KR100751237B1

KR100751237B1 - 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록

Info

Publication number: KR100751237B1
Application number: KR1020070002360A
Authority: KR
Inventors: 윤재완
Original assignee: 주식회사 나노픽셀
Priority date: 2006-11-11
Filing date: 2007-01-09
Publication date: 2007-08-23
Also published as: KR20060122804A

Abstract

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서, 상세하게는 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널을 검사할 시에 별도의 조작 없이도 적합한 검사공정을 수행할 수 있도록 구현하여, 검사공정의 용이성과 그에 따른 작업시간을 단축시킬 수 있고, TCP가 미탑재된 디스플레이 패널에 구비된 다수의 게이트라인과 데이터라인 각각에 대한 불량 유무 판별의 정확성을 향상시킬 수 있으며, 그에 따라 최종 생산된 제품의 품질을 개선할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 관한 것이다.

이를 구현하기 위한 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은, 디스플레이에 구비된 다수의 전극패드에 각각 접촉되는 다수의 프로브를 가지는 프로브조립체와; 상기 프로브와 대응되게 열을 이루는 다수의 연결단자를 가지는 연결기판과; 상기 전극패드에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 구동칩을 가지며, 상기 전극패드의 배열순서에 상응하는 검사결과가 출력될 수 있도록 상기 프로브와 상기 연결단자 간에 흐르는 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 칩글라스를 포함한다.

프로브, 칩글라스, 전극패드, 디스플레이, 패널

Description

디스플레이 패널 검사용 프로브 블록{Probe Block for Display Panel Test}

도 1은 본 발명의 이해를 돕기 위한 TCP가 탑재된 디스플레이 패널의 측면 개략도

도 2는 본 발명의 이해를 돕기 위한 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널의 측면 개략도

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 사시도

도 4a는 프로브 블록에서 전기적 신호의 전달방향을 전환하지 않은 경우의 전기적 신호에 대한 전달방향을 나타낸 평면도

도 4b는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 전기적 신호에 대한 전달방향을 나타낸 평면도

도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 칩글라스에 구비되는 코일을 간략하게 나타낸 분해사시도

도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 사시도

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에서 도 6의 A-A 측단면도

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 개념도

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*

1, 1' : 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 2, 2' : 프로브조립체

3, 3' : 칩글라스 3a : 본체 4, 4' : 블록베이스 5, 5' : 연결기판

6, 6' : 디스플레이 패널 10 : TCP가 탑재된 디스플레이 패널

10' : TCP가 미탑재된 디스플레이 패널 11, 11', 12, 12' : 기판

13, 13' : 패널구동IC 14 : TCP 21, 21' : 프로브 22, 22' : 하우징

31, 31' : 구동칩 32 : 코일 33 : 절연막 36 : 프로브글라스

37 : 연결글라스 41 : 수용홈 51, 51' : 연결단자 61 : 출력패드

62 : 전극패드 63 : 패널구동IC 321 : 1차코일 322 : 2차코일

331 : 접점공 361 : 프로브코일 362 : 연결코일

A, B, C, D, H, I : 방향 E : 우측영역 F : 좌측영역

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서, 상세하게는 디스플레이 패널의 데이터라인과 게이트라인에 각각 접속되는 다수의 전극패드를 통해 디스플레이 패널의 불량 유무를 검사하는 프로브 블록에 관한 것이다.

일반적으로 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 디스플레이 패널은 양산기술 확보 와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터용 뿐만 아니라 대형 모니터, LCD, PDP, MOBILE 등과 같은 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(Cathode Ray Tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다.

이와 같은 디스플레이 패널은 2개의 기판상에 2개의 전극이 각각 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고, 2개의 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정분자를 움직이게 함으로써 이에 따라 변화되는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치로서, 2개의 기판 사이에 액정이 주입되어 있는 액정패널과 액정패널 하부에 배치되고 광원으로 이용되는 백라이트, 그리고 액정패널 외곽에 위치하며 액정패널을 구동시키기 위한 구동부로 이루어진다.

여기서, 상기 구동부는 다수의 게이트라인과 데이터라인이 교차하면서 규정하는 디스플레이 패널의 화소영역에 전기적 신호를 인가하여 화상을 표시하도록 하는 한편, 반도체 칩과 마찬가지로 상기 디스플레이 패널을 제품에 장착하기 전에 상기 구동부를 이용하여 디스플레이 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 유무를 검사하게 되며, 이러한 구동부는 디스플레이 패널의 각 배선에 전기적 신호를 인가하기 위한 구동IC(Drive Integrated Cicuit)를 포함하는데, 상기 구동IC를 액정패널에 실장(Packaging)시키는 방법에 따라, 칩 온 글래스(COG, Chip On Glass), 테이프 캐리어 패키지(TCP, Tape Carrier Package), 칩 온 필름(Chip On Film) 등으로 나누어진다.

상기 칩 온 글래스(COG)는 디스플레이 패널의 어레이 기판상에 구동IC를 실장하는 기술이고, 상기 테이프 캐리어 패키지(TCP)와 칩 온 필름(COF)은 별도의 필름을 이용하여 구동IC를 실장하고 상기 구동IC가 내장된 필름을 디스플레이 패널의 배면으로 구부릴 수 있어 콤팩트한 구조를 가지게 된다.

이와 같은 디스플레이 패널의 불량 유무를 검사하기 위한 검사장비는 각종 측정기기들이 내장된 검사시스템과, 상기 검사시스템과 디스플레이 패널을 전기적으로 연결시켜 주는 프로브 블록을 구비하고 있고, 상기 프로브 블록은 디스플레이 패널의 구동IC와 연결된 다수의 전극패드에 직접 접촉하는 프로브가 구비된 프로브조립체와, 상기 프로브조립체 및 검사시스템과 각각 접속되어 상기 전극패드를 통해 상기 구동IC에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출할 수 있도록 상기 디스플레이 패널의 구동IC와 동일한 구동IC가 실장되어 있는 칩글라스를 포함하며, 상기 프로브와 구동IC를 통해 수행된 검사결과로부터 상기 디스플레이 패널에 구비된 다수의 게이트라인과 데이터라인 각각에 대한 불량 유무를 검사하게 된다.

도 1은 본 발명의 이해를 돕기 위한 TCP가 탑재된 디스플레이 패널의 측면 개략도이고, 도 2는 본 발명의 이해를 돕기 위한 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널의 측면 개략도이다.

도 1을 참고하면, TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10)은 2개의 기판(11, 12) 중 어느 하나의 기판(12) 상에 패널구동IC(13)가 하방(화살표 A방향)을 향하도록 실장된 TCP(14)가 구비되어 있고, 동일한 방향(화살표 A방향)으로 다수의 프로브접속용 전극패드(도시되지 않음)가 구비되어 있으며, 도 2를 참고하면 TCP가 미탑재 된 디스플레이 패널(10'), 예컨대 칩 온 글라스(COG) 방식의 디스플레이 패널(10')은 2개의 기판(11', 12') 중 어느 하나의 기판(12') 상에 상방(화살표 B방향)을 향하도록 패널구동IC(13')가 구비되어 있고, 동일한 방향(화살표 B방향)으로 다수의 프로브접속용 전극패드(도시되지 않음)가 구비되어 있어, 상기 TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10)과 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(10')은 패널구동IC(13, 13')가 상호간에 반대방향을 향하도록 실장되어 있으며, 프로브접속용 전극패드(도시되지 않음) 또한 마찬가지이다.

따라서, 상기 프로브 블록에 구비된 구동IC가 상기 디스플레이 패널(10, 10')의 전극패드(도시되지 않음)를 통해 상기 패널구동IC(13, 13')에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하여 검사공정을 수행하는 과정에서 상기 TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10)과 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(10')은 그 전기적 신호의 전달 방향이 상이하게 되는데, 상기 TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10)에 대한 검사과정에서 이루어지는 전기적 신호의 전달방향을 역방향이라고 한다면, TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(10')에 대한 전기적 신호의 전달방향은 순방향으로 정의할 수 있으며, 그에 따라 상기 TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10)을 검사하는 프로브 블록을 상기 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(10')에 그대로 적용하게 되면 상기 패널구동IC(13')에 접속된 다수의 프로브접속용 전극패드(도시되지 않음)에 대해 배열순서가 뒤바뀐 전기적 신호가 전달되어 그 배열순서에 상응하는 검사결과가 출력되지 않는 문제가 있다.

또한, 상기 패널구동IC(13')에 접속된 다수의 게이트라인 또는 데이터라인 각각에 대해 ON/OFF 신호를 구별하여 전기적 신호를 인가함으로써 검사공정을 수행하는 경우 검사자가 원하는 게이트라인 또는 데이터라인에 대해 ON/OFF 신호가 구별되어 인가되지 않아 검사결과 자체가 출력되지 않는 문제가 있다.

또한, 검사공정을 수행하는 검사자가 TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10)을 검사하기 위한 상기 프로브 블록을 임의로 조작하여 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(10')에 적용하는 경우, 상기 패널구동IC(13')와 접속된 다수의 데이터라인 또는 게이트라인 각각에 대한 전기적 신호의 전달 방향을 전환해야 하나, 육안으로 식별하기 어려운 전기적 신호의 전달매체에 대한 조작이 번거로울 뿐만 아니라, 조작의 정확성 또한 신뢰할 수 없으며, 그에 따라 상기 패널구동IC(13')에 접속된 다수의 게이트라인 또는 데이터라인 각각에 대한 불량 유무 판별의 정확성이 저하되는 문제가 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널을 검사할 시에 별도의 조작 없이도 적합한 검사공정을 수행할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 다른 목적은 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널에 구비된 다수의 게이트라인 또는 데이터라인 각각에 대한 불량 유무 판별의 정확성을 향상시킬 수 있고, 그에 따라 최종 생산된 제품의 품질을 개선할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은 하기와 같은 구성을 포함한다.

본 발명의 제 1 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은 디스플레이에 구비된 다수의 전극패드에 각각 접촉되는 다수의 프로브를 가지는 프로브조립체와; 상기 프로브와 대응되게 열을 이루는 다수의 연결단자를 가지는 연결기판과; 상기 전극패드에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 구동칩을 가지며, 상기 전극패드의 배열순서에 상응하는 검사결과가 출력될 수 있도록 상기 프로브와 상기 연결단자 간에 흐르는 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 칩글라스를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 2 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 구동칩은 일측은 상기 프로브와 연결되고 타측은 상기 연결단자와 연결되며; 상기 칩글라스는 상기 구동칩의 일측과 상기 프로브를 교차 연결시키고, 상기 구동칩의 타측과 상기 연결단자를 교차 연결시키는 다수의 코일을 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 3 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 칩글라스는 절연막을 포함하되, 상기 절연막은 일정 거리로 이격되어 형성되는 다수의 접점공을 가지며; 상기 코일은 상기 절연막의 일면과 타면에서 상기 접점공을 통해 접점되는 1차코일과 2차코일을 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 4 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 2차코일은 상기 구동칩의 일측과 상기 연결단자로부터 각각 직선으로 일정 길이 연장되어 형성되고, 상기 1차코일은 상기 구동칩의 타측과 상기 프로브로부터 각각 그 사선방향에 위치한 상기 2차코일과 상기 접점공을 통해 연결되도록 일정 길이 연장되어 형성되는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 5 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 1차코일은 상기 구동칩의 타측과 상기 프로브로부터 각각 그 사선방향에 상기 2차코일이 위치하지 않으면 그 대향되는 방향에 위치한 상기 2차코일과 상기 접점공을 통해 연결되는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 6 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 1차코일은 상기 구동칩의 타측과 상기 프로브로부터 각각 직선으로 일정 길이 연장되어 형성되고, 상기 2차코일은 상기 구동칩의 일측과 상기 연결단자로부터 각각 그 사선방향에 위치한 상기 1차코일과 상기 접점공을 통해 연결되도록 일정 길이 연장되어 형성되는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 7 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 2차코일은 상기 구동칩의 일측과 상기 연결단자로부터 각각 그 사선방향에 상기 1차코일이 위치하지 않으면 그 대향되는 방향에 위치한 상기 1차코일과 상기 접점공을 통해 연결되는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 8 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 구동칩은 이방성도전필름을 이용하여 상기 칩글라스에 실장되는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 9 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 칩글라스는 상기 프로브와 각각 연결되는 다수의 프로브코일을 포함하는 프로브글라스와, 상기 연결단자와 각각 연결되는 다수의 연결코일을 가지고, 상기 구동칩이 실장되는 연결글라스를 포함하며; 상기 프로브코일과 상기 연결코일이 대향되게 접속되도록 상기 프로브글라스와 상기 연결글라스가 결합되는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 제 10 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 있어서, 상기 구동칩은 이방성도전필름을 이용하여 상기 연결글라스에 실장되고, 상기 프로브글라스와 상기 연결글라스는 이방성도전필름을 이용하여 결합되는 것을 특징으로 한다.

이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 구성에 대한 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 3는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 사시도이다.

도 3을 참고하면, 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1)은 프로브조립체(2), 칩글라스(3), 블록베이스(4)와, 연결기판(5)을 포함하고, 상기 프로브조립체(2)는 검사하고자 하는 디스플레이 패널의 전극패드와 접촉하며, 상기 칩글라스(3)는 프로브조립체(2)를 통해 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하며 그 전기적 신호의 전달방향을 전환한다. 또한, 상기 블록베 이스(4)는 상기 프로브조립체(2) 및 칩글라스(3)와 결합되고 검사시스템에 장착되며, 상기 연결기판(5)은 디스플레이 패널 검사용 프로브 장치에 일반적으로 구비되는 FPC(Flexible Printed Circuit)로서, 검사하고자 하는 디스플레이 패널에 구비되는 다수의 전극패드에 상응하는 다수의 연결단자(51)를 가지고, 상기 연결단자(51)는 상기 칩글라스(3)와 검사시스템을 전기적으로 연결시켜 검사공정을 수행할 수 있도록 한다.

도 3을 참고하면, 상기 프로브조립체(2)는 검사하고자 하는 디스플레이 패널의 전극패드와 직접 접촉하는 다수의 프로브(21)와, 전체적으로 폭방향(화살표 C방향)으로 일정 길이 연장되는 장방체로 형성되고 그 내부에 상기 프로브(21)를 수용하며 하기에 설명할 상기 블록베이스(4)에 결합되는 하우징(22)을 포함한다. 여기서, 상기 프로브(21)와 하우징(22)을 포함하는 상기 프로브조립체(2)는 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 자명한 구성으로서, 그 구성에 대한 상세한 설명은 본 발명의 요지를 흐리지 않기 위해 생략하기로 한다.

상기 칩글라스(3)는 다수의 프로브(21)와 상기 연결기판(5)의 연결단자(51)를 각각 전기적으로 연결시키고, 그에 따라 상기 프로브(21)를 통해 검사하고자 하는 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출함으로써, 상기 전극패드를 통해 연결된 다수의 게이트라인과 데이터라인에 대한 불량 유무를 검사할 수 있도록 하며, 상기 칩글라스(3)는 전체적으로 사각판형으로 형성되는 본체(3a)와, 상기 본체(3a)의 저면(3b)에서 하기에 설명할 코일(32)상에 실장되는 구동칩(31)을 포함한다.

상기 구동칩(31)은 디스플레이 패널을 검사하는 프로브 블록에 구비되는 구동IC(Drive Integrated Circuit)로서, 일측(31a)은 상기 다수의 프로브(21)와 각각 연결되고 타측(31b)은 상기 연결기판(5)에 구비된 다수의 연결단자(51)와 각각 연결되며, 그에 따라 검사하고자 하는 디스플레이 패널의 전극패드 각각에 대해 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출함으로써 디스플레이 패널의 불량 유무에 대한 검사공정을 수행할 수 있도록 한다.

여기서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1, 1', 도 6에 도시됨)은 상기 칩글라스(3, 3', 도 6에 도시됨)가 그 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 방식에 따라 일실시예와 다른 실시예로 구현될 수 있는데, 일실시예는 도 3에 도시된 바와 같이 교차 연결방식에 의해 그 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 방식이고, 다른 실시예는 도 6에 도시된 바와 같이 상기 칩글라스가 상하 접촉을 전환하는 방식에 의해 그 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 방식으로 구현된다.

이하에서는 상기 칩글라스가 교차 연결방식에 의해 그 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 살펴보기로 한다.

도 4a는 프로브 블록에서 전기적 신호의 전달방향을 전환하지 않은 경우의 전기적 신호에 대한 전달방향을 나타낸 평면도이다.

도 3 및 도 4a를 참고하면, 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1)에 있어서, 상기 칩글라스(3)는 구동칩(31)의 일측(31a)과 다 수의 프로브(21) 및 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 연결기판(5)에 인가, 출력하는 전기적 신호의 전달방향을 전환해야 하는데, 이를 도 1 및 도 4a를 참고하여 구체적으로 살펴보면, TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10, 도 1에 도시됨)은 패널구동IC(13, 도 1에 도시됨)와 전극패드(도시되지 않음)가 상기 TCP가 탑재된 디스플레이 패널(10, 도 1에 도시됨)의 배면에 설치되어 있으나, TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(6), 예컨대 칩 온 글라스(COG) 방식의 디스플레이 패널(6)은 종방향과 횡방향으로 설치되는 다수의 게이트라인과 데이터라인 각각에 대해 접속되는 출력패드(61)와, 다수의 프로브(21)가 직접 접촉되는 다수의 전극패드(62)가 패널구동IC(63)를 통해 동일한 면상에 구현되어 접속되어 있기 때문에, 상기 전극패드(62)와 구동칩(31)은 상호간에 반대방향을 향하게 된다.

따라서, 상기 프로브(21)와 연결되는 구동칩(31)의 일측(31a)과 상기 전극패드(62) 간에 흐르는 전기적 신호의 전달방향을 전환함이 없이 연결하는 경우, 다수의 전극패드(62)가 하나의 열을 이루면서 1, 2, 3 … , n-1, n 순서로 배열된다고 가정하면, 상기 구동칩(31)은 n, n-1, n-2 … , 2, 1 순으로 배열되게 되므로, 다수의 전극패드(62)의 배열순서에 부합하는 전기적 신호를 인가, 출력할 수 없어 올바른 검사결과를 획득할 수 없을 뿐만 아니라, 다수의 프로브(21)에 각각 ON/OFF 신호를 구별하여 전기적 신호를 인가하는 경우 다수의 전극패드(62)가 상이한 배열순서로 ON/OFF 신호가 인가되어 검사결과 자체를 획득할 수 없게 된다. 또한, 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 다수의 연결단자(51) 간에도 동일한 문제가 발생되는데, 다수의 연결단자(51)가 하나의 열을 이루면서 a(1), a(2), a(3) … , a(n-1), a(n) 순서로 배열된다고 가정하면, 상기 구동칩(31)의 타측(31b)은 a(n), a(n-1), … , a(2), a(1) 순으로 배열됨에 따라, 상기 연결단자(51)와 구동칩(31)의 타측(31b)은 상호간에 상이한 배열로 인한 전기적 신호가 인가, 출력되어 적합한 검사공정을 수행할 수 없게 되는 것이다.

도 4b는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 전기적 신호에 대한 전달방향을 나타낸 평면도이다.

따라서, 도 4b에 도시된 바와 같이, 상기 구동칩(31)의 일측(31a)은 다수의 전극패드(62)가 배열된 1, 2, 3, … , n-1, n 순서와 일치하는 배열순서로 전기적 신호가 인가, 출력되도록 다수의 프로브(21) 각각에 대해 전기적 신호의 전달방향을 전환하여 연결해야 하고, 상기 구동칩(31)의 타측(31b) 또한 다수의 연결단자(51)가 배열된 a(1), a(2), a(3) … , a(n-1), a(n) 순서와 일치하는 배열순서로 전기적 신호가 인가, 출력되도록 다수의 연결단자(51) 각각에 대해 전기적 신호의 전달방향을 전환하여 연결해야 하는 것이다.

도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 칩글라스에 구비되는 코일을 간략하게 나타낸 분해사시도이다.

이를 구현하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1)의 칩글라스(3)는, 도 3 및 도 5를 참고하면, 상기 프로브(21)와 상기 연결단자(51) 간에 흐르는 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 코일(32)을 포함하고, 상기 코일(32)은 상기 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21)를 교차연결시키고, 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 다수의 연결단자(51)를 교차 연결시킨 다.

도 3 내지 도 5를 참고하면, 상기 코일(32)은 1차코일(321), 2차코일(322)과, 절연막(33)을 포함하고, 상기 1차코일(321), 2차코일(322), 다수의 프로브(21)와, 다수의 연결단자(51)는 일치하는 개수로 형성되며, 그 개수는 검사하고자 하는 검사영역에 구비된 디스플레이 패널(6)의 전극패드(62)와 대략 일치하도록 형성되는 것이 바람직하다. 또한, 상기 연결기판(5)은 다수의 연결단자(51)가 상기 코일(32)과 전기적으로 연결될 수 있도록 상기 칩글라스(3)의 본체(3a) 저면(3b)에서 상기 코일(32)상에 연결된다.

상기 1차코일(321)은 하기에 설명할 상기 2차코일(322)의 끝단과 연결되어 상기 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21)를 전기적으로 교차 연결시키는 동시에 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 다수의 연결단자(51)를 전기적으로 교차 연결시킬 수 있도록 형성되고, 상기 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21)를 연결하는 상기 1차코일(321)은 상기 칩글라스(3)의 본체(3a) 저면(3b)에서 중앙(G)을 기준으로 우측영역(E)과 좌측영역(F)에 배열되는 것으로 나누어진다. 여기서, 우측영역(E)에 배열되는 상기 프로브(21)와 연결되는 상기 1차코일(321)은 다수의 프로브(21)와 접속되는 상기 본체(3a)의 일단 우측(3c)으로부터 D방향으로 일정 길이 연장되다가 절곡되어 C방향으로 일정 길이 연장되어 형성되고, 좌측영역(F)에 배열되는 상기 프로브(21)와 연결되는 상기 1차코일(321)은 다수의 프로브(21)와 접속되는 상기 본체(3a)의 일단 좌측(3d)으로부터 D방향으로 일정 길이 연장되다가 절곡되어 C반대방향으로 일정 길이 연장되어 형성되며, 이러한 배열방식으로 도 5 에 도시된 바와 같이 우측영역(E)과 좌측영역(F) 각각에 대해 상기 1차코일(321)이 중앙(G)을 기준으로 그 사선방향을 향하도록 각각 다른 길이로 연장되어 형성된다.

한편, 상기 1차코일(321)은 다수의 전극패드(62)와 다수의 프로브(21)가 2n개일 경우에는 우측영역(E)과 좌측영역(F)에 나누어 형성될 수 있으나, 2n+1개일 경우에는(도시되지는 않음) 우측영역(E)과 좌측영역(F)이 접하는 중앙(G)에 1차코일(321)이 형성되며, 이러한 1차코일(321)은 그 사선방향에 2차코일(322)이 존재하지 않으므로 그 대향되는 방향에 존재하는 상기 2차코일(322)과 연결될 수 있도록 D방향으로 직선을 이루며 형성되는데, 이는 중앙(G)에 형성되는 1차코일(321)은 구동칩(31)의 방향에 따라 상기 다수의 프로브(21)와 전극패드(62)에 인가, 출력되는 전기적 신호의 전달방향이 바뀌지 않기 때문이다. 또한, 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 다수의 연결단자(51)를 연결하는 1차코일(321)도 상기 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21)를 연결하는 것과 동일한 배열방식으로 형성되며, 다수의 1차코일(321)이 각각 이격되는 거리는 다수의 전극패드(62)에 접촉하는 다수의 프로브(21) 각각이 이격된 거리와 대략 일치하는 것이 바람직하다.

상기 2차코일(322)은 상기 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21)를 전기적으로 교차 연결시키는 동시에 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 다수의 연결단자(51)를 전기적으로 교차 연결시킬 수 있도록 형성되고, 상기 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21)를 연결하는 상기 2차코일(322)은 구동칩(31)의 일측(31a)으로부터 D반대방향으로 직선을 이루며 각각 다른 길이로 연장되면서 그 연장 선상에 있는 상기 1차코일(321)과 접점될 수 있도록 형성되고, 그에 따라 상기 2차코일(322)은 전체적으로 '〈' 형상을 이루면서 각각 다른 길이로 연장되어 배열 형성되며, 상기 1차코일(321)과 마찬가지로 다수의 전극패드(62)와 다수의 프로브(21)가 2n+1개일 경우에는 중앙(G)에 형성되는 상기 2차코일(322)은 직선을 이루며 형성되는 상기 1차코일(321)과 접점되도록 형성된다. 또한, 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 다수의 연결단자(51)를 연결하는 2차코일(322)도 상기 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21)를 연결하는 것과 동일한 배열방식으로 형성되고, 다수의 2차코일(322)이 각각 이격되는 거리는 상기 1차코일(321) 각각이 이격된 거리와 대략 일치하는 것이 바람직하다.

상기 절연막(33)은 1차코일(321)과 2차코일(322) 사이에 게재되어 상기 1차코일(321)과 2차코일(322) 간에 접점되는 위치 이외의 부분을 절연시키고, 상기 1차코일(321)와 2차코일(322)이 접점되는 위치에 형성되는 다수의 접점공(331)을 포함하며, 상기 접점공(331)을 통해 상기 1차코일(321)과 2차코일(322)이 각각 연결될 수 있도록 한다.

한편, 상기 1차코일(321)과 2차코일(322)은 구동칩(31)의 일측(31a)과 다수의 프로브(21) 및 상기 구동칩(31)의 타측(31b)과 다수의 연결단자(51)를 각각 교차 연결시킬 수 있는 구성이면 상기 1차코일(321)이 절곡되어 형성되는 것 외에 2차코일(322)이 절곡되고 1차코일(321)이 직선으로 형성될 수도 있고, 절곡되는 형태는 도 5에 도시된 바와 같이 직각을 이루며 절곡되는 것 외에 교차 연결이 가능한 형태이면 원호와 같은 다른 형태로 절곡되어 형성될 수도 있으며, 이러한 변경은 본 발명의 속하는 기술분야의 당업자에게 자명한 사항으로서 본 발명의 권리범 위에 모두 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

또한, 상기 칩글라스(3)의 본체(3a) 저면(3b)에서 1차코일(321), 절연막(33), 2차코일(322) 순으로 형성되는 것외에 2차코일(322), 절연막(33), 1차코일(321) 순으로 형성될 수도 있는데, 그 형성되는 순서에 따라 상기 구동칩(31)은 2차코일(322) 또는 1차코일(321) 중 어느 하나에 실장될 수 있고, 상기 구동칩(31)은 이방성도전필름(ACF, Anisotropic Conductive Film)을 이용하여 실장되는 것이 바람직하며, 이방성도전필름(ACF)을 이용한 실장방법은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 자명한 사항이므로, 이에 대한 상세한 설명은 본 발명의 요지를 흐리지 않기 위해 생략하기로 한다.

이하에서는 상기 칩글라스가 상하 접촉을 전환하는 방식에 의해 그 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 살펴보기로 한다.

도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 사시도이고, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에서 도 6의 A-A 측단면도이다.

도 6 및 도 7을 참고하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1')은 프로브조립체(2'), 칩글라스(3'), 블록베이스(4')와, 연결기판(5')을 포함하고, 본 발명의 일실시예에 따른 상기 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1)과 마찬가지로 상기 칩글라스(3')를 통해 전기적 신호의 전달방향을 전환하여 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(10', 도 2에 도시됨)을 검사할 수 있도록 하며, 상기 프로브조립체(2'), 칩글라스(3'), 블록베이스(4')와, 연결기판(5') 및 이를 이루는 하부구성들은 도면 참고번호는 달리하였으나, 이는 본 발명의 실시예를 구분하여 표시하기 위한 것이고, 앞서 설명한 상기 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1)에 포함되는 구성 및 이를 이루는 하부구성들과 대략 일치하는 기능과 형상으로 구현되는 것이므로, 상기 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1)에서 설명한 바와 동일한 구성은 생략하기로 하며, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1')에서 차이점이 있는 부분만을 설명하기로 한다.

상기 칩글라스(3')는 다수의 프로브(21')와 연결되는 프로브글라스(36)와, 다수의 연결단자(51')와 연결되는 연결글라스(37)를 포함하며, 상기 연결글라스(37)의 상면(37a, 도 7에 도시됨)에 상기 구동칩(31')이 실장되고, 상기 구동칩(31')은 검사하고자 하는 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 상기 프로브(21')를 통해 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출함으로써 디스플레이 패널에 구비된 다수의 게이트라인과 데이터라인에 대한 불량 유무를 검사할 수 있도록 한다.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 개념도이다.

여기서, 도 5 내지 도 8을 참고하여 상기 칩글라스(3')가 다수의 프로브(21')와 상기 구동칩(31')의 일측(31a') 및 상기 구동칩(31')의 타측(31b')과 연 결기판(5')에 인가, 출력하는 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 구성을 살펴보면, 상기 구동칩(31')은 앞서 살펴본 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(1)의 구동칩(31)이 검사하고자 하는 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널(6)의 전극패드(62)와 반대방향으로 실장되어 있는 것과는 달리, 상기 연결글라스(37)의 상면(37a, 도 7에 도시됨)에 실장되어 상기 전극패드(62)와 동일한 방향(화살표 B방향, 도 2에 도시됨)으로 구비되어 있으므로, 상기 구동칩(31')의 일측(31a')과 다수의 프로브(21') 및 상기 구동칩(31')의 타측(31b')과 다수의 연결단자(51')의 배열순서는 각각 1, 2, 3, … , n-1, n 및 a(1), a(2), a(3), … , a(n-1), a(n) 순으로 일치하게 되어 교차 연결이 요구되지는 않으나, 상기 구동칩(31')과 다수의 프로브(21')가 상호간에 다른 방향으로 형성되어 있어 이에 대한 전기적 신호의 전달방향을 전환하기 위해 상기 칩글라스(3')를 프로브글라스(36)와 연결글라스(37)로 구성하는 것이다.

상기 프로브글라스(36)는 전체적으로 사각판형으로 형성되고, 그 저면(36a)에 프로브코일(361)을 포함하여 상기 프로브코일(361)에 의해 다수의 프로브(21') 각각을 하기에 설명할 상기 연결글라스(37)의 상면(37a)에 실장된 구동칩(31')의 일측(31a')과 전기적으로 연결시킨다.

상기 연결글라스(37)는 전체적으로 사각판형으로 형성되고, 그 상면(37a)에 연결코일(371)을 포함하여 상기 프로브코일(361)과 상기 구동칩(31')의 일측(31a') 및 상기 구동칩(31')의 타측(31b')과 다수의 연결단자(51') 각각을 전기적으로 연결시키며, 이경우 상기 프로브글라스(36)에서 프로브코일(361)이 형성된 저면(36a) 을 하방(화살표 H방향, 도 7에 도시됨)으로 향하도록 하고, 상기 연결글라스(37)에서 연결코일(371)과 구동칩(31')이 형성된 상면(37a)을 상방(화상표 I방향, 도 7에 도시됨)으로 향하도록 한 상태에서 상기 프로브코일(361)과 연결코일(371)이 접점되도록 연결한다. 또한, 상기 프로브코일(361)과 연결코일(371)을 접점시켜 연결하기 위한 상기 프로브글라스(36)와 연결글라스(37)의 결합은 이방성도전필름(ACF)을 이용하여 접착시키고, 상기 구동칩(31')은 연결글라스(37)의 상면(37a)에 이방성도전필름(ACF)을 이용하여 실장되는 것이 바람직하며, 이방성도전필름(ACF)을 이용한 실장방법은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 자명한 사항이므로, 이에 대한 상세한 설명은 본 발명의 요지를 흐리지 않기 위해 생략하기로 한다.

도 7을 참고하면, 상기 블록베이스(4')는 그 저면(4a)에서 상방(화살표 I방향)으로 일정 깊이 함몰되어 형성되는 수용홈(41)을 포함하는데, 이러한 상기 수용홈(41)은 상기 연결글라스(37)의 상면(37a)에 실장된 상기 구동칩(31')을 수용하기 위한 공간이다.

상기 연결기판(5')은 블록베이스(4')와 연결글라스(37) 사이에 게재되어 연결되며, 이는 상기 연결글라스(37)의 상면(37a)에 형성되어 있는 상기 연결코일(371)과 다수의 연결단자(51')를 각각 전기적으로 연결시키기 위함이다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

본 발명은 앞서 본 구성과 실시예에 의해 다음과 같은 효과를 도모할 수 있다.

본 발명은 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널을 검사할 시에 별도의 조작 없이도 적합한 검사공정을 수행할 수 있도록 구현하여, 검사공정의 용이성과 그에 따른 작업시간을 단축시킬 수 있는 효과를 이룰 수 있다.

본 발명은 검사공정이 용이할 뿐만 아니라, TCP가 미탑재된 디스플레이 패널에 구비된 다수의 게이트라인과 데이터라인 각각에 대한 불량 유무 판별의 정확성을 향상시킬 수 있으며, 그에 따라 최종 생산된 제품의 품질을 개선할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.

Claims

디스플레이에 구비된 다수의 전극패드에 각각 접촉되는 다수의 프로브를 가지는 프로브조립체와;

상기 프로브와 대응되게 열을 이루는 다수의 연결단자를 가지는 연결기판과;

상기 전극패드에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 구동칩을 가지며, 상기 전극패드의 배열순서에 상응하는 검사결과가 출력될 수 있도록 상기 프로브와 상기 연결단자 간에 흐르는 전기적 신호의 전달방향을 전환하는 칩글라스;

를 포함하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 1 항에 있어서, 상기 구동칩은 일측은 상기 프로브와 연결되고 타측은 상기 연결단자와 연결되며;

상기 칩글라스는 상기 구동칩의 일측과 상기 프로브를 교차 연결시키고, 상기 구동칩의 타측과 상기 연결단자를 교차 연결시키는 다수의 코일을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 2 항에 있어서, 상기 칩글라스는 절연막을 포함하되, 상기 절연막은 일정 거리로 이격되어 형성되는 다수의 접점공을 가지며;

상기 코일은 상기 절연막의 일면과 타면에서 상기 접점공을 통해 접점되는 1 차코일과 2차코일을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 3 항에 있어서, 상기 2차코일은 상기 구동칩의 일측 및 상기 연결단자로부터 각각 직선으로 일정 길이 연장되어 복수개가 형성되고,

상기 1차코일은 상기 프로브 및 상기 구동칩의 타측으로부터 각각 일정 길이 연장되면서 복수개가 형성되어 상기 2차코일과 각각 교차 연결되며,

상기 프로브로부터 연장되는 상기 1차코일 및 상기 구동칩의 일측으로부터 연장되는 상기 2차코일이 상기 접점공에서 접점되고, 상기 구동칩의 타측으로부터 연장되는 상기 1차코일 및 상기 연결단자로부터 연장되는 상기 2차코일이 상기 접점공에서 접점되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 4 항에 있어서, 상기 복수개의 1차코일 중 중앙에 위치하는 1차코일은 상기 프로브 및 상기 구동칩의 타측으로부터 각각 직선으로 일정 길이 연장되면서 2차코일과 상기 접점공에서 접점되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 3 항에 있어서, 상기 1차코일은 상기 프로브 및 상기 구동칩의 타측으로부터 각각 직선으로 일정 길이 연장되어 복수개가 형성되고,

상기 2차코일은 상기 구동칩의 일측 및 상기 연결단자로부터 각각 일정 길이 연장되면서 복수개가 형성되어 상기 1차코일과 각각 교차 연결되며,

상기 프로브로부터 연장되는 상기 1차코일 및 상기 구동칩의 일측으로부터 연장되는 상기 2차코일이 상기 접점공에서 접점되고, 상기 구동칩의 타측으로부터 연장되는 상기 1차코일 및 상기 연결단자로부터 연장되는 상기 2차코일이 상기 접점공에서 접점되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 6 항에 있어서, 상기 복수개의 2차코일 중 중앙에 위치하는 2차코일은 상기 구동칩의 일측 및 상기 연결단자로부터 각각 직선으로 일정 길이 연장되면서 1차코일과 상기 접점공에서 접점되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 2 항에 있어서, 상기 구동칩은 이방성도전필름을 이용하여 상기 칩글라스에 실장되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 1 항에 있어서, 상기 칩글라스는 상기 프로브와 각각 연결되는 다수의 프로브코일을 포함하는 프로브글라스와,

상기 연결단자와 각각 연결되는 다수의 연결코일을 가지고, 상기 구동칩이 실장되는 연결글라스를 포함하며;

상기 프로브코일과 상기 연결코일이 대향되게 접속되도록 상기 프로브글라스와 상기 연결글라스가 결합되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
제 9 항에 있어서, 상기 구동칩은 이방성도전필름을 이용하여 상기 연결글라스에 실장되고, 상기 프로브글라스와 상기 연결글라스는 이방성도전필름을 이용하여 결합되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.