KR102188448B1 - 디스플레이 패널 테스트 장치 - Google Patents

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    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere

Abstract

본 발명은 디스플레이 패널을 테스트하는 장치에 있어서: 지그(21)에 로딩된 다수의 패널을 베이스(23)에서 신호기(25)로 연결하는 본체(20); 상기 베이스(23)에 각 패널과 대응하는 프로브부(36)를 갖추고, CPU(31)를 기반으로 입출력 신호를 중계하는 메인보드(30); 및 상기 메인보드(30)에 각 패널과 대응하도록 연결되고, 패널의 오픈ㆍ쇼트를 검사하는 OS검사모듈(40);을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이에 따라, 양산 현장의 일련의 공정으로 다수의 패널을 테스트하는 과정에서 비정상 접촉에 의한 에러가 유발되어도 정상화 유도로 공정의 흐름을 유지하여 전반적인 생력화의 효율성을 향상하는 효과가 있다.

Description

디스플레이 패널 테스트 장치 {Apparatus for testing display panel}
본 발명은 디스플레이 패널 테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 양산 현장에서 일련의 공정 중에 디스플레이 패널의 양부를 판단하기 위한 디스플레이 패널 테스트 장치에 관한 것이다.
OLED, LCD 등의 디스플레이 패널은 양산에서 일련의 연속적인 공정을 거쳐 완성하는 과정에서 주요 공정 간에 지그를 이용하여 다수로 로딩한 상태로 설정된 검사를 거쳐 불량품을 가려낸다. 패널을 수율 향상 및 신뢰성 향상을 위해 구동 IC를 장착하기 전에 셀 에이징(Cell Aging) 및 기타 테스트가 수행된다. 이는 패널의 패드부에 프로브(Probe)로 접촉을 진행하는데, 자동 테스트를 위해 카메라를 통해 정렬을 진행하는 방식을 사용한다. 그러나 카메라 정렬을 진행한 후 테스트하는 경우 Z축에서만 볼 수 있어 패드에 정상적으로 접촉되었는지 확인이 어렵다.
이와 관련되어 참조할 수 잇는 선행기술문헌으로서 한국 등록특허공보 제0916218호(선행문헌 1), 한국 등록특허공보 제0884475호(선행문헌 2) 등이 알려져 있다.
선행문헌 1은 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛; 프로브 유닛의 일측에 구비되는 비쥬얼 검사부; 프로브 유닛의 타측에 구비되는 그로스 테스트부; 및 비쥬얼 검사부와 그로스 테스트부의 사이에서 어느 하나를 작동시키는 접속 선택부;를 포함한다. 이에, 하나의 장비로 구매 비용 절감 및 차지 공간 감소를 기대한다.
선행문헌 2는 디스플레이 패널에 접촉하는 다수개의 탐침블레이드, 탐침블레이드들을 지지하는 프로브블록, 탐침블레이드들의 후단에 접촉하는 복수개의 접촉바, 각각의 접촉바들에 일대일 대응되게 연결되는 입력신호 단자부, 입력신호 단자부로 검사신호를 인가하는 연결배선부를 포함한다. 이에, 접촉성을 높이고, 후방핀에 발생되는 휨을 방지하는 효과를 기대한다.
그러나, 상기한 선행문헌에 의하면 다수의 패널을 테스트하는 과정에서 비정상 접촉으로 유발되는 에러 상황에 대한 대응책이 미흡하다.
한국 등록특허공보 제0916218호 "평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치" (공개일자 : 2009.09.08.) 한국 등록특허공보 제0884475호 "디스플레이 패널 검사장치" (공개일자 : 2009.02.20.)
상기와 같은 종래의 문제점들을 개선하기 위한 본 발명의 목적은, 양산 현장의 일련의 공정으로 다수의 패널을 테스트하는 과정에서 비정상 접촉에 의한 에러가 유발되어도 정상화를 유도하여 공정의 흐름을 유지할 수 있는 디스플레이 패널 테스트 장치를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 디스플레이 패널을 테스트하는 장치에 있어서: 지그에 로딩된 다수의 패널을 베이스에서 신호기로 연결하는 본체; 상기 베이스에 각 패널과 대응하는 프로브부를 갖추고, CPU를 기반으로 입출력 신호를 중계하는 메인보드; 및 상기 메인보드에 각 패널과 대응하도록 연결되고, 패널의 오픈ㆍ쇼트를 검사하는 OS검사모듈;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 세부 구성에 의하면, 상기 메인보드는 통신부, 전원부, UART부를 개재하여 신호기와 OS검사모듈에 연결되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 세부 구성에 의하면, 상기 프로브부는 신호기 및 OS검사모듈로 연결되는 패턴을 FPC필름에 구비하고, FPC필름에 연결된 MEMS필름의 컨택터를 통하여 각 패널에 접촉되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 세부 구성에 의하면, 상기 OS검사모듈은 스위칭부를 개재하여 신호기 및 프로브부에 단속적으로 연결되고, 신호기 및 프로브부의 신호를 비교하여 접촉 양부를 판단하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 변형예로서, 상기 메인보드 및 상기 OS검사모듈 중 적어도 하나와 연계되는 제어수단을 더 구비하고, 상기 제어수단은 지그 그리고/또는 프로브부의 미세한 위치변동을 유발하기 위한 자세조절부(56)를 구비하는 것을 특징으로 한다.
이상과 같이 본 발명에 의하면, 양산 현장의 일련의 공정으로 다수의 패널을 테스트하는 과정에서 비정상 접촉에 의한 에러가 유발되어도 정상화 유도로 공정의 흐름을 유지하여 전반적인 생력화의 효율성을 향상하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 장치를 전체적으로 나타내는 모식도
도 2는 본 발명에 따른 장치의 주요부를 나타내는 구성도
도 3은 도 2의 OS검사모듈의 회로 연결을 나타내는 블록도
도 4는 본 발명에 따른 장치의 프로브부를 나타내는 구성도
도 5는 도 4의 주요부 회로 연결을 나타내는 블록도
도 6은 본 발명에 따른 작동의 일예를 예시하는 모식도
이하, 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.
본 발명은 디스플레이 패널을 테스트하는 장치에 관하여 제안한다. 디스플레이 패널(10)로 OLED(Organic Light Emitting Diode)를 대상으로 하고, 패널(10)의 에이징(Aging) 처리를 전제로 하지만 반드시 이에 국한되는 것은 아니다.
참고로, 유기전계발광 표시장치 제품용 OLED 패널은 구동 초기에 급속한 열화가 진행되다가 점차적으로 안정화되는 성질을 나타낸다. 이에, 유기전계발광 표시장치 제품 출하 직후에 고객 클레임과 신뢰성 저하를 방지하기 위하여 제품 출하에 앞서서 고전압을 소정시간 인가하여 전면 발광에 의한 인위적 노화를 유발하는 에이징 테스트를 거친다.
본 발명에 따른 본체(20)는 지그(21)에 로딩된 다수의 패널을 베이스(23)에서 신호기(25)로 연결하는 구조이다. 도 1 및 도 2에서, 본체(20)는 일면에 지그(21)를 배치하고 지그(21)의 단부에 베이스(23)를 결합한 구조로 예시한다. 지그(21)는 다수의 패널을 일정한 간격으로 파지하는 로딩 상태를 구현한다. 베이스(23)는 지그(21)에 로딩된 각각의 패널에 대응하도록 구분된다. 신호기(25)는 OLED 테스트용 패턴제너레이터(PG)로 구성될 수 있고, 본체(20)에서 후술하는 메인보드(30)로 케이블(27)을 개재하여 연결된다.
또한, 본 발명에 따르면 상기 베이스(23)에 각 패널과 대응하는 프로브부(36)를 갖춘 메인보드(30)가 CPU(31)를 기반으로 입출력 신호를 중계하는 구조를 이루고 있다. 메인보드(30)는 베이스(23)의 내부에 CPU(31)를 수용하고 베이스(23)의 일면에 지지된 프로브부(36)에 연결된다. CPU(31)는 광의적으로 메모리와 입출력인터페이스를 포함한다. 프로브부(36)는 베이스(23)와 더불어 각각의 패널에 대응하도록 구분된다. 메인보드(30)는 신호기(25), OS검사모듈(40), 프로브부(36)에 접촉된 패널 간의 신호 중계를 처리한다.
또한, 본 발명에 따르면 패널의 오픈ㆍ쇼트를 검사하는 OS검사모듈(40)이 상기 메인보드(30)에 각 패널과 대응하도록 연결되는 구조이다. 도 2 및 도 3에서, OS검사모듈(40)이 베이스(23) 상에서 프로브부(36)와 반대측으로 연결된 상태를 예시한다. 동수로 대응하는 프로브부(36) 및 OS검사모듈(40)은 메인보드(30)를 개재하여 연결된다. OS검사모듈(40)의 주요 기능은 일련의 연속적인 공정에서 패널과 프로브부(36)의 접촉 양부를 신속하고 정확하게 판단하는 것이다.
본 발명의 세부 구성에 의하면, 상기 메인보드(30)는 통신부(32), 전원부(33), UART부(34)를 개재하여 신호기(25)와 OS검사모듈(40)에 연결되는 것을 특징으로 한다.
도 3을 참조하면, 메인보드(30)의 CPU(31), 통신부(32), 전원부(33), UART부(34)가 연결되는 상태를 예시한다. 통신부(32)는 RS232 통신 회로로 구성될 수 있고, 신호기(25), CPU(31), UART부(34)에 연결된다. 전원부(33)는 메인보드(30)의 주요부는 물론 신호기(25), OS검사모듈(40)에 전원을 제공한다. UART부(34)는 MUX를 탑재한 범용비동기화 송수신기 회로로 구성될 수 있고, 통신부(32) 및 OS검사모듈(40)에 연결된다. 도시에는 생략하나, CPU(31)는 메모리와 입출력인터페이스를 포함하는 마이컴 회로로 구성될 수 있다.
본 발명의 세부 구성에 의하면, 상기 프로브부(36)는 신호기(25) 및 OS검사모듈(40)로 연결되는 패턴(42)을 FPC필름(41)에 구비하고, FPC필름(41)에 연결된 MEMS필름(45)의 컨택터(46)를 통하여 각 패널에 접촉되는 것을 특징으로 한다.
도 4를 참조하면, 프로브부(36)가 바디(37)와 커버(38)로 구성되고 FPC필름(41)과 MEMS필름(45)으로 연결된 상태를 예시한다. FPC필름(41)은 신호기(25)의 신호를 MEMS필름(45)을 통하여 프로브부(36)에 전달한다. MEMS필름(45)은 컨택터(46)를 통하여 피검사용 패널(10)과 접촉한다. 도 5를 참조하면, FPC필름(41), 패턴(42), 범프(43), 패드(47)의 연결 상태를 예시한다. 도 5(a)에서 FPC필름(41)은 신호기(25) 및 OS검사모듈(40) 측에 별도로 연결되고, 별도로 2중화된 패턴(42)을 통하여 다수의 범프(43)로 연결된다. 도 5(b)에서, 각각의 범프(43)는 컨택터(46)에 형성된 다수의 패드(47)에 대응한다.
이와 같은 방식으로, 각각의 범프(43) 및 패드(47)를 통하여 접촉되는 피검사 패널(10)은 신호기(25) 및 OS검사모듈(40)에 동시에 연결되어 소정의 에이징 테스트를 거친다.
본 발명의 세부 구성에 의하면, 상기 OS검사모듈(40)은 스위칭부(54)를 개재하여 신호기(25) 및 프로브부(36)에 단속적으로 연결되고, 신호기(25) 및 프로브부(36)의 신호를 비교하여 접촉 양부를 판단하는 것을 특징으로 한다.
도 6을 참조하면, OS검사모듈(40)이 신호기(25) 및 프로브부(36)에 연결되는 상태를 예시한다. 스위칭부(54)는 수동식 또는 자동식 접점으로서 케이블(27)에 구성될 수 있다. 도 6(a)처럼 스위칭부(54)가 온되면 신호기(25)에서 발생되는 PG1 신호 및 패널(10)을 통한 PG2 신호가 입력되어 OS검사모듈(40)의 주요 기능이 수행된다. 도 6(b)처럼 스위칭부(54)가 오프되면 OS검사모듈(40)도 오프되고 신호기(25)가 패널(10)로만 연결되어 에이징 테스트가 수행된다. OS검사모듈(40)은 PG1 및 PG2 신호를 비교하여 도 6(a)에서 도 6(b)으로 전환하도록 작동될 수 있다.
본 발명의 변형예로서, 상기 메인보드(30) 및 상기 OS검사모듈(40) 중 적어도 하나와 연계되는 제어수단(50)을 더 구비하고, 상기 제어수단(50)은 지그(21) 그리고/또는 프로브부(36)의 미세한 위치변동을 유발하기 위한 자세조절부(56)를 구비하는 것을 특징으로 한다.
도 1에서, 제어수단(50)의 제어기(52), 자세조절부(56), 경보부(58) 등을 예시한다. 제어기(52)는 마이컴 회로로서 별도로 표시하고 있지만, 메인보드(30) 그리고/또는 OS검사모듈(40)에 병합되도록 구성될 수 있다. 자세조절부(56)는 지그(21) 그리고/또는 프로브부(36)에 마이크로 솔레노이드, 피에조 액츄에이터 등을 결합하여 구성할 수 있다. 어느 경우에나, 도 6(a)의 상태에서 패널(10)과 프로브부(36) 간에 접촉 에러가 발생한 경우 제어기(52)가 자세조절부(56)를 가동하여 신속한 정상화를 유도한다.
물론, 제어기(52)는 자세조절부(56)를 가동하였음에도 설정된 시간내에 도 6(a)에서 도 6(b) 상태로 전환되지 않음을 판단하면 경보부(58)를 가동하여 시청각적으로 경보한다.
한편, 제어수단(50)은 자세조절부(56)의 X축, Y축, Z축의 운동을 감지하는 센서나 카메라를 더 구비할 수 있다.
본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음이 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 변형예 또는 수정예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 해야 할 것이다.
10: 피검사용 패널 20: 본체
21: 지그 23: 베이스
25: 신호기(PG) 27: 케이블
30: 메인보드 31: CPU
32: 통신부 33: 전원부
34: UART부 36: 프로브부
37: 바디 38: 커버
40: OS검사모듈 41: FPC필름
42: 패턴 43: 범프
45: MEMS필름 46: 컨택터
47: 패드 50: 제어수단
52: 제어기 54: 스위칭부
56: 자세조절부 58: 경보부

Claims (5)

  1. 디스플레이 패널의 에이징(Aging) 처리를 테스트하는 장치에 있어서:
    지그(21)에 로딩된 다수의 패널을 베이스(23)에서 신호기(25)로 연결하는 본체(20);
    상기 베이스(23)에 각 패널과 대응하는 프로브부(36)를 갖추고, CPU(31)를 기반으로 입출력 신호를 중계하는 메인보드(30); 및
    상기 메인보드(30)에 각 패널과 대응하도록 연결되고, 패널의 오픈ㆍ쇼트를 검사하는 OS검사모듈(40);을 포함하되,
    상기 메인보드(30)는 통신부(32), 전원부(33), UART부(34)를 개재하여 신호기(25)와 OS검사모듈(40)에 연결되고,
    상기 프로브부(36)는 신호기(25) 및 OS검사모듈(40)로 연결되는 패턴(42)을 FPC필름(41)에 구비하고, FPC필름(41)에 연결된 MEMS필름(45)의 컨택터(46)를 통하여 각 패널에 접촉되며,
    상기 OS검사모듈(40)은 스위칭부(54)를 개재하여 신호기(25) 및 프로브부(36)에 단속적으로 연결되고, 신호기(25) 및 프로브부(36)의 신호를 비교하여 접촉 양부를 판단하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 테스트 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 메인보드(30) 및 상기 OS검사모듈(40) 중 적어도 하나와 연계되는 제어수단(50)을 더 구비하고,
    상기 제어수단(50)은 지그(21) 그리고/또는 프로브부(36)의 미세한 위치변동을 유발하기 위한 자세조절부(56)를 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 테스트 장치.
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