KR20030044660A - 평판 디스플레이 패널 테스트 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 패널 테스트 장치에 관한 것으로, 평판 디스플레이 패널의 생산라인에서 평판 디스플레이 패널 테스트 시 테스트 장치에 손쉽게 평판 디스플레이 패널을 접촉시켜 검사를 용이하게 하기 위하여, 평판 디스플레이 패널의 화면 검사 시 패널과 테스트 장치의 접촉면에 골드 플래티드 와이어(Gold Plated Wire)를 사용하여 테스트한다. 그리하여, 본 발명은 평판 디스플레이 패널의 검사를 구조가 간단하고 제작이 용이한 장치로 가능하게 하는 효과와, 골드 플래티드 와이어의 재질이 금 소재이기 때문에 전류 누설이나 신호 왜곡에 대한 신뢰성이 높은 효과가 있다.

Description

평판 디스플레이 패널 테스트 장치{Apparatus for testing flat-panel display panel}

본 발명은 평판 디스플레이 패널 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 평판 디스플레이 패널의 화면 검사 시 패널과 테스트 장치의 접촉면에 골드 플래티드 와이어(Gold Plated Wire)를 사용하여 테스트하는 평판 디스플레이 패널 테스트 장치에 관한 것이다.

유기 EL 패널의 생산 공정 중 유기 EL 패널의 제작 후 패널을 테스트하고자할 때, 패널에 FPC(Flat Printed Circuit)나 COF(Chip On Film) 등을 부착하고 구동 IC와 연결하여 테스트할 경우에는 패널이 불량일 경우 재생이 어렵고 부품 단가가 비싼 관계로 경비 손실에 부담이 된다.

이하, 종래기술에 대하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 1은 종래의 유기 EL 패널 테스트 장치를 나타낸다.

종래의 유기 EL 패널 테스트 장치는 화상 신호를 제공하는 OLED 패턴 발생기(Organic Light Emitting Diode Pattern Generator; 2)와, 상기 OLED 패턴 발생기(2)로부터 계조 데이터 신호를 받아 구동 IC(8a, 8b)를 통하여 유기 EL 패널(12)로 전달하는 PCB(Printed Circuit Board; 4a) 및 상기 OLED 패턴 발생기(2)로부터 스캔 신호를 받아 구동 IC(8c, 8d)를 통하여 유기 EL 패널(12)로 전달하는 PCB(4b)로 구성된다.

그리고, 상기 OLED 패턴 발생기(2)와 각 PCB(4a, 4b)는 커넥터(Connector; 6a, 6b)로써 연결되고, 상기 PCB(4a, 4b)는 핀(10a, 10b)을 구비하여, 상기 핀(10a, 10b)에 유기 EL 패널(12)을 접촉시킨다.

즉, OLED 패턴 발생기(2)로부터 화상 신호가 발생되면, 각 PCB(4a, 4b)의 구동 IC(8a 내지 8d)는 각 핀(10a, 10b)을 통하여 상기 유기 EL 패널(12)로 화상 신호를 전송하고 계조 데이터 신호와 스캔 신호에 의해 유기 EL 패널(12)이 검사된다.

상기와 같은 도 1의 구성은 평면적인 배치에 의한 설명으로, 실질적으로는 검사하고자 하는 유기 EL 패널(12)을 핀(10a, 10b)의 상부에 안착시키는 구조이다.

이에 대하여, 도 2는 유기 EL 패널을 테스트할 때 유기 EL 패널과 핀의 접촉 부분의 실질적인 단면을 나타내는 것으로, 핀(16)의 상부에 유기 EL 패널(12)이 놓여져 있는 수직적인 구조를 보여준다.

여기서 핀(16)은 유기 EL 패널(14)의 패드에 일대일로 접촉하여 신호를 전송하고 유기 EL 패널(14)에 화면을 디스플레이 시켜 패널의 양·불 판정을 할 수 있게 한다.

그러나, 상술된 바와 같은 핀 타입 접촉 장치는 유기 EL 패널의 패드 간격이 약 90㎛로 매우 협소하여 유기 EL 패널과의 접촉이 어렵고 핀의 제작이 어려운 문제점이 있다.

상기와 같은 문제점을 해결하고자, 본 발명의 목적은 평판 디스플레이 패널의 생산라인에서 평판 디스플레이 패널 테스트 시 테스트 장치에 손쉽게 평판 디스플레이 패널을 접촉시켜 검사를 용이하게 하고자 함에 있고, 이를 위하여 제작이 용이한 접촉 장치를 구현한다.

도 1은 종래의 유기 EL 패널 테스트 장치를 나타내는 도면.

도 2는 테스트 시 종래 패널과 핀이 접촉되는 상태를 나타내는 단면도.

도 3은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널 테스트 장치를 나타내는 도면.

도 4는 본 발명에 따른 테스트 시 패널의 접촉 부분을 나타내는 단면도.

도 5는 본 발명에 따른 패널과 골드 플래티드 와이어의 접촉 방법을 나타내는 도면.

도 6은 도 4의 A-A 단면도.

이를 위하여 테스트에 필요한 화상 신호를 제공하는 OLED 패턴 발생기를 이용하여 평판 디스플레이 패널을 테스트하는 장치에 있어서, 상기 테스트를 위한 화상 신호를 입력 받아서 테스트 신호를 애노드 패드와 캐소드 패드로 출력하는 PCB, 상기 PCB의 애노드 패드와 캐소드 패드에 각각 일단이 연결되고 다른 일단이 상기 평판 디스플레이 패널이 안착될 위치에 배치 가능한 FPC, 상기 FPC 상에 전기적 경로 형성을 위하여 배치되는 골드 플래티드 와이어를 구비함으로써, 상기 골드 플래티드 와이어를 통하여 상기 평판 디스플레이 패널이 전기적으로 상기 PCB와 접속됨을 특징으로 하며, 여기에서 상기 골드 플래티드 와이어는, 실리콘의 일직선 상에 등간격으로 금이 삽입되어 있고, 또한 상기와 같이 삽입되어 있는 금이 횡측으로 등간격으로 배치되어, 평판 디스플레이 패널 테스트 시 필요에 따라 잘라서 사용할 수 있는 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 보다 상세히 설명한다.

도 3은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널 테스트 장치를 나타내며, 패널에 화상 신호를 제공하는 OLED 패턴 발생기(20)와 OLED 패턴 발생기(20)로부터 패널의 계조 데이터 신호와 스캔 신호를 전송 받아 평판 디스플레이 패널(30)을 테스트하는 PCB(22)로 구비된다.

여기서, PCB(22)는 OLED 패턴 발생기(20)와 연결하는 커넥터(24a, 24b)와 화상 신호를 전달시키는 FPC(26a, 26b) 및 골드 플래티드 와이어(28a, 28b)로 구비된다.

OLED 패턴 발생기(20)는 커넥터(24a, 24b)와 연결된 와이어를 이용하여 화상 신호를 PCB(22)로 전달한다.

그리고, FPC(26a, 26b)는 구부리거나 휘기 쉽고(Flexible) 세부적인 설계가 가능한 것으로 본 발명에서는 평판 디스플레이 패널에 신호를 전달하기 위해서는 아주 협소한 간격의 신호선이 필요하므로 사용된다.

그리하여, 본 발명에 사용된 FPC(26a, 26b)는 PCB(22)와의 연결부분은 면적이 넓은 반면, 골드 플래티드 와이어와 이어지는 부분은 평판 디스플레이 패널의 크기와 같으면서 내부 신호선은 평판 디스플레이 패널의 패드처럼 촘촘하게 설계된다.

상기와 같은 골드 플래티드 와이어를 이용한 패널 테스트 장치의 전체 동작 설명을 하면 다음과 같다.

평판 디스플레이 패널(30)을 PCB(22)의 골드 플래티드 와이어(28a, 28b) 상부에 안착시키고 OLED 패턴 발생기(20)에서 화상 신호를 발생시키면 계조 데이터 신호와 스캔 신호가 각각 커넥터(24a, 24b)를 통하여 PCB(22)로 전달이 된다.

그러면 FPC(26a, 26b)는 PCB(22)로부터 받은 계조 데이터 신호와 스캔 신호를 골드 플래티드 와이어(28a, 28b)를 통하여 전달하고 계조 데이터 신호와 스캔 신호는 평판 디스플레이 패널(30)로 전달되어 평판 디스플레이 패널(30)을 검사할 수 있게 된다.

상기와 같은 방법으로 작업자는 검사에 필요한 패턴을 변경시켜 보면서 평판 디스플레이 패널의 양·불 판정을 내릴 수 있다.

도 3에서는 평면적으로 배치관계가 설명되었으나, 이는 실질적으로 PCB(22) 상에서 FPC(26a, 26b) 상에 골드 플래티드 와이어(28a, 28b)를 배치 한 후 평판 디스플레이 패널(30)을 안착시키는 구조로 도 4에 도시된 바와 같다.

도면에 따르면, FPC(34) 위에 골드 플래티드 와이어(36)가 있고 골드 플래티드 와이어(36) 상부에 평판 디스플레이 패널(38)이 놓여 있는 구성을 가짐으로써,EPC(34)와 골드 플래티드 와이어(36) 및 평판 디스플레이 패널(38)에 수직적인 신호 전달이 이루어진다.

그리고, 골드 플래티드 와이어(36) 위에 평판 디스플레이 패널(38)을 안착시키고 검사를 함으로써, FPC(34)를 직접 평판 디스플레이 패널(38)에 부착하는 것이 아니기 때문에 검사 과정에서 평판 디스플레이 패널(38)의 착탈이 편리하고, 평판 디스플레이 패널(38)이 불량일 경우에도 평판 디스플레이 패널(38)의 재생이 가능하게 된다.

상기와 같이 본 발명에 사용되는 골드 플래티드 와이어는 도 5와 같이 평판 디스플레이 패널에 연결된다.

즉, 평판 디스플레이 패널에는 애노드 패드(40)와 캐소드 패드(42)가 있고, 애노드 패드(40)와 캐소드 패드(42) 아래에, 실리콘(48) 안에 금(50)을 등간격으로 삽입하여 만든 골드 플래티드 와이어(44, 46)가 놓이게 되는 것이다.

여기서, 골드 플래티드 와이어(44, 46)는 실리콘의 일직선 상에 등간격으로 금이 삽입되어 있고, 또한 상기와 같이 삽입되어 있는 금이 횡측으로 등간격으로 배치되어 있다.

골드 플래티드 와이어(44, 46)의 간격 Ps는 0.10 ± 0.05 ㎜로 실제 패드 간격보다 적으므로 적어도 하나 이상의 금의 열은 패드와 접촉하게 된다.

그리고, 간격 Pi는 0.05 ± 0.03 ㎜로, 금(50)을 각 패드(40, 42)의 길이(La, Lc) 만큼 연결되게 삽입하지 않고 Pi 만큼 일정한 간격을 두고 삽입한 것은, 평판 디스플레이 패널마다 각 패드(40, 42)의 길이(La, Lc)가 달라질 수 있으므로, 골드 플래티드 와이어(44, 46)를 각 패드(40, 42)의 길이(La, Lc)에 맞게 잘라서 사용할 수 있도록 범용적으로 만들기 위함이다.

보다 상세하게, 도 6은 도 5의 A-A 단면도로 Pi의 간격으로 금이 삽입되어 있는 부분를 나타내며, 실리콘(52)에 금(54)이 Pi 간격마다 수직적으로 삽입되어 있어 패드의 길이에 따라 실리콘 부분을 잘라 쓸 수 있도록 되어 있다.

만약, 금이 일정한 간격 없이 전체적으로 삽입되어 있다면 금이 도체이기 때문에 자르기 어렵게 되므로, 각 평판 디스플레이 패널의 패드 길이에 맞는 골드 플래티드 와이어를 준비해야 하기 때문에 일반적으로 사용할 수 없게 된다.

상술된 바와 같이, 본 발명은 평판 디스플레이 패널의 검사를 구조가 간단하고 제작이 용이한 장치로 가능하게 하는 효과가 있다.

그리고, 골드 플래티드 와이어의 재질이 금 소재이기 때문에 전류 누설이나 신호 왜곡에 대한 신뢰성이 높은 효과가 있다.

Claims (3)

1. 테스트에 필요한 화상 신호를 제공하는 OLED(Organic Light Emitting Diode) 패턴 발생기를 이용하여 평판 디스플레이 패널을 테스트하는 장치에 있어서,

   상기 테스트를 위한 화상 신호를 입력 받아서 테스트 신호를 애노드 패드와 캐소드 패드로 출력하는 PCB(Printed Circuit Board),

   상기 PCB의 애노드 패드와 캐소드 패드에 각각 일단이 연결되고 다른 일단이 상기 평판 디스플레이 패널이 안착될 위치에 배치 가능한 FPC(Flat Printed Circuit),

   상기 FPC 상에 전기적 경로 형성을 위하여 배치되는 골드 플래티드 와이어를 구비함으로써,

   상기 골드 플래티드 와이어를 통하여 상기 평판 디스플레이 패널이 전기적으로 상기 PCB와 접속됨을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널 테스트 장치.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 골드 플래티드 와이어는,

   실리콘의 일직선 상에 등간격으로 금이 삽입되어 있고, 또한 상기와 같이 삽입되어 있는 금이 횡측으로 등간격으로 배치되어, 평판 디스플레이 패널 테스트 시 필요에 따라 잘라서 사용할 수 있는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널 테스트 장치.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 FPC는,

   애노드 패드와 캐소드 패드에 접속되는 길이보다 상기 골드 플래티드 와이어와 접속되는 길이가 짧게 구성됨을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널 테스트 장치.