CN101059605B - 检查显示板的装置和方法 - Google Patents

检查显示板的装置和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101059605B
CN101059605B CN2007101010392A CN200710101039A CN101059605B CN 101059605 B CN101059605 B CN 101059605B CN 2007101010392 A CN2007101010392 A CN 2007101010392A CN 200710101039 A CN200710101039 A CN 200710101039A CN 101059605 B CN101059605 B CN 101059605B
Authority
CN
China
Prior art keywords
conducting film
signal
probe pin
film
signal pads
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2007101010392A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101059605A (zh
Inventor
宋永佑
郑焕暻
尹镇哲
郑花奎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Display Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of CN101059605A publication Critical patent/CN101059605A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101059605B publication Critical patent/CN101059605B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

本发明揭示了用于检查显示板的装置和方法，用于改善检查工艺的检测能力。该装置包括探针单元和导电膜，探针单元具有多个探针插脚，用于给形成在显示板上的多个信号焊盘施加电信号，而导电膜从探针单元的底部可前后移动，其中该装置具有第一模式和第二模式，在第一模式中由于导电膜向前移动导电膜设置在多个信号焊盘和探针插脚之间，在第二模式中由于导电膜向后移动探针插脚直接连接到多个信号焊盘。

Description

检查显示板的装置和方法
技术领域
本发明涉及检查显示板的装置和方法，特别是，可以改善检查工艺的检测能力的显示板检查装置和方法。
背景技术
液晶显示(LCD)装置典型地通过使得以矩阵形式设置在LCD板上的液晶单元响应视频信号以控制光的透射率来显示图像。
LCD板包括薄膜晶体管(TFT)基板和颜色过滤器基板，他们用密封剂与设置在他们之间的液晶层密封装配起来。
颜色过滤器基板具有这样的结构，其中包括防止光泄漏的黑矩阵、形成色彩的颜色过滤器、对应于像素电极形成垂直电场的公共电极和为了液晶取向而淀积的上取向层的颜色过滤器阵列形成在上基板上。
TFT基板具有这样的结构，其中包括构造成彼此交叉的栅极线和数据线、形成在栅极线和数据线交叉点的TFT、连接到TFT的像素电极和为了液晶的取向而淀积的下取向层的TFT基板阵列形成在下基板上。
LCD板的制造工艺分成用于形成TFT阵列和颜色过滤器阵列的图案化工艺、用于将TFT基板和颜色过滤器基板与设置在他们之间的液晶装配起来的装配工艺和用于检测有缺陷的LCD板的检查工艺。
在驱动集成电路(IC)附连到LCD板之前，检查工艺检查在LCD板中是否存在缺陷。具体地讲，在检查工艺中，在与装配有背光单元和驱动IC的完成产品的LCD模块相同的环境下制作的检查装置轮检LCD板。用与驱动LCD模块时所用的驱动信号相同的检查信号施加到轮检的LCD板上，因而显示图像。如果缺陷发生在LCD板的信号线中，则因为连接到缺陷信号线的像素显示了不同于连接到正常信号线的像素的图像，所以易于确认LCD板的缺陷状态。
为了在检查工艺期间给信号线施加检查信号，连接到信号线的信号焊盘要逐个连接到探针插脚。
然而，即使外来物质出现在信号焊盘上，如果探针插脚有损坏，或者如果信号焊盘和探针插脚之间没有对准，则因为显示在LCD板上的图像是相同的，所以工作人员不能确定缺陷是由信号焊盘短路还是由探针所造成。
发明内容
因此，本发明的目标是提供用于检查显示板的装置和方法，其可以改善检查工艺的检测能力。
根据本发明的一个方面，提供一种检查显示板的装置，包括：探针单元，具有多个探针插脚，用于给形成在显示板上的多个信号焊盘施加电信号；和导电膜，从探针单元的底部可前后移动，其中该装置具有第一模式和第二模式，在第一模式中，由于导电膜向前移动，导电膜设置在多个信号焊盘和探针插脚之间，而在第二模式中，由于导电膜向后移动，探针插脚直接连接到多个信号焊盘。
导电膜可以包括基膜和形成在基膜上并且连接到信号焊盘的导电层。
导电膜可以包括基膜、形成在基膜上的连接到信号焊盘的区域的导电橡胶和形成在基膜其它区域上的导电层。
导电层由铍铜(BeCu)形成。
该装置还包括用于调整导电膜位置和固定导电膜的膜锁定单元(filmblock unit)。
膜锁定单元包括：膜固定条，具有台阶突起表面，导电膜安装其上；固定块，用于固定安装在台阶突起表面上的导电膜；和滚筒，用于调整膜锁定单元的位置。
导电膜根据对应于每个驱动集成电路的多个信号焊盘单独连接。
在第一模式中，给探针插脚施加相同的电信号，而在第二模式中，给探针插脚施加至少两种不同的电信号。
根据本发明的另一个方面，提供检查显示板的方法，其步骤包括：向前移动导电膜，从而导电膜可以设置在形成在显示板上的多个信号焊盘和探针插脚之间；用探针插脚给连接到导电膜上的多个信号焊盘施加第一电信号；通过向后移动导电膜将探针插脚直接连接到多个信号焊盘；以及用探针插脚给多个信号焊盘施加第二电信号。
施加第一电信号的步骤用探针插脚给多个信号焊盘施加相同的检查信号。
施加第二电信号的步骤用探针插脚给多个信号焊盘施加至少两种不同的检查信号。
导电膜固定到膜锁定单元，以前后移动。
导电膜根据对应于每个驱动集成电路的多个信号焊盘单独连接。
附图说明
结合附图，通过下面的详细描述，本发明的上述和其他的目标、特征和优点将变得更明显易懂，其中：
图1是图解根据本发明示范性实施例的显示板检查装置的透视图；
图2A是图解分块形成的图1所示导电膜的视图；
图2B是图解一个整体形态形成的图1所示导电膜的视图；
图3是图解用于固定图1所示导电膜的膜锁定单元的透视图；
图4A是图解根据本发明第一示范性实施例的图1所示导电膜的透视图；
图4B是图解根据本发明第二示范性实施例的图1所示导电膜的透视图；
图5A和图5B是用于描述根据本发明示范性实施例的检测显示板信号线和信号焊盘缺陷方法的视图；和
图6A和图6B是用于描述根据本发明示范性实施例的检测检查装置缺陷方法的视图。
具体实施方式
现在将参照附图描述本发明的示范性实施例。
图1是图解根据本发明示范性实施例的显示板检查装置的透视图。
参照图1，根据本发明的显示板检查装置包括选择性连接到信号焊盘106的导电膜110和用于给信号焊盘106施加检查信号的探针单元120。
导电膜110可以形成为两块或多块，每块都由对应于每个IC的多个信号焊盘106组成，如图2A所示，或者形成为一个整体形态，以便连接到所有的信号焊盘106，如图2B所示。以分块或一个整体形态形成的导电膜110将信号焊盘106连接到探针插脚122。黑色检查信号通过探针插脚122施加到连接到导电膜110的信号焊盘106。于是，连接到正常信号焊盘和正常信号线的像素显示黑色，而连接到缺陷信号焊盘和/或缺陷信号线的像素显示对应像素的颜色。因此导电膜110用于检测信号焊盘106和连接到信号焊盘106的信号线108的短路。
导电膜110安装并固定在膜锁定单元130中，如图3所示。膜锁定单元130包括具有台阶突起表面134的膜固定条132和用于固定安装在台阶突起表面134上的导电膜110的固定块136。形成在膜锁定单元130中的滚筒(未示出)在水平和/或垂直方向上直线移动膜锁定单元130。固定在膜锁定单元130中的导电膜110通过滚筒自动地与信号焊盘106连接或分离。
导电膜110由形成在基膜112上的导电材料的导电层114组成，如图4A所示。作为选择，导电膜110可以由导电橡胶116和导电材料的导电层114组成，导电橡胶116形成在连接到信号焊盘106的区域的基膜112上，而导电材料的导电层114形成在不连接到信号焊盘106的区域的基膜112上，如图4B所示。导电层114由铍铜(BeCu)形成，厚度为例如20至100μm。导电橡胶116由弹性材料形成，以改善与信号焊盘106的接触力。
探针单元120包括探针主体124和从探针主体124突出出来的探针插脚122。
探针插脚122固定到探针主体124上。探针插脚122固定到探针主体124的位置根据探针主体124的移动来调节。
在信号焊盘106和/或信号线108的缺陷检查期间，探针插脚122通过导电膜110连接到分块或整体形态的信号焊盘106。在探针插脚122的缺陷检查期间，探针插脚122逐一直接连接到信号焊盘106。探针插脚122从连接到探针单元120的检查信号发生器(未示出)给信号焊盘106施加黑色检查信号。
同时，形成有信号焊盘106和信号线108的显示板可适用于包括TFT基板104和颜色过滤器基板102的LCD板100，TFT基板104和颜色过滤器基板102与设置在其间的液晶装配在一起。用于给LCD板100的栅极线施加栅极信号的栅极IC安装在栅极带载封装上。因为栅极IC由包括多个TFT的移位寄存器组成，所以他可以与连接到LCD板100的像素和非显示区中的多个信号线的TFT安装在一起。
图1所示显示板不仅用于LCD显示板，而且用于等离子显示板、电致发光显示器、场致发光显示器等。
图5A、5B、6A和6B是用于描述根据本发明的检查显示板方法的视图。
固定到膜锁定单元130的导电膜110通过膜锁定单元130的滚筒朝着LCD板100的信号焊盘106向前移动。接下来，LCD板100通过装载装置(未示出)朝着导电膜110升高，并且因此LCD板100的信号焊盘106与导电膜110接触。这时，导电膜110电短路包含在至少一块中的多个信号焊盘106。
通过导电膜110短路的信号焊盘106连接到朝着导电膜110落下的探针单元120的探针插脚122，如图5A和图5B所示。探针插脚122给在块中短路的信号焊盘106施加来自连接到探针单元120的检查信号发生器(未示出)的第一检查信号、黑色信号。在这种情况下，即使包含在每个块中的至少一个信号焊盘106或对应于每个块的至少一个探针插脚122被损坏，同样的检查信号也可以通过导电膜110施加给每个块的信号焊盘106。因此，可以防止在探针插脚122和信号焊盘106之间的接触失败。施加给信号焊盘106的检查信号通过连接到信号焊盘106的信号线108施加给连接到信号线108的像素。
下面，工作人员通过用眼睛视觉观察或通过光学仪器自动探测根据在LCD板100上显示的图像来确定在LCD板100中是否存在缺陷。即连接到正常信号焊盘和正常信号线的像素显示黑色图像，而连接到有缺陷信号焊盘和/或有缺陷信号线的像素显示对应像素的颜色。从而，有缺陷的信号焊盘、有缺陷的信号线和有缺陷的像素可以通过导电膜110来检测。
接下来，LCD板100在与导电膜110相反的方向上通过装载装置落下。如图6A和6B所示，导电膜110通过膜锁定单元130的滚筒从LCD板100的信号焊盘106向后移动。
下面，LCD板100的信号焊盘106通过落向信号焊盘106的探针单元120连接到探针插脚122。探针插脚122逐一对应于信号焊盘106。第二检查信号、黑色信号从连接到探针单元120的检查信号发生器施加给连接到探针插脚122的信号焊盘106。第二检查信号可以与第一检查信号相同或不同。作为选择，第二检查信号可以是至少两个不同的检查信号。第二检查信号通过连接到信号焊盘106的信号线108施加给连接到信号线108的像素。
下面，工作人员通过用眼睛视觉观察或通过光学仪器自动探测确定在LCD板100中是否存在缺陷。即连接到正常信号焊盘和正常信号线的像素显示黑色图像，而连接到有缺陷信号焊盘和/或有缺陷信号线的像素显示对应像素的颜色。
如果信号焊盘106和信号线108通过第一和第二检查工艺重复检出，则表明他们短路了或他们具有外来物质。如果信号焊盘106和信号线108不是在第一检查工艺而是在第二检查工艺期间被检出，则意味着对应那些信号焊盘106的探针插脚122有缺陷。因此，在第二检查工艺期间，探针插脚122的缺陷可以通过逐一连接探针插脚122和信号焊盘106来检测。
如上面所描述，通过电短路由至少一个块组成的多个信号焊盘，给多个信号焊盘施加相同的第一检查信号，然后给信号焊盘施加第二检查信号。
因此，根据本发明的用于检查LCD板的装置和方法，通过使用第一和第二检查信号的检查工艺，可以准确地确定在信号线、信号焊盘、像素中是否存在缺陷。另外，根据本发明的用于检查LCD板的装置和方法还可以确定连接到信号焊盘的探针插脚是否有缺陷。
尽管已经对本发明参照其中的一些优选实施例进行了展示和描述，但是本领域的技术人员应该理解的是，可以对其进行形式上和细节上的各种变化而不脱离如所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。

Claims (13)

1.一种用于检查显示板的装置，包括：
探针单元，具有用于给形成在该显示板上的多个信号焊盘施加电信号的多个探针插脚；和
导电膜，从该探针单元的底部可前后移动；
其中该装置具有第一模式和第二模式，在该第一模式中，由于该导电膜向前移动，该导电膜设置在该多个信号焊盘和该探针插脚之间使得所述探针插脚通过所述导电膜连接到所述多个信号焊盘，而在该第二模式中，由于该导电膜向后移动，该探针插脚直接连接到该多个信号焊盘。
2.如权利要求1所述的装置，其中该导电膜包括：
基膜；和
导电层，形成在该基膜上，并且连接到该信号焊盘。
3.如权利要求1所述的装置，其中该导电膜包括：
基膜；
导电橡胶，形成在该基膜上的连接到该信号焊盘的区域；和
导电层，形成在该基膜的其余区域上。
4.如权利要求2或3所述的装置，其中该导电层由铍铜形成。
5.如权利要求1所述的装置，还包括用于调整该导电膜的位置和固定该导电膜的膜锁定单元。
6.如权利要求5所述的装置，其中该膜锁定单元包括：
膜固定条，具有该导电膜安装于其上的台阶突起表面；
固定块，用于固定安装在该台阶突起表面上的该导电膜；和
滚筒，用于调整该膜锁定单元的位置。
7.如权利要求1所述的装置，其中该导电膜形成为两块或更多块，每块与对应于每个驱动集成电路的多个信号焊盘相对应。
8.如权利要求1所述的装置，其中在该第一模式中给该探针插脚施加相同的电信号，而在该第二模式中给该探针插脚施加至少两种不同的电信号。
9.一种用于检查显示板的方法，包括以下步骤：
向前移动导电膜，以便该导电膜设置在形成在该显示板上的多个信号焊盘和探针插脚之间；
通过使用该探针插脚给连接到该导电膜的该多个信号焊盘施加第一电信号；
通过向后移动该导电膜将该探针插脚直接连接到该多个信号焊盘；以及
通过利用该探针插脚给该多个信号焊盘施加第二电信号。
10.如权利要求9所述的方法，其中该施加第一电信号的步骤通过利用该探针插脚给该多个信号焊盘施加相同的检查信号。
11.如权利要求9所述的方法，其中该施加第二电信号的步骤通过利用该探针插脚给该多个信号焊盘施加至少两种不同的检查信号。
12.如权利要求9所述的方法，其中该导电膜固定到膜锁定单元，并且是为了前后移动。
13.如权利要求9所述的方法，其中该导电膜形成为两块或更多块，每块与对应于每个驱动集成电路的多个信号焊盘相对应。
CN2007101010392A 2006-04-21 2007-04-23 检查显示板的装置和方法 Expired - Fee Related CN101059605B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR35991/06 2006-04-21
KR1020060035991A KR20070103990A (ko) 2006-04-21 2006-04-21 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101059605A CN101059605A (zh) 2007-10-24
CN101059605B true CN101059605B (zh) 2010-09-01

Family

ID=38763484

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007101010392A Expired - Fee Related CN101059605B (zh) 2006-04-21 2007-04-23 检查显示板的装置和方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP5441315B2 (zh)
KR (1) KR20070103990A (zh)
CN (1) CN101059605B (zh)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5432460B2 (ja) * 2008-02-25 2014-03-05 株式会社日本マイクロニクス 検査装置
KR100958007B1 (ko) * 2008-07-30 2010-05-17 삼성모바일디스플레이주식회사 평판표시패널의 검사장치
CN103094737A (zh) * 2011-11-05 2013-05-08 宝宸（厦门）光学科技有限公司 引脚结构与引脚连接结构
KR101322725B1 (ko) * 2012-03-20 2013-10-28 (주) 루켄테크놀러지스 프로브 유닛
CN104614911A (zh) * 2015-03-03 2015-05-13 京东方科技集团股份有限公司 一种基板及其制作方法、显示装置
CN107463014A (zh) 2017-09-26 2017-12-12 武汉华星光电技术有限公司 阵列基板及阵列基板测试结构
CN107632473B (zh) * 2017-10-18 2020-05-12 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Psva液晶显示面板
CN109003566B (zh) * 2018-06-19 2021-07-13 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 一种显示面板的检测装置及其检测方法
TWI694424B (zh) * 2019-03-29 2020-05-21 友達光電股份有限公司 顯示裝置及其製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000018577A (ko) * 1998-09-03 2000-04-06 윤종용 액정 표시 장치 패널의 검사 방법
KR20060029712A (ko) * 2004-08-04 2006-04-07 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브유니트

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62284384A (ja) * 1986-06-03 1987-12-10 日立電子エンジニアリング株式会社 プロ−ビング方式
JP2865323B2 (ja) * 1989-09-20 1999-03-08 三洋電機株式会社 液晶表示装置
JP2006071405A (ja) * 2004-09-01 2006-03-16 Yamaha Corp プローブユニット

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000018577A (ko) * 1998-09-03 2000-04-06 윤종용 액정 표시 장치 패널의 검사 방법
KR20060029712A (ko) * 2004-08-04 2006-04-07 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브유니트

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007292750A (ja) 2007-11-08
JP5441315B2 (ja) 2014-03-12
CN101059605A (zh) 2007-10-24
KR20070103990A (ko) 2007-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101059605B (zh) 检查显示板的装置和方法
KR101137863B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이 기판
KR100494685B1 (ko) 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법
US20060033852A1 (en) Array substrate, main substrate having the same and liquid crystal display device having the same
KR101281980B1 (ko) 오토 프로브 장치 및 이를 이용한 액정패널 검사방법
KR20040059670A (ko) 액정표시패널의 검사용 범프 구조
CN103676243B (zh) 一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置
KR0142014B1 (ko) 표시장치의 검사장치 및 검사방법
KR101543020B1 (ko) 액정패널과 연결기판 간의 접속 상태를 테스트하는 방법 및이를 이용한 액정표시장치
KR101585253B1 (ko) 액정표시장치
US20070235888A1 (en) Film type package and display apparatus having the same
KR100692691B1 (ko) 액정표시장치
KR101621560B1 (ko) 액정표시장치 테스트 패턴
KR20080027569A (ko) 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법
KR101192102B1 (ko) 오토 프루브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법
KR100771906B1 (ko) 액정 표시패널의 검사 장비
KR100684869B1 (ko) 액정 표시 패널 검사용 접촉 필름 및 검사 방법
US20240087492A1 (en) Display substrate, test method for the same and display device
KR100855484B1 (ko) 액정표시장치의 검사시스템
KR20070057325A (ko) 표시 기판 및 이의 검사 방법
KR101289939B1 (ko) 배선 필름용 커넥터 및 이를 이용한 액정표시장치용검사장치
KR20070109357A (ko) 액정패널 검사 장치 및 방법
KR20050003255A (ko) 액정 표시패널의 검사방법
CN115938252A (zh) 显示装置及检测其的检测方法
WO2011161867A1 (ja) 表示パネルの検査方法及び表示パネルの検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: SAMSUNG MONITOR CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.

Effective date: 20121031

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20121031

Address after: Gyeonggi Do, South Korea

Patentee after: Samsung Display Co.,Ltd.

Address before: Gyeonggi Do, South Korea

Patentee before: Samsung Electronics Co.,Ltd.

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20100901

Termination date: 20210423