KR100884475B1 - 디스플레이 패널 검사장치 - Google Patents

디스플레이 패널 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100884475B1
KR100884475B1 KR1020070101903A KR20070101903A KR100884475B1 KR 100884475 B1 KR100884475 B1 KR 100884475B1 KR 1020070101903 A KR1020070101903 A KR 1020070101903A KR 20070101903 A KR20070101903 A KR 20070101903A KR 100884475 B1 KR100884475 B1 KR 100884475B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe
contact
blades
blade
display panel
Prior art date
Application number
KR1020070101903A
Other languages
English (en)
Inventor
유명자
Original Assignee
유명자
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 유명자 filed Critical 유명자
Priority to KR1020070101903A priority Critical patent/KR100884475B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100884475B1 publication Critical patent/KR100884475B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명은 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것으로, 디스플레이 패널에 접촉하는 다수개의 탐침블레이드, 탐침블레이드들을 지지하는 프로브블록, 탐침블레이드들의 후단에 접촉하는 복수개의 접촉바, 상기 각각의 접촉바들에 일대일 대응되게 연결되는 입력신호 단자부, 입력신호 단자부로 검사신호를 인가하는 연결배선부를 포함하는 구성에 의해, 탐침블레이드가 접촉되는 부분을 최소의 겹으로 구성하여 생산성을 높이고 제조단가를 낮출 수 있고, 탐침블레이드가 디스플레이 패널에 접촉할 때 탐침블레이드의 후단부가 들뜨지 않게 할 뿐만 아니라 오히려 후단부의 접촉성을 높일 수 있으며, 후방핀에 휨이 발생되는 것을 방지할 수 있게 된다.
프로브, 디스플레이, 통전시험, 탐침블레이드, 탐침핀

Description

디스플레이 패널 검사장치{A device for testing for display panel}
본 발명은 디스플레이 패널의 통전시험에 사용되는 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것으로, 특히 탐침블레이드를 디스플레이 패널에 접촉시켜 디스플레이 패널을 검사하는 장치에 관한 것이다.
일반적으로, LCD를 비롯한 디스플레이 패널의 제조공정에서 패널의 불량 여부를 검사하기 위해 다양한 검사공정이 이루어지고 있고, 각 검사공정을 위한 다양한 장비들이 개발되어 있다.
종래, 평판형 디스플레이 패널의 통전시험에 사용되는 현재까지 알려진 프로브장치로서는 한국 특허공개 제2000-74037호 및 일본 공개특허 제2004-191064호로 개시되어 알려져 있다.
한편, 종래 본 출원인이 출원한 특허출원 제2007-16555호에 개시된 「디스플레레이 패널 검사방법 및 장치」를 보면, 적색, 녹색, 청색 신호선을 적색, 녹색, 청색 쇼팅배선에 서로 간섭없이 연결하기 위해 신호선별로 다른 층의 필름을 구비하고 있다. 이와 같이 다수겹의 필름을 구비하게 되면 제조가 어려울 뿐만 아니라 제조단가가 상승하는 주 원인이 되었다.
그리고, 본 출원인이 출원한 특허출원 제2006-09436호에 개시된 「프로브장치」를 보면, 탐침블레이드의 후방 탐침부를 프로브블록이 눌러 지지하게 되는데 프로브블록의 접촉에 의해 탐침블레이드에 휨이 발생하게 되는데, 이는 디스플레이 패널에 접촉시 탐침블레이드가 위치를 이탈하거나 옆으로 눕는 현상을 발생시킬 수 있는 문제점이 있었다.
또한, 종래에는 탐침블레이드의 전방 탐침부와 후방 탐침부가 서로 반대방향으로 돌출되어 형성됨으로써, 전방 탐침부가 디스플레이 패널에 접촉시 후방 탐침부가 쇼팅회로기판으로부터 이격되는 현상이 발생하게 되어 접촉성이 낮아지게 된다. 이와는 반대로 후방 탐침부의 접촉성을 높이게 되면 전방 탐침부가 디스플레이 패널로부터 들뜨게 된다. 이를 해소하기 위해 가이드 봉을 끼우게 되는데 가이드 봉의 오차에 따라 들림 현상은 여전히 발생할 수 있는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기한 바와 같은 종래 디스플레이 패널 검사장치가 가지는 문제점들을 개선하기 위해 창출된 것으로, 탐침블레이드가 접촉되는 부분을 최소의 겹으로 구성할 수 있어 생산성을 높이고 제조단가를 낮출 수 있는 디스플레이 패널 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 탐침블레이드가 디스플레이 패널에 접촉할 때 탐침블레이드의 후단부가 들뜨지 않게 할 뿐만 아니라 오히려 후단부의 접촉성을 높일 수 있는 디스플레이 패널 검사장치를 제공함에 다른 목적이 있다.
그리고, 본 발명은 탐침블레이드의 후단부에 휨이 발생되는 것을 방지하고 그로 인해 탐침블레이드의 후단부가 위치를 이탈하지 않도록 하는 디스플레이 패널 검사장치를 제공함에 또 다른 목적이 있다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 디스플레이 패널 검사장치는, 디스플레이 패널에 다수개의 탐침블레이드들을 접촉시키고, 탐침블레이드들의 후단에 연결배선부와 연결되는 쇼팅회로기판을 접촉시켜 디스플레이 패널의 불량여부를 검사하는 디스플레이 패널 검사장치로서, 상기 쇼팅회로기판은 탐침블레이드의 후단이 접촉하는 접촉바를 탐침블레이드로부터 멀어지는 방향을 따라 소정간격을 두고 복수개 구비하고, 상기 복수개의 접촉바 중에서 동일한 접촉바에 접촉하는 탐침블레이드들은 후단이 서로 동일한 길이로 연장되어 형성되고, 서로 다른 접촉바에 접촉하는 탐침블레이드들의 후단은 서로 다른 길이로 연장되어 형성된 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 쇼팅회로기판은 상기 연결배선부와 접촉바를 전기적으로 연결시키고, 상기 각각의 접촉바들에 일대일 대응되게 연결되는 입력신호 단자부;를 포함한다.
더욱 바람직하게는, 상기 탐침블레이드는 디스플레이 패널에 접촉하는 전방핀과 상기 접촉바에 접촉하는 후방핀을 동일한 방향으로 돌출되게 구비한다.
상기 탐침블레이드는 블레이드몸체를 구비하고, 블레이드몸체의 후방으로 상부아암이 연장되어 형성되며, 상기 상부아암의 선단에 연속하여 절곡형 하부아암이 블레이드몸체 쪽으로 연장되어 형성되고, 절곡형 하부아암의 선단에 후방핀이 형성될 수 있다.
바람직하게는, 상기 탐침블레이드는 서로 다른 접촉바에 각각 접촉하도록 복수개가 구비되되, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 상부아암의 길이가 서로 다르게 형성되고, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 절곡형 하부아암의 길이가 서로 동일하게 형성된다.
상기 탐침블레이드는 블레이드몸체를 구비하고, 블레이드몸체의 후방으로 상부아암이 연장되어 형성되며, 상부아암의 일측에 개방형 하부아암이 블레이드몸체에서 멀어지는 쪽으로 연장되어 형성되고, 개방형 하부아암의 선단에 후방핀이 형성될 수 있다.
바람직하게는, 상기 탐침블레이드는 서로 다른 접촉바에 각각 접촉하도록 복 수개가 구비되되, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 상부아암의 길이가 서로 다르게 형성되고, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 개방형 하부아암의 길이가 서로 동일하게 형성된다.
더욱 바람직하게는, 상기 개방형 하부아암을 구비한 탐침블레이드는 절곡형 하부아암을 구비한 탐침블레이드 보다 블레이드몸체로부터 더 먼 접촉바에 접촉하도록 배치된다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치에 의하면, 다수개의 탐침블레이들이 접촉하는 접촉바를 복수개 구비하여 탐침블레이드를 접촉바에 직접 접촉시킴으로써 다수개의 탐침블레이드가 접촉되는 부분을 최소의 겹으로 구성할 수 있어 생산성을 높이고 제조단가를 낮출 수 있는 효과가 있다.
또한, 탐침블레이드의 전방핀과 후방핀을 동일한 방향으로 돌출시켜 형성함으로써 탐침블레이드가 디스플레이 패널에 접촉할 때 탐침블레이드의 후단부가 들뜨지 않게 할 뿐만 아니라 오히려 후단부의 접촉성을 높일 수 있는 효과가 있다.
그리고, 탐침블레이드의 후단부가 절곡되어 탄성적으로 변형되게 함으로써 후방핀에 휨이 발생되는 것을 방지할 수 있고 그로 인해 탐침블레이드의 후단부가 위치를 이탈하지 않도록 하는 효과가 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 1 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치는, 디스플레이 패널에 접촉하는 다수개의 탐침블레이드(10)(20), 탐침블레이드(10)(20)들을 지지하는 프로브블록(60), 탐침블레이드(10)(20)들의 후단에 접촉하는 복수개의 접촉바(31), 상기 각각의 접촉바(31)들에 일대일 대응되게 연결되는 입력신호 단자부(40), 입력신호 단자부(40)로 검사신호를 인가하는 연결배선부(50)를 포함한다.
탐침블레이드(10)(20)는 블레이드몸체(11)(21)를 구비하고, 블레이드몸체(11)(21)의 양쪽으로 전방아암(12)(22)과 후방아암(14)(24)이 형성되어 있다. 전방아암(12)(22)의 선단에는 디스플레이 패널에 접촉하는 전방핀(13)(23)이 형성되고, 후방아암(14)(24)의 선단에는 접촉바(31)에 접촉하는 후방핀(15)(25)이 형성되어 있다.
상기 전방핀(13)(23)과 후방핀(15)(25)은 동일한 방향으로 돌출되어 형성된다. 즉, 도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 전방핀(13)(23)이 디스플레이 패널의 상부면에 접촉될 때 후방핀(15)(25)이 접촉바(31)의 상부면에 접촉할 수 있도록 전방아암(12)(22)과 후방아암(14)(24)의 각 선단에서 아래쪽으로 돌출되어 있다. 따라서, 프로브블록(60)이 탐침블레이드(10)(20)를 디스플레이 패널 쪽으로 누르게 되면 전방핀(13)(23)이 디스플레이 패널을 누름과 동시에 후방핀(15)(25)이 접촉바(31)를 누르게 된다. 이에 따라 디스플레이 패널과 접촉바(31)에 대한 탐침블레이드(10)(20)의 접촉성을 동시에 높일 수 있게 된다.
상기 탐침블레이드(10)(20)의 후방아암(14)(24)은 상부아암(14a)(24a)과 하 부아암(14b)(24b)으로 이루어진다. 하부아암(14b)(24b)은 상부아암(14a)(24a)의 일측에 연장되어 형성되고, 하부아암(14b)(24b)의 선단에 후방핀(15)(25)이 형성되어 있다.
한편, 탐침블레이드(10)(20)는 하부아암(14b)(24b)의 형상에 따라 2종류로 구분된다. 즉, 절곡형 하부아암(14b)을 구비한 절곡형 탐침블레이드(10)와 개방형 하부아암(24b)을 구비한 개방형 탐침블레이드(20)가 1조를 이루며 구비된다.
1조를 이루는 탐침블레이드(10)(20)의 갯수와 접촉바(31)의 갯수는 동일하다. 복수개의 절곡형 탐침블레이드(10)와 복수개의 개방형 탐침블레이드(20)의 합이 접촉바(31)의 갯수와 동일하다. 따라서, 하나의 탐침블레이드는 하나의 접촉바(31)에 각각 대응되게 접촉하되 서로 다른 접촉바(31)에 접촉된다. 복수조의 탐침블레이드(10)(20)가 구비되는 경우 하나의 접촉바(31)에는 다수개의 탐침블레이드(10)(20)가 접촉된다.
본 실시예에서 탐침블레이드(10)(20)의 갯수는 7개이며, 그 중 절곡형 탐침블레이드(10)가 4개이고 개방형 탐침블레이드(20)가 3개이다.
절곡형 하부아암(14b)과 개방형 하부아암(24b)은 각각의 상부아암(14a)(24a)에 대하여 각각 탄성적으로 변형된다. 즉, 도 6과 도 7에 도시된 바와 같이, 탐침블레이드(10)(20)의 전방핀(13)(23)이 디스플레이 패널의 상부면에 접촉할 때 후방핀(15)(25)은 접촉바(31)에 접촉하고, 이때 절곡형 하부아암(14b)와 개방형 하부아암(24b)은 상부아암(14a)(24a) 쪽으로 각각 탄성적으로 변형된다. 따라서, 상부아암(14a)(24a)과 후방핀(15)(25)이 휘거나 좌굴되는 것을 방지할 수 있게 된다.
절곡형 탐침블레이드(10)는 상부아암(14a)의 선단에서 절곡형 하부아암(14b)이 블레이드몸체(11) 쪽으로 연장되어 형성되어 있다. 절곡형 하부아암(14b)은 상부아암(14a)과 대략 'U'자 형상을 이루며 절곡되어 형성되고 선단에 후방핀(15)이 형성된다.
여기서, 블레이드몸체(11)로부터 보다 먼 곳의 접촉바(31)에 접촉하는 탐침블레이드(10)는 후방핀(15)의 위치를 접촉바(31)에 접촉시키기 위해 절곡형 하부아암(14b)의 길이가 더 연장되어 형성된다. 즉, 블레이드몸체(11)로부터 보다 가까운 접촉바(31)에 접촉하는 탐침블레이드(10)는 보다 먼 곳의 접촉바(31)에 접촉하는 탐침블레이드(10) 보다 상부아암(14a)의 길이가 더 짧게 형성된다. 이와 같이 상부아암(14a)의 길이를 달리함으로써 후방핀(15)의 위치를 변경시키게 되고, 하부아암(14b)의 길이는 동일하게 형성된다. 탐침블레이드(10)들의 상부아암(14a)의 길이가 서로 다르더라도 하부아암(14b)의 길이가 서로 동일하게 되면 하부아암(14b)에 걸리는 탄성력이 동일하게 되므로 후방핀(15)들이 각각의 접촉바(31)에 접촉하는 힘을 동일하게 할 수 있게 된다.
한편, 절곡형 하부아암(14b)이 상부아암(14a)의 선단으로부터 블레이드몸체(11) 쪽으로 연장되므로 상부아암(14a)의 선단이 후방핀(15) 보다 블레이드몸체(11)의 외측으로 더 돌출되어 형성된다. 그로 인해 후방핀(15)의 위치에 따라 상부아암(14a)의 길이를 연장시키게 되면 외팔보 형상의 상부아암(14a)에 모멘트가 너무 크게 걸려 변형될 수 있게 되고, 또한 돌출되는 상부아암(14a)의 선단이 프로브블록(60)이나 다른 부품과 간섭을 일으킬 수 있게 된다. 따라서, 개방형 탐침블 레이드(20)를 구비하여 절곡형 탐침블레이드(10)가 접촉하는 접촉바(31) 보다 더 먼 곳의 접촉바(31)에 개방형 탐침블레이드(20)를 접촉시키게 된다.
상기 개방형 탐침블레이드(20)는 상부아암(24a)의 일측에 개방형 하부아암(24b)이 블레이드몸체(21)에서 멀어지는 쪽으로 연장되어 형성되고, 개방형 하부아암(24b)의 선단에 후방핀(25)이 형성되어 있다. 개방형 하부아암(24b)은 상부아암(24a)과 동일한 방향으로 형성되고, 절곡형 탐침블레이드(10)와는 달리 후방핀(25) 보다 상부아암(24a)의 선단이 돌출되어 형성되지 않는다.
개방형 탐침블레이드(20)들은 후방핀(25)의 위치에 따라 상부아암(24a)의 길이는 서로 달라지게 되나 개방형 하부아암(24b)들의 길이는 동일하게 형성되어, 개방형 탐침블레이드(20)들 상호간에는 접촉바(31)에 대한 후방핀(25)의 접촉력을 동일하게 할 수 있게 된다.
상기 접촉바(31)는 탐침블레이드(10)(20)의 후방핀(15)(25)과 접촉하고 입력신호 단자부(40)를 통해 연결배선부(50)로부터 전기신호를 탐침블레이드(10)(20)로 인가한다.
상기 접촉바(31)와 입력신호 단자부(40)는 쇼팅회로기판(30)에 형성된다.
도 7과 도 8에 도시된 바와 같이, 쇼팅회로기판(30)의 상부면에는 접촉바(31)들이 탐침블레이드(10)(20)로부터 멀어지는 쪽으로 소정간격을 두고 복수개 구비된다.
각각의 접촉바(31)는 탐침블레이드(10)(20)들을 가로지르는 방향으로 형성되어 다수개의 탐침블레이드(10)(20)들이 하나의 접촉바(31)에 접촉된다.
이와 같이 접촉바(31)에 탐침블레이드(10)(20)의 후방핀(15)(25)들을 직접 접촉시킴으로써 복수개의 접촉바(31)들을 하나의 평면(쇼팅회로기판의 상부면) 상에 간섭없이 형성할 수 있게 되는 것이다. 즉, 종래에 적색, 녹색, 청색 신호선을 적색, 녹색, 청색 쇼팅배선에 서로 간섭없이 연결하기 위해 신호선별로 다른 층의 필름을 구비해야 하는 문제점을 해소할 수 있게 되는 것이다.
쇼팅회로기판(30)의 저면에는 입력신호 단자부(40)가 형성되고, 관통홀(32)을 통해 접촉바(31)들과 입력신호 단자부(40)가 전기적으로 연결된다. 이와 같이 관통홀(32)을 통해 접촉바(31)와 입력신호 단자부(40)가 통전됨으로써 쇼팅회로기판(30) 상의 다른 배선(35)들과 간섭을 일으키지 않게 된다.
입력신호 단자부(40)는 각각의 접촉바(31)들에 일대일 대응되게 연결된다.
본 실시예에서 접촉바(31)는 6개가 구비되고, 탐침블레이드(10)(20)(20')는 7개가 구비된다. 6개의 탐침블레이드(10)(20)는 6개의 접촉바(31)에 각각 일대일 대응되게 접촉되고, 나머지 하나의 개방형 탐침블레이드(20')는 쇼팅회로기판(30)의 상부면에 직접 접촉된다. 쇼팅회로기판(30) 상에는 외부전원이 인가되어 쇼팅회로기판(30)에 접촉된 개방형 탐침블레이드(20)로 전원을 인가하게 된다.
도 1과 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치를 나타낸 사시도,
도 3은 도 1의 개략적 단면도,
도 4와 도 5는 도 2에 도시된 탐침블레이드를 나타낸 도,
도 6은 도 3의 "A"부분 확대도,
도 7은 도 6에 도시된 탐침블레이드의 접촉상태를 나타낸 사시도,
도 8은 도 7에 도시된 쇼팅회로기판을 나타낸 평면도이다.
※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ※
10 : 절곡형 탐침블레이드 20 : 개방형 탐침블레이드
11, 21 : 블레이드몸체 12,22 : 전방아암
13,23 : 전방핀 14,24 : 후방아암
14a,24a : 상부아암 14b : 절곡형 하부아암
15,25 : 후방핀 24b : 개방형 하부아암
30 : 쇼팅회로기판 31 : 접촉바
32 : 관통홀 40 : 입력신호 단자부
50 : 연결배선부 60 : 프로브블록

Claims (8)

  1. 디스플레이 패널에 다수개의 탐침블레이드들을 접촉시키고, 연결배선부와 연결되는 쇼팅회로기판을 탐침블레이드들의 후단에 접촉시켜 디스플레이 패널의 불량여부를 검사하는 디스플레이 패널 검사장치에 있어서,
    상기 쇼팅회로기판은 탐침블레이드의 후단이 접촉하는 접촉바를 탐침블레이드로부터 멀어지는 방향을 따라 소정간격을 두고 복수개 구비하고,
    상기 복수개의 접촉바 중에서 동일한 접촉바에 접촉하는 탐침블레이드들은 후단이 서로 동일한 길이로 연장되어 형성되고, 서로 다른 접촉바에 접촉하는 탐침블레이드들의 후단은 서로 다른 길이로 연장되어 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 쇼팅회로기판은,
    상기 연결배선부와 접촉바를 전기적으로 연결시키고, 상기 각각의 접촉바들에 일대일 대응되게 연결되는 입력신호 단자부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 탐침블레이드는,
    디스플레이 패널에 접촉하는 전방핀과 상기 접촉바에 접촉하는 후방핀을 동일한 방향으로 돌출되게 구비한 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 탐침블레이드는,
    블레이드몸체를 구비하고, 블레이드몸체의 후방으로 상부아암이 연장되어 형성되며, 상기 상부아암의 선단에 연속하여 절곡형 하부아암이 블레이드몸체 쪽으로 연장되어 형성되고, 절곡형 하부아암의 선단에 후방핀이 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 탐침블레이드는 서로 다른 접촉바에 각각 접촉하도록 복수개가 구비되되, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 상부아암의 길이가 서로 다르게 형성되고, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 절곡형 하부아암의 길이가 서로 동일하게 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 탐침블레이드는,
    블레이드몸체를 구비하고, 블레이드몸체의 후방으로 상부아암이 연장되어 형성되며, 상부아암의 일측에 개방형 하부아암이 블레이드몸체에서 멀어지는 쪽으로 연장되어 형성되고, 개방형 하부아암의 선단에 후방핀이 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 탐침블레이드는 서로 다른 접촉바에 각각 접촉하도록 복수개가 구비되되, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 상부아암의 길이가 서로 다르게 형성되고, 각각의 탐침블레이드들은 다른 탐침블레이드들과 개방형 하부아암의 길이가 서로 동일하게 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 개방형 하부아암을 구비한 탐침블레이드는 절곡형 하부아암을 구비한 탐침블레이드 보다 블레이드몸체로부터 더 먼 접촉바에 접촉하도록 배치된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
KR1020070101903A 2007-10-10 2007-10-10 디스플레이 패널 검사장치 KR100884475B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070101903A KR100884475B1 (ko) 2007-10-10 2007-10-10 디스플레이 패널 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070101903A KR100884475B1 (ko) 2007-10-10 2007-10-10 디스플레이 패널 검사장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100884475B1 true KR100884475B1 (ko) 2009-02-20

Family

ID=40681831

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070101903A KR100884475B1 (ko) 2007-10-10 2007-10-10 디스플레이 패널 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100884475B1 (ko)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100991367B1 (ko) 2010-03-15 2010-11-02 (주)아테코 표시장치용 검사 모듈
KR101016389B1 (ko) * 2008-08-11 2011-02-21 티에스씨멤시스(주) 프로브 구조물
KR101400757B1 (ko) * 2012-07-19 2014-05-27 (주) 인텍플러스 디스플레이 패널 검사장치
KR101655262B1 (ko) * 2016-02-29 2016-09-08 주식회사 프로이천 니들 타입 핀 보드
KR101672826B1 (ko) * 2016-02-03 2016-11-07 주식회사 프로이천 니들 타입 핀 보드
KR102188173B1 (ko) * 2020-10-14 2020-12-08 주식회사 프로이천 디스플레이 패널 검사용 소켓장치의 프로브핀 고정구조
KR102188448B1 (ko) 2019-09-11 2020-12-08 (주)디이엔티 디스플레이 패널 테스트 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040071789A (ko) * 2003-02-07 2004-08-16 주식회사 파이컴 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법, 이에 따른프로브 및 이를 구비한 프로브 조립체
KR20050073511A (ko) * 2004-01-09 2005-07-14 니혼 덴시자이료 가부시키가이샤 프로브카드
KR20060029712A (ko) * 2004-08-04 2006-04-07 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브유니트
KR20060029713A (ko) * 2004-08-04 2006-04-07 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040071789A (ko) * 2003-02-07 2004-08-16 주식회사 파이컴 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법, 이에 따른프로브 및 이를 구비한 프로브 조립체
KR20050073511A (ko) * 2004-01-09 2005-07-14 니혼 덴시자이료 가부시키가이샤 프로브카드
KR20060029712A (ko) * 2004-08-04 2006-04-07 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브유니트
KR20060029713A (ko) * 2004-08-04 2006-04-07 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101016389B1 (ko) * 2008-08-11 2011-02-21 티에스씨멤시스(주) 프로브 구조물
KR100991367B1 (ko) 2010-03-15 2010-11-02 (주)아테코 표시장치용 검사 모듈
KR101400757B1 (ko) * 2012-07-19 2014-05-27 (주) 인텍플러스 디스플레이 패널 검사장치
KR101672826B1 (ko) * 2016-02-03 2016-11-07 주식회사 프로이천 니들 타입 핀 보드
KR101655262B1 (ko) * 2016-02-29 2016-09-08 주식회사 프로이천 니들 타입 핀 보드
KR102188448B1 (ko) 2019-09-11 2020-12-08 (주)디이엔티 디스플레이 패널 테스트 장치
KR102188173B1 (ko) * 2020-10-14 2020-12-08 주식회사 프로이천 디스플레이 패널 검사용 소켓장치의 프로브핀 고정구조

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100884475B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장치
KR101903319B1 (ko) 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
KR100600700B1 (ko) 평판표시패널 검사용 프로브 장치
KR101000418B1 (ko) 블레이드 타입의 프로브 블록
KR100818563B1 (ko) 디스플레이 패널 검사방법 및 장치
KR100767191B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
KR20070051818A (ko) 검사 프로브, 검사 장치 및 광학 패널의 검사 방법
JP5351171B2 (ja) 回路ボードアッセンブリ及び誤挿入検出装置
TWI837255B (zh) 與待測裝置之間改善的接觸的垂直探針頭
JP2010112789A (ja) 電気検査装置
KR101416882B1 (ko) 프로브 검사장치의 프로브 핀 컨텍 체크 시스템
TWM469489U (zh) 測試組件及其電性檢測裝置
KR102241061B1 (ko) 프로브 블록 조립체
KR100657768B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
KR100899978B1 (ko) 프로브유닛과 니들
CN109073695A (zh) 基板的配线路径的检查方法及检查系统
CN112908231A (zh) 一种测试信号接入板和点灯治具
JPH03121413A (ja) 電極基板の製造方法
KR20070108589A (ko) 표시기판의 검사방법 및 이를 이용한 표시기판의 검사장치
KR100656065B1 (ko) 평판표시소자 검사용 전기적 접촉 단자
KR102456348B1 (ko) 인터포저 및 이를 구비하는 테스트 소켓
KR20170009212A (ko) 영상표시패널 검사용 프로브 유닛
JPH1026646A (ja) コンタクト装置
JP5146109B2 (ja) 検査装置
KR101345921B1 (ko) 패널 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee