KR20060041957A - 전기 광학 장치 및 전자기기 - Google Patents

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Abstract

(과제) 배선의 교차에 기인하는 배선간 기생 용량이 적고, 동작 속도가 빠른 전기 광학 장치 및 전자기기를 제공한다.
(해결수단) 단위 회로에 대응하여 배치되고, 소정 신호를 전달하는 제 1 주신호 배선과, 배선 폭이 제 1 주신호 배선보다 좁은 제 1 부신호 배선과, 제 1 주신호 배선과 제 1 부신호 배선 사이에 배치된 제 2 주신호 배선과, 제 1 주신호 배선과 제 1 부신호 배선에 접속되어 있고, 제 2 주신호 배선에 대하여 걸쳐서 형성 (bridged) 된 제 1 접속 배선과, 제 1 부신호 배선에 접속된 복수의 소자를 갖는 내부 회로를 구비하고, 소정 신호는, 제 1 부신호 배선을 통하여, 제 1 주신호 배선으로부터 분기하여 내부 회로에 공급되는 전기 광학 장치.
주신호 배선, 부신호 배선, 접속 배선

Description

전기 광학 장치 및 전자기기{ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS}
도 1 은 종래의 전기 광학 패널에 있어서의 배선의 레이아웃을 나타내는 평면도.
도 2 는 본 발명의 전기 광학 장치의 일례인 액정 표시 장치의 구성을 나타내는 도.
도 3 은 데이터선 검사 회로 (120) 구성의 제 1 실시형태를 나타내는 도.
도 4 는 제 1 실시형태에 관한 데이터선 검사 회로 (120) 의 평면 레이아웃도.
도 5 는 데이터선 검사 회로 (120) 구성의 제 2 실시형태를 나타내는 도.
도 6 은 제 2 실시형태에 관한 데이터선 검사 회로 (120) 의 평면 레이아웃도.
도 7 은 본 발명의 전자기기의 일례인 PC (1000) 의 구성을 나타내는 사시도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
100: 주사선 구동 회로 110: 주사선 검사 회로
120: 데이터선 검사 회로 132: 제 1 주(主)신호 배선
134: 제 2 주신호 배선 136: 제 3 주신호 배선
138: 데이터선 139: 주사선
142: 제 1 부(副)신호 배선 144: 제 2 부신호 배선
146: 제 3 부신호 배선 150: 박막 트랜지스터
152: 제 1 접속 배선 154: 제 2 접속 배선
156: 제 3 접속 배선 162: 제 1 소자 배선
164: 제 2 소자 배선 166: 제 3 소자 배선
200: 데이터선 구동 회로 300: 타이밍 발생 회로
400: 화상 처리 회로 500: 전원 회로
600: 검사신호 출력 회로
본 발명은, 예를 들어 액정 표시 장치, 유기 EL (Electro-Luminescence) 표시 장치 등의 전기 광학 장치 및 그것을 구비한 전자기기에 관한 것이다.
표시 장치, 예를 들어, 전기 광학 재료로서 액정을 사용한 액정 표시 장치는, 음극선관 (CRT) 을 대신하는 디스플레이 디바이스로서 각종 정보 처리기기의 표시부나 액정 텔레비전 등에 널리 사용되고 있다.
이러한 종류의 전기 광학 장치는, 예를 들어, 기판 상에 형성된 주사선 구동 회로 및 데이터선 구동 회로나, 주사선 검사 회로 및 데이터선 검사 회로 등의 내 부 구동 회로 및 그 내부 구동 회로와 전기적으로 접속된 복수의 단자를 구비하고 있다. 또한, 그 복수의 단자에 대하여, 실장부품이 실장되는 동시에 그 실장부품에 접속된 외부 구동 회로로부터 소정 종류의 신호가 공급된다. 그리고, 복수의 단자를 통하여 공급되는 소정 종류의 신호에 기초하여, 내부 구동 회로가 복수의 화소를 구동하고 주사하여 화상을 표시시키거나, 화소 등의 결함을 검사하기도 한다.
전기 광학 장치는, 전기 광학 패널의 대형화 및 내장 회로의 다기능화의 진행에 따라서, 전기 광학 패널의 입력 단자로부터 공급되는 신호의 배선이 굵어지고, 배선의 개수도 증가하는 경향이 있다.
도 1 은, 종래의 전기 광학 패널에서의 배선의 레이아웃을 나타내는 평면도이다. 종래의 전기 광학 패널에는, 배선 폭이 굵은 복수의 주신호 배선 (32, 34 및 36) 이 단위 회로마다 서로 평행하게 배치되어 있다. 그리고, 복수의 주신호 배선 (32, 34 및 36) 으로부터, 각각 부신호 배선 (62, 64 및 66) 을 통하여 내부 회로를 구성하는 TFT (52: 박막 트랜지스터) 에 주신호 배선 (32, 34 및 36) 에서 전달된 신호가 공급된다.
이와 같이, 복수의 주신호 배선 (32, 34 및 36) 을 서로 평행하게 배치하고, 단위 회로마다 주신호 배선 (32, 34 및 36) 으로부터 내부 회로에 신호를 공급하는 구성으로 하면, 부신호 배선 (62) 은, 주신호선 (32) 에서 전달된 신호를, 주신호 배선 (34 및 36) 을 걸쳐 넘어서 (bridged over) 내부 회로에 공급하게 된다. 이 때문에, 부신호 배선 (62) 과 주신호 배선 (34 및 36) 사이의 교차 지점이 많아 지고 교차 면적이 증대하기 때문에, 배선간 교차 용량이 증대된다. 이와 같이 배선 기생 용량이 증대하면 신호 전달에 지연이 발생하여, 기대하는 시간 내에 신호의 상승이나 하강이 이루어지지 않는다는 문제가 생긴다. 이러한 문제를 해결하기 위해, 배선 폭을 증대시켜 배선 저항을 낮춤으로써 시정수(時定數)를 삭감하거나, 회로 상의 장치에 의해 기생 용량을 저감시키기도 하는 액정 표시 장치가 있다 (예를 들어, 특허문헌 1).
(특허문헌 1) 일본 공개특허공보 평10-199284호
그러나, 이들 종래의 액정 표시 장치와 같이, 배선간 교차 용량의 증대에 따르는 신호 지연을 저감시키기 위해 배선 폭을 증가시켜 저항을 낮추고자 하면, 배선 폭의 증가에 동반하여 교차 면적이 증대되기 때문에 배선간 교차 용량도 증대한다. 그 결과, 기생 용량이 증가하기 때문에, 배선 폭의 증가에 따르는 시정수 삭감의 효과가 매우 적다. 한편, 회로 상의 장치에 의해 기생 용량을 저감시키고자 하면, 회로 구성이 복잡해지는 문제가 발생한다.
따라서, 본 발명은, 상기 과제를 해결할 수 있는 전기 광학 장치 및 전자기기를 제공하는 것을 목적으로 한다. 이 목적은 특허청구의 범위에서의 독립항에 기재된 특징의 조합에 의해 달성된다. 또한 종속항은 본 발명의 더욱 유리한 구체예를 규정한다.
상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 제 1 형태에 의하면, 단위 회로에 대 응하여 배치되고, 소정 신호를 전달하는 제 1 주신호 배선과, 배선 폭이 제 1 주신호 배선보다 좁은 제 1 부신호 배선과, 제 1 주신호 배선과 제 1 부신호 배선 사이에 배치된 제 2 주신호 배선과, 제 1 주신호 배선과 제 1 부신호 배선에 접속되어 있고, 제 2 주신호 배선에 대하여 걸침 형성 (bridged) 된 제 1 접속 배선과, 제 1 부신호 배선에 접속된 복수의 소자를 갖는 내부 회로를 구비하고, 소정 신호는, 제 1 부신호 배선을 통하여, 제 1 주신호 배선으로부터 분기하여 내부 회로에 공급되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치를 제공한다.
상기 구성에 의하면, 복수의 소자를 제 1 주신호 배선에 접속하는 경우, 당해 복수의 소자는, 제 1 부신호 배선을 통하여 제 1 주신호 배선과 전기적으로 접속되게 된다. 여기서, 제 2 주신호 배선은, 제 1 주신호 배선과 제 1 부신호 배선 사이에 배치되어 있다. 따라서, 당해 복수의 소자와 제 1 부신호 배선을 접속하는 배선은, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선에 대하여 걸침 형성되지 않기 때문에, 배선이 교차하는 면적을 저감시킬 수 있다. 또, 제 1 부신호 배선의 배선 폭을 제 1 주신호 배선보다 좁게 함으로써 배선의 교차에 기인하는 기생 용량을 삭감할 수 있기 때문에, 신호 전달 특성의 시정수를 대폭 저감시킬 수 있어, 고속으로 동작하며, 오동작이 적은 전기 광학 장치를 제공할 수 있다.
또한, 상기 구성에 의하면, 배선 저항을 낮출 목적에서 제 1 주신호 배선의 배선 폭을 넓힌 경우라도 배선이 교차하는 면적은 그다지 증가하지 않는다. 따라서, 상기 구성에 의하면, 제 1 주신호 배선의 배선 폭을 넓힌 경우라도 배선의 교차에 기인하는 기생 용량의 증가를 억제할 수 있다.
또한, 당해 전기 광학 장치에 있어서, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선은, 서로 대략 평행하게 배치되는 것이 바람직하다. 또한, 제 1 부신호 배선은, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선에 대하여 대략 평행하게 배치되는 것이 바람직하다. 또한, 제 1 접속 배선은, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선 그리고 제 1 부신호 배선에 대하여 대략 수직으로 배치되는 것이 바람직하다.
당해 전기 광학 장치는, 배선 폭이 제 2 주신호 배선보다 좁은 제 2 부신호 배선과, 제 2 주신호 배선과 제 2 부신호 배선에 접속되어 있고, 제 1 부신호 배선에 대하여 걸침 형성된 제 2 접속 배선을 추가로 구비하고, 복수의 소자는, 제 2 부신호 배선에 접속되어 있고, 제 2 주신호 배선은, 제 1 주신호 배선과 제 2 부신호 배선 사이에 배치되는 것이 바람직하다.
상기 구성에 의하면, 복수의 소자와 제 2 부신호 배선을 접속하는 배선은, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선에 대하여 걸침 형성되지 않기 때문에, 배선이 교차하는 면적을 저감시킬 수 있다. 따라서, 상기 구성에 의하면, 배선의 교차에 기인하는 기생 용량의 증가를 억제할 수 있다.
예를 들어, 제 1 부신호 배선은, 제 2 주신호 배선과 제 2 부신호 배선 사이에 배치된다. 또한, 제 2 부신호 배선은, 제 2 주신호 배선과 제 1 부신호 배선 사이에 배치될 수도 있다. 또한, 제 1 부신호 배선 및 제 2 부신호 배선은, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선과, 복수의 소자 사이에 배치될 수도 있다.
당해 전기 광학 장치는, 제 1 주신호 배선과 제 1 부신호 배선 및 제 2 부신호 배선 사이에 배치된 제 3 주신호 배선을 추가로 구비하고, 제 1 접속 배선 및 제 2 접속 배선은, 제 3 주신호 배선에 대하여 또한 걸침 형성되어 배치되며, 복수의 소자는, 제 3 주신호 배선에 접속되는 것이 바람직하다.
상기 구성에 의하면, 복수의 소자와 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선 사이에 다른 배선이 추가로 배치된 경우라도, 제 1 부신호 배선 및 제 2 부신호 배선을 접속하는 배선이 주신호 배선에 대하여 걸침 형성되지 않고, 각 소자는, 제 1 주신호 배선 또는 제 2 주신호 배선과 전기적으로 접속된다. 따라서, 배선 폭이 굵은 주신호 배선이 많은 경우라도 배선이 교차하는 면적을 저감시킬 수 있다. 따라서, 상기 구성에 의하면, 배선의 교차에 기인하는 기생 용량의 증가를 억제할 수 있다.
당해 전기 광학 장치는, 배선 폭이 제 3 주신호 배선보다 좁은 제 3 부신호 배선과, 제 3 주신호 배선과 제 3 부신호 배선에 접속된 제 3 접속 배선을 추가로 구비하고, 복수의 소자는, 제 3 주신호 배선과 제 3 부신호 배선 사이에 배치되어 있고, 제 3 부신호 배선을 통하여 제 3 주신호 배선에 접속된 것이 바람직하다. 제 3 주신호 배선은, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선에 대하여 대략 평행하게 배치되는 것이 바람직하다. 또한, 제 3 부신호 배선은, 제 1 부신호 배선 및 제 2 부신호 배선에 대하여 대략 평행하게 배치되는 것이 바람직하다.
상기 구성에 의하면, 복수의 소자와 제 3 부신호 배선을 접속하는 배선이 제 1 부신호 배선 및 제 2 부신호 배선에 대하여 걸침 형성되지 않도록, 복수의 소자와 제 3 부신호 배선을 접속시킬 수 있다. 따라서, 배선이 교차하는 면적을 추가로 저감시킬 수 있기 때문에, 배선의 교차에 기인하는 기생 용량의 증가를 억제 할 수 있다.
또, 당해 배선이 제 1 부신호 배선 및 제 2 부신호 배선에 대하여 걸침 형성된 경우라도, 각 소자가 제 3 주신호 배선에 각각 접속된 경우에 비하여 배선이 교차하는 면적을 더욱 저감시킬 수 있다.
당해 전기 광학 장치에 있어서, 복수의 소자는 제 1 소자군과 제 2 소자군을 갖고 있고, 제 1 소자군은 제 1 부신호 배선 및 제 3 주신호 배선에 접속되어 있고, 제 2 소자군은 제 2 부신호 배선 및 제 3 주신호 배선에 접속될 수도 있다.
본 발명의 제 2 형태에 의하면, 상기 전기 광학 장치를 구비한 전자기기를 제공한다. 여기서 전자기기란, 본 발명에 관한 전기 광학 장치를 구비한 일정한 기능을 나타내는 기기 일반을 말하고, 그 구성은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 상기 전기 광학 장치를 구비한 컴퓨터 장치 일반, 표시 장치, 휴대전화, PHS, PDA, 전자수첩 등, 전기 광학 장치를 필요로 하는 모든 장치가 포함된다.
발명을 실시하기 위한 최선의 형태
이하, 도면을 참조하면서 발명의 실시형태를 통하여 본 발명을 설명하지만, 이하의 실시형태는 특허청구의 범위에 관한 발명을 한정하는 것이 아니며, 또 실시형태 중에서 설명되어 있는 특징의 조합 전부가 발명의 해결수단에 필수적인 것이라고는 할 수 없다. 또, 이하의 실시형태는, 본 발명의 전기 광학 장치를 액정 표시 장치에 적용한 것이다.
도 2 는, 본 발명의 전기 광학 장치의 일례인 액정 표시 장치의 제 1 실시형태의 전기적 구성을 나타내는 블록도이다. 동 도면을 참조하여, 우선 본 실시 형태의 액정 표시 장치의 전체 구성에 대해서 설명한다. 이 도면에 나타내는 바와 같이 액정 표시 장치는, 전기 광학 패널의 일례인 액정 패널 (AA), 실장부재의 일례인 플렉시블 기판 (B), 및 외부 기판 (C) 을 구비한다. 외부 기판 (C) 은, 외부 구동 회로의 일례인, 타이밍 발생 회로 (300), 화상 처리 회로 (400), 전원 회로 (500) 및 검사신호 출력 회로 (600) 를 구비한다. 이 액정 표시 장치에 공급되는 입력 화상 데이터 (D) 는, 예를 들어 3 비트 패럴렐 형식이다. 타이밍 발생 회로 (300) 는, 입력 화상 데이터 (D) 에 동기하여 Y 클록 신호 (YCK), 반전 Y 클록 신호 (YCKB), X 클록 신호 (XCK), 반전 X 클록 신호 (XCKB), Y 전송 개시 펄스 (DY) 및 X 전송 개시 펄스 (DX) 를 생성한다. 또한, 타이밍 발생 회로 (300) 는, 화상 처리 회로 (400) 를 제어하는 각종 타이밍 신호를 생성하고, 이것을 출력한다.
Y 클록 신호 (YCK) 는 주사선 (2) 을 선택하는 기간을 특정하고, 반전 Y 클록 신호 (YCKB) 는 Y 클록 신호 (YCK) 의 논리 레벨을 반전한 것이다. X 클록 신호 (XCK) 는 데이터선 (3) 을 선택하는 기간을 특정하고, 반전 X 클록 신호 (XCKB) 는 X 클록 신호 (XCK) 의 논리 레벨을 반전한 것이다.
화상 처리 회로 (400) 는, 입력 화상 데이터 (D) 에 액정 패널 (AA) 의 광투과 특성을 고려한 감마 보정 등을 실시한 후, RGB 각 색의 화상 데이터를 D/A 변환하여, 화상 신호 (40R, 40G, 40B) 를 생성한다.
전원 회로 (500) 는, 타이밍 발생 회로 (300), 화상 처리 회로 (400), 및 검사신호 출력 회로 (600) 에 전원을 공급하는 것 외에, 주사선 구동 회로 (100) 및 데이터선 구동 회로 (200) 등의 동작에 필요한 전원을 생성한다.
이와 같이 생성된 각종 제어 신호 및 전원은, 플렉시블 기판 (B) 을 통하여 액정 패널 (AA) 에 공급된다.
액정 패널 (AA) 은, 그 소자 기판 상에, 단자군 (10), 화상 표시 영역 (A), 주사선 구동 회로 (100), 데이터선 구동 회로 (200), 주사선 검사 회로 (110), 및 데이터선 검사 회로 (120) 를 구비한다. 단자군 (10) 은, 복수의 전원 단자 및 복수의 입력 단자를 구비하여 구성된다.
주사선 구동 회로 (100) 는, Y 시프트 레지스터 및 레벨 시프터 등을 구비한다. Y 전송 개시 펄스 (DY), Y 클록 신호 (YCK) 및 반전 Y 클록 신호 (YCKB) 는 Y 시프트 레지스터에 공급된다. Y 시프트 레지스터는, Y 클록 신호 (YCK) 및 반전 Y 클록 신호 (YCKB) 에 동기하여, Y 전송 개시 펄스 (DY) 를 순차 전송하고 신호를 순차 출력한다. 레벨 시프터는, 신호 진폭을 대진폭으로 변환하고, 주사 신호 (Y1, Y2, …, Ym) 로서 각 주사선 (2) 에 출력한다.
데이터선 구동 회로 (200) 는, 화상 신호 (40R, 40G, 40B) 를 소정 타이밍으로 샘플링하여 데이터선 신호 (X1∼Xn) 를 생성하고 각 데이터선 (3) 에 공급한다. 데이터선 구동 회로 (200) 는, X 시프트 레지스터, 레벨 시프터, 및 샘플링 회로를 구비한다. X 시프트 레지스터는, X 전송 개시 펄스 (DX) 를 X 클록 신호 (XCK) 및 반전 X 클록 신호 (XCKB) 에 동기하여 순차 전송하고 각 출력 신호를 생성한다.
레벨 시프터는, X 시프트 레지스터의 각 출력 신호의 레벨을 변환하여, 각 샘플링 신호 (SR1∼SRn) 를 순차 생성한다. 샘플링 회로는, n 개의 스위치 (SW1∼SWn) 를 구비한다. 각 스위치 (SW1∼SWn) 는, TFT 에 의해 구성되어 있다. 그리고, 게이트에 공급되는 각 샘플링 신호 (SR1∼SRn) 가 순차적으로 활성화되면, 각 스위치 (SW1∼SWn) 가 순차적으로 온 (ON) 상태가 된다. 그러면, 플렉시블 기판 (B) 을 통하여 공급되는 화상 신호 (40R, 40G, 40B) 가 샘플링된다. 그리고, 샘플링 결과인 데이터선 신호 (X1∼Xn) 가 데이터선 (3) 에 순차적으로 공급된다.
다음으로, 화상 표시 영역 (A) 에는, 도 2 에 나타나는 바와 같이, m (m 은 2 이상의 자연수) 개의 주사선 (2) 이 X 방향을 따라 평행하게 배열하여 형성되는 한편, n (n 은 2 이상의 자연수) 개의 데이터선 (3) 이 Y 방향을 따라 평행하게 배열하여 형성되어 있다. 그리고, 주사선 (2) 과 데이터선 (3) 의 교차 부근에서는, TFT (50) 의 게이트가 주사선 (2) 에 접속되는 한편, TFT (50) 의 소스가 데이터선 (3) 에 접속되는 동시에, TFT (50) 의 드레인이 용량 소자 (51) 및 화소 전극 (6) 에 접속된다. 그리고, 각 화소는, 화소 전극 (6) 과, 대향 기판에 형성되는 대향 전극과, 이들 양 전극 사이에 협지된 액정에 의해 구성된다. 이 결과, 주사선 (2) 과 데이터선 (3) 의 각 교차에 대응하여 화소는 매트릭스형상으로 배열되게 된다.
또, TFT (50) 의 게이트가 접속되는 각 주사선 (2) 에는, 주사 신호 (Y1, Y2, …, Ym) 가 펄스적으로 선 순서대로 인가되도록 되어 있다. 이 때문에, 임의의 주사선 (2) 에 주사 신호가 공급되면, 당해 주사선에 접속되는 TFT (50) 가 ON 되기 때문에, 데이터선 (3) 으로부터 소정의 타이밍으로 공급되는 데이터선 신 호 (X1, X2, …, Xn) 가 대응하는 화소에 순서대로 기록된 후, 소정 기간동안 유지되게 된다.
각 화소에 인가되는 전위 레벨에 따라서 액정 분자의 배향이나 질서가 변화하기 때문에, 광변조에 의한 계조 표시가 가능해진다. 예를 들어, 액정을 통과하는 광량은, 노멀리 화이트 모드이면 인가 전위가 높아짐에 따라서 제한되는 한편, 노멀리 블랙 모드이면 인가 전위가 높아짐에 따라서 완화되기 때문에, 액정 표시 장치 전체적으로는, 화상 신호에 따른 콘트라스트를 갖는 빛이 각 화소별로 출사된다. 이 때문에, 소정의 표시가 가능해진다.
주사선 검사 회로 (110) 및 데이터선 검사 회로 (120) 는 각각 주사선 (2) 및 데이터선 (3) 에 접속되어 있고, 예를 들어, 점 결함이나 선 결함 등과 같은 표시 상의 결함 등을 검사함으로써, 액정 표시 패널의 불량여부를 검사한다.
주사선 검사 회로 (110) 및 데이터선 검사 회로 (120) 에는, 플렉시블 기판 (B) 을 통하여 검사신호 출력 회로 (600) 에 전기적으로 접속된 제 1 주신호 배선 (132), 제 2 주신호 배선 (134), 및 제 3 주신호 배선 (136) 이 배치되어 있다. 그리고, 검사신호 출력 회로 (600) 가 출력한 신호가, 제 1 주신호 배선 (132), 제 2 주신호 배선 (134), 및 제 3 주신호 배선 (136) 을 통하여 주사선 검사 회로 (110) 및 데이터선 검사 회로 (120) 에 공급된다. 주사선 검사 회로 (110) 및 데이터선 검사 회로 (120) 는, 공급된 검사신호에 기초하여 액정 표시 패널의 불량여부를 검사한다.
도 3 은, 본 발명을 적용한 일례인 데이터선 검사 회로 (120) 구성의 제 1 실시형태를 나타내는 도면이다. 도 4 는, 제 1 실시형태에 따른 데이터선 검사 회로 (120) 의 평면 레이아웃도이다. 본 실시형태에 있어서 데이터선 검사 회로 (120) 및 주사선 검사 회로 (110) 는 대략 동일한 구성을 갖기 때문에, 이하에 있어서 데이터선 검사 회로 (120) 의 구성을 예로 들어 본 실시형태의 데이터선 검사 회로 (120) 의 구성에 대하여 설명한다.
데이터선 검사 회로 (120) 는, 제 1 주신호 배선 (132) 과, 제 2 주신호 배선 (134) 과, 제 3 주신호 배선 (136) 과, 제 1 부신호 배선 (142) 과, 제 2 부신호 배선 (144) 과, 제 1 접속 배선 (152) 과, 제 2 접속 배선 (154) 과, 제 3 접속 배선 (156) 과, 내부 회로를 구성하는 복수의 소자의 일례인 복수의 박막 트랜지스터 (TFT: 150) 를 구비하여 구성된다.
제 1 주신호 배선 (132), 제 2 주신호 배선 (134), 및 제 3 주신호 배선 (136) 는, 화상 표시 영역 (A) 에 있어서 복수의 화소가 형성된 영역의 일단에서 타단에 걸쳐 배치되어 있다. 또한, 제 1 주신호 배선 (132), 제 2 주신호 배선 (134), 및 제 3 주신호 배선 (136) 은 서로 대략 평행하게 배치되어 있다. 또한, 제 2 주신호 배선 (134) 은 제 1 주신호 배선 (132) 과 제 3 주신호 배선 (136) 사이에 배치되어 있고, 제 3 주신호 배선 (136) 은 제 2 주신호 배선 (134) 과 TFT (150) 사이에 배치되어 있다.
제 1 주신호 배선 (132) 및 제 2 주신호 배선 (134) 은, TFT (150) 의 게이트에 공급하는 신호를 전달하고, 제 3 주신호 배선 (136) 은, TFT (150) 의 소스 또는 드레인에 공급하는 신호를 전달한다. 다른 예에 있어서, 제 1 주신호 배 선 (132), 제 2 주신호 배선 (134), 및 제 3 주신호 배선 (136) 은, 클록 신호나 전원 전압 등과 같은, 긴 거리에 걸쳐 공급하는 신호나 전원을 전달해도 된다.
복수의 TFT (150) 는, 제 1 주신호 배선 (132), 제 2 주신호 배선 (134), 및 제 3 주신호 배선 (136) 이 연장되는 방향을 따라 배치되어 있다. 또한, 복수의 TFT (150) 는, 제 1 소자군의 일례인, 제 1 주신호 배선 (132) 에 접속되는 TFT (150) 와, 제 2 소자군의 일례인, 제 2 주신호 배선 (134) 에 접속되는 TFT (150) 를 포함한다.
TFT (150) 는, 게이트, 소스, 및 드레인을 갖고 있고, 제 1 주신호 배선 (132) 또는 제 2 주신호 배선 (134) 에서 전달된 신호가 게이트에 공급되어 있고, 제 3 주신호 배선 (136) 에서 전달된 신호가 소스 또는 드레인의 일방에 공급되어 있다. 또한, TFT (150) 는 각 데이터선 (3) 에 대응하여 형성되어 있고, 소스 또는 드레인의 타방이 데이터선 (3) 에 접속되어 있다. 즉, TFT (150) 은, 플렉시블 기판 (B) 을 통하여 검사신호 출력부 (600) (도 1 참조) 로부터 게이트에 공급된 신호의 전위에 기초하여, 제 3 주신호 배선 (136) 에서 전달되는 신호를 데이터선 (3) 에 공급할지 여부를 제어한다. 또한, TFT (150) 는, 게이트에 공급된 신호의 전위에 기초하여, 데이터선 (3) 에서 전달되는 신호를 제 3 주신호 배선 (136) 에 공급할 수도 있다.
제 1 부신호 배선 (142) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 에서 전달되는 신호를 받아, TFT (150) 에 공급하도록 구성되어 있다. 구체적으로는, 제 1 부신호 배선 (142) 은, 제 1 접속 배선 (152) 을 통하여 제 1 주신호 배선 (132) 에 접속되 어 있고, 제 1 소자 배선 (162) 을 통하여 제 1 부신호 배선 (142) 에 접속된 TFT (150) 에 대하여 당해 신호를 공급한다.
제 1 부신호 배선 (142) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 보다 배선 폭이 좁고, 제 1 주신호 배선 (132) 에 대하여 대략 평행하게 배치되어 있다. 또한, 제 1 부신호 배선 (142) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 과 TFT (150) 사이에 배치되어 있다. 구체적으로는, 제 1 부신호 배선 (142) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 과 제 2 부신호 배선 (144) 사이에서, 제 3 주신호 배선 (136) 및 제 2 부신호 배선 (144) 에 인접하여 배치된다. 제 1 부신호 배선 (142) 의 배선 폭은, 제 1 주신호 배선 (132) 의 배선 폭의 절반 이하여도 된다. 배선 폭은, 예를 들어, 제 1 주신호 배선 (132) 을 30㎛ 로 하면, 제 1 부신호 배선 (142) 은 10㎛ 정도이다.
제 1 접속 배선 (152) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 과 제 1 부신호 배선 (142) 에 접속되어 있고, 제 1 주신호 배선 (132) 에서 전달된 신호를 제 1 부신호 배선 (142) 에 공급한다. 제 1 접속 배선 (152) 은, 제 2 주신호 배선 (134) 및 제 3 주신호 배선 (136) 에 대하여 걸침 형성되어 있다. 또한, 제 1 접속 배선 (152) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 및 제 1 부신호 배선 (142) 에 대하여 대략 수직으로 배치되어 있다. 또한, 제 1 접속 배선 (152) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 보다 배선 폭이 좁은 것이 바람직하다.
제 1 접속 배선 (152) 의 수는, 제 1 소자 배선 (162) 의 수보다 적은 것이 바람직하다. 제 1 접속 배선 (152) 은, 예를 들어, 복수의 TFT (150) 에 의해 구성되는 블록에 대하여 1 개, 또는 복수의 당해 블록에 대하여 1 개 배치된다.
제 1 소자 배선 (162) 은, 제 1 부신호 배선 (142) 에서 전달되는 신호를 TFT (150) 에 공급한다. 구체적으로는, 제 1 소자 배선 (162) 은, 제 1 부신호 배선 (142) 에 접속되어 있는 동시에, TFT (150) 의 게이트 전극으로서 배치되어 있고, 당해 신호의 전위에 기초하여 당해 TFT (150) 를 도통시킬지 여부를 제어한다.
제 1 소자 배선 (162) 은, 제 2 부신호 배선 (144) 에 대하여 걸침 형성되어 있다. 또한, 제 1 소자 배선 (162) 은, 제 1 부신호 배선 (142) 에 대하여 대략 수직으로 배치되어 있다. 또한, 제 1 소자 배선 (162) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 보다 배선 폭이 좁은 것이 바람직하다.
제 2 부신호 배선 (144) 은, 제 2 주신호 배선 (134) 에서 전달되는 신호를 받아, TFT (150) 에 공급하도록 구성되어 있다. 구체적으로는, 제 2 부신호 배선 (144) 은, 제 2 접속 배선 (154) 을 통하여 제 2 주신호 배선 (134) 에 접속되어 있고, 제 2 소자 배선 (164) 을 통하여 제 2 부신호 배선 (144) 에 접속된 TFT (150) 에 대하여 당해 신호를 공급한다.
제 2 부신호 배선 (144) 은, 제 2 주신호 배선 (134) 보다 배선 폭이 좁고, 제 2 주신호 배선 (134) 에 대하여 대략 평행하게 배치되어 있다. 또한, 제 2 부신호 배선 (144) 은, 제 1 부신호 배선 (142) 과 TFT (150) 사이에서, 제 1 부신호 배선 (142) 에 대하여 인접하여 배치된다. 제 2 부신호 배선 (144) 의 배선 폭은, 제 2 주신호 배선 (134) 의 배선 폭의 절반 이하여도 된다. 배선 폭은, 예를 들어, 제 2 주신호 배선 (134) 을 30㎛ 로 하면, 제 2 부신호 배선 (144) 은 10㎛ 정도이다.
제 2 접속 배선 (154) 은, 제 2 주신호 배선 (134) 과 제 2 부신호 배선 (144) 에 접속되어 있고, 제 2 주신호 배선 (134) 에서 전달된 신호를 제 2 부신호 배선 (144) 에 공급한다. 제 2 접속 배선 (154) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 및 제 1 부신호 배선 (142) 에 대하여 걸침 형성되어 있다. 또한, 제 2 접속 배선 (154) 은, 제 2 주신호 배선 (134) 및 제 2 부신호 배선 (144) 에 대하여 대략 수직으로 배치되어 있다. 또한, 제 2 접속 배선 (154) 은, 제 2 주신호 배선 (134) 보다 배선 폭이 좁은 것이 바람직하다.
제 2 접속 배선 (154) 의 수는, 제 2 소자 배선 (164) 의 수보다 적은 것이 바람직하다. 예를 들어, 제 2 접속 배선 (154) 은, 복수의 TFT (150) 에 의해 구성되는 블록에 대하여 1 개, 또는 복수의 당해 블록에 대하여 1 개 배치된다. 또한, 제 1 접속 배선 (152) 의 수는, 제 2 접속 배선 (154) 의 수와 같아도 된다.
제 2 소자 배선 (164) 은, 제 2 부신호 배선 (144) 에서 전달되는 신호를 TFT (150) 에 공급한다. 구체적으로는, 제 2 소자 배선 (164) 은, 제 2 부신호 배선 (144) 에 접속되는 동시에, TFT (150) 의 게이트 전극으로서 배치되어 있고, 당해 신호의 전위에 기초하여 당해 TFT (150) 를 도통시킬지 여부를 제어한다.
제 2 소자 배선 (164) 은, 제 2 부신호 배선 (144) 에 대하여 대략 수직으로 배치되어 있다. 또한, 복수의 제 2 소자 배선 (164) 중의 일부는, 제 2 접속 배선 (154) 과 일체로 형성되어 있다. 또한, 제 2 소자 배선 (164) 은, 제 2 주신호 배선 (134) 보다 배선 폭이 좁은 것이 바람직하다.
제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 과 TFT (150) 에 접속되어 있고, 제 3 주신호 배선 (136) 에서 전달된 신호를 TFT (150) 에 공급한다. 본 실시형태에 있어서, 제 3 접속 배선 (156) 은, 각 TFT (150) 에 대하여 각각 배치되어 있다. 또한, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 과 일체로 형성되어 있다.
제 3 접속 배선 (156) 은, 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 부신호 배선 (144) 에 대하여 걸침 형성되어 있다. 또한, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 에 대하여 대략 수직으로 배치되어 있다. 또한, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 보다 배선 폭이 좁은 것이 바람직하다. 다른 예에 있어서, 데이터선 검사 회로 (120) 는, 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 부신호 배선 (144) 과 마찬가지로, 제 3 주신호 배선 (136) 보다 배선 폭이 좁은 부신호 배선과, 당해 부신호 배선과 제 3 주신호 배선 (136) 에 접속된 접속 배선과, 당해 접속 배선과 TFT (150) 에 접속된 소자 배선을 가질 수도 있다.
이와 같이 본 실시형태에 의하면, TFT (150) 를 제 1 주신호 배선 (132) 에 접속하는 경우, TFT (150) 는, 제 1 부신호 배선 (142) 을 통하여 제 1 주신호 배선 (132) 과 전기적으로 접속되게 된다. 여기서, 제 2 주신호 배선 (134) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 과 제 1 부신호 배선 (142) 사이에 배치되어 있다. 따라서, 제 1 소자 배선 (162) 이, 제 1 주신호 배선 (132) 및 제 2 주신호 배선 (134) 에 대하여 걸침 형성되지 않기 때문에, 배선이 교차하는 면적을 저감시킬 수 있다. 그리고, 제 1 부신호 배선 (142) 의 배선 폭을 제 1 주신호 배선 (132) 보다 좁게 함으로써 배선의 교차에 기인하는 기생 용량을 삭감할 수 있기 때문에, 신호 전달 특성의 시정수를 대폭 저감시킬 수 있다. 따라서, 본 실시형태에 의하면 고속으로 동작하고, 오작동이 적은 전기 광학 장치를 제공할 수 있다.
또한, 본 실시형태에 의하면, 배선 저항을 낮출 목적으로, 제 1 주신호 배선 (132), 제 2 주신호 배선 (134), 및/또는 제 3 주신호 배선 (136) 의 배선 폭을 넓힌 경우라도 배선이 교차하는 면적이 그다지 증가하지 않는다. 따라서, 본 실시형태에 의하면, 제 1 주신호 배선 (132) 등의 배선 폭을 넓힌 경우라도, 배선의 교차에 기인하는 기생 용량의 증가를 억제할 수 있다.
도 5 는, 본 발명을 적용한 일례인 데이터선 검사 회로 (120) 구성의 제 2 실시형태를 나타내는 도면이다. 또한, 도 6 은, 제 2 실시형태에 따른 데이터선 검사 회로 (120) 의 평면 레이아웃도이다. 본 실시형태에 있어서도 데이터선 검사 회로 (120) 및 주사선 검사 회로 (110) 는 대략 동일한 구성을 갖기 때문에, 이하에 있어서 데이터선 검사 회로 (120) 의 구성을 예로 본 실시형태의 데이터선 검사 회로 (120) 의 구성에 대해서 설명한다. 또, 제 1 실시형태와 동일한 부호를 붙인 구성에 대해서는 제 1 실시형태와 동일한 기능을 갖고 있으므로, 이하에 있어서는, 제 1 실시형태와 다른 점을 중심으로 제 2 실시형태의 데이터선 검사 회로 (120) 에 대해 설명한다.
본 실시형태에 있어서, 데이터선 검사 회로 (120) 는, 제 3 주신호 배선 (136) 보다 배선 폭이 좁은 제 3 부신호 배선 (146) 과, 제 3 부신호 배선 (146) 과 TFT (150) 에 접속된 제 3 소자 배선 (166) 을 추가로 구비하여 구성된다. 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 과 제 3 부신호 배선 (146) 에 접속되어 있어, 제 3 주신호 배선 (136) 에서 전달된 신호를 제 3 부신호 배선 (146) 에 공급한다. 제 3 부신호 배선 (146) 의 배선 폭은, 제 3 주신호 배선 (136) 의 배선 폭의 절반 이하여도 된다. 배선 폭은, 예를 들어, 제 3 주신호 배선 (136) 을 30㎛ 로 하면, 제 3 부신호 배선 (146) 은 10㎛ 정도이다.
제 3 부신호 배선 (146) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 에 대하여 대략 평행하게 배치되어 있고, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 주신호 배선 (136) 및 제 3 부신호 배선 (146) 에 대하여 대략 수직으로 배치되어 있다.
본 실시형태에 있어서, 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 부신호 배선 (144) 은, 제 1 접속 배선 (152) 및 제 2 접속 배선 (154) 이 배치된 영역 (블록) 마다 배치되어 있고, 제 3 접속 배선 (156) 은 당해 영역 사이에 배치되어 있다. 즉, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 접속 배선 (154) 에 대하고 걸침 형성되어 있지 않다.
다른 예에 있어서, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 1 부신호 배선 (142) 및/또는 제 2 부신호 배선 (144) 에 대하여 걸침 형성될 수도 있다. 이 경우, 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 부신호 배선 (144) 은, 제 1 주신호 배선 (132) 및 제 2 주신호 배선 (134) 과 마찬가지로, 화상 표시 영역 (A) 에 있어서 복수의 화소가 형성된 영역의 일단에서 타단에 걸쳐 배치되어도 된다. 즉, 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 부신호 배선 (144) 은 블록마다 배치될 수도 있고, 복수의 블록에 걸쳐 배치될 수도 있다.
TFT (150) 는, 제 3 주신호 배선 (136) 과 제 3 부신호 배선 (146) 사이에 형성되어 있다. 구체적으로는, 화상 표시 영역 (A) 에 형성된 화소의 일부 또는 전부는, 제 3 주신호 배선 (136) 과 제 3 부신호 배선 (146) 사이에 형성되어 있고, TFT (150) 는, 당해 화소와 제 3 부신호 배선 (146) 사이에 형성되어 있다.
본 실시형태에 있어서, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 부신호 배선 (146) 에 접속되는 동시에, 복수의 TFT (150) 중 일부에도 접속되어 있다. 즉, 제 3 접속 배선 (156) 은, 제 3 부신호 배선 (146) 과 TFT (150) 를 접속하는 제 3 소자 배선 (166) 으로도 기능하고 있다.
이와 같이 본 실시형태에 의하면, 제 3 소자 배선 (166) 이 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 부신호 배선 (144) 에 대하여 걸침 형성되지 않도록, TFT (150) 과 제 3 부신호 배선 (146) 을 접속시킬 수 있다. 따라서, 본 실시형태에 의하면, 배선이 교차하는 면적을 더 저감시킬 수 있기 때문에, 배선의 교차에 기인하는 기생 용량의 증가를 더욱 억제할 수 있다.
또, 제 3 소자 배선 (166) 이 제 1 부신호 배선 (142) 및 제 2 부신호 배선 (144) 에 대하여 걸침 형성된 경우라도, 각 TFT (150) 가 제 3 주신호 배선 (136) 에 각각 접속된 경우에 비하여 배선이 교차하는 면적을 더욱 저감시킬 수 있다.
도 7 은, 본 발명의 전자기기의 일례인 PC (1000) 의 구성을 나타내는 사시도이다. 도 7 에 있어서, PC (1000) 는, 표시 패널 (1002) 과, 키보드 (1004) 를 갖는 본체부 (1006) 를 구비하여 구성되어 있다. 당해 PC (1000) 의 표시 패널 (1002) 에 있어서 본 발명의 전기 광학 장치가 이용되고 있다.
상기 발명의 실시형태를 통하여 설명된 실시예나 응용예는, 용도에 따라 적절하게 조합하거나, 또는 변경 및 개량을 가하여 사용할 수 있고, 본 발명은 상기 서술한 실시형태의 기재에 한정되는 것은 아니다. 이러한 조합 또는 변경 및 개량을 추가한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있음이 특허청구 범위의 기재로부터 분명하다. 예를 들면, 상기 실시형태에서는 본 발명의 전기 광학 장치를 액정 표시 장치에 적용한 것을 예로 설명했지만, 본 발명의 전기 광학 장치가 적용되는 것은 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 유기 EL 표시 장치 등에도 적용할 수 있다. 또한, 상기 실시형태에서는 본 발명을 데이터선 검사 회로에 적용한 것을 예로 설명했지만, 본 발명은 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 주사선 구동 회로나 데이터선 구동 회로 등과 같은 다른 회로에도 적용할 수 있다.
본 발명에 의하면, 복수의 소자를 제 1 주신호 배선에 접속하는 경우, 당해 복수의 소자는, 제 1 부신호 배선을 통하여 제 1 주신호 배선과 전기적으로 접속되게 된다. 여기서, 제 2 주신호 배선은, 제 1 주신호 배선과 제 1 부신호 배선 사이에 배치되어 있다. 따라서, 당해 복수의 소자와 제 1 부신호 배선을 접속하는 배선은, 제 1 주신호 배선 및 제 2 주신호 배선에 대하여 걸침 형성되지 않기 때문에, 배선이 교차하는 면적을 저감시킬 수 있다. 또, 제 1 부신호 배선의 배선 폭을 제 1 주신호 배선보다 좁게 함으로써 배선의 교차에 기인하는 기생 용량을 삭감할 수 있기 때문에, 신호 전달 특성의 시정수를 대폭 저감시킬 수 있어, 고속으로 동작하며, 오동작이 적은 전기 광학 장치를 제공할 수 있다.
또한, 배선 저항을 낮출 목적에서 제 1 주신호 배선의 배선 폭을 넓힌 경우라도 배선이 교차하는 면적은 그다지 증가하지 않는다. 따라서, 상기 구성에 의하면, 제 1 주신호 배선의 배선 폭을 넓힌 경우라도 배선의 교차에 기인하는 기생 용량의 증가를 억제할 수 있다.

Claims (9)

  1. 단위 회로에 대응하여 배치되고, 소정 신호를 전달하는 제 1 주신호 배선;
    배선 폭이 상기 제 1 주신호 배선보다 좁은 제 1 부신호 배선;
    상기 제 1 주신호 배선과 상기 제 1 부신호 배선 사이에 배치된 제 2 주신호 배선;
    상기 제 1 주신호 배선과 상기 제 1 부신호 배선에 접속되어 있고, 상기 제 2 주신호 배선에 대하여 걸쳐서 형성 (bridged) 된 제 1 접속 배선; 및
    상기 제 1 부신호 배선에 접속된 복수의 소자를 갖는 내부 회로를 구비하고,
    상기 소정 신호는 상기 제 1 부신호 배선을 통하여 상기 제 1 주신호 배선으로부터 분기하여 상기 내부 회로에 공급되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    배선 폭이 상기 제 2 주신호 배선보다 좁은 제 2 부신호 배선; 및
    상기 제 2 주신호 배선과 상기 제 2 부신호 배선에 접속되어 있고 상기 제 1 부신호 배선에 대하여 걸쳐서 형성된 제 2 접속 배선을 더 구비하고,
    상기 복수의 소자는 상기 제 2 부신호 배선에 접속되어 있고,
    상기 제 2 주신호 배선은 상기 제 1 주신호 배선과 상기 제 2 부신호 배선 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 부신호 배선은 상기 제 2 주신호 배선과 상기 제 2 부신호 배선 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 부신호 배선 및 상기 제 2 부신호 배선은 상기 제 1 주신호 배선 및 상기 제 2 주신호 배선과 상기 복수의 소자 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  5. 제 2 항 또는 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 부신호 배선 및 상기 제 2 부신호 배선은 서로 대략 평행하게 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 주신호 배선과 상기 제 1 부신호 배선 및 상기 제 2 부신호 배선 사이에 배치된 제 3 주신호 배선을 더 구비하고,
    상기 제 1 접속 배선 및 상기 제 2 접속 배선은 상기 제 3 주신호 배선에 대하여 또한 걸쳐서 형성되고,
    상기 복수의 소자는 상기 제 3 주신호 배선에 접속되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    배선 폭이 상기 제 3 주신호 배선보다 좁은 제 3 부신호 배선; 및
    상기 제 3 주신호 배선과 상기 제 3 부신호 배선에 접속된 제 3 접속 배선을 더 구비하고,
    상기 복수의 소자는, 상기 제 3 주신호 배선과 상기 제 3 부신호 배선 사이에 배치되어 있고, 상기 제 3 부신호 배선을 통하여 상기 제 3 주신호 배선에 접속되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  8. 제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
    상기 제 1 주신호 배선, 상기 제 2 주신호 배선, 및 상기 제 3 주신호 배선은 서로 대략 평행하게 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  9. 제 1 항, 제 2 항, 제 4 항, 제 6 항, 또는 제 7 항 중 어느 한 항에 기재된 전기 광학 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자기기.
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