TWI470332B - 顯示面板及其檢測方法 - Google Patents

顯示面板及其檢測方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI470332B
TWI470332B TW101123477A TW101123477A TWI470332B TW I470332 B TWI470332 B TW I470332B TW 101123477 A TW101123477 A TW 101123477A TW 101123477 A TW101123477 A TW 101123477A TW I470332 B TWI470332 B TW I470332B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
display panel
signal lines
signal
signal line
line
Prior art date
Application number
TW101123477A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201400958A (zh
Inventor
Peng Bo Xi
Wen Tai Chen
Tai Kai Chen
Original Assignee
Au Optronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Au Optronics Corp filed Critical Au Optronics Corp
Priority to TW101123477A priority Critical patent/TWI470332B/zh
Priority to CN201210319807.2A priority patent/CN102830520B/zh
Priority to US13/610,918 priority patent/US8508111B1/en
Publication of TW201400958A publication Critical patent/TW201400958A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI470332B publication Critical patent/TWI470332B/zh

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/14—Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

顯示面板及其檢測方法
本發明是有關於一種顯示面板及其檢測方法，且特別是有關於一種相鄰訊號線路調整為不同電氣特性的顯示面板及其半成品的檢測方法。
由於平面顯示器具有輕薄短小以及不佔據空間等優點，因此平面顯示器已成為目前市場的主流產品，其中平面顯示器會配置有顯示面板，以透過顯示面板來顯示影像。一般而言，顯示面板在製造過程中以及出廠之前，會對顯示面板進行電性檢測以及點亮檢測，以確保顯示面板之品質。其中，電性檢測在顯示面板的線路完成即可進行，以確認所形成的線路是否有瑕疵。
在進行電性檢測時，會將檢測訊號輸入顯示面板的線路中，並且量測各線路的電性變化，以判斷線路是否有斷路或短路的情況。隨著顯示技術的發展以及顯示面板的解析度的提高，顯示面板的線路跟著增加，以致於線路之線寬與線距會縮小。然而，在線路的線距過短的情況下，檢測裝備無法準確地量測單線的電性變化，以致於無法正確地對顯示面板的線路進行電性檢測。
本發明提供一種顯示面板及其檢測方法，其透過配置 電阻元件來調整各訊號線路的電氣特性彼此不同，亦即不同訊號線路的電性變化會不同，藉此可準確量測相鄰線中單線的狀態。
本發明提出一種顯示面板，具有一顯示區以及位於顯示區之外的一周邊區，且顯示區包括陣列排列的多個畫素區。顯示面板包括一第一組訊號線路(circuit)、一第二組訊號線路及多個第一電阻元件。第一組訊號線路設置於顯示區與周邊區內，且包括沿一第一方向平行設置的多條第一訊號線，其中這些第一訊號線相互電性連接。第二組訊號線路設置於顯示區與周邊區內，且包括沿第一方向平行設置的多條第二訊號線，其中這些第二訊號線跟這些第一訊號線平行且交替設置。這些第一電阻元件設置於周邊區內，且每一第二訊號線至少連接一第一電阻元件，其中第一訊號線與第二訊號線之間的間距小於60微米(μm)，且第一訊號線與第二訊號線之間的一電阻差介於30歐姆~30000歐姆之間。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括多個畫素結構，配置於相應的這些畫素區內。每一畫素結構包括一顯示元件及一主動元件。主動元件電性連接顯示元件，且對應地電性連接這些第二訊號線其中之一。
在本發明之一實施例中，顯示元件包括一有機電激發光元件。
在本發明之一實施例中，第一組訊號線路包括一電力線路(Power line circuit)。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括多個畫素結構，配置於相應的這些畫素區內。每一畫素結構包括。一主動元件及一透明畫素電極。透明畫素電極電性連接主動元件，且對應地電性連接這些第二訊號線其中之一。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括多個第一接墊與多個第二接墊，位於周邊區內，並且分別電性連接這些第一訊號線與這些第二訊號線。
本發明亦提出一種顯示面板的檢測方法，適於對一顯示面板的半成品進行電性檢測。顯示面板包括一基板、一第一組訊號線路、一第二組訊號線路及多個第一電阻元件。基板具有一顯示區以及位於顯示區之外的一周邊區，且顯示區包括陣列排列的多個畫素區。第一組訊號線路設置於顯示區與周邊區內，且第一組訊號線路包括沿一第一方向平行設置的多條第一訊號線，其中這些第一訊號線相互電性連接。第二組訊號線路設置於顯示區與周邊區內，且第二組訊號線路包括沿第一方向平行設置的多條第二訊號線，其中這些第二訊號線跟這些第一訊號線平行且交替設置。這些第一電阻元件設置於周邊區內，每一第二訊號線至少連接一第一電阻元件，其中第一訊號線與第二訊號線之間的間距小於60微米(μm)，且第一訊號線與第二訊號線之間的一電阻差介於30歐姆~30000歐姆之間。檢測方法包括：分別對第一組訊號線路與第二組訊號線路輸入一第一檢測訊號與一第二檢測訊號；以及依序偵測這些第二訊號線的這些第二檢測訊號的電性變化。
在本發明之一實施例中，在分別輸入第一檢測訊號與第二檢測訊號至第一組訊號線路與第二組訊號線路之前，更包括電性連接一外部電阻元件至每一第二訊號線路。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括多個畫素結構，配置於相應的這些畫素區內。檢測方法更包括：藉由多組訊號線路來驅動這些畫素結構；以及偵測這些畫素結構的狀態。
在本發明之一實施例中，第一訊號線與第二訊號線之間的電阻差介於50歐姆~1000歐姆之間。
在本發明之一實施例中，第一訊號線與第二訊號線之間的電阻差介於100歐姆~500歐姆之間。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括一第一橋接線，位於周邊區內，用以電性連接這些第一訊號線。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括一第二橋接線，位於周邊區內，且第一橋接線與第二橋接線分別位於顯示區的相對兩側，其中第一橋接線電性連接每一第一訊號線的一第一端，而第二橋接線電性連接每一第一訊號線的一第二端。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括多個第二電阻元件，位於周邊區內，並且分別串聯相應的第二訊號線，其中第一電阻元件與第二電阻元件分別電性連接第二訊號線的相對兩端。
在本發明之一實施例中，第一電阻元件的電阻值實質上等於第二電阻元件的電阻值。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括一第三組訊號線路及多個第三電阻元件。第三組訊號線路設置於顯示區與周邊區內，第三組訊號線路包括沿第一方向平行設置的多條第三訊號線，其中這些第三訊號線跟這些第一訊號線平行且交替設置。這些第三電阻元件設置於周邊區內，每一第三訊號線至少連接第三電阻元件，其中第一訊號線與第三訊號線之間的間距小於60微米(μm)，且第一訊號線路與第三訊號線路之間的電阻差介於30歐姆~30000歐姆之間。
在本發明之一實施例中，第一訊號線路與第三訊號線路之間的電阻差介於50歐姆~1000歐姆之間。
在本發明之一實施例中，第一訊號線路與第三訊號線路之間的電阻差介於100歐姆~500歐姆之間。
在本發明之一實施例中，顯示面板更包括多個第四電阻元件，位於周邊區內，並且分別串聯相應的第三訊號線，且第三電阻元件與第四電阻元件分別電性連接第三訊號線的相對兩端。
在本發明之一實施例中，第三電阻元件的電阻值實質上等於第四電阻元件的電阻值。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1是本發明之第一實施例的顯示面板以及其半成品 的部分示意圖。請參照圖1，一般而言，在製作顯示面板時，母板1上會分為多個區塊用於製作顯示面板，每一個區塊於切割後即對應為基板10。每一個基板10對應一個完整的顯示面板(為了便於說明，下敘以顯示面板100來說明)，並且在進行切割後(如圖1中的虛線表示切割線)，每一顯示面板100仍保有基板10，亦即基板10可以是顯示面板100的基板。並且，在顯示面板100完成組立封裝之前，顯示面板100仍屬於半成品的階段(亦即為顯示面板100的半成品)。以上為本領域通常知識者所熟知，因此不再贅述。
在本實施例中，顯示面板100具有顯示區110以及位於顯示區110之外的周邊區120，亦即基板10具有顯示區110及周邊區120。並且，顯示面板100包括第一組訊號線路130、第二組訊號線路140及多個第一電阻元件R1。顯示面板100更可包括第三組訊號線路150、第一橋接線BC1、多個第一接墊(如P11~P14)與多個第二接墊(如P21~P24)。
第一組訊號線路(circuit)130設置於顯示區110與周邊區120內，並且第一組訊號線路130包括沿第一方向D1平行設置的多條第一訊號線(如131、133、135、137)，其中這些第一訊號線(如131、133、135、137)相互電性連接。第二組訊號線路140設置於顯示區110與周邊區120內，並且第二組訊號線路140包括沿第一方向D1平行設置的多條第二訊號線(如141、143、145、147)，其中這 些第二訊號線(如141、143、145、147)跟這些第一訊號線(如131、133、135、137)平行且交替設置，並且第一訊號線(如131、133、135、137)與相鄰的第二訊號線之間(如141、143、145、147)的間距小於60微米(μm)。
這些第一電阻元件R1設置於周邊區120內，並且每一第二訊號線(如141、143、145、147)連接至少一第一電阻元件R1，但在其他實施例中，每一第二訊號線(如141、143、145、147)可連接多個第一電阻元件R1，且對應同一第二訊號線(如141、143、145、147)的這些第一電阻元件R1可以為相互串聯或相互並聯，本發明實施例不以此為限。在本實施例中，這些第一電阻元件R1電性連接相應的第二訊號線(如141、143、145、147)的同一端，但在其他實施例中，這些第一電阻元件R1電性連接相應的第二訊號線(如141、143、145、147)的兩端的其中之一即可，本發明實施例不以此為限。
第三組訊號線路140可設置於顯示區110內，並且第三組訊號線路150包括沿第二方向D2平行設置的多條第三訊號線(如151、153、155、157)，其中這些第三訊號線(如151、153、155、157)與這些第二訊號線(如141、143、145、147)、這些第一訊號線(如131、133、135、137)交錯而在顯示區110內形成陣列排列的多個畫素區APX。第三組訊號線路140可選擇性於第一組訊號線路(circuit)130與第二組訊號線路140測試之前製作，或是測試完畢後製作，本發明實施例不以此為限。
這些第一訊號線(如131、133、135、137)可選擇以位於周邊區120或顯示區110內第一橋接線BC1電性連接，或是選擇以顯示面板100外的電路裝置連接，以使這些第一訊號線(如131、133、135、137)的電氣特性更一致。此外，周邊區120內可選擇性設置多個第一接墊(如P11~P14)與多個第二接墊(如P21~P24)，並且分別電性連接這些第一訊號線(如131、133、135、137)與這些第二訊號線(如141、143、145、147)，例如第一接墊P11電性連接第一訊號線141，第二接墊P21電性連接第二訊號線131。這些第一訊號線(如131、133、135、137)與這些第二訊號線(如141、143、145、147)可以經由電性耦合感應方式偵測，或是經由上述的這些第一接墊(如P11~P14)與這些第二接墊(如P21~P24)電性接觸偵測。
由於每一第二訊號線(如141、143、145、147)連接一第一電阻元件R1，因此第一訊號線(如131、133、135、137)的電阻值會不同於第二訊號線(如141、143、145、147)的電阻值，亦即第一訊號線(如131、133、135、137)與第二訊號線(如141、143、145、147)之間會有一電阻差。例如第一訊號線具有一第一電阻值，第二訊號線與第一電阻元件具有一第二電阻值，第一電阻值與第二電阻值之間即會有前述的電阻差。在本實施例中，透過設定第一電阻元件R1的電阻值，第一訊號線(如131、133、135、137)與第二訊號線(如141、143、145、147)之間的電阻差例如是可介於30歐姆~30000歐姆之間，但在本發明 的另一實施例中，第一訊號線(如131、133、135、137)與第二訊號線(如141、143、145、147)之間的電阻差較佳是可介於50歐姆~1000歐姆之間。或者，可設定第一訊號線(如131、133、135、137)與第二訊號線(如141、143、145、147)之間的電阻差更佳是介於100歐姆~500歐姆之間，此可依據本領域通常知識者而定，本發明實施例不以此為限。
由於第一訊號線(如131、133、135、137)的電阻值不同於第二訊號線(如141、143、145、147)的電阻值，因此在輸入第一檢測訊號至第一訊號線(如131、133、135、137)且輸入第二檢測訊號至第二訊號線(如141、143、145、147)後，從這些第一訊號線(如131、133、135、137)所偵測到的電性變化會與這些第二訊號線(如141、143、145、147)的電性變化有顯著的差異。例如，第二訊號線(如141、143、145、147)在發生短路或斷路所引起的電壓準位的變化會不同於第一訊號線(如131、133、135、137)在發生短路或斷路所引起的電壓準位的變化。其中，輸入至這些第二訊號線(如141、143、145、147)的第二檢測訊號的電性變化可逐條訊號線依序偵測，但本發明實施例不以此為限。
由於本發明的第二訊號線(如141、143、145、147)跟第一訊號線(如131、133、135、137)之間具有足夠的電阻差，因此在偵測時，第二訊號線(如141、143、145、147)比較不會受到第一訊號線(如131、133、135、137) 的干擾，因此在偵測時可以有較明顯的偵測訊號。圖10A為本發明之一實施例，第二訊號線(如141)跟第一訊號線(如131)之間具有足夠的電阻差，圖示偵測時的感測訊號，當第二訊號線(如141)發生斷路(open)時點A的感測訊號，以及當第二訊號線(如143)與鄰近的第一訊號線(如133)發生短路(short)時點B的感測訊號。圖10B為本發明之一比較例，第二訊號線跟第一訊號線之間沒有電阻差，圖示偵測時的感測訊號，當第二訊號線發生斷路時點A的感測訊號，以及當第二訊號線與鄰近的第一訊號線(如133)發生短路時點B的感測訊號。其中，圖10A與圖10B的水平軸可以是標示掃描的方向。
在圖10A與圖10B中，波形1010為對應理想的感測訊號，波形1020及1030分別為一實際量測到的感測訊號。很明顯地，如圖10A的波形1020所示，本發明之一實施例中，當第二訊號線(如141、143、145、147)跟相鄰的第一訊號線(如131、133、135、137)之間具有足夠的電阻差，不論發生斷路或是短路均有較明顯的感測訊號，因此上述的斷路或短路的缺陷可以更輕易地檢測出來，進而提升產品的良率。相對地，如圖10B的波形1030所示，本發明之一實施例中，當第二訊號線跟第一訊號線之間沒有電阻差，不論發生斷路或是短路感測訊號均比較不明顯，容易發生誤判或者是無感測訊號的情況，造成上述的斷路或短路的缺陷無法正常檢測出來，因而造成產品的良率無法提升。
在本發明的一實施例中，以有機發光顯示器為例，第一訊號線(如131、133、135、137)可以為電力線(Power line)，亦即第一組訊號線路130可包括一電力線路。第二訊號線(如141、143、145、147)可以為閘極線，亦即第二組訊號線路140可包括一閘極線路。此時，第三訊號線(如151、153、155、157)可以為資料線，亦即第三組訊號線路150可包括一資料線路。或者，第二組訊號線路140第三組訊號線路150可以互換，第二訊號線(如141、143、145、147)可以為資料線，亦即第二組訊號線路140可包括一資料線路，此時第三訊號線(如151、153、155、157)可以為閘極線，亦即第三組訊號線路150可包括一閘極線路。上述為舉例以說明，本發明實施例不以此為限。
此外，在本發明的其他實施例中，以液晶顯示器為例，第一訊號線(如131、133、135、137)可以為共通電壓線(Common line)，亦即第一組訊號線路130可包括一共通電壓線路。第二訊號線(如141、143、145、147)可以為閘極線，亦即第二組訊號線路140可包括一閘極線路。此時，第三訊號線(如151、153、155、157)可以為資料線，亦即第三組訊號線路150可包括一資料線路。或者，第二組訊號線路140第三組訊號線路150可以互換，第二訊號線(如141、143、145、147)可以為資料線，亦即第二組訊號線路140可包括一資料線路，此時第三訊號線(如151、153、155、157)可以為閘極線，亦即第三組訊號線路150可包括一閘極線路。上述為舉例以說明，本發明實施例不 以此為限。
此外，若第三組訊號線路150與第一組訊號線路130的線距過近時，則可參照上述第一組訊號線路130與第二組訊號線路140的電路配置說明，利用配置電阻元件來區隔第三組訊號線路150與第一組訊號線路130的電氣特性，在此則不再贅述。
圖2是本發明之第二實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。請參照圖1及圖2，在本實施例中，顯示面板100a大致相同於顯示面板100，主要不同之處在於顯示面板100a更包括第二橋接線BC2。在本實施例中，第二橋接線BC2位於周邊區120內，並且第一橋接線BC1與第二橋接線BC2皆電性連接這些第一訊號線(如131、133、135、137)但分別位於顯示區110的相對兩側。換言之，第一橋接線BC1電性連接每一第一訊號線(如131、133、135、137)的第一端(如131a)，而第二橋接線BC2電性連接每一第一訊號線(如131、133、135、137)的第二端(如131b)。藉此，可提升這些第一訊號線(如131、133、135、137)的電氣特性的一致性。
圖3是本發明之第三實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。請參照圖1及圖3，在本實施例中，顯示面板100b大致相同於顯示面板100，主要不同之處在於顯示面板100b更包括多個第二電阻元件R2。在本實施例中，這些第二電阻元件R2位於周邊區120內，並且分別透過相應的第二接墊(如P21~P24)串聯相應的第二訊號線(如 141、143、145、147)。換言之，每一第一電阻元件R1與相應的第二電阻元件R2分別電性連接同一第二訊號線(如141、143、145、147)的相對兩端。
在本實施例中，為了考慮電阻電容負載的平衡，第一電阻元件R1的電阻值實質上可等於第二電阻元件R2的電阻值，以在顯示面板100b的第二訊號線(如141、143、145、147)為雙端輸入時，第二訊號線(如141、143、145、147)兩端所輸入的驅動訊號可以為相同。
此外，在本實施例中，第二電阻元件R2位於周邊區120內，但在其他實施例中，第二電阻元件R2可位於顯示面板100b外，並且在顯示面板100b切割後，第二電阻元件R2可配置於顯示面板100b外的輔助基板上，以平衡顯示面板100b的電阻電容負載，其中輔助基板例如軟式印刷電路板(FPC)、印刷電路板(PCB)。
由於每一第二訊號線(如141、143、145、147)串聯相應的第一電阻元件R1及相應的第二電阻元件R2，因此第一訊號線(如131、133、135、137)的電阻值會不同於第二訊號線(如141、143、145、147)的電阻值，因此這些第一訊號線(如131、133、135、137)所偵測到的第一檢測訊號的電性變化會不同於這些第二訊號線(如141、143、145、147)的第二檢測訊號的電性變化。
圖4是本發明之第四實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。請參照圖3及圖4，在本實施例中，對照圖4所示結構與圖3所示結構，主要不同之處在於母板1上更 包括多個第三電阻元件R3。這些第三電阻元件R3位於顯示面板100b外，亦即第三電阻元件R3相對於顯示面板100b而言為外部電阻元件，並且分別透過相應的第一電阻元件R1串聯相應的第二訊號線(如141、143、145、147)。並且，透過設定第三電阻元件R3的電阻值，可進一步區隔這些第一訊號線(如131、133、135、137)的電氣特性與這些第二訊號線(如141、143、145、147)的電氣特性。此外，這些第三電阻元件R3是位於顯示面板100b外，因此在顯示面板100b切割後，這些第三電阻元件R3不會影響至顯示面板100b的電阻電容負載的平衡。
圖5是本發明之第五實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。請參照圖3及圖5，在本實施例中，顯示面板100c大致相同於顯示面板100b，主要不同之處在於顯示面板100c更包括一第四組訊號線路510、多個第四電阻元件R4、多個第五電阻元件R5及多個第三接墊(如P31~P34)。第四組訊號線路510設置於顯示區110與周邊區120內，並且第四組訊號線路510包括沿第一方向平行D1設置的多條第四訊號線(如511、513、515、517)。其中，這些第四訊號線(如511、513、515、517)跟這些第一訊號線(如131、133、135、137)平行且交替設置，並且第一訊號線(如131、133、135、137)與相鄰的第二訊號線之間(如141、143、145、147)的間距小於60微米。
這些第四電阻元件R4設置於周邊區120內，並且每一第四訊號線(如511、513、515、517)連接一第四電阻 元件R4，但在其他實施例中，每一第四訊號線(如511、513、515、517)可連接多個第四電阻元件R4，且對應同一第四訊號線(如511、513、515、517)的這些第四電阻元件R4可以為相互串聯或相互並聯，本發明實施例不以此為限。
在本實施例中，這些第五電阻元件R5位於周邊區120內，並且分別透過相應的第三接墊(如P31~P34)串聯相應的第四訊號線(如511、513、515、517)，其中每一第三接墊(如P31~P34)電性連接相應的第四訊號線(如511、513、515、517)。換言之，每一第四電阻元件R4與相應的第五電阻元件R5分別電性連接同一第四訊號線(如511、513、515、517)的相對兩端。並且，為了考慮電阻電容負載的平衡，第四電阻元件R4的電阻值實質上可等於第五電阻元件R5的電阻值，以在顯示面板100c的第四訊號線(如511、513、515、517)為雙端輸入時，兩端的驅動訊號可以為相同。
在本實施例中，第五電阻元件R5位於周邊區120內，但在其他實施例中，第五電阻元件R5可位於顯示面板100c外，並且在顯示面板100c切割後，第五電阻元件R5可配置於顯示面板100c外的輔助基板，以平衡顯示面板100c的電阻電容負載，其中輔助基板例如軟式印刷電路板(FPC)、印刷電路板(PCB)。
在本實施例中，透過設定第四電阻元件R4及第五電阻元件R5的電阻值，第一訊號線(如131、133、135、137) 與第四訊號線(如511、513、515、517)之間的電阻差可介於30歐姆~30000歐姆之間，但在本發明的另一實施例中，第一訊號線(如131、133、135、137)與第四訊號線(如511、513、515、517)之間的電阻差較佳是可介於50歐姆~1000歐姆之間。或者，可設定第一訊號線(如131、133、135、137)與第四訊號線(如511、513、515、517)之間的電阻差更佳是介於100歐姆~500歐姆之間，此可依據本領域通常知識者而定，本發明實施例不以此為限。
在本實施例中，每一第四訊號線(如511、513、515、517)的相對兩端分別電性連接相應的第四電阻元件R4及第五電阻元件R5。但在不考慮電阻電容負載的平衡的情況下，可省略配置第五電阻元件R5，亦即在其他實施例中，每一第四訊號線(如511、513、515、517)可僅電性連接相應的第四電阻元件R4，並且可透過設定第四電阻元件R4的電阻值，使第一訊號線(如131、133、135、137)與第四訊號線(如511、513、515、517)之間形成電阻差。
圖6是本發明之一種實施例的顯示面板的畫素結構的示意圖。以有機發光顯示器的顯示面板為例，請參照圖1及圖6，在本實施例中，每一畫素區APX配置有一畫素結構PX1。每一畫素結構PX1包括多個主動元件(在此以電晶體T1、T2為例)、電容C1及顯示元件(在此以有機電激發光元件LD1為例)。電晶體T1的汲極接收相應的源極驅動電壓VS，電晶體T1的閘極接收相應的閘極驅動電壓VG。電晶體T2的汲極接收系統電壓VDD，電晶體T2 的閘極電性連接電晶體T1的源極。電容C1電性連接於電晶體T2的閘極與源極之間。有機電激發光元件LD1的陽極電性連接電晶體T2的源極，有機電激發光元件LD1的陰極電性連接接地電壓。
在本發明的一實施例中，第一訊號線(如131、133、135、137)可以為電力線VDD，第二訊號線(如141、143、145、147)可以為閘極線VG，第三訊號線(如151、153、155、157)可以為資料線VS。此時，資料線VS的驅動電壓可透過相應的第三訊號線(如151、153、155、157)來傳送，亦即電晶體T1的源極對應地電性連接第三訊號線(如151、153、155、157)的其中之一，閘極線VG的驅動電壓可透過相應的第二訊號線(如141、143、145、147)來傳送，亦即電晶體T1的閘極對應地電性連接第二訊號線(如141、143、145、147)的其中之一。此外，在一變化實施例中，閘極線VG與資料線VS可以互換。
由於有機電激發光元件LD1的製造方式整合於第一訊號線(如131、133、135、137)、第二訊號線(如141、143、145、147)及第三訊號線(如151、153、155、157)的製程中，因此在形成訊號線(如第一訊號線、第二訊號線及第三訊號線)時，可同時形成有機電激發光元件LD1。在本發明的一變化實施例中，在對訊號線(如第一訊號線、第二訊號線及第三訊號線)進行電性檢測之後，可對有機電激發光元件LD1進行點亮檢測。
圖7是本發明之一種實施例的顯示面板的畫素結構的 示意圖。以液晶顯示器的顯示面板為例，請參照圖1及圖7，在本實施例中，每一畫素區APX配置有一畫素結構PX2。每一畫素結構PX2包括電晶體T3及透明畫素電極PE。電晶體T3的汲極接收相應的源極驅動電壓VS，電晶體T3的閘極接收相應的閘極驅動電壓VG，電晶體T3的源極電性連接透明畫素電極PE。並且，假設顯示面板100以液晶顯示面板為例，則透明畫素電極PE的電壓準位可決定液晶的轉動角度，亦即透明畫素電極PE的電壓準位可決定每一畫素所顯示的亮度，但本發明實施例不以此為限。
在本發明的一實施例中，第一訊號線(如131、133、135、137)可以為共通電壓線Vcom(未圖示)，第二訊號線(如141、143、145、147)可以為閘極線，第三訊號線(如151、153、155、157)可以為資料線。此時，閘極線VG的驅動電壓可透過相應的第二訊號線(如141、143、145、147)來傳送，亦即電晶體T3的閘極對應地電性連接第二訊號線(如141、143、145、147)的其中之一。資料線VS的驅動電壓可透過相應的第三訊號線(如151、153、155、157)來傳送，亦即電晶體T3的源極對應地電性連接第三訊號線(如151、153、155、157)的其中之一，並且當電晶體T3導通時，透明畫素電極PE對應地電性連接至第三訊號線(如151、153、155、157)的其中之一。此外，在一變化實施例中，閘極線VG與資料線VS可以互換。
依據上述，可彙整一顯示面板的半成品的檢測方法，以檢測上述圖1至圖5的實施例所形成的顯示面板。圖8是本發明之一種實施例的顯示面板的半成品的檢測方法的流程圖。請參照圖8，在本實施例中，會分別對一第一組訊號線路與一第二組訊號線路輸入一第一檢測訊號與一第二檢測訊號(步驟S810)，其中第一組訊號線路包括多條第二訊號線。接著，依序偵測這些第二訊號線的這些第二檢測訊號的電性變化(步驟S820)，以偵測這些第二訊號線的狀態。
再者，依據圖6實施例的說明，若顯示元件與訊號線路可同時形成，則可另外對訊號線路及畫素結構進行點亮檢測。圖9是本發明之另一種實施例的顯示面板的半成品的檢測方法的流程圖。請參照圖8及圖9，在本實施例中，顯示面板的半成品的檢測方法更包括步驟S910及S920。在步驟S910中，會藉由上述多組訊號線路來驅動顯示面板中的這些畫素結構。在步驟S920中，會偵測這些畫素結構的狀態。
其中，上述步驟S810、S820、S910及S920的順序為用以說明，本發明實施例不以此為限。並且，上述步驟S810、S820、S910及S920的細節可參照圖1至圖7實施例的說明，在此則不再贅述。
綜上所述，本發明實施例的顯示面板及其半成品的檢測方法，在第一組訊號線路與第二組訊號線路的線距過短或過近時，第二組訊號線路的多條第二訊號線可電性連接 對應的第一電阻元件或電性連接對應的第一電阻元件及第二電阻元件，以使第一組訊號線路的電氣特性不同於第二組訊號線路，因此可過電氣特性的不同區分量測的結果為對應第一組訊號線路或第二組訊號線路，藉此可以更精準地檢測出斷路或短路缺陷，大幅地增進線路缺陷檢出能力，進而大幅地提升產品良率。並且，第一組訊號線路的多條第一訊號線可透過至少一橋接線電性連接，以致這些第一訊號線的電氣特性會更加一致。此外，在每一第二訊號線的相對應端分別電性連接對應的第一電阻元件及第二電阻元件時，可平衡顯示面板的電阻電容負載。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧母板
10‧‧‧基板
100、100a、100b、100c‧‧‧顯示面板區域/顯示面板
110‧‧‧顯示區
120‧‧‧周邊區
130‧‧‧第一組訊號線路
131、133、135、137‧‧‧第一訊號線
131a‧‧‧第一端
131b‧‧‧第二端
140‧‧‧第二組訊號線路
141、143、145、147‧‧‧第二訊號線
150‧‧‧第三組訊號線路
151、153、155、157‧‧‧第三訊號線
510‧‧‧第四組訊號線路
511、513、515、517‧‧‧第四訊號線
1010、1020、1030‧‧‧波形
APX‧‧‧畫素區
BC1‧‧‧第一橋接線
BC2‧‧‧第二橋接線
D1‧‧‧第一方向
D2‧‧‧第二方向
LD1‧‧‧有機電激發光元件
P11~P14‧‧‧第一接墊
P21~P24‧‧‧第二接墊
P31~P34‧‧‧第三接墊
PE‧‧‧透明畫素電極
PX1、PX2‧‧‧畫素結構
R1‧‧‧第一電阻元件
R2‧‧‧第二電阻元件
R3‧‧‧第三電阻元件
R4‧‧‧第四電阻元件
R5‧‧‧第五電阻元件
T1~T3‧‧‧電晶體
VDD‧‧‧電力線
VG‧‧‧閘極線
VS‧‧‧資料線
S810、S820、S910、S920‧‧‧步驟
圖1是本發明之第一實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。
圖2是本發明之第二實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。
圖3是本發明之第三實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。
圖4是本發明之第四實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。
圖5是本發明之第五實施例的顯示面板的半成品的部分示意圖。
圖6是本發明之一種實施例的顯示面板的畫素結構的示意圖。
圖7是本發明之一種實施例的顯示面板的畫素結構的示意圖。
圖8是本發明之一種實施例的顯示面板的半成品的檢測方法的流程圖。
圖9是本發明之另一種實施例的顯示面板的半成品的檢測方法的流程圖。
圖10A及圖10B分別為本發明之一實施例的感測訊號的波形示意圖。
1‧‧‧母板
10‧‧‧基板
100‧‧‧顯示面板區域/顯示面板
110‧‧‧顯示區
120‧‧‧周邊區
130‧‧‧第一組訊號線路
131、133、135、137‧‧‧第一訊號線
140‧‧‧第二組訊號線路
141、143、145、147‧‧‧第二訊號線
150‧‧‧第三組訊號線路
151、153、155、157‧‧‧第三訊號線
APX‧‧‧畫素區
BC1‧‧‧第一橋接線
D1‧‧‧第一方向
D2‧‧‧第二方向
P11~P14‧‧‧第一接墊
P21~P24‧‧‧第二接墊
R1‧‧‧第一電阻元件

Claims (33)

  1. 一種顯示面板，具有一顯示區以及位於該顯示區之外的一周邊區，且該顯示區包括陣列排列的多個畫素區，該顯示面板包括：一第一組訊號線路(circuit)，設置於該顯示區與該周邊區內，該第一組訊號線路包括沿一第一方向平行設置的多條第一訊號線，且該些第一訊號線相互電性連接；一第二組訊號線路，設置於該顯示區與該周邊區內，該第二組訊號線路包括沿該第一方向平行設置的多條第二訊號線，該些第二訊號線跟該些第一訊號線平行且交替設置；以及多個第一電阻元件，設置於該周邊區內，每一第二訊號線至少連接該第一電阻元件，其中該第一訊號線與該第二訊號線之間的間距小於60微米(μm)，且該第一訊號線與該第二訊號線之間的一電阻差介於30歐姆~30000歐姆之間。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中該第一訊號線與該第二訊號線之間的該電阻差介於50歐姆~1000歐姆之間。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中該第一訊號線與該第二訊號線之間的該電阻差介於100歐姆~500歐姆之間。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括多個畫素結構，配置於相應的該些畫素區內，其中每一畫素 結構包括：一顯示元件；以及一主動元件，電性連接該顯示元件，且對應地電性連接該些第二訊號線其中之一。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的顯示面板，其中該顯示元件包括一有機電激發光元件。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中該第一組訊號線路包括一電力線路(Power line circuit)。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括多個畫素結構，配置於相應的該些畫素區內，其中每一畫素結構包括：一主動元件；以及一透明畫素電極，電性連接該主動元件，且對應地電性連接該些第二訊號線其中之一。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括一第一橋接線，位於該周邊區內，用以電性連接該些第一訊號線。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的顯示面板，更包括一第二橋接線，位於該周邊區內，且該第一橋接線與該第二橋接線分別位於該顯示區的相對兩側，該第一橋接線電性連接每一第一訊號線的一第一端，而該第二橋接線電性連接每一第一訊號線的一第二端。
  10. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括多個第一接墊與多個第二接墊，位於該周邊區內，並且分 別電性連接該些第一訊號線與該些第二訊號線。
  11. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括多個第二電阻元件，分別串聯相應的該第二訊號線，且該第一電阻元件與該第二電阻元件分別電性連接該第二訊號線的相對兩端。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的顯示面板，其中該第二電阻元件位於該周邊區內。
  13. 如申請專利範圍第11項所述的顯示面板，其中該第一電阻元件的電阻值實質上等於該第二電阻元件的電阻值。
  14. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括：一第三組訊號線路，設置於該顯示區與該周邊區內，該第三組訊號線路包括沿該第一方向平行設置的多條第三訊號線，該些第三訊號線跟該些第一訊號線平行且交替設置；以及多個第三電阻元件，設置於該周邊區內，每一第三訊號線至少連接該第三電阻元件，其中該第一訊號線與該第三訊號線之間的間距小於60微米(μm)，且該第一訊號線路與該第三訊號線路之間的電阻差介於30歐姆~30000歐姆之間。
  15. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，其中該第一訊號線與該第三訊號線之間的該電阻差介於50歐姆~1000歐姆之間。
  16. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，其中該 第一訊號線與該第三訊號線之間的該電阻差介於100歐姆~500歐姆之間。
  17. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，更包括多個第四電阻元件，分別串聯相應的該第三訊號線，且該第三電阻元件與該第四電阻元件分別電性連接該第三訊號線的相對兩端。
  18. 如申請專利範圍第17項所述的顯示面板，其中該第四電阻元件位於該周邊區內。
  19. 如申請專利範圍第17項所述的顯示面板，其中該第三電阻元件的電阻值實質上等於該第四電阻元件的電阻值。
  20. 一種顯示面板的檢測方法，適於對一顯示面板的半成品進行電性檢測，該顯示面板包括：一基板，具有一顯示區以及位於該顯示區之外的一周邊區，且該顯示區包括陣列排列的多個畫素區；一第一組訊號線路(circuit)，設置於該顯示區與該周邊區內，該第一組訊號線路包括沿一第一方向平行設置的多條第一訊號線，且該些第一訊號線相互電性連接；一第二組訊號線路，設置於該顯示區與該周邊區內，該第二組訊號線路包括沿該第一方向平行設置的多條第二訊號線，該些第二訊號線跟該些第一訊號線平行且交替設置；以及多個第一電阻元件，設置於該周邊區內，每一第二訊號線至少連接該第一電阻元件，其中該第一訊號線與該第 二訊號線之間的間距小於60微米(μm)，且該第一訊號線與該第二訊號線之間的一電阻差介於30歐姆~30000歐姆之間；該檢測方法包括：分別對該第一組訊號線路與該第二組訊號線路輸入一第一檢測訊號與一第二檢測訊號；以及依序偵測該些第二訊號線的該些第二檢測訊號的電性變化。
  21. 如申請專利範圍第20項所述顯示面板的檢測方法，在分別輸入該第一檢測訊號與該第二檢測訊號至該第一組訊號線路與該第二組訊號線路之前，更包括電性連接一外部電阻元件至每一第二訊號線路。
  22. 如申請專利範圍第20項所述顯示面板的檢測方法，其中該顯示面板更包括多個畫素結構，配置於相應的該些畫素區內，該檢測方法更包括：藉由該多組訊號線路來驅動該些畫素結構；以及偵測該些畫素結構的狀態。
  23. 如申請專利範圍第20項所述顯示面板的檢測方法，其中該第一訊號線與該第二訊號線之間的該電阻差介於50歐姆~1000歐姆之間。
  24. 如申請專利範圍第20項所述顯示面板的檢測方法，其中該第一訊號線與該第二訊號線之間的該電阻差介於100歐姆~500歐姆之間。
  25. 如申請專利範圍第20項所述顯示面板的檢測方 法，其中該顯示面板更包括一第一橋接線，位於該周邊區內，用以電性連接該些第一訊號線。
  26. 如申請專利範圍第25項所述顯示面板的檢測方法，其中該顯示面板更包括一第二橋接線，位於該周邊區內，且該第一橋接線與該第二橋接線分別位於該顯示區的相對兩側，該第一橋接線電性連接每一第一訊號線的一第一端，而該第二橋接線電性連接每一第一訊號線的一第二端。
  27. 如申請專利範圍第20項所述顯示面板的檢測方法，其中該顯示面板更包括多個第二電阻元件，位於該周邊區內，並且分別串聯相應的該第二訊號線，且該第一電阻元件與該第二電阻元件分別電性連接該第二訊號線的相對兩端。
  28. 如申請專利範圍第27項所述顯示面板的檢測方法，其中該第一電阻元件的電阻值實質上等於該第二電阻元件的電阻值。
  29. 如申請專利範圍第20項所述顯示面板的檢測方法，其中該顯示面板更包括：一第三組訊號線路，設置於該顯示區與該周邊區內，該第三組訊號線路包括沿該第一方向平行設置的多條第三訊號線，該些第三訊號線跟該些第一訊號線平行且交替設置；以及多個第三電阻元件，設置於該周邊區內，每一第三訊號線至少連接該第三電阻元件，其中該第一訊號線與該第 三訊號線之間的間距小於60微米(μm)，且該第一訊號線路與該第三訊號線路之間的電阻差介於30歐姆~30000歐姆之間。
  30. 如申請專利範圍第29項所述顯示面板的檢測方法，其中該第一訊號線路與該第三訊號線路之間的該電阻差介於50歐姆~1000歐姆之間。
  31. 如申請專利範圍第29項所述顯示面板的檢測方法，其中該第一訊號線路與該第三訊號線路之間的該電阻差介於100歐姆~500歐姆之間。
  32. 如申請專利範圍第29項所述顯示面板的檢測方法，其中該顯示面板更包括多個第四電阻元件，位於該周邊區內，並且分別串聯相應的該第三訊號線，且該第三電阻元件與該第四電阻元件分別電性連接該第三訊號線的相對兩端。
  33. 如申請專利範圍第32項所述顯示面板的檢測方法，其中該第三電阻元件的電阻值實質上等於該第四電阻元件的電阻值。
TW101123477A 2012-06-29 2012-06-29 顯示面板及其檢測方法 TWI470332B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101123477A TWI470332B (zh) 2012-06-29 2012-06-29 顯示面板及其檢測方法
CN201210319807.2A CN102830520B (zh) 2012-06-29 2012-08-31 显示面板及其检测方法
US13/610,918 US8508111B1 (en) 2012-06-29 2012-09-12 Display panel and method for inspecting thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101123477A TWI470332B (zh) 2012-06-29 2012-06-29 顯示面板及其檢測方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201400958A TW201400958A (zh) 2014-01-01
TWI470332B true TWI470332B (zh) 2015-01-21

Family

ID=47333706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101123477A TWI470332B (zh) 2012-06-29 2012-06-29 顯示面板及其檢測方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8508111B1 (zh)
CN (1) CN102830520B (zh)
TW (1) TWI470332B (zh)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI486928B (zh) * 2012-11-16 2015-06-01 Au Optronics Corp 顯示面板及其檢測方法
TWI552319B (zh) * 2014-05-23 2016-10-01 友達光電股份有限公司 顯示裝置
KR102379183B1 (ko) * 2014-12-30 2022-03-25 엘지디스플레이 주식회사 평판 표시 패널
TWI576804B (zh) * 2015-11-23 2017-04-01 友達光電股份有限公司 可調整驅動訊號的顯示器及其調整方法
CN108305589B (zh) * 2016-12-28 2022-12-30 矽创电子股份有限公司 显示设备的驱动模块及驱动方法
CN107085332B (zh) * 2017-06-27 2020-05-22 上海天马微电子有限公司 一种显示面板和显示装置
CN108648672B (zh) * 2018-07-03 2021-08-31 京东方科技集团股份有限公司 探头模块及点灯测试系统
CN109188743A (zh) * 2018-11-14 2019-01-11 惠科股份有限公司 显示面板的制作方法及显示装置
TWI762218B (zh) * 2021-02-25 2022-04-21 友達光電股份有限公司 驅動電路檢測系統
WO2024036636A1 (zh) * 2022-08-19 2024-02-22 京东方科技集团股份有限公司 基板和电子装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6493047B2 (en) * 1997-08-07 2002-12-10 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Liquid crystal display panel having electrostatic discharge prevention circuitry
TWI223731B (en) * 1997-03-26 2004-11-11 Sharp Kk Display panel
US20050046439A1 (en) * 2003-08-26 2005-03-03 Chih-Lung Yu Combining detection circuit for a display panel
TW201205157A (en) * 2010-07-29 2012-02-01 Au Optronics Corp Liquid crystal display panel

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08262485A (ja) * 1995-03-20 1996-10-11 Nec Corp 液晶表示装置
JPH09113923A (ja) * 1995-10-23 1997-05-02 Kyocera Corp 液晶表示装置の製造方法
JP3491080B2 (ja) * 1996-07-25 2004-01-26 株式会社アドバンスト・ディスプレイ 液晶表示装置のマトリクス型アレイ基板およびその製法
JPH10268273A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Hitachi Ltd 液晶表示基板
JPH1115015A (ja) * 1997-06-20 1999-01-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶パネルとその検査方法
JP2003005219A (ja) * 2001-06-27 2003-01-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
TWI232946B (en) 2004-03-15 2005-05-21 Toppoly Optoelectronics Corp Measuring method of the driving circuit
TWI287685B (en) 2006-08-31 2007-10-01 Au Optronics Corp Liquid crystal display, active matrix substrate and test method therefor
TWI352963B (en) * 2006-11-08 2011-11-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd Active device array substrate having electrostatic
TWI421568B (zh) 2008-09-12 2014-01-01 Au Optronics Corp 主動陣列基板、液晶顯示面板及製造液晶顯示面板之方法
TW201020608A (en) 2008-11-20 2010-06-01 Chi Mei Optoelectronics Corp Liquid crystal display module and its inspection circuit and inspection method
TWI424236B (zh) * 2010-04-01 2014-01-21 Au Optronics Corp 顯示面板
CN101969043B (zh) 2010-08-25 2012-10-03 友达光电股份有限公司 主动元件阵列基板及其制造方法
TW201216235A (en) * 2010-10-05 2012-04-16 Au Optronics Corp Pixel structure, pixel array and display panel
TWI457674B (zh) * 2011-04-13 2014-10-21 Au Optronics Corp 畫素陣列、畫素結構及畫素結構的驅動方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI223731B (en) * 1997-03-26 2004-11-11 Sharp Kk Display panel
US6493047B2 (en) * 1997-08-07 2002-12-10 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Liquid crystal display panel having electrostatic discharge prevention circuitry
US20050046439A1 (en) * 2003-08-26 2005-03-03 Chih-Lung Yu Combining detection circuit for a display panel
TW201205157A (en) * 2010-07-29 2012-02-01 Au Optronics Corp Liquid crystal display panel

Also Published As

Publication number Publication date
TW201400958A (zh) 2014-01-01
US8508111B1 (en) 2013-08-13
CN102830520A (zh) 2012-12-19
CN102830520B (zh) 2015-08-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI470332B (zh) 顯示面板及其檢測方法
KR102523051B1 (ko) 표시 장치
WO2018205718A1 (zh) 触控显示面板、其测试方法及显示装置
US10775953B2 (en) In-cell touch display device and methods for testing and manufacturing the same
KR101137863B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이 기판
JP6257192B2 (ja) アレイ基板およびその検査方法ならびに液晶表示装置
CN107402674B (zh) 压力触控检测电路、方法和显示面板
JP2015049435A (ja) ドライバｉｃ、表示装置およびその検査システム
KR102477989B1 (ko) 표시 장치 및 본딩 저항 검사 방법
KR102034069B1 (ko) 터치타입 액정표시장치 및 이의 검사방법
JP2016218243A (ja) 表示装置
TW201441642A (zh) 檢測方法及檢測裝置
US20070235888A1 (en) Film type package and display apparatus having the same
KR102493578B1 (ko) 표시장치
KR20110032328A (ko) 액정표시장치
KR102296073B1 (ko) 액정 표시 장치
CN114488632B (zh) 一种显示面板、显示装置及其检测方法
JP4724249B2 (ja) 液晶表示装置及びその検査方法
KR101621560B1 (ko) 액정표시장치 테스트 패턴
KR102222274B1 (ko) 액정표시장치
JP6370057B2 (ja) アレイ基板およびアレイ基板の検査方法
KR101600392B1 (ko) 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법
TWI610207B (zh) 檢測方法
CN113689820B (zh) 显示面板及显示装置
JP2008233730A (ja) 液晶表示パネル