TWI486928B - 顯示面板及其檢測方法 - Google Patents

Description

顯示面板及其檢測方法

本發明係關於一種顯示面板及其檢測方法。

液晶顯示裝置(Liquid Crystal Display，LCD)及有機發光二極體(Organic light emitting diode，OLED)顯示裝置因具有外型輕薄、省電以及無輻射等優點，目前已被普遍地應用於多媒體播放器、行動電話、個人數位助理(PDA)、電腦顯示器(monitor)、或平面電視等電子產品上。為了降低製造成本及提升面板良率，通常廠商在顯示器出貨前會先實施檢測步驟，例如檢測面板畫素中是否存在亮點及暗點的缺陷。

然而，就現有的面板檢測方法而言，若面板中電性連接於畫素的相鄰資料線之間有短路的情形，本來無法正常根據訊號工作的故障畫素亦有可能透過短路的方式而發亮，而無法完全檢測出全部的故障畫素，導致產品的良率難以改善。

本發明之一實施例係關於一種顯示面板，包括第一基板、複數畫素單元、複數條第一訊號線、第一測試線及第二測試線。該第一基板具有顯示區與週邊區，該些畫素單元係陣列排列設於該顯示區 上，該些第一訊號線係設置於該週邊區上且分別對應地電性連接於該些畫素單元，該些第一訊號線包括複數第一組子訊號線及複數第二組子訊號線，該些第一組子訊號線及該些第二組子訊號線係交替排列，每一該些第一組子訊號線及每一該些第二組子訊號線分別具有第一子訊號線與第二子訊號線，且該第一子訊號線與該第二子訊號線為相異層，該第一測試線係電性連接於該第一組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線，該第二測試線係電性連接於該第二組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線。

本發明之另一實施例係關於一種顯示面板的檢測方法，該顯示面板包括第一基板、複數畫素單元、複數條第一訊號線、第一測試線及第二測試線，該第一基板具有顯示區與週邊區，該些畫素單元係陣列排列設於該顯示區上，該些第一訊號線係設置於該週邊區上且分別對應地電性連接於該些畫素單元，該些第一訊號線包括複數第一組子訊號線及複數第二組子訊號線，該些第一組子訊號線及該些第二組子訊號線係交替排列，每一該些第一組子訊號線及每一該些第二組子訊號線分別具有第一子訊號線與第二子訊號線，且該第一子訊號線與該第二子訊號線為相異層，該第一測試線係電性連接於該第一組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線，該第二測試線係電性連接於該第二組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線，該方法包括點亮該第一組子訊號線電性連接的該些畫素單元以檢測第一組子訊號線電性連接的該些畫素單元是否有缺陷，以及點亮該第二組子訊號線電性連接的該些畫素單元以檢測第二組子 訊號線電性連接的該些畫素單元是否有缺陷。

本發明之另一實施例係關於一種顯示面板，包括第一基板、複數畫素單元、複數條第一訊號線、驅動元件、第一測試線、第二測試線及切割溝槽。該第一基板具有顯示區與週邊區，該些畫素單元係陣列排列設於該顯示區上。該複數條第一訊號線係設置於該週邊區上，分別對應地電性連接於該些畫素單元。該些第一訊號線包括複數第一組子訊號線及複數第二組子訊號線，該第一組子訊號線及該第二組子訊號線係交替排列，各該第一組子訊號線及該些第二組子訊號線分別具有第一子訊號線與第二子訊號線，且該第一子訊號線與該第二子訊號線為相異層。該驅動元件係設置於該些第一訊號線上且電性連接於該些第一訊號線。該第一測試線係相對於該第一組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線設置，且該第二測試線係相對於該第二組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線。該切割溝槽係設置於該第一測試線與該第一組子訊號線之間，以及該第二測試線與該第二組子訊號線之間，使該第一測試線與該第一組子訊號線電性隔離，且該第二測試線與該第二組子訊號線電性隔離。

透過本發明實施例中，將相鄰的第一子訊號線與第二子訊號線為相異層，可使相鄰的子訊號線之間不會短路，因此在檢測顯示面板是否存在故障畫素時，故障畫素可被完全地檢測出，因而提升顯示面板的良率。

在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，製造商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區別元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區別的基準。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包括」係為開放式的用語，故應解釋成「包括但不限定於」。此外，「電性連接」在此係包括任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一裝置係電性連接於第二裝置，則代表該第一裝置可直接連接於該第二裝置，或透過其他裝置或連接手段間接地連接至該第二裝置。

下文依本發明特舉實施例配合所附圖式作詳細說明，但所提供之實施例並非用以限制本發明所涵蓋的範圍，而方法流程步驟編號更非用以限制其執行先後次序，任何由方法步驟重新組合之執行流程，所產生具有均等功效的方法，皆為本發明所涵蓋的範圍。

請參考第1A圖，第1A圖係為本發明第一實施例顯示面板100之示意圖。如第1A圖所示，顯示面板100包括第一基板20、複數顯示單元90、複數條第一訊號線40、測試線T1及T2。每一顯示單元90係包含複數畫素單元30。第一基板20具有顯示區110與週邊區120，週邊區120可環繞顯示區100，顯示區110可為顯示面板100用以顯示影像的部分，而週邊區120可為顯示面板100中顯示 區110以外的部分，例如顯示面板100之邊框內的週邊區120用以設置電路的部分，並分別對應地電性連接複數畫素單元30。複數畫素單元30係陣列排列設於顯示區110的第一基板20上，複數條畫素控制線CA例如是複數條資料線DA及複數條閘極線GA係設置於顯示區110內，並畫素單元30電性連接於複數條畫素控制線CA。每一畫素單元30可為一子畫素，例如分別是紅(R)、綠(G)、藍(B)三色子畫素，但是並不限於此，亦可以是其他顏色的子畫素，例如靚藍色子畫素、黃色子畫素、洋紅色子畫素、白色子畫素等，同一列的子畫素可為相同顏色之子畫素並電性連接至同一條閘極線，且同一行的子畫素係電性連接至同一條訊號線。例如，相鄰的紅(R)、綠(G)、藍(B)三色子畫素可構成一顯示單元。

請參考第1B圖，第1B圖係為沿第1A圖中剖面線A-A’的剖面示意圖。請同時參考第1A圖與第1B圖，複數條第一訊號線40係電性連接於對應的複數畫素單元30，且複數條第一訊號線40包括複數個第一組子訊號線S1及複數個第二組子訊號線S2，第一組子訊號線S1及第二組子訊號S2線係交替排列。每一第一組子訊號線S1皆具有第一子訊號線S11與第二子訊號線S12，第一子訊號線S11與第二子訊號線S12形成於週邊區120內，且第一子訊號線S11與第二子訊號線S12為相異層(different layer)，亦即第一子訊號線S11與第二子訊號線S12由不同層的導電層所構成，例如第一子訊號線S11由第一導電層M1所構成，第二子訊號線S12由第二導電層M2所構成。此外，每一第二組子訊號線S2亦分別具有第一子訊號線 S21與第二子訊號線S22，且第一子訊號線S11與第二子訊號線S12為相異層。第一介電層L1係形成於第一基板20上，並形成於第一導電層M1與第二導電層M2之間，例如第一介電層L1覆蓋第一導電層M1中的第一子訊號線S11、S21，且第二導電層M2中的第二子訊號線S21、S22係形成於第一介電層上L1。第二介電層L2係覆蓋第二導電層M2中的第二子訊號線S21、S22。測試線T1係電性連接於第一組子訊號線S1之第一子訊號線S11與第二子訊號線S12，測試線T2係電性連接於第二組子訊號線S2之第一子訊號線S21與第二子訊號線S22，且測試線T1、測試線T2係分別電性連接於測試墊D1與測試墊D2，用以對畫素單元30提供測試墊D1、D2傳來的測試訊號。在顯示面板100中，第一子訊號線S11、第二子訊號線S12、第一子訊號線S21、第二子訊號線S22可依序排列。

請參考第2圖，第2圖係為第1A圖顯示面板100之架構示意圖。如第2圖所示，顯示面板100可為液晶顯示面板(LCD)、有機發光二極體顯示面板(OLED)、發光二極體顯示面板(LED)、電泳顯示面板(Electrophoretic display)、電濕潤(Electro-wetting)顯示面板、場發射顯示面板等，但並不限於此。顯示面板100除了包括第一基板20外，更可包括第二基板22以及顯示介質24。以液晶顯示面板(LCD)為例，液晶顯示面板的第一基板20內表面上可設置前述的畫素單元30與第一訊號線40等構成主動元件陣列基板，第二基板22內表面上可設置彩色濾光層與黑色矩陣構成彩色濾光基板，顯示介質24可為各種液晶層，以組成所需的液晶顯示面板。至於更詳細的結構 設計，為本領域通常知識者所熟知，可輕易地作等效的變更。

請參考第3圖，第3圖係為對第1A圖或第2圖顯示面板100進行檢測之流程圖，說明如下：步驟152：點亮第一組子訊號線S1電性連接的畫素單元30，以檢測第一組子訊號線S1連接的畫素單元30是否有缺陷；步驟154：點亮第二組子訊號線S2電性連接的畫素單元30，以檢測第二組子訊號線S2連接的畫素單元30是否有缺陷。

在步驟152、154中，點亮第一組子訊號線S1電性連接的畫素單元30時，第二組子訊號線S2電性連接的畫素單元30可以不點亮，或者是低灰階點亮，以利用灰階亮度差異來檢測第一組子訊號線S1電性連接的畫素單元30是否有缺陷，例如是否有暗點或是異常的亮點。舉例來說，可在測試墊D1與D2分別令輸入的測試訊號F1且F2為無訊號，可使第二組子訊號線S2電性連接的畫素單元30不點亮，或者令測試訊號F1與F2為不同的訊號，可以使兩組畫素單元分別呈現不同的亮度。同樣地，步驟154中可以輸入不同的測試訊號F1與F2，點亮第二組子訊號線S2電性連接的畫素單元30，以檢測第二組子訊號線S2連接的畫素單元30是否有缺陷，例如有暗點或是異常的亮點。

此外，顯示面板100進行完前述的檢測步驟之後，檢測品質優良沒有缺陷的顯示面板100可進行後續的驅動電路組裝步驟。請參考第4圖與第5圖，第4圖係為對第1A圖之顯示面板100設置切割溝槽350之示意圖，第5圖係為對第1A圖之顯示面板100設置驅動元件300之示意圖。如第4圖所示，切割溝槽350係設置於第一測試線T1與第一組子訊號線S1之間，以及第二測試線T2與第二組子訊號線S2之間，使第一測試線T1與第一組子訊號線S1電性隔離，且第二測試線T2與第二組子訊號線S2電性隔離。切割溝槽350一般可利用雷射切割技術，將第一組子訊號線S1與第二組子訊號線S2切斷，切斷處鄰近於第一測試線T1與第二測試線T2，如第4圖中所示。

請參考第5圖，將第一測試線T1與第二測試線T2電性隔離之後，將驅動元件300係電性連接於複數第一訊號線40，用於驅動畫素單元30。驅動元件300例如是積體電路晶片330設置於該些第一訊號線40上且電性連接於該些第一訊號線40。驅動元件300亦可以是玻璃覆晶COG(Chip on Glass)、薄膜覆晶COF(Chip on Film)、電路板覆晶COB(Chip on Board)、帶狀軟件自動封裝體TAB(Tape Automatic Carrier Bonding)、軟性印刷電路板FPC(Flexible printed circuit)等。此外，可在第一訊號線40設置複數個連接墊320，每一條第一訊號線40可設置至少一個連接墊320，如第4圖所示，使驅動元件300更容易設置在第一訊號線40上，藉此增進連接效果。

透過第一實施例中的設計，當同一層導電層(例如是第一導電層M1)相鄰的兩條第一子訊號線S11與S21等，因為顯影缺陷或者是導電微粒(conductive particle)而電性連接在一起，由於第一子訊號線S11與S21分別連接不同的測試線T1與T2，在檢測時於測試線T1與T2分別輸入一亮一暗的測試訊號，此時第一子訊號線S11與S21電性連接的畫素單元30均會因為短路而點亮，因此本發明可以輕易地檢測出同層短路缺陷。同樣地，亦可以用於第二導電層M2相鄰的兩條第二子訊號線S21與S22等的同層短路缺陷。相較於傳統同一層導電層的訊號線均連接到同一條測試線，無法檢測出同層短路缺陷。此外，由於第一組子訊號線S1內相鄰的第一子訊號線S11、第二子訊號線S12為相異層，因此第一子訊號線S11、第二子訊號線S12並不容易有短路的情況發生，同樣地第二組子訊號線S2內亦不容易有短路的情況發生。本發明的第一實施例設計，對於高解析度使用高密度訊號線的產品，可以更輕易地檢測出同層短路缺陷，大幅地提高產品的良率，避免不必要的產品浪費，降低製造的成本。

請參考第6圖，第6圖係為本發明第二實施例顯示面板600之示意圖。顯示面板600與100的差別在於，在顯示面板600中，每一第一組子訊號線S1、第二組子訊號線S2更包括第三子訊號線S13、S23，第一子訊號線S11、第二子訊號線S12與第三子訊號線S13於週邊區120係為相異層，且第一子訊號線S21、第二子訊號線S22與第三子訊號線S23於週邊區120亦形成於相異層。如第6圖所示， 第三子訊號線S13、S23可由一第三導電層構成，或者是相鄰的第一子訊號線S21、第二子訊號線S22與第三子訊號線S23為相異層。

第一子訊號線S21、第二子訊號線S22與第三子訊號線S23可經由經由資料線DA電性連接到畫素單元30。在一實施例中，資料線DA可以跟第一訊號線40的第一子訊號線S21、第二子訊號線S22與第三子訊號線S23等相同採用不同層的設計。此外，在另一實施例中，若資料線DA採用同層設計，例如均採用第二導電層M2形成，可經由穿孔V1、V2分別電性連接到第一訊號線40不同層的子訊號線。例如第一子訊號線S21使用第一導電層M1形成，第二子訊號線S22使用第二導電層M2形成，第三子訊號線S23使用第三導電層M3形成，若資料線DA採用第二導電層M2形成，可以經由第一穿孔V1電性連接到第一子訊號線S21，同層直接電性連接到第二子訊號線S22，經由第二穿孔V2電性連接到第三子訊號線S23。

透過第二實施例中，將相鄰的第一子訊號線S11、S21與第二子訊號線S12、S22以及第三子訊號線S13、S23於週邊區120係形成於相異層，可使相鄰的第一子訊號線S11、第二子訊號線S12與第三子訊號線S13之間不會短路，因為每一相鄰行子訊號線皆電性連接於不同導電層。因此，在檢測顯示面板600時，由於電性連接於畫素單元30的第一子訊號線S11、第二子訊號線S12與第三子訊號線S13係位於不同導電層，不易發生短路。此外，同層導電層若發生短路缺陷，如前面所述，因為連接不同的測試線T1與T2，所以 訊號線的同層短路缺陷可以輕易地檢測出，因而提升顯示面板600的良率。

請參考第7圖，第7圖係為本發明第三實施例顯示面板700之示意圖。第三實施例與第一實施例的差別在於，子畫素的排列並不限於前述的紅(R)、綠(G)、藍(B)三色子畫素的順序排列，亦可依照設計者的需求調整，例如可設計成紅(R)、紅(R)、綠(G)、綠(G)、藍(B)、藍(B)的方式排列，如第7圖所示。在另一實施例中，紅(R)、綠(G)、藍(B)三色子畫素可以轉九十度，沿著資料線DA的方向排列(未圖示)，此為本領域通常知識者所熟知，因此不在贅述。

此外，除了測試墊D1、D2，顯示面板600更包括複數條第二訊號線50、測試線T4、測試線T5以及測試墊D4、D5，測試線T4、T5係分別電性連接於測試墊D4、D5，以對畫素單元30提供測試墊D4、D5傳來的測試訊號。此外，顯示面板700的複數第二訊號線50包括第四組子訊號線S4及第五組子訊號線S5。第四組子訊號線S4及第五組子訊號線S5係交替排列，且每一第四組子訊號線S4及分別具有一第四子訊號線S41與一第五子訊號S42線，每一第五組子訊號線S5及分別具有一第四子訊號線S51與一第五子訊號S52線，第四子訊號線S41、S51與第五子訊號線S42、S52於週邊區120係為相異層。測試線T4係電性連接於第四子訊號線S41與第五子訊號線S42，且測試線T5係電性連接於第四子訊號線S51與第五子訊號線S52。第四子訊號線S41、S51與第五子訊號線S42、S52係 交替排列，且相似於第一子訊號線S11、第二子訊號線S12分別由導電層M1、M2構成，第四子訊號線S41與第五子訊號線S42係由二不同之導電層M1、M2構成，第四子訊號線S51與第五子訊號線S52亦然。對列子畫素進行測試之方法可例如第一實施例中對行子畫素提供測試訊號F1、F2，故不再贅述。

相較於第一實施例對行畫素進行測試，第三實施例可額外地對列畫素進行測試，因此在第三實施例中，將相鄰的第一子訊號線S11、S21與第二子訊號線S12、S22於週邊區120係形成於相異層，可使相鄰的第一子訊號線S11、第二子訊號線S12之間不會短路，因為每一相鄰行子訊號線皆電性連接於不同導電層。同理，由於相鄰的第四子訊號線S41、S51與第五子訊號線S42、S52於週邊區120係形成於相異層，可使相鄰的第四子訊號線S11、第五子訊號線S12之間不會短路。因此，在檢測顯示面板700時，由於電性連接於畫素單元30的第一子訊號線S11、第二子訊號線S12係位於不同導電層，且第四子訊號線S41、第五子訊號線S52係位於不同導電層，不易發生短路。此外，同層導電層若發生短路缺陷，如前面所述，因為連接不同的測試線T1與T2，所以訊號線的同層短路缺陷可以輕易地檢測出，因而提升顯示面板700的良率。

請參考第8圖，第8圖係為本發明第四實施例顯示面板800之示意圖。第四實施例與第二實施例的差別在於，除了測試墊D1、D2，顯示面板700更包括測試墊D4、D5以及測試線T4、T5，測試線 T4、T5係分別電性連接於測試墊D4、D5，以對畫素單元30提供測試墊D4、D5傳來的測試訊號。此外，顯示面板700的複數第二訊號線50包括第四組子訊號線S4及第五組子訊號線S5。第四組子訊號線S4及第五組子訊號線S5係交替排列，且每一第四組子訊號線S4及分別具有一第四子訊號線S41、一第五子訊號S42線與一第六子訊號S43線，每一第五組子訊號線S5及分別具有一第四子訊號線S51、一第五子訊號S52線與一第六子訊號S53線，第四子訊號線S41、S51、第五子訊號線S42、S52與第六子訊號線S43、S53設置於週邊區120係為相異層。測試線T4係電性連接於第四子訊號線S41、第五子訊號線S42與第六子訊號線S43，且測試線T5係電性連接於第四子訊號線S51、第五子訊號線S52與第六子訊號線S53。第四子訊號線S41、S51、第五子訊號線S42、S52與第六子訊號線S43、S53較佳係交替排列，且相似於第一子訊號線S11、第二子訊號線S12可分別由導電層M1、M2構成，第四子訊號線S41與第五子訊號線S42係由二不同之導電層構成，第四子訊號線S51與第五子訊號線S52亦然。第六子訊號線S43、S53可由一第三導電層構成，或者是相鄰的第一子訊號線S41、S51、第二子訊號線S42、S52與第三子訊號線S43、S53為相異層亦可。在另一實施例中，紅(R)、綠(G)、藍(B)三色子畫素可以轉九十度，沿著資料線DA的方向排列(未圖示)，此為本領域通常知識者所熟知，因此不在贅述。

相較於第二實施例對行畫素進行測試，第四實施例可額外地對列畫素進行測試，因此在第四實施例中，將相鄰的第一子訊號線S11、 S21與第二子訊號線S12、S22於週邊區120係形成於相異層，可使相鄰的第一子訊號線S11、第二子訊號線S12之間不會短路，因為每一相鄰行子訊號線皆電性連接於不同導電層。同理，由於相鄰的第四子訊號線S41及S51、第五子訊號線S42、S52以及第六子訊號線S43、S53於週邊區120係形成於相異層，可使相鄰的第四子訊號線S41、第五子訊號線S42、第六子訊號線S43之間不會短路。因此，在檢測顯示面板800時，由於電性連接於畫素單元30的第一子訊號線S11、第二子訊號線S12係位於不同導電層，且第四子訊號線S41、第五子訊號線S42、第六子訊號線S43係位於不同導電層，不易發生短路。此外，同層導電層若發生短路缺陷，如前面所述，因為連接不同的測試線T1與T2，所以訊號線的同層短路缺陷可以輕易地檢測出，因而提升顯示面板800的良率。

本發明使用上述第一訊號線或第二訊號線的設計，可以更精確地檢測出缺陷，提升顯示面板的良率。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

20‧‧‧基板

22‧‧‧下基板

24‧‧‧上基板

26‧‧‧液晶層

30‧‧‧畫素單元

40‧‧‧第一訊號線

50‧‧‧第二訊號線

90‧‧‧顯示單元

100、600、700、800‧‧‧顯示面板

110‧‧‧顯示區

120‧‧‧週邊區

152、154‧‧‧步驟

300‧‧‧驅動元件

320‧‧‧連接墊

330‧‧‧積體電路晶片

350‧‧‧切割溝槽

R‧‧‧紅色子畫素

G‧‧‧綠色子畫素

B‧‧‧藍色子畫素

S1‧‧‧第一組子訊號線

S2‧‧‧第二組子訊號線

S4‧‧‧第四組子訊號線

S5‧‧‧第五組子訊號線

S11、S21‧‧‧第一子訊號線

S12、S22‧‧‧第二子訊號線

S13、S23‧‧‧第三子訊號線

S41、S51‧‧‧第四子訊號線

S42、S52‧‧‧第五子訊號線

S43、S53‧‧‧第六子訊號線

F1、F2‧‧‧測試訊號

M1‧‧‧第一導電層

M2‧‧‧第二導電層

L1‧‧‧第一介電層

L2‧‧‧第二介電層

CA‧‧‧畫素控制線

DA‧‧‧資料線

GA‧‧‧閘極線

D1、D2、D4、D5‧‧‧測試墊

T1、T2、T4、T5‧‧‧測試線

V1、V2‧‧‧穿孔

A-A’‧‧‧剖面線

第1A圖係為本發明第一實施例顯示面板之示意圖。

第1B圖係為沿第1A圖中剖面線的剖面示意圖。

第2圖係為第1A圖顯示面板之架構示意圖。

第3圖係為對第1A圖或第2圖顯示面板進行檢測之流程圖。

第4圖係為對第1A圖之顯示面板設置切割溝槽之示意圖。

第5圖係為對第1A圖之顯示面板設置驅動元件之示意圖。

第6圖係為本發明第二實施例顯示面板之示意圖。

第7圖係為本發明第三實施例顯示面板之示意圖。

第8圖係為本發明第四實施例顯示面板之示意圖。

20‧‧‧基板

30‧‧‧畫素單元

90‧‧‧顯示單元

100‧‧‧顯示面板

110‧‧‧顯示區

120‧‧‧週邊區

R‧‧‧紅色子畫素

G‧‧‧綠色子畫素

B‧‧‧藍色子畫素

S1‧‧‧第一組子訊號線

S2‧‧‧第二組子訊號線

S11、S21‧‧‧第一子訊號線

S12、S22‧‧‧第二子訊號線

F1、F2‧‧‧測試訊號

CA‧‧‧畫素控制線

DA‧‧‧資料線

GA‧‧‧閘極線

D1、D2‧‧‧測試墊

T1、T2‧‧‧測試線

40‧‧‧第一訊號線

A-A’‧‧‧剖面線

Claims (21)

1. 一種顯示面板，包括：一第一基板，具有一顯示區與一週邊區；複數畫素單元，陣列排列設於該顯示區上；複數條第一訊號線，設置於該週邊區上，分別對應地電性連接於該些畫素單元，該些第一訊號線包括複數第一組子訊號線及複數第二組子訊號線，該些第一組子訊號線及該些第二組子訊號線係交替排列，且各該第一組子訊號線及各該第二組子訊號線分別具有一第一子訊號線與一第二子訊號線，且該第一子訊號線與該第二子訊號線為相異層；一第一測試線，電性連接於該第一組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線；以及一第二測試線，電性連接於該第二組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線。
2. 如請求項1所述之顯示面板，其中該些第一子訊號線與該些第二子訊號線係交替排列。
3. 如請求項1所述之顯示面板，其中該些第一子訊號線係由一第一導電層構成，該些第二子訊號線係由一第二導電層構成。
4. 如請求項3所述之顯示面板，其中該些第一子訊號線分別經由一第一穿孔對應地電性連接至該些畫素單元，且該些第二子訊 號線直接對應地電性連接至該些畫素單元。
5. 如請求項1所述之顯示面板，更包括一第一介電層，形成於該第一基板上，該第一介電層形成於該些第一子訊號線與該些第二子訊號線之間。
6. 如請求項1所述之顯示面板，更包括一第二介電層，形成於該第一基板上，該第二介電層係覆蓋該些第二子訊號線與該第一介電層。
7. 如請求項1所述之顯示面板，更包括一第二基板與一顯示介質層，該顯示介質層形成於該第一基板與該第二基板之間。
8. 如請求項1所述之顯示面板，更包括一第一測試墊與一第二測試墊，分別電性連接該第一測試線與該第二測試線。
9. 如請求項1所述之顯示面板，各該第一組子訊號線及該些第二組子訊號線更包括一第三子訊號線，且該第一子訊號線、該第二子訊號線與該第三子訊號線為相異層。
10. 如請求項9所述之顯示面板，其中該些第三子訊號線係由一第三導電層構成。
11. 如請求項1所述之顯示面板，更包括：複數條第二訊號線，設置於該週邊區上，分別對應地電性連接於該些畫素單元，該些第二訊號線至少包括一第四組子訊號線及一第五組子訊號線，該第四組子訊號線及該第五組子訊號線係交替排列，且各該第四組子訊號線及該些第五組子訊號線分別具有一第四子訊號線與一第五子訊號線，且該第四子訊號線與該第五子訊號線於該週邊區係形成於相異層；一第四測試線，電性連接於該第四組子訊號線之該第四子訊號線與該第五子訊號線；以及一第五測試線，電性連接於該第五組子訊號線之該第四子訊號線與該第五子訊號線。
12. 如請求項11所述之顯示面板，其中該些第一訊號線係為複數條資料線，對應地電性連接該些畫素單元，且該些第二訊號線係為複數條掃描線，對應地電性連接該些畫素單元。
13. 如請求項12所述之顯示面板，其中該些第四子訊號線與該些第五子訊號線係交替排列。
14. 如請求項11所述之顯示面板，其中該些第四子訊號線由一第一導電層構成，該些第五子訊號線由一第二導電層構成。
15. 如請求項11所述之顯示面板，各該第四組子訊號線及該些第五組子訊號線更包括一第六子訊號線。
16. 一種顯示面板的檢測方法，該顯示面板包括一第一基板、複數畫素單元、複數條第一訊號線、一第一測試線及一第二測試線，該一第一基板具有一顯示區與一週邊區，該些畫素單元係陣列排列設於該顯示區上，該些第一訊號線係設置於該週邊區上且分別對應地電性連接於該些畫素單元，該些第一訊號線包括複數第一組子訊號線及複數第二組子訊號線，該些第一組子訊號線及該些第二組子訊號線係交替排列，每一該些第一組子訊號線及每一該些第二組子訊號線分別具有一第一子訊號線與一第二子訊號線，且該第一子訊號線與該第二子訊號線為相異層，該第一測試線係電性連接於該第一組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線，該第二測試線係電性連接於該第二組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線，該方法包括：點亮該第一組子訊號線電性連接的該些畫素單元，檢測第一組子訊號線電性連接的該些畫素單元是否有缺陷；以及點亮該第二組子訊號線電性連接的該些畫素單元，檢測第二組子訊號線電性連接的該些畫素單元是否有缺陷。
17. 如請求項16所述之檢測方法，其中點亮該第一組子訊號線電性連接的該些畫素單元，包括輸入一第一組測試訊號至該第一 測試線與該第二測試線。
18. 如請求項16所述之檢測方法，其中點亮該第二組子訊號線電性連接的該些畫素單元，包括輸入一第二組測試訊號至該第一測試線與該第二測試線。
19. 一種顯示面板，包括：一第一基板，具有一顯示區與一週邊區；複數畫素單元，陣列排列設於該顯示區上；複數條第一訊號線，設置於該週邊區上，分別對應地電性連接於該些畫素單元，該些第一訊號線包括複數第一組子訊號線及複數第二組子訊號線，該些第一組子訊號線及該些第二組子訊號線係交替排列，且各該第一組子訊號線及各該第二組子訊號線分別具有一第一子訊號線與一第二子訊號線，且該第一子訊號線與該第二子訊號線為相異層；一驅動元件，設置於該些第一訊號線上且電性連接於該些第一訊號線；一第一測試線，相對於該第一組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線設置；一第二測試線，相對於該第二組子訊號線之該第一子訊號線與該第二子訊號線；以及一切割溝槽，設置於該第一測試線與該第一組子訊號線之間，以及該第二測試線與該第二組子訊號線之間，使該第一測 試線與該第一組子訊號線電性隔離，且該第二測試線與該第二組子訊號線電性隔離。
20. 如請求項19所述之顯示面板，其中該驅動元件包括一積體電路晶片。
21. 如請求項20所述之顯示面板，其中該些第一訊號線更包括複數個連接墊，用於電性連接該驅動元件。