전극, 및 화소 전극과 연결된 적어도 하나의 트랜지스터 및 커패시터를 포함한다. 트랜지스터는 데이터 구동 신호 및 게이트 구동 신호에 기초하여 화소 전극과 공통 전극 사이에 전계(electric field)를 형성하고, 액정의 배열은 전계에 기초하여 변경된다. 액정의 배열이 변경되면 액정을 투과하는 백라이트 유닛의 광량이 제어되므로, 표시 패널(110)에 화상이 표시될 수 있다.

타이밍 컨트롤러(160)는 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)의 구동 타이밍을 제어한다. 타이밍 컨트롤러(160)는 외부로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 표시 패널(110)의 해상도에 맞게 재정렬하여 데이터 구동부(120)에 공급한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(160)는 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 도트 클럭 신호(DCLK) 및 데이터 인에이블신호(DE) 등의 타이밍 신호들에 기초하여 데이터 구동부(120)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 구동 제어 신호(DDC)와, 게이트 구동부(130)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 구동 제어 신호(GDC)를 발생한다.

비트 선택부(170)는 데이터 구동부(120)의 구동 모드를 결정하는 비트 선택 신호(BS)를 데이터 구동부(120)에 제공한다. 예를 들어, 비트 선택부(170)는 6비트 선택 신호 또는 8비트 선택 신호를 제공한다. 데이터 구동부(120)가 6비트 선택 신호를 수신한 경우, 데이터 구동부(120)는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 64계조로 세분화된 아날로그 전압으로 전환하여 데이터 배선(141)에 제공한다. 또한, 데이터 구동부(120)가 8비트 선택 신호를 수신한 경우, 데이터 구동부(120)는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 256계조로 세분화된 아날로그 전압으로 전환하여 데이터 배선(141)에 제공한다.

한편, 비트 선택부(170)는 테스트 패드를 포함한다. 테스트 패드는 테스트 배선과 연결되며, 데이터 구동부의 데이터 구동 신호를 수신한다.

비트 선택부(170)는 구동 모드와 테스트 모드를 선택하도록 구성된 모드 전환 스위치를 포함한다. 모드 전환 스위치는 구동 모드에서 데이터 구동부의 구동 모드를 6비트 구동 모드 또는 8비트 구동 모드 중 어느 하나로 선택하도록 구성되며, 모드 전환 스위치를 통해 6비트 선택 신호 및 8비트 선택 신호가 데이터 구동부로 전달된다. 또한, 모드 전환 스위치는 테스트 모드에서 테스트 패드를 테스트 배선과 연결시키며, 테스트 배선을 통해 데이터 구동부(120)의 데이터 구동 신호를 수신한다. 모드 전환 스위치의 세부적인 동작은 도 2c를 참조하여 후술한다.

데이터 구동부(120)는 데이터 배선(141)에 데이터 구동 신호를 인가한다. 데이터 구동부(120)는 데이터 구동 제어 신호(DDC)에 기초하여 타이밍 컨트롤러(160)로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 아날로그 형태의 데이터 구동 신호로 변환하여 데이터 배선(141)에 인가한다. 데이터 구동 제어 신호(DDC) 및 디지털 비디오 데이터(RGB)는 하나의 디지털 신호로 구성될 수 있다. 이 경우, 디지털 신호는 데이터 구동부(120)를 제어하기 위한 제어 패킷(control packet) 및 디지털 비디오 데이터를 포함하는 비디오 데이터 패킷(data packet)으로 구성될 수 있으며, 데이터 구동부(120)는 상술한 디지털 신호에 기초하여 구동될 수 있다. 데이터 구동부(120)는 칩-온-글라스(chip-on-glass; COG) 방식을 통해 표시 패널(110)의 기판에 실장(packaging)되며, 이에 대한 상세한 설명은 도 2a를 참조하여 후술한다.

게이트 구동부(130)는 게이트 배선(142)에 게이트 구동 신호를 인가한다. 게이트 구동부(130)는 게이트 구동 제어 신호(GDC)를 기반으로 게이트 구동 신호를 생성한다. 게이트 구동부(130)는 COG 방식을 통해 표시 패널(110)의 기판에 실장된다.

COG 방식으로 실장된 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)는 표시 패널(110)의 기판에 배치된 데이터 배선(141) 및 게이트 배선(142)에 직접 연결된다. 예를 들어, 데이터 구동부(120)의 출력단은 데이터 배선의 패드부에 직접 접촉되며, 게이트 구동부(130)의 출력단은 게이트 배선의 패드부에 직접 접촉된다. COG 방식으로 실장된 데이터 구동부(120)의 데이터 구동 신호 또는 게이트 구동부(130)의 게이트 구동 신호를 샘플링하기 위해 테스트 배선이 데이터 구동부(120)의 출력단 또는 게이트 구동부(130)의 출력단에 연결된다. 테스트 배선에 대한 세부적인 설명을 위해 도 2a를 함께 참조한다.

도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다. 도 2a를 참조하면, 표시 장치(100)는 기판(101), 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130), 타이밍 컨트롤러(160), 비트 선택부(170) 및 테스트 라인(124)을 포함한다. 도 2a의 도시된 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130) 및 타이밍 컨트롤러(160)의 기능은 도 1을 참조하여 설명하였는바, 이에 대한 중복된 설명은 생략한다.

앞서 언급한 바와 같이, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)는 모두 COG 방식으로 표시 패널의 기판(101)에 실장된다. 다만, 기판(101)은 유리 기판으로 한정되지 않고, 폴리이미드(polyimide; PI), 폴리에테르이미드(polyetherimide; PEI), 폴리에틸렌 테레프탈레이드(polyethyelene terephthalate; PET), 폴리카보네이트(polycarbonate; PC), 폴리메틸메타크릴레이트(polymethylmethacrylate; PMMA), 폴리스티렌(polystyrene; PS), 스티렌아크릴나이트릴코폴리머(styreneacrylnitrile polymer; SAN), 실리콘-아크릴 수지(silicon-acryl resin) 등과 같은 플라스틱 물질로 구성될 수도 있다.

기판(101)은 표시 영역(D/A) 및 비표시 영역(N/A)을 포함한다. 표시 영역(D/A)에는 서브-화소를 구성하는 트랜지스터 및 커패시터가 배치된다. 설명의 편의를 위해 도 2a에서 표시 영역(D/A)에 배치된 구성들은 도시되지 않았다. 비표시 영역(N/A)에는 배선들 및 구동부가 배치된다.

데이터 구동부(120)는 기판(101)의 비표시 영역(N/A)에 실장되며, 복수의 데이터 구동 집적 회로로 구성된다. 데이터 구동부(130)는 복수의 입력단(122) 및 복수의 출력단(121)을 포함한다. 복수의 입력단(122)은 각각 제1 입력 배선(143)과 접촉되고, 복수의 출력단(121)은 데이터 배선(141)과 접촉된다. 데이터 구동부(120)를 구성하는 복수의 데이터 구동 집적 회로는 제1 연결 배선(145)을 통해 서로 종속 접속(cascade)된다. 이 경우, 타이밍 컨트롤러(160)의 데이터 구동 제어 신호는 기판의 일측 모서리 부분에 배치된 하나의 데이터 구동 집적 회로에 전달되고, 제1 연결 배선(145)을 통해 인접하는 다른 데이터 구동 집적 회로로 전달된다. 이에, 플렉서블 인쇄 회로 기판(Flexible Printed Circuit Board; FPCB)(180)에 배치된 배선들의 개수가 감소되고 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 폭이 감소될 수 있다. 그러나, 복수의 데이터 구동 집적 회로가 반드시 종속 접속되는 것은 아니며, 복수의 데이터 구동 집적 회로는 복수의 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)에 각각 개별적으로 연결될 수 있다.

게이트 구동부(130)는 표시 패널의 기판(101)의 비표시 영역(N/A)에 실장된다. 게이트 구동부(130)는 복수의 게이트 구동 집적 회로로 구성되며, 복수의 입력단 및 복수의 출력단을 포함한다. 복수의 입력단은 각각 제2 입력 배선(144)과 접촉되고, 복수의 출력단은 게이트 배선(142)과 접촉된다. 게이트 구동부(130)를 구성하는 복수의 게이트 구동 집적 회로는 제2 연결 배선(146)을 통해 서로 종속 접속된다.

기판(101)의 비표시 영역(N/A)에 배치되는 제1 입력 배선(143), 제2 입력 배선(144), 제1 연결 배선(145) 및 제2 연결 배선(146)은 라인 온 글래스(Line On Glass; LOG) 방식으로 형성된다. 즉, 제1 입력 배선(143), 제2 입력 배선(144), 제1 연결 배선(145) 및 제2 연결 배선(146)의 각 표면은 패시베이션층으로 절연되어 있으며, 외부 정전기 또는 이물에 의한 제1 입력 배선(143), 제2 입력 배선(144), 제1 연결 배선(145) 및 제2 연결 배선(146)의 손상은 최소화될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 데이터 구동부(120)의 적어도 하나의 출력단(121) 또는 게이트 구동부(130)의 적어도 하나의 출력단과 연결된 테스트 라인(124)을 포함한다. 테스트 라인(124)은 데이터 구동부(120)의 출력단(121)에서 출력되는 데이터 구동 신호 또는 게이트 구동부(130)의 출력단에서 출력되는 게이트 구동 신호를 테스트 패드로 전달한다. 도 2a에는 하나의 예로서, 데이터 구동부(120)의 출력단(121)과 연결된 테스트 배선(124)을 도시한다. 이하에서는 테스트 배선(124)이 데이터 구동부(120)의 출력단(121)과 연결된 것을 기준으로 설명한다.

테스트 배선(124)은 데이터 구동부(120)의 적어도 하나의 출력단(121)과 연결되며, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)을 통해 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board; PCB)(190)과 연결된다. 예를 들어, 테스트 배선(124)은 데이터 배선(141)과 접촉하며, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)이 기판(101)과 접촉되는 부분으로 연장되어 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)과 접촉한다. 테스트 배선(124)에 대한 보다 상세한 설명을 위해 도 2b를 함께 참조한다.

도 2b은 도 2a의 표시 장치의 A영역에 대한 부분 확대 평면도이다. 도 2b에는 배선들이 선 형태로 도시되어 있다. 또한, 도 2b에는 데이터 구동부(120)의 출력 버퍼(123) 및 출력단(121), 테스트 배선(124) 및 데이터 배선(141)만 도시되어 있으며, 데이터 구동부(120)의 다른 구성 요소 및 다른 배선들은 도시되어 있지 않다.

데이터 구동부(120)의 출력 버퍼(123)를 통해 출력된 데이터 구동 신호는 데이터 구동부(120)의 출력단(121)을 통해 데이터 배선(141)에 전달된다. 출력 버퍼(123)는 데이터 구동부(120)의 디지털 아날로그 컨버터(Digital Analog Converter; DAC)를 통해 제공되는 아날로그 형태의 전압 신호인 데이터 구동 신호를 정해진 타이밍에 출력단(121)으로 출력한다.

테스트 배선(124)은 데이터 배선(141)과 연결되며, 데이터 배선(141)에 인가되는 데이터 구동 신호를 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)으로 전달한다. 구체적으로, 데이터 구동부(120)의 출력단(121)은 데이터 배선(141)의 패드부와 접촉되고, 데이터 구동 신호는 데이터 배선의 패드부를 통해 데이터 배선(141)으로 전달된다. 데이터 구동 신호는 데이터 배선과 연결된 테스트 배선(124)을 통해 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)으로 전달될 수 있다. 테스트 배선(124)은 제1 입력 배선(143)과 동일하게 LOG 방식으로 기판(101)에 형성된다. 즉, 테스트 배선(124)의 표면은 패시베이션층을 통해 절연된다.

도 2a에 도시된 바와 같이, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)은 인쇄 회로 기판(190)과 연결된다. 테스트 배선(124)을 통해 수신된 데이터 구동 신호는 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)을 통해 인쇄 회로 기판 상(190)의 테스트 패드로 전달된다. 이하, 테스트 패드의 세부적인 설명을 위해 도 2c를 함께 참조한다.

도 2c는 도 2a의 표시 장치의 B영역에 대한 부분 확대 평면도이다. 도 2c를 참조하면, 테스트 패드(TP)는 인쇄 회로 기판(190)의 비트 선택부(170)에 구비되며, 비트 선택부(170)는 테스트 패드(TP) 및 모드 전환 스위치(171)를 포함한다. 도 2c에서 비트 선택부(170)는 개략적인 등가 회로도로 도시되어 있다.

비트 선택부(170)는 기판(101)과 이격된 인쇄 회로 기판(190)에 배치되고, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)을 통해 테스트 배선(124)과 연결된다. 구체적으로, 테스트 배선(124)은 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)과 연결되며, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)은 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)과 연결된다. 비트 선택부(170)는 스위치 배선(194) 및 비트 선택 배선(184)을 통해 테스트 배선(124)과 연결되며, 테스트 배선(124)으로부터 데이터 구동부(120)의 구동 신호를 수신한다.

비트 선택부(170)의 모드 전환 스위치(171)는 데이터 구동부(120)의 구동 모드 및 테스트 모드를 선택하도록 구성된다. 구체적으로, 모드 전환 스위치(171)는 8비트 구동 모드, 6비트 구동 모드 및 테스트 모드를 선택한다.

예를 들어, 데이터 구동부(120)의 구동 모드를 6비트 구동 모드로 선택하는 경우, 모드 전환 스위치(171)는 a단자와 연결될 수 있다. 이 경우, 모드 전환 스위치(171)에는 하이(high) 레벨 전압(Vcc)이 인가되므로, "하이" 값을 갖는 비트 선택 신호가 모드 전환 스위치를 통해 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)으로 전달된다.

또한, 데이터 구동부(120)의 구동 모드를 8비트 구동 모드로 선택하는 경우, 모드 전환 스위치(171)는 b단자와 연결될 수 있다. 이 경우, 모드 전환 스위치(171)는 접지되므로, "로우(low)" 값을 갖는 비트 선택 신호가 모드 전환 스위치(171)를 통해 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)으로 전달된다.

모드 전환 스위치(171)가 a단자 또는 b단자에 연결된 경우, 비트 선택 신호는 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)을 통해 데이터 구동부(120)로 전달될 수 있다. 예를 들어, 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)은 플렉서블 인쇄 회로 기판의 신호 배선(183)과 연결될 수 있다. 또한, 도 2a에 도시된 바와 같이, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 신호 배선(183)은 제1 입력 배선(143)을 통해 데이터 구동부(120)와 연결될 수 있으며, 비트 선택 신호는 신호 배선(183) 및 제1 입력 배선(143)을 통해 데이터 구동부(120)로 전달될 수 있다. 데이터 구동부(120)는 비트 선택 신호에 기초하여 8비트 모드 또는 6비트 모드로 구동되며, 256계조 또는 64계조로 세분화된 아날로그 전압을 포함하는 데이터 구동 신호를 출력한다.

한편, 도 2c에 도시된 바와 같이, 테스트 모드를 선택하는 경우, 모드 전환 스위치(171)는 턴-오프(turn-off)된다. 즉, 모드 전환 스위치(171)는 a단자와 b단자에 모두 연결되지 않으며, 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)은 테스트 패드(TP)와 연결된다. 모드 전환 스위치(171)가 턴-오프된 경우, 테스트 패드(TP)에는 스위치 배선(194)을 통해 전달된 데이터 구동 신호가 인가된다. 구체적으로, 테스트 모드에서 스위치 배선(194)은 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)과 연결될 수 있다. 도 2a에 도시된 바와 같이, 비트 선택 배선(184)은 테스트 배선(124)과 연결되므로, 테스트 배선(124)을 통해 전달되는 데이터 구동 신호는 비트 선택 배선(184) 및 인쇄회로 기판(190)의 스위치 배선(194)을 통해 테스트 패드(TP)로 전달될 수 있다. 한편, 앞서 언급한 바와 같이, 스위치 배선(194)은 6비트 구동 모드 또는 8비트 구동 모드에서 비트 선택 신호를 전달하며, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 신호 배선(183)과 연결된다. 즉, 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)은 테스트 모드에서 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)과 연결되며, 구동 모드에서 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 신호 배선(183)과 연결된다. 인쇄 회로 기판 상(190)에는 스위치 배선(194)을 구동 모드 동안 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 신호 배선(183)과 연결시키고, 테스트 모드 동안 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(184)과 연결시키기 위한 스위치가 추가적으로 배치될 수 있다.

테스트 모드에서 데이터 구동 신호는 테스트 패드(TP)에 전달되므로, 데이터 구동 신호의 특성을 분석하기 위한 검사 장치는 인쇄 회로 기판(190)에 구비된 테스트 패드(TP)와 연결될 수 있다. 구체적으로, 검사 장치의 프로브(probe)가 테스트 패드(TP)에 접촉된 경우, 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선(194)으로 전달된 데이터 구동 신호는 테스트 패드(TP)를 통해 프로브로 전달될 수 있으며, 데이터 구동부(120)의 데이터 구동 신호는 프로브를 통해 샘플링될 수 있다. 샘플링된 데이터 구동 신호는 프로브와 연결된 검사 장치를 통해 분석될 수 있다.

앞서 언급한 바와 같이, 인쇄 회로 기판(190)은 표시 장치(100)의 기판(101) 배면에서 기판(101)과 이격되어 배치되므로, 인쇄 회로 기판(190)에 의한 표시 장치(100)의 시인성 감소는 실질적으로 발생되지 않을 수 있다. 인쇄 회로 기판(190)에 의한 시인성 감소는 발생되지 않으므로, 인쇄 회로 기판(190)의 전 영역은 자유롭게 사용될 수 있으며, 인쇄 회로 기판(190)은 표시 장치(100)의 기판(101)에 비해 비교적 공간적 여유를 갖는다. 따라서, 테스트 패드(TP)는 충분히 큰 사이즈로 형성될 수 있다. 테스트 패드(TP)의 사이즈가 충분히 큰 경우, 프로브는 용이하게 테스트 패드(TP)에 접촉될 수 있고, 데이터 구동 신호의 분석이 보다 빠르고 용이하게 수행될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 데이터 구동부(120)의 출력단(121)과 연결된 테스트 배선(124) 및 테스트 배선(124)과 연결된 테스트 패드(TP)를 포함한다. 테스트 패드(TP)는 표시 장치(100)의 기판(101) 상에 배치되지 않고, 기판(101)과 이격된 인쇄 회로 기판(190) 상에 배치된다. 이에, 기판(101)에는 테스트 패드(TP)를 위한 별도의 공간이 구비될 필요가 없으며, 기판(101)의 비표시 영역(N/A)에 공간적 여유가 발생되는 이점이 있다.

또한, 테스트 패드(TP)는 인쇄 회로 기판(190) 상에 큰 사이즈로 형성될 수 있으므로, 프로브의 접촉이 보다 용이해질 수 있다. 즉, 종래 COG 방식의 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치에서 데이터 구동 신호의 파형을 분석하기 위해서는 프로브를 데이터 라인에 직접 접촉 시켜야 하는 어려움이 있었다. 이 경우, 프로브를 데이터 라인에 직접 접촉 시키기위해 별도의 현미경이 사용되었으며, 프로브에 의해 데이터 라인이 손상되는 문제가 빈번하게 발생되었다. 그러나, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)의 경우, 프로브를 인쇄 회로 기판(190) 상에 큰 사이즈로 형성된 테스트 패드(TP)에 접촉시키는 방식으로 데이터 구동 신호를 샘플링할 수 있으므로, 데이터 구동 신호의 분석이 보다 신속하고 빠르게 수행될 수 있다. 결과적으로, 프로브로 인한 표시 장치(100)의 데이터 배선 손상이 최소화될 수 있으므로, 표시 장치(100)의 신뢰성이 향상된다. 또한, 데이터 구동 신호의 분석이 보다 신속하고 빠르게 수행될 수 있으므로, 표시 장치(100)의 생산성이 향상될 수 있다.

도 3a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다. 도 3b는 도 3a의 표시 장치의 C영역에 대한 부분 확대 평면도이다. 도 3a 및 도 3b의 표시 장치(300)는 테스트 스위치(325)를 더 포함하고, 테스트 배선(324)이 제1 서브 배선(324a) 및 제2 서브 배선(324b)으로 구성된 것을 제외하고는, 2a의 표시 장치(100)와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략한다.

도 3a를 참조하면, 테스트 배선(324)은 제1 서브 배선(324a) 및 제2 서브 배선(324b)을 포함한다. 테스트 배선(324)의 제1 서브 배선(324a)은 데이터 구동부(120)에 배치되며, 테스트 배선(324)의 제2 서브 배선(324b)은 기판(101) 상에 배치된다. 제1 서브 배선(324a)과 제2 서브 배선(324b)은 데이터 구동부(120)의 입력단(122)을 통해 서로 연결된다.

도 3b를 참조하면, 테스트 배선(324)의 제1 서브 배선(324a)은 데이터 구동부(120)의 출력단(121)과 연결된다. 예를 들어, 제1 서브 배선(324a)은 테스트 스위치(325)와 연결되며, 테스트 스위치(325)는 데이터 구동부(120)의 출력 버퍼(123)와 출력단(121) 사이에 연결된다. 데이터 구동부(120)의 출력 버퍼(123)를 통해 출력된 최종 데이터 구동 신호는 테스트 스위치(325)를 통해 제1 서브 배선(324a)으로 전달된다.

테스트 배선(324)의 제1 서브 배선(324a)은 데이터 구동부(120)의 외곽을 따라 연장되어 데이터 구동부(120)의 입력단(122)과 접촉된다. 데이터 구동부(120)의 입력단(122)은 기판(101) 상에 배치된 패드부를 통해 테스트 배선(324)의 제2 서브 배선(324b)과 연결된다. 제2 서브 배선(324b)은 기판(101)의 비표시 영역(N/A)에 LOG 방식으로 형성되며, 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(384)과 연결되도록 연장된다.

테스트 스위치(325)는 테스트 모드에서 턴-온(turn-on)되고, 구동 모드에서 턴-오프되도록 구성된다. 테스트 스위치(325)가 턴-온되는 경우, 데이터 구도부(120)의 출력단(121)은 테스트 배선(324)과 연결되고, 테스트 스위치(325)가 턴-오프되는 경우, 데이터 구동부(120)의 출력단(121)은 테스트 배선(324)과 분리된다.

구체적으로, 구동 모드에서 테스트 스위치(325)는 턴-오프되며, 데이터 구동부(120)의 출력단(121)은 테스트 배선(324)으로부터 분리된다. 데이터 구동부(120)의 출력 버퍼(123)에서 출력되는 데이터 구동 신호는 데이터 구동부(120)의 출력단(121)을 통해 데이터 배선(141)으로만 인가될 수 있다. 테스트 모드에서 테스트 스위치(325)는 턴-온되며, 데이터 구동부(120)의 출력단(121)은 테스트 배선(324)과 연결된다. 데이터 구동부(120)의 출력 버퍼(123)에서 출력되는 데이터 구동 신호는 테스트 스위치(325)를 통해 테스트 배선(324)의 제1 서브 배선(324a)에 인가될 수 있다. 이 경우, 제1 서브 배선(324a)에 인가된 데이터 구동 신호는 데이터 구동부(120)의 입력단(122)을 통해 테스트 배선(324)의 제2 서브 배선(324b)으로 전달되고, 제2 서브 배선(324b)과 연결된 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(384)을 통해 인쇄 회로 기판(190)의 테스트 패드로 전달되며, 테스트 패드를 통해 샘플링될 수 있다.

테스트 스위치(325)는 데이터 구동부(120)를 제어하는 데이터 구동 제어 신호에 기초하여 턴-온 또는 턴-오프될 수 있다. 앞서 언급한 바와 같이, 데이터 구동 제어 신호 및 디지털 비디오 데이터는 패킷 형태로 구성되어 하나의 디지털 데이터 내에 포함될 수 있으므로, 테스트 스위치(325)는 디지털 데이터의 제어 패킷 내에 할당된 특정 데이터에 기초하여 동작할 수 있다. 예를 들어, 제어 패킷 내에 할당된 특정 데이터가 "하이" 값을 갖는 경우, 테스트 스위치(325)는 턴-온되고, 특정 데이터가 "로우" 값을 갖는 경우, 테스트 스위치(325)는 턴-오프되도록 구성될 수 있다. 테스트 스위치(325)가 데이터 구동부(120)를 제어하기 위한 구동 제어 신호에 기초하여 턴-온 또는 턴-오프되는 경우, 테스트 스위치(325)는 별도의 신호로 제어되지 않고, 데이터 구동부(120)를 제어하기 위한 구동 제어 신호로 제어되므로, 테스트 스위치(325)를 제어하기 위한 별도의 배선이 추가될 필요가 없는 이점이 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 구동 모드에서 턴-오프되고, 테스트 모드에서 턴-온되는 테스트 스위치(325)를 포함하므로, 테스트 배선(324)이 보다 다양한 용도로 활용될 수 있다. 예를 들어, 테스트 배선(324)은 구동 모드에서 데이터 구동부(120)의 구동 모드를 선택하기 위한 비트 선택 신호를 전달하는 배선으로 기능할 수 있다.

구체적으로, 도 3a에 도시된 바와 같이, 테스트 배선(324)은 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(384)을 통해 인쇄 회로 기판(190)의 비트 선택부(170)와 연결된다. 비트 선택부(170)의 모드 전환 스위치는 구동 모드에서 비트 선택 배선(384)에 비트 선택 신호를 전달하고, 테스트 모드에서 비트 선택 배선(384)로부터 데이터 구동 신호를 수신한다. 예를 들어, 구동 모드에서 비트 선택부(170)의 모드 전화 스위치는 데이터 구동부(120)의 구동 모드를 6비트 구동 모드 또는 8비트 구동 모드로 선택하기 위한 비트 선택 신호를 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선에 전달할 수 있다. 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선은 비트 선택 신호를 테스트 배선(324)으로 전달하도록 플렉서블 인쇄 회로 기판(180)의 비트 선택 배선(384)과 연결될 수 있다. 테스트 배선(324)은 비트 선택 배선(384)을 통해 비트 선택 신호를 수신하고, 수신된 비트 선택 신호를 데이터 구동부(120)로 전달할 수 있다. 한편, 테스트 모드에서 테스트 배선(324)을 통해 전달된 데이터 구동 신호는 비트 선택 배선(384)을 통해 인쇄 회로 기판(190)의 스위치 배선으로 전달되고, 데이터 구동 신호는 비트 선택부(170)에 구비된 테스트 패드로 전달된다. 결과적으로, 테스트 배선(324)은 테스트 모드에서 데이터 구동 신호를 전달하는 배선으로 기능하며, 구동 모드에서 비트 선택 신호를 데이터 구동부(120)에 전달하는 배선으로 기능한다. 이에, 비트 선택 신호를 데이터 구동부(120)로 전달하기 위한 별도의 배선이 생략될 수 있으며, 기판(101)의 비표시 영역(N/A)에 배선을 위한 공간이 좀더 확보될 수 있다.

한편, 테스트 스위치(325)는 정전기로 인한 테스트 배선(324)의 제1 서브 배선(324a)의 손상을 방지하는 방지 회로로 기능할 수 있다. 데이터 구동부(120)는 COG 방식으로 기판(101) 상에 실장되므로, 데이터 구동부(120)에 배치된 배선들은 노출된 표면을 갖는다. 즉, 데이터 구동부(120)는 기판(101) 상의 패드부와 직접 접촉되어야 하므로, 전기적 접촉을 위해 데이터 구동부(120)의 배선들은 노출된 상태로 형성된다. 데이터 구동부(120)의 배선들은 데이터 구동부(120)를 기판(101) 상에 집착하고, 별도의 절연 부재로 데이터 구동부(120)를 실장함으로써, 절연될 수 있다. 데이터 구동부(120)가 실장되기 이전에 테스트 배선(324)의 제1 서브 배선(324a)은 노출된 상태이므로, 데이터 구동부(120)는 정전기에 비교적 취약할 수 있다. 즉, 표시 장치(100)를 제조하는 공정에서 정전기가 발생되는 경우, 정전기로 인해 제1 서브 배선(324a)에는 높은 전류가 흐를 수 있다. 만약, 테스트 스위치(325)가 없는 경우, 정전기로 인한 높은 전류는 제1 서브 배선(324a)을 통해 데이터 구동부(120)의 회로들로 전달되며, 데이터 구동부(120)의 회로들이 손상될 수 있다. 그러나, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 테스트 스위치(325)를 포함하고, 테스트 스위치(325)가 정전기로 인한 높은 전류를 차단할 수 있으므로, 데이터 구동부(120)의 회로들이 정전기로 인해 손상되는 것이 최소화될 수 있다.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

100, 300: 표시 장치
101: 기판
110: 표시 패널
120: 데이터 구동부
121: 데이터 구동부의 출력단
122: 데이터 구동부의 입력단
123: 데이터 구동부의 출력 버퍼
124, 324: 테스트 배선
130: 게이트 구동부
141: 데이터 배선
142: 게이트 배선
143: 제1 입력 배선
144: 제2 입력 배선
145: 제1 연결 배선
146: 제2 연결 배선
160: 타이밍 컨트롤러
170: 비트 선택부
171: 모드 선택 스위치
180: 플렉서블 인쇄 회로 기판
183, 383: 신호 배선
184, 384: 비트 선택 배선
190: 인쇄 회로 기판
194: 스위치 배선
324a: 테스트 배선의 제1 서브 배선
324b: 테스트 배선의 제2 서브 배선
325: 테스트 스위치
D/A: 표시 영역
N/A: 비표시 영역

Claims

표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판;
상기 기판의 비표시 영역에 실장된 구동부;
상기 구동부의 적어도 하나의 출력단과 연결된 테스트 배선; 및
상기 기판과 이격되고, 상기 테스트 배선과 연결된 테스트 패드를 갖는 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board; PCB)을 포함하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 인쇄 회로 기판에 배치되어 상기 테스트 배선과 연결되고, 상기 테스트 패드를 갖고, 상기 구동부의 구동 모드(mode)를 선택하는 비트 선택부를 더 포함하는, 표시 장치.
제2항에 있어서,
상기 구동부의 상기 출력단과 연결된 테스트 스위치를 더 포함하고,
상기 테스트 배선은 상기 테스트 스위치를 통해 상기 구동부의 출력단과 연결된, 표시 장치.
제3항에 있어서,
상기 테스트 배선은,
상기 구동부에 배치된 제1 서브 배선; 및
상기 제1 서브 배선과 연결되고, 상기 기판의 비표시 영역에 배치된 제2 서브 배선을 포함하고,
상기 테스트 스위치는 상기 제1 서브 배선과 연결된, 표시 장치.
제4항에 있어서,
상기 테스트 배선의 상기 제2 서브 배선은 표면이 절연된 라인 온 글래스(Line On Glass; LOG)방식으로 상기 기판에 배치된, 표시 장치.
제3항에 있어서,
상기 테스트 스위치는 상기 구동부를 제어하는 구동 제어 신호의 제어 패킷에 할당된 데이터에 기초하여 턴-온(turn-on) 또는 턴-오프(turn-off)되는, 표시 장치.
기판 상의 구동부;
상기 구동부의 출력단과 연결되어 상기 출력단에서 출력되는 구동 신호를 수신하도록 구성된 테스트 배선;
상기 기판과 이격된 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board; PCB)상에 배치되고, 상기 테스트 배선으로부터 상기 구동부의 상기 구동 신호를 수신하도록 구성된 테스트 패드; 및
상기 테스트 배선과 상기 인쇄 회로 기판의 테스트 패드를 연결하는 플렉서블 인쇄 회로 기판(Flexible Printed Circuit Board; FPCB)을 포함하는, 표시 장치.
제7항에 있어서,
상기 플렉서블 인쇄 회로 기판에 배치되고, 상기 테스트 배선과 연결되어 상기 구동부의 동작 모드를 결정하는 비트 선택 신호를 전달하도록 구성된 비트 선택 배선을 더 포함하는, 표시 장치.
제8항에 있어서,
상기 인쇄 회로 기판상에 배치되고, 구동 모드에서 상기 비트 선택 배선에 상기 비트 선택 신호를 전달하고, 테스트 모드에서 상기 비트 선택 배선으로부터 상기 구동부의 상기 구동 신호를 수신하도록 구성된 모드 전환 스위치를 더 포함하는, 표시 장치.
제9항에 있어서,
상기 테스트 모드에서 상기 구동부의 상기 출력단과 상기 테스트 배선을 연결하고, 상기 구동 모드에서 상기 출력단과 상기 테스트 배선을 분리하도록 구성된 테스트 스위치를 더 포함하는, 표시 장치.