KR200372710Y1

KR200372710Y1 - 소형의 평판표시소자 검사용 프로브

Info

Publication number: KR200372710Y1
Application number: KR20-2004-0029733U
Authority: KR
Inventors: 구철환; 최동렬
Original assignee: 주식회사 파이컴
Priority date: 2004-10-21
Filing date: 2004-10-21
Publication date: 2005-01-21

Abstract

본 고안은 평판표시소자 검사용 프로브 조립체를 구성하는 프로브 블럭의 하부 경사면에 부착 고정되는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브에 관한 것으로, 특히 하나의 지지빔에 두개 이상의 접촉단을 형성시켜 기계적 강도를 증가시키고, 소형의 평판표시소자의 패드전극과 접촉시 적절한 O/D(Over Drive)를 확보함으로써, 파인 피치(Fine Pitch)의 패드를 갖는 소형의 평판표시소자를 검사하는데 적당하도록 한 소형의 평판표시소자 검사용 프로브에 관한 것이다.

본 고안의 소형의 평판표시소자 검사용 프로브를 이루는 구성수단은, 프로브 조립체를 구성하는 프로브 블록의 하부 경사면에 고정 부착되는 프로브에 있어서, 평판표시소자의 패드전극에 접촉하는 다수개의 접촉단과, 상기 접촉단을 고정 지지하기 위하여 적어도 두개 이상의 접촉단과 일단이 일체화되어 형성되는 다수개의 지지빔과, 상기 지지빔의 타단에 형성되어 신호가 입력되는 신호입력단을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.

Description

소형의 평판표시소자 검사용 프로브{probe for testing small-sized flat pannel display}

본 고안은 평판표시소자 검사용 프로브 조립체를 구성하는 프로브 블럭의 하부 경사면에 부착 고정되는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브에 관한 것으로, 특히 하나의 지지빔에 두개 이상의 접촉단을 형성시켜 기계적 강도를 증가시키고, 소형 평판표시소자의 패드전극과 접촉시 적절한 O/D(Over Drive)를 확보함으로써, 파인 피치(fine pitch)의 패드전극을 갖는 소형 평판표시소자를 검사하는데 적당하도록 한 소형 평판표시소자 검사용 프로브에 관한 것이다.

통상, LCD(Liquid Crystal Display) 등의 평판표시소자가 일련의 공정에 따라 제조되면, 평판표시소자의 패드전극에 프로브 조립체의 프로브를 접촉시켜 전기신호를 인가함으로써 인가 전기신호에 대응하는 응답 전기신호를 디텍션하여 LCD 패널의 정상 및 비정상 유무를 확인하고 있다.

그리고, 최근에 전자기기들이 소형화되면서 평판표시소자도 역시 소형화됨에 따라 소형 전자기기인 휴대폰, 전자사전, MP3에 소형의 평판표시소자가 사용되고 있다.

상기와 같은 소형의 평판표시소자는, 소정부위에 마련되는 패드전극들의 간격은 파인 피치(fine pitch)로 구현됨으로써 소형의 평판표시소자를 검사하는 프로브는 소형의 평판표시소자 패드전극의 파인 피치에 대응할 수 있도록 프로브의 피치 간격 역시 미세하게 형성되어야 한다.

그리고, 상기 소형의 평판표시소자의 테스트는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브를 이용하여 액정패널에 형성된 소형의 평판표시소자를 흑백색으로 점등시켜 공정 과정의 결점을 육안 검사하는 흑백(gray) 테스트로 이루어진다.

즉, 소형의 평판표시소자의 점등 검사 방식에 있어 고비용의 칼라 테스트 대신 저비용의 흑백 테스트를 통해서 소형의 평판표시소자의 제조원가를 절감하고 있다.

도 1은 종래기술에 따른 소형의 평판표시소자 검사용 프로브를 구비한 프로브 조립체를 설명하기 위한 사시도이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래기술에 따른 프로브 조립체는 소형의 평판표시소자의 패드전극에 접촉하기 위해 소정의 형상으로 형성되는 프로브(300)가 프로브 블록(110)의 하측단에 마련되어 있다.

상기 프로브(300)는 프로브 블록(110)의 경사면에 접착제 또는 고정나사 등의 부착수단에 의해서 서로 고정되어 있으며, 상기 프로브 블록(110)은 투명성을 확보하기 위해 아크릴 등과 같은 투명재질로 제작될 수 있다.

즉, 상기 프로브 블록(110)의 경사면에 고정되는 프로브는 접착제를 이용하거나 프로브를 관통하여 프로브 블록(110)과 체결되는 고정나사에 의해서도 서로 체결될 수 있다.

또한, 상기 프로브 블록(110) 상부에 제1 인터페이스 보드(112)가 위치되고, 상기 제1 인터페이스 보드(112) 상부에 프로브 홀더(116)가 위치되어 고정나사(118)에 의해서 서로 체결 고정되어 있다.

그리고, 상기 프로브 블록(110) 내측방향의 제1 인터페이스 보드(112) 하측면에 제2 인터페이스 보드(114)가 역시 고정핀에 의해서 체결 고정되어 있고, 상기 제2 인터페이스 보드(114) 하측면에 TCP(Tape Carrier Package)(124)가 부착 고정되어 있다.

한편, 상기 프로브 홀더(116)와 메뉴플레이터(128)가 고정나사(132)에 의해서 서로 체결되어 있으며, 상기 메뉴플레이터(128)와 연결된 프로브 홀더(116)는 테스트 과정의 상하 물리력에 의해서 상하로 유동이 발생할 수 있도록 되어 있다.

상기와 같은 구성으로 이루어져 있는 종래의 프로브 조립체의 프로브(300)는 도 1의 확대부분에 도시된 바와 같이, 하나의 접촉단(310)과 하나의 지지빔(320)이 일체로 형성된 바형상으로써 소형의 평판표시소자의 패드전극과 일대일 대응하도록 형성되어 있다.

따라서, 소형의 평판표시소자를 검사하기 위한 프로브(300)는 소형의 평판표시소자의 패드전극의 피치간격과 동일하게 매우 작을 수밖에 없다.

이상에서 설명한 프로브 조립체를 이용하여 소형의 평판표시소자를 테스트하게 되고, 상기 테스트 과정에서 소형의 평판표시소자의 패드전극에 접촉하는 부분은 프로브(300)이다.

상기 프로브(300)의 구성은 검사 대상인 소형의 평판표시소자의 복수의 패드전극과 대응하여 개별적으로 직접 접촉하는 복수의 접촉단(310)과 상기 접촉단(310)과 일체로 연결되는 지지빔(320)과 상기 지지빔(320)과 일체로 연결되어 입력신호를 전달하는 신호입력단(미도시)으로 이루어진다.

상기와 같은 구성으로 이루어져 있는 종래의 프로브에 의하여 소형의 평판표시소자를 검사하는 방법에 대하여 첨부된 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 2에 도시된 바와 같이, 소형의 평판표시소자(200)의 소정 위치에 배치되는 파인 피치의 패드전극(210)에 프로브(300)의 접촉단(310)이 접촉되어 전기적 정상 유무를 검사한다.

상기 프로브(300)는 하나의 지지빔(320)과 하나의 접촉단(310)이 일대일로 일체화되어 있다. 이와 같이 지지빔(320)에 일대일로 일체화된 접촉단(310)이 소형의 평판표시소자(200)의 각 패드전극(210)과 접촉하게 된다.

상기 프로브(300)의 접촉단(310)은 일정 O/D를 가지고 일정 물리력으로 소형의 평판표시소자(200)의 패드전극(210)과 반복적으로 접촉하면서 소형의 평판표시소자(200)에 일정 전기적 신호를 인가하여 소형의 평판표시소자(200)의 정상 유무를 테스트한다.

이상에서 설명한 종래 프로브에 의하면, 상기 지지빔(320)은 파인 피치에 대응하기 위해서 그 폭이 매우 적게 형성되어야 하는데, 이와 같이 폭이 작아짐에 따라 일정 물리력이 프로브(300)의 접촉단(310)에 가해질 때 접촉단(310)과 연결된 지지빔(320)이 부러지는 문제점이 발생한다.

특히, 상기 지지빔(320)이 쉽게 부러지기 때문에 충분한 O/D를 가하여 강하게 프로브(300)의 접촉단(310)이 소형의 평판표시소자(200)의 패드전극(210)과 접촉하도록 할 수 없는 문제점이 발생하고 있다.

이때, 상기 프로브(300)에 대해서 O/D를 가하는 것은 프로브(300)의 복수의 접촉단(310)의 단부는 서로 단차가 발생하지 않도록 제조되나 공정불량 등의 원인에 의해서 반드시 미세한 오차가 발생하게 되므로 프로브(300)의 O/D는 테스트 과정에 반드시 수행되는 단계중의 하나이다.

본 고안은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로, 하나의 지지빔에 두개 이상의 접촉단을 형성시킴으로써, 파인 피치(fine pitch)를 가지는 소형의 평판표시소자의 패드전극을 테스트하는 경우 적절한 O/D를 확보할 수 있고, 지지빔의 부러짐을 방지할 수 있는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.

도 1은 종래기술에 따른 평판표시소자 검사용 프로브를 구비한 프로브 조립체를 설명하기 위한 사시도이다.

도 2는 종래의 프로브를 이용하여 평판표시소자를 검사하는 상태를 나타낸 개략도이다.

도 3은 본 고안에 따른 평판표시소자 검사용 프로브를 구비한 프로브 조립체를 설명하기 위한 사시도이다.

도 4는 본 고안에 따른 평판표시소자 검사용 프로브를 구비한 프로브 조립체를 설명하기 위한 단면도이다.

도 5는 본 고안에 적용되는 프로브의 구성도이다.

도 6은 본 고안에 적용되는 프로브를 이용하여 평판표시소자를 검사하는 상태를 보여주는 개략도이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

110 : 프로브 블록 112 : 제1 인터페이스 보드

114 : 제2 인터페이스 보드 124 : TCP(Tape Carrier Package)

400, 400a, 400b : 프로브 410, 410a, 410b : 접촉단

411, 411a, 411b : 결합부분 420, 420a, 420b : 지지빔

430, 430a, 430b : 신호입력단 500 : 소형의 평판표시소자

510 : 패드전극

상기와 같은 기술적 과제를 해결하기 위하여 제안된 본 고안인 소형의 평판표시소자 검사용 프로브를 이루는 구성수단은, 프로브 조립체를 구성하는 프로브 블록의 하부 경사면에 고정되고, 검사 대상인 소형의 평판표시소자의 복수의 패드전극과 대응하여 개별적으로 직접 접촉하는 복수의 접촉단과 상기 접촉단과 일체로 연결되는 지지빔과 상기 지지빔과 일체로 연결되는 신호 입력단으로 이루어져 평판표시소자의 흑백(gray) 테스트를 수행하는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브에 있어서, 상기 접촉단과 일체로 연결되는 지지빔은 이웃하는 다른 지지빔과 적어도2개 이상 통합되어 군을 이루며, 상기 군을 이루는 지지빔과 하나로 통합 연결된 상기 신호 입력단이 연결되어 있는 것을 특징으로 한다.

그리고, 상기 각 접촉단은 2 또는 3개가 일체로 연결할 수도 있고, 상기 지지빔의 일단과 일체화되어 형성되는 상기 적어도 두개 이상의 접촉단 사이의 연결부분이 라운딩 형태로 형성할 수도 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 상기와 같은 구성으로 이루어져 있는 본 고안인 소형의 평판표시소자 검사용 프로브에 관한 작용 및 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.

도 3은 본 고안인 소형의 평판표시소자 검사용 프로브를 포함한 프로브 조립체를 보여주는 사시도이고, 도 4는 프로브 조립체의 단면도이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 프로브 조립체를 구성하는 메뉴플레이터(128), 프로브 홀더(116), 제1 및 제2 인터페이스보드(112, 114), 프로브 블록(110)은 종래와 동일하다. 다만, 소형의 평판표시소자의 패드전극과 접촉하는 부분인 프로브(400)가 종래와 다른 구성이다.

도 3의 확대부분에 도시된 바와 같이, 본 고안의 프로브(400)는 두개 이상의 접촉단(410)과 하나의 지지빔(420)이 일체로 형성되어 있다. 따라서, 본 고안에 따르면, 종래와 같이 하나의 접촉단과 일대일로 대응되는 지지빔보다 그 폭에 있어서 증가하게 된다.

한편, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 지지빔(420)과 일체로 형성되는 신호 입력단(430)은 제2 인터페이스보드(114)의 하단에 설치되는 TCP(124)와 전기적으로연결되어 있다. 따라서, 상기 TCP(124)를 통해 들어오는 신호는 상기 신호입력단(430)을 통해 지지빔(420) 및 접촉단(410)에 전달된다.

도 5는 본 고안인 소형의 평판표시소자 검사용 프로브 조립체의 프로브를 보여주는 구성도이다.

도 5의 (a)에 도시된 바와 같이, 본 고안인 소형의 평판표시소자 검사용 프로브(400)는 소형의 평판표시소자의 패드전극과 대응하여 개별적으로 직접 접촉하는 복수의 접촉단(410)과 상기 접촉단(410)을 고정지지하기 위하여 적어도 두 개 이상의 접촉단(410)과 일단이 일체화되어 형성되는 복수의 지지빔(420)과, 상기 지지빔은 이웃하는 다른 지지빔(420)과 적어도 두 개이상 통합되어 군을 이루며, 상기 군을 이루는 지지빔(420)과 하나로 통합 연결되어 TCP(미도시)로부터 전달되는 신호가 입력되는 신호입력단(미도시)으로 이루어져 있다.

한편, 상기 지지빔(420)의 일단과 일체화되어 형성되는 상기 적어도 두개 이상의 접촉단(410) 사이의 결합부분(411)은 다양한 모양으로 형성될 수 있지만, 라운딩 형태로 형성되는 것이 소형의 평판표시소자의 정상유무를 검사할 때 프로브(400)에 발생하는 반력을 효율적으로 분산시킬 수 있다.

또한, 파인 피치를 가지는 소형의 평판표시소자를 검사하기 위한 프로브(400)의 지지빔(420)의 폭이 증가되어 일정 물리력에도 부러지지 않고 버틸 수 있는 기계적 강도를 가질 수 있다.

이와 같이, 다수개의 접촉단(410)과 하나의 지지빔(420)을 일체화시킨 프로브(400)를 소형의 평판표시소자의 패드전극들에 접촉시키면, 상기 지지빔(420)의폭의 증가와 비례하여 상기 지지빔(420)의 기계적 강도가 증가하기 때문에, 패드전극을 향해 일정한 물리력이 가해지더라도 상기 지지빔(420)이 부러지는 문제점을 방지할 수 있다.

본 고안은 파인피치(fine pitch)를 가지는 소형의 평판표시소자를 테스트하는 경우 지지빔(420)의 부러짐을 방지하고, 제작상의 용이함을 줄 수 있는 프로브를 제공하는 것이므로, 상기 하나의 지지빔(420)에 일체화되어 형성되는 접촉단(410)의 개수는 적어도 두개 이상이면 무관하다.

도 5의 (b)와 도 5의 (c)는 하나의 지지빔(420a, 420b)에 두개 또는 세개의 접촉단(410a, 410b)이 일체화되어 형성된 프로브(400a, 400b)의 구성도로서 본 고안의 일실시예를 보여주는 예시도이다.

도 5의 (b)와 도 5의 (c)에 도시된 바와 같이 하나의 지지빔에 두개 또는 세개의 접촉단을 일체화시켜 형성함으로써, 지지빔의 기계적 강도를 증대시킴과 아울러, 파인피치를 가지는 소형의 평판표시소자를 용이하게 검사할 수 있다. 또한, 상기 지지빔의 일단과 일체화되어 형성되는 상기 적어도 두개 또는 세개의 접촉단 사이의 결합부분(411a, 411b)은 다양한 모양으로 형성될 수 있지만, 라운딩 형태로 형성하여 프로브에 발생하는 반력을 효율적으로 분산시킨다.

상기와 같은 구성으로 이루어져 있는 프로브를 이용하여 소형의 평판표시소자를 검사하는 방법에 대하여 첨부된 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 6의 (a)는 하나의 지지빔(420a)에 두개의 접촉단(410a)이 일체화되어 형성된 프로브(400a)가 소형의 평판표시소자(500)의 패드(510)에 접촉된 모습을 보여주고, 도 6의 (b)는 하나의 지지빔(420b)에 세개의 접촉단(410b)이 일체화되어 형성된 프로브(400b)가 소형의 평판표시소자(500)의 패드(510)에 접촉된 모습을 보여준다.

또한, 상기와 같이 두개 또는 세개의 접촉단(410a, 410b)에 일체화되어 형성된 지지빔(420a, 420b)들은 이웃하는 다른 지지빔(420a, 420b)들과 적어도 2개 이상 통합되어 군을 이루며, 상기 군을 이루는 지지빔(420a, 420b)과 하나로 통합 연결된 상기 신호입력단(430a, 430b)이 연결되어 형성된다.

따라서, 도 4를 참조하여 전술한 TCP(124)를 통해 입력된 신호가 신호입력단(430a, 430b)에 전달되면, 상기 신호입력단(430a, 430b)에 일체로 연결된 다수개의 지지빔(420a, 420b)에 전기적 신호가 들어오게 되며, 최종적으로 상기 지지빔(420a, 420b)에 일체로 형성된 접촉단(410a, 410b) 모두에 동일 신호가 전달됨으로써, 상기 접촉단(410a, 410b)에 접촉된 소형의 평판표시소자(500)의 패드전극(510)에 동일 전기적 신호가 가해진다.

즉, 본 발명의 프로브는 소형 평판표시소자(500)의 패드전극(510)에 동일 전기 신호를 인가함으로써 상기 소형 평판표시소자(500)의 이상 유무를 검사하므로, 상기 프로브의 제작 과정 중 어느 하나의 지지빔이 이웃하는 지지빔에 단락이 되는 경우가 발생하더라도 동일 전기 신호를 인가하여 소형 평판표시소자(500)의 검사에 문제가 되지 않는다.

보다 자세히 설명하자면, 상기 소형 평판표시소자(500)의 패드전극(510)의 파인 피치에 대응되는 프로브의 제작 과정 중, 프로브에 단락이 발생되더라도 상기프로브는 소형 평판표시소자(500)의 패드전극(510)에 동일 전기 신호를 인가하여 평판표시소자(500)의 검사 수행이 가능하므로, 단락이 발생된 상기 프로브는 불량으로 처리되지 않는다. 따라서, 파인 피치를 가지는 소형의 평판표시소자(500)를 테스트하기 위한 소형의 평판표시소자(500) 검사용 프로브를 용이하게 제작할 수 있다.

한편, 상기와 같이 하나의 지지빔(420a, 420b)에 두개 또는 세개의 접촉단(410a, 410b)이 일체화되어 형성된 프로브(400a, 400b)를 소형의 평판표시소자(500)의 패드전극(510)에 접촉시켜 소형의 평판표시소자(500)의 정상유무를 테스트하면, 상기 지지빔(420a, 420b)이 적절한 폭을 가지므로 일정한 물리력을 가하더라도 상기 지지빔(420a, 420b)은 부러지지 않고, 일정한 O/D를 확보할 수 있다.

이상에서 설명한 프로브는 소형의 평판표시소자를 검사하기 위한 프로브로써, 칼라 테스트 대신에 흑백(gray) 테스트를 하기 위한 프로브이다.

상기와 같은 구성 및 작용 그리고 바람직한 실시예를 가지는 본 고안인 소형의 평판표시소자 검사용 프로브에 의하면, 하나의 지지빔에 두개 이상의 접촉단을 형성하여 소형의 평판표시소자의 패드전극에 접촉시켜 소형의 평판표시소자의 정상유무를 검사함으로써, 일정한 O/D를 확보할 수 있을 뿐만 아니라, 지지빔이 부러지는 문제점을 해결할 수 있는 장점이 있다.

또한, 파인피치(fine pitch)를 가지는 소형의 평판표시소자를 검사하기 위한 프로브로써, 다수개의 접촉단을 하나의 지지빔에 일체화시켜 제조하기 때문에 제작상에 어려움을 해결할 수 있는 장점이 있다.

Claims

프로브 조립체를 구성하는 프로브 블록의 하부 경사면에 고정되고, 검사 대상 평판표시소자의 복수의 패드전극과 대응하여 개별적으로 직접 접촉하는 복수의 접촉단과 상기 접촉단과 일체로 연결되는 지지빔과 상기 지지빔과 일체로 연결되는 신호입력단으로 이루어져 소형의 평판표시소자의 흑백 테스트를 수행하는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브에 있어서,

상기 접촉단과 일체로 연결되는 지지빔은 이웃하는 다른 지지빔과 적어도 2개 이상 통합되어 군을 이루며, 상기 군을 이루는 지지빔과 하나로 통합 연결된 상기 신호 입력단이 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브.
청구항 1에 있어서,

상기 각 접촉단은 2 또는 3개가 일체로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브.
청구항 1에 있어서,

상기 지지빔의 일단과 일체화되어 형성되는 상기 적어도 두개 이상의 접촉단 사이의 연결부분이 라운딩 형태인 것을 특징으로 하는 소형의 평판표시소자 검사용 프로브.