JP2000121667A - プロ−ブブロック - Google Patents
プロ−ブブロックInfo
- Publication number
- JP2000121667A JP2000121667A JP10288333A JP28833398A JP2000121667A JP 2000121667 A JP2000121667 A JP 2000121667A JP 10288333 A JP10288333 A JP 10288333A JP 28833398 A JP28833398 A JP 28833398A JP 2000121667 A JP2000121667 A JP 2000121667A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- liquid crystal
- crystal panel
- electrode
- probe block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブ
ロックにおいて、プロ−ブブロック電極3と電極12と
の位置合わせし易く、液晶パネル11の大きさの違いが
あっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査がで
きるようにする。 【解決手段】縦横に並べ配置するプロ−ブブロック電極
3を複数に分割されたそれぞれの透明基板2に所定数並
べて被着させユニット化されたプロ−ブブロック1に
し、液晶パネルの大きさに応じてプロ−ブブロック1の
数を組み合わせる。そして、透明基板2に光を透してプ
ロ−ブブロック電極3と電極12の位置合わせする。
ロックにおいて、プロ−ブブロック電極3と電極12と
の位置合わせし易く、液晶パネル11の大きさの違いが
あっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査がで
きるようにする。 【解決手段】縦横に並べ配置するプロ−ブブロック電極
3を複数に分割されたそれぞれの透明基板2に所定数並
べて被着させユニット化されたプロ−ブブロック1に
し、液晶パネルの大きさに応じてプロ−ブブロック1の
数を組み合わせる。そして、透明基板2に光を透してプ
ロ−ブブロック電極3と電極12の位置合わせする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネルの電気
特性を検査する検査用プロ−ブ装置のプロ−ブブロック
に関する。
特性を検査する検査用プロ−ブ装置のプロ−ブブロック
に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、解像度の高いファインピッチのカ
ラー液晶パネルのプローブブロックは、4層4段千鳥構
造で多数の針であるプロ−ブを並べて組み立ている。し
かしながら、針状のプローブとカラー液晶パネルの電極
の位置関係を検査装置の顕微鏡を使用し位置合わせて
も、手前側のプローブが奥側のプローブの上になり全数
を目視確認出来ないことがある。
ラー液晶パネルのプローブブロックは、4層4段千鳥構
造で多数の針であるプロ−ブを並べて組み立ている。し
かしながら、針状のプローブとカラー液晶パネルの電極
の位置関係を検査装置の顕微鏡を使用し位置合わせて
も、手前側のプローブが奥側のプローブの上になり全数
を目視確認出来ないことがある。
【0003】従って、全数の電極とプロ−ブとの位置合
わせの確認を充分できないまま検査すると、カラ−液晶
パネルが不良と判定され、この不良判定が、カラ−液晶
パネルの不良による線欠陥であるか、プロ−ブに起因す
るカラー液晶パネルの不良とみえるのかの判定が即座に
出来にくい。
わせの確認を充分できないまま検査すると、カラ−液晶
パネルが不良と判定され、この不良判定が、カラ−液晶
パネルの不良による線欠陥であるか、プロ−ブに起因す
るカラー液晶パネルの不良とみえるのかの判定が即座に
出来にくい。
【0004】このようなプロ−ブと電極の位置合わせを
確認し易くするプローブブロックが特開平10−132
852号公報にプロ−ブ基板として開示されている。こ
のプロ−ブ基板は、石英など透明な板から製作し、半導
体チップの電極パッドに対応する位置に配線パタ−ン上
から突出する導電性突起を設け、この透明なプロ−ブ基
板を半導体チップに被せ、この透明基板に光を透過さ
せ、半導体チップの電極パッドと導電性突起とを観察し
ながら電極パッドと導電性突起との位置合わせすること
を特徴としている。
確認し易くするプローブブロックが特開平10−132
852号公報にプロ−ブ基板として開示されている。こ
のプロ−ブ基板は、石英など透明な板から製作し、半導
体チップの電極パッドに対応する位置に配線パタ−ン上
から突出する導電性突起を設け、この透明なプロ−ブ基
板を半導体チップに被せ、この透明基板に光を透過さ
せ、半導体チップの電極パッドと導電性突起とを観察し
ながら電極パッドと導電性突起との位置合わせすること
を特徴としている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半導体
チップより数十倍大きい液晶パネルのプロ−ブブロック
に上述の透明基板を用いるにしても、プロ−ブ基板が大
きくなり装置も大掛かりとなり取り扱い難いという問題
がある。また、液晶パネルの大きさおよび電極の位置が
種々あり、それに応じて多数の透明基板を準備しなけれ
ばならず設備費が高くなる。しかも、液晶パネルの大き
さや電極の位置が異なる毎に、プロ−ブをもつ透明基板
を交換し位置合わせしなければならず準備作業に多大な
工数を浪費するという問題がある。
チップより数十倍大きい液晶パネルのプロ−ブブロック
に上述の透明基板を用いるにしても、プロ−ブ基板が大
きくなり装置も大掛かりとなり取り扱い難いという問題
がある。また、液晶パネルの大きさおよび電極の位置が
種々あり、それに応じて多数の透明基板を準備しなけれ
ばならず設備費が高くなる。しかも、液晶パネルの大き
さや電極の位置が異なる毎に、プロ−ブをもつ透明基板
を交換し位置合わせしなければならず準備作業に多大な
工数を浪費するという問題がある。
【0006】また、導電性突起をもつ配線を一枚の透明
基板に形成するにしても、透明基板自体が大きいので配
線が長くなる。その結果、電圧降下やクロスト−クが起
き、正確な検査ができなくなるという問題がある。
基板に形成するにしても、透明基板自体が大きいので配
線が長くなる。その結果、電圧降下やクロスト−クが起
き、正確な検査ができなくなるという問題がある。
【0007】従って、本発明の目的は、プロ−ブと電極
パッドの位置合わせし易く、液晶パネルの大きさの違い
があっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査が
できるプロ−ブブロックを提供することにある。
パッドの位置合わせし易く、液晶パネルの大きさの違い
があっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査が
できるプロ−ブブロックを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、液晶パ
ネルの周辺部に一方向に並べて配置される複数の電極の
それぞれに対応するプロ−ブブロック電極の複数本が下
面に形成されるとともに前記プロ−ブブロック電極の一
端から突出しプロ−ブヘッドの下降時に前記電極に当接
する突起電極を有する透明基板と、この透明基板を下方
に押さえる固定プレ−トを介して保持するコンタクトブ
ロックと、前記プロ−ブブロック電極のそれぞれの他端
と接続する複数のリ−ドをもつ液晶パネル駆動用半導体
装置とを備えるプロ−ブブロックである。
ネルの周辺部に一方向に並べて配置される複数の電極の
それぞれに対応するプロ−ブブロック電極の複数本が下
面に形成されるとともに前記プロ−ブブロック電極の一
端から突出しプロ−ブヘッドの下降時に前記電極に当接
する突起電極を有する透明基板と、この透明基板を下方
に押さえる固定プレ−トを介して保持するコンタクトブ
ロックと、前記プロ−ブブロック電極のそれぞれの他端
と接続する複数のリ−ドをもつ液晶パネル駆動用半導体
装置とを備えるプロ−ブブロックである。
【0009】前記液晶パネル駆動用半導体装置は前記透
明基板の下面に被着されていることかあるいは前記液晶
パネル駆動用半導体装置は前記透明基板の上面レベル位
置にあることが望ましい。また、前記固定プレ−トの前
記透明基板への押さえる部分が前記突起電極側にあるこ
とが望ましい。さらに、前記透明基板が石英であること
が望ましい。一方、前記プロ−ブブロック電極は透明で
ない金属で形成されていることが望ましい。
明基板の下面に被着されていることかあるいは前記液晶
パネル駆動用半導体装置は前記透明基板の上面レベル位
置にあることが望ましい。また、前記固定プレ−トの前
記透明基板への押さえる部分が前記突起電極側にあるこ
とが望ましい。さらに、前記透明基板が石英であること
が望ましい。一方、前記プロ−ブブロック電極は透明で
ない金属で形成されていることが望ましい。
【0010】
【発明の実施の形態】次に本発明について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【0011】図1(a)および(b)は本発明の一実施
の形態におけるプロ−ブブロックを説明するためにプロ
−ブ装置を示す平面図およびAA断面図、図2(a)お
よび(b)ならびに(c)は図1の透明基板を抽出して
示す上面図および正面図ならびに側面図である。液晶パ
ネル用のプロ−ブ装置は、図1(a)に示すように、矩
形状の液晶パネル11の長尺辺と短尺辺に沿って並べ配
置された複数のプロ−ブブロック1を備えている。
の形態におけるプロ−ブブロックを説明するためにプロ
−ブ装置を示す平面図およびAA断面図、図2(a)お
よび(b)ならびに(c)は図1の透明基板を抽出して
示す上面図および正面図ならびに側面図である。液晶パ
ネル用のプロ−ブ装置は、図1(a)に示すように、矩
形状の液晶パネル11の長尺辺と短尺辺に沿って並べ配
置された複数のプロ−ブブロック1を備えている。
【0012】このプロ−ブブロック1は、図1(b)に
示すように、プロ−ブの機能を有し紙面の垂直方向に並
べて裏面に形成される複数のプロ−ブブロック電極3と
このプロ−ブブロック電極3の先端から突出し液晶パネ
ル11の電極12と接触する突起電極4とをもつ透明基
板2と、この透明基板2を支持し固定プレ−ト7を介し
て透明基板2を押さえるコンタクトブロック6と、図2
に示すように、透明基板2の裏面に載置されそれぞれ対
応するプロ−ブブロック電極3と接続する出力リ−ドを
有するとともにフレキシブルケ−ブル8を介してプリン
ト配線板9と接続する入力リ−ドをもつICチップ5と
を備えている。
示すように、プロ−ブの機能を有し紙面の垂直方向に並
べて裏面に形成される複数のプロ−ブブロック電極3と
このプロ−ブブロック電極3の先端から突出し液晶パネ
ル11の電極12と接触する突起電極4とをもつ透明基
板2と、この透明基板2を支持し固定プレ−ト7を介し
て透明基板2を押さえるコンタクトブロック6と、図2
に示すように、透明基板2の裏面に載置されそれぞれ対
応するプロ−ブブロック電極3と接続する出力リ−ドを
有するとともにフレキシブルケ−ブル8を介してプリン
ト配線板9と接続する入力リ−ドをもつICチップ5と
を備えている。
【0013】透明基板2は石英もしくはホウケイ酸ガラ
スから製作される。機械的な性質が優れている石英で製
作することが望ましい。また、プロ−ブブロック電極3
は、透明基板2の裏面をITO膜のように透明でないク
ロムなどの金属蒸着し、しかる後、リソグラフィ技術に
より等間隔に複数本に分割される。そして、突起電極4
は、それぞれのプロ−ブブロック電極3の先端部以外を
マスキングし、露出した先端部を電解メッキを行い厚く
し形成する。
スから製作される。機械的な性質が優れている石英で製
作することが望ましい。また、プロ−ブブロック電極3
は、透明基板2の裏面をITO膜のように透明でないク
ロムなどの金属蒸着し、しかる後、リソグラフィ技術に
より等間隔に複数本に分割される。そして、突起電極4
は、それぞれのプロ−ブブロック電極3の先端部以外を
マスキングし、露出した先端部を電解メッキを行い厚く
し形成する。
【0014】透明基板2の裏面に貼り付けられたICチ
ップ5は、ドライバICであって、液晶パネル11を駆
動する半導体装置である。また、クロスト−クや電圧降
下が起きないように、プロ−ブブロック電極3を短くす
る位置にICチップ5を配置している。また、固定プレ
−ト7の透明基板2への押さえる部分は突起電極4側が
望ましい。
ップ5は、ドライバICであって、液晶パネル11を駆
動する半導体装置である。また、クロスト−クや電圧降
下が起きないように、プロ−ブブロック電極3を短くす
る位置にICチップ5を配置している。また、固定プレ
−ト7の透明基板2への押さえる部分は突起電極4側が
望ましい。
【0015】次に、プロ−ブブロック電極3の突起電極
4と液晶パネル11の電極との位置合わせについて説明
する。まず、図1(b)のコンタクトブロック6をXY
調整機構(図示せず)を介して保持するプロ−ブヘッド
を僅かに上昇させる。そして、ステ−ジ10と透明基板
2との隙間に液晶パネル11を挿入する。挿入された液
晶パネル11はストッパに当接し位置決めされる。
4と液晶パネル11の電極との位置合わせについて説明
する。まず、図1(b)のコンタクトブロック6をXY
調整機構(図示せず)を介して保持するプロ−ブヘッド
を僅かに上昇させる。そして、ステ−ジ10と透明基板
2との隙間に液晶パネル11を挿入する。挿入された液
晶パネル11はストッパに当接し位置決めされる。
【0016】次に、突起電極4が液晶パネル11の電極
12に接触しない程度にプロ−ブヘッドを降ろし、液晶
パネル11の上部にある照明ランプを点灯し、突起電極
4の位置と液晶パネル11の電極12の位置を顕微鏡で
観察しながら、XY調整機構により突起電極4を移動さ
せ、突起電極4と液晶パネル11の電極12と一致させ
る。そして、XY調整機構のクランプを動作させプロ−
ブブロック1を固定する。
12に接触しない程度にプロ−ブヘッドを降ろし、液晶
パネル11の上部にある照明ランプを点灯し、突起電極
4の位置と液晶パネル11の電極12の位置を顕微鏡で
観察しながら、XY調整機構により突起電極4を移動さ
せ、突起電極4と液晶パネル11の電極12と一致させ
る。そして、XY調整機構のクランプを動作させプロ−
ブブロック1を固定する。
【0017】このような操作を個々のプロ−ブブロック
1について行い位置合わせを完了する。なお、プロ−ブ
ブロック1のプロ−ブブロック電極3の全ては、液晶パ
ネル11の電極と同じように等間隔に固定されているの
で、位置合わせのとき、一本のプロ−ブブロック電極3
を合わせれば、全ての電極位置合わせができる。このこ
とは、従来のように、変形し易い針状のプロ−ブがブロ
ックから多数派生している場合より早く調整できる。
1について行い位置合わせを完了する。なお、プロ−ブ
ブロック1のプロ−ブブロック電極3の全ては、液晶パ
ネル11の電極と同じように等間隔に固定されているの
で、位置合わせのとき、一本のプロ−ブブロック電極3
を合わせれば、全ての電極位置合わせができる。このこ
とは、従来のように、変形し易い針状のプロ−ブがブロ
ックから多数派生している場合より早く調整できる。
【0018】また、図1(a)に示す液晶パネル11の
大きさより大きい液晶パネルの場合は、プロ−ブブロッ
ク1を縦なり横に追加すれば良い。また、小さい液晶パ
ネルの場合は、逆に、減らせば良い。このようにプロ−
ブ装置に汎用性をもたせるには、プロ−ブヘッドを最大
の液晶パネルに適合するように製作し、液晶パネルの最
大のものから最小のものに適用できるように、プロ−ブ
ブロック1の幅寸法を最大公約寸法にすることが望まし
い。
大きさより大きい液晶パネルの場合は、プロ−ブブロッ
ク1を縦なり横に追加すれば良い。また、小さい液晶パ
ネルの場合は、逆に、減らせば良い。このようにプロ−
ブ装置に汎用性をもたせるには、プロ−ブヘッドを最大
の液晶パネルに適合するように製作し、液晶パネルの最
大のものから最小のものに適用できるように、プロ−ブ
ブロック1の幅寸法を最大公約寸法にすることが望まし
い。
【0019】図3は図1のプロ−ブブロックの変形例を
示す断面図である。このプロ−ブブロックは、図3に示
すように、プロ−ブブロック電極3aをより短くするた
めに、透明基板2aの長さを短くし、後端をR状に研磨
加工し、裏面から表面側に渡り蒸着法とエッチング法に
よりプロ−ブブロック電極3aを形成している。
示す断面図である。このプロ−ブブロックは、図3に示
すように、プロ−ブブロック電極3aをより短くするた
めに、透明基板2aの長さを短くし、後端をR状に研磨
加工し、裏面から表面側に渡り蒸着法とエッチング法に
よりプロ−ブブロック電極3aを形成している。
【0020】また、プロ−ブヘッドが下降させるとき
に、液晶パネル11より延在する構成部品(図示せず)
にICチップ5が干渉しないように、ドライブ用のIC
チップ5は透明基板2aの上側面にシ−トを介して取り
付けたことである。すなわち、ICチップ5は表面にI
Cリ−ドが形成されたシ−トに搭載されている。そし
て、ICチップの出力リ−ドはそれぞれ対応するプロ−
ブブロック電極2aに接続されている。一方、ICチッ
プ5の入力リ−ドはフレキシブルケ−ブル8を介してプ
リント配線板9のそれぞれ対応する端子に接続されてい
る。
に、液晶パネル11より延在する構成部品(図示せず)
にICチップ5が干渉しないように、ドライブ用のIC
チップ5は透明基板2aの上側面にシ−トを介して取り
付けたことである。すなわち、ICチップ5は表面にI
Cリ−ドが形成されたシ−トに搭載されている。そし
て、ICチップの出力リ−ドはそれぞれ対応するプロ−
ブブロック電極2aに接続されている。一方、ICチッ
プ5の入力リ−ドはフレキシブルケ−ブル8を介してプ
リント配線板9のそれぞれ対応する端子に接続されてい
る。
【0021】なお、フレキシブルケ−ブル8は、プロ−
ブヘッドが上下動する際に、リ−ド接続部に力が加わら
ないように長さに留めできるだけ短くする。このプロ−
ブブロックは、ICチップ5のリ−ドを含むフレキシブ
ルケ−ブル8およびICチップ5のリ−ドを含むプロ−
ブブロック電極3aで構成される配線長が短くなりクロ
スト−クや電圧降下による信号伝達不良がなくなる。言
い換えれば、ドライバICや制御回路部が実装されたカ
ラー液晶パネルのときの配線長にすることが望ましい。
ブヘッドが上下動する際に、リ−ド接続部に力が加わら
ないように長さに留めできるだけ短くする。このプロ−
ブブロックは、ICチップ5のリ−ドを含むフレキシブ
ルケ−ブル8およびICチップ5のリ−ドを含むプロ−
ブブロック電極3aで構成される配線長が短くなりクロ
スト−クや電圧降下による信号伝達不良がなくなる。言
い換えれば、ドライバICや制御回路部が実装されたカ
ラー液晶パネルのときの配線長にすることが望ましい。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、縦横に並
べ配置するプロ−ブを複数に分割されたそれぞれの透明
基板に所定数並べて被着させユニット化することによっ
て、液晶パネルのサイズに応じてユニット化されたプロ
−ブブロックの数を組み込むことができるので、汎用性
が高く設備コストが安くなるという効果がある。
べ配置するプロ−ブを複数に分割されたそれぞれの透明
基板に所定数並べて被着させユニット化することによっ
て、液晶パネルのサイズに応じてユニット化されたプロ
−ブブロックの数を組み込むことができるので、汎用性
が高く設備コストが安くなるという効果がある。
【0023】また、プロ−ブである複数の電極が一定の
ピッチで透明基板に固定されているので、従来のように
プロ−ブの変形が起きなく、液晶パネルの一つの電極と
透明基板の一つの電極を透明基板を通して位置合わせす
れば、透明基板にある電極と液晶パネルの電極の全てが
位置合わせ出来るので、調整時間を大幅に短縮できると
いう効果がある。
ピッチで透明基板に固定されているので、従来のように
プロ−ブの変形が起きなく、液晶パネルの一つの電極と
透明基板の一つの電極を透明基板を通して位置合わせす
れば、透明基板にある電極と液晶パネルの電極の全てが
位置合わせ出来るので、調整時間を大幅に短縮できると
いう効果がある。
【0024】さらに、液晶パネルを駆動するドライバI
Cを透明基板の近くに載置することによって配線の長さ
を短くでき、配線間のクロスト−クや電圧降下による信
号伝達障害が無くなり、それによる誤判定の無い信頼性
の高い検査ができるという効果がある。
Cを透明基板の近くに載置することによって配線の長さ
を短くでき、配線間のクロスト−クや電圧降下による信
号伝達障害が無くなり、それによる誤判定の無い信頼性
の高い検査ができるという効果がある。
【図1】本発明の一実施の形態におけるプロ−ブブロッ
クを説明するためにプロ−ブ装置を示す平面図およびA
A断面図である。
クを説明するためにプロ−ブ装置を示す平面図およびA
A断面図である。
【図2】図1の透明基板を抽出して示す上面図および正
面図ならびに側面図である。
面図ならびに側面図である。
【図3】図1のプロ−ブブロックの変形例を示す断面図
である。
である。
1 プロ−ブブロック 2,2a 透明基板 3,3a プロ−ブブロック電極 4 突起電極 5 ICチップ 6 コンタクトブロック 7 固定プレ−ト 8 フレキシブルケ−ブル 9 プリント配線板 10 ステ−ジ 11 液晶パネル 12 電極
Claims (6)
- 【請求項1】 液晶パネルの周辺部に一方向に並べて配
置される複数の電極のそれぞれに対応するプロ−ブブロ
ック電極の複数本が下面に形成されるとともに前記プロ
−ブブロック電極の一端から突出しプロ−ブヘッドの下
降時に前記電極に当接する突起電極を有する透明基板
と、この透明基板を下方に押さえる固定プレ−トを介し
て保持するコンタクトブロックと、前記プロ−ブブロッ
ク電極のそれぞれの他端と接続する複数のリ−ドをもつ
液晶パネル駆動用半導体装置とを備えることを特徴とす
るプロ−ブブロック。 - 【請求項2】 前記液晶パネル駆動用半導体装置は前記
透明基板の下面に被着されていることを特徴とする請求
項1記載のプロ−ブブロック。 - 【請求項3】 前記液晶パネル駆動用半導体装置は前記
透明基板の上面レベル位置にあることを特徴とする請求
項1記載のプロ−ブブロック。 - 【請求項4】 前記固定プレ−トの前記透明基板への押
さえる部分が前記突起電極側にあることを特徴とする請
求項1または請求項2あるいは請求項3記載のプロ−ブ
ブロック。 - 【請求項5】 前記透明基板が石英であることを特徴と
する請求項1、請求項2、請求項3および請求項4のい
ずれか記載のプロ−ブブロック。 - 【請求項6】 前記プロ−ブブロック電極は透明でない
金属で形成されていることを特徴とする請求項1、請求
項2、請求項、請求項4および請求項5のいずれか記載
のプロ−ブブロック。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10288333A JP2000121667A (ja) | 1998-10-09 | 1998-10-09 | プロ−ブブロック |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10288333A JP2000121667A (ja) | 1998-10-09 | 1998-10-09 | プロ−ブブロック |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000121667A true JP2000121667A (ja) | 2000-04-28 |
Family
ID=17728840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10288333A Pending JP2000121667A (ja) | 1998-10-09 | 1998-10-09 | プロ−ブブロック |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000121667A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009103714A (ja) * | 2009-02-06 | 2009-05-14 | Yunikon Kk | フラットディスプレイパネル検査用プローブ基板 |
JP2012215534A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-11-08 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
WO2012099405A3 (en) * | 2011-01-21 | 2012-11-22 | Pro-2000 Co. Ltd. | Probe block |
-
1998
- 1998-10-09 JP JP10288333A patent/JP2000121667A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009103714A (ja) * | 2009-02-06 | 2009-05-14 | Yunikon Kk | フラットディスプレイパネル検査用プローブ基板 |
WO2012099405A3 (en) * | 2011-01-21 | 2012-11-22 | Pro-2000 Co. Ltd. | Probe block |
JP2012215534A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-11-08 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100787160B1 (ko) | 평판표시소자 테스트를 위한 검사장치 및 그 제조방법 | |
JP3592831B2 (ja) | プローブユニット及びその調節方法 | |
JP2000121667A (ja) | プロ−ブブロック | |
KR100951717B1 (ko) | 프로브 블럭 | |
JPH10206464A (ja) | プローブ装置 | |
EP2128685A1 (en) | Liquid crystal display apparatus and method for manufacturing liquid crystal display apparatus | |
JPH08304846A (ja) | 液晶表示素子の検査装置 | |
KR20050003519A (ko) | 액정표시장치 검사용 프루브 장치 및 그 제조방법 | |
JP2002174644A (ja) | プローブブロック | |
JP3544036B2 (ja) | ベアチップテスト用ソケット | |
KR200458562Y1 (ko) | 필름 시트 형 프로브를 가진 액정 패널 테스트 프로브 장치 | |
JP3187855B2 (ja) | 表示パネル用プローバ | |
KR100657768B1 (ko) | 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치 | |
KR100820277B1 (ko) | 프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록 | |
JPH09159694A (ja) | Lsiテストプローブ装置 | |
KR20080005592U (ko) | 프로브유닛 | |
JP2544186B2 (ja) | プロ―ブ装置 | |
KR100328903B1 (ko) | 복수의 도전성 패드를 구비한 검사 대상물에 복수의 전기적인 접속을 제공하고 유지하기 위한 방법 | |
KR20020093383A (ko) | 엘시디 검사용 프로브 카드 | |
KR20030044660A (ko) | 평판 디스플레이 패널 테스트 장치 | |
JPH10186394A (ja) | 検査装置及び液晶表示装置の検査方法 | |
JPH05119336A (ja) | 液晶表示パネルの表示試験装置 | |
JP3285465B2 (ja) | 表示パネル検査用ソケット | |
JPH0833415B2 (ja) | プローブカード | |
JPH05224228A (ja) | プロービング装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010206 |