CN220553058U - 测试治具及测试系统 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种测试治具及测试系统，属于显示技术领域，其可解决现有的液晶盒点灯测试不能检测出其中的数据选择器是否存在异常的问题。本公开的测试治具，用于对液晶盒进行测试，液晶盒包括：沿列方向排布的多条数据线、与数据线的一端连接的液晶盒测试单元、与数据线另一端连接的数据选择器、与液晶盒测试单元连接的多个测试焊盘、与数据选择器连接的多个绑定焊盘，其特征在于，测试治具包括：多个探针和数据短路条；探针与测试焊盘对应设置，用于传输第一测试信号；数据短路条与各个绑定焊盘对应设置，用于将各个绑定焊盘短接，并传输第二测试信号。

Description

测试治具及测试系统

技术领域

本公开属于显示技术领域，具体涉及一种测试治具及测试系统。

背景技术

液晶显示面板主要由对盒设置的阵列基板和彩膜基板、以及阵列基板和彩膜基板之间的液晶层组成，液晶显示面板成盒后就会进行点灯检测，确认液晶盒是否存在不良，再把良品进行偏光片贴附，驱动芯片绑定等模组工艺组装成显示模组。显示模组需要再进行点灯测试确认是否存在不良，确保最终到客户端的显示产品的显示品质。

实用新型内容

本公开旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供了一种测试治具及测试系统。

第一方面，本公开实施例提供了一种测试治具，用于对液晶盒进行测试，所述液晶盒包括：沿列方向排布的多条数据线、与所述数据线的一端连接的液晶盒测试单元、与所述数据线另一端连接的数据选择器、与所述液晶盒测试单元连接的多个测试焊盘、与所述数据选择器连接的多个绑定焊盘，其特征在于，所述测试治具包括：多个探针和数据短路条；

所述探针与所述测试焊盘对应设置，用于传输第一测试信号；

所述数据短路条与各个所述绑定焊盘对应设置，用于将各个所述绑定焊盘短接，并传输第二测试信号。

可选地，所述数据短路条包括：柔性线路板。

可选地，所述柔性线路板包括：裸露的多个导电部；

所述导电部与所述绑定焊盘一一对应设置。

可选地，所述导电部的材料与所述绑定焊盘的材料相同。

可选地，所述导电部呈多行排布；不同行中相邻的所述导电部交错设置。

可选地，所述导电部为所述柔性线路板的金手指。

可选地，所述测试治具还包括：模组测试单元；

所述模组测试单元与所述数据短路条电连接。

可选地，所述探针与所述测试焊盘的材料相同。

可选地，所述测试治具还包括：支撑结构；

所述探针和所述数据短路条均位于所述支撑结构上。

第二方面，本公开实施例提供了一种测试系统，所述测试系统包括如上述提供的测试治具。

附图说明

图1为一种示例性的液晶盒的结构示意图。

图2为液晶盒点灯测试的结构示意图。

图3为显示模组点灯测试的结构示意图。

图4为本公开实施例提供的一种测试治具的结构示意图。

图5为图4所示的测试治具应用于液晶盒测试的结构示意图。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本公开的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本公开作进一步详细描述。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

图1为一种示例性的液晶盒的结构示意图，如图1所示，该液晶盒包括：沿列方向排布的多条数据线101、与数据线101的一端连接的液晶盒测试单元102、与数据线101另一端连接的数据选择器103、与液晶盒测试单元102连接的多个测试焊盘104、与数据选择器103连接的多个绑定焊盘105。液晶盒还包括：沿行方向排布的多条栅线(图中未示出)、以及与栅线连接的栅极驱动电路(图中未示出)。栅极驱动电路可以为各行栅线提供栅极驱动信号，以各行控制各行栅线开启。

图2为液晶盒点灯测试的结构示意图，如图2所示，在液晶盒点灯测试时，通过液晶盒点灯治具中的探针与液晶盒中的测试焊盘104对应连接，并输入相应的第一测试信号，使得液晶盒测试单元102可以向各条数据线101提供第一测试信号，并在栅极驱动电路提供的栅极驱动信号的配合下，点亮整个液晶盒。此时，第一测试信号不经过数据选择器103，数据选择器103在整个液晶盒点灯测试中不起到决定性作用。

当液晶盒点灯测试通过后，液晶盒进行偏光片贴附，驱动芯片绑定、组装背光模组等形成显示模组。为了保证显示模组的显示品质，还需要对显示模组进行点灯测试。

图3为显示模组点灯测试的结构示意图，如图3所示，在显示模组点灯测试时，通过模组点灯治具向柔性线路板、驱动芯片向各条数据线101提供第二测试信号，该第二测试信号经过数据选择器103传输至各条数据线101，并在栅极驱动电路提供的栅极驱动信号的配合下，点亮整个显示模组。

液晶盒中的测试焊盘104及绑定焊盘105均为单层金属结构，且长期裸露在外，经过切割及搬运等过程极其容易引入静电。静电容易通过测试焊盘104和绑定焊盘105直接传到至数据选择器103中，击穿数据选择器103中的薄膜晶体管，导致数据选择器103损坏。

在数据选择器103发生损坏时，由于第一测试信号不经过数据选择器103，在液晶盒点灯测试过程中，无法检测数数据选择器103是否发生损坏，而直接进行显示模组组装的其他工序。但是，在后续的显示模组点灯测试过程中，可以检测出由于数据选择器103发生损坏而形成的竖纹不良，导致整个显示画面出现异常。

由于只有在后续的显示模组点灯测试时才能发现数据选择器103由于静电而发生损坏，使得显示模组组装过程中的偏光片、驱动芯片、背光模组等显示模组资材造成浪费，不利于控制制备成本，并且影响生产效率。

为了至少解决上述的技术问题之一，本公开实施例提供了一种测试治具及测试系统，下面将结合附图及具体实施方式，对本公开实施例提供的测试治具及测试系统进行进一步详细描述。

图4为本公开实施例提供的一种测试治具的结构示意图，该测试治具可以对如图1所示的液晶盒进行测试。图5为图4所示的测试治具应用于液晶盒测试的结构示意图，如图4所示，该测试治具包括：多个探针501和数据短路条502；探针501与测试焊盘104对应设置，用于传输第一测试信号；数据短路条502与各个绑定焊盘105对应设置，用于将各个绑定焊盘105短接，并传输第二测试信号。

在液晶盒点灯测试时，通过液晶盒点灯治具中的探针501与液晶盒中的测试焊盘104对应连接，并输入相应的第一测试信号，使得液晶盒测试单元102可以向各条数据线101提供第一测试信号，并在栅极驱动电路提供的栅极驱动信号的配合下，点亮整个液晶盒。之后，在将液晶盒测试单元102中的信号全部拉低，使得第一测试信号不通过液晶盒测试单元102输入至各条数据线101。此时，利用数据短路条502和绑定焊盘105，并经过数据选择器103向各条数据线101提供第二测试信号，可以形成一幅检测画面。

如果检测画面中出现竖纹不良，则表示数据选择103由于静电发生了损坏。如果检测画面中未出现竖纹不良，则表示数据选择器103未发生损坏，可以进行显示模组组装的其他工序。

由上述可以看出，利用本公开实施例提供的测试治具，在液晶盒点灯测试时，不仅可以检测出液晶盒中的数据线101等结构是否正常，同时还可以检测出液晶盒中的数据选择器103等结构是否正常，因此可以避免数据选择器103损坏的液晶盒进入显示模组的组装工序，提前将不良产品进行拦截，从而可以避免显示模组的组装工序中的偏光片、驱动芯片、背光模组等资材的浪费，进而有效控制制备成本，并提高生产效率。

在一些实施例中，数据短路条502包括：柔性线路板。

在实际应用中，可以利用柔性线路板将各个绑定焊盘105进行短接，以向各条数据线101同时输入第二测试信号，形成检测画面。在一些实施例中，柔性线路板包括：裸露的多个导电部5021；导电部5021与绑定焊盘105一一对应设置。

柔性线路板中可以形成多个导电部5021，并且多个导电部5021裸露，在将柔性线路板与多个绑定焊盘105进行压合时，其中的多个导电部5021可以与多个绑定焊盘105一一对应接触连接，使得第二测试信号可以通过绑定焊盘105及数据选择器103，向各条数据线101同时输入第二测试信号，形成检测画面。

在一些实施例中，导电部5021的材料与绑定焊盘105的材料相同。

导电部5021和绑定焊盘105均可以采用金属材料制成，例如钼(Mo)、铝(Al)、铜(Cu)、钛(Ti)、镍(Ni)、钨(W)中的一种，或者上述的多种材料的合金，其可以为单层结构。由于导电部5021与绑定焊盘105的材料相同，在导电部5021与绑定焊盘105进行压合时，可以减少二者之间的接触电阻，保证第二测试信号的有效传输。

在一些实施例中，导电部5021呈多行排布；不同行中相邻的导电部5021交错设置。

导电部5021可以成多行排布，不同行中相邻的导电部5021可以交错设置，这样可以保证相邻的导电部5021之间具有较大的距离，避免相邻的导电部5021之间发生短路，影响第二测试信号的传输。具体地，导电部5021可以为柔性线路板的金手指。

在一些实施例中，测试治具还包括：模组测试单元(图中未示出)；模组测试单元与数据短路条502电连接。

模组测试单元可以提供第二测试信号，其可以与数据短路条502电连接，可以通过数据短路条502，经过数据选择器103，向各条数据线101传输第二测试信号，以形成一幅检测画面。

在一些实施例中，探针501与测试焊盘104的材料相同。

探针501与测试焊盘104均可以采用金属材料制成，例如钼(Mo)、铝(Al)、铜(Cu)、钛(Ti)、镍(Ni)、钨(W)中的一种，或者上述的多种材料的合金，其可以为单层结构。由于探针501与测试焊盘104的材料相同，在探针501与测试焊盘104进行压合时，可以减少二者之间的接触电阻，保证第一测试信号的有效传输。

在一些实施例中，测试治具还包括：支撑结构503；探针501和数据短路条502均位于支撑结构503上。

支撑结构503、、探针501和数据短路条502可以形成测试治具的压头结构，支撑结构503可以对探针501和数据短路条502进行支撑，并且便于对其上的各个结构施加压力，其可以控制探针501与测试焊盘104之间的连接与断开，以及可以控制短路条502与绑定焊盘105之间的连接与断开，从而各条数据线101输入第一测试信号和第二测试信号，以对液晶盒进行点灯测试。

第二方面，本公开实施例提供了一种测试系统，该测试系统包括如上述任一实施例提供的测试治具，该测试系统的实现原理及有效效果与上述的测试治具的实现原理及有益效果相同，在此不再进行赘述。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本公开的原理而采用的示例性实施方式，然而本公开并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本公开的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本公开的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试治具，用于对液晶盒进行测试，所述液晶盒包括：沿列方向排布的多条数据线、与所述数据线的一端连接的液晶盒测试单元、与所述数据线另一端连接的数据选择器、与所述液晶盒测试单元连接的多个测试焊盘、与所述数据选择器连接的多个绑定焊盘，其特征在于，所述测试治具包括：多个探针和数据短路条；

所述探针与所述测试焊盘对应设置，用于传输第一测试信号；

所述数据短路条与各个所述绑定焊盘对应设置，用于将各个所述绑定焊盘短接，并传输第二测试信号。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述数据短路条包括：柔性线路板。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述柔性线路板包括：裸露的多个导电部；

所述导电部与所述绑定焊盘一一对应设置。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述导电部的材料与所述绑定焊盘的材料相同。

5.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述导电部呈多行排布；不同行中相邻的所述导电部交错设置。

6.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述导电部为所述柔性线路板的金手指。

7.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：模组测试单元；

所述模组测试单元与所述数据短路条电连接。

8.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述探针与所述测试焊盘的材料相同。

9.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：支撑结构；

所述探针和所述数据短路条均位于所述支撑结构上。

10.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如权利要求1至9任一项所述的测试治具。