JPH05323357A - 基板の電極構造 - Google Patents
基板の電極構造Info
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- JPH05323357A JPH05323357A JP14794292A JP14794292A JPH05323357A JP H05323357 A JPH05323357 A JP H05323357A JP 14794292 A JP14794292 A JP 14794292A JP 14794292 A JP14794292 A JP 14794292A JP H05323357 A JPH05323357 A JP H05323357A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶表示パネルに半導体チップをその出力側
電極を透明電極の一端部に接続して搭載した液晶表示装
置において、半導体チップの出力側電極のピッチに関係
なく、安価なテスト装置でテストを行う。 【構成】 一方の透明基板１２の透明電極１３を３本ご
とにそれぞれ異なる長さで延長してテスト端子３１〜３
３を形成し、かつ他方の透明基板１１の透明電極を２本
ごとに異なる長さで延長してテスト端子４１、４２を形
成する。そして、一方の透明基板１２のテスト端子３１
〜３３に対する１枚の導電性シートの接触のさせ方、他
方の透明基板１１のテスト端子４１、４２に対する１枚
の導電性シートの接触のさせ方を適宜組み合わせること
により、相隣接する透明電極間でショートが発生してい
るか否かのテスト、ゴミが混入しているか否か、カラー
フィルタ不良が発生しているか否かのテスト、および透
明電極が断線しているか否かのテストを行う。
電極を透明電極の一端部に接続して搭載した液晶表示装
置において、半導体チップの出力側電極のピッチに関係
なく、安価なテスト装置でテストを行う。 【構成】 一方の透明基板１２の透明電極１３を３本ご
とにそれぞれ異なる長さで延長してテスト端子３１〜３
３を形成し、かつ他方の透明基板１１の透明電極を２本
ごとに異なる長さで延長してテスト端子４１、４２を形
成する。そして、一方の透明基板１２のテスト端子３１
〜３３に対する１枚の導電性シートの接触のさせ方、他
方の透明基板１１のテスト端子４１、４２に対する１枚
の導電性シートの接触のさせ方を適宜組み合わせること
により、相隣接する透明電極間でショートが発生してい
るか否かのテスト、ゴミが混入しているか否か、カラー
フィルタ不良が発生しているか否かのテスト、および透
明電極が断線しているか否かのテストを行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は液晶表示装置における
基板の電極構造に関する。
基板の電極構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置には、液晶表示パネルを駆
動するための駆動回路用半導体チップを液晶表示パネル
に搭載したものがある。図２および図３は従来のこのよ
うな液晶表示装置の一例を示したものである。この液晶
表示装置では、液晶表示パネル１の表面側に２つの半導
体チップ２、３が裏面側に１つの半導体チップ４がそれ
ぞれ搭載されている。このうち液晶表示パネル１は、ガ
ラス等からなる上下の透明基板１１、１２の間に液晶が
封入され、下側の透明基板１２の一端部が上側の透明基
板１１の外側に突出され、この突出された下側の透明基
板１２の一端部の上面に複数本の透明電極１３が２組に
分けられて設けられているとともに、各組の透明電極１
３に対応して各複数本の接続用配線１４、１５が並列的
に設けられ、かつ上側の透明基板１１の一端部が下側の
透明基板１２の外側に突出され、この突出された上側の
透明基板１１の一端部の下面に複数本の透明電極１６が
設けられているとともに、この複数本の透明電極１６に
対応して複数本の接続用配線１７が設けられた構造とな
っている。所定の２つの半導体チップ２、３は下側の透
明基板１２の一端部の上面に並列的に搭載され、残りの
１つの半導体チップ４は上側の透明基板１１の一端部の
下面に搭載されている。この場合、例えば図４に示すよ
うに、下側の透明基板１２の一端部上面と半導体チップ
２の下面との間に異方導電性接着剤層１８が介在され、
異方導電性接着剤層１８中の絶縁性接着剤１９によって
半導体チップ２の下面が下側の透明基板１２の一端部上
面に接着されているとともに、異方導電性接着剤層１８
中の導電性粒子２０により、半導体チップ２の下面周囲
に設けられた複数の出力側電極（バンプ）２１および複
数の入力側電極（バンプ）２２が透明電極１３および接
続用配線１４とそれぞれ電気的に接続されている。接続
用配線１４、１５、１７は、図示していないが、フレキ
シブル配線基板を介して、半導体チップ２、３、４を制
御するための制御回路用回路基板と電気的に接続されて
いる。
動するための駆動回路用半導体チップを液晶表示パネル
に搭載したものがある。図２および図３は従来のこのよ
うな液晶表示装置の一例を示したものである。この液晶
表示装置では、液晶表示パネル１の表面側に２つの半導
体チップ２、３が裏面側に１つの半導体チップ４がそれ
ぞれ搭載されている。このうち液晶表示パネル１は、ガ
ラス等からなる上下の透明基板１１、１２の間に液晶が
封入され、下側の透明基板１２の一端部が上側の透明基
板１１の外側に突出され、この突出された下側の透明基
板１２の一端部の上面に複数本の透明電極１３が２組に
分けられて設けられているとともに、各組の透明電極１
３に対応して各複数本の接続用配線１４、１５が並列的
に設けられ、かつ上側の透明基板１１の一端部が下側の
透明基板１２の外側に突出され、この突出された上側の
透明基板１１の一端部の下面に複数本の透明電極１６が
設けられているとともに、この複数本の透明電極１６に
対応して複数本の接続用配線１７が設けられた構造とな
っている。所定の２つの半導体チップ２、３は下側の透
明基板１２の一端部の上面に並列的に搭載され、残りの
１つの半導体チップ４は上側の透明基板１１の一端部の
下面に搭載されている。この場合、例えば図４に示すよ
うに、下側の透明基板１２の一端部上面と半導体チップ
２の下面との間に異方導電性接着剤層１８が介在され、
異方導電性接着剤層１８中の絶縁性接着剤１９によって
半導体チップ２の下面が下側の透明基板１２の一端部上
面に接着されているとともに、異方導電性接着剤層１８
中の導電性粒子２０により、半導体チップ２の下面周囲
に設けられた複数の出力側電極（バンプ）２１および複
数の入力側電極（バンプ）２２が透明電極１３および接
続用配線１４とそれぞれ電気的に接続されている。接続
用配線１４、１５、１７は、図示していないが、フレキ
シブル配線基板を介して、半導体チップ２、３、４を制
御するための制御回路用回路基板と電気的に接続されて
いる。
【０００３】ところで、このような液晶表示装置では、
上下の透明基板１１、１２の相対向する面に設けられた
透明電極１６、１３の幅およびピッチが共に例えば１０
０μ以下とかなり小さい場合、相隣接する透明電極間で
ショートするおそれがあり、また上下の透明基板１１、
１２間にゴミが混入するおそれがあり、さらに微細なカ
ラーフィルタによるカラー表示の場合、印刷不良等によ
るカラーフィルタ不良が発生するおそれがあり、品質低
下の一要因となっている。
上下の透明基板１１、１２の相対向する面に設けられた
透明電極１６、１３の幅およびピッチが共に例えば１０
０μ以下とかなり小さい場合、相隣接する透明電極間で
ショートするおそれがあり、また上下の透明基板１１、
１２間にゴミが混入するおそれがあり、さらに微細なカ
ラーフィルタによるカラー表示の場合、印刷不良等によ
るカラーフィルタ不良が発生するおそれがあり、品質低
下の一要因となっている。
【０００４】そこで、従来では、相隣接する透明電極間
でショートが発生しているか否か、ゴミが混入している
か否か、カラーフィルタ不良が発生しているか否かのテ
ストを行っている。この場合、例えば半導体チップ２の
下面周囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する
複数本のプローブを備えたプローバを３つ用意し、半導
体チップ２、３、４を搭載する前に、２つのプローバの
各プローブを上側の透明基板１２の左側および右側の各
複数本の透明電極１３にそれぞれ接触させるとともに、
残りの１つのプローバの各プローブを下側の透明基板１
１の複数本の透明電極１６に接触させ、この状態で各種
のテストを行っている。すなわち、画素を１行または１
列ずつ順次点灯させると、相隣接する透明電極間でショ
ートが発生している場合には、ショートが発生している
部分に対応する２行または２列の画素が同時に点灯する
ことになる。一方、すべての画素を同時に点灯させる
と、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入している
部分に対応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発生し
ている場合には、フィルタ不良が発生している部分に対
応する画素の色が所期の色と異なることになる。
でショートが発生しているか否か、ゴミが混入している
か否か、カラーフィルタ不良が発生しているか否かのテ
ストを行っている。この場合、例えば半導体チップ２の
下面周囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する
複数本のプローブを備えたプローバを３つ用意し、半導
体チップ２、３、４を搭載する前に、２つのプローバの
各プローブを上側の透明基板１２の左側および右側の各
複数本の透明電極１３にそれぞれ接触させるとともに、
残りの１つのプローバの各プローブを下側の透明基板１
１の複数本の透明電極１６に接触させ、この状態で各種
のテストを行っている。すなわち、画素を１行または１
列ずつ順次点灯させると、相隣接する透明電極間でショ
ートが発生している場合には、ショートが発生している
部分に対応する２行または２列の画素が同時に点灯する
ことになる。一方、すべての画素を同時に点灯させる
と、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入している
部分に対応する画素に影が生じ、フィルタ不良が発生し
ている場合には、フィルタ不良が発生している部分に対
応する画素の色が所期の色と異なることになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
このようなテスト方法では、例えば半導体チップ２の下
面周囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する複
数本のプローブを備えたプローバを必要とするので、プ
ローブのピッチが出力側電極２１のピッチと同じでかな
り小さくなり、このためプローバがかなり高価となり、
しかもプローブのピッチの微小化に制約を受けることか
ら、出力側電極２１のピッチの微小化に制約を受けると
いう問題があった。この発明の目的は、半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことのできる基板の電極構造を提供すること
にある。
このようなテスト方法では、例えば半導体チップ２の下
面周囲に設けられた複数の出力側電極２１に対応する複
数本のプローブを備えたプローバを必要とするので、プ
ローブのピッチが出力側電極２１のピッチと同じでかな
り小さくなり、このためプローバがかなり高価となり、
しかもプローブのピッチの微小化に制約を受けることか
ら、出力側電極２１のピッチの微小化に制約を受けると
いう問題があった。この発明の目的は、半導体チップの
出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置でテ
ストを行うことのできる基板の電極構造を提供すること
にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、相対向する
面にそれぞれ複数本の透明電極が設けられた一対の透明
基板の一方の透明基板の一端部が他方の透明基板の外側
に突出され、この突出された前記一方の透明基板の一端
部に一方の半導体チップがその出力側電極を前記一方の
透明基板の透明電極の一端部と接続されて搭載され、か
つ前記他方の透明基板の一端部が前記一方の透明基板の
外側に突出され、この突出された前記他方の透明基板の
一端部に他方の半導体チップがその出力側電極を前記他
方の透明基板の透明電極の一端部と接続されて搭載され
る液晶表示装置において、前記一方の透明基板の透明電
極の一端部を３本ごとにそれぞれ異なる長さで前記一方
の半導体チップの搭載位置の内側に延長し、この延長し
た部分によってテスト端子を形成し、かつ前記他方の透
明基板の透明電極の一端部を２本ごとに異なる長さで前
記他方の半導体チップの搭載位置の内側に延長し、この
延長した部分によってテスト端子を形成したものであ
る。
面にそれぞれ複数本の透明電極が設けられた一対の透明
基板の一方の透明基板の一端部が他方の透明基板の外側
に突出され、この突出された前記一方の透明基板の一端
部に一方の半導体チップがその出力側電極を前記一方の
透明基板の透明電極の一端部と接続されて搭載され、か
つ前記他方の透明基板の一端部が前記一方の透明基板の
外側に突出され、この突出された前記他方の透明基板の
一端部に他方の半導体チップがその出力側電極を前記他
方の透明基板の透明電極の一端部と接続されて搭載され
る液晶表示装置において、前記一方の透明基板の透明電
極の一端部を３本ごとにそれぞれ異なる長さで前記一方
の半導体チップの搭載位置の内側に延長し、この延長し
た部分によってテスト端子を形成し、かつ前記他方の透
明基板の透明電極の一端部を２本ごとに異なる長さで前
記他方の半導体チップの搭載位置の内側に延長し、この
延長した部分によってテスト端子を形成したものであ
る。
【０００７】
【作用】この発明の手段の作用は次の通りである。相隣
接する透明電極間でショートが発生しているか否かのテ
ストを行う際には、まず、一方の透明基板のテスト端子
のうち１番長く突出したテスト端子のみに例えば１枚の
導電性シートを接触させるとともに、他方の透明基板の
テスト端子のうち長く突出したテスト端子のみに同じく
１枚の導電性シートを接触させ、この状態で行方向の画
素を２つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同時に
点灯させると、相隣接する透明電極間でショートが発生
している場合には、ショートが発生している部分に対応
する画素で本来点灯すべきでない画素が点灯し、これに
より１番長いテスト端子に隣接する透明電極間でショー
トが発生しているか否かのテストを行い、次に他方の透
明基板の導電性シートをそのままにして、一方の透明基
板の導電性シートをずらして１番長く突出したテスト端
子と２番目に長く突出したテスト端子のみに接触させ、
この状態で行方向の画素を２つずつ１つおきにおよび列
方向の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接す
る透明電極間でショートが発生している場合には、ショ
ートが発生している部分に対応する画素で本来点灯すべ
きでない画素が点灯し、これにより１番長いテスト端子
と２番目に長いテスト端子とに隣接する透明電極間でシ
ョートが発生しているか否かのテストを行い、これによ
り相隣接する透明電極間でショートが発生しているか否
かのテストを行うことができる。また、ゴミが混入して
いるか否か、カラーフィルタ不良が発生しているか否か
のテストを行う際には、一方の透明基板のテスト端子の
うち１番長く突出したテスト端子のみに例えば１枚の導
電性シートを接触させるとともに、他方の透明基板のす
べてのテスト端子に同じく１枚の導電性シートを接触さ
せ、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、カラーフィルタ不
良が発生している場合には、カラーフィルタ不良が発生
している部分に対応する画素の色が所期の色と異なり、
これによりゴミが混入しているか否か、カラーフィルタ
不良が発生しているか否かのテストを行うことができ
る。さらに、透明電極が断線しているか否かのテストを
行う際には、一方の透明基板のすべてのテスト端子に例
えば１枚の導電性シートを接触させるとともに、他方の
透明基板のすべてのテスト端子に同じく１枚の導電性シ
ートを接触させ、この状態で列方向のすべての画素およ
び行方向のすべての画素を同じに点灯させると、いずれ
かの透明電極が断線している場合には、断線している透
明電極の部分と対応する画素が点灯せず、これにより透
明電極が断線しているか否かのテストを行うことができ
る。
接する透明電極間でショートが発生しているか否かのテ
ストを行う際には、まず、一方の透明基板のテスト端子
のうち１番長く突出したテスト端子のみに例えば１枚の
導電性シートを接触させるとともに、他方の透明基板の
テスト端子のうち長く突出したテスト端子のみに同じく
１枚の導電性シートを接触させ、この状態で行方向の画
素を２つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同時に
点灯させると、相隣接する透明電極間でショートが発生
している場合には、ショートが発生している部分に対応
する画素で本来点灯すべきでない画素が点灯し、これに
より１番長いテスト端子に隣接する透明電極間でショー
トが発生しているか否かのテストを行い、次に他方の透
明基板の導電性シートをそのままにして、一方の透明基
板の導電性シートをずらして１番長く突出したテスト端
子と２番目に長く突出したテスト端子のみに接触させ、
この状態で行方向の画素を２つずつ１つおきにおよび列
方向の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接す
る透明電極間でショートが発生している場合には、ショ
ートが発生している部分に対応する画素で本来点灯すべ
きでない画素が点灯し、これにより１番長いテスト端子
と２番目に長いテスト端子とに隣接する透明電極間でシ
ョートが発生しているか否かのテストを行い、これによ
り相隣接する透明電極間でショートが発生しているか否
かのテストを行うことができる。また、ゴミが混入して
いるか否か、カラーフィルタ不良が発生しているか否か
のテストを行う際には、一方の透明基板のテスト端子の
うち１番長く突出したテスト端子のみに例えば１枚の導
電性シートを接触させるとともに、他方の透明基板のす
べてのテスト端子に同じく１枚の導電性シートを接触さ
せ、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、カラーフィルタ不
良が発生している場合には、カラーフィルタ不良が発生
している部分に対応する画素の色が所期の色と異なり、
これによりゴミが混入しているか否か、カラーフィルタ
不良が発生しているか否かのテストを行うことができ
る。さらに、透明電極が断線しているか否かのテストを
行う際には、一方の透明基板のすべてのテスト端子に例
えば１枚の導電性シートを接触させるとともに、他方の
透明基板のすべてのテスト端子に同じく１枚の導電性シ
ートを接触させ、この状態で列方向のすべての画素およ
び行方向のすべての画素を同じに点灯させると、いずれ
かの透明電極が断線している場合には、断線している透
明電極の部分と対応する画素が点灯せず、これにより透
明電極が断線しているか否かのテストを行うことができ
る。
【０００８】
【実施例】以下、図１を参照して、この発明の一実施例
を説明する。なお、図２および図３と同一部分には同一
の符号を付し、その説明を適宜省略する。図１（Ａ）お
よび図１（Ｂ）は液晶表示装置の要部を示したものであ
る。この液晶表示装置では、例えば図３における左側の
半導体チップ２に対応する下側の透明基板１２の透明電
極１３の半導体チップ２と接続される方の端部が図１
（Ａ）に示すように３本ごとにそれぞれ異なる長さで半
導体チップ２の出力側電極の内側に延長され、この延長
された部分によってテスト端子３１、３２、３３が形成
されている。すなわち、１番長く延長された端子がテス
ト端子３１であり、２番目に長く延長された端子がテス
ト端子３２であり、最も短い端子がテスト端子３３であ
る。また、図示していないが、例えば図３における右側
の半導体チップ３に対応する下側の透明基板１２の透明
電極１３の半導体チップ３と接続される方の端部も、３
本ごとにそれぞれ異なる長さで半導体チップ３の出力側
電極の内側に延長され、この延長された部分によって上
述と同じテスト端子が形成されている。さらに、上側の
透明基板１１の透明電極の例えば図３における半導体チ
ップ４と接続される方の端部は、図１（Ｂ）に示すよう
に２本ごとに異なる長さで半導体チップ４の出力側電極
の内側に延長され、この延長された部分によってテスト
端子４１、４２が形成されている。すなわち、長い端子
がテスト端子４１であり、短い端子がテス端子４２であ
る。
を説明する。なお、図２および図３と同一部分には同一
の符号を付し、その説明を適宜省略する。図１（Ａ）お
よび図１（Ｂ）は液晶表示装置の要部を示したものであ
る。この液晶表示装置では、例えば図３における左側の
半導体チップ２に対応する下側の透明基板１２の透明電
極１３の半導体チップ２と接続される方の端部が図１
（Ａ）に示すように３本ごとにそれぞれ異なる長さで半
導体チップ２の出力側電極の内側に延長され、この延長
された部分によってテスト端子３１、３２、３３が形成
されている。すなわち、１番長く延長された端子がテス
ト端子３１であり、２番目に長く延長された端子がテス
ト端子３２であり、最も短い端子がテスト端子３３であ
る。また、図示していないが、例えば図３における右側
の半導体チップ３に対応する下側の透明基板１２の透明
電極１３の半導体チップ３と接続される方の端部も、３
本ごとにそれぞれ異なる長さで半導体チップ３の出力側
電極の内側に延長され、この延長された部分によって上
述と同じテスト端子が形成されている。さらに、上側の
透明基板１１の透明電極の例えば図３における半導体チ
ップ４と接続される方の端部は、図１（Ｂ）に示すよう
に２本ごとに異なる長さで半導体チップ４の出力側電極
の内側に延長され、この延長された部分によってテスト
端子４１、４２が形成されている。すなわち、長い端子
がテスト端子４１であり、短い端子がテス端子４２であ
る。
【０００９】この液晶表示装置で、半導体チップ２、
３、４を搭載する前に、相隣接する透明電極間でショー
トが発生しているか否かのテストを行う場合には、ま
ず、１番長いテスト端子３１に隣接する透明電極間でシ
ョートが発生しているか否かのテストを行い、次に１番
長いテスト端子３１と２番目に長いテスト端子３２とに
隣接する透明電極間でショートが発生しているか否かの
テストを行うことになる。まず、１番長いテスト端子３
１に隣接する透明電極間でショートが発生しているか否
かのテストを行う場合には、半導体チップ２に対応する
下側の透明基板１２のテスト端子３１、３２、３３のう
ち１番長いテスト端子３１のすべてに例えば１枚の導電
性シートあるいは導電板を接触させ、また半導体チップ
３に対応する下側の透明基板１２のテスト端子のうち１
番長いテスト端子のすべてに同じく１枚の導電性シート
あるいは導電板を接触させ、さらに半導体チップ４に対
応する上側の透明基板１１のテスト端子４１、４２のう
ち長いテスト端子４１に同じく１枚の導電性シートある
いは導電板を接触させる。そして、この状態で行方向の
画素を２つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同時
に点灯させると、相隣接する透明電極間でショートが発
生している場合には、ショートが発生している部分に対
応する画素で本来点灯すべきでない画素が点灯し、これ
により１番長いテスト端子３１に隣接する透明電極間で
ショートが発生しているか否かのテストを行うことがで
きる。次に、１番長いテスト端子３１と２番目に長いテ
スト端子３２とに隣接する透明電極間でショートが発生
しているか否かのテストを行う場合には、半導体チップ
２に対応する下側の透明基板１２のテスト端子３１、３
２、３３のうち１番長いテスト端子３１と２番目に長い
テスト端子３２のすべてに例えば１枚の導電性シートあ
るいは導電板を接触させ、また半導体チップ３に対応す
る下側の透明基板１２のテスト端子のうち１番長いテス
ト端子と２番目に長いテスト端子のすべてに同じく１枚
の導電性シートあるいは導電板を接触させ、さらに半導
体チップ４に対応する上側の透明基板１１のテスト端子
４１、４２のうち長いテスト端子４１に同じく１枚の導
電性シートあるいは導電板を接触させる。そして、この
状態で行方向の画素を２つずつ１つおきにおよび列方向
の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接する透
明電極間でショートが発生している場合には、ショート
が発生している部分に対応する画素で本来点灯すべきで
ない画素が点灯し、これにより１番長いテスト端子３１
と２番目に長いテスト端子３２とに隣接する透明電極間
でショートが発生しているか否かのテストを行うことが
できる。したがって、半導体チップの出力側電極のピッ
チに関係なく、安価なテスト装置で相隣接する透明電極
間でショートが発生しているか否かのテストを行うこと
ができ、また半導体チップの出力側電極のピッチの微小
化を図ることもできる。
３、４を搭載する前に、相隣接する透明電極間でショー
トが発生しているか否かのテストを行う場合には、ま
ず、１番長いテスト端子３１に隣接する透明電極間でシ
ョートが発生しているか否かのテストを行い、次に１番
長いテスト端子３１と２番目に長いテスト端子３２とに
隣接する透明電極間でショートが発生しているか否かの
テストを行うことになる。まず、１番長いテスト端子３
１に隣接する透明電極間でショートが発生しているか否
かのテストを行う場合には、半導体チップ２に対応する
下側の透明基板１２のテスト端子３１、３２、３３のう
ち１番長いテスト端子３１のすべてに例えば１枚の導電
性シートあるいは導電板を接触させ、また半導体チップ
３に対応する下側の透明基板１２のテスト端子のうち１
番長いテスト端子のすべてに同じく１枚の導電性シート
あるいは導電板を接触させ、さらに半導体チップ４に対
応する上側の透明基板１１のテスト端子４１、４２のう
ち長いテスト端子４１に同じく１枚の導電性シートある
いは導電板を接触させる。そして、この状態で行方向の
画素を２つおきにおよび列方向の画素を１つおきに同時
に点灯させると、相隣接する透明電極間でショートが発
生している場合には、ショートが発生している部分に対
応する画素で本来点灯すべきでない画素が点灯し、これ
により１番長いテスト端子３１に隣接する透明電極間で
ショートが発生しているか否かのテストを行うことがで
きる。次に、１番長いテスト端子３１と２番目に長いテ
スト端子３２とに隣接する透明電極間でショートが発生
しているか否かのテストを行う場合には、半導体チップ
２に対応する下側の透明基板１２のテスト端子３１、３
２、３３のうち１番長いテスト端子３１と２番目に長い
テスト端子３２のすべてに例えば１枚の導電性シートあ
るいは導電板を接触させ、また半導体チップ３に対応す
る下側の透明基板１２のテスト端子のうち１番長いテス
ト端子と２番目に長いテスト端子のすべてに同じく１枚
の導電性シートあるいは導電板を接触させ、さらに半導
体チップ４に対応する上側の透明基板１１のテスト端子
４１、４２のうち長いテスト端子４１に同じく１枚の導
電性シートあるいは導電板を接触させる。そして、この
状態で行方向の画素を２つずつ１つおきにおよび列方向
の画素を１つおきに同時に点灯させると、相隣接する透
明電極間でショートが発生している場合には、ショート
が発生している部分に対応する画素で本来点灯すべきで
ない画素が点灯し、これにより１番長いテスト端子３１
と２番目に長いテスト端子３２とに隣接する透明電極間
でショートが発生しているか否かのテストを行うことが
できる。したがって、半導体チップの出力側電極のピッ
チに関係なく、安価なテスト装置で相隣接する透明電極
間でショートが発生しているか否かのテストを行うこと
ができ、また半導体チップの出力側電極のピッチの微小
化を図ることもできる。
【００１０】また、この液晶表示装置で、半導体チップ
２、３、４を搭載する前に、ゴミが混入しているか否
か、カラーフィルタ不良が発生しているか否かのテスト
を行う場合には、半導体チップ２に対応する下側の透明
基板１２のテスト端子３１、３２、３３のうち１番長い
テスト端子３１のすべてに例えば１枚の導電性シートあ
るいは導電板を接触させ、また半導体チップ３に対応す
る下側の透明基板１２のテスト端子のうち１番長いテス
ト端子のすべてに同じく１枚の導電性シートあるいは導
電板を接触させ、さらに半導体チップ４に対応する上側
の透明基板１１のすべてのテスト端子４１、４２に同じ
く１枚の導電性シートあるいは導電板を接触させる。そ
して、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、カラーフィルタ不
良が発生している場合には、カラーフィルタ不良が発生
している部分に対応する画素の色が所期の色と異なり、
これによりゴミが混入しているか否か、カラーフィルタ
不良が発生しているか否かのテストを行うことができ
る。したがって、半導体チップの出力側電極のピッチに
関係なく、安価なテスト装置で、ゴミが混入しているか
否か、カラーフィルタ不良が発生しているか否かのテス
トを行うことができる。
２、３、４を搭載する前に、ゴミが混入しているか否
か、カラーフィルタ不良が発生しているか否かのテスト
を行う場合には、半導体チップ２に対応する下側の透明
基板１２のテスト端子３１、３２、３３のうち１番長い
テスト端子３１のすべてに例えば１枚の導電性シートあ
るいは導電板を接触させ、また半導体チップ３に対応す
る下側の透明基板１２のテスト端子のうち１番長いテス
ト端子のすべてに同じく１枚の導電性シートあるいは導
電板を接触させ、さらに半導体チップ４に対応する上側
の透明基板１１のすべてのテスト端子４１、４２に同じ
く１枚の導電性シートあるいは導電板を接触させる。そ
して、この状態で列方向の画素を２つおきに例えば赤、
緑、青の画素のうち青のみの画素をすべて同時に点灯さ
せると、ゴミが混入している場合には、ゴミが混入して
いる部分に対応する画素に影が生じ、カラーフィルタ不
良が発生している場合には、カラーフィルタ不良が発生
している部分に対応する画素の色が所期の色と異なり、
これによりゴミが混入しているか否か、カラーフィルタ
不良が発生しているか否かのテストを行うことができ
る。したがって、半導体チップの出力側電極のピッチに
関係なく、安価なテスト装置で、ゴミが混入しているか
否か、カラーフィルタ不良が発生しているか否かのテス
トを行うことができる。
【００１１】さらに、すべての透明電極が断線している
か否かのテストを行う場合には、半導体チップ２に対応
する下側の透明基板１２のすべてのテスト端子３１、３
２、３３に例えば１枚の導電性シートあるいは導電板を
接触させ、また半導体チップ３に対応する下側の透明基
板１２のすべてのテスト端子に同じく１枚の導電性シー
トあるいは導電板を接触させ、さらに半導体チップ４に
対応する上側の透明基板１１のすべてのテスト端子４
１、４２に同じく１枚の導電性シートあるいは導電板を
接触させる。そして、この状態で行方向のすべての画素
および列方向のすべての画素を同時に点灯させると、い
すれかの透明電極が断線している場合には、断線してい
る透明電極の部分に対応する画素で本来点灯すべき画素
が点灯せず、これにより透明電極が断線しているか否か
のテストを行うことができる。したがって、半導体チッ
プの出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置
で透明電極が断線しているか否かのテストを行うことが
できる。
か否かのテストを行う場合には、半導体チップ２に対応
する下側の透明基板１２のすべてのテスト端子３１、３
２、３３に例えば１枚の導電性シートあるいは導電板を
接触させ、また半導体チップ３に対応する下側の透明基
板１２のすべてのテスト端子に同じく１枚の導電性シー
トあるいは導電板を接触させ、さらに半導体チップ４に
対応する上側の透明基板１１のすべてのテスト端子４
１、４２に同じく１枚の導電性シートあるいは導電板を
接触させる。そして、この状態で行方向のすべての画素
および列方向のすべての画素を同時に点灯させると、い
すれかの透明電極が断線している場合には、断線してい
る透明電極の部分に対応する画素で本来点灯すべき画素
が点灯せず、これにより透明電極が断線しているか否か
のテストを行うことができる。したがって、半導体チッ
プの出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置
で透明電極が断線しているか否かのテストを行うことが
できる。
【００１２】なお、上記実施例では、下側の透明基板１
２の一端部の上面に２つの半導体チップ２、３を搭載
し、上側の透明基板１１の一端部の下面に１つの半導体
チップ４を搭載した場合について説明したが、これに限
定されるものではなく、例えば下側の透明基板１２の一
端部の上面に３つの半導体チップを搭載し、上側の透明
基板１１の一端部の下面に２つの半導体チップを搭載す
るようにしてもよいことはもちろんである。
２の一端部の上面に２つの半導体チップ２、３を搭載
し、上側の透明基板１１の一端部の下面に１つの半導体
チップ４を搭載した場合について説明したが、これに限
定されるものではなく、例えば下側の透明基板１２の一
端部の上面に３つの半導体チップを搭載し、上側の透明
基板１１の一端部の下面に２つの半導体チップを搭載す
るようにしてもよいことはもちろんである。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、一方の透明基板の複数本の透明電極を３本ごとにそ
れぞれ異なる長さで延長してテスト端子を形成し、かつ
他方の透明基板の複数本の透明電極を２本ごとに異なる
長さで延長してテスト端子を形成しているので、例えば
１枚の導電性シートを一方の透明基板のテスト端子のう
ちの１番長いテスト端子のすべて、あるいは１番長いテ
スト端子と２番目に長いテスト端子のすべて、もしくは
すべてのテスト端子のいぞれかに接触させるという一方
の透明基板のテスト端子に対する導電性シートの接触の
させ方、また１枚の導電性シートを他方の透明基板のテ
スト端子のうちの長いテスト端子のすべて、あるいはす
べてのテスト端子のいずれかに接触させるという他方の
透明基板のテスト端子に対する導電性シートの接触のさ
せ方を適宜組み合わせることにより、相隣接する透明電
極間でショートが発生しているか否かのテスト、ゴミが
混入しているか否か、カラーフィルタ不良が発生してい
るか否かのテスト、および透明電極が断線しているか否
かのテストを行うことができ、したがって半導体チップ
の出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置で
テストを行うことができ、また半導体チップの出力側電
極のピッチの微小化を図ることもできる。
ば、一方の透明基板の複数本の透明電極を３本ごとにそ
れぞれ異なる長さで延長してテスト端子を形成し、かつ
他方の透明基板の複数本の透明電極を２本ごとに異なる
長さで延長してテスト端子を形成しているので、例えば
１枚の導電性シートを一方の透明基板のテスト端子のう
ちの１番長いテスト端子のすべて、あるいは１番長いテ
スト端子と２番目に長いテスト端子のすべて、もしくは
すべてのテスト端子のいぞれかに接触させるという一方
の透明基板のテスト端子に対する導電性シートの接触の
させ方、また１枚の導電性シートを他方の透明基板のテ
スト端子のうちの長いテスト端子のすべて、あるいはす
べてのテスト端子のいずれかに接触させるという他方の
透明基板のテスト端子に対する導電性シートの接触のさ
せ方を適宜組み合わせることにより、相隣接する透明電
極間でショートが発生しているか否かのテスト、ゴミが
混入しているか否か、カラーフィルタ不良が発生してい
るか否かのテスト、および透明電極が断線しているか否
かのテストを行うことができ、したがって半導体チップ
の出力側電極のピッチに関係なく、安価なテスト装置で
テストを行うことができ、また半導体チップの出力側電
極のピッチの微小化を図ることもできる。
【図１】この発明の一実施例における液晶表示装置の要
部を示し、（Ａ）は一方の透明基板のテスト端子を示す
平面図、（Ｂ）は他方の透明基板のテスト端子を示す平
面図。
部を示し、（Ａ）は一方の透明基板のテスト端子を示す
平面図、（Ｂ）は他方の透明基板のテスト端子を示す平
面図。
【図２】従来の液晶表示装置の一例の平面図。
【図３】図２の液晶表示装置の要部を示す平面図。
【図４】図２のＡ−Ａ線に沿う断面図。
１ 液晶表示パネル ２〜４ 半導体チップ １１、１２ 透明基板 １３、１６ 透明電極 ２１ 出力側電極 ３１〜３３、４１、４２ テスト端子
Claims (1)
- 【請求項１】 相対向する面にそれぞれ複数本の透明電
極が設けられた一対の透明基板の一方の透明基板の一端
部が他方の透明基板の外側に突出され、この突出された
前記一方の透明基板の一端部に一方の半導体チップがそ
の出力側電極を前記一方の透明基板の透明電極の一端部
と接続されて搭載され、かつ前記他方の透明基板の一端
部が前記一方の透明基板の外側に突出され、この突出さ
れた前記他方の透明基板の一端部に他方の半導体チップ
がその出力側電極を前記他方の透明基板の透明電極の一
端部と接続されて搭載される液晶表示装置において、 前記一方の透明基板の透明電極の一端部を３本ごとにそ
れぞれ異なる長さで前記一方の半導体チップの搭載位置
の内側に延長し、この延長した部分によってテスト端子
を形成し、かつ前記他方の透明基板の透明電極の一端部
を２本ごとに異なる長さで前記他方の半導体チップの搭
載位置の内側に延長し、この延長した部分によってテス
ト端子を形成したことを特徴とする基板の電極構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14794292A JPH05323357A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | 基板の電極構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14794292A JPH05323357A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | 基板の電極構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05323357A true JPH05323357A (ja) | 1993-12-07 |
Family
ID=15441553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14794292A Pending JPH05323357A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | 基板の電極構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05323357A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0762137A2 (en) * | 1995-09-07 | 1997-03-12 | Seiko Instruments Inc. | Liquid crystal display and testing method thereof |
| KR100350532B1 (ko) * | 1999-03-24 | 2002-08-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 액정표시장치의 통전 시험방법 |
| KR100634826B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-12-19 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의자동검사용패드 |
| KR100662989B1 (ko) * | 2004-08-20 | 2006-12-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 검사회로부를 구비하는 표시장치 |
-
1992
- 1992-05-15 JP JP14794292A patent/JPH05323357A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0762137A2 (en) * | 1995-09-07 | 1997-03-12 | Seiko Instruments Inc. | Liquid crystal display and testing method thereof |
| EP0762137A3 (en) * | 1995-09-07 | 1998-05-13 | Seiko Instruments Inc. | Liquid crystal display and testing method thereof |
| KR100634826B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-12-19 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의자동검사용패드 |
| KR100350532B1 (ko) * | 1999-03-24 | 2002-08-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 액정표시장치의 통전 시험방법 |
| KR100662989B1 (ko) * | 2004-08-20 | 2006-12-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 검사회로부를 구비하는 표시장치 |
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