KR101274922B1 - 액정패널용 멀티 어레이 기판 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 신속하게 신호라인들간의 쇼트 단선 불량에 대한 검출력을 향상시킬 수 있는 액정패널용 멀티 어레이 기판이 개시된다.
본 발명에 따른 액정패널용 멀티 어레이 기판은 복수의 어레이 영역이 형성된 모기판과, 상기 복수의 어레이 영역 각각에 배열된 제 1 및 제 2 신호라인들과, 상기 제 1 신호라인들과 전기적으로 연결된 제 1 검사패드 및 상기 제 2 신호라인들과 전기적으로 연결된 제 2 검사패드;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
모기판, 어레이 기판, 쇼트

Description

액정패널용 멀티 어레이 기판{Multi array substrate for liquid crystal panel}
도 1은 모기판 상의 어레이 영역 상에 형성된 게이트라인 및 스토리지 라인을 검사하는 방법을 나타낸 도면.
도 2는 본 발명에 따른 신호라인을 검사하는 액정패널용 멀티 어레이기판을 나타낸 도면.
도 3은 도 2의 제 1 어레이 영역을 상세히 나타낸 도면.
<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명>
100:모기판 102a ~ 102c:제 1 내지 제 3 어레이 영역
103:제 1 패드 104a ~ 104c:제 1 내지 제 3 게이트 패드
105:제 2 패드 106:제 1 공용패드
107:제 1 연결라인 108a ~ 108c:제 1 내지 제 3 스토리지 패드
109:제 2 연결라인 110:제 2 공용패드
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 신속하게 신호라인들의 쇼트 단선 불량을 검사할 수 있는 액정패널용 멀티 어레이 기판에 관한 것이다.
일반적으로 액정패널은 어레이 기판, 상기 어레이 기판과 마주하는 상부 기판 및 상기 어레이 기판과 상기 상부기판과의 사이에 형성된 액정층으로 이루어진다. 상기 어레이 기판은 화소 영역과 데이터 신호 및 스캔신호가 인가되는 신호 인가 영역을 갖는다.
상기 화소 영역은 제 1 방향으로 연장된 데이터라인과 제 2 방향으로 연장되어 상기 데이터라인과 직교하는 게이트 라인 및 상기 게이트라인과 데이터라인에 연결되는 화소 전극을 포함하며, 상기 신호 인가 영역은 데이터 신호를 인가하는 구동 칩이 실장되는 제 1 구동 칩 패드와, 상기 게이트 라인에 스캔신호를 인가하는 구동 칩이 실장되는 제 2 구동 칩 패드를 포함한다.
이상과 같이 모기판에 복수의 어레이 기판이 형성되면, 상기 어레이 기판 상의 라인들에 대한 전기적인 동작 상태를 검사하는 어레이 검사 공정을 수행한다.
이어, 액정층을 형성하는 공정을 수행한 후, 상기 액정패널의 전기적 및 광학적인 동작 상태를 검사하기 위한 육안 검사(Visual Inspection;이하, V/I) 공정을 수행한다.
상기 어레이 검사 방식 및 육안 검사 방식은 소정개의 단위로 데이터라인 및 게이트 라인을 각각 묶어 테스트 신호를 인가하여 검사를 수행한다.
도 1은 모기판 상의 어레이 영역 상에 형성된 게이트라인 및 스토리지 라인을 검사하는 방법을 나타낸 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 모기판(1) 상에 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c)이 형성되어 있다. 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c) 상에는 복수의 게이트라인과 상기 복수의 게이트라인과 평행하게 복수의 스토리지 라인이 형성되어 있다.
상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c)은 상기 모기판(1) 상에 매트릭스 형태로 어레이 패턴이 형성되는 영역을 의미한다.
상기 제 1 어레이 영역(2a) 상에 형성된 복수의 게이트라인은 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 1 게이트 패드(4a)와 전기적으로 연결되고, 상기 제 1 어레이 영역(2a) 상에 형성된 복수의 스토리지 라인은 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 1 스토리지 패드(8a)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 1 게이트 패드(4a)와 상기 제 1 스토리지 패드(8a)의 저항값을 측정하여 상기 제 1 어레이 기판(2a) 상에 배열된 복수의 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 단선 불량을 확인한다.
상기 제 2 어레이 영역(2b) 상에 형성된 복수의 게이트라인은 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 2 게이트 패드(4b)와 전기적으로 연결되고, 상기 제 2 어레이 영역(2b) 상에 형성된 복수의 스토리지 라인은 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 2 스토리지 패드(8b)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 2 게이트 패드(4b)와 상기 제 2 스토리지 패드(8b)의 저항값을 측정하여 상기 제 2 어레이 영역(2b) 상에 배열된 복수의 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 단선 불량을 확인한다.
상기 제 3 어레이 영역(2c) 상에 형성된 복수의 게이트라인은 상기 모기 판(1) 상에 형성된 제 3 게이트 패드(4c)와 전기적으로 연결되고, 상기 제 3 어레이 영역(2c) 상에 형성된 복수의 스토리지 라인은 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 3 스토리지 패드(8c)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 3 게이트 패드(4c)와 상기 제 3 스토리지 패드(8c)의 저항값을 측정하여 상기 제 3 어레이 영역(2c) 상에 배열된 복수의 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 단선 불량을 확인한다.
이와 같이, 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c)에 형성된 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 단선 불량을 확인하기 위해서는 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c) 각각에 형성된 게이트라인과 스토리지 라인의 저항값을 측정한다.
즉, 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c) 상에 배열된 게이트라인 및 스토리지 라인의 전기적인 검사를 수행하는 과정에서, 상기 모기판(1) 상에 각각 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c)을 개별적으로 검사하게 된다.
상기 각각의 어레이 영역(2a ~ 2c) 상에 게이트라인 및 스토리지 라인이 형성된 후에 정상적으로 동작되는 지를 검사하기 위해서 상기 모기판(1) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c) 각각을 개별적으로 수행해야 하므로 검사 공정에 소요되는 시간이 길어지게 되고 그에 따라 검사 공정의 효율성 및 액정패널의 생산성이 저하된다.
본 발명은 모기판 상에 형성된 복수의 어레이 기판의 신호라인 검사 공정을 동시에 수행함에 따라 신속하게 신호라인의 쇼트 단선 불량을 검사할 수 있는 액정패널용 멀티 어레이 기판을 제공함에 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정패널용 멀티 어레이기판은 복수의 어레이 영역이 형성된 모기판과, 상기 복수의 어레이 영역 각각에 배열된 제 1 및 제 2 신호라인들과, 상기 제 1 신호라인들과 전기적으로 연결된 제 1 검사패드 및 상기 제 2 신호라인들과 전기적으로 연결된 제 2 검사패드;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 신호라인을 검사하는 액정패널용 멀티 어레이기판을 나타낸 도면이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 신호라인을 검사하는 액정패널용 멀티 어레이 기판은 모기판(100) 상에 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~102c)이 형성되어 있고, 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 복수의 게이트라인과 각각 전기적으로 연결된 제 1 내지 제 3 게이트 패드(104a ~ 104c)와, 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인과 각각 전기적으로 연결된 제 1 내지 제 3 스토리지 패드(108a ~ 108c)와, 상기 제 1 내지 제 3 게이트 패드(104a ~ 104c)와 전기적으로 연결된 제 1 공용패드(106)와, 상기 제 1 내지 제 3 스토리지 패드(108a ~ 108c)와 전기적으로 연 결된 제 2 공용패드(110)를 포함한다.
상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(2a ~ 2c)은 상기 모기판(100) 상에 매트릭스 형태로 어레이 패턴이 형성되는 영역을 의미한다. 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에는 복수의 게이트라인과 스토리지 라인이 형성되어 있다.
상기 복수의 게이트라인과 스토리지 라인은 동일한 재질로 형성되고, 동일 공정으로 형성된다. 상기 복수의 게이트라인에는 스캔신호가 공급되고, 상기 복수의 스토리지 라인에는 공통전압(Vcom)이 공급된다.
상기 복수의 게이트라인은 상기 복수의 게이트라인과 수직으로 형성될 복수의 데이터라인과 함께 복수의 화소영역을 정의하게 된다. 상기 화소영역에는 박막트랜지스터(TFT)와 상기 박막트랜지스터(TFT)와 전기적으로 연결된 화소전극이 형성되어 있다.
상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c)은 각각 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c)과 대향된 컬러필터 영역과 상기 어레이 영역과 상기 컬러필터 영역 사이에 형성된 액정층으로 액정패널을 형성하게 된다.
이때, 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c)으로 형성되는 액정패널은 스토리지 온 컴온(Storage on common) 구조로 이루어져 있다.
상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 스토리지 라인에 공급된 공통전압(Vcom)은 상기 액정패널의 기준전압이 된다.
상기 제 1 어레이 영역(102a)은 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 어레이 영역(102a)에는 복수의 게이트라인(GL)과 복수의 스토리 지 라인(SL)이 배열되어 있다.
상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 게이트라인(GL)은 상기 모기판(100) 상에 형성된 복수의 제 1 패드(103)와 전기적으로 연결된다. 상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인(SL)은 상기 모기판(100) 상에 형성된 복수의 제 2 패드(105)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 1 패드(103)는 앞서 서술한 바와 같이, 상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 게이트라인과 전기적으로 연결된 복수의 패드들을 의미하고, 상기 제 2 패드(105)는 상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인과 전기적으로 연결된 복수의 패드들을 의미한다.
상기 복수의 제 1 패드(103)들은 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 연결라인(107)과 각각 전기적으로 연결되고, 상기 복수의 제 2 패드(105)들은 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 2 연결라인(109)과 각각 전기적으로 연결되어 있다.
상기 제 1 연결라인(107)과 전기적으로 연결된 복수의 제 1 패드(103) 들은 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 게이트 패드(104a)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 2 연결라인(109)과 전기적으로 연결된 복수의 제 2 패드(105)들은 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 스토리지 패드(108a)와 전기적으로 연결된다.
결국, 상기 제 1 게이트 패드(104a)는 상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 게이트라인(GL)과 전기적으로 연결되고, 상기 제 1 스토리지 패드(108a)는 상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인(SL)과 전기적으로 연결된다.
상기 제 2 게이트 패드(104b)는 상기 제 1 게이트 패드(104a)와 마찬가지로 상기 제 2 어레이 영역(102b) 상에 배열된 복수의 게이트라인과 전기적으로 연결된다. 상기 제 3 게이트 패드(104c)는 상기 제 1 및 제 2 게이트 패드(104a, 104b)와 마찬가지로 상기 제 3 어레이 영역(102c) 상에 배열된 복수의 게이트라인과 전기적으로 연결된다.
상기 제 1 스토리지 패드(108a)는 상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인과 전기적으로 연결된다. 이때, 상기 제 1 어레이 영역(102a) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인은 하나의 라인을 통해 묶여서 상기 제 1 스토리지 패드(108a)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 2 스토리지 패드(108b)는 상기 제 1 스토리지 패드(108a)와 마찬가지로 상기 제 2 어레이 영역(102b) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인과 전기적으로 연결된다. 상기 제 3 스토리지 패드(108c)는 상기 제 1 및 제 2 스토리지 패드(108a, 108b)와 마찬가지로 상기 제 3 어레이 영역(102c) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인과 전기적으로 연결된다.
상기 제 1 내지 제 3 게이트 패드(104a ~ 104c)는 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 공용패드(106)와 전기적으로 연결되고, 상기 제 1 내지 제 3 스토리지 패드(108a ~ 108c)는 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 2 공용패드(110)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 복수의 게이트라인은 각각 제 1 내지 제 3 게이트 패드(104a ~ 104c)과 전기적으로 연결된다. 상 기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 복수의 스토리지 라인은 각각 제 1 내지 제 3 스토리지 패드(108a ~108c)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 1 내지 제 3 게이트 패드(104a ~ 104c)는 상기 제 1 공용패드(106)와 전기적으로 연결되고, 상기 제 1 내지 제 3 스토리지 패드(108a ~ 108c)는 상기 제 2 공용패드(110)와 전기적으로 연결된다.
상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~102c) 상에 형성된 복수의 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 단선 불량을 확인하기 위해 상기 제 1 및 제 2 공용패드(106, 110)의 저항값을 측정한다.
상기 제 1 및 제 2 공용패드(106, 110)의 저항값을 측정하게 되면 상기 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 형성된 복수의 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 단선 불량을 확인할 수 있다.
즉, 상기 제 1 및 제 2 공용패드(106, 110)의 저항값을 측정할때 상기 측정된 저항값이 0이거나 측정값이 나오지 않는경우, 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c)상에 형성된 게이트라인(GL)과 스토리지 라인(SL)의 쇼트 단선이 발생했다는 것을 의미한다.
상기 제 1 및 제 2 공용패드(106, 110)의 저항값을 측정할때 특정 측정값이 나오는 경우, 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 게이트라인(GL)과 스토리지 라인(SL)은 쇼트되지 않고 정상적으로 형성된 것을 의미한다.
상기 제 1 및 제 2 공용패드(106, 110)의 저항값을 측정할때 앞서 서술한 바 와 같이, 저항값이 측정되지 않거나 저항값이 0으로 나오는 경우, 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 게이트라인(GL)과 스토리지 라인(SL)은 쇼트가 발생했다는 것을 의미한다.
따라서, 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c)에 배열된 게이트라인(GL)과 스토리지 라인(SL)의 쇼트 단선 검사를 동시에 확인할 수 있다.
즉, 상기 모기판(100) 상에 형성된 제 1 내지 제 3 어레이 영역(102a ~ 102c) 상에 배열된 게이트라인(GL)과 스토리지 라인(SL)의 쇼트 단선 검사는 상기 제 1 및 제 2 공용패드(106, 110)로 인해 동시에 이루어질 수 있다.
이로인해, 상기 모기판(100) 상에 형성된 복수의 어레이 영역의 게이트라인(GL)과 스토리지 라인(SL)의 쇼트 단선 검사는 동시에 신속하게 이루어질 수 있다.
위에서 언급한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정패널용 멀티 어레이 기판은 모기판 상에 형성된 복수의 어레이 영역에 배열된 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 유무 검사를 동시에 수행함에 따라 신속하게 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 검사를 확인할 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 액정패널용 멀티 어레이 기판은 모기판 상에 형성된 복수의 어레이 영역 상에 배열된 게이트라인과 전기적으로 연결된 제 1 공용패드 및 상기 복수의 어레이 영역 상에 배열된 스토리지 라인과 전 기적으로 연결된 제 2 공용패드를 구비함으로써, 상기 제 1 및 제 2 공용패드의 저항값을 측정하여 상기 복수의 어레이 영역에 배열된 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 유무 검사를 동시에 수행함에 따라 신속하에 게이트라인과 스토리지 라인의 쇼트 검사를 확인할 수 있다.

Claims (4)

  1. 복수의 어레이 영역이 형성된 모기판;
    상기 복수의 어레이 영역 각각에 배열된 제 1 및 제 2 신호라인들;
    상기 복수의 어레이 영역에 형성된 제 1 신호라인들을 각각의 어레이 영역별로 연결하는 복수의 제 1 검사패드;
    상기 복수의 어레이 영역에 형성된 제 2 신호라인들을 각각의 어레이 영역별로 연결하는 복수의 제 2 검사패드;
    상기 복수의 제1 검사패드를 전기적으로 연결하는 제1 공용패드; 및
    상기 복수의 제2 검사패드를 전기적으로 연결하는 제2 공용패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정패널용 멀티 어레이 기판.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 제 1 신호라인들은 상기 복수의 어레이 영역에 형성된 복수의 게이트라인인 것을 특징으로 하는 액정패널용 멀티 어레이 기판.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 제 2 신호라인들은 상기 복수의 어레이 영역에 형성된 복수의 스토리지 라인인 것을 특징으로 하는 액정패널용 멀티 어레이 기판.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 어레이 영역은 스토리지 온 컴온 구조로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널용 멀티 어레이 기판.
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