KR102493578B1 - 표시장치 - Google Patents

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박용범
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Abstract

본 발명은 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 표시장치를 제공하기 위하여, 표시영역 및 표시영역 외측의 비표시영역을 포함하는 기판과, 기판 상의 비표시영역에 배치되며, 다수의 패드와 테스트패드를 포함하는 본딩부와, 본딩부와 전기적으로 결합되며, 다수의 범프와 다수의 테스트범프와 다수의 테스트범프 사이 마다 배치되는 다수의 테스트저항을 포함하고, 다수의 테스트범프와 다수의 테스트저항은 직렬로 연결되는 구동소자를 포함하는 표시장치를 제공한다.

Description

표시장치{Display device}
본 발명은 표시장치에 관한 것으로, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 표시장치에 관한 것이다.
현재, 플라즈마표시장치(plasma display panel: PDP), 액정표시장치(liquid crystal display device : LCD), 유기발광다이오드표시장치(Organic light emitting diode display device : OLED)와 같은 표시장치가 널리 연구되며 사용되고 있다.
도 1은 일반적인 표시장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 표시장치는 영상이 출력되는 표시패널(10)과, 각종 회로부품들이 실장되어 있는 인쇄회로기판(70)과, 인쇄회로기판(70)과 표시패널(10)을 연결시키기 위한 연성회로기판(60)과, 연성회로기판(60)을 통해 인쇄회로기판(70)으로부터 전송되어온 전기신호에 따라 표시패널(10)을 구동하기 위해 표시패널(10)에 실장되어 있는 구동집적회로(Driving-Integrated Circuit)(이하, 구동소자)(20)를 포함하고 있다.
구체적으로, 표시패널(10)은 전술한 표시장치의 종류에 따라, 플라즈마 표시패널, 액정 표시패널 및 유기발광다이오드 표시패널과 같은 다양한 종류의 패널이 이용될 수 있으며, 일반적으로 상부기판(16) 및 하부기판(15)으로 구성된다.
또한, 표시패널(10)에는 실질적으로 영상이 출력되는 표시영역과, 영상이 출력되지 않는 비표시영역이 형성되어 있다.
이 때, 비표시영역에는, 표시영역에 형성되어 있는 게이트라인(미도시) 또는 데이터라인(미도시)과 구동소자(20)를 전기적으로 연결시키기 위한 출력 연결라인(35) 및 구동소자(20)와 연성회로기판(60)을 전기적으로 연결시키기 위한 입력 연결라인(36)이 형성되어 있다.
이하, 출력 연결라인(35)과 입력 연결라인(36)을 모두 연결라인(30)이라 칭하겠다.
도 2는 도 1에 도시된 표시패널의 하부기판과 구동소자가, 도전필름에 의해 접착되어 있는 상태(a)와 도전필름에 의해 접착되지 않은 상태(b)를 각각 도시한 단면도이다.
도면에 도시한 바와 같이, 표시패널(10)의 하부기판(15)은 하부기판(15) 상에 배치되는 연결라인(30)과, 연결라인(30) 상부에 배치되며 연결라인(30) 일부를 노출시키는 콘택홀을 구비하는 제1 및 제2절연막(12, 13)과, 제2절연막(13) 상부에 배치되며 콘택홀을 통해 연결라인(30)과 접촉되는 연결전극(31)을 포함한다.
또한, 구동소자(20)는 구동소자(20) 하부에 배치되는 범프(21)를 포함하고, 구동소자(20) 및 하부기판(15) 사이에 도전볼(42)을 포함하는 도전필름(40)이 개재된다.
이 때, 하부기판(15)과 구동소자(20) 사이에 도전필름(40)을 개재한 상태에서, 구동소자(20)를 압착하여, 구동소자(20)의 범프(21)를 연결라인(30)과 전기적으로 연결시킨다.
구체적으로, 구동소자(20)가 하부기판(15)에 압착되면, 구동소자(20) 하부에 배치된 범프(21)가 범프(21) 하부에 위치한 도전볼(42)을 압착시키며 경화됨으로써, 연결라인(30)과 범프(21)를 전기적으로 연결시키게 된다.
이 때, 도 2 (b)에 도시한 바와 같이, 도전필름(40)의 미스얼라인으로 인해 범프(21)와 연결전극(31) 사이에 도전필름(40)이 처음부터 위치하지 않는 경우에는, 연결라인(30)과 범프(21)사이에 들뜸이 발생되어 연결라인(30)과 범프(21)가 전기적으로 연결되지 않게 되어, 표시불량을 일으키게 된다.
따라서, 연결라인(30)과 범프(21)가 전기적으로 연결 되어 있는지를 검사하는 과정이 필수적이다.
이를 위해, 종래에는 육안으로 하부기판(15) 하부에 형성된 압흔(32)을 검사하는 방식을 이용하고 있다.
여기서 압흔(32)이란, 도전볼(42)이 범프(21)에 의해 하부기판(15) 상에서 압착될 때, 도전볼(42)의 일부가 찌그러지면서 연결전극(31) 또는 연결라인(30)에 형성되는 눌린 자국을 말한다.
이 때, 압흔(32)이 없다는 것은, 연결전극(31)과 범프(21)가 밀착되지 않고 있다는 것을 의미하며, 범프(21)와 연결라인(30)이 전기적으로 연결되어 있지 않음을 의미한다.
그러나, 육안으로 표시패널(10) 하부에 형성된 압흔(32)을 검사하는 방식은 객관성을 담보할 수 없어, 자칫 다수의 불량품을 생산함으로써, 제품의 신뢰성을 떨어뜨리는 문제점이 있다.
또한, 사람의 육안으로 표시패널(10) 하부에 형성된 압흔(32)을 검사함에 따라, 고가의 인건비에 의해 제조비용을 상승시키게 된다.
본 발명은 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 표시장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 표시영역 및 상기 표시영역 외측의 비표시영역을 포함하는 기판과, 기판 상의 비표시영역에 배치되며, 다수의 패드와 테스트패드를 포함하는 본딩부와, 본딩부와 전기적으로 결합되며, 다수의 범프와 다수의 테스트범프와 다수의 테스트범프 사이 마다 배치되는 다수의 테스트저항을 포함하고, 다수의 테스트범프와 상기 다수의 테스트저항은 직렬로 연결되는 구동소자를 포함하는 표시장치를 제공한다.
또한, 직렬로 연결된 다수의 테스트범프와 다수의 테스트저항은 테스트라인을 이루며, 테스트라인은 일 방향으로 나란히 적어도 2개 이상 배치된다.
또한, 테스트패드는 테스트라인에 대응하여 연장되고, 다수의 범프는 다수의 패드에 대응하여 위치하고, 다수의 테스트범프는 테스트패드에 대응하여 위치한다.
또한, 테스트라인은 구동소자 끝단에 배치된다.
또한, 테스트패드는 절연막 상부에 배치되는 도전패턴을 포함하고, 도전패턴은 전기적으로 플로팅된다.
또한, 도전볼을 포함하며, 본딩부와 구동소자 사이에 배치되는 도전필름을 더 포함한다.
또한, 도전볼에 의해, 연결전극과 다수의 범프가 전기적으로 연결되고, 도전패턴과 다수의 테스트범프가 전기적으로 연결된다.
본 발명은 테스트라인의 양 끝단의 저항값을 측정함으로써, 기판의 본딩부와 구동소자 사이에 배치된 도전필름의 미스얼라인 발생 유무를 확인할 수 있는 효과가 있다.
또한, 위와 같은 저항 측정 방식으로 도전필름의 미스얼라인 발생 유무를 확인할 수 있어 그 객관성을 담보할 수 있고, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 일반적인 표시장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 표시패널의 하부기판과 구동소자가, 도전필름에 의해 접착되어 있는 상태(a)와 도전필름에 의해 접착되지 않은 상태(b)를 각각 도시한 단면도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 구성을 도시한 도면이고, 도 4는 도 3의 본딩부를 도시한 도면이다.
도 5는 기판에 결합되는 구동소자의 일면을 도시한 도면이다.
도 6은 본딩부의 패드와 구동소자의 범프가 결합된 상태를 도시한 단면도이다.
도 7은 본딩부의 테스트패드와 구동소자의 테스트범프가 결합된 상태를 도시한 단면도이다.
도 8은 정위치에 위치한 도전필름에 의해 본딩부의 테스트패드와 구동소자의 테스트라인이 결합된 영역을 도시한 도면이다.
도 9는 도전필름의 미스얼라인의 일 예를 도시한 도면이다.
도 10은 도전필름의 미스얼라인의 다른 예를 도시한 도면이다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 구성을 도시한 도면이고, 도 4는 도 3의 본딩부를 도시한 도면이고, 도 5는 기판에 결합되는 구동소자의 일면을 도시한 도면이고, 도 6은 본딩부의 패드와 구동소자의 범프가 결합된 상태를 도시한 단면도이고, 도 7은 본딩부의 테스트패드와 구동소자의 테스트범프가 결합된 상태를 도시한 단면도이다.
도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 표시장치는, 기판(101), 구동소자(200), 연성회로기판(210) 및 인쇄회로기판(300)을 포함한다.
먼저, 기판(101)은 화상을 표시하는 표시영역(102) 및 표시영역(102) 주변의 비표시영역(104)을 포함한다.
구체적으로, 기판(101) 상의 표시영역(102)에는 서로 교차하는 다수의 게이트라인(GL) 및 다수의 데이터라인(DL)이 배치되고, 다수의 게이트라인(GL) 및 다수의 데이터라인(DL)의 교차지점에 다수의 화소(P)가 배치된다.
또한, 기판(101) 상의 비표시영역(104)에는 게이트신호를 다수의 게이트라인(GL)에 공급함과 아울러, 게이트신호에 동기되는 데이터신호를 다수의 데이터라인(DL)에 공급하기 위한 구동소자(200)가 전기적으로 결합되는 본딩부(120)를 포함한다.
또한, 비표시영역(104)의 본딩부(120) 주변에는 다수의 연결라인(130)이 배치되어 있다.
여기서, 다수의 연결라인(130)은 연성회로기판(210)과 구동소자(200)를 전기적으로 연결하는 입력 연결라인(136)과, 구동소자(200)와 표시영역(102)에 배치된 다수의 게이트라인(GL) 및 다수의 데이터라인(DL)을 전기적으로 연결하는 출력 연결라인(135)으로 구분된다.
또한, 본딩부(120)는 다수의 연결라인(130)과 전기적으로 각각 연결되는 다수의 패드(PD)와 다수의 연결라인(130)과 연결되지 않는 테스트패드(TPD)를 포함한다.
여기서, 본딩부(120)에 구동소자(200)를 결합시, 다수의 패드(PD)는 출력 연결라인(135)과 전기적으로 연결되는 출력 패드(PD1)와 입력 연결라인(136)과 전기적으로 연결되는 입력 패드(PD2)로 구분된다.
이 때, 테스트패드(TPD)는 구동소자(200)의 끝단에 배치된다.
도 5에 도시한 바와 같이, 구동소자(200)는 다수의 범프(121)와 다수의 테스트범프(123)와 다수의 테스트범프(123) 사이 마다 배치되는 다수의 테스트저항(도 8의 125)을 포함한다.
한편, 다수의 범프(121)는 본딩부(120)의 출력 패드(PD1)와 전기적으로 연결되는 출력 범프(121a)와 본딩부(120)의 입력 패드(PD2)와 전기적으로 연결되는 입력 범프(121b)로 구분된다.
이 때, 다수의 테스트범프(123)와 다수의 테스트저항(도 8의 125)은 직렬로 연결된다.
또한, 다수의 테스트저항(도 8의 125)은 구동소자(200) 내부에 배치되어 다수의 테스트범프(123)와 전기적으로 연결된다.
또한, 다수의 범프(121)는 본딩부(120)의 다수의 패드(PD)에 대응하여 위치하고, 다수의 테스트범프(123)는 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)에 대응하여 위치한다.
이는, 본딩부(120)에 구동소자(200) 결합 시, 다수의 패드(PD)는 다수의 범프(121)와 접촉되는 부분이고, 테스트패드(TPD)는 다수의 테스트범프(123)와 접촉되는 부분이기 때문이다.
또한, 직렬로 연결된 다수의 테스트범프(123)와 다수의 테스트저항(도 8의 125)은 테스트라인(TL, TL2)을 이루며, 이 때, 테스트라인(TL1, TL2)은 일 방향으로 나란히 적어도 2개 이상 배치된다.
이 때, 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)는 테스트라인(TL1, TL2)에 대응하여 연장된다.
즉, 본딩부(120)에 구동소자(200)의 결합 시, 테스트패드(TPD)는 테스트라인(TL1, TL2)을 이루는 다수의 테스트범프(123)와 접촉되는 부분으로, 더 많은 테스트범프(123)와 테스트저항(도 8의125)이 직렬로 연결되어 테스트라인(TL1, TL2)이 길어질수록, 테스트라인(TL1, TL2)에 대응하여 테스트패드(TPD)도 길어진다.
이와 마찬가지로, 테스트라인(TL1, TL2)이 일 방향으로 나란히 2개 이상 배치되는 경우, 이들 테스트라인(TL1, TL2)을 이루는 다수의 테스트범프(123)와 모두 접촉되도록, 테스트패드(TPD)의 폭 역시 커지게 된다
도 6 (a)에 도시한 바와 같이, 본딩부(120)의 패드(PD)는 기판(101) 상에 배치되는 연결라인(130)과, 연결라인(130) 상부에 배치되며 연결라인(130) 일부를 노출시키는 콘택홀을 구비하는 제1 및 제2절연막(112, 113)과, 제2절연막(113) 상부에 배치되며 콘택홀을 통해 연결라인(130)과 접촉되는 연결전극(131)을 포함한다.
또한, 구동소자(200)의 범프(121)는 구동소자(200) 하부에 배치되고, 구동소자(200) 및 기판(101) 사이에 도전볼(142)을 포함하는 도전필름(140)이 개재된다.
이 때, 기판(101)과 구동소자(200) 사이에 도전필름(140)을 개재한 상태에서, 구동소자(200)를 압착하여, 구동소자(200)의 범프(121)를 연결라인(130)과 전기적으로 연결시킨다.
구체적으로, 구동소자(200)가 기판(101) 상에서 압착되면, 구동소자(200) 하부에 배치된 범프(121)가 범프(121) 하부에 위치한 도전볼(142)을 압착시키며 경화됨으로써, 연결라인(130)과 범프(121)를 전기적으로 연결시키게 된다.
이때, 도전볼(142)이 압착되면서 연결전극(131) 및 연결라인(130)에 압흔(132)이 형성된다.
여기서 압흔(132)이란, 도전볼(142)이 범프(121)에 의해 기판(101) 상에서 압착될 때, 도전볼(142)의 일부가 찌그러지면서 연결전극(131) 또는 연결라인(130)에 형성되는 눌린 자국을 말한다.
또한, 압흔(132)이 없다는 것은, 연결전극(131)과 범프(121)가 밀착되지 않고 있다는 것을 의미하며, 범프(121)와 연결라인(130)이 전기적으로 연결되어 있지 않음을 의미한다.
그러나, 도 6 (b)에 도시한 바와 같이, 도전필름(140)의 미스얼라인으로 인해 범프(121)와 연결전극(131) 사이에 도전필름(140)이 처음부터 위치하지 않는 경우에는, 연결라인(130)과 범프(121)사이에 들뜸이 발생되어 연결라인(130)과 범프(121)가 전기적으로 연결되지 않게 되어, 표시불량을 일으키게 된다.
도 7에 도시한 바와 같이, 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)는 기판(101) 상에 배치되는 제1 및 제2절연막(112, 113)과, 제2절연막(113) 상부에 배치되는 도전패턴(133)을 포함한다.
이 때, 도전패턴(133)은 패드(PD)에 포함된 연결전극(131)과 동일층 및 동일물질로 이루어진다.
또한, 구동소자(200)의 테스트범프(123)는 구동소자(200) 하부에 배치되고, 구동소자(200) 및 기판(101) 사이에 도전볼(142)을 포함하는 도전필름(140)이 개재된다.
이 때, 기판(101)과 구동소자(200) 사이에 도전필름(140)을 개재한 상태에서, 구동소자(200)를 압착하여, 구동소자(200)의 테스트범프(123)를 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)에 전기적으로 연결시킨다.
구체적으로, 구동소자(200)가 기판(101) 상에서 압착되면, 구동소자(200) 하부에 배치된 테스트범프(123)가 테스트범프(123) 하부에 위치한 도전볼(142)을 압착시키며 경화됨으로써, 도전패턴(133)과 테스트범프(123)를 전기적으로 연결시키게 된다.
이때, 도전볼(142)이 압착되면서 도전패턴(133)에 압흔(132)이 형성된다.
여기서 압흔(132)이란, 도전볼(142)이 테스트범프(123)에 의해 기판(101) 상에서 압착될 때, 도전볼(142)의 일부가 찌그러지면서 도전패턴(133)에 형성되는 눌린 자국을 말한다.
또한, 압흔(132)이 없다는 것은, 도전패턴(133)과 테스트범프(123)가 밀착되지 않고 있다는 것을 의미하며, 테스트범프(123)와 도전패턴(133)이 전기적으로 연결되어 있지 않음을 의미한다.
도 8은 정위치에 위치한 도전필름에 의해 본딩부의 테스트패드와 구동소자의 테스트라인이 결합된 영역을 도시한 도면이다.
도 8에 도시한 바와 같이, 구동소자(200)는 다수의 테스트범프(123)와 다수의 테스트범프(123) 사이 마다 배치되는 다수의 테스트저항(125)을 포함한다.
이 때, 다수의 테스트범프(123)와 다수의 테스트저항(125)은 직렬로 연결된다.
또한, 다수의 테스트저항(125)은 구동소자(200) 내부에 배치되어 다수의 테스트범프(123)와 전기적으로 연결된다.
또한, 다수의 테스트범프(123)는 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)에 대응하여 위치한다. 이는, 본딩부(120)에 구동소자(200) 결합 시, 테스트패드(TPD)는 다수의 테스트범프(123)와 접촉되는 부분이기 때문이다.
또한, 직렬로 연결된 다수의 테스트범프(123)와 다수의 테스트저항(125)은 테스트라인(TL1, TL2)을 이루며, 이 때, 테스트라인(TL1, TL2)은 일 방향으로 나란히 적어도 2개 이상 배치된다.
이 때, 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)는 테스트라인(TL)에 대응하여 연장된다.
즉, 본딩부(120)와 구동소자(200)의 결합 시, 테스트패드(TPD)는 테스트라인(TL)을 이루는 다수의 테스트범프(123)와 접촉되는 부분으로, 더 많은 테스트범프(123)와 테스트저항(125)이 직렬로 연결되어 테스트라인(TL)이 길어질수록, 테스트라인(TL1, TL2)에 대응하여 테스트패드(TPD)도 길어진다.
이와 마찬가지로, 테스트라인(TL1, TL2)이 일 방향으로 나란히 2개 이상 배치되는 경우, 이들 테스트라인(TL1, TL2)을 이루는 다수의 테스트범프(123)와 모두 접촉되도록, 테스트패드(TPD)의 폭 역시 커지게 된다.
한편, 테스트저항(125)은 미리 정해진 저항값으로 설정된다.
이 때, 테스트범프(123)도 도전성 물질로 이루어지기 때문에 내부 저항값을 가지고 있지만, 테스트저항(125)의 저항값 대비 아주 작기 때문에 설명의 편의상 이를 무시하겠다.
이 때, 전술한 바와 같이, 다수의 테스트범프(123)와 다수의 테스트저항(125)은 직렬로 연결되기 때문에, 각 테스트라인(TL1, TL2) 양 끝단에서 측정한 저항값은 다수의 테스트저항(125)의 저항값의 합이 된다.
또한, 본딩부(120)와 구동소자(200)가 도전필름(140)에 의해 정위치에서 결합되면, 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 구동소자(200)의 다수의 테스트범프(123)가 전기적으로 연결된다.
이 때, 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 구동소자(200)의 다수의 테스트범프(123)가 연결된 영역에 압흔(132)이 형성된다.
또한, 전술한 바와 같이, 구동소자(200)의 다수의 테스트저항(125)은 구동소자(200) 내부에 배치되기 때문에, 본딩부(120)와 구동소자(200)의 결합시, 다수의 테스트저항(125)은 테스트패드(TPD)와 전기적으로 연결되지 않는다.
또한, 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)는 도전성 물질로 이루어지며, 다수의 연결라인(130)과는 연결되지 않는다. 즉, 전기적으로 플로팅(floating) 상태를 갖는다.
이에 따라, 구동소자(200)의 다수의 테스트범프(123)는 도전필름(140)에 의해 모두 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 전기적으로 연결된 상태를 이루게 되고, 테스트저항(125)에 의해 연결되는 각 테스트범프(123)는 모두 전기적으로 쇼트(short)된 상태를 이루기 때문에, 각 테스트라인(TL1, TL2) 양 끝단에서 측정한 저항값은 0이 된다.
도 9는 도전필름의 미스얼라인의 일 예를 도시한 도면이다.
먼저, 구동소자(200)에 두 개의 테스트라인(TL1, TL2)이 배치되는 경우를 일 예로 설명하겠다.
도면에 도시한 바와 같이, 기판(101)의 본딩부(120)와 구동소자(200) 사이에 배치된 도전필름(140)의 미스얼라인으로 인해, 도전필름(140)은 제1 및 제2테스트라인(TL1, TL2) 중 구동소자(200) 끝단에 배치된 제2테스트라인(TL2)에만 위치하게 된다.
이 때, 기판(101)의 본딩부(120)와 구동소자(200) 사이에 도전볼(142)을 포함하는 도전필름(140)를 개재한 상태에서, 구동소자(200)를 기판(101)에 압착하면, 도전필름(140)이 위치한 제2테스트라인(TL2)를 이루는 다수의 테스트범프(123)에만 압흔(132)이 형성된다.
이에 따라, 구동소자(200)의 제2테스트라인(TL2)에 포함된 다수의 테스트범프(123)는 도전필름(140)에 의해 모두 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 전기적으로 연결된 상태를 이루게 되고, 제2테스트라인(TL2)에 포함된 테스트저항(125)에 의해 연결되는 각 테스트범프(123)는 모두 전기적으로 쇼트(short)된 상태를 이루기 때문에, 제2테스트라인(TL2) 양 끝단에서 측정한 저항값은 0이 된다.
또한, 구동소자(200)의 제1테스트라인(TL2)에 포함된 다수의 테스트범프(123)는 모두 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 전기적으로 연결되지 않은 상태를 이루게 되고, 제1테스트라인(TL1)에 포함된 테스트저항(125)은 모두 직렬로 연결된 상태를 이루기 때문에, 제1테스트라인(TL1) 양 끝단에서 측정한 저항값은 다수의 테스트저항(125)의 저항값의 합이 된다.
이와 같이, 테스트라인(TL1, TL2)의 양 끝단의 저항값을 측정함으로써, 기판(101)의 본딩부(120)와 구동소자(200) 사이에 배치된 도전필름(140)의 미스얼라인 발생 유무를 확인할 수 있다.
즉, 테스트라인(TL1, TL2) 양 끝단의 저항값이 0 이상으로 측정되면 도전필름(140)의 미스얼라인으로 판단할 수 있다.
도 10은 도전필름의 미스얼라인의 다른 예를 도시한 도면이다.
먼저, 구동소자(200)에 두 개의 테스트라인(TL1, TL2)이 배치되는 경우를 일 예로 설명하겠다.
도면에 도시한 바와 같이, 기판(101)의 본딩부(120)와 구동소자(200) 사이에 배치된 도전필름(140)의 미스얼라인으로 인해, 도전필름(140)은 제1 및 제2테스트라인(TL1, TL2) 중 구동소자(200) 끝단에 배치된 제2테스트라인(TL2)과, 제1테스트라인(TL1) 일부에만 위치하게 된다.
이 때, 기판(101)의 본딩부(120)와 구동소자(200) 사이에 도전볼(142)을 포함하는 도전필름(140)를 개재한 상태에서, 구동소자(200)를 기판(101)에 압착하면, 도전필름(140)이 위치한 제2테스트라인(TL2)과 제1테스트라인(TL1) 일부를 이루는 다수의 테스트범프(123)에만 압흔(132)이 형성된다.
이에 따라, 구동소자(200)의 제2테스트라인(TL2)에 포함된 다수의 테스트범프(123)는 도전필름(140)에 의해 모두 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 전기적으로 연결된 상태를 이루게 되고, 제2테스트라인(TL2)에 포함된 테스트저항(125)에 의해 연결되는 각 테스트범프(123)는 모두 전기적으로 쇼트(short)된 상태를 이루기 때문에, 제2테스트라인(TL2) 양 끝단에서 측정한 저항값은 0이 된다.
또한, 구동소자(200)의 제1테스트라인(TL2)에 포함된 다수의 테스트범프(123) 중 압흔(132)이 형성된 테스트범프(123)는 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 전기적으로 연결된 상태를 이루지만, 압흔(132)이 형성되지 않은 테스트범프(123)는 본딩부(120)의 테스트패드(TPD)와 전기적으로 연결되지 않은 상태를 이루게 된다.
이 때, 압흔(132)이 형성된 테스트범프(123)와 그 사이에 배치된 테스트저항(125)은 모두 전기적으로 쇼트(short)된 상태를 이루게 되고, 압흔(132)이 형성되지 않은 테스트범프(123)와 그 사이에 배치된 테스트저항(125)은 모두 직렬로 연결된 상태를 이루게 되기 때문에, 제1테스트라인(TL1) 양 끝단에서 측정한 저항값은 압흔(132)이 형성되지 않은 테스트범프(123) 사이에 배치된 다수의 테스트저항(125)의 저항값의 합이 된다.
이와 같이, 테스트라인(TL1, TL2)의 양 끝단의 저항값을 측정함으로써, 기판(101)의 본딩부(120)와 구동소자(200) 사이에 배치된 도전필름(140)의 미스얼라인 발생 유무를 확인할 수 있다.
즉, 테스트라인(TL1, TL2) 양 끝단의 저항값이 0 이상으로 측정되면 도전필름(140)의 미스얼라인으로 판단할 수 있다.
전술한 바와 같이, 육안으로 기판(101) 하부에 형성된 압흔(132)을 검사하여 도전필름의 미스얼라인 발생 유무를 확인하는 종래의 방식과 달리, 본 발명은 저항 측정 방식으로 도전필름의 미스얼라인 발생 유무를 확인할 수 있어 그 객관성을 담보할 수 있고, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
한편, 구동소자(20)는 데이터라인(DL)을 구동하기 위한 데이터 구동소자일 수도 있고, 게이트라인(GL)을 구동하기 위한 게이트 구동소자일 수도 있으며, 데이터라인(DL)과 게이트라인(GL)을 통합적으로 구동하기 위한 통합 구동소자일 수도 있다.
또한, 연성회로기판(210)은 인쇄회로기판(300)과 기판(101)을 연결시키는 기능을 수행하며, 인쇄회로기판(300)은, 구동소자(200)로 전기신호를 인가시키는 구성요소이다.
본 발명은 전술한 실시예에 한정되지 아니하며, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 이상 다양한 변화와 변형이 가능하다.
121 : 범프
123 : 테스트범프
125 : 테스트저항
PD : 패드
TPD : 테스트패드

Claims (11)

  1. 표시영역 및 상기 표시영역 외측의 비표시영역을 포함하는 기판;
    상기 기판 상의 상기 비표시영역에 배치되며, 다수의 패드와 테스트패드를 포함하는 본딩부; 및
    상기 본딩부와 전기적으로 결합되며, 다수의 범프와 다수의 테스트범프와 상기 다수의 테스트범프 사이 마다 배치되는 다수의 테스트저항을 포함하고, 상기 다수의 테스트범프와 상기 다수의 테스트저항은 직렬로 연결되는 구동소자
    를 포함하고,
    상기 다수의 패드는,
    상기 기판 상의 상기 비표시영역에 배치되는 연결라인;
    상기 연결라인 상부에 배치되며 상기 연결라인을 노출하는 콘택홀을 구비하는 절연막; 및
    상기 절연막 상부에 배치되며 상기 콘택홀을 통해 상기 연결라인과 연결되는 연결전극을 포함하고,
    상기 테스트패드는 상기 절연막 상부에 배치되는 도전패턴을 포함하고,
    상기 도전패턴 아래의 상기 절연막 부분에는 해당 콘택홀이 구비되지 않고 상기 도전패턴 아래에는 해당 연결라인이 배치되지 않아, 상기 도전패턴은 전기적으로 플로팅 상태를 갖는
    표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    직렬로 연결된 상기 다수의 테스트범프와 상기 다수의 테스트저항은 테스트라인을 이루며, 상기 테스트라인은 일 방향으로 나란히 적어도 2개 이상 배치되는 표시장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 테스트패드는 상기 테스트라인에 대응하여 연장되는 표시장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 다수의 범프는 상기 다수의 패드에 대응하여 위치하고, 상기 다수의 테스트범프는 상기 테스트패드에 대응하여 위치하는 표시장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 테스트라인은 상기 구동소자 끝단에 배치되는 표시장치.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 제 5 항에 있어서,
    도전볼을 포함하며, 상기 본딩부와 상기 구동소자 사이에 배치되는 도전필름을 더 포함하는 표시장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 도전볼에 의해, 상기 연결전극과 상기 다수의 범프가 전기적으로 연결되고, 상기 도전패턴과 상기 다수의 테스트범프가 전기적으로 연결되는 표시장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트패드는 일체형 구조를 갖고, 상기 다수의 테스트범프는 상기 테스트패드에 공통적으로 접속되는
    표시장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    서로 이웃한 상기 테스트범프는 상기 테스트패드를 통해 전기적으로 쇼트 상태를 이루는
    표시장치.
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