CN201689237U

CN201689237U - 主动组件数组基板

Info

Publication number: CN201689237U
Application number: CN2010202040937U
Authority: CN
Inventors: 邓印翔; 洪孟锋
Original assignee: CPTF Visual Display Fuzhou Ltd; Chunghwa Picture Tubes Ltd
Current assignee: Chunghwa Picture Tubes Ltd
Priority date: 2010-05-26
Filing date: 2010-05-26
Publication date: 2010-12-29
Anticipated expiration: 2020-05-26

Abstract

本实用新型涉及一种主动组件数组基板，其包括一基板、一画素数组、多个端子与多个检测接垫。基板具有一平面，而平面具有一显示区。画素数组配置在显示区内，并包括多条讯号线。这些讯号线彼此交错而呈网状排列。这些端子与检测接垫皆配置在平面上，并且皆配置在显示区以外的区域，其中这些端子分别电性连接这些讯号线，而各个检测接垫连接其中一条讯号线。各个检测接垫与显示区之间的距离小于各个端子与显示区之间的距离，且相邻二个检测接垫之间的间距大于相邻二个端子之间的间距。本实用新型结构简单，有利于检测台检测，具有较好的市场价值。

Description

主动组件数组基板

技术领域

本实用新型是有关于一种组件数组基板，且特别是有关于一种能应用于显示器的主动组件数组基板（active device array substrate）。

背景技术

主动组件数组基板是目前薄膜晶体管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, TFT-LCD）的重要组件，而主动组件数组基板能利用电场（electric field）来改变液晶分子的排列，以控制背光模块（backlight module）所发出的光线对彩色滤光基板（color filter substrate）的穿透，进而让薄膜晶体管液晶显示器显示影像。

在目前薄膜晶体管液晶显示器的制造过程中，当主动组件数组基板制造完成之后，随即对主动组件数组基板进行检测，以尽量将不良的主动组件数组基板筛选出来，并且让不良的主动组件数组基板进行重工或报废。这样可避免不良的主动组件数组基板继续进行后续程序，以减少后续程序在材料使用上的浪费。

发明内容

本实用新型提供一种主动组件数组基板，其包括多个检测接垫，而检测机台能经由这些检测接垫来对主动组件数组基板进行检测。

本实用新型提出一种主动组件数组基板，其包括一基板、一画素数组（pixel array）、多个端子（terminal）以及多个检测接垫（test pad）。基板具有一平面，而平面具有一显示区。画素数组配置在显示区内，并包括多条讯号线，其中这些讯号线彼此交错而呈网状排列。这些端子与检测接垫皆配置在平面上，并且皆配置在显示区以外的区域，其中这些端子分别电性连接这些讯号线，而各个检测接垫连接其中一条讯号线。各个检测接垫与显示区之间的距离小于各个端子与显示区之间的距离，且相邻二个检测接垫之间的间距（pitch）大于相邻二个端子之间的间距。

在本实用新型一实施例中，各个检测接垫的宽度大于各个端子的宽度。

在本实用新型一实施例中，至少一条讯号线连接于其中一个检测接垫与其中一个端子之间。

在本实用新型一实施例中，至少一个检测接垫连接于其中一条讯号线与其中一个端子之间。

在本实用新型一实施例中，这些检测接垫位于这些端子与显示区之间。

在本实用新型一实施例中，上述显示区位于这些检测接垫之间，而这些讯号线包括多条第一讯号线与多条第二讯号线。这些第一讯号线彼此并列，并连接于一些检测接垫与一些端子之间，而这些第二讯号线彼此并列，其中另一些检测接垫连接于这些第二讯号线与另一些端子之间，而这些第一讯号线与这些第二讯号线并列。

在本实用新型一实施例中，各个连接第一讯号线的检测接垫与各个连接第二讯号线的检测接垫分别位于显示区的相对二侧。

在本实用新型一实施例中，其中一条第一讯号线位于相邻二条第二讯号线之间。

在本实用新型一实施例中，上述显示区划分成至少一第一区域与至少一第二区域。第一区域与第二区域并列，其中这些第一讯号线位于第一区域内，而这些第二讯号线位于第二区域内。

在本实用新型一实施例中，这些第一讯号线与这些第二讯号线皆多条扫描线（scan line）或多条资料线（data line）。

基于上述，由于各个检测接垫连接其中一条讯号线，因此检测机台能透过这些检测接垫来对主动组件数组基板进行检测，而且本实用新型结构简单，符合市场的要求。

为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1A是本实用新型第一实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。

图1B是图1A的局部放大示意图。

图2是本实用新型第二实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。

图3是本实用新型第三实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。

图4是本实用新型第四实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。

【主要组件符号说明】

100、200、300、400 主动组件数组基板

110 基板

112 平面

112a 显示区

120、320 画素数组

122d、122s 讯号线

124 画素单元

130 端子

140 检测接垫

150 走线

322d、322s 第一讯号线

324d、324s 第二讯号线

D1、D2、D3、D4、G1、G2 距离

P1、P2、P3 间距

W1、W2 宽度

Z1d、Z1s 第一区域

Z2d、Z2s 第二区域。

具体实施方式

图1A是本实用新型第一实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。请参阅图1A，第一实施例的主动组件数组基板100能应用于显示器，并且包括一基板110、一画素数组120、多个端子130、多个检测接垫140以及多条走线（trace）150，其中上述显示器可以是液晶显示器，例如薄膜晶体管液晶显示器。

基板110具有一平面112，而平面112具有一显示区112a，其中画素数组120配置在显示区112a内，而这些端子130、检测接垫140以及走线150皆配置在平面112上，并且配置在显示区112a以外的区域。也就是说，这些端子130、检测接垫140以及走线150皆位在画素数组120旁。

画素数组120包括多条讯号线122d、122s以及多个画素单元（pixel unit）124，其中这些讯号线122d皆为数据线，而这些讯号线122s皆为扫描线。这些讯号线122d、122s皆电性连接这些画素单元124，并且彼此交错而呈网状排列。另外，就结构而言，画素单元124可以与现有主动组件数组基板的画素单元相同。

详细而言，各个画素单元124可以包括一画素电极（pixel electrode, 未绘示）与一主动组件（未绘示），其中主动组件电性连接画素电极，并能控制施加在画素电极的电场的强度（intensity）及方向，让画素电极可以改变液晶分子的排列。此外，主动组件可以是一种晶体管，其例如是薄膜晶体管。

这些端子130分别电性连接这些讯号线122d、122s，并能用来电性连接至少一个芯片（chip）。详细而言，在这芯片装设在基板110上之后，芯片的多个接脚（lead）会个别电性连接这些端子130。如此，透过这些端子130，芯片得以电性连接讯号线122d、122s，并且可经由讯号线122d、122s来控制这些画素单元124。

各个检测接垫140连接其中一条讯号线122d或其中一条讯号线122s，即各个检测接垫140连接于一条数据线（即讯号线122d）或一条扫描线（即讯号线122s）。此外，至少一个检测接垫140连接于其中一条讯号线（即讯号线122d或122s）与其中一个端子130之间，而在图1A中，各个检测接垫140连接于一条讯号线（即讯号线122d或122s）与一个端子130之间。

各条走线150连接于其中一个检测接垫140与其中一个端子130之间，因此这些端子130会透过检测接垫140而分别电性连接这些讯号线122d、122s。另外，在第一实施例中，这些检测接垫140位于这些端子130与显示区112a之间，如图1A所示。

图1B是图1A的局部放大示意图。请参阅图1A与图1B，各个检测接垫140与显示区112a之间的距离D1、D3小于各个端子130与显示区112a之间的距离D2、D4。也就是说，检测接垫140比较接近显示区112a，而端子130比较远离显示区112a。

另外，相邻二个检测接垫140之间的间距（pitch）P1会大于相邻二个端子130之间的间距P2，其中间距P1等于各个检测接垫140的宽度W1加上相邻二个检测接垫140之间的距离G1，而间距P2等于各个端子130的宽度W2加上相邻二个端子130之间的距离G2，如图1B所示。

一般而言，相邻二个画素单元124之间的间距P3大于间距P2，加上目前芯片的接脚分布密度越来越高，即相邻二个接脚之间的距离越来越短，以至于端子130之间的间距P2有越做越小的趋势，造成端子130之间的间距P2越来越小于画素单元124之间的间距P3。

由于检测接垫140比较接近显示区112a，而端子130比较远离显示区112a，因此检测接垫140之间的间距P1可被设计成相当于画素单元124之间的间距P3，以至于间距P1会大于间距P2。如此，各个检测接垫140的宽度W1所允许的最大值可大于各个端子130的宽度W2所允许的最大值，而在本实施例中，宽度W1可以大于宽度W2。

基于上述，由于检测接垫140之间的间距P1大于端子130之间的间距P2，因此，在目前芯片的接脚分布密度越来越高的发展趋势下，当检测已完成的主动组件数组基板100时，相较于现有技术，检测机台的多根探针（probe）能较为顺利地与这些检测接垫140个别接触，提高检测机台对主动组件数组基板100检测的准确度。

图2是本实用新型第二实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。请参阅图2，第二实施例的主动组件数组基板200与第一实施例的主动组件数组基板100二者的应用领域及功能皆相同，且结构相似，惟二者主要差异在于：主动组件数组基板200包括多个检测接垫140，而这些检测接垫140的所在位置与第一实施例不同。

详细而言，主动组件数组基板200也包括基板110、画素数组120、多个端子130与检测接垫140，而有别于第一实施例，第二实施例中的各条讯号线（即讯号线122d或122s）连接于其中一个检测接垫140与其中一个端子130之间，即各条讯号线122d与各条讯号线122s二者的相对二端分别连接一个检测接垫140与一个端子130。

另外，各个检测接垫140与显示区112a之间的距离D1、D3仍然小于各个端子130与显示区112a之间的距离D2、D4，而相邻二个检测接垫140之间的间距P1仍大于相邻二个端子130之间的间距P2。如此，相较于现有技术，检测机台的探针也可以较顺利地与检测接垫140个别接触，让检测机台能准确地检测主动组件数组基板200。

图3是本实用新型第三实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。请参阅图3，第三实施例的应用领域以及功能皆相同于第一实施例及第二实施例。不过，第三实施例的结构是第一实施例与第二实施例二者结构的组合。

详细而言，第三实施例的主动组件数组基板300包括基板110、一画素数组320、多个端子130、检测接垫140以及走线150，其中画素数组320配置在显示区112a内，而端子130、检测接垫140与走线150仍配置在显示区112a以外的区域。画素数组320包括多条讯号线与多个画素单元124，而讯号线电性连接画素单元124。

承上述，这些讯号线包括多条第一讯号线322d、322s以及多条第二讯号线324d、324s，而且这些第一讯号线322d、322s与第二讯号线324d、324s皆与前述实施例中的讯号线122d、122s相同。详细而言，第一讯号线322d与第二讯号线324d皆为多条数据线，而第一讯号线322s与第二讯号线324s皆为多条扫描线。

第一讯号线322d彼此并列，而第二讯号线324d彼此并列，其中第一讯号线322d与第二讯号线324d并列。其次，第一讯号线322s彼此并列，而第二讯号线324s彼此并列，其中第一讯号线322s与第二讯号线324s并列，且二者与第一讯号线322d及第二讯号线324d交错。因此，这些讯号线（即第一讯号线322d、322s与第二讯号线324d、324s）会彼此交错而呈网状排列。

这些第一讯号线322d、322s连接于一些检测接垫140与一些端子130之间，而另一些检测接垫140连接于这些第二讯号线324d、324s与另一些端子130之间。换句话说，这些第一讯号线322d、322s连接于一些检测接垫140与一些端子130，而这些第二讯号线324d、324s连接于另一些检测接垫140与另一些端子130。

基于上述，从图1A、图2与图3可以看出，第一实施例的主动组件数组基板100所包括的讯号线122s、122d分别是第二讯号线324s、324d，第二实施例的主动组件数组基板200所包括的讯号线122s、122d分别是第一讯号线322s、322d，而第三实施例的主动组件数组基板300同时包括第一讯号线322s、322d与第二讯号线324s、324d。由此可见，主动组件数组基板300的结构是主动组件数组基板100、200二者结构的组合。

在第三实施例中，各个连接第一讯号线322s的检测接垫140与各个连接第二讯号线324s的检测接垫140分别位于显示区112a的相对二侧，而各个连接第一讯号线322d的检测接垫140与各个连接第二讯号线324d的检测接垫140也分别位于显示区112a的相对二侧，因此显示区112a位于这些检测接垫140之间，并且被检测接垫140所围绕。

另外，第一讯号线322d可以与第二讯号线324d交错排列，而第一讯号线322s可以与第二讯号线324s交错排列，例如其中一条第一讯号线322d位于相邻二条第二讯号线324d之间，以及其中一条第一讯号线322s位于相邻二条第二讯号线324s之间，如图3所示。这样可以拉大相邻二个检测接垫140之间的间距P1，让检测机台的探针可以更顺利地与检测接垫140个别接触。

图4是本实用新型第四实施例的主动组件数组基板的俯视示意图。请参阅图4，第四实施例的主动组件数组基板400与第三实施例的主动组件数组基板300相似，例如主动组件数组基板400也包括多条第一讯号线322d、322s与多条第二讯号线324d、324s，而各个连接第一讯号线322d、322s的检测接垫140与各个连接第二讯号线324d、324s的检测接垫140分别位于显示区112a的相对二侧。

不过，主动组件数组基板300、400二者之间仍存有差异，其在于：二者对第一讯号线322d、322s与第二讯号线324d、324s的排列方式并不相同。

详细而言，根据资料线，即第一讯号线322d与第二讯号线324d，基板110的显示区112a划分成多个第一区域Z1d与多个第二区域Z2d，且第一区域Z1d与第二区域Z2d并列。根据扫描线，即第一讯号线322s与第二讯号线324s，显示区112a划分成多个第一区域Z1s与多个第二区域Z2s，且第一区域Z1s与第二区域Z2s并列。

承上述，这些第一讯号线322d位于第一区域Z1d内，而这些第一讯号线322s位于第一区域Z1s内，其中位于各个第一区域Z1d内的第一讯号线322d的数量为多个，而位于各个第一区域Z1s内的第一讯号线322s的数量为多个。同样地，这些第二讯号线324d位于第二区域Z2d内，而这些第二讯号线324s位于第二区域Z2s内，其中位于各个第二区域Z2d内的第二讯号线324d的数量为多个，而位于各个第二区域Z2s内的第二讯号线324s的数量为多个。

第一区域Z1d与第二区域Z2d可以交错排列，例如相邻二个第二区域Z2d之间可以隔着一个第一区域Z1d。同样地，第一区域Z1s与第二区域Z2s也可以交错排列，例如相邻二个第二区域Z2s之间可以隔着一个第一区域Z1s。因此，在显示区112a的其中一侧，多个检测接垫140会各自聚集在第一区域内（例如Z1d或Z1s）或第二区域内（例如Z2d或Z2s）。

目前有些检测机台具有多个探针座以及多根探针，而这些探针装设于这些探针座，其中各个探针座所装设的探针的数量通常小于数据线（即第一讯号线322d与第二讯号线324d）的数量或扫描线（即第一讯号线322s与第二讯号线324s）的数量。因此，当这种检测机台检测主动组件数组基板400时，这些探针座会固定在主动组件数组基板400上，并且让所有的数据线与扫描线都能接触探针。

由于在显示区112a的其中一侧，多个检测接垫140各自聚集在第一区域内（例如Z1d或Z1s）或第二区域内（例如Z2d或Z2s），因此当这些探针座全部固定在主动组件数组基板400上时，可以减少这些探针座在机构上发生彼此干涉的情形，以避免某一个探针座因为被其它探针座所妨碍而不能固定在主动组件数组基板400上，进而让这些探针可以接触所有的数据线与扫描线。

须说明的是，在其它实施例中，显示区112a可以划分成一个第一区域Z1d与一个第二区域Z2d，以及划分成一个第一区域Z1s与一个第二区域Z2s，即主动组件数组基板400可以只具有一个第一区域Z1d、一个第一区域Z1s、一个第二区域Z2d以及一个第二区域Z2s。因此，虽然图4绘示出多个第一区域Z1d、Z1s以及多个第二区域Z2d、Z2s，但图4所示的第一区域Z1d、Z1s与第二区域Z2d、Z2s的数量仅为举例说明，并非限定本实用新型。

另外，要强调的是，本实用新型的主动组件数组基板有多种实施例，而以上第一至第四实施例以及所有图式仅揭露本实用新型的某些实施例，并未没有揭露本实用新型的所有实施例。因此，以上所有图式所绘示的主动组件数组基板皆用来举例说明，而非限定本实用新型。

举例而言，在第一实施例中，主动组件数组基板100的其中一条讯号线122s可以是第一讯号线322s；或者，其中一条讯号线122d可以是第一讯号线322d，也就是说，主动组件数组基板100可以只有一条讯号线122d（或122s）连接于其中一个检测接垫140与其中一个端子130之间。

同理，在第二实施例中，主动组件数组基板200的其中一条讯号线122s可以是第二讯号线324s；或者，其中一条讯号线122d可以是第二讯号线324d，即主动组件数组基板200可以只有一个检测接垫140连接于其中一条讯号线122d（或122s）与其中一个端子140之间。

综上所述，由于本实用新型的主动组件数组基板的各个检测接垫连接其中一条讯号线，因此检测机台能透过这些检测接垫来对主动组件数组基板进行检测，来将不良的主动组件数组基板筛选出来。如此，本实用新型可以避免不良的主动组件数组基板继续进行后续程序，并且减少后续程序在材料使用上的浪费。

其次，由于相邻二个检测接垫之间的间距大于相邻二个端子之间的间距，因此相较于习知技术而言，本实用新型能让检测机台的多根探针可以顺利地与这些检测接垫个别接触，进而提高检测机台对本实用新型的主动组件数组基板检测的准确度。

再者，由于各个检测接垫与显示区之间的距离小于各个端子与显示区之间的距离，因此即使本实用新型的主动组件数组基板的端子分布密度变高，检测接垫之间的间距仍可以大于端子之间的间距，让探针仍可以顺利地与检测接垫个别接触，进而也能提高检测机台的准确度。如此，本实用新型的主动组件数组基板能满足目前芯片朝向接脚分布密度越来越高的发展趋势。

虽然本实用新型以前述实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟习相像技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，所作更动与润饰的等效替换，仍为本实用新型的专利保护范围内。

Claims

1.一种主动组件数组基板，其特征在于，包括：

一基板，具有一平面，而该平面具有一显示区；

一画素数组，配置在该显示区内，并包括多条讯号线，而该些讯号线彼此交错而呈网状排列；

多个端子，配置在该平面上，并且配置在该显示区以外的区域，其中该些端子分别电性连接该些讯号线；以及

多个检测接垫，配置在该平面上，并且配置在该显示区以外的区域，各该检测接垫连接其中一条讯号线，其中各该检测接垫与该显示区之间的距离小于各该端子与该显示区之间的距离，且相邻二个检测接垫之间的间距大于相邻二个端子之间的间距。

2. 根据权利要求1所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中各该检测接垫的宽度大于各该端子的宽度。

3. 根据权利要求1所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中至少一条讯号线连接于其中一个检测接垫与其中一个端子之间。

4. 根据权利要求1所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中至少一个检测接垫连接于其中一条讯号线与其中一个端子之间。

5. 根据权利要求4所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中该些检测接垫位于该些端子与该显示区之间。

6. 根据权利要求1所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中该显示区位于该些检测接垫之间，而该些讯号线包括：

多条第一讯号线，彼此并列，并连接于一些检测接垫与一些端子之间；以及

多条第二讯号线，彼此并列，其中另一些检测接垫连接于该些第二讯号线与另一些端子之间，而该些第一讯号线与该些第二讯号线并列。

7. 根据权利要求6所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中各该连接该第一讯号线的检测接垫与各该连接该第二讯号线的检测接垫分别位于该显示区的相对二侧。

8. 根据权利要求6所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中一条第一讯号线位于相邻二条第二讯号线之间。

9. 根据权利要求6所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中该显示区划分成至少一第一区域与至少一第二区域，该第一区域与该第二区域并列，且该些第一讯号线位于该第一区域内，该些第二讯号线位于该第二区域内。

10. 根据权利要求6所述的主动组件数组基板，其特征在于：其中该些第一讯号线与该些第二讯号线皆多条扫描线或多条数据线。