KR20060122804A - 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 - Google Patents

Abstract

디스플레이 패널 검사 시스템의 프로브 블록(PROBE BLOCK)은 패널과 TCP(TAPE CARRIER PACKAGE)의 미세한 전극 패드에 접촉하며 전기적 신호를 인가하여 패널의 불량 유무를 검사하는 장치이다. 대부분의 디스플레이 패널은 TCP를 탑재하나 패널 시장의 빠른 기술 변화로 TCP를 미탑재하고 구동에 필요한 칩을 디스플레이 패널에 직접 탑재하는 패널이 개발되었다. 일반적인 프로브 블록은 디스플레이 패널과 TCP의 접촉방식이 상하접촉방식이라 전기적 신호 전달방향이 역방향으로 전달된다. 기존 사용하는 프로브 블록은 TCP를 탑재하는 패널검사용이며 이는 TCP를 미탑재한 패널에서는 패널 구조상 순방향으로 전기적 신호가 전달되는 프로브 블록을 사용하여만 한다. TCP를 미탑재한 패널검사시 종래에 개발된 프로브 블록을 사용하게 되면 전기적 신호가 역방향으로 입력되어 제대로 된 검사를 할 수 없는 문제가 발생하게 된다. 이를 위해 본 발명은 TCP를 미탑재한 패널검사를 위한 것으로서 프로브 블록에 연결되는 칩 글라스에 사용되는 코일을 단층이 아닌 다층의 신호 선들을 배치하여 뒤바뀐 전기적 신호를 올바로 입력되도록 하는 프로브 블록에 관한 것이다.

프로브 블록, 프로브 유닛, 칩 글라스, COG

Description

디스플레이 패널 검사용 프로브 블록{Probe Block for display panel test}

도 1은 본 발명의 설명을 위한 디스플레이 패널 검사용 시스템에 접속되는 프로브 블록의 입체 도이다.

도 2는 본 발명의 이해를 돕기 위한 TCP가 탑재된 디스플레이 패널의 측면 도이다.

도 3은 본 발명의 이해를 돕기 위한 TCP가 미탑재된 디스플레이 패널의 측면 도이다.

도 4는 디스플레이 패널 접속용 프로브와 연결되는 칩 글라스의 신호 전달용 1차 코일 배치 도이다.

도 5는 디스플레이 패널 접속용 프로브와 연결되는 칩 글라스의 절연막 형성을 위한 상세 도이다.

도 6은 디스플레이 패널 접속용 프로브와 연결되는 칩 글라스의 신호전달용 2차 코일 배치 도이다.

도 7은 디스플레이 패널 접속용 프로브와 연결되는 칩 글라스의 신호전달용 코일 배치 완성 도이다.

도 8은 디스플레이 패널 접속용 프로브와 연결되는 칩 글라스의 단면 도이 다.

본 고안은 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서 LCD, PDP, MOBILE 등과 같은 액정패널에 접촉되어, 전기적 신호 및 영상 신호등을 인가하여 패널의 결함 또는 불량을 검출하기 위한 디스플레이 패널 검사용 프로브 장치에 접속되는 프로브 블록에 관한 것이다.

일반적으로 모니터나 노트북 등에 사용되는 액정표시장치에는 다양한 전기적 신호를 인가할 수 있는 전극 패드가 집적되어 있다. 전극 패드 집적이 완료한 제품은 TCP(TAPE CARRIER PACKAGE)를 탑재하여 완제품을 만들기 전에 전기적 신호 및 영상신호를 패널에 인가하여 패널의 결함 및 불량 유무를 검사 후 출하 검사를 거치게 된다.

디스플레이 패널의 변화에 따라 대부분의 디스플레이 패널은 TCP를 탑재하나 현재 디스플레이 패널의 기술 발달과 시장변화로 TCP를 탑재하지 않고 패널 위에 직접 패널 구동에 필요한 칩을 탑재하는 새로운 패널이 개발되었다.

종래에 개발된 프로브 블록은 디스플레이 패널과 TCP연결방식이 상하 접촉 방식이라 전기적 신호 전달방향이 역방향으로 전달된다. 이는 TCP를 탑재하는 패널검사용이며 TCP를 탑재하지 않는 패널에서는 부적합하다. 그 이유는 TCP 미탑재 패널 구조상 순방 향의 전기적 신호가 전달되므로 역방향으로 신호가 전달되는 프로 브 블록을 사용할 경우 제대로 된 검사공정을 이룰 수 없다.. TCP 미탑재 패널검사시 역방향으로 전기적 신호가 입력되는 프로브 블록을 사용할 경우 전기적 신호가 뒤바뀌어 입력되는 문제가 발생하게 된다. 이를 위해 본 발명은 디스플레이 패널 접속용 프로브와 연결되는 칩 글라스에 사용되는 코일을 단층이 아닌 다층의 신호 선들을 배치하여 뒤바뀐 전기적 신호를 올바르게 입력되도록 하는 프로브 블록을 발명한 것이다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 상술한 문제점을 해결할 수 있도록 디스플레이 패널의 전극 접속용 프로브와 연결되는 칩 글라스의 코일 배치 방법을 다층 배치 방법을 사용함으로써 뒤바뀐 전기적 신호를 올바르게 전달되도록 하는 프로브 블록을 제공하는 데 있다.

본 발명의 구성은 디스플레이 패널의 전극 접속용 프로브와 디스플레이 패널 구동용 칩이 탑재된 칩 글라스와 검사 시스템에 장착되는 블록 베이스로 구성되며 디스플레이 패널 전극 접속용 프로브 연결용 칩 글라스는 종래에 개발된 상하 접촉 방식 프로브 블록의 종류에 관계없이 모두 적용가능한 특징이 있다.

이하 첨부된 도 참고하여 본 발명의 구성을 더욱 상세하게 설명하면 다음과 같다.

도 1은 본 발명에 의한 디스플레이 패널 검사 시스템의 프로브 블록설명을 위한 대표 도이다. 도 1을 참조하면 디스플레이 패널의 전극 접속용 프로브 조립체 와 디스플레이 패널을 구동하는 칩 글라스 검사 시스템 장착을 위한 블록베이스로 구성되는 특징이 있다. 디스플레이 패널의 전극 접속용 프로브 조립체의 경우 통상의 지식을 갖은 당업자 수준에서 여러 가지 다른 형태로 변형 적용이 가능하다.

도 4, 6은 디스플레이 패널 전극 접속용 프로브 조립체와 연결되는 칩 글라스의 신호 전달용 코일 배치도이다.

도 5, 6, 7, 8을 참조하면 브로브 조립체와 접속되는 코일의 배치 방법을 설명하고 있다. 칩 글라스에 신호전달용 코일 배치시 역방향으로 인가되는 전기적신호를 반대로 바꾸어 주어야한다. 이때 칩 글라스 위에 신호 전달용 코일을 배치하게 되는데 1차 코일, 절연막 형성, 절연막 가공, 2차 코일 배치 등의 순서로 작업을 하게 된다. 1차 코일 배치시 입력신호 수가 짝수일 경우와 홀수일 경우로 나누어지는데. 입력 신호의 수가 짝수일 경우 중앙을 기준으로 좌측의 코일은 우측방향으로 향하도록 코일을 배치하고 우측의 코일은 좌측방향으로 코일을 각각 번갈아 배치한다. 입력 신호가 홀수일 경우는 중앙의 신호는 직선으로 배치하고 나머지 부분은 입력 신호가 짝수일 경우와 동일하게 배치한다. 이때 반드시 2차 코일 배치 하기 전 1차 코일 위에 절연을 해주어야 하며 절연막 형성 후 1차 코일과 2차 코일이 연결되도록 도 5와 같은 형태의 절연막 가공을 한 후 도 6과 같이 2차 코일을 배치한다. 도 7은 칩 글라스에 신호 입력용 1, 2차 코일 배치 후의 완성 도이다. 도 8은 칩 글라스에 신호 입력용 코일 배치 후의 단면을 표시한 것이다.

TCP 미탑재 패널검사시 상하 접촉 방식 프로브와 사용하더라도 전기적 신호 입력을 바꾸어 주기 위해 디스플레이 패널 전극 접속용 프로브와 칩 글라스 연결부에 다른 부품(필름 또는 글라스 등)을 연결하지 않아도 되므로 디스플레이 패널 전극 접속용 프로브와 칩 글라스 연결부에 연결시 발생할 수 있는 문제를 없앨 수 있고 디스플레이 패널 접속용 프로브를 중간 매개체 없이 직접 연결함으로써 접촉 저항을 줄일 수 있는 장점이 있다.

Claims (1)

1. 칩 글라스의 프로브와의 접속용 코일 배치방법으로 칩 글라스 위에 배치하여야 할 입력 신호 코일의 수가 짝수일 경우 중앙 기준으로 좌측에 배열된 입력 신호 코일은 우측방향으로 향하게 배치하고 우측에 배치된 입력 신호 코일 배치는 좌측방향으로 향하도록 좌우 각 1개 라인씩 번갈아 배열하고 입력 신호 코일의 수가 홀수일 경우 중앙의 입력 신호 코일은 직선으로 배치하며 나머지 입력 신호 코일배치 방법은 입력 신호 코일의 수가 짝수일 때와 동일하게 배치한 후 1차 코일 위에 절연막을 형성하며 2차 코일과 연결되는 부분 가공 후 연결 부위에 2차 코일을 배치하는 등 다층 형식으로의 코일 배치;

   디스플레이 패널 접속용 프로브와 칩 글라스 접속 부에 다른 부품(필름, 글라스 등)을 연결하지 않고 디스플레이 패널 접속용 프로브와 직접 연결하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.

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