JPH0990398A - 電気配線基板の接続構造 - Google Patents

電気配線基板の接続構造

Info

Publication number
JPH0990398A
JPH0990398A JP7270703A JP27070395A JPH0990398A JP H0990398 A JPH0990398 A JP H0990398A JP 7270703 A JP7270703 A JP 7270703A JP 27070395 A JP27070395 A JP 27070395A JP H0990398 A JPH0990398 A JP H0990398A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
terminals
terminal
connection lead
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7270703A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroaki Mita
浩章 三田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
Priority to JP7270703A priority Critical patent/JPH0990398A/ja
Publication of JPH0990398A publication Critical patent/JPH0990398A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/36Assembling printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/361Assembling flexible printed circuits with other printed circuits

Landscapes

  • Multi-Conductor Connections (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査用の設備費などがかからず、簡単に電気
配線基板同士の位置ずれを検査できるようにする。 【解決手段】 液晶表示パネルの下側の電極基板4に配
列形成された入力側接続リード端子5とフレキシブル基
板7に配列形成された出力側接続リード端子9とを対応
させて接合する際に、フレキシブル基板7に設けられた
出力側検査用端子10と電極基板4に設けられた入力側
検査用端子6とをそれぞれ重畳接触させることにより、
入力側接続リード端子5と出力側接続リード端子9とが
すべて所定範囲以上の重畳幅を保って接触し合うことに
なる。したがって、入力側検査用端子6と出力側検査用
端子10とが接触しいているか否かを電気的に検出する
だけで、入力側接続リード端子5と出力側接続リード端
子9との位置合わせが確認でき、このため従来のように
検査用の設備費などがかからず、簡単に電極基板4とフ
レキシブル基板7との位置ずれを検査できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、電気配線基板の
接続構造に関する。
【0002】
【従来の技術】基板同士を接合したものとして、例え
ば、液晶表示モジュールがある。液晶表示モジュール
は、液晶表示パネルにTAB(Tape Automated Bondin
g)基板を接合した構造になっている。ところで、液晶
表示パネルとはガラスなどからなる一対の透明な電極基
板間に液晶をシール材によって封入したものであり、一
方の電極基板の一端部を他方の電極基板の端面よりも突
出させ、この突出した部分に入力用接続リード端子が配
列形成されている。また、TAB基板とはフィルムなど
のフレキシブル基板上に半導体チップを設置したもので
あり、フレキシブル基板の一端部に出力用接続リード端
子が配列形成され、他端部に入力用接続リード端子が配
列形成されている。このような液晶表示モジュールで
は、液晶表示パネルにTAB基板を接合する際、電極基
板の入力用接続リード端子とフレキシブル基板の出力用
接続リード端子とを対応させ、この状態で位置ずれして
いるか否かを検査して、入力用接続リード端子と出力用
接続リード端子とを接合している。ところで、接合に際
して相対向する接続リード端子の位置ずれを検査する方
法には、従来、位置合わせ個所をテレビカメラで撮影し
てテレビモニタに拡大表示させ、表示された画像を目視
で確認する方法、あるいは電極基板の入力用接続リード
端子とフレキシブル基板の出力用接続リード端子とを位
置合わせした状態で、フレキシブル基板の入力用接続リ
ード端子に検査用プローブを当てて電気信号を入力する
ことにより、液晶表示パネルを駆動して表示が正常であ
るか否かを目視で確認する方法などがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
テレビカメラで撮影する検査方法では、検査用の設備費
がかかり、しかも目視による検査時間がかかり、検査者
が疲労しやすいという問題がある。また、後者の検査用
プローブを用いた検査方法では、フレキシブル基板の入
力用接続リード端子のピッチが細かいと、検査用プロー
ブの位置合わせが面倒で、位置合わせ用の装置などが必
要となり、検査の信頼性が低下するという問題がある。
この発明の課題は、検査用の設備費などがかからず、簡
単に基板同士の位置ずれを高信頼度で検査できるように
することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
第1の基板の一端部に配列形成された複数の第1接続リ
ード端子と第2の基板の一端部に配列形成された複数の
第2接続リード端子とを互いに対応する端子同士を導通
可能に重畳接触させて接合する電気配線基板の接続構造
において、第2の基板の第2接続リード端子の配列方向
における両端付近に第2検査用端子をそれぞれ設け、第
1の基板の第2検査用端子にほぼ対応する位置に第1検
査用端子をそれぞれ設け、かつ第1、第2の各検査用端
子を、互いに重畳接触した状態のときに各第1接続リー
ド端子とこれに対応する各第2接続リード端子とがすべ
て所定範囲以上の重畳幅を保持して接触し合う位置に設
けたことを特徴とするものである。この請求項1記載の
発明によれば、第1の基板の一端部に配列形成された複
数の第1接続リード端子と第2の基板の一端部に配列形
成された複数の第2接続リード端子とを対応させて接続
する際に、第2の基板に設けられた第2検査用端子と第
1の基板に設けられた第1検査用端子とをそれぞれ重畳
接触させると、第1接続リード端子と第2接続リード端
子とがすべて所定範囲内で接触し合うことになる。した
がって、第1検査用端子と第2検査用端子とが接触しい
ているか否かを電気的に検出するだけで、第1接続リー
ド端子と第2接続リード端子との位置合わせが確認でき
るので、従来のように検査用の設備費などがかからず、
簡単に基板同士の位置ずれを検査できる。
【0005】また、請求項5記載の発明は、第1の基板
の一端部に配列形成された複数の第1接続リード端子と
第2の基板の一端部に配列形成された複数の第2接続リ
ード端子とを互いに対応する端子同士を導通可能に重畳
接触させて接合する電気配線基板の接続構造において、
第2の基板の第2接続リード端子の配列方向における少
なくとも一端部付近に第2検査用端子を設け、第1の基
板の前記第2検査用端子にほぼ対応する位置に一対の第
1検査用端子を設け、かつ第2検査用端子と一対の第1
検査用端子は、第2検査用端子が一対の第1検査用端子
に跨って重畳接触した状態のときに第1接続リード端子
と第2接続リード端子とがすべて所定範囲以上の重畳幅
を保持して接触し合うように設けられていることを特徴
とするものである。この請求項5記載の発明によれば、
第1の基板の一端部に配列形成された複数の第1接続リ
ード端子と第2の基板の一端部に配列形成された複数の
第2接続リード端子とを対応させて接合する際に、第2
検査用端子を一対の第1検査用端子に跨って重畳接触さ
せると、第1接続リード端子と第2接続リード端子とが
すべて所定範囲内で接触し合うことになる。したがっ
て、第2検査用端子と第1検査用端子とが接触している
か否かを電気的に検出するだけで、第1接続リード端子
と第2接続リード端子との位置合わせが確認できるの
で、従来のように検査用の設備費などがかからず、簡単
に基板同士の位置ずれを検査できる。
【0006】
【発明の実施の形態】
[第1実施形態]以下、図1〜図3を参照して、この発
明を液晶表示モジュールに適用した第1実施形態につい
て説明する。図1は液晶表示モジュールの斜視図であ
る。この液晶表示モジュールは、液晶表示パネル1にT
AB基板2を接合したものである。液晶表示パネル1
は、ガラスなどからなる一対の透明な電極基板3、4間
に図示しない液晶をシール材によって封入したものであ
り、下側の電極基板(第1の基板)4の一端部が上側の
電極基板3の端面よりも突出し、この突出した部分の上
面に図2に示すように入力用接続リード端子(第1接続
リード端子)5および入力側検査用端子(第1検査用端
子)6が形成された構造になっている。また、TAB基
板2は、フィルムなどのフレキシブル基板(第2の基
板)7上に液晶表示パネル駆動用の半導体チップ8を設
置したものであり、フレキシブル基板7の一端部に図2
に示すように出力用接続リード端子(第2接続リード端
子)9および出力側検査用端子(第2検査用端子)10
が形成され、他端部に入力用接続リード端子(図示せ
ず)が形成された構造になっている。
【0007】電極基板4の入力側接続リード端子5とフ
レキシブル基板7の出力側接続リード端子9とは、それ
ぞれ同一ピッチで配列形成されており、出力側接続リー
ド端子9の幅は、入力側接続リード端子5の幅よりも狭
く形成されている。また、フレキシブル基板7の出力側
検査用端子10は、出力側接続リード端子9の配列方向
における両端付近に位置し、電極基板4の入力側検査用
端子6は、各入力側接続リード端子5がフレキシブル基
板側の対応する各出力側接続リード端子9にそれぞれ重
なった状態のときに、フレキシブル基板7の出力側検査
用端子10に重なるように設けられている。
【0008】本例では、入力側検査用端子6と出力側検
査用端子10とは、互いに重なり合って接触した状態の
ときに、各入力側接続リード端子5に対応する各出力側
接続リード端子9の幅方向全体が重なって接触し合う関
係位置に設定されている。すなわち、図2に示すよう
に、左右両側に位置する入力側検査用端子6と出力側検
査用端子10とが左右両側で同じ幅wだけ重なっている
ときは、入力側接続リード端子5と出力側接続リード端
子9とはそれぞれの中心を一致させた状態で重なり、そ
の両側の非重なり幅s、つまり入力側接続リード端子5
の一側縁とそれに対応する出力側接続リード端子9の一
側縁との距離sは検査用端子6、10の重なり幅wと等
しくなるように設定されている。
【0009】さらに、出力側接続リード端子9の両側に
位置する出力側検査用端子10同士は、フレキシブル基
板7の半導体チップ8内で導通接続されている。また、
電極基板4の入力側検査用端子6に導通接続させて、テ
スタなどの検査用接触ピン(図示せず)が接触するため
の検査用パッド12がそれぞれフレキシブル基板7と重
ならない外部側方に設けられている。
【0010】このような液晶表示モジュールでは、液晶
表示パネル1の電極基板4に配列形成された入力側接続
リード端子5とフレキシブル基板7に配列形成された出
力側接続リード端子9とを対応させて接合する際に、電
極基板4の両端部に設けられた一対の検査用パッド1
2、12にテスタなどの検査用接触ピンを接触させ、導
通検査を行う。
【0011】そして、検査用パッド12間が導通すれ
ば、入力側検査用端子6と出力側検査用端子10とがそ
れぞれ相互に接触していることになり、各入力側接続リ
ード端子5に各出力側接続リード端子9の幅方向全体が
それぞれ接触していることが確認できる。例えば、図2
に示すように、左右両側に位置する入力側検査用端子6
と出力側検査用端子10との各重なり幅が同じ幅wであ
れば、各入力側接続リード端子5の一側縁と対応する出
力側接続リード端子9の一側縁との距離sがほぼ同じに
なり、これにより入力側接続リード端子5と出力側接続
リード端子9との中心がほぼ一致することになり、高い
精度で位置合わせがなされている。
【0012】また、検査用パッド12間が導通していな
ければ、左右の各検査用端子6、10のうち、いずれか
一方に位置する検査用端子6、10同士が相互に接触し
ていないことになり、入力側接続リード端子5と出力側
接続リード端子9とがすべて許容される程度以上に位置
ずれしていることが確認できる。例えば、図3に示すよ
うに、右側に位置する入力側検査用端子6と出力側検査
用端子10との重なり幅が2wよりも大きくなると、左
側に位置する入力側検査用端子6と出力側検査用端子1
0とが互いに接触していないことになり、入力側接続リ
ード端子5と出力側接続リード端子9との位置ずれが許
容される程度以上に大きくなっている、つまり出力側接
続リード端子9が入力側接続リード端子5の側端からは
み出していることが確認できる。
【0013】このように、この液晶表示モジュールで
は、入力側検査用端子6の検査用パッド12間をテスタ
などで導通検査することにより、入力側検査用端子6と
出力側検査用端子10とが接触しいているか否かを電気
的に検出することができ、これにより入力側接続リード
端子5と出力側接続リード端子9との位置合わせが確認
でき、このため従来のテレビカメラや検査用プローブの
位置合わせ装置などのような設備費がかからず、簡単に
電極基板4とフレキシブル基板7との位置ずれを正確に
検査できる。
【0014】[第2実施形態]次に、図4を参照して、
この発明を液晶表示モジュールに適用した第2実施形態
について説明する。この場合、図1〜図3に示された第
1実施形態と同一部分には同一符号を付し、その説明は
省略する。液晶表示パネル1の電極基板4に形成された
入力側検査用端子6に導通接続させて、液晶表示パネル
1の外部で接続治具(図示せず)によって相互に接続さ
れる接続用パッド20がそれぞれフレキシブル基板7と
重ならない側方に設けられている。また、フレキシブル
基板7に形成された出力側検査用端子10には、検査用
パッド21が設けられている。
【0015】このような液晶表示モジュールでは、電極
基板4の入力側接続リード端子5とフレキシブル基板7
の出力側接続リード端子9とを対応させて接合する際
に、電極基板4に設けられた入力側検査用端子6とフレ
キシブル基板7に設けられた出力側検査用端子10とを
それぞれ相互に接触するように配置し、この状態で電極
基板4に設けられた入力側検査用端子6の一対の接続用
パッド20、20を接続治具で互いに電気的に接続した
上、フレキシブル基板7の両端部に形成した一対の検査
用パッド21にテスタなどの検査用接触ピンを接触させ
て導通検査することにより、入力側検査用端子6と出力
側検査用端子10とが接触しいているか否かを電気的に
検出することができ、その結果検査用パッド21間が導
通していれば、第1実施形態と同様、入力側検査用端子
6と出力側検査用端子10とがそれぞれ相互に接触して
いることになり、各入力側接続リード端子5に各出力側
接続リード端子9の幅方向全域が接触していること、つ
まり正常な接触状態であることが確認でき、このため検
査用の設備費などがかからず、簡単に電極基板4とフレ
キシブル基板7との位置ずれを検査できる。
【0016】[第3実施形態]次に、図5を参照して、
この発明を液晶表示モジュールに適用した第3実施形態
について説明する。この場合、図1〜図3に示された第
1実施形態と同一部分には同一符号を付し、その説明は
省略する。フレキシブル基板7には、第1実施形態と同
様、出力側接続リード端子9が所定ピッチで配列形成さ
れているとともに、これら出力側接続リード端子9の配
列方向における両端付近に出力側検査用端子10が設け
られている。また、入力側接続リード端子5が配列形成
された電極基板4には、フレキシブル基板7の一対の出
力側検査用端子10、10にそれぞれ対応する位置に一
対の入力側検査用端子30a、30bからなる入力側検
査部30がそれぞれ設けられている。
【0017】この場合、フレキシブル基板7の出力側接
続リード端子9の幅は、第1実施形態と同様、電極基板
4の入力側接続リード端子5の幅よりも狭く形成されて
いる。また、フレキシブル基板7の出力側検査用端子1
0の幅と電極基板4の左右両側にそれぞれ設けられた一
対の入力側検査用端子30a、30b同士の間隔は、出
力側検査用端子10が一対の入力側検査用端子30a、
30bにそれぞれ跨って接触した状態のときに、各入力
側接続リード端子5に各出力側接続リード端子9の全体
が重なった状態で接触し合う関係に設定されている。す
なわち、図5に示すように、出力側検査用端子10と入
力側検査用端子30a、30bとの各重なり幅の合計
が、入力側接続リード端子5と出力側接続リード端子9
との非重なり部の合計と等しく、且つ両リード端子5、
9が幅方向中心を一致させて重なるときに出力側検査用
端子10の幅中心が入力側検査用端子30a、30bの
間隙の中心に位置するように設定されている。
【0018】そして、各一対の入力側検査用端子30
a、30bには、それぞれ検査用パッド30a1、30
1がフレキシブル基板7に重ならない両側部に設けら
れている。そして、電極基板4の両端に設けられた一対
の検査部30、30のそれぞれにおいて、検査用パッド
30a1、30b1にテスタ端子を接触させて導通検査を
行う。いずれか一方の検査用パッド30a1、30b1
で導通があれば、許容限度以上の位置ズレはないと判断
できる。
【0019】このような液晶表示モジュールでは、電極
基板4の入力側接続リード端子5とフレキシブル基板7
の出力側接続リード端子9とを対応させて接合する際
に、フレキシブル基板7に設けられた出力側検査用端子
10を電極基板4に設けられた左右各一対の入力側検査
用端子30a、30bにそれぞれ跨って接触させるよう
に配置し、この状態で電極基板4のいずれか一方の入力
側検査部30の検査用パッド30a1、30b1間をテス
タなどで導通検査し、その検査用パッド30a1、30
1間が導通していれば、第1実施形態と同様、入力側
接続リード端子5と出力側接続リード端子9とがすべて
正常な接触状態であることが確認でき、このため検査用
の設備費などがかからず、簡単に電極基板4とフレキシ
ブル基板7との位置ずれを検査できる。
【0020】なお、上記第3実施形態では、一対の入力
側検査部30を電極基板4の左右両側にそれぞれ設けた
が、必ずしも左右両側に設ける必要はなく、左右のいず
れか一方のみに設けただけでもよい。
【0021】[第4実施形態]次に、図6を参照して、
この発明を液晶表示モジュールに適用した第4実施形態
について説明する。この場合にも、図1〜図3に示され
た第1実施形態と同一部分には同一符号を付し、その説
明は省略する。この液晶表示モジュールは、1つの細長
い液晶表示パネル40に複数のTAB基板2を接合した
構造のものである。すなわち、液晶表示パネル40の下
側の電極基板4は、その一端部が上側の電極基板3の一
端部から突出し、この突出した部分の上面に入力側接続
リード端子5および入力側検査用端子6が形成された構
造になっている。この場合、入力側接続リード端子5は
それぞれ複数のTAB基板2の各フレキシブル基板7の
出力側接続リード端子9に対応してこれと同一ピッチで
配列形成されており、入力側検査用端子6は複数のフレ
キシブル基板7の左右両側に設けられた出力側検査用端
子10にそれぞれ対応して設けられている。
【0022】そして、各入力側検査用端子6には、それ
ぞれ検査用パッドA1〜AnおよびB1〜Bnがそれぞ
れ各フレキシブル基板7間に対応して設けられている。
すなわち、検査用パッドA1〜Anは左側から順に各フ
レキシブル基板7の各左側外部に位置し、検査用パッド
B1〜Bnは左側から順に各フレキシブル基板7の各右
側外部に位置している。また、互いに隣接する検査用パ
ッドB1とA2、B2とA3、……Bn−1とAnはそ
れぞれ電気的に接続されている。なお、各フレキシブル
基板7の出力側検査用端子10は、第1実施形態と同
様、フレキシブル基板7の半導体チップ8内において電
気的に接続されている。
【0023】このような液晶表示モジュールでは、液晶
表示パネル40の電極基板4に配列形成された入力側接
続リード端子5に複数のTAB基板2の各フレキシブル
基板7にそれぞれ配列形成された各出力側接続リード端
子9を対応させて接合する際に、各フレキシブル基板7
に設けられた出力側検査用端子10を電極基板4に設け
られた入力側検査用端子6にそれぞれ接触するように配
置し、この状態で電極基板4の入力側検査用端子6の検
査用パッドA1〜AnおよびB1〜Bnのうち、最左端
に位置する検査用パッドA1と最右端に位置する検査用
パッドBnとの間をテスタなどで導通検査することによ
り、各フレキシブル基板7に対応する入力側検査用端子
6と出力側検査用端子10とが正常に接触しいているか
否かを一度に検査することができる。このとき、検査用
パッドA1とBn間で導通していない場合には、検査用
パッドA1とB1間、A2とB2間、……AnとBn間
を順次導通検査することにより、各フレキシブル基板7
に対応する入力側検査用端子6と出力側検査用端子10
とが正常に接触しいているか否かを順次検査することが
でき、これにより各検査用パッドA1とB1間、A2と
B2間、……AnとBn間のいずれが導通していないか
を確認することができる。このように検査用パッドA1
〜AnおよびB1〜Bnを導通検査することにより、入
力側接続リード端子5と出力側接続リード端子9とがす
べて正常に接触していることが確認でき、第1実施形態
と同様、設備費などがかからず、簡単に電極基板4と複
数のフレキシブル基板7との位置ずれを検査できる。
【0024】なお、上記第4実施形態では、各フレキシ
ブル基板7の各出力側検査用端子10同士を半導体チッ
プ8内で導通接続した状態で電極基板4の入力側検査用
端子6間を導通検査するようにしたが、これに限らず、
第2実施形態のように電極基板4の入力側検査用端子6
に接続用パッドを設けて入力側検査用端子6同士を接続
治具などで接続した状態で、各フレキシブル基板7の出
力側検査用端子に設けられた各検査用パッド間を検査す
るようにしてもよい。また、上記第1〜第4実施形態で
は、液晶表示モジュールに適用した場合について述べた
が、これに限らず、電子部品を搭載した回路基板とフレ
キシブル基板との接続構造などにも広く適用することが
できる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明によれば、第1の基板に配列形成された第1接続リー
ド端子と第2の基板に配列形成された第2接続リード端
子とを対応させて接合する際に、第2の基板に設けられ
た第2検査用端子と第1の基板に設けられた第1検査用
端子とをそれぞれ接触させると、第1接続リード端子と
第2接続リード端子とがすべて所定範囲以上の重畳幅を
保って接触し合うことになる。したがって、第1検査用
端子と第2検査用端子とが接触しいているか否かを電気
的に検出するだけで、第1接続リード端子と第2接続リ
ード端子との位置合わせが確認できるので、従来のよう
に検査用の設備費などがかからず、簡単に基板同士の位
置ずれを検査できる。請求項5記載の発明によれば、第
1の基板に配列形成された一対の第1検査用端子と第2
の基板に配列形成された第2検査用端子とを対応させて
接合する際に、第2検査用端子を一対の第1検査用端子
に跨って接触させると、第1接続リード端子と第2接続
リード端子とがすべて所定範囲以上の重畳幅を保って接
触し合うことになる。したがって、一対の第1検査用端
子と第2検査用端子とが接触し一対の第1検査用端子が
第2検査用端子を介して導通接続されているか否かを電
気的に検出するだけで、第1接続リード端子と第2接続
リード端子との位置合わせが確認できるので、従来のよ
うに検査用の設備費などがかからず、簡単に基板同士の
位置ずれを検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明を液晶表示モジュールに適用した第1
実施形態の外観斜視図。
【図2】図1の電極基板に設けられた入力側接続リード
端子および入力側検査用端子とフレキシブル基板に設け
られた出力側接続リード端子および出力側検査用端子と
の対応関係を示し、各接続リード端子が対応した状態を
示す図。
【図3】図2において各接続リード端子が位置ずれして
いる状態を示す図。
【図4】この発明を液晶表示モジュールに適用した第2
実施形態において、電極基板の入力側接続リード端子お
よび入力側検査用端子とフレキシブル基板の出力側接続
リード端子および出力側検査用端子とが対応した状態を
示す図。
【図5】この発明を液晶表示モジュールに適用した第3
実施形態において、電極基板の入力側接続リード端子お
よび入力側検査用端子とフレキシブル基板の出力側接続
リード端子および出力側検査用端子とが対応した状態を
示す図。
【図6】この発明を液晶表示モジュールに適用した第4
実施形態の一部を省略した要部平面図。
【符号の説明】
1、40 液晶表示パネル 2 TAB基板 4 電極基板 5 入力側接続リード端子 6、30a、30b 入力側検査用端子 7 フレキシブル基板 9 出力側接続リード端子 10 出力側検査用端子 12、21、30a1、30b1 検査用パッド 20 接続用パッド 30 入力側検査部 A1〜An、B1〜Bn 検査用パッド

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の基板の一端部に配列形成された複
    数の第1接続リード端子と第2の基板の一端部に配列形
    成された複数の第2接続リード端子とを互いに対応する
    端子同士を導通可能に重畳接触させて接合する電気配線
    基板の接続構造において、 前記第2の基板の前記第2接続リード端子の配列方向に
    おける両端付近に第2検査用端子をそれぞれ設け、前記
    第1の基板の前記第2検査用端子にほぼ対応する位置に
    第1検査用端子をそれぞれ設け、かつ前記第1、第2の
    各検査用端子は、互いに重畳接触した状態のときに各前
    記第1接続リード端子とこれに対応する各前記第2接続
    リード端子とがすべて所定範囲以上の重畳幅を保持して
    接触し合う位置に設けられている、 ことを特徴とする電気配線基板の接続構造。
  2. 【請求項2】 前記第2検査用端子同士が導通接続さ
    れ、前記第1検査用端子には検査用パッドが設けられて
    いることを特徴とする請求項1記載の電気配線基板の接
    続構造。
  3. 【請求項3】 前記第1検査用端子同士が導通接続さ
    れ、前記第2検査用端子には検査用パッドが設けられて
    いることを特徴とする請求項1記載の電気配線基板の接
    続構造。
  4. 【請求項4】 前記第1の基板は硬質基板であり、前記
    第2の基板はフレキキシブル基板であることを特徴とす
    る請求項1〜3記載の電気配線基板の接続構造。
  5. 【請求項5】 第1の基板の一端部に配列形成された複
    数の第1接続リード端子と第2の基板の一端部に配列形
    成された複数の第2接続リード端子とを互いに対応する
    端子同士を導通可能に重畳接触させて接合する電気配線
    基板の接続構造において、 前記第2の基板の前記第2接続リード端子の配列方向に
    おける少なくとも一端部付近に第2検査用端子を設け、
    前記第1の基板の前記第2検査用端子にほぼ対応する位
    置に一対の第1検査用端子を設け、かつ前記第2検査用
    端子と前記一対の第1検査用端子は、前記第2検査用端
    子が前記一対の第1検査用端子に跨って重畳接触した状
    態のときに前記第1接続リード端子と第2接続リード端
    子とがすべて所定範囲以上の重畳幅を保持して接触し合
    うように設けられている、 ことを特徴とする電気配線基板の接続構造。
  6. 【請求項6】 前記一対の第1検査用端子には、導通検
    査器の接触子を導通接触させる為の検査用パッドをそれ
    ぞれ導通接線してあることを特徴とする請求項5記載の
    電気配線基板の接続構造。
  7. 【請求項7】 前記第1の基板は硬質基板であり、前記
    第2の基板はフレキキシブル基板であることを特徴とす
    る請求項5または6記載の電気配線基板の接続構造。
JP7270703A 1995-09-26 1995-09-26 電気配線基板の接続構造 Pending JPH0990398A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7270703A JPH0990398A (ja) 1995-09-26 1995-09-26 電気配線基板の接続構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7270703A JPH0990398A (ja) 1995-09-26 1995-09-26 電気配線基板の接続構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0990398A true JPH0990398A (ja) 1997-04-04

Family

ID=17489791

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7270703A Pending JPH0990398A (ja) 1995-09-26 1995-09-26 電気配線基板の接続構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0990398A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001318620A (ja) * 2000-05-10 2001-11-16 Toshiba Corp テープキャリアパッケージを備える平面表示装置
JP2002229053A (ja) * 2001-01-31 2002-08-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示モジュール
KR100815913B1 (ko) * 2002-06-28 2008-03-21 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 표시 장치
JP2009271383A (ja) * 2008-05-09 2009-11-19 Funai Electric Co Ltd 液晶表示装置及び液晶表示装置の製造方法
JP2010145712A (ja) * 2008-12-18 2010-07-01 Sony Corp マトリックス型表示装置及びマトリックス型表示装置の検査方法
JP2013182128A (ja) * 2012-03-01 2013-09-12 Sharp Corp 表示装置
CN105632382A (zh) * 2016-01-04 2016-06-01 京东方科技集团股份有限公司 显示装置及其检测绑定区域绑定情况的方法
WO2019085949A1 (zh) * 2017-11-01 2019-05-09 京东方科技集团股份有限公司 基板、面板、检测装置以及对准检测方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001318620A (ja) * 2000-05-10 2001-11-16 Toshiba Corp テープキャリアパッケージを備える平面表示装置
JP2002229053A (ja) * 2001-01-31 2002-08-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示モジュール
KR100815913B1 (ko) * 2002-06-28 2008-03-21 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 표시 장치
JP2009271383A (ja) * 2008-05-09 2009-11-19 Funai Electric Co Ltd 液晶表示装置及び液晶表示装置の製造方法
JP2010145712A (ja) * 2008-12-18 2010-07-01 Sony Corp マトリックス型表示装置及びマトリックス型表示装置の検査方法
JP2013182128A (ja) * 2012-03-01 2013-09-12 Sharp Corp 表示装置
CN105632382A (zh) * 2016-01-04 2016-06-01 京东方科技集团股份有限公司 显示装置及其检测绑定区域绑定情况的方法
CN105632382B (zh) * 2016-01-04 2018-05-18 京东方科技集团股份有限公司 显示装置及其检测绑定区域绑定情况的方法
US10321559B2 (en) 2016-01-04 2019-06-11 Boe Technology Group Co., Ltd. Display device and method for detecting bonding condition in bonding area of display device
WO2019085949A1 (zh) * 2017-11-01 2019-05-09 京东方科技集团股份有限公司 基板、面板、检测装置以及对准检测方法
US11232727B2 (en) 2017-11-01 2022-01-25 Ordos Yuansheng Optoelectronics Co., Ltd. Substrate, panel, detection device and alignment detection method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7646464B2 (en) Display device and inspection method of position gap
US6937004B2 (en) Test mark and electronic device incorporating the same
US8013334B2 (en) Bonding structure of circuit substrate for instant circuit inspecting
US6300998B1 (en) Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel
US12016116B2 (en) Display device and an inspection method of a display device
JP4661300B2 (ja) 液晶モジュール
JPH0990398A (ja) 電気配線基板の接続構造
JPH0682802A (ja) 液晶表示装置
JP2001156417A (ja) 回路基板間の接続状態検査用パターン
JP2001056477A (ja) 液晶表示装置及びその検査方法
JP2514236B2 (ja) 表示装置
JPH1062451A (ja) 液晶表示体用基板の検査装置
US20110141426A1 (en) Liquid crystal panel unit and method for inspecting same
JP2003090856A (ja) 配線基板の実装検査方法
US7049527B1 (en) Conductor-pattern testing method, and electro-optical device
JP2007067197A (ja) 駆動回路素子の接続構造
JPH10301137A (ja) 液晶表示装置
JP2000235191A (ja) 液晶表示装置
JPH0850297A (ja) 基板の電極構造
JP2003158354A (ja) 配線基板の実装検査方法
JP3846240B2 (ja) 液晶パネルの検査装置及び液晶パネルの検査方法
JPH10301138A (ja) 液晶表示装置
JP5203485B2 (ja) 表示装置および位置ずれ検査方法
JPH11185850A (ja) 回路基板の接続構造、及びその接続状態判断方法
JP2004186169A (ja) 回路基板の接続構造