JPH095381A - 液晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＡＣＦを用いてＴＡＢを形成したＬＣＤにお
いて、ＴＡＢの簡便な不良検査を可能とする。 【構成】 基板（１０）側の入力端子（１４）群の配列
に隣接する検査用端子（２４）を配置するとともに、フ
レキシブルテープ（１６）側の導線（１７）群の配列に
隣接する検査用導線（２７）を配置する。ＴＡＢ形成後
に、両パッド（２５）（２８）間で導通を検査し、ショ
ートの場合は、フレキシブルテープ（１６）の伸びによ
る導線（１７）の位置ずれが大きく、接続不良が生じて
いると判定される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、液晶パネルとこれを駆
動するドライバーＬＳＩとを接続するＴＡＢ（tape aut
omated bonding）において、簡単な検査により不良の発
見ができるＴＡＢの構造とその検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ディスプレイ装置として、光学部材に液
晶を用いた液晶表示装置（ＬＣＤ：Liquid Crystal Dis
play）は小型、薄型、低消費電力などの利点があり、Ｏ
Ａ機器、ＡＶ機器などの分野で実用化が進んでいる。特
に、液晶駆動用の透明電極を交差配置して表示点をマト
リクス的に選択しながら電圧を印加するマトリクス型、
更には、液晶駆動用の各画素容量にスイッチ素子を接続
形成し、線順次に書き換え画素を選択しながら、信号電
圧を静電的に常時保持させていくアクティブマトリクス
型は、高精細、高コントラスト比の動画表示が可能とな
り、パーソナルコンピュータのディスプレイ、テレヴィ
ジョンなどに実用化されている。

【０００３】図３はＬＣＤの等価回路図である。（１）
は走査線用のゲートライン、（２）は信号線用のドレイ
ンラインであり、両ライン（１，２）の交差部にはスイ
ッチ素子である薄膜トランジスタ（ＴＦＴ：thin film
transistor）（３）が形成されている。（４）は液晶駆
動用の画素容量であり、それぞれＴＦＴ（３）に接続さ
れている。ゲートライン（１）とドレインライン（２）
は同一基板上に形成されており、それぞれドライバー
（５，６）により駆動される。画素容量（４）の一方を
成す表示電極がＴＦＴ（３）のソースに接続され、画素
容量（４）の他方を成す共通電極が液晶を挟んで対向配
置された別の基板上に形成されている。ゲートライン
（１）は線順次に選択的に高電圧が印加され同一行のＴ
ＦＴ（３）を一斉にＯＮし、これに同期して、ドレイン
ライン（２）より画像信号電圧が印加されて画素容量
（４）に保持される。

【０００４】図４は、このようなＬＣＤを上面から見た
全体図であり、図５はそのＡ−Ａ線に沿った断面図であ
る。ＴＦＴ（３）などが形成された基板（１０）と、共
通電極が形成された基板（１１）が貼り合わされ、これ
らの間隙には液晶（１２）が封入され、周縁でシール材
（１３）により密封され液晶パネルが構成されている。
基板（１０）の端部には、ゲートライン（１）やドレイ
ンライン（２）の入力端子（１４）が形成され、表面に
露出されている。ゲートあるいはドレインのドライバー
ＬＳＩ（１５）がポリイミドなどのフレキシブルテープ
（１６）にボンディング搭載され、Ｃｕ箔からなる導線
（１７）により入力端子（１４）、及び、制御回路が形
成されたプリント基板（１８）へ接続されている。導線
（１７）と端子（１４）の接続は、ＡＣＦ（anistropic
conductive film）（１９）、即ち、導電粒子を接着剤
中に分散した異方性導電膜により行っている。また。導
線（１７）とプリント基板（１８）上の配線は、半田
（２０）により接続している。このようなドライバーＬ
ＳＩ（１５）の装着方法をＴＡＢ（tape automatedbond
ing)という。

【０００５】図６は、従来のＴＡＢ接続部分の拡大平面
図である。基板（１０）の端部には基板（１１）が貼り
合わされてなる表示部からゲートラインあるいはドレイ
ンラインの配線（２１）が延在されてきており、それぞ
れのラインは各入力端子（１４）に接続されている。入
力端子（１４）の群が配列された端部には、ＡＣＦ（１
９）を挟んで、ドライバーＬＳＩ（１５）に接続された
導線（１７）の端部が配列形成されたフレキシブルテー
プ（１６）が固着されている。

【０００６】図７は、図６のＢ−Ｂ線に沿った断面図で
ある。ＡＣＦ（１９）は、例えばエポキシ樹脂の接着剤
（２２）中に、樹脂ボールに金メッキを施してなる導電
粒子（２３）を分散した厚さ２０μｍ程度の膜である。
基板（１０）上の入力端子（１４）とフレキシブルテー
プ（１６）上の導線（１７）の位置合わせを行い、加圧
加熱により、入力端子（１４）と導線（１７）の対向す
る部分において、導電粒子（２３）が互いに接触し合っ
て、入力端子（１４）と導線（１７）間で電気的接続が
形成される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】このような、ＡＣＦ
（１９）による接続は２段階に分けて形成されている。
即ち、まず、５０℃〜１００°の温度で、入力端子（１
４）と導線（１７）の位置合わせをしながら基板（１
０）とフレキシブルテープ（１６）を加圧することによ
り、仮圧着で固定しておき、続いて、１３０℃〜２００
°で加熱圧着することにより樹脂を硬化し、本圧着を行
っている。

【０００８】このため、仮圧着時に、位置合わせが成さ
れていても、本圧着の加熱時に、ポリイミドからなるフ
レキシブルテープ（１６）が伸びてしまい、入力端子
（１４）と導線（１７）の位置がずれる問題が生じてい
た。即ち、図８に示すように、フレキシブルテープ（１
６）が横方向に伸びると、これに伴って、導線（１７）
の位置もずれ動き、接続されるべき入力端子（１４）か
ら外れてしまう。このため、入力端子（１４）と導線
（１７）の接続不良や、互いに隣接する入力端子（１
４）と導線（１７）が誤接続されてしまうなどの問題と
なっていた。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明はこの課題を解決
するために成されたもので、液晶を駆動するための電極
配線が形成された一対の電極基板間に液晶が密封されて
なる液晶パネルに、駆動回路素子が搭載された第３の基
板を接着するとともに、前記電極基板の端部に形成され
前記電極配線に接続された入力端子と前記第３の基板上
に形成され前記駆動回路素子の出力端に接続された導線
を電気的に接続する、液晶パネルと駆動回路素子の接続
検査方法において、前記電極基板の端部には、前記入力
端子が配列された群に所定の距離を隔てて隣接する検査
用端子が形成され、前記第３の基板には、前記導線が配
列された群に所定の距離を隔てて隣接する検査用導線が
形成され、前記検査用端子と前記検査用導線との電気的
導通の有無により、前記入力端子と前記導線の接続の良
否を判定する構成である。

【００１０】また特に、前記検査用端子と前記検査用導
線の電気的導通が有ることにより、前記入力端子と前記
導線の接続不良が決定される構成である。

【００１１】

【作用】本発明の構成で、本発明で、液晶パネル基板と
第３の基板上に、それぞれ、駆動用端子と駆動用導線が
配列された群に並んで検査用の端子と検査用の導線を形
成しておき、両基板を固着した後に、これら検査用端子
と検査用導線の接続を調べるのみで、簡単に駆動用の端
子と導線の接続の良否が判定されるため、良品はそのま
ま次工程へ移り、不良品は前工程へ戻すことにより第１
の基板と第３の基板の固着工程をやり直すことができ
る。このように、両基板の接続状況を簡単に検査できる
ため、次工程への移行、あるいは不良の発見、前工程へ
の返送の作業が、いずれも迅速に行われため、製造コス
トが下がり、経済効率が向上する。

【００１２】

【実施例】図１は、本発明の実施例にかかるＴＡＢ形成
部分の拡大平面図である。基板（１０）上で、ＴＦＴあ
るいは液晶駆動用の表示電極が形成された表示部より、
ゲートラインあるいはドレインラインの配線（２１）が
延在されてきており、各ラインは、それぞれ入力端子
（１４）に接続またはこれに一体で形成されている。こ
れら入力端子（１４）が配列された群に連続してダミー
端子（２６）が形成され、更に、同じピッチで検査用端
子（２４）が配置形成されている。検査用端子（２４）
は、検査用パッド（２５）と一体に形成されている。

【００１３】一方、ポリイミドからなるフレキシブルテ
ープ（１６）上には、駆動用ＬＳＩ（１５）に接続する
導線（１７）が形成され、基板（１０）上の各配線（２
１）に相対応するように配置されている。また、この導
線（１７）が配列された群に連続して検査用導線（２
７）が配置形成され、検査用パッド（２８）がこれに一
体で形成されている。

【００１４】これら、両基板（１０，１６）は、導線
（１７）の端部が配列された帯域が、ＡＣＦ（１９）を
挟んで、入力端子（１４）が配列された帯域に重なるよ
うに加圧加熱され、ＡＣＦ（１９）中の、入力端子（１
４）と導線（１７）が対向する部分で、ＡＣＦを構成す
るエポキシ樹脂中の導電粒子が互いに接触されて電気的
接続が形成されている。

【００１５】この加熱時に、ポリイミドからなるフレキ
シブルテープ（１６）が伸びてしまい、初めに位置合わ
せを行ったにもかかわらず、フレキシブルテープ（１
６）の伸びにつれて導線（１７）の端部の位置がずれ
る。即ち、図２に示すように、仮圧着の低温の第１加熱
時に、入力端子（１４）と導線（１７）の位置合わせが
成されていても、本圧着の高温の第２加熱時に、導線
（１７）の位置がずれ動いていまい、例えば、導線（１
７）が、本来接続されるはずの入力端子（１４）から外
れてしまうのみならず、隣接する入力端子（１４）に誤
接続されてしまい、その配線（２１）に対して誤った信
号が印加される問題が生じる。

【００１６】本発明では、ＴＡＢ形成後に、検査用パッ
ド（２５）（２８）間で、オープン・ショート検査を行
うことで、入力端子（１４）と導線（１７）の接続を査
定することができる。即ち、フレキシブルテープ（１
６）が伸びて、導線（１７）とともに検査用導線（２
７）の位置がずれて、検査用端子（２４）にまで達する
と両パッド（２５，２８）間で電流が導通となる。この
ため、入力端子（１４）と導線（１７）の線幅、及びそ
のピッチから、検査用端子（２４）の位置を最適に設定
することにより、誤接続を判定することができる。即
ち、本実施例では、入力端子（１４）、ダミー端子（２
６）及び検査用端子（２５）を同ピッチで配列するとと
もに、導線（１７）と検査用導線（２７）も同じピッチ
で配列することにより、元の位置から最も大きくずれ動
く検査用導線（２７）が、本来接続されるべきダミー端
子（２６）から外れて隣接する検査用端子（２４）に達
するずれの大きさを良否の判定基準としている。

【００１７】このような入力端子（１４）と導線（１
７）の誤接続の問題は、パネル自身に欠陥が無い限り電
圧は印加されるため、通常のオープン・ショート検査の
みでは発見されず、精細な動画表示を行って初めて認識
されるものである。従って、重大な欠陥であるため、検
査を簡略化することができず、検査の作業効率が悪かっ
た。

【００１８】本発明は、このような入力端子（１４）と
導線（１７）の誤接続を、単に、検査パッド（２５）
（２８）間での導通を調べるのみの簡易な検査法で発見
できるため、作業効率が高い。なお、本発明の主旨は、
上に挙げた実施例に限定されることはなく、入力端子
（１４）及び導線（１７）の線幅とピッチによっては、
即ち、線幅が線間よりも小さいような場合は、ダミー端
子（２６）と検査用端子（２４）を同一とすることによ
り、両パッド（２５）（２８）間のオープンにより接続
不良を決定することも可能である。

【００１９】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
で、液晶パネル側とＴＡＢ側にそれぞれ所定の検査用パ
ッドを設けることにより、ＴＡＢ形成後に、両パッド間
の導通を調べるだけの簡易な検査で、接続不良が発見さ
れる。このため、良否の判定後、良品は次工程へ、不良
品は前工程へと速やかに移行できるため、作業性が向上
される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例にかかるＴＡＢ接続部分の拡大
断面図である。

【図２】本発明の実施例にかかるＴＡＢ接続の検査方法
を示す拡大平面図である。

【図３】液晶表示装置の等価回路図である。

【図４】液晶表示装置の全体上面図である。

【図５】図４のＡ−Ａ線に沿った断面図である。

【図６】従来のＴＡＢ接続部分の拡大図である。

【図７】図６のＢ−Ｂ線に沿った断面図である。

【図８】従来のＴＡＢ接続方法の問題点を示す拡大平面
図である。

【符号の説明】

１ ゲートライン ２ ドレインライン ３ ＴＦＴ ４ 画素容量 ５ ゲートドライバー ６ ドレインドライバー １０，１１ 基板 １２ 液晶 １３ シール材 １４ 入力端子 １５ ドライバーＬＳＩ １６ フレキシブルテープ １７ 導線 １８ プリント基板 １９ ＡＣＦ ２０ 半田 ２１ 配線 ２２ 接着剤 ２３ 導電粒子 ２４ 検査用端子 ２５，２８ 検査用パッド ２６ ダミー端子 ２７ 検査用導線

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 液晶を駆動するための電極配線が形成さ
   れた一対の電極基板間に液晶が密封されてなる液晶パネ
   ルに、駆動回路素子が搭載された第３の基板を接着する
   とともに、前記電極基板の端部に形成され前記電極配線
   に接続された入力端子と前記第３の基板上に形成され前
   記駆動回路素子の出力端に接続された導線を電気的に接
   続する、液晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法にお
   いて、 前記電極基板の端部には、前記入力端子が配列された群
   に所定の距離を隔てて隣接する検査用端子が形成され、
   前記第３の基板には、前記導線が配列された群に所定の
   距離を隔てて隣接する検査用導線が形成され、前記検査
   用端子と前記検査用導線との電気的導通の有無により、
   前記入力端子と前記導線の接続の良否を判定することを
   特徴とする液晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法。
2. 【請求項２】 前記検査用端子と前記検査用導線の電気
   的導通が有ることにより、前記入力端子と前記導線の接
   続不良が決定されることを特徴とする請求項１記載の液
   晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法。