KR20170009212A - 영상표시패널 검사용 프로브 유닛 - Google Patents

Abstract

LED, LCD, OLED 등의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 영상표시패널 검사용 프로브 유닛에 관한 것으로, 기판, 상기 기판상에 탑재된 드라이브 IC, 상기 기판상에 마련되고, 상기 드라이브 IC의 출력부에 연결된 출력단, 상기 출력단에 연결된 RGB 단자, 상기 RGB 단자에 연속하여 마련된 출력단자, 상기 출력단자의 하부에 마련되며 상기 영상표시패널의 패턴의 개수와 대응하여 마련된 접촉단자를 포함하고, 상기 IC 출력부의 채널은 상기 RGB 단자의 채널의 1/N(N은 2 이상의 정수)배로 형성되는 구성을 마련하여, 프로브 유닛의 제작 비용을 절감할 수 있다.

Description

영상표시패널 검사용 프로브 유닛{Probe unit for image display pannel inspection}

본 발명은 영상표시패널 검사용 프로브 유닛에 관한 것으로, 특히 LED, LCD, OLED 등의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 영상표시패널 검사용 프로브 유닛에 관한 것이다.

일반적으로 액정 디스플레이 패널(liquid crystal display panel; LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel; PDP), 능동형 유기발광다이오드 디스플레이 패널(active matrix organic light emitting diode display panel; AMOLED) 등의 디스플레이 패널은 무기물질 또는 유기물질을 포함한 화소를 구성하고, 각각의 화소에 영상신호를 선택적으로 인가하여 영상을 표현하는 출력장치이다. 디스플레이 패널에 전달되는 영상신호를 각각의 화소에 전달하기 위해서 드라이버 IC가 패널의 측면에 설치되며, 드라이버 IC와 패널 사이에는 전기적 신호를 전달하기 위한 단자가 설치되어 영상신호를 전달한다.

완성된 디스플레이 패널은 조립 과정에 공급되기 전에 영상신호의 전달이 정상적으로 이루어지는 지를 확인하기 위하여 검사과정을 거치며, 이를 위해 패널의 영상신호 전달 단자에 접촉하는 프로브 유닛을 통해 가상의 영상신호를 패널의 신호입력단자에 인가한다.

예를 들어 액정표시패널의 제조 공정에서는 각 단계에서 제품의 불량 여부를 검출하기 위해 어레이 테스트(array test), 비쥬얼 인스펙션(visual inspection, VI), 그로스 테스트(gross test,G/T), 파이널 테스트(final test) 등을 실행한다.

상기 비쥬얼 인스펙션은 액정표시패널의 완성 후 게이트 라인과 데이터 라인 등의 신호선을 연결하고 있는 쇼팅 바(shorting bar)를 통해 검사신호를 인가하여 라인의 불량을 검출하는 테스트로서, 검사신호 인가는 쇼팅 바에 연결되어 있는 검사신호 금속 패드를 통해 이루어진다.

또 그로스 테스트는 쇼팅 바가 제거된 후의 불량 여부 검사방법으로서 기판에 형성된 게이트 라인 및 데이터 라인 각각과 연결된 금속 패드들과 검사를 위한 프로브의 접속 핀들을 각각 접속하고 프로브에 테스트 구동신호를 공급하여 액정표시패널의 신호라인들의 불량 또는 화소의 불량을 테스트하는 것이다. 이와 같은 그로스 테스트를 통해 액정표시패널을 검사하기 위한 일반적인 프로브 조립체는 어셈블리 블록, 어셈블리 블록의 저면에 체결 고정되는 기판 홀더, 기판 홀더의 저면에 체결되는 니들 홀더, 니들 홀더의 저면에 부착되며, 상부면에는 드라이브 IC가 부착되고, 패턴이 형성되는 TCP 필름, 니들 홀더의 일끝단 저면에 부착되는 프로브 블록으로 이루어진다.

이러한 기술의 일 예가 하기 문헌 1 및 2 등에 개시되어 있다.

예를 들어, 하기 특허문헌 1에는 도 1에 도시된 바와 같이,

종래기술에 따른 는 도 1에 도시된 바와 같이, COF 패키지의 출력단(115)에 금속 단자인 프로브를 형성시키고, COF 패키지가 베이스 필름(111), 베이스 필름(111)의 일 측면에 구리층 상면에 주석층이 도금된 입력 패드가 배열되는 입력단(113), 각각의 입력 패드와 구리 패턴(114)으로 연결되고, 구리층 상면에 주석층이 도금된 출력 패드를 구비하는 출력단(115) 및 입력단(113)과 출력단(115) 사이에 실장되는 드라이브 IC(117)로 이루어지고, 베이스 필름(111)이 폴리이미드 필름(Polyimide Film) 또는 도전성 이방 필름(Anisotropic Conductive Film)의 재질이고, 양 측면에는 제조시 이동 및 권취를 위하여 홀(111a)이 형성되며, 입력단(113)이 LCD 장비의 프로브 유닛에 형성된 패턴과 1:1 대응하는 형태로 베이스 필름(111)의 일 측면 일단에 형성되고, 출력단(115)은 LCD에 형성된 패턴과 1:1 대응되는 형태로 베이스 필름(111)의 일 측면 타단에 형성된 필름 타입 프로브 컨택터(100)에 대해 개시되어 있다.

또 하기 특허문헌 2에는 베이스 블록, 상기 베이스 블록의 일면에 구비되고, 배선 패턴이 형성되는 연성 컨택 필름 어셈블리 및 상기 연성 컨택 필름 어셈블리에 형성되는 배선 패턴의 일단부에 접합되는 범프가 형성된 범프 구비 회로기판 어셈블리를 포함하고, 상기 연성 컨택 필름 어셈블리는 연성을 갖는 절연층, 상기 절연층의 일면에 형성되는 배선 패턴 및 상기 배선 패턴을 포함하는 절연층 상에 형성되고, 상기 범프가 접합되는 상기 배선 패턴의 범프 연결부가 노출되도록 범프 연결용 구멍을 갖는 배리어 부재(barrier member)를 포함하는 프로브 유닛에 대해 개시되어 있다.

대한민국 등록특허공보 제10-0974535호(2010.08.02 등록) 대한민국 공개특허공보 제2013-0004754호(2013.01.14 공개)

그러나 상술한 바와 같은 종래의 기술에서는 도 2에 도시된 바와 같이, 드라이버 IC(20)의 출력단(11)의 개수와 LCD 패널(50)의 패턴(51) 수가 동일하게 마련되므로, 출력 채널 수에 대응하여 드라이버 IC(20)의 구조를 변경해야 한다는 문제가 있었다.

즉 종래의 기술에서는 테스트 대상인 LCD 패널(50)에 각각 대응하는 드라이버 IC(20)를 마련해야 하므로, 프로브 유닛의 제작 비용이 증가한다는 문제도 발생하였다.

또 도 2에 도시된 바와 같은 드라이버 IC(20)의 출력단(11)의 개수와 LCD 패널(50)의 패턴(51) 수가 동일하게 마련되므로, 테스트 시간이 길어진다는 문제도 있었다.

본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것으로서, 드라이버 IC의 출력단의 개수와 LCD 패널 패턴 수를 상이하게 마련하여 LCD 패널 패턴과 관계없이 사용할 수 있는 영상표시패널 검사용 프로브 유닛을 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 프로브 유닛의 제작 비용을 절감하면서 테스트 시간을 단축할 수 있는 영상표시패널 검사용 프로브 유닛을 제공하는 것이다.

상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 프로브 유닛은 영상표시패널의 불량 여부를 검사하는 프로브 유닛으로서, 기판, 상기 기판상에 탑재된 드라이브 IC, 상기 기판상에 마련되고, 상기 드라이브 IC의 출력부에 연결된 출력단, 상기 출력단에 연결된 RGB 단자, 상기 RGB 단자에 연속하여 마련된 출력단자, 상기 출력단자의 하부에 마련되며 상기 영상표시패널의 패턴의 개수와 대응하여 마련된 접촉단자를 포함하고, 상기 IC 출력부의 채널은 상기 RGB 단자의 채널의 1/N(N은 2 이상의 정수)배로 형성되는 것을 특징으로 한다.

또 본 발명에 따른 프로브 유닛에서, 상기 RGB 단자는 R 단자, G 단자, B 단자로 이루어지고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자는 상기 하나의 출력단에 병렬로 연결된 것을 특징으로 한다.

또 본 발명에 따른 프로브 유닛에서, 상기 기판은 베이스 필름으로 형성되고, 상기 RGB 단자는 상기 베이스 필름상에 마련된 것을 특징으로 한다.

또 본 발명에 따른 프로브 유닛에서, 상기 출력단과 상기 RGB 단자의 선 폭은 서로 상이하고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자의 선 폭 및 길이는 동일한 것을 특징으로 한다.

또 본 발명에 따른 프로브 유닛에서, 상기 출력단과 상기 RGB 단자에 흐르는 전류는 서로 상이하고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자에 흐르는 전류는 동일한 것을 특징으로 한다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 영상표시패널 검사용 프로브 유닛에 의하면, 드라이버 IC의 출력단의 개수와 LCD 패널 패턴 수를 상이하게 마련하여 LCD 패널 패턴과 관계없이 적용할 수 있으므로, 프로브 유닛의 제작 비용을 절감할 수 있다는 효과가 얻어진다.

본 발명에 따른 영상표시패널 검사용 프로브 유닛에 의하면, 드라이버 IC 출력부 개수를 RGB 단자의 1/N(N은 2 이상의 정수)로 감소시켜 테스트의 시간단축 및 효율화를 개선할 수 있다는 효과도 얻어진다.

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 컨택터의 구성을 나타낸 사시도,
도 2는 종래의 드라이브 IC의 출력단과 LCD 패널의 패턴의 대응 관계를0 설명하기 위한 도면,
도 3은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 구성도,
도 4는 도 3에 도시된 프로브 유닛에서의 드라이브 IC의 출력단과 LCD 패널의 패턴의 대응 관계의 일 예를 설명하기 위한 도면,
도 5는 도 3에 도시된 프로브 유닛에서의 드라이브 IC의 출력단과 LCD 패널의 패턴의 대응 관계의 다른 예를 설명하기 위한 도면.

본 발명의 상기 및 그 밖의 목적과 새로운 특징은 본 명세서의 기술 및 첨부 도면에 의해 더욱 명확하게 될 것이다.

이하, 본 발명의 구성을 도면에 따라서 설명한다.

도 3은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 구성도이고, 도 4는 도 3에 도시된 프로브 유닛에서의 드라이브 IC의 출력단과 LCD 패널의 패턴의 대응 관계의 일 예를 설명하기 위한 도면이고, 도 5는 도 3에 도시된 프로브 유닛에서의 드라이브 IC의 출력단과 LCD 패널의 패턴의 대응 관계의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 프로브 유닛은 영상표시패널의 불량 여부를 검사하는 프로브 유닛으로서, 기판(10), 상기 기판(10)상에 탑재된 드라이브 IC(20), 출력단자(13) 상에 마련된 컨택 조립부(30), LCD 패널(50)의 패턴(51)과 접촉하는 접촉단자(14)를 통해 LCD 패널의 불량 여부를 판단하는 테스터부(40)을 포함한다.

본 발명에 따른 프로브 유닛에서 기판(10)에는 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 기판(10)상에 마련되고, 상기 드라이브 IC(20)의 출력부에 연결된 출력단(11), 상기 출력단(11)에 연결된 RGB 단자(12), 상기 RGB 단자에 연속하여 마련된 출력단자(13)가 형성되고, 상기 접촉단자(14)는 상기 출력단자(13)의 하부에 마련되며 상기 영상표시패널인 LCD 패널(50)의 패턴(51)의 개수와 대응하여 마련되며, 상기 IC 출력부의 채널인 출력단(11)은 상기 RGB 단자(12)의 채널의 1/N(N은 2 이상의 정수)배로 형성된다.

상기 RGB 단자(12)는 도 4에 도시된 바와 같이, LCD 패널(50)의 게이트 라인 및 데이터 라인 각각에 대응하는 R(Red) 단자, G(Green) 단자, B(Blue) 단자로 이루어지고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자는 상기 하나의 출력단(11)에 병렬로 연결된다.

또 본 발명에 따른 상기 기판(10)은 예를 들어 TCP(Tape Carrier Package) 패키지 또는 COF(Chip on flex 또는 Chip on Film) 패키지에 적용되는 베이스 필름으로 형성될 수 있고, 상기 RGB 단자(12)는 상기 베이스 필름상에서 3개의 채널씩 마련될 수 있다. 따라서 상기 RGB 단자(12)의 전체 개수는 LCD 패널(50)의 패턴(51)의 개수와 동일하게 마련된 출력단자(13)와 동일하게 마련된다.

도 4의 설명에서는 드라이버 IC(20)의 출력부 개수가 RGB 단자의 1/3로 감소된 구조를 나타내었지만, 이에 한정되는 것은 아니고, 드라이버 IC(20)의 출력부 개수가 RGB 단자의 1/N(N은 2 이상의 정수)로 마련할 수 있다.

즉 도 4의 구조에서는 상기 기판(10)에 장착되는 드라이브 IC(20)의 출력부의 채널 수가, 예를 들어 드라이브 IC(20)의 채널이 400개인 경우, RGB 단자(12)가 1200개 마련되므로, 1200개의 LCD 패널(50)의 패턴(51)을 테스트할 수 있다.

한편, 도 5에 도시된 구조에서는 드라이버 IC(20)의 출력부 개수가 RGB 단자(12)의 1/5로 감소된 구조이다. 따라서, 도 5의 구조에서는 드라이브 IC(20)의 채널이 400개인 경우, RGB 단자(12)가 2000개 마련되므로, 2000개의 LCD 패널(50)의 패턴(51)을 테스트할 수 있다. 통상 960개의 채널 정도를 사용하므로, 드라이버 IC(20)의 출력부가 도 5에 도시된 바와 같이, 5개의 채널을 담당할 경우, 드라이브 IC(20)의 200개의 채널로 1000개의 채널을 담당할 수 있다.

상술한 바와 같이 LCD 패널(50)의 패턴(51) 개수와 관계없이 하나의 드라이브 IC(20)를 적용할 수 있으므로, 프로브 유닛의 제작 비용을 절감할 수 있다.

또 상기 실시 예의 설명에서는 RGB 단자(12)가 R 단자, G 단자, B 단자로 이루어진 구성에 대해 설명하였지만, 이에 한정되는 것은 아니고, RGB 단자가 각각 예를 들어 5개의 R 단자, 5개의 G 단자, 5개의 B 단자로만 이루어진 구성을 적용할 수도 있다.

또한, 본 발명에서는 드라이브 IC(20)의 출력단을 통해 예를 들어 1.5V, 3㎃가 흐르는 경우, 상기 R 단자, G 단자, B 단자에 각각 1㎃가 공급되도록 상기 출력단(11)과 상기 RGB 단자(12)의 선 폭은 서로 상이하고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자의 선 폭 및 길이는 동일하게 마련될 수 있다.

즉, 상기 출력단(11)과 상기 RGB 단자(12)에 흐르는 전류는 서로 상이하고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자에 흐르는 전류는 동일하게 마련하는 것에 의해 하나의 드라이브 IC(20)에 의해 다양한 LCD 패널(50)을 테스트할 수 있다.

또한, 도 4에 도시된 바와 같이, 드라이버 IC(20) 출력단(11)의 RGB 채널 수를 감소시켜 테스트를 위한 시간 단축 및 효율화를 개선할 수 있다.

이상 본 발명자에 의해서 이루어진 발명을 상기 실시 예에 따라 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시 예에 한정되는 것은 아니고 그 요지를 이탈하지 않는 범위에서 여러 가지로 변경 가능한 것은 물론이다.

본 발명에 따른 영상표시패널 검사용 프로브 유닛을 사용하는 것에 의해 드라이버 IC 출력부 개수를 RGB 단자의 대략 1/N(N은 2 이상의 정수)로 감소시켜 테스트의 시간단축 및 효율화를 개선할 수 있다.

10 : 기판
20 : 드라이버 IC
30 : 컨택 조립부
40 : 테스터부
50 : LCD 패널

Claims (5)

1. 영상표시패널의 불량 여부를 검사하는 프로브 유닛으로서,
   기판,
   상기 기판상에 탑재된 드라이브 IC,
   상기 기판상에 마련되고, 상기 드라이브 IC의 출력부에 연결된 출력단,
   상기 출력단에 연결된 RGB 단자,
   상기 RGB 단자에 연속하여 마련된 출력단자,
   상기 출력단자의 하부에 마련되며 상기 영상표시패널의 패턴의 개수와 대응하여 마련된 접촉단자를 포함하고,
   상기 IC 출력부의 채널은 상기 RGB 단자의 채널의 1/N(N은 2 이상의 정수)배로 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
2. 제1항에서,
   상기 RGB 단자는 R 단자, G 단자, B 단자로 이루어지고,
   상기 R 단자, G 단자, B 단자는 상기 하나의 출력단에 병렬로 연결된 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
3. 제2항에서,
   상기 기판은 베이스 필름으로 형성되고, 상기 RGB 단자는 상기 베이스 필름상에 마련된 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
4. 제2항에서,
   상기 출력단과 상기 RGB 단자의 선 폭은 서로 상이하고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자의 선 폭 및 길이는 동일한 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
5. 제2항에서,
   상기 출력단과 상기 RGB 단자에 흐르는 전류는 서로 상이하고, 상기 R 단자, G 단자, B 단자에 흐르는 전류는 동일한 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
   

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