JPH0850297A - 基板の電極構造 - Google Patents
基板の電極構造Info
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- JPH0850297A JPH0850297A JP7173879A JP17387995A JPH0850297A JP H0850297 A JPH0850297 A JP H0850297A JP 7173879 A JP7173879 A JP 7173879A JP 17387995 A JP17387995 A JP 17387995A JP H0850297 A JPH0850297 A JP H0850297A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶表示パネルに半導体チップをその出力側
電極を透明電極の一端部に接続して搭載した液晶表示装
置において、透明電極がショートしているか否かのテス
トを安価なテスト装置で行う。 【構成】 列方向の透明電極１３の一端部を１本おきに
半導体チップ２の出力側電極の内側に延長してテスト端
子３１を形成し、かつ行方向の透明電極の一端部にも同
様に１本おきにテスト端子を形成する。そして、半導体
チップ２等を搭載する前に、列側および行側の各テスト
端子にそれぞれ例えば１枚の導電性シートを接触させ、
この状態で列方向および行方向の各画素を共に１つおき
に同時に点灯させると、相隣接する透明電極間でショー
トが発生している場合には、本来点灯すべきでない画素
が点灯する。これにより、半導体チップの出力側電極と
接続される透明電極のピッチと関係なく、安価なテスト
装置でテストを行うことができる。
電極を透明電極の一端部に接続して搭載した液晶表示装
置において、透明電極がショートしているか否かのテス
トを安価なテスト装置で行う。 【構成】 列方向の透明電極１３の一端部を１本おきに
半導体チップ２の出力側電極の内側に延長してテスト端
子３１を形成し、かつ行方向の透明電極の一端部にも同
様に１本おきにテスト端子を形成する。そして、半導体
チップ２等を搭載する前に、列側および行側の各テスト
端子にそれぞれ例えば１枚の導電性シートを接触させ、
この状態で列方向および行方向の各画素を共に１つおき
に同時に点灯させると、相隣接する透明電極間でショー
トが発生している場合には、本来点灯すべきでない画素
が点灯する。これにより、半導体チップの出力側電極と
接続される透明電極のピッチと関係なく、安価なテスト
装置でテストを行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は液晶表示装置における
基板の電極構造に関する。
基板の電極構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置には、液晶表示パネルを駆
動するための駆動回路用半導体チップを液晶表示パネル
に搭載したものがある。図４および図５は従来のこのよ
うな液晶表示装置の一例を示したものである。この液晶
表示装置では、液晶表示パネル１の表面側に２つの半導
体チップ２、３が裏面側に１つの半導体チップ４がそれ
ぞれ搭載されている。このうち液晶表示パネル１は、ガ
ラス等からなる上下の透明基板１１、１２の間に液晶が
封入され、下側の透明基板１２の一端部が上側の透明基
板１１の外側に突出され、この突出された下側の透明基
板１２の一端部の上面に複数本の透明電極１３が２組に
分けられて設けられているとともに、各組の透明電極１
３に対応して各複数本の接続用配線１４、１５が並列的
に設けられ、かつ上側の透明基板１１の一端部が下側の
透明基板１２の外側に突出され、この突出された上側の
透明基板１１の一端部の下面に複数本の透明電極１６が
設けられているとともに、この複数本の透明電極１６に
対応して複数本の接続用配線１７が設けられた構造とな
っている。所定の２つの半導体チップ２、３は下側の透
明基板１２の一端部の上面に並列的に搭載され、残りの
１つの半導体チップ４は上側の透明基板１１の一端部の
下面に搭載されている。この場合、例えば図６に示すよ
うに、下側の透明基板１２の一端部上面と半導体チップ
２の下面との間に異方性導電性接着剤層１８が介在さ
れ、異方性導電性接着剤層１８中の絶縁性接着剤１９に
よって半導体チップ２の下面が下側の透明基板１２の一
端部上面に接着されているとともに、異方性導電性接着
剤層１８中の導電性粒子２０により、半導体チップ２の
下面周囲に設けられた複数の出力側電極（バンプ）２１
および複数の入力側電極（バンプ）２２が透明電極１３
および接続用配線１４とそれぞれ電気的に接続されてい
る。接続用配線１４、１５、１７は、図示していない
が、フレキシブル配線基板を介して、半導体チップ２、
３、４を制御するための制御回路用回路基板と電気的に
接続されている。
動するための駆動回路用半導体チップを液晶表示パネル
に搭載したものがある。図４および図５は従来のこのよ
うな液晶表示装置の一例を示したものである。この液晶
表示装置では、液晶表示パネル１の表面側に２つの半導
体チップ２、３が裏面側に１つの半導体チップ４がそれ
ぞれ搭載されている。このうち液晶表示パネル１は、ガ
ラス等からなる上下の透明基板１１、１２の間に液晶が
封入され、下側の透明基板１２の一端部が上側の透明基
板１１の外側に突出され、この突出された下側の透明基
板１２の一端部の上面に複数本の透明電極１３が２組に
分けられて設けられているとともに、各組の透明電極１
３に対応して各複数本の接続用配線１４、１５が並列的
に設けられ、かつ上側の透明基板１１の一端部が下側の
透明基板１２の外側に突出され、この突出された上側の
透明基板１１の一端部の下面に複数本の透明電極１６が
設けられているとともに、この複数本の透明電極１６に
対応して複数本の接続用配線１７が設けられた構造とな
っている。所定の２つの半導体チップ２、３は下側の透
明基板１２の一端部の上面に並列的に搭載され、残りの
１つの半導体チップ４は上側の透明基板１１の一端部の
下面に搭載されている。この場合、例えば図６に示すよ
うに、下側の透明基板１２の一端部上面と半導体チップ
２の下面との間に異方性導電性接着剤層１８が介在さ
れ、異方性導電性接着剤層１８中の絶縁性接着剤１９に
よって半導体チップ２の下面が下側の透明基板１２の一
端部上面に接着されているとともに、異方性導電性接着
剤層１８中の導電性粒子２０により、半導体チップ２の
下面周囲に設けられた複数の出力側電極（バンプ）２１
および複数の入力側電極（バンプ）２２が透明電極１３
および接続用配線１４とそれぞれ電気的に接続されてい
る。接続用配線１４、１５、１７は、図示していない
が、フレキシブル配線基板を介して、半導体チップ２、
３、４を制御するための制御回路用回路基板と電気的に
接続されている。
【０００３】ところで、このような液晶表示装置では、
上下の透明基板１１、１２の相対向する面に設けられた
透明電極１６、１３の幅およびピッチが共に例えば１０
０μ以下とかなり小さい場合、相隣接する透明電極間で
ショートするおそれがあり、また上下の透明基板１１、
１２間にゴミが混入するおそれがあり、さらに微細なカ
ラーフィルタによるカラー表示の場合、印刷不良等によ
るフィルタ不良が発生するおそれがあり、品質低下の一
要因となっている。
上下の透明基板１１、１２の相対向する面に設けられた
透明電極１６、１３の幅およびピッチが共に例えば１０
０μ以下とかなり小さい場合、相隣接する透明電極間で
ショートするおそれがあり、また上下の透明基板１１、
１２間にゴミが混入するおそれがあり、さらに微細なカ
ラーフィルタによるカラー表示の場合、印刷不良等によ
るフィルタ不良が発生するおそれがあり、品質低下の一
要因となっている。
【０００４】そこで、従来では、相隣接する透明電極間
でショートが発生しているか否か、ゴミが混入している
か否か、フィルタ不良が発生しているか否かのテストを
行っている。この場合、例えば半導体チップ２の下面周
囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する複数本
のプローブを備えたプローバを３つ用意し、半導体チッ
プ２、３、４を搭載する前に、２つのプローバの各プロ
ーブを上側の透明基板１２の左側および右側の各複数本
の透明電極１３にそれぞれ接触させるとともに、残りの
１つのプローバの各プローブを下側の透明基板１１の複
数本の透明電極１６に接触させ、この状態で各種のテス
トを行っている。すなわち、画素を１行または１列ずつ
順次点灯させると、相隣接する透明電極間でショートが
発生している場合には、ショートが発生している部分に
対応する２行または２列の画素が同時に点灯することに
なる。一方、すべての画素を同時に点灯させると、ゴミ
が混入している場合には、ゴミが混入している部分に対
応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発生している場
合には、フィルタ不良が発生している部分に対応する画
素の色が所期の色と異なることになる。
でショートが発生しているか否か、ゴミが混入している
か否か、フィルタ不良が発生しているか否かのテストを
行っている。この場合、例えば半導体チップ２の下面周
囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する複数本
のプローブを備えたプローバを３つ用意し、半導体チッ
プ２、３、４を搭載する前に、２つのプローバの各プロ
ーブを上側の透明基板１２の左側および右側の各複数本
の透明電極１３にそれぞれ接触させるとともに、残りの
１つのプローバの各プローブを下側の透明基板１１の複
数本の透明電極１６に接触させ、この状態で各種のテス
トを行っている。すなわち、画素を１行または１列ずつ
順次点灯させると、相隣接する透明電極間でショートが
発生している場合には、ショートが発生している部分に
対応する２行または２列の画素が同時に点灯することに
なる。一方、すべての画素を同時に点灯させると、ゴミ
が混入している場合には、ゴミが混入している部分に対
応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発生している場
合には、フィルタ不良が発生している部分に対応する画
素の色が所期の色と異なることになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
このようなテスト方法では、例えば半導体チップ２の下
面周囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する複
数本のプローブを備えたプローバを必要とするので、プ
ローブのピッチが出力側電極２１のピッチと同じでかな
り小さくなり、このためプローバがかなり高価となり、
しかもプローブのピッチの微小化に制約を受けることか
ら、出力側電極２１のピッチの微小化に制約を受けると
いう問題があった。この発明の目的は、半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことのできる基板の電極構造を提供すること
にある。
このようなテスト方法では、例えば半導体チップ２の下
面周囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する複
数本のプローブを備えたプローバを必要とするので、プ
ローブのピッチが出力側電極２１のピッチと同じでかな
り小さくなり、このためプローバがかなり高価となり、
しかもプローブのピッチの微小化に制約を受けることか
ら、出力側電極２１のピッチの微小化に制約を受けると
いう問題があった。この発明の目的は、半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことのできる基板の電極構造を提供すること
にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
相対向する面にそれぞれ複数本の透明電極が設けられた
一対の透明基板の一方の透明基板の一端部が他方の透明
基板の外側に突出され、この突出された前記一方の透明
基板の一端部に一方の半導体チップがその出力側電極を
前記一方の透明基板の透明電極の一端部と接続されて搭
載され、かつ前記他方の透明基板の一端部が前記一方の
透明基板の外側に突出され、この突出された前記他方の
透明基板の一端部に他方の半導体チップがその出力側電
極を前記他方の透明基板の透明電極の一端部と接続され
て搭載された液晶表示装置において、前記一方の透明基
板の透明電極の一端部を１本おきに前記一方の半導体チ
ップの出力側電極の内側に延長し、この延長した部分に
よってテスト端子を形成し、かつ前記他方の透明基板の
透明電極の一端部を１本おきに前記他方の半導体チップ
の出力側電極の内側に延長し、この延長した部分によっ
てテスト端子を形成したものである。請求項２記載の発
明は、前記一方の透明基板のテスト端子を当初前記一方
の半導体チップの出力側電極の内側に設けられた共通テ
スト端子に接続し、テスト後に切断し、かつ前記他方の
透明基板のテスト端子を当初前記他方の半導体チップの
出力側電極の内側に設けられた共通テスト端子に接続
し、テスト後に切断したものである。請求項３記載の発
明は、前記一方の透明基板の透明電極の他端部を２本お
きに延長するとともにこの延長した部分を当初接続して
共通テスト端子を形成し、テスト後に切断したものであ
る。
相対向する面にそれぞれ複数本の透明電極が設けられた
一対の透明基板の一方の透明基板の一端部が他方の透明
基板の外側に突出され、この突出された前記一方の透明
基板の一端部に一方の半導体チップがその出力側電極を
前記一方の透明基板の透明電極の一端部と接続されて搭
載され、かつ前記他方の透明基板の一端部が前記一方の
透明基板の外側に突出され、この突出された前記他方の
透明基板の一端部に他方の半導体チップがその出力側電
極を前記他方の透明基板の透明電極の一端部と接続され
て搭載された液晶表示装置において、前記一方の透明基
板の透明電極の一端部を１本おきに前記一方の半導体チ
ップの出力側電極の内側に延長し、この延長した部分に
よってテスト端子を形成し、かつ前記他方の透明基板の
透明電極の一端部を１本おきに前記他方の半導体チップ
の出力側電極の内側に延長し、この延長した部分によっ
てテスト端子を形成したものである。請求項２記載の発
明は、前記一方の透明基板のテスト端子を当初前記一方
の半導体チップの出力側電極の内側に設けられた共通テ
スト端子に接続し、テスト後に切断し、かつ前記他方の
透明基板のテスト端子を当初前記他方の半導体チップの
出力側電極の内側に設けられた共通テスト端子に接続
し、テスト後に切断したものである。請求項３記載の発
明は、前記一方の透明基板の透明電極の他端部を２本お
きに延長するとともにこの延長した部分を当初接続して
共通テスト端子を形成し、テスト後に切断したものであ
る。
【０００７】
【作用】請求項１記載の発明によれば、一方の透明基板
の複数本の透明電極の１本おきにテスト端子を形成し、
かつ他方の透明基板の複数本の透明電極の１本おきにテ
スト端子を形成しているので、相隣接する透明電極間で
ショートが発生しているか否かのテストを行う際、一方
の透明基板のすべてのテスト端子に例えば１枚の導電性
シートを接触させるとともに、他方の透明基板のすべて
のテスト端子に同じく１枚の導電性シートを接触させ、
この状態で行方向の画素を１つおきにおよび列方向の画
素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接する透明電
極間でショートが発生している場合には、ショートが発
生している部分に対応する画素で本来点灯すべきでない
画素が点灯し、これにより相隣接する透明電極間でショ
ートが発生しているか否かのテストを行うことができ、
したがって半導体チップの出力側電極のピッチに関係な
く、安価なテスト装置でテストを行うことができる。請
求項２記載の発明によれば、一方の透明基板のテスト端
子を当初共通テスト端子に接続し、テスト後に切断し、
かつ他方の透明基板のテスト端子を当初共通テスト端子
に接続し、テスト後に切断しているので、相隣接する透
明電極間でショートが発生しているか否かのテストを行
う際、一方の透明基板の共通テスト端子に１本のプロー
ブを接触させるとともに、他方の透明基板の共通テスト
端子に１本のプローブを接触させることにより、行方向
の画素を１つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同
時に点灯させることができ、したがって半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことができる。請求項３記載の発明によれ
ば、一方の透明基板の透明電極の他端部を２本おきに延
長するとともにこの延長した部分を当初接続して共通テ
スト端子を形成し、テスト後に切断しているので、ゴミ
が混入しているか否か、フィルタ不良が発生しているか
否かのテストを行う際、一方の透明基板の共通テスト端
子に１本のプローブを接触させるとともに、他方の透明
基板の他方の半導体チップの出力側電極と接続されるす
べての透明電極に例えば１枚の導電性シートを接触さ
せ、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発
生している場合には、フィルタ不良が発生している部分
に対応する画素の色が所期の色と異なり、これによりゴ
ミが混入しているか否か、フィルタ不良が発生している
か否かのテストを行うことができ、したがって半導体チ
ップの出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装
置でテストを行うことができる。
の複数本の透明電極の１本おきにテスト端子を形成し、
かつ他方の透明基板の複数本の透明電極の１本おきにテ
スト端子を形成しているので、相隣接する透明電極間で
ショートが発生しているか否かのテストを行う際、一方
の透明基板のすべてのテスト端子に例えば１枚の導電性
シートを接触させるとともに、他方の透明基板のすべて
のテスト端子に同じく１枚の導電性シートを接触させ、
この状態で行方向の画素を１つおきにおよび列方向の画
素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接する透明電
極間でショートが発生している場合には、ショートが発
生している部分に対応する画素で本来点灯すべきでない
画素が点灯し、これにより相隣接する透明電極間でショ
ートが発生しているか否かのテストを行うことができ、
したがって半導体チップの出力側電極のピッチに関係な
く、安価なテスト装置でテストを行うことができる。請
求項２記載の発明によれば、一方の透明基板のテスト端
子を当初共通テスト端子に接続し、テスト後に切断し、
かつ他方の透明基板のテスト端子を当初共通テスト端子
に接続し、テスト後に切断しているので、相隣接する透
明電極間でショートが発生しているか否かのテストを行
う際、一方の透明基板の共通テスト端子に１本のプロー
ブを接触させるとともに、他方の透明基板の共通テスト
端子に１本のプローブを接触させることにより、行方向
の画素を１つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同
時に点灯させることができ、したがって半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことができる。請求項３記載の発明によれ
ば、一方の透明基板の透明電極の他端部を２本おきに延
長するとともにこの延長した部分を当初接続して共通テ
スト端子を形成し、テスト後に切断しているので、ゴミ
が混入しているか否か、フィルタ不良が発生しているか
否かのテストを行う際、一方の透明基板の共通テスト端
子に１本のプローブを接触させるとともに、他方の透明
基板の他方の半導体チップの出力側電極と接続されるす
べての透明電極に例えば１枚の導電性シートを接触さ
せ、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発
生している場合には、フィルタ不良が発生している部分
に対応する画素の色が所期の色と異なり、これによりゴ
ミが混入しているか否か、フィルタ不良が発生している
か否かのテストを行うことができ、したがって半導体チ
ップの出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装
置でテストを行うことができる。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例における液晶表示
装置の要部を示したものである。この図において、図５
と同一部分には同一の符号を付し、その説明を適宜省略
する。この液晶表示装置では、例えば図４における左側
の半導体チップ２に対応する下側の透明基板１２の透明
電極１３の半導体チップ２と接続される方の端部が１本
おきに半導体チップ２の出力側電極の内側に延長され、
この延長された部分によってテスト端子３１が形成され
ている。また、図示していないが、例えば図４における
右側の半導体チップ３に対応する下側の透明基板１２の
透明電極１３の半導体チップ３と接続される方の端部が
１本おきに半導体チップ３の出力側電極の内側に延長さ
れ、この延長された部分によってテスト端子が形成され
ている。さらに、同じく図示していないが、上側の透明
基板１１の透明電極の例えば図４における半導体チップ
４と接続される方の端部が１本おきに半導体チップ４の
出力側電極の内側に延長され、この延長された部分によ
ってテスト端子が形成されている。
装置の要部を示したものである。この図において、図５
と同一部分には同一の符号を付し、その説明を適宜省略
する。この液晶表示装置では、例えば図４における左側
の半導体チップ２に対応する下側の透明基板１２の透明
電極１３の半導体チップ２と接続される方の端部が１本
おきに半導体チップ２の出力側電極の内側に延長され、
この延長された部分によってテスト端子３１が形成され
ている。また、図示していないが、例えば図４における
右側の半導体チップ３に対応する下側の透明基板１２の
透明電極１３の半導体チップ３と接続される方の端部が
１本おきに半導体チップ３の出力側電極の内側に延長さ
れ、この延長された部分によってテスト端子が形成され
ている。さらに、同じく図示していないが、上側の透明
基板１１の透明電極の例えば図４における半導体チップ
４と接続される方の端部が１本おきに半導体チップ４の
出力側電極の内側に延長され、この延長された部分によ
ってテスト端子が形成されている。
【０００９】この液晶表示装置で相隣接する透明電極間
でショートが発生しているか否かのテストを行う場合に
は、半導体チップ２、３、４を搭載する前に、半導体チ
ップ２に対応する下側の透明基板１２のすべてのテスト
端子３１に例えば１枚の導電性シートあるいは導電板を
接触させ、また半導体チップ３に対応する下側の透明基
板１２のすべてのテスト端子に同じく１枚の導電性シー
トあるいは導電板を接触させ、さらに半導体チップ４に
対応する上側の透明基板１１のすべてのテスト端子に同
じく１枚の導電性シートあるいは導電板を接触させる。
そして、この状態で行方向の画素を１つおきにおよび列
方向の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接す
る透明電極間でショートが発生している場合には、ショ
ートが発生している部分に対応する画素で本来点灯すべ
きでない画素が点灯し、これにより相隣接する透明電極
間でショートが発生しているか否かのテストを行うこと
ができる。したがって、半導体チップの出力側電極のピ
ッチに関係なく、安価なテスト装置でテストを行うこと
ができ、また半導体チップの出力側電極のピッチの微小
化を図ることもできる。
でショートが発生しているか否かのテストを行う場合に
は、半導体チップ２、３、４を搭載する前に、半導体チ
ップ２に対応する下側の透明基板１２のすべてのテスト
端子３１に例えば１枚の導電性シートあるいは導電板を
接触させ、また半導体チップ３に対応する下側の透明基
板１２のすべてのテスト端子に同じく１枚の導電性シー
トあるいは導電板を接触させ、さらに半導体チップ４に
対応する上側の透明基板１１のすべてのテスト端子に同
じく１枚の導電性シートあるいは導電板を接触させる。
そして、この状態で行方向の画素を１つおきにおよび列
方向の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接す
る透明電極間でショートが発生している場合には、ショ
ートが発生している部分に対応する画素で本来点灯すべ
きでない画素が点灯し、これにより相隣接する透明電極
間でショートが発生しているか否かのテストを行うこと
ができる。したがって、半導体チップの出力側電極のピ
ッチに関係なく、安価なテスト装置でテストを行うこと
ができ、また半導体チップの出力側電極のピッチの微小
化を図ることもできる。
【００１０】図２および図３はこの発明の他の実施例に
おける液晶表示装置の要部を示したものである。これら
の図において、図４および図５と同一部分には同一の符
号を付し、その説明を適宜省略する。この液晶表示装置
では、左側の半導体チップ２に対応する下側の透明基板
１２の透明電極１３の半導体チップ２と接続される方の
端部が１本おきに半導体チップ２の出力側電極の内側に
延長され、この延長された部分によってテスト端子４１
が形成されているとともに、これらテスト端子４１が半
導体チップ２の出力側電極の内側に設けられた方形状の
共通テスト端子４２に接続されている。また、図示して
いないが、右側の半導体チップ３に対応する下側の透明
基板１２の透明電極１３の半導体チップ３と接続される
方の端部が１本おきに半導体チップ３の出力側電極の内
側に延長され、この延長された部分によってテスト端子
が形成されているとともに、これらテスト端子が半導体
チップ２の出力側電極の内側に設けられた方形状の共通
テスト端子に接続されている。また、同じく図示してい
ないが、上側の透明基板１１の透明電極１６の半導体チ
ップ４と接続される方の端部が１本おきに半導体チップ
４の出力側電極の内側に延長され、この延長された部分
によってテスト端子が形成されているとともに、これら
テスト端子が半導体チップ２の出力側電極の内側に設け
られた方形状の共通テスト端子に接続されている。さら
に、下側の透明基板１２の透明電極１３の半導体チップ
２、３と接続されない方の端部が２本おきに延長され、
この延長された部分によってテスト端子４３が形成され
ているとともに、これらテスト端子４３が上側の透明基
板１１の上面周囲の所定の個所に設けられたほぼＬ字状
の共通テスト端子４４に接続され、共通テスト端子４４
の一端部４４ａが上側の透明基板１１の一端部上面に露
出されている。
おける液晶表示装置の要部を示したものである。これら
の図において、図４および図５と同一部分には同一の符
号を付し、その説明を適宜省略する。この液晶表示装置
では、左側の半導体チップ２に対応する下側の透明基板
１２の透明電極１３の半導体チップ２と接続される方の
端部が１本おきに半導体チップ２の出力側電極の内側に
延長され、この延長された部分によってテスト端子４１
が形成されているとともに、これらテスト端子４１が半
導体チップ２の出力側電極の内側に設けられた方形状の
共通テスト端子４２に接続されている。また、図示して
いないが、右側の半導体チップ３に対応する下側の透明
基板１２の透明電極１３の半導体チップ３と接続される
方の端部が１本おきに半導体チップ３の出力側電極の内
側に延長され、この延長された部分によってテスト端子
が形成されているとともに、これらテスト端子が半導体
チップ２の出力側電極の内側に設けられた方形状の共通
テスト端子に接続されている。また、同じく図示してい
ないが、上側の透明基板１１の透明電極１６の半導体チ
ップ４と接続される方の端部が１本おきに半導体チップ
４の出力側電極の内側に延長され、この延長された部分
によってテスト端子が形成されているとともに、これら
テスト端子が半導体チップ２の出力側電極の内側に設け
られた方形状の共通テスト端子に接続されている。さら
に、下側の透明基板１２の透明電極１３の半導体チップ
２、３と接続されない方の端部が２本おきに延長され、
この延長された部分によってテスト端子４３が形成され
ているとともに、これらテスト端子４３が上側の透明基
板１１の上面周囲の所定の個所に設けられたほぼＬ字状
の共通テスト端子４４に接続され、共通テスト端子４４
の一端部４４ａが上側の透明基板１１の一端部上面に露
出されている。
【００１１】この液晶表示装置では、半導体チップ２、
３、４を搭載する前に、まずゴミが混入しているか否
か、フィルタ不良が発生しているか否かのテストを行
い、次いで相隣接する透明電極間でショートが発生して
いるか否かのテストを行うことになる。ゴミが混入して
いるか否か、フィルタ不良が発生しているか否かのテス
トを行う場合には、下側の透明基板１２の一端部上面に
露出している共通テスト端子４４の一端部４４ａに１本
のプローブを接触させるとともに、上側の透明基板１１
の半導体チップ４の出力側電極と接続されるすべての透
明電極１６に例えば１枚の導電性シートあるいは導電板
を接触させる。そして、この状態で列方向の画素を２つ
おきに例えば赤、緑、青の画素のうち青のみの画素をす
べて同時に点灯させると、ゴミが混入している場合に
は、ゴミが混入している部分に対応する画素に影が生
じ、フィルタ不良が発生している場合には、フィルタ不
良が発生している部分に対応する画素の色が所期の色と
異なり、これによりゴミが混入しているか否か、フィル
タ不良が発生しているか否かのテストを行うことができ
る。したがって、半導体チップの出力側電極のピッチに
関係なく、安価なテスト装置でテストを行うことができ
る。この後、テスト端子４３をすべてレーザ光照射によ
り切断する。次に、相隣接する透明電極間でショートが
発生しているか否かのテストを行う場合には、下側の透
明基板１２の２つの共通テスト端子４２に各１本のプロ
ーブをそれぞ接触させるとともに、上側の透明基板１１
の共通テスト端子に１本のプローブを接触させる。そし
て、この状態で行方向の画素を１つおきにおよび列方向
の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接する透
明電極間でショートが発生している場合には、ショート
が発生している部分に対応する画素で本来点灯すべきで
ない画素が点灯し、これにより相隣接する透明電極間で
ショートが発生しているか否かのテストを行うことがで
きる。したがって、半導体チップの出力側電極のピッチ
に関係なく、安価なテスト装置でテストを行うことがで
きる。この後、テスト端子４１等をすべてレーザ光照射
により切断する。
３、４を搭載する前に、まずゴミが混入しているか否
か、フィルタ不良が発生しているか否かのテストを行
い、次いで相隣接する透明電極間でショートが発生して
いるか否かのテストを行うことになる。ゴミが混入して
いるか否か、フィルタ不良が発生しているか否かのテス
トを行う場合には、下側の透明基板１２の一端部上面に
露出している共通テスト端子４４の一端部４４ａに１本
のプローブを接触させるとともに、上側の透明基板１１
の半導体チップ４の出力側電極と接続されるすべての透
明電極１６に例えば１枚の導電性シートあるいは導電板
を接触させる。そして、この状態で列方向の画素を２つ
おきに例えば赤、緑、青の画素のうち青のみの画素をす
べて同時に点灯させると、ゴミが混入している場合に
は、ゴミが混入している部分に対応する画素に影が生
じ、フィルタ不良が発生している場合には、フィルタ不
良が発生している部分に対応する画素の色が所期の色と
異なり、これによりゴミが混入しているか否か、フィル
タ不良が発生しているか否かのテストを行うことができ
る。したがって、半導体チップの出力側電極のピッチに
関係なく、安価なテスト装置でテストを行うことができ
る。この後、テスト端子４３をすべてレーザ光照射によ
り切断する。次に、相隣接する透明電極間でショートが
発生しているか否かのテストを行う場合には、下側の透
明基板１２の２つの共通テスト端子４２に各１本のプロ
ーブをそれぞ接触させるとともに、上側の透明基板１１
の共通テスト端子に１本のプローブを接触させる。そし
て、この状態で行方向の画素を１つおきにおよび列方向
の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接する透
明電極間でショートが発生している場合には、ショート
が発生している部分に対応する画素で本来点灯すべきで
ない画素が点灯し、これにより相隣接する透明電極間で
ショートが発生しているか否かのテストを行うことがで
きる。したがって、半導体チップの出力側電極のピッチ
に関係なく、安価なテスト装置でテストを行うことがで
きる。この後、テスト端子４１等をすべてレーザ光照射
により切断する。
【００１２】なお、上記実施例では、下側の透明基板１
２の一端部の上面に２つの半導体チップ２、３を搭載
し、上側の透明基板１１の一端部の下面に１つの半導体
チップ４を搭載した場合について説明したが、これに限
定されるものではなく、例えば下側の透明基板１２の一
端部の上面に３つの半導体チップを搭載し、上側の透明
基板１１の一端部の下面に２つの半導体チップを搭載す
るようにしてもよいことはもちろんである。
２の一端部の上面に２つの半導体チップ２、３を搭載
し、上側の透明基板１１の一端部の下面に１つの半導体
チップ４を搭載した場合について説明したが、これに限
定されるものではなく、例えば下側の透明基板１２の一
端部の上面に３つの半導体チップを搭載し、上側の透明
基板１１の一端部の下面に２つの半導体チップを搭載す
るようにしてもよいことはもちろんである。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明によれば、一方の透明基板の複数本の透明電極の１本
おきにテスト端子を形成し、かつ他方の透明基板の複数
本の透明電極の１本おきにテスト端子を形成しているの
で、相隣接する透明電極間でショートが発生しているか
否かのテストを行う際、一方の透明基板のすべてのテス
ト端子に例えば１枚の導電性シートを接触させるととも
に、他方の透明基板のすべてのテスト端子に例えば１枚
の導電性シートを接触させ、この状態で行方向の画素を
１つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同時に点灯
させると、相隣接する透明電極間でショートが発生して
いる場合には、ショートが発生している部分に対応する
画素で本来点灯すべきでない画素が点灯し、これにより
相隣接する透明電極間でショートが発生しているか否か
のテストを行うことができ、したがって半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことができ、また半導体チップの出力側電極
のピッチの微小化を図ることもできる。請求項２記載の
発明によれば、一方の透明基板のテスト端子を当初共通
テスト端子に接続し、テスト後に切断し、かつ他方の透
明基板のテスト端子を当初共通テスト端子に接続し、テ
スト後に切断しているので、相隣接する透明電極間でシ
ョートが発生しているか否かのテストを行う際、一方の
透明基板の共通テスト端子に１本のプローブを接触させ
るとともに、他方の透明基板の共通テスト端子に１本の
プローブを接触させることにより、行方向の画素を１つ
おきにおよび列方向の画素を１つおきに同時に点灯させ
ることができ、したがって半導体チップの出力側電極の
ピッチに関係なく、安価なテスト装置でテストを行うこ
とができ、また半導体チップの出力側電極のピッチの微
小化を図ることもできる。請求項３記載の発明によれ
ば、一方の透明基板の透明電極の他端部を２本おきに延
長するとともにこの延長した部分を当初接続して共通テ
スト端子を形成し、テスト後に切断しているので、ゴミ
が混入しているか否か、フィルタ不良が発生しているか
否かのテストを行う際、一方の透明基板の共通テスト端
子に１本のプローブを接触させるとともに、他方の透明
基板の他方の半導体チップの出力側電極と接続されるす
べての透明電極に例えば１枚の導電性シートを接触さ
せ、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発
生している場合には、フィルタ不良が発生している部分
に対応する画素の色が所期の色と異なり、これによりゴ
ミが混入しているか否か、フィルタ不良が発生している
か否かのテストを行うことができ、したがって半導体チ
ップの出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装
置でテストを行うことができ、また半導体チップの出力
側電極のピッチの微小化を図ることもできる。
明によれば、一方の透明基板の複数本の透明電極の１本
おきにテスト端子を形成し、かつ他方の透明基板の複数
本の透明電極の１本おきにテスト端子を形成しているの
で、相隣接する透明電極間でショートが発生しているか
否かのテストを行う際、一方の透明基板のすべてのテス
ト端子に例えば１枚の導電性シートを接触させるととも
に、他方の透明基板のすべてのテスト端子に例えば１枚
の導電性シートを接触させ、この状態で行方向の画素を
１つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同時に点灯
させると、相隣接する透明電極間でショートが発生して
いる場合には、ショートが発生している部分に対応する
画素で本来点灯すべきでない画素が点灯し、これにより
相隣接する透明電極間でショートが発生しているか否か
のテストを行うことができ、したがって半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことができ、また半導体チップの出力側電極
のピッチの微小化を図ることもできる。請求項２記載の
発明によれば、一方の透明基板のテスト端子を当初共通
テスト端子に接続し、テスト後に切断し、かつ他方の透
明基板のテスト端子を当初共通テスト端子に接続し、テ
スト後に切断しているので、相隣接する透明電極間でシ
ョートが発生しているか否かのテストを行う際、一方の
透明基板の共通テスト端子に１本のプローブを接触させ
るとともに、他方の透明基板の共通テスト端子に１本の
プローブを接触させることにより、行方向の画素を１つ
おきにおよび列方向の画素を１つおきに同時に点灯させ
ることができ、したがって半導体チップの出力側電極の
ピッチに関係なく、安価なテスト装置でテストを行うこ
とができ、また半導体チップの出力側電極のピッチの微
小化を図ることもできる。請求項３記載の発明によれ
ば、一方の透明基板の透明電極の他端部を２本おきに延
長するとともにこの延長した部分を当初接続して共通テ
スト端子を形成し、テスト後に切断しているので、ゴミ
が混入しているか否か、フィルタ不良が発生しているか
否かのテストを行う際、一方の透明基板の共通テスト端
子に１本のプローブを接触させるとともに、他方の透明
基板の他方の半導体チップの出力側電極と接続されるす
べての透明電極に例えば１枚の導電性シートを接触さ
せ、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発
生している場合には、フィルタ不良が発生している部分
に対応する画素の色が所期の色と異なり、これによりゴ
ミが混入しているか否か、フィルタ不良が発生している
か否かのテストを行うことができ、したがって半導体チ
ップの出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装
置でテストを行うことができ、また半導体チップの出力
側電極のピッチの微小化を図ることもできる。
【図１】この発明の一実施例における液晶表示装置の要
部の平面図。
部の平面図。
【図２】この発明の他の実施例における液晶表示装置の
要部の平面図。
要部の平面図。
【図３】この他の実施例の液晶表示装置の一部の平面
図。
図。
【図４】従来の液晶表示装置の一例の平面図。
【図５】この従来の液晶表示装置の一部の平面図。
【図６】図４のＡ−Ａ線に沿う断面図。
１ 液晶表示パネル ２〜４ 半導体チップ １１、１２ 透明基板 １３、１６ 透明電極 ２１ 出力側電極 ３１、４１、４３ テスト端子 ４２、４４ 共通テスト端子
Claims (3)
- 【請求項１】 相対向する面にそれぞれ複数本の透明電
極が設けられた一対の透明基板の一方の透明基板の一端
部が他方の透明基板の外側に突出され、この突出された
前記一方の透明基板の一端部に一方の半導体チップがそ
の出力側電極を前記一方の透明基板の透明電極の一端部
と接続されて搭載され、かつ前記他方の透明基板の一端
部が前記一方の透明基板の外側に突出され、この突出さ
れた前記他方の透明基板の一端部に他方の半導体チップ
がその出力側電極を前記他方の透明基板の透明電極の一
端部と接続されて搭載された液晶表示装置において、 前記一方の透明基板の透明電極の一端部を１本おきに前
記一方の半導体チップの出力側電極の内側に延長し、こ
の延長した部分によってテスト端子を形成し、かつ前記
他方の透明基板の透明電極の一端部を１本おきに前記他
方の半導体チップの出力側電極の内側に延長し、この延
長した部分によってテスト端子を形成したことを特徴と
する基板の電極構造。 - 【請求項２】 前記一方の透明基板のテスト端子は当初
前記一方の半導体チップの出力側電極の内側に設けられ
た共通テスト端子に接続され、テスト後に切断され、か
つ前記他方の透明基板のテスト端子は当初前記他方の半
導体チップの出力側電極の内側に設けられた共通テスト
端子に接続され、テスト後に切断されたことを特徴とす
る請求項１記載の基板の電極構造。 - 【請求項３】 前記一方の透明基板の透明電極の他端部
を２本おきに延長するとともにこの延長した部分を当初
接続して共通テスト端子を形成し、テスト後に切断した
ことを特徴とする請求項１または２記載の基板の電極構
造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7173879A JP3031527B2 (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7173879A JP3031527B2 (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 液晶表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0850297A true JPH0850297A (ja) | 1996-02-20 |
| JP3031527B2 JP3031527B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=15968820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7173879A Expired - Lifetime JP3031527B2 (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3031527B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19990038116A (ko) * | 1997-11-03 | 1999-06-05 | 윤종용 | Ｌｃｄ 디스플레이 제어 회로 |
| KR100429725B1 (ko) * | 2000-06-15 | 2004-05-04 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전기 광학 장치 및 전자기기 |
| WO2005034584A1 (en) * | 2003-10-03 | 2005-04-14 | Ifire Technology Corp. | Electrode arrangement for testing electroluminescent display |
| WO2006006365A1 (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 表示装置 |
| KR100634826B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-12-19 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의자동검사용패드 |
| KR100662989B1 (ko) * | 2004-08-20 | 2006-12-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 검사회로부를 구비하는 표시장치 |
-
1995
- 1995-06-19 JP JP7173879A patent/JP3031527B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19990038116A (ko) * | 1997-11-03 | 1999-06-05 | 윤종용 | Ｌｃｄ 디스플레이 제어 회로 |
| KR100634826B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-12-19 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의자동검사용패드 |
| KR100429725B1 (ko) * | 2000-06-15 | 2004-05-04 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전기 광학 장치 및 전자기기 |
| WO2005034584A1 (en) * | 2003-10-03 | 2005-04-14 | Ifire Technology Corp. | Electrode arrangement for testing electroluminescent display |
| US7497755B2 (en) | 2003-10-03 | 2009-03-03 | Ifire Ip Corporation | Apparatus for testing electroluminescent display |
| WO2006006365A1 (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 表示装置 |
| KR100662989B1 (ko) * | 2004-08-20 | 2006-12-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 검사회로부를 구비하는 표시장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3031527B2 (ja) | 2000-04-10 |
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