KR101142784B1 - 테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 - Google Patents
테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101142784B1 KR101142784B1 KR1020050017763A KR20050017763A KR101142784B1 KR 101142784 B1 KR101142784 B1 KR 101142784B1 KR 1020050017763 A KR1020050017763 A KR 1020050017763A KR 20050017763 A KR20050017763 A KR 20050017763A KR 101142784 B1 KR101142784 B1 KR 101142784B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- liquid crystal
- gate
- data
- pad
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13458—Terminal pads
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1343—Electrodes
- G02F1/134309—Electrodes characterised by their geometrical arrangement
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
- G02F2201/121—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode common or background
Abstract
본 발명은 데이터 및/또는 게이트라인의 아웃풋펄스 파형을 용이하게 확인할 있도록 각각으로부터 인출되어 외부로 직접 노출된 테스트패드를 구비한 액정패널 및 이의 제조방법에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명은 제 1 내지 제 4 가장자리를 갖는 제 1 기판과; 상기 제 1 기판 일면에 종횡으로 교차 형성되어 화소를 정의하는 데이터라인 및 게이트라인과; 상기 데이터라인과 게이트라인 일 끝단에 각각 연결되고 상기 제 1 기판의 제 1 및 제 2 가장자리에 각각 위치되는 데이터 및 게이트패드와; 상기 데이터라인 타 끝단에 연결되고 상기 제 1 기판 제 3 가장자리에 위치되는 제 1 테스트패드와; 상기 게이트라인과 데이터라인의 교차점에 마련된 박막트랜지스터와; 상기 화소에 실장되며 상기 박막트랜지스터와 연결되는 화소전극과; 상기 제 1 기판과 합착되고 상기 제 1, 제 2, 제 3 가장자리를 노출시키는 제 2 기판과; 상기 제 1 기판과 마주보는 제 2 기판 일면에 형성된 블랙매트릭스 그리고 컬러필터와; 상기 블랙매트릭스 그리고 컬러필터를 덮는 투명 공통전극과; 상기 제 1 및 제 2 기판 사이로 개재된 액정층을 포함하는, 테스트패드가 마련된 액정패널을 제공한다. 그 결과 제 1 테스트패드를 이용하여 데이터라인의 신호전달 품질을 보다 용이하고 간단하게 측정할 수 있다.
Description
도 1은 일반적인 액정패널에 대한 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 액정패널에 대한 사시도.
도 3은 본 발명에 따른 액정패널 일부에 대한 분해사시도.
도 4는 본 발명에 따른 액정패널의 제 1 기판에 대한 개략적인 평면도.
도 5는 본 발명에 따른 액정패널의 변형예에 대한 사시도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
102 : 액정패널 110,130 : 제 1 및 제 2 기판
112,114,116,118 : 제 1 내지 제 4 가장자리
122,124 : 데이터 및 게이트패드 126 : 테스트패드
142,144 : TCP
146,148 : 데이터 및 게이트구동회로
본 발명은 테스트패드(test pad)가 마련된 액정패널(liquid crystal display panel) 및 이의 제조방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 데이터 및/또는 게이트라인의 아웃풋펄스(output pulse) 파형을 용이하게 확인할 있도록 각각으로부터 인출되어 외부로 직접 노출된 테스트패드를 구비한 액정패널 그리고 이의 제조방법에 관한 것이다.
근래에 들어 사회가 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 각종 전기적 신호정보를 시각적으로 표현하는 디스플레이(display) 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 여러 가지 다양한 종류의 평판표시장치(Flat Panel Display device : FPD)가 소개된 바 있다.
이 같은 평판표시장치의 구체적인 예로는 액정표시장치(Liquid Crystal Display device : LCD), 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel device : PDP), 전계방출표시장치(Field Emission Display device : FED), 전기발광표시장치(Electroluminescence Display device : ELD) 등을 들 수 있으며, 이들은 박형화, 경량화, 저소비전력화 등의 우수한 성능을 보유하고 있어 기존의 브라운관(Cathode Ray Tube : CRT)을 빠르게 대체하며 각광받고 있다.
이중 액정표시장치는 콘트라스트비(contrast ratio)가 크고 동화상 표시에 적합한 특징을 보여 노트북, 모니터, TV 분야에서 가장 활발하게 사용되고 있는데, 이는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용한 화상구현원리를 갖는다. 즉, 주지된 바와 같이 액정은 분자구조가 가늘고 길며 배열에 방향성을 갖는 광학적 이방 성과 전기장 내에 놓일 경우에 그 크기에 따라 분자배열 방향이 변화되는 분극성질을 띤다.
이에 액정표시장치는 액정층을 사이에 두고 서로 마주보는 면에 투명 전계생성전극이 형성된 한 쌍의 제 1 및 제 2 기판을 합착시켜 이루어지는 액정패널(liquid crystal panel) 그리고 여기에 빛을 공급하는 백라이트어셈블리(back light assembly)를 포함하며, 액정패널의 두 전계생성전극 사이의 전기장을 제어하여 액정분자 배열방향을 인위적으로 조절함으로써 투과율 차이를 발생시키고 이 같은 액정패널에 백라이트어셈블리로부터 발생된 빛을 통과시켜 상기 투과율의 차이가 외부로 발현되도록 하여 여러 가지 화상을 표시한다.
최근에는 특히 액정패널 상에 화상표현의 기본단위인 화소(pixel)를 행렬방식으로 배열하고 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : TFT)를 이용하여 이들을 독립적으로 제어하는 능동행렬방식(Active Matrix type)이 색 재현성과 빠른 영상전환에 유리하여 주목받고 있는데, 이의 구성을 간단하게 살펴본다.
일반적인 능동행렬방식 액정패널은 앞서도 언급한 바와 같이 액정층을 사이에 두고 대면 합착된 제 1 및 제 2 기판을 포함하며, 이중 제 1 기판 일면에는 다수의 데이터라인과 게이트라인이 종횡 교차하여 매트릭스 형태의 화소를 정의하고, 이들의 교차점에 박막트랜지스터가 구비되어 각 화소에 실장된 투명 화소전극과 일대일 대응 연결된다. 그리고 제 2 기판 일면에는 데이터라인과 게이트라인을 비롯한 박막트랜지스터 등의 비표시요소를 가리면서 화소전극 만을 노출시키는 격자 형상의 블랙매트릭스(black martix)와, 이들 각 격자에 충진된 일례로 적(Red), 녹 (Green), 청(Blue) 컬러필터(color filter) 그리고 이들 모두를 덮는 투명 공통전극이 마련되어 있다.
첨부된 도 1은 이 같은 액정패널(2)에 대한 사시도로서, 상술한 구성의 제 1 기판(10)과 제 2 기판(30)이 액정층을 사이에 두고 서로 대면 합착되어진 상태이다.
이때 제 1 기판(10)은 제 2 기판(30) 보다 면적이 커서 합착 시 제 1 기판(10)의 서로 인접한 임의의 두 가장자리가 외부로 노출되며, 여기에는 각각 데이터라인과 연결된 데이터패드(22)와 게이트라인과 연결된 게이트패드(24)가 존재한다. 그리고 이들 데이터패드(22)와 게이트패드(24)는 각각 TCP(42,46)를 매개로 데이터구동회로(44)와 게이트구동회로(48)에 연결되며, 후자의 게이트구동회로(48)는 프레임(frame) 별 박막트랜지스터의 온/오프(on/off)를 각 게이트라인에 주사(scan) 전달하고 전자의 데이터구동회로(44)는 프레임 별 화상신호를 데이터라인에 전달한다.
따라서 게이트라인으로 주사 전달된 박막트랜지스터의 온/오프 신호에 의해 각 게이트라인 별 선택된 박막트랜지스터가 온(on) 되면 해당 화소전극으로 데이터라인의 화상신호가 전달되고, 이로 인해 발생되는 화소전극과 공통전극 사이의 전기장에 의해 액정분자의 배열방향이 변화되어 투과율의 차이를 나타낸다.
한편, 상기한 구성의 액정패널(2)에 있어서 게이트라인과 데이터라인의 신호전달 품질은 화질을 결정짓는 결정적인 부분으로서, 각 라인의 단선이나 단락을 비롯하여 배선저항과 같은 여러 가지 요인에 의해 신호가 왜곡될 경우 화질저하와 직 결된다.
따라서 액정패널(2)의 제조 후 데이터라인과 게이트라인의 신호전달 품질을 테스트하는 공정이 후속되는데, 상기 테스트 공정은 액정패널(2)의 데이터패드(22)와 게이트패드(24)에 소정의 테스트용 인풋펄스(input pulse)를 인가함과 동시에 각 라인의 최종 끝단에서 아웃풋펄스(output pulse)의 파형을 추출하여 이들을 서로 비교하는 방식을 취한다.
하지만 앞서 도면에서 확인한 바와 같이 일반적인 액정패널(2)의 제 1 기판(10)은 데이터패드(22)와 게이트패드(24)가 마련된 두 가장자리만 외부로 노출될 뿐 데이터라인과 게이트라인 끝단은 제 2 기판(30)에 의해 덮여지므로 아웃풋펄스 파형을 측정할 수 있는 접촉지점이 존재하지 않는다. 따라서 상기 테스트 공정을 위해 데이터라인과 게이트라인 끝단이 외부로 노출되도록 제 1 기판(10)과 일치된 제 2 기판(30)의 두 가장자리를 벗겨내는 이른바 디캡(decap) 작업이 선행된다.
그러나 이 같은 디캡 공정은 임의의 액정패널(2)에 대해 한정적으로 진행되는 관계로 수작업에 전적으로 의존하고 있으며, 숙련자라 할지라도 매우 세심한 주의가 요구됨은 물론 그 과정에서 원치 않게 데이터라인 내지는 게이트라인을 단선시키는 경우가 빈번하게 나타난다.
아울러 이와 같이 디캡된 액정패널은 재활용이 불가하여 폐기되는 바, 각 라인의 신호전달 품질을 측정하기 위하여 지나치게 많은 시간과 주의를 필요로 하며 낭비가 심한 단점이 있다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로 액정패널의 데이터라인과 게이트라인의 아웃풋 파형을 측정함에 있어서 보다 간단하고 편리한 검출과 동시에 검사대상 액정패널의 재활용이 가능한 구체적인 방도를 제시하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 제 1 내지 제 4 가장자리를 갖는 제 1 기판과; 상기 제 1 기판 일면에 종횡으로 교차 형성되어 화소를 정의하는 데이터라인 및 게이트라인과; 상기 데이터라인과 게이트라인 일 끝단에 각각 연결되고 상기 제 1 기판의 제 1 및 제 2 가장자리에 각각 위치되는 데이터 및 게이트패드와; 상기 데이터라인 타 끝단에 연결되고 상기 제 1 기판 제 3 가장자리에 위치되는 제 1 테스트패드와; 상기 게이트라인과 데이터라인의 교차점에 마련된 박막트랜지스터와; 상기 화소에 실장되며 상기 박막트랜지스터와 연결되는 화소전극과; 상기 제 1 기판과 합착되고 상기 제 1, 제 2, 제 3 가장자리를 노출시키는 제 2 기판과; 상기 제 1 기판과 마주보는 상기 제 2 기판 일면에 형성된 블랙매트릭스 그리고 컬러필터와; 상기 블랙매트릭스 그리고 컬러필터를 덮는 투명 공통전극과; 상기 제 1 및 제 2 기판 사이로 개재된 액정층을 포함하는 액정패널을 제공한다.
이때 상기 제 1 및 제 3 가장자리는 서로 대향되는 것을 특징으로 하고, 상기 제 1 테스트패드는 상기 데이터라인과 동일공정에서 동일재질로 형성된 것을 특 징으로 하며, 상기 제 2 기판은 상기 제 4 가장자리를 노출시키고, 상기 게이트라인 타 끝단에 연결되고 상기 제 1 기판의 제 4 가장자리에 위치되는 제 2 테스트패드를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하고, 이 경우 상기 제 2 테스트패드는 상기 게이트라인과 동일공정에서 동일재질로 형성된 것을 특징으로 한다.
아울러 본 발명은 상기의 기재에 따른 액정패널 제조방법으로서, a)상기 제 1 기판을 구비하여 상기 게이트패드와 상기 게이트라인, 상기 데이터패드와 상기 데이터라인과 상기 제 1 테스트패드, 상기 박막트랜지스터와 상기 화소전극을 형성하는 단계와; b)상기 제 2 기판 일면에 상기 블랙매트릭스, 상기 컬러필터, 상기 투명 공통전극을 형성하는 단계와; c)상기 액정층을 사이에 두고 상기 제 1 및 제 2 기판을 합착시키는 단계와; d)상기 데이터라인을 통해 인가한 인풋펄스와 상기 제 1 테스트패드를 통해 추출한 아웃풋펄스를 비교하여 상기 데이터라인의 신호전달을 테스트하는 단계를 포함하는 액정패널의 제조방법을 제공한다.
이때 상기 d) 단계 이후 노출된 상기 제 1 기판의 상기 제 3 가장자리를 절단하는 단계를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하고, 상기 a)단계는 상기 게이트라인과 연결된 제 2 테스트패드를 상기 제 1 기판의 상기 제 4 가장자리에 형성하는 단계를 더욱 포함하며, 상기 d) 단계의 상기 제 2 기판은 상기 제 4 가장자리를 노출시키고, 상기 d) 단계 이후 상기 노출된 상기 제 4 가장자리를 절단하는 단계를 더욱 포함하는 것을 특징으로 한다.
더불어 본 발명은 제 1 내지 제 4 가장자리를 갖는 제 1 기판과; 상기 제 1 기판 일면에 종횡으로 교차 형성되어 화소를 정의하는 데이터라인 및 게이트라인과; 상기 데이터라인과 게이트라인 일 끝단에 각각 연결되고 상기 제 1 기판 제 1 및 제 2 가장자리에 각각 위치되는 데이터패드 및 게이트패드와; 상기 게이트라인 타 끝단에 연결되고 상기 제 1 기판 제 4 가장자리에 위치되는 제 2 테스트패드와; 상기 게이트라인과 데이터라인의 교차점에 마련된 박막트랜지스터와; 상기 화소에 실장되며 상기 박막트랜지스터와 연결되는 화소전극과; 상기 제 1 기판과 합착되고 상기 제 1, 제 2, 제 4 가장자리를 노출시키는 제 2 기판과; 상기 제 1 기판과 마주보는 제 2 기판 일면에 형성된 블랙매트릭스 그리고 컬러필터와; 상기 블랙매트릭스 그리고 컬러필터를 덮는 투명 공통전극과; 상기 제 1 및 제 2 기판 사이로 개재된 액정층을 포함하는 액정패널을 제공한다.
이때 상기 제 2 및 제 4 가장자리는 서로 대향되는 것을 특징으로 하고, 상기 제 2 테스트패드는 상기 게이트라인과 동일공정에서 동일재질로 형성된 것을 특징으로 한다.
아울러 본 발명은 상기의 기재에 따른 액정패널 제조방법으로서, a)상기 제 1 기판을 구비하여 상기 게이트패드와 상기 게이트라인과 상기 제 1 테스트패드, 상기 데이터패드와 상기 데이터라인, 상기 박막트랜지스터와 화소전극을 형성하는 단계와; b)상기 제 2 기판 일면에 상기 블랙매트릭스와 상기 컬러필터와 상기 투명 공통전극을 형성하는 단계와; c)상기 액정층을 사이에 두고 상기 제 1 및 제 2 기판을 합착시키는 단계와; d)상기 게이트라인을 통해 인가한 인풋펄스와 상기 제 2 테스트패드를 통해 추출한 아웃풋펄스를 비교하여 상기 게이트라인의 신호전달을 테스트하는 단계를 포함하는 액정패널의 제조방법을 제공하고, 이 경우 상기 d) 단계 이후 노출된 상기 제 1 기판의 상기 제 4 가장자리를 절단하는 단계를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하는 바, 이하 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.
첨부된 도 2와 도 3은 본 발명에 따른 액정패널(102)에 대한 사시도와 일부에 대한 분해사시도로서, 액정층(200)을 사이에 두고 서로 대면 합착된 제 1 기판(110) 그리고 제 2 기판(130)을 포함한다.
보다 구체적으로, 이중 하부기판 또는 어레이기판(array substrate)이라 불리는 제 1 기판(110)의 일면에는 복수개의 데이터라인(152)과 게이트라인(154)이 종횡 교차하여 화소(P)를 정의하고, 이들 두 라인의 교차지점에는 박막트랜지스터(T)가 구비되어 각 화소영역(P)에 마련된 투명 화소전극(156)과 일대일 대응 접속된다. 이때 상기 박막트랜지스터(T)는 데이터라인(152)과 연결된 소스전극, 화소전극(156)에 연결된 드레인전극, 게이트라인(154)과 연결된 게이트전극 그리고 전도채널 역할의 반도체층을 포함한다.
또한 이와 마주보는 제 2 기판(130)은 상부기판 또는 컬러필터기판(color filter substrate)이라 불리는데, 이의 일면에는 제 1 기판(110)의 데이터라인(152)과 게이트라인(154) 그리고 박막트랜지스터(T) 등의 비표시 요소를 가리면서 화소전극(156) 만을 노출시키도록 화소영역(P)을 테두리하는 격자 형상의 블랙매트릭스(162)와, 이들 격자 내부에서 각 화소영역(P)에 대응되게 순차적으로 반복 배열되는 일례로 R(rea), G(green),B (blue) 컬러필터(164a,164b,164c) 그리고 이들 모두를 덮는 투명 공통전극(166)을 포함한다.
아울러 비록 도면상에 명확하게 나타나지는 않았지만 이들 두 기판(110,130)과 액정층(200)의 경계부분에는 액정의 초기 분자배열 방향을 결정하는 상, 하부 배향막이 개재되고, 그 사이로 충진되는 액정층(200)의 누설을 방지하기 위해 양 기판의 가장자리 따라 씰패턴(seal pa)이 형성되어 봉합(封函)되며, 제 1, 제 2 기판(110,130)의 적어도 하나 외면으로는 특정 편광만을 선택적으로 투과시키는 편광판이 부착된다.
그리고 특히 본 발명에 따른 제 1 기판(110)은 제 2 기판(130) 보다 큰 면적을 이루어 이들의 합착 시 제 1 기판(110)의 네 가장자리 중 적어도 3 가장자리가 외부로 노출된 것을 특징으로 하는 바, 제 1 기판(110)의 네 가장자리를 임의로 제 1 내지 제 4 가장자리(112,114,116,118)라가 하면 본 발명에 따른 액정패널(102)은 제 1 기판(110)의 세 가장자리, 즉 제 1 내지 제 3 가장자리(112,114,116)가 제 2 기판(130) 외측으로 노출되어 있다.
그리고 여기에는 각각 데이터라인(152) 일단에 연결된 데이터패드(122)와 게이트라인(154) 일단에 연결된 게이트패드(124) 그리고 데이터라인(152) 타단에 연결된 테스트패드(126)가 구비된다.
즉, 상술한 본 발명에 따른 액정패널(102) 중 제 1 기판(110)의 개략적인 평면도를 나타낸 도 4를 함께 참조하면, 제 1 기판(110)의 서로 인접한 제 1 및 제 2 가장자리(112,114)에 각각 데이터패드(122)와 게이트패드(124)가 구비되어 데이터라인(152)과 게이트라인(154)의 시작점과 연결되며, 이들과 별도로 제 1 기판(110)의 제 3 가장자리(116)에 데이터라인(152)의 끝점에 연결된 테스트패드(126)가 마련되는 바, 이들 제 1 내지 제 3 가장자리(112,114,116)는 제 2 기판(130)과의 합착 후에도 여전히 외부로 노출된 상태를 유지한다.
따라서 데이터패드(122)를 통해 데이터라인(152)에 소정의 테스트용 인풋펄 스를 인가함과 동시에 테스트패드(126)를 통해 각 데이터라인(152) 최종 끝단에서 나타나는 아웃풋 펄스 파형을 손쉽게 추출할 수 있고, 이들을 서로 비교함으로써 데이터라인(152)의 신호전달 품질을 용이하게 확인할 수 있다. 이 과정에서 테스트패드(126)는 외부로 노출되어 있으므로 별도의 디캡 공정 없이 직접 데이터라인(152)의 아웃풋 펄스를 검출하기 위한 접촉지점으로 활용될 수 있다.
그리고 이 같은 테스트공정이 완료되면 데이터패드(122)와 게이트패드(124)는 각각 TCP(142,146)를 매개로 데이트구동회로(144) 그리고 게이트구동회로(148)에 연결되고, 이 경우 필요에 따라 테스트패드(126)가 구비된 제 1 기판(110)의 제 3 가장자리(116)는 대응되는 제 2 기판(130)과 일치하도록 절단되어 통상의 액정패널과 동일한 형상을 갖출 수 있다.
즉, 본 발명에 따른 액정패널(102)에 있어서 제 1 기판(110)의 제 3 가장자리(116)는 테이터라인(152)의 신호전달 품질을 측정하기 위한 접촉지점으로써 테스트패드(126)를 노출시키기 위한 것이므로 상기 테스트 단계 이후 적절한 공정에서 절단되는 것이 가능하고, 더 나아가 필요하다면 상기 테스트패드(126)는 모든 데이터라인(152)과 연결될 필요 없이 신호전달 품질 측정대상인 일부 데이터라인(152)에서 인출되는 것도 가능하다.
하지만, 테스트패드(126)는 데이터라인(152)의 신호전달 특성을 정확하게 측정할 수 있도록 상기 데이터라인(152)과 동일공정에서 동일재질로 이루어지는 것이 바람직하며, 불필요하게 길이가 연장되어 라인저항이 증가하는 것을 방지하기 위해서 상기 테스트패드(126)가 마련되는 제 3 가장자리(116)는 데이터패드(122)가 구 비된 제 1 가장자리(112)와 서로 대향하는 것이 유리하다.
한편, 일반적인 액정패널(102)의 제조공정은 박막증착공정과, 완성된 박막의 상부에 감광성 물질인 포토레지스트(photo resist)를 도포한 후 소정패턴이 새겨진 마스크(mask)를 이용해서 노광 및 현상함으로써 상기 박막의 선택된 일부를 노출시키는 포토리소그라피공정(photo lithography)과, 상기 박막의 선택된 부분을 제거하는 식각공정 그리고 잔류 포토레지스트를 제거하는 세정공정이 수 차례 반복하여 포함되고, 이를 통해 상기 데이터라인(152)과 게이트라인(154) 그리고 이들 각각에서 인출된 데이터패드(122)와 게이트패드(124)를 비롯해서 박막트랜지스터(T)의 각 구성요소와 화소전극(156) 등이 완성된다.
따라서 본 발명에 따른 테스트패드(126) 역시 데이터라인(152)의 제조공정에서 마스크 패턴을 일부 수정함으로써 일체로 완성할 수 있으며, 그 상부에 절연층이나 보호막 내지는 화소전극(156) 재질의 인듐틴옥사이드(Indium Tin Oxide : ITO) 등이 증착된 경우에는 이를 제거함으로써 가급적이면 데이터라인(152)과 동일재질의 테스트패드(126) 만이 노출되는 것이 정확한 신호전달 품질을 측정할 수 있어 바람직하다.
또한, 이상의 설명에서 테스트패드(126)는 임의로 데이터라인(152)과 연결된 것으로 설명하였지만, 이를 대신하여 목적에 따라 제 1 기판(110)의 제 4 가장자리(118)를 노출시킨 후 해당 부분에 게이트라인(154) 끝단과 연결되는 별도의 테스트패드를 마련하는 것도 가능하며, 이를 통해 게이트라인(154)의 신호전달 품질을 테 스트하는 것도 가능하다.
아울러 본 발명에 따른 액정패널(102)의 변형예를 나타낸 도 5의 사시도와 같은 형태도 가능한데, 앞서와 동일한 역할을 하는 동일부분에 대해서는 동일한 도면부호를 부여하여 중복된 설명을 생략한다.
본 발명에 따른 변형예는 보이는 바와 같이 제 1 기판(110)의 제 1 내지 제 4 가장자리(112,114,116,118) 모두를 제 2 기판(130) 외측으로 노출될 수 있고, 이중 제 1 그리고 제 2 가장자리(112,114)에 데이터패드(122)와 게이트패드(124)를 마련하고 제 3 가장자리(116)에 상기 데이터라인(도 4의 152참조) 끝단에 연결된 제 1 테스트패드(126) 그리고 제 4 가장자리(118)에 상기 게이트라인 (도 4의 154 참조)끝단에 연결된 제 2 테스트패드(128)를 마련하는 것도 가능하다. 이 경우 데이터패드(122)로 소정의 인풋펄스를 인가한 후 제 1 테스트패드(126)로부터 아웃풋 펄스를 검출하여 데이터라인(도 4의 152 참조)의 신호전달품질을 측정하는 것은 앞서 설명한 바 있고, 게이트패드(124)로 소정의 인풋 펄스를 인가한 후 제 2 테스트패드(128)로부터 아웃풋 펄스를 검출하여 게이트라인(154)의 신호전달 품질을 측정하는 것이 가능한 바, 결국 상기 도면은 데이터라인(152)과 게이트라인(154) 모두의 신호전달 품질을 측정하기 위하여 제 1 및 제 2 테스트패드(126,128)가 마련될 수 있음을 보인 도면이다.
그리고 이 경우 데이터패드(122)가 구비되는 제 1 기판(110)의 제 1 가장자리(112)와 제 1 테스트패드(126)가 마련된 제 3 가장자리(116)는 서로 대향하는 것 이 바람직하고, 게이트패드(124)가 구비되는 제 2 가장자리(114)와 제 2 테스트패드(128)가 마련된 제 4 가장자리(118)는 각각 서로 대향하는 것이 가급적 각 라인의 길이를 줄일 수 있어 불필요한 라인저항을 배제할 수 있다.
또한 이 같은 테스트 공정 이후 제 1 테스트패드(126)가 마련된 제 3 가장자리(116)와 제 2 테스트패드(128)가 마련된 제 4 가장자리(128)는 절단되어 일반적인 액정패널의 구성을 갖출 수 있음은 물론이다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명에 따른 액정패널은 데이터라인 및/또는 게이트라인의 신호전달품질을 측정하기 위한 디캡 공정을 생략할 수 있고, 각 라인의 끝단에서 인출된 테스트패드를 이용해서 간단하고 정확하게 각 라인의 신호전달품질을 테스트 할 수 있는 잇점이 있다.
아울러 본 발명에 따른 액정패널은 각 라인의 테스트가 완료된 후 테스트패드 부분을 절단하여 제거함으로써 재활용이 가능한 잇점이 있다.
Claims (14)
- 제 1 내지 제 4 가장자리를 갖는 제 1 기판과;상기 제 1 기판 일면에 종횡으로 교차 형성되어 화소를 정의하는 데이터라인 및 게이트라인과;상기 데이터라인과 게이트라인 일 끝단에 각각 연결되고 상기 제 1 기판의 제 1 및 제 2 가장자리에 각각 위치되는 데이터패드 및 게이트패드와;상기 데이터라인 타 끝단에 연결되고 상기 제 1 기판의 제 3 가장자리에 위치되는 제 1 테스트패드와;상기 게이트라인과 데이터라인의 교차점에 마련된 박막트랜지스터와;상기 화소에 실장되며 상기 박막트랜지스터와 연결되는 화소전극과;상기 제 1 기판과 합착되고 상기 제 1, 제 2, 제 3 가장자리를 노출시키는 제 2 기판과;상기 제 1 기판과 마주보는 상기 제 2 기판 일면에 형성된 블랙매트릭스 그리고 컬러필터와;상기 블랙매트릭스 그리고 컬러필터를 덮는 투명 공통전극과;상기 제 1 및 제 2 기판 사이로 개재된 액정층을 포함하며,상기 제 3 가장자리는 절단 가능하며, 상기 제 1 테스트패드는 상기 데이터라인과 동일공정에서 동일재질로 형성되는 액정패널.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 제 3 가장자리는 서로 대향되는 액정패널.
- 삭제
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 제 2 기판은 상기 제 4 가장자리를 노출시키고,상기 게이트라인 타 끝단에 연결되고 상기 제 1 기판의 제 4 가장자리에 위치되는 제 2 테스트패드를 더욱 포함하는 액정패널.
- 제 4항에 있어서,상기 제 4 가장자리는 절단 가능하며, 상기 제 2 테스트패드는 상기 게이트라인과 동일공정에서 동일재질로 형성된 액정패널.
- 제 1항 또는 제 2항의 기재에 따른 액정패널 제조방법으로서,a)상기 제 1 기판을 구비하여 상기 게이트패드와 상기 게이트라인, 상기 데이터패드와 상기 데이터라인과 상기 제 1 테스트패드, 상기 박막트랜지스터와 상기 화소전극을 형성하는 단계와;b)상기 제 2 기판 일면에 상기 블랙매트릭스, 상기 컬러필터, 상기 투명 공통전극을 형성하는 단계와;c)상기 액정층을 사이에 두고 상기 제 1 및 제 2 기판을 합착시키는 단계와;d)상기 데이터라인을 통해 인가한 인풋펄스와 상기 제 1 테스트패드를 통해 추출한 아웃풋펄스를 비교하여 상기 데이터라인의 신호전달을 테스트하는 단계와;상기 d) 단계 이후에 TCP를 매개로 상기 데이터패드와 데이터구동회로를 연결하고, 노출된 상기 제 1 기판의 제 3 가장자리를 절단하는 단계를 포함하는 액정패널의 제조방법.
- 삭제
- 제 6항에 있어서,상기 a)단계는 상기 게이트라인과 연결된 제 2 테스트패드를 상기 제 1 기판 의 상기 제 4 가장자리에 형성하는 단계를 더욱 포함하는 액정패널의 제조방법.
- 제 8항에 있어서,상기 d) 단계 이후에 상기 TCP를 매개로 상기 게이트패드와 게이트구동회로를 연결하고, 노출된 상기 제 4 가장자리를 절단하는 단계를 더욱 포함하는 액정패널의 제조방법.
- 제 1 내지 제 4 가장자리를 갖는 제 1 기판과;상기 제 1 기판 일면에 종횡으로 교차 형성되어 화소를 정의하는 데이터라인 및 게이트라인과;상기 데이터라인과 게이트라인 일 끝단에 각각 연결되고 상기 제 1 기판 제 1 및 제 2 가장자리에 각각 위치되는 데이터패드 및 게이트패드와;상기 게이트라인 타 끝단에 연결되고 상기 제 1 기판의 제 4 가장자리에 위치되는 제 2 테스트패드와;상기 게이트라인과 데이터라인의 교차점에 마련된 박막트랜지스터와;상기 화소에 실장되며 상기 박막트랜지스터와 연결되는 화소전극과;상기 제 1 기판과 합착되고 상기 제 1, 제 2, 제 4 가장자리를 노출시키는 제 2 기판과;상기 제 1 기판과 마주보는 제 2 기판 일면에 형성된 블랙매트릭스 그리고 컬러필터와;상기 블랙매트릭스 그리고 컬러필터를 덮는 투명 공통전극과;상기 제 1 및 제 2 기판 사이로 개재된 액정층을 포함하며,상기 제 4 가장자리는 절단 가능하며, 상기 제 2 테스트패드는 상기 게이트라인과 동일공정에서 동일재질로 형성되는 액정패널.
- 제 10항에 있어서,상기 제 2 및 제 4 가장자리는 서로 대향되는 액정패널.
- 삭제
- 제 10항 또는 제 11항의 기재에 따른 액정패널 제조방법으로서,a)상기 제 1 기판을 구비하여 상기 게이트패드와 상기 게이트라인과 상기 제 1 테스트패드, 상기 데이터패드와 상기 데이터라인, 상기 박막트랜지스터와 화소전극을 형성하는 단계와;b)상기 제 2 기판 일면에 상기 블랙매트릭스와 상기 컬러필터와 상기 투명 공통전극을 형성하는 단계와;c)상기 액정층을 사이에 두고 상기 제 1 및 제 2 기판을 합착시키는 단계와;d)상기 게이트라인을 통해 인가한 인풋펄스와 상기 제 2 테스트패드를 통해 추출한 아웃풋펄스를 비교하여 상기 게이트라인의 신호전달을 테스트하는 단계와;상기 d) 단계 이후에 TCP를 매개로 상기 게이트패드와 게이트구동회로를 연결하고, 노출된 상기 제 1 기판의 제 4 가장자리를 절단하는 단계를 포함하는 액정패널의 제조방법.
- 삭제
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020050017763A KR101142784B1 (ko) | 2005-03-03 | 2005-03-03 | 테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020050017763A KR101142784B1 (ko) | 2005-03-03 | 2005-03-03 | 테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20060098586A KR20060098586A (ko) | 2006-09-19 |
| KR101142784B1 true KR101142784B1 (ko) | 2012-05-08 |
Family
ID=37629980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020050017763A KR101142784B1 (ko) | 2005-03-03 | 2005-03-03 | 테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101142784B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20170080114A (ko) | 2015-12-31 | 2017-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101413578B1 (ko) * | 2007-12-04 | 2014-07-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
| KR102005498B1 (ko) * | 2013-01-02 | 2019-07-31 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 그것을 포함하는 액정 표시 장치 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020045578A (ko) * | 2000-12-07 | 2002-06-19 | 구사마 사부로 | 전기 광학 장치의 검사 방법, 전기 광학 장치의 검사용회로, 전기 광학 장치 및 전자기기 |
| KR20020077033A (ko) * | 2001-03-30 | 2002-10-11 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 액정 표시 장치 |
-
2005
- 2005-03-03 KR KR1020050017763A patent/KR101142784B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020045578A (ko) * | 2000-12-07 | 2002-06-19 | 구사마 사부로 | 전기 광학 장치의 검사 방법, 전기 광학 장치의 검사용회로, 전기 광학 장치 및 전자기기 |
| KR20020077033A (ko) * | 2001-03-30 | 2002-10-11 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 액정 표시 장치 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20170080114A (ko) | 2015-12-31 | 2017-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20060098586A (ko) | 2006-09-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI341937B (en) | Upper substrate, liquid crystal display apparatus having the same and method of fabricating the same | |
| KR20070074891A (ko) | 컬러 필터 기판 및 이를 포함한 액정 표시 패널 | |
| TW200949784A (en) | Electro-optical device and electronic apparatus | |
| CN100592176C (zh) | 面内切换模式液晶显示器件及其制造方法 | |
| KR101118077B1 (ko) | 액정표시장치 및 이의 제조방법 | |
| WO2016197530A1 (zh) | 显示面板及其制造方法、显示装置 | |
| TW200424613A (en) | Liquid crystal display apparatus | |
| KR101142784B1 (ko) | 테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 | |
| KR20120132608A (ko) | 액정 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
| US7397519B2 (en) | Liquid crystal display device and method of fabrication thereof having dummy layer and plurality of contact holes formed through ohmic contact, semiconductive and gate insulating layers | |
| US20200043955A1 (en) | Semiconductor device, display device, and method of producing semiconductor device | |
| JPH06208138A (ja) | 液晶表示基板 | |
| JP2005128424A (ja) | 表示装置 | |
| KR101124397B1 (ko) | 전도성 고분자 물질을 이용한 컬러필터 기판 및 그제조방법 | |
| KR101024642B1 (ko) | 액정표시패널 및 그 제조방법 | |
| US20200050036A1 (en) | Display device | |
| KR101102020B1 (ko) | 액정표시패널 및 그 제조방법 | |
| KR20040012309A (ko) | 패턴드 스페이서가 사용된 액정패널 | |
| KR101697587B1 (ko) | 횡전계방식 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
| KR100954335B1 (ko) | 액정 표시 장치 및 이의 형성 방법 | |
| KR20030045455A (ko) | 액정표시소자 | |
| JP2002258264A (ja) | 液晶表示装置 | |
| KR101604271B1 (ko) | 횡전계방식 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
| KR101604273B1 (ko) | 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
| JPH0887031A (ja) | 液晶表示装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| AMND | Amendment | ||
| E601 | Decision to refuse application | ||
| AMND | Amendment | ||
| J201 | Request for trial against refusal decision | ||
| B701 | Decision to grant | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160329 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170320 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190318 Year of fee payment: 8 |