KR100820277B1 - 프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록 - Google Patents

프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록 Download PDF

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Abstract

본 발명은 디스플레이 패널에 구비되는 복수의 전극패드에 직접 접촉되고, 상기 전극패드에 상응하는 피치로 형성되는 복수의 접촉부; 연결기판에 연결되는 복수의 연결부; 상기 접촉부 및 상기 연결부가 형성되는 돌출부를 포함하는 플레이트; 및 일측이 상기 접촉부에 연결되고, 타측이 상기 연결부에 연결되는 구동칩을 포함하는 프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록에 관한 것으로서,
본 발명에 따르면, 디스플레이 패널의 전극패드에 접촉되는 상기 접촉부에 상기 구동칩을 직접 연결시킴으로써, 연결부분을 줄일 수 있으며, 이에 따라 제조의 용이성 및 정확성을 향상시킬 수 있다.
프로브, 프로브 블록, 연결기판, FPC, 구동칩

Description

프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록{Probe Apparatus and Probe Block include the same}
본 발명은 디스플레이 패널을 검사하는 검사장비에 관한 것으로서, 상세하게는 디스플레이 패널에 구비되는 복수의 전극패드에 접촉하여 디스플레이 패널의 불량 유무를 검사하는 프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록에 관한 것이다.
액정표시장치와 같은 디스플레이 패널은 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터용 뿐만 아니라 대형 모니터, LCD, PDP, MOBILE 등과 같은 응용 제품으로도 개발되고 있다.
이와 같은 개발 추세에 따라 기존의 CRT(Cathode Ray Tube) 제품이 점진적으로 대체되고 있으며, 디스플레이 산업에서의 비중이 점차 증대되고 있다.
이러한 디스플레이 패널은 구동회로(Drive IC)를 포함하는데, 상기 구동회로는 복수의 게이트라인과 데이터라인이 교차하면서 규정하는 디스플레이 패널의 화소영역에 전기적 신호를 인가하여 화상이 표시되도록 한다.
또한, 상기 구동회로는 디스플레이 패널을 제품에 장착하기 전에 디스플레이 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 유무가 검사될 수 있도록 하며, 이를 위해 복수의 전극패드를 포함한다.
상기와 같은 복수의 전극패드에 접촉되어 각종 측정기기들이 내장된 검사시스템 및 디스플레이 패널을 전기적으로 연결시킴으로써, 디스플레이 패널의 불량 유무를 검사할 수 있도록 하는 장치가 프로브 블록이다.
도 1은 종래의 프로브 블록을 나타낸 사시도, 도 2는 도 1의 A-A단면도이다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 종래의 프로브 블록(10)은 프로브조립체(11), 칩글라스(12), 구동칩(13), 연결기판(14), 및 블록베이스(15)를 포함한다.
상기 프로브조립체(11)는 블록베이스(15)에 결합되고, 내부에 복수의 프로브핀(111)을 포함한다.
상기 프로브핀(111)은 일측은 복수의 전극패드에 직접 접촉되고, 타측은 상기 칩글라스(12)에 연결된다.
상기 칩글라스(12)는 전체적으로 사각판형으로 형성되고, 상기 프로브핀(111), 구동칩(13), 및 연결기판(14)이 결합되며, 복수의 코일(121)을 포함한다.
상기 코일(121)는 구동칩(13)의 일측 및 상기 프로브핀(111)을 전기적으로 연결시키고, 상기 구동칩(13)의 타측 및 연결기판(14)을 전기적으로 연결시킨다.
상기 구동칩(13)은 칩글라스(12)의 코일(121)상에 연결되고, 디스플레이 패널의 구동회로에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출한다.
상기 연결기판(14)은 일측이 구동칩(13)의 타측에 연결되는 코일(121)과 연결되고, 타측이 PCB(Printed Circuit Board)에 연결된다. 상기 PCB는 검사시스템에 연결되어 있다. 상기 연결기판(14)은 FPC(Flexible Printed Circuit)가 사용될 수 있고, 상기 코일(121) 각각에 연결되는 연결단자(141)를 포함한다.
상기 블록베이스(15)는 검사시스템에 설치되고, 상기 프로브조립체(11), 칩글라스(12) 및 연결기판(14)이 결합된다.
여기서, 종래의 프로브 블록(10)은 하기와 같은 문제가 있다.
첫째, 디스플레이 패널의 불량 유무를 정확하게 검사하기 위해서는 상술한 종래의 프로브 블록(10)의 연결부분들이 모두 정확하게 연결되어야만 한다.
상기와 같은 연결부분들 중에서 어느 하나라도 정확하게 연결되지 않으면, 부정확한 검사결과가 도출되거나, 검사결과 자체가 검출되지 않을 수 있다.
즉, 상기 프로브핀(111)과 코일(121), 상기 코일(121)과 구동칩(13)의 일측, 상기 코일(121)과 구동칩(13)의 타측, 상기 코일(121)과 연결단자(141) 모두가 정확하게 연결되어야만 한다.
이와 같이, 종래의 프로브 블록(10)은 정확한 연결이 요구되는 부분들이 많기 때문에, 프로브 블록(10)의 제조가 어려울 뿐만 아니라, 제조 후 프로브 블록(10)이 정상적으로 작동되는지 확인하는데 어려운 문제가 있다.
또한, 현실적으로 프로브 블록(10)의 제조 후 정상적으로 작동되는지 여부를 확인할 수 있는 장치 자체가 마련되어 있지 않기 때문에, 디스플레이 패널 제조업자로부터 샘플을 제공받아서 정상 작동 여부를 확인하는 실정이다.
따라서, 상기 프로브 블록(10)의 제조 후 정상적으로 작동되지 않는 것으로 판별된 경우에도, 어느 연결부분이 정확하게 연결되지 않았는지 판별하는데 어려움이 있으며, 이는 보수 공정의 난이도 및 제조단가의 상승을 초래하는 문제가 있다.
둘째, 상기 코일(121)은 칩글라스(12) 상에 얇은 두께로 실장되기 때문에, 코일(121) 상에 구동칩(13)을 연결시키는 과정에서 미끄러지는 등 구동칩(13)을 정확한 위치에 연결시키기 어려운 문제가 있다.
또한, 구동칩(13)을 정확한 위치에 연결시키는데 실패한 경우, 구동칩(13)을 재연결시키기 위해 떼어내는 과정에서 상기 코일(121)이 칩글라스(12)에서 들뜨게 되는 등 코일(121)이 손상되는 문제가 있다.
코일(121)이 손상되게 되면, 손상 정도에 따라 이미 코일(121)이 실장된 칩글라스(12)를 폐기시키거나, 구동칩(13)을 정확한 위치에 재연결시킨다고 해도 무결점의 프로브 블록(10)을 제조했다는 보장이 없는 문제가 있다.
셋째, 최근 디스플레이 기술분야의 발전에 따라 복수의 전극패드는 점차적으로 조밀해지는 파인피치(Fine-Pitch)로 구현되고 있는 추세이다. 따라서, 복수의 전극패드가 파인피치로 구현되는 추세에 맞추어 상기 프로브 블록(10) 또한 파인피치로 구현되어야만 한다.
그러나, 프로브 블록(10)을 파인피치로 구현하기 위해서는 상술한 바와 같은 문제점들이 더욱 증대되는 문제가 있다.
넷째, 디스플레이 패널의 발전은 다양한 부분에서 이루어지고 있으며, 상술한 바와 같은 문제점은 새로운 디스플레이 패널을 검사하기 위한 프로브 블록(10)의 개발을 어렵게 할 뿐만 아니라, 상당한 제조기간을 필요로 한다.
따라서, 새로운 디스플레이 패널의 검사가 적시에 이루어지지 못하게 되는 문제가 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로서,
본 발명의 목적은 각 구성간에 연결부분을 줄이고, 견고한 연결이 가능하도록 구현함으로써, 제조 및 보수 공정의 용이성과 제조의 정확성을 향상시킬 수 있는 프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 목적은 새로운 디스플레이 패널을 검사하기 위한 프로브 블록 개발의 어려움을 경감시키고, 제조기간을 단축시킴으로써, 새로운 디스플레이 패널을 적시에 검사할 수 있도록 하는 프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.
본 발명에 따른 프로브 장치는 디스플레이 패널에 구비되는 복수의 전극패드에 직접 접촉되고, 상기 전극패드에 상응하는 피치로 형성되는 복수의 접촉부; 연결기판에 연결되는 복수의 연결부; 상기 접촉부 및 상기 연결부가 형성되는 돌출부를 포함하는 플레이트; 및 일측이 상기 접촉부에 연결되고, 타측이 상기 연결부에 연결되는 구동칩을 포함한다.
본 발명에 따른 프로브 블록은 검사시스템에 장착되는 블록베이스; 상기 블록베이스에 결합되는 상기 프로브 장치; 및 연결부와 연결되는 연결기판을 포함한 다.
본 발명에 따르면 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.
첫째, 디스플레이 패널의 전극패드에 접촉되는 상기 접촉부에 상기 구동칩을 직접 연결시킴으로써, 연결부분을 줄일 수 있으며, 이에 따라 제조의 용이성 및 정확성을 향상시킬 수 있는 효과를 도모할 수 있다.
둘째, 상기 구동칩을 상기 접촉부 및 상기 연결부에 정확하게 연결시킬 수 있고, 상기 접촉부 및 상기 연결부를 상기 돌출부에 견고하게 결합시킬 수 있어 보수 공정의 용이성을 향상시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
셋째, 최근 점차적으로 조밀해지는 파인피치(Fine-Pitch)로 구현되고 있는 디스플레이 패널의 개발에 맞추어 파인피치로 구현되는 프로브 장치를 포함하는 프로브 블록을 용이하면서도 정확하게 제조할 수 있는 효과를 이룰 수 있다.
넷째, 디스플레이 패널의 발전에 따라 새롭게 개발되는 디스플레이 패널을 검사하기 위한 프로브 장치를 포함하는 프로브 블록의 제조기간 및 제조비용을 절감할 수 있고, 새로운 디스플레이 패널의 검사를 적시에 이루어지게 할 수 있는 효과를 가진다.
다섯째, 디스플레이 패널의 전극패드에 대한 접촉의 용이성 및 접촉성을 향상시킴으로써, 검사의 편리함 및 정확성을 향상시킬 수 있는 효과를 도모할 수 있다.
이하에서는 본 발명에 따른 프로브 장치의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명에 따른 프로브 장치는 크게 세가지 실시예로 이루어지는데, 각 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 순차적으로 설명한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 블록베이스를 포함하는 프로브 블록을 개략적으로 나타낸 측면도이고, 도 4는 본 발명에 따른 프로브 장치의 일실시예를 개략적으로 나타낸 사시도이다. 여기서, 도 3은 프로브 블록에 관한 도면이기는 하나, 프로브 장치의 일실시예를 더 명확하게 설명하기 위해 참고하기로 한다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 본 발명의 일실시예에 따른 프로브 장치(1)는 플레이트(2), 접촉부(3), 연결부(4), 및 구동칩(5)을 포함한다.
상기 플레이트(2)는 전체적으로 사각판형으로 형성되고, 돌출부(21)를 포함한다.
상기 플레이트(2)는 투명 또는 반투명한 글라스(Glass) 재질로 형성될 수 있다. 이에 따라, 사용자는 상기 플레이트(2)의 상면(2a)에서 저면(2b)에 결합되는 구성들을 식별할 수 있으므로, 상기 접촉부(3)를 디스플레이 패널의 전극패드에 정확하게 접촉시킬 수 있다.
상기 돌출부(21)는 플레이트(2)의 저면(2b)에서 하방(화살표 B 방향)으로 돌출되게 형성되고, 바람직하게는 플레이트(2)의 길이방향(화살표 C 방향)으로 연장되는 장방체로 형성될 수 있다.
상기 돌출부(21)는 상기 접촉부(3) 및 연결부(4)를 포함하여 플레이트(2)의 저면(2b)에서 하방(화살표 B 방향)으로 대략 20㎛ 두께로 돌출되게 형성되는 것이 바람직하다.
따라서, 상기 접촉부(3) 및 연결부(4)를 상기 플레이트(2)에서 돌출되게 형성되는 돌출부(21)에 형성함으로써, 상기 구동칩(5)을 상기 접촉부(3) 및 상기 연결부(4)에 정확하게 연결시킬 수 있다.
또한, 상기 접촉부(3) 및 상기 연결부(4)를 상기 돌출부(21)에 견고하게 결합시킬 수 있으므로, 구동칩(5)을 정확한 위치에 연결시키는데 실패한 경우, 구동칩(5)을 재연결시키기 위해 떼어내는 과정에서 상기 접촉부(3) 및 연결부(4)가 손상되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 구동칩(5)을 정확한 위치에 재연결시키면, 무결점의 프로브 장치(1)를 제조할 수 있다.
상기 돌출부(21)는 접촉돌출부(211) 및 연결돌출부(212)를 포함한다.
상기 접촉돌출부(211)는 일면(211a)에 접촉부(3)가 형성되고, 상기 플레이트(2)에서 상기 접촉부(3)가 형성되는 영역 범위 내에서 형성되며, 상기 연결돌출부(212)와 일정 거리 이격되게 형성될 수 있다.
상기 접촉돌출부(211)는 디스플레이 패널에서 복수의 전극패드(미도시)가 구비되는 영역 범위 내에서 플레이트(2)의 폭방향(화살표 D 방향)으로 소정 거리로 이격되면서 복수개가 형성될 수 있다.
이 경우, 상기 접촉돌출부(211)는 접촉부(3)가 전극패드의 피치에 상응하는 피치로 형성될 수 있도록 소정 거리로 이격되면서 복수개가 형성될 수 있다.
또한, 상기 접촉돌출부(211)가 플레이트(2)의 폭방향(화살표 D 방향) 길이보다 짧은 영역 범위 내에서 형성되는 경우, 상기 플레이트(2)에서 상기 접촉돌출 부(211)가 형성되는 영역 범위를 제외한 나머지 플레이트(2)는 불필요한 부분이다.
따라서, 도시되지는 않았지만, 상기 플레이트(2)는 제조시 접촉돌출부(211)가 형성되는 형태에 맞게 제조되거나, 추후 제거를 통해 접촉돌출부(211)가 형성되는 형태에 맞게 형성될 수도 있다. 상기 플레이트(2)의 제거는 포토 및 식각 공정을 통해 이루어질 수 있다.
상기 연결돌출부(212)는 일면(212a)에 연결부(4)가 형성되고, 상기 플레이트(2)에서 상기 연결부(4)가 형성되는 영역 범위 내에서 형성되며, 상기 접촉돌출부(211)와 일정 거리 이격되게 형성될 수 있다.
상기 연결돌출부(212)는 플레이트(2)의 폭방향(화살표 D 방향)으로 소정 거리로 이격되면서 복수개가 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 연결돌출부(212)는 연결부(4)가 구동칩(5) 및 연결기판(101) 각각에 연결될 수 있도록 소정 거리로 이격되면서 복수개가 형성되는 것이 바람직하다.
상기 연결돌출부(212)는 상기 플레이트(2)의 폭방향(화살표 D 방향) 양측으로 소정의 경사면을 가지며 확장되게 형성될 수 있다. 이에 따라 상기 연결돌출부(212)가 이격되는 거리는 상기 구동칩(5)에서 보다 상기 연결기판(101)에서 더 큰 거리로 이격될 수 있다.
이는 상기 구동칩(5)에서 상기 연결부(4)가 연결되는 부분의 피치보다 상기 연결기판(101)에서 상기 연결부(4)가 연결되는 부분의 피치가 더 크게 형성될 수 있기 때문이며, 상기 연결부(4)의 피치를 상기 구동칩(5) 및 연결기판(101)의 피치에 각각 상응하는 피치로 형성하기 위함이다.
상기 연결돌출부(212) 및 접촉돌출부(211)가 이격되는 공간에서는 상기 구동칩(5)이 상기 접촉부(3) 및 연결부(4)와 각각 연결될 수 있다.
상기 접촉부(3)는 디스플레이 패널에 구비되는 복수의 전극패드에 직접 접촉되고, 상기 전극패드에 상응하는 피치로 복수개가 형성될 수 있다. 상기 접촉부(3)는 상기 접촉돌출부(211)의 일면(211a)에 형성되는 것이 바람직하다.
상기 접촉부(3)는 일측이 상기 전극패드에 직접 접촉되고, 타측이 상기 구동칩(5)에 직접 연결된다.
따라서, 디스플레이 패널의 전극패드에 접촉되는 상기 접촉부에 상기 구동칩을 직접 연결시킴으로써, 연결부분을 줄일 수 있으며, 이에 따라 제조의 용이성 및 정확성을 향상시킬 수 있다.
또한, 상기 접촉부(3)의 일측은 전극패드에 상응하는 피치로 형성되고, 상기 접촉부(3)의 타측은 상기 구동칩(5)에 상응하는 피치로 형성될 수 있다.
일반적으로 상기 구동칩(5)에서 상기 접촉부(3)가 연결되는 부분 및 상기 전극패드는 동일한 피치로 형성되므로, 상기 접촉부(3) 및 접촉돌출부(211)는 플레이트(2)의 길이방향(C)으로 직선으로 연장되게 형성될 수 있다.
상기 연결부(4)는 구동칩(5) 및 연결기판(101)에 각각 연결되고, 복수개가 형성될 수 있다. 상기 연결부(4)는 상기 연결돌출부(212)의 일면(212a)에 형성되는 것이 바람직하다.
상기 연결부(4)는 연결기판(101)을 통해 PCB 및 검사시스템에 전기적으로 연결될 수 있고, 연결기판(101)은 연결부(4)가 연결되는 복수개의 연결단자(미도시) 를 포함하여 이루어질 수 있다.
상기 연결부(4)는 일측이 구동칩(5)에 직접 연결되고, 타측이 상기 연결기판(101)에 직접 연결된다. 상기 연결부(4)의 일측은 상기 구동칩(5)에 상응하는 피치로 형성되고, 상기 연결부(4)의 타측은 상기 연결기판(101)에 상응하는 피치로 형성될 수 있다.
이 경우, 상기 연결기판(101)의 피치는 구동칩(5)의 피치보다 크게 형성될 수 있으므로, 상기 연결부(4)는 플레이트(2)의 폭방향(화살표 D 방향) 양측으로 소정의 경사면을 가지며 확장되게 형성될 수 있다. 이에 따라 상기 연결부(4)가 이격되는 거리는 상기 구동칩(5)에서 보다 상기 연결기판(101)에서 더 큰 거리로 이격될 수 있다.
상기 연결부(4) 및 접촉부(3)는 전극패드, 구동칩(5), 및 검사시스템을 전기적으로 연결시킬 수 있도록 도전성 물질로 형성되는 것이 바람직하다.
여기서, 상기 돌출부(21), 접촉부(3), 및 연결부(4)는 MEMS 공정, 또는 포토 및 식각 공정 중 어느 하나 이상의 공정을 거쳐 형성될 수 있다.
상기 구동칩(5)은 일측이 상기 접촉부(3)에 연결되고, 타측이 상기 연결부(4)에 연결된다. 상기 구동칩(5)은 구동IC(Drive Integrated Circuit)로서, 검사하고자 하는 디스플레이 패널의 전극패드 각각에 대해 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출함으로써 디스플레이 패널의 불량 유무에 대한 검사공정을 수행할 수 있도록 한다. 상기 구동칩(5)은 COG Chip이 사용될 수 있다.
상기 구동칩(5)은 이방성도전필름(ACF, Anisotropic Conductive Film)을 이용하여 상기 접촉부(3) 및 연결부(4)에 연결될 수 있다.
이하에서는 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 여기서, 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 장치는 상술한 일실시예와 유사한 구성들을 포함하여 이루어지므로, 본 발명의 요지를 흐리지 않기 위해 차이점이 있는 구성만을 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명에 따른 프로브 장치의 다른 실시예를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 5를 참고하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 장치(1)는 상술한 일실시예와 차이점이 있는 구성으로, 플레이트(2)를 포함한다.
상기 플레이트(2)는 접촉부(3) 및 접촉돌출부(211)가 상기 전극패드에 접촉되는 방향(화살표 C 반대 방향)으로 돌출되게 형성될 수 있도록, 상기 접촉부(3) 및 접촉돌출부(211)가 돌출되는 영역이 제거될 수 있다. 상기 플레이트(2)의 제거는 포토 및 식각 공정에 의해 이루어질 수 있다.
따라서, 사용자는 상기 접촉부(3)를 전극패드에 용이하면서도 정확하게 접촉시킬 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널에 대한 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다.
이 경우, 상기 플레이트(2)는 불투명한 재질로 형성될 수 있고, 바람직하게는 세라믹으로 형성될 수 있다.
이하에서는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 프로브 장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 여기서, 본 발명의 또 다른 실시예 에 따른 프로브 장치는 상술한 일실시예와 유사한 구성들을 포함하여 이루어지므로, 본 발명의 요지를 흐리지 않기 위해 차이점이 있는 구성만을 설명하기로 한다.
도 6은 본 발명에 따른 프로브 장치의 또 다른 실시예를 개략적으로 나타낸 사시도이다. 도 6은 도 4의 프로브 장치가 상하 반전된 상태에서 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 장치를 도시한 것이다.
도 6을 참고하면, 본 발명의 다른 실시예에 다른 프로브 장치(1)는 상술한 일실시예와 차이점이 있는 구성으로서, 상기 플레이트(2)에 형성되는 위치정렬부(22)를 더 포함한다.
상기 위치정렬부(22)는 플레이트(2)에서 접촉돌출부(211)가 형성되는 반대면에서 돌출되게 형성된다. 즉, 상기 위치정렬부(22)는 상기 플레이트(2)의 상면(2a)에서 돌출되게 형성될 수 있고, 상기 접촉돌출부(211)와 일치하는 위치, 및 대략 일치하는 형태로 형성될 수 있다.
따라서, 사용자는 위치정렬부(22)를 이용하여 상기 접촉부(3)를 전극패드에 용이하면서도 정확하게 접촉시킬 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널에 대한 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다.
상기 위치정렬부(22)는 상기 접촉부(3)에 상응하는 피치로 형성되는 것이 바람직하다.
이 경우, 상기 위치정렬부(22)는 접촉돌출부(211) 및 접촉부(3)를 형성하는 공정과 동일한 공정을 통해 형성될 수 있고, 상기 플레이트(2)에 접촉돌출부(211) 및 접촉부(3)를 형성하기 위해 사용한 마스크를 활용하여 상기 위치정렬부(22)를 형성할 수 있다.
또한, 도시되지는 않았지만, 상기 위치정렬부(22)는 접촉부(3) 및 접촉돌출부(211)가 플레이트(2)의 폭방향(화살표 D 방향)으로 형성되는 영역의 양 끝단에만 형성될 수도 있다.
상기 위치정렬부(22)는 접촉부(3) 및 전극패드가 정확하게 접촉될 수 있도록 식별을 보조하는 식별부(221)를 포함할 수 있다. 상기 식별부(221)는 플레이트(2)의 재질과 구별될 수 있는 색상으로 이루어질 수 있고, 형광물질 등과 같이 식별이 용이한 재질로 형성될 수도 있다.
따라서, 사용자는 식별부(221)를 이용하여 상기 접촉부(3)를 전극패드에 더 용이하면서도 정확하게 접촉시킬 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널에 대한 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다.
상기 식별부(221)는 상기 위치정렬부(22) 및 상기 접촉돌출부(211)와 일치하는 위치, 및 대략 일치하는 형태로 형성될 수 있으며, 접촉돌출부(211) 및 접촉부(3)를 형성하기 위해 사용한 마스크를 활용하여 형성될 수 있다.
이하에서는 본 발명에 따른 프로브 블록의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 3 내지 도 6을 참고하면, 상기 프로브 블록(100)은 프로브 장치(1), 연결기판(101), 및 블록베이스(102)를 포함한다.
상기 프로브 장치(1)는 디스플레이 패널의 전극패드, 구동칩(5), 및 연결기판(101)을 전기적으로 연결시키고, 상술한 실시예들에 따른 프로브 장치(1)가 사용 될 수 있다. 상기 프로브 장치(1)는 상기 블록베이스(102)에 결합된다.
상기 연결기판(101)은 상기 연결부(4)와 연결되고, 상기 블록베이스(102)에 결합된다. 상기 연결기판(101)은 복수의 연결부(4)에 상응하는 피치로 형성되는 복수의 연결단자(미도시)를 포함하여 이루어질 수 있다.
상기 연결기판(101)은 FPC가 사용될 수 있고, PCB를 통해 검사시스템에 전기적으로 연결될 수 있으며, 이에 따라 상기 전극패드 및 프로브 장치(1)를 검사시스템에 전기적으로 연결시킬 수 있다.
상기 블록베이스(102)는 검사시스템에 장착되고, 상기 프로브 장치(1) 및 연결기판(101)이 결합된다.
상기 블록베이스(102)는 플레이트(2)의 길이방향(화살표 C 방향)과 동일한 방향으로 일정 길이 연장되어 형성되는 장방체로 형성될 수 있다.
여기서, 상기 블록베이스(102)는 일실시예 및 다른 실시예로 구현될 수 있는데, 이에 대해 순차적으로 설명한다.
먼저 도 3 내지 도 6을 참고하면, 본 발명의 일실시예에 따른 블록베이스(102)는 경사부(1021)를 포함한다.
상기 경사부(1021)는 도 3에 도시된 바와 같이, 접촉부(3)가 상기 전극패드에 접촉되는 방향(화살표 B 방향, 도 4에 도시됨)으로 경사지게 형성된다.
이에 따라, 상기 프로브 장치(1)는 경사부(1021)에 결합됨으로써, 상기 경사부(1021)가 기울어지는 각도만큼 접촉부(3)가 디스플레이 패널에 대해 경사진 상태로 전극패드에 접촉될 수 있다.
따라서, 상기 전극패드에 대한 상기 접촉부(3)의 접촉성을 향상시킬 수 있으며, 이에 따라 디스플레이 패널에 대한 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다.
또한, 상기 연결기판(101)은 경사부(1021)에서 꺾인 형태로 상기 연결부(4)에 연결될 수 있다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 블록베이스를 포함하는 프로브 블록을 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 3 내지 도 7을 참고하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 블록베이스(102)는 식별홈(1022)을 포함한다.
상기 식별홈(1022)은 블록베이스(102)의 일단에 형성되는 적어도 하나의 관통공이고, 상기 접촉부(3) 및 상기 전극패드가 정확하게 접촉될 수 있도록 한다. 즉, 사용자가 상기 접촉부(3) 및 상기 전극패드의 피치를 정확하게 일치시켜 접촉시킬 수 있도록, 상기 접촉부(3)의 위치를 용이하게 식별할 수 있도록 한다.
상기 식별홈(1022)은 접촉부(3) 및 접촉돌출부(211)가 플레이트(2)의 폭방향(화살표 D 방향)으로 형성되는 영역의 양 끝단이 표시되도록 형성되는 것이 바람직하다.
이러한, 식별홈(1022)은 상술한 프로브 장치(1)의 실시예들 중에서, 특히 플레이트가 투명 또는 반투명한 글라스(Glass) 재질로 형성되는 일실시예, 및 위치정렬부(22)를 포함하는 또 다른 실시예에서 유용하게 사용될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
도 1은 종래의 프로브 블록을 나타낸 사시도
도 2는 도 1의 A-A단면도
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 블록베이스를 포함하는 프로브 블록을 개략적으로 나타낸 측면도
도 4는 본 발명에 따른 프로브 장치의 일실시예를 개략적으로 나타낸 사시도
도 5는 본 발명에 따른 프로브 장치의 다른 실시예를 개략적으로 나타낸 사시도
도 6은 본 발명에 따른 프로브 장치의 또 다른 실시예를 개략적으로 나타낸 사시도
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 블록베이스를 포함하는 프로브 블록을 개략적으로 나타낸 평면도
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
1 : 프로브 장치 2 : 플레이트 3 : 접촉부 4 : 연결부 5 : 구동칩
21 : 돌출부 22 : 위치정렬부 211 : 접촉돌출부 212 : 연결돌출부
221 : 식별부 100 : 프로브 블록 101 : 연결기판 102 : 블록베이스
1021 : 경사부 1022 : 식별홈
10 : 종래의 프로브 블록 11 : 프로브조립체 12 : 칩글라스 13 : 구동칩
14 : 연결기판 15 : 블록베이스 111 : 프로브핀 121 : 코일
141 : 연결단자

Claims (10)

  1. 디스플레이 패널에 구비되는 복수의 전극패드에 직접 접촉되고, 상기 전극패드에 상응하는 피치로 형성되는 복수의 접촉부;
    연결기판에 연결되는 복수의 연결부;
    상기 접촉부 및 상기 연결부가 형성되는 돌출부를 포함하는 플레이트; 및
    일측이 상기 접촉부에 연결되고, 타측이 상기 연결부에 연결되는 구동칩을 포함하고;
    상기 플레이트는 상기 돌출부가 형성되는 반대면에서 돌출되게 형성되는 위치정렬부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 돌출부는 상기 접촉부가 형성되는 접촉돌출부, 및 상기 연결부가 형성되는 연결돌출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 접촉돌출부는 상기 접촉부가 상기 전극패드에 접촉되는 방향으로 상기 플레이트에서 돌출되게 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 플레이트는 글라스(Glass) 재질로 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 위치정렬부는 상기 접촉부에 상응하는 피치로 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 위치정렬부는 상기 접촉부 및 상기 전극패드가 정확하게 접촉될 수 있도록 식별을 보조하는 식별부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.
  8. 검사시스템에 장착되는 블록베이스;
    상기 블록베이스에 결합되는 제1항, 제2항, 제3항, 제4항, 제6항, 또는 제7항 중 어느 하나의 프로브 장치; 및
    연결부와 연결되는 연결기판을 포함하는 프로브 블록.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 블록베이스는 상기 접촉부가 상기 전극패드에 접촉되는 방향으로 경사지게 형성되는 경사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
  10. 제 8 항에 있어서, 상기 블록베이스는 상기 접촉부 및 상기 전극패드가 정확하게 접촉될 수 있도록 하는 적어도 하나의 식별홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
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