JP2514236B2 - 表示装置 - Google Patents
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- JP2514236B2 JP2514236B2 JP63200849A JP20084988A JP2514236B2 JP 2514236 B2 JP2514236 B2 JP 2514236B2 JP 63200849 A JP63200849 A JP 63200849A JP 20084988 A JP20084988 A JP 20084988A JP 2514236 B2 JP2514236 B2 JP 2514236B2
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/36—Assembling printed circuits with other printed circuits
- H05K3/361—Assembling flexible printed circuits with other printed circuits
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、表示パネルと配線基板とが膜厚方向にのみ
通電を行う導電膜によって接続された表示装置に係り、
詳しくは表示パネルと配線基板との接続状態を検知する
ための機能を備えた表示装置に関するものである。
通電を行う導電膜によって接続された表示装置に係り、
詳しくは表示パネルと配線基板との接続状態を検知する
ための機能を備えた表示装置に関するものである。
アドレス表示素子として薄膜トランジスタを用いると
ともに、表示パネルとしてマトリクス型液晶表示パネル
を用いたものは、第５図に示すように、配線基板である
フレキシブル基板22に画像信号を発信するための駆動用
デバイス28が設けられており、第６図に示すように、フ
レキシブル基板22の一部と、マトリクス型液晶表示パネ
ルのガラス基板23の一部とが重ねて設けられた構成とな
っている。
ともに、表示パネルとしてマトリクス型液晶表示パネル
を用いたものは、第５図に示すように、配線基板である
フレキシブル基板22に画像信号を発信するための駆動用
デバイス28が設けられており、第６図に示すように、フ
レキシブル基板22の一部と、マトリクス型液晶表示パネ
ルのガラス基板23の一部とが重ねて設けられた構成とな
っている。
上記フレキシブル基板22には、第７図に示すように、
ガラス基板23との重ね合せ面の上側にあたる出力端子配
設部22aに出力端子である金属配線（Snメッキ＋Cu）26
が配設されている一方、ガラス基板23の下面にあたる入
力端子配設部23aには入力端子である金属配線（Ta＋IT
O）24が配設されている。
ガラス基板23との重ね合せ面の上側にあたる出力端子配
設部22aに出力端子である金属配線（Snメッキ＋Cu）26
が配設されている一方、ガラス基板23の下面にあたる入
力端子配設部23aには入力端子である金属配線（Ta＋IT
O）24が配設されている。
上記出力端子配設部22aと入力端子配設部23aとは、膜
厚方向にのみ通電を行うためのNi粒子25…を含有した異
方性導電膜27によって接続されており、金属配線26と金
属配線24とが、Ni粒子25…によって通電されるようにな
っている。
厚方向にのみ通電を行うためのNi粒子25…を含有した異
方性導電膜27によって接続されており、金属配線26と金
属配線24とが、Ni粒子25…によって通電されるようにな
っている。
そして、駆動用デバイス28からの画像信号が、金属配
線26からNi粒子25…を通じて金属配線24に通電されて、
薄膜トランジスタが作動して液晶が駆動されるものであ
る。
線26からNi粒子25…を通じて金属配線24に通電されて、
薄膜トランジスタが作動して液晶が駆動されるものであ
る。
ところが、上記従来の表示装置では、出力端子配設部
22aと入力端子配設部23aとの接続の際に、金属配線26と
Ni粒子25…との接続およびNi粒子25…と金属配線24との
接続には、良好な通電が行われるために必要な有効接続
幅が決められており、出力端子配設部22aと入力端子配
設部23aとがずれて接続された場合には、上記金属配線2
6とNi粒子25…との接続およびNi粒子25…と金属配線24
との接続が、有効接続幅よりも狭いものとなる。
22aと入力端子配設部23aとの接続の際に、金属配線26と
Ni粒子25…との接続およびNi粒子25…と金属配線24との
接続には、良好な通電が行われるために必要な有効接続
幅が決められており、出力端子配設部22aと入力端子配
設部23aとがずれて接続された場合には、上記金属配線2
6とNi粒子25…との接続およびNi粒子25…と金属配線24
との接続が、有効接続幅よりも狭いものとなる。
また、フレキシブル基板22およびガラス基板23の製造
に際して、出力端子配設部22aもしくは入力端子配設部2
3aのアライメント精度にバラツキが生じた場合にも、金
属配線26とNi粒子25…との接続およびNi粒子25…と金属
配線24との接続が有効接続幅よりも狭いものとなる。
に際して、出力端子配設部22aもしくは入力端子配設部2
3aのアライメント精度にバラツキが生じた場合にも、金
属配線26とNi粒子25…との接続およびNi粒子25…と金属
配線24との接続が有効接続幅よりも狭いものとなる。
このように、有効接続幅よりも狭い接続幅で接続がな
されると、有効接続幅の規格外れの状態となることがあ
る。この場合、金属配線26からNi粒子25…を通じて金属
配線24への通電が不安定もしくは不通となるばかりでな
く、このような不良品のまま後工程へ送られると、各検
査工程においてライン欠陥不良が発生するので、製品の
歩留り低下を招来して、結果的には製造コストが著しく
高くなってしまうという不都合を有していた。
されると、有効接続幅の規格外れの状態となることがあ
る。この場合、金属配線26からNi粒子25…を通じて金属
配線24への通電が不安定もしくは不通となるばかりでな
く、このような不良品のまま後工程へ送られると、各検
査工程においてライン欠陥不良が発生するので、製品の
歩留り低下を招来して、結果的には製造コストが著しく
高くなってしまうという不都合を有していた。
本発明に係る表示装置は、上記の課題を解決するため
に、表示素子に通電を行うための入力端子を設けた表示
パネルの入力端子配設部と、上記入力端子と対向位置に
出力端子を設けた配線基板の出力端子配設部とが、膜厚
方向にのみ通電を行うための導電膜によって接続された
表示装置において、上記入力端子配設部と出力端子配設
部とのいずれか一方に二つの検査端子が設けられ、他方
には上記導電膜を通して上記検査端子に通電するととも
にお互いが電気的に接続された２つの接続端子が設けら
れ、上記検査端子および上記接続端子が上記入力端子お
よび上記出力端子と平行配設され、平行配設される方向
の上記検査端子と上記接続端子の一方の端部をそれぞれ
揃えるとともに、上記検査端子の中心線の間隔と上記接
続端子の中心線の間隔とが互いに異なる間隔に設定され
ていることを特徴としている。
に、表示素子に通電を行うための入力端子を設けた表示
パネルの入力端子配設部と、上記入力端子と対向位置に
出力端子を設けた配線基板の出力端子配設部とが、膜厚
方向にのみ通電を行うための導電膜によって接続された
表示装置において、上記入力端子配設部と出力端子配設
部とのいずれか一方に二つの検査端子が設けられ、他方
には上記導電膜を通して上記検査端子に通電するととも
にお互いが電気的に接続された２つの接続端子が設けら
れ、上記検査端子および上記接続端子が上記入力端子お
よび上記出力端子と平行配設され、平行配設される方向
の上記検査端子と上記接続端子の一方の端部をそれぞれ
揃えるとともに、上記検査端子の中心線の間隔と上記接
続端子の中心線の間隔とが互いに異なる間隔に設定され
ていることを特徴としている。
上記の構成により、検査端子同士をテスター等で互い
に通電させて、その通電状態を確認することによって、
入力端子配設部と出力端子配設部とがずれて接続されて
いたり、製造に際してアライメント精度にバラツキが生
じたりして、入力端子から導電膜を通じて出力端子への
通電が不安定もしくは不通となった状態であることを、
接続工程の段階で検査することができる。したがって、
入力端子配設部と出力端子配設部とを接続した時点で上
記のテスター等を用いて通電状態の良くないものを選別
すれば、導電膜と入力端子もしくは出力端子との接続が
有効接続幅より狭くなったものを有効接続幅の規格外れ
として取り除いてリワークすることが可能となるので、
後工程における各検査工程においてライン欠陥不良を減
少させて、製品の歩留りを向上させ、ひいてはコストダ
ウンを図ることが可能となる。
に通電させて、その通電状態を確認することによって、
入力端子配設部と出力端子配設部とがずれて接続されて
いたり、製造に際してアライメント精度にバラツキが生
じたりして、入力端子から導電膜を通じて出力端子への
通電が不安定もしくは不通となった状態であることを、
接続工程の段階で検査することができる。したがって、
入力端子配設部と出力端子配設部とを接続した時点で上
記のテスター等を用いて通電状態の良くないものを選別
すれば、導電膜と入力端子もしくは出力端子との接続が
有効接続幅より狭くなったものを有効接続幅の規格外れ
として取り除いてリワークすることが可能となるので、
後工程における各検査工程においてライン欠陥不良を減
少させて、製品の歩留りを向上させ、ひいてはコストダ
ウンを図ることが可能となる。
さらに、本発明の表示装置では、検査端子の中心線の
間隔と接続端子の中心線の間隔とが互いに異なる間隔に
設定されているので、有効接続幅の規格外れの状態を検
出するために、従来必要であった検査端子あるいは接続
端子の幅の調整が不要になる。その結果、検査端子およ
び接続端子の幅を他の入出力端子の幅と同じにすること
が可能となり、有効接続幅の規格外れの状態を検出可能
な表示装置を従来よりも容易に製造することができる。
間隔と接続端子の中心線の間隔とが互いに異なる間隔に
設定されているので、有効接続幅の規格外れの状態を検
出するために、従来必要であった検査端子あるいは接続
端子の幅の調整が不要になる。その結果、検査端子およ
び接続端子の幅を他の入出力端子の幅と同じにすること
が可能となり、有効接続幅の規格外れの状態を検出可能
な表示装置を従来よりも容易に製造することができる。
本発明の一実施例を第１図ないし第４図に基づいて説
明すれば、以下の通りである。
明すれば、以下の通りである。
本実施例の表示装置は、アドレス表示装置として薄膜
トランジスタを用いるとともに、表示パネルとしてマト
リクス型液晶表示パネルを用いたものであり、これは第
１図に示すように、配線基板であるフレキシブル基板２
に画像信号を発信するための駆動用デバイス10が設けら
れており、このフレキシブル基板２の一部と、マトリク
ス型液晶表示パネルのガラス基板３の一部が重ねて設け
られた構成となっている。
トランジスタを用いるとともに、表示パネルとしてマト
リクス型液晶表示パネルを用いたものであり、これは第
１図に示すように、配線基板であるフレキシブル基板２
に画像信号を発信するための駆動用デバイス10が設けら
れており、このフレキシブル基板２の一部と、マトリク
ス型液晶表示パネルのガラス基板３の一部が重ねて設け
られた構成となっている。
上記フレキシブル基板２には、第２図（ａ）に示すよ
うに、ガラス基板３との重ね合せ面にあたる出力端子配
設部2aに出力端子である金属配線（Snメッキ＋Cu）６が
配設されているとともに、金属配線６の側方には、接続
端子であるダミー配線9a・9b・9cが略逆字形に接続し
て配設されている。
うに、ガラス基板３との重ね合せ面にあたる出力端子配
設部2aに出力端子である金属配線（Snメッキ＋Cu）６が
配設されているとともに、金属配線６の側方には、接続
端子であるダミー配線9a・9b・9cが略逆字形に接続し
て配設されている。
また、上記のガラス基板３には、第２図（ｂ）に示す
ように、上記フレキシブル基板２との重ね合せ面にあた
る入力端子配設部3aに、上記の金属配線６と対向配置さ
れた入力端子である金属配線（Ta＋ITO）４が設けられ
ており、その側方には、上記略逆字形をなすダミー配
線9a・9cの外側端を対向配置基準として幅の狭くなった
検査端子であるダミー配線12・13が設けられている。一
方のダミー配線12は上記のダミー配線9aと対向配置さ
れ、他方のダミー配線13は上記のダミー配線9cと対向配
置されている。さらに、これらダミー配線12・13の端部
12a・13aは、上記フレキシブル基板２との重ね合せ範囲
外に位置しているとともに、これらの端部12a・13aに
は、位置ずれ検知用パッド14・15が接続されている。
ように、上記フレキシブル基板２との重ね合せ面にあた
る入力端子配設部3aに、上記の金属配線６と対向配置さ
れた入力端子である金属配線（Ta＋ITO）４が設けられ
ており、その側方には、上記略逆字形をなすダミー配
線9a・9cの外側端を対向配置基準として幅の狭くなった
検査端子であるダミー配線12・13が設けられている。一
方のダミー配線12は上記のダミー配線9aと対向配置さ
れ、他方のダミー配線13は上記のダミー配線9cと対向配
置されている。さらに、これらダミー配線12・13の端部
12a・13aは、上記フレキシブル基板２との重ね合せ範囲
外に位置しているとともに、これらの端部12a・13aに
は、位置ずれ検知用パッド14・15が接続されている。
そして、上記出力端子配設部2aと入力端子配設部3aと
は、第３図（ａ）に示すように、膜厚方向にのみ通電を
行うためのNi粒子５…を含有した異方性導電膜７によっ
て接着されており、金属配線６と金属配線４とがNi粒子
５…を介して通電され、ダミー配線9a・9cとダミー配線
12・13もNi粒子５…を介して通電されるようになってい
る。
は、第３図（ａ）に示すように、膜厚方向にのみ通電を
行うためのNi粒子５…を含有した異方性導電膜７によっ
て接着されており、金属配線６と金属配線４とがNi粒子
５…を介して通電され、ダミー配線9a・9cとダミー配線
12・13もNi粒子５…を介して通電されるようになってい
る。
さらに、ガラス基板３に設けられたダミー配線12・13
の間隔（すなわち、ダミー配線12の中心線とダミー配線
13の中心線との距離）は、第３図（ａ）（ｂ）に示すよ
うに、フレキシブル基板２に設けられたダミー配線9a・
9cの間隔（すなわち、ダミー配線9aの中心線とダミー配
線9cの中心線との距離）とは異なる間隔になっている。
の間隔（すなわち、ダミー配線12の中心線とダミー配線
13の中心線との距離）は、第３図（ａ）（ｂ）に示すよ
うに、フレキシブル基板２に設けられたダミー配線9a・
9cの間隔（すなわち、ダミー配線9aの中心線とダミー配
線9cの中心線との距離）とは異なる間隔になっている。
上記の構成において、表示を行うには、先ず、駆動用
デバイス10から画像信号が発信され、この画像信号が金
属配線６からNi粒子５…を通じて金属配線４に通電さ
れ、薄膜トランジスタを作動させて液晶を駆動すること
になる。
デバイス10から画像信号が発信され、この画像信号が金
属配線６からNi粒子５…を通じて金属配線４に通電さ
れ、薄膜トランジスタを作動させて液晶を駆動すること
になる。
上記の構成によれば、入力端子配設部3aと出力端子配
設部2aとが、Ni粒子５…を含有した異方性導電膜７によ
って接着された後、位置ずれ検知用パッド14・15にテス
ター等を当てて、接続工程の段階で導通チェックを行う
ことができる。
設部2aとが、Ni粒子５…を含有した異方性導電膜７によ
って接着された後、位置ずれ検知用パッド14・15にテス
ター等を当てて、接続工程の段階で導通チェックを行う
ことができる。
上記の導通チェックにおいて、第３図（ｂ）に示すよ
うに、入力端子配設部3aと出力端子配設部2aとがずれて
いない場合には、画像信号は、「位置ずれ検知用パッド
14ダミー配線12ダミー配線9aダミー配線9bダミ
ー配線9cダミー配線13位置ずれ検知用パッド15」の
経路で導通する。
うに、入力端子配設部3aと出力端子配設部2aとがずれて
いない場合には、画像信号は、「位置ずれ検知用パッド
14ダミー配線12ダミー配線9aダミー配線9bダミ
ー配線9cダミー配線13位置ずれ検知用パッド15」の
経路で導通する。
一方、第４図（ａ）に示すように、フレキシブル基板
２が矢印Ａ方向にずれて接続されている場合には、画像
信号は、「位置ずれ検知用パッド14ダミー配線12
（不安定）ダミー配線9aダミー配線9bダミー配線
9c（不通）ダミー配線13位置ずれ検知用パッド1
5」の経路で導通すべきところ、ダミー配線9cとダミー
配線13との間が少なくとも不通となってしまう。これに
よって金属配線４・６間の導通状態が不安定もしくは不
通であることを検出し、有効接続幅の規格外れあること
を確認することができる。
２が矢印Ａ方向にずれて接続されている場合には、画像
信号は、「位置ずれ検知用パッド14ダミー配線12
（不安定）ダミー配線9aダミー配線9bダミー配線
9c（不通）ダミー配線13位置ずれ検知用パッド1
5」の経路で導通すべきところ、ダミー配線9cとダミー
配線13との間が少なくとも不通となってしまう。これに
よって金属配線４・６間の導通状態が不安定もしくは不
通であることを検出し、有効接続幅の規格外れあること
を確認することができる。
また、第４図（ｂ）に示すように、フレキシブル基板
２が矢印Ｂ方向にずれて接続されている場合には、画像
信号は、「位置ずれ検知用パッド14ダミー配線12
（不通）ダミー配線9aダミー配線9bダミー配線9c
（不安定）ダミー配線13位置ずれ検知用パッド1
5」の経路で導通すべきところ、ダミー配線12とダミー
配線9aとの間が少なくとも不通となってしまう。これに
よって金属配線４・６間の導通状態が不安定もしくは不
通であることを検出し、有効接続幅の規格外れであるこ
とを確認することができる。
２が矢印Ｂ方向にずれて接続されている場合には、画像
信号は、「位置ずれ検知用パッド14ダミー配線12
（不通）ダミー配線9aダミー配線9bダミー配線9c
（不安定）ダミー配線13位置ずれ検知用パッド1
5」の経路で導通すべきところ、ダミー配線12とダミー
配線9aとの間が少なくとも不通となってしまう。これに
よって金属配線４・６間の導通状態が不安定もしくは不
通であることを検出し、有効接続幅の規格外れであるこ
とを確認することができる。
このように、位置ずれ検知用パッド14・15から通電さ
せて、その通電状態を確認することによって、入力端子
配設部3aと出力端子配設部2aとがずれて接続されていた
り、製造に際してアライメント精度にバラツキが生じた
りして、金属配線４からNi粒子５…を通じて金属配線６
への通電が不安定もしくは不通となった状態であること
を、接続工程の段階で検査することが可能となる。
せて、その通電状態を確認することによって、入力端子
配設部3aと出力端子配設部2aとがずれて接続されていた
り、製造に際してアライメント精度にバラツキが生じた
りして、金属配線４からNi粒子５…を通じて金属配線６
への通電が不安定もしくは不通となった状態であること
を、接続工程の段階で検査することが可能となる。
なお、本実施例では、入力端子配設部3aにダミー配線
12・13と位置ずれ検知用パッド14・15とを設けたが、こ
れは出力端子配設部2aに設けたものでも良く、また、延
長したダミー配線12・13自体を位置ずれ検知用パッドと
して利用しても良いものである。
12・13と位置ずれ検知用パッド14・15とを設けたが、こ
れは出力端子配設部2aに設けたものでも良く、また、延
長したダミー配線12・13自体を位置ずれ検知用パッドと
して利用しても良いものである。
本発明に係る表示装置は、以上のように、表示素子に
通電を行うための入力端子を設けた表示パネルの入力端
子配設部と、上記入力端子と対向位置に出力端子を設け
た配線基板の出力端子配設部とが、膜厚方向にのみ通電
を行うための導電膜によって接続された表示装置におい
て、上記入力端子配設部と出力端子配設部とのいずれか
一方に複数の検査端子が設けられる一方、他方には上記
の導電膜を通して複数の検査端子を互いに通電させるた
めの接続端子が設けられ、これら検査端子および接続端
子が上記の入力端子および出力端子と平行に配設されて
いるとともに、上記入力端子配設部と出力端子配設部と
が有効接続幅の規格外れの状態で接続されているとき少
なくとも一つの検査端子と接続端子とが不通となるよう
に、上記検査端子の中心線の間隔と上記接続端子の中心
線の間隔とが互いに異なる間隔に設定されている構成で
ある。
通電を行うための入力端子を設けた表示パネルの入力端
子配設部と、上記入力端子と対向位置に出力端子を設け
た配線基板の出力端子配設部とが、膜厚方向にのみ通電
を行うための導電膜によって接続された表示装置におい
て、上記入力端子配設部と出力端子配設部とのいずれか
一方に複数の検査端子が設けられる一方、他方には上記
の導電膜を通して複数の検査端子を互いに通電させるた
めの接続端子が設けられ、これら検査端子および接続端
子が上記の入力端子および出力端子と平行に配設されて
いるとともに、上記入力端子配設部と出力端子配設部と
が有効接続幅の規格外れの状態で接続されているとき少
なくとも一つの検査端子と接続端子とが不通となるよう
に、上記検査端子の中心線の間隔と上記接続端子の中心
線の間隔とが互いに異なる間隔に設定されている構成で
ある。
これにより、接続工程の段階で有効接続幅の規格外れ
の状態を容易に検査することができるので、接続信頼性
が大幅に向上するとともに、接続工程で発生した不良品
がそのまま後工程へ送られることはなくなる。したがっ
て、製品の歩留りが向上するので、製造コストの低減を
図ることができるという効果を奏する。
の状態を容易に検査することができるので、接続信頼性
が大幅に向上するとともに、接続工程で発生した不良品
がそのまま後工程へ送られることはなくなる。したがっ
て、製品の歩留りが向上するので、製造コストの低減を
図ることができるという効果を奏する。
更に本願発明では、接続の位置ずれにともない接続面
積が減少する構造となっているため、検査端子間の抵抗
等を測定することによりその位置ずれ程度を判断するこ
とができるため、接続装置をメンテナンスすることによ
り、有効接続幅の規格外れの商品を製造することが防げ
るため、大幅なコスト削減になる。
積が減少する構造となっているため、検査端子間の抵抗
等を測定することによりその位置ずれ程度を判断するこ
とができるため、接続装置をメンテナンスすることによ
り、有効接続幅の規格外れの商品を製造することが防げ
るため、大幅なコスト削減になる。
第１図ないし第４図は本発明の一実施例を示すものであ
って、第１図は表示装置の要部を示す平面図、第２図
（ａ）は出力端子配設部における金属配線とダミー配線
との配設位置を示す説明図、同図（ｂ）は入力端子配設
部における金属配線とダミー配線との配設位置を示す説
明図、第３図（ａ）は出力端子配設部と入力端子配設部
との接続部分を示す縦断正面図、同図（ｂ）は出力端子
配設部と入力端子配設部とを重ね合せた状態の平面図、
第４図（ａ）（ｂ）はそれぞれ出力端子配設部と入力端
子配設部とが有効接続幅の規格外れの状態にずれて重ね
合された状態を示す平面図である。 第５図ないし第７図は従来例を示すものであって、第５
図は表示装置の要部を示す平面図、第６図は出力端子配
設部と入力端子配設部とを重ね合せた状態の側面図、第
７図は出力端子配設部と入力端子配設部との重ね合せ部
を示す縦断側面図である。 ２はフレキシブル基板（配線基板）、３はガラス基板、
2aは出力端子配設部、４は金属配線（入力端子）、５は
Ni粒子、６は金属配線（出力端子）、７は異方性導電
膜、9a・9b・9cはダミー配線（接続端子）、10は駆動用
デバイス、12・13はダミー配線（検査端子）、12a・13a
は端部、14・15は位置ずれ検知用パッドである。
って、第１図は表示装置の要部を示す平面図、第２図
（ａ）は出力端子配設部における金属配線とダミー配線
との配設位置を示す説明図、同図（ｂ）は入力端子配設
部における金属配線とダミー配線との配設位置を示す説
明図、第３図（ａ）は出力端子配設部と入力端子配設部
との接続部分を示す縦断正面図、同図（ｂ）は出力端子
配設部と入力端子配設部とを重ね合せた状態の平面図、
第４図（ａ）（ｂ）はそれぞれ出力端子配設部と入力端
子配設部とが有効接続幅の規格外れの状態にずれて重ね
合された状態を示す平面図である。 第５図ないし第７図は従来例を示すものであって、第５
図は表示装置の要部を示す平面図、第６図は出力端子配
設部と入力端子配設部とを重ね合せた状態の側面図、第
７図は出力端子配設部と入力端子配設部との重ね合せ部
を示す縦断側面図である。 ２はフレキシブル基板（配線基板）、３はガラス基板、
2aは出力端子配設部、４は金属配線（入力端子）、５は
Ni粒子、６は金属配線（出力端子）、７は異方性導電
膜、9a・9b・9cはダミー配線（接続端子）、10は駆動用
デバイス、12・13はダミー配線（検査端子）、12a・13a
は端部、14・15は位置ずれ検知用パッドである。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−237431（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−72983（ＪＰ，Ａ) 実開 昭59−144685（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】表示素子に通電を行うための入力端子を設
けた表示パネルの入力端子配設部と、上記入力端子と対
向位置に出力端子を設けた配線基板の出力端子配設部と
が、膜厚方向にのみ通電を行うための導電膜によって接
続された表示装置において、 上記入力端子配設部と出力端子配設部とのいずれか一方
に二つの検査端子が設けられた、他方には上記導電膜を
通して上記検査端子に通電するとともにお互いが電気的
に接続された２つの接続端子が設けられ、上記検査端子
および上記接続端子が上記入力端子および上記出力端子
と平行配設され、平行配設される方向の上記検査端子と
上記接続端子の一方の端部をそれぞれ揃えるとともに、
上記検査端子の中心線の間隔と上記接続端子の中心線の
間隔とが互いに異なる間隔に設定されていることを特徴
とする表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63200849A JP2514236B2 (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63200849A JP2514236B2 (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0248638A JPH0248638A (ja) | 1990-02-19 |
| JP2514236B2 true JP2514236B2 (ja) | 1996-07-10 |
Family
ID=16431241
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63200849A Expired - Lifetime JP2514236B2 (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2514236B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6390083B2 (en) * | 1999-12-20 | 2002-05-21 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Control apparatus for internal combustion engine |
| JP2001185257A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-06 | Sousei Denshi:Kk | ヒートシールコネクター |
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| JP3433743B2 (ja) * | 2001-11-12 | 2003-08-04 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶パネル |
| JP3520422B2 (ja) * | 2002-11-14 | 2004-04-19 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶パネルの製造方法 |
| JP6683241B1 (ja) | 2018-12-25 | 2020-04-15 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、電子機器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60237431A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-26 | Optrex Corp | 表示セルの位置合せ方法 |
-
1988
- 1988-08-10 JP JP63200849A patent/JP2514236B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0248638A (ja) | 1990-02-19 |
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Legal Events
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