KR100350532B1 - 액정표시장치의 통전 시험방법 - Google Patents
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Abstract
리드선 단자의 폭 및 피치가 미세하게 형성되어도 모듈로 조립하기 전의 액정표시장치 상태에서 통전시험이 가능하도록, 기판에 리드선 단자를 인쇄하여 형성하는 방식의 액정표시장치에 있어서, 리드선 단자를 복수의 다른 길이로 교대로 배열하여 기판에 형성하고, 통전시험용 인쇄회로기판의 단락검사용 단자를 길이가 긴 리드선 단자와 접촉하도록 형성하며, 통전시험용 인쇄회로기판의 통전검사용 단자를 길이가 긴 리드선 단자와 길이가 짧은 리드선 단자가 함께 접촉하도록 형성하여 리드선 단자의 단락검사와 통전검사를 행하는 액정표시장치의 통전 시험방법을 제공한다.
Description
본 발명은 액정표시장치의 통전 시험방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 이웃하는 리드선 단자의 길이를 서로 다른 길이로 형성하고 이에 대응하여 통전시험용 인쇄회로기판의 통전검사용 단자와 단락검사용 단자를 각각 다른 위치에 형성하여 미세한 피치로 리드선 단자가 형성되는 경우에도 통전 시험을 행할 수 있는 액정표시장치의 통전 시험방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치(LCD)는 두장의 기판 사이에 액정을 주입하여 밀봉한 것으로서, 액정이 빛을 투과 또는 차단시키는 것에 의하여 소정의 화상을 구현하는 표시장치이다.
상기에서 기판의 내면에는 액정을 구동하기 위한 전극이 형성되며, 상기한 전극에 전원을 인가하기 위한 다수의 리드선 단자가 기판에 인쇄된다.
도 4에 나타낸 바와 같이, 종래의 액정표시장치(2)는 상기한 리드선 단자(6)를 소정의 피치(P)로 기판(3)에 인쇄되는 데, 최근에는 액정표시장치의 소형화 및 고성능화를 위하여 좁은 기판(3)에 보다 많은 리드선 단자(6)의 인쇄를 행한다.
상기와 같이 좁아진 영역에 보다 많은 리드선 단자(6)를 인쇄하기 위해서는 리드선 단자(6) 사이의 피치(P) 및 리드선 단자(6)의 폭을 미세하게 형성하여야 하며, 0.2㎜ 이하인 모델이 많이 개발되고 점차 늘어나는 추세이다.
상기와 같은 종래의 액정표시장치에 있어서는 리드선 단자(6)의 폭 및 리드선 단자(6) 사이의 피치(P)가 미세하게 형성되므로 모듈을 조립하기 전에 행하는 액정표시장치의 통전 시험에서 액정표시장치의 리드선 단자와 통전시험용 인쇄회로기판의 단자 사이에 일대일 대응 접속이 매우 어렵다.
따라서 모듈을 조립한 다음에 액정표시장치의 단락검사를 행할 수 밖에 없고, 액정표시장치가 모듈로 조립되기 전에 단락 검출이 불가능하므로 불량 액정표시장치가 후공정인 모듈 조립공정으로 투입되어 고부가가치인 모듈의 불량이 발생하며, 부품의 손실이 많다.
또 액정표시장치에서 고정성 단락이 발생하는 경우 이를 조립하기 전의 액정표시장치에서 검출할 수 없기 때문에 조립공정에서 검출되는 전량을 재투입해야 하는 공정손실 및 생산성 저하를 가져온다.
본 발명의 목적은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 서로 이웃하여 위치하는 리드선 단자의 길이를 서로 다른 길이로 형성하고 이에 대응하여 통전시험용 인쇄회로기판의 통전검사용 단자와 단락검사용 단자를 각각 다른 위치에 형성하여 미세한 피치로 리드선 단자가 형성되는 경우에도 모듈 조립을 행하지 않은 액정표시장치 상태로 통전 시험을 행할 수 있는 액정표시장치의 통전 시험방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 제안하는 액정표시장치는 기판에 리드선 단자를 인쇄하여 형성하는 방식의 액정표시장치에 있어서, 리드선 단자를 복수의 다른 길이로 교대로 배열하여 기판에 형성한다.
또 본 발명이 제안하는 액정표시장치의 통전 시험방법은 액정표시장치의 리드선 단자를 복수의 다른 길이로 교대로 배열하여 기판에 형성하고, 통전시험용 인쇄회로기판의 단락검사용 단자를 길이가 긴 리드선 단자와 접촉하도록 형성하며, 통전시험용 인쇄회로기판의 통전검사용 단자를 길이가 긴 리드선 단자와 길이가 짧은 리드선 단자가 함께 접촉하도록 형성하여 리드선 단자의 단락검사와 통전검사를 행한다.
도 1은 본 발명에 따른 액정표시장치의 일실시예를 나타내는 평면도.
도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치의 통전 시험방법의 일실시예를 나타내는 평면도.
도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치의 통전 시험방법의 일실시예에 있어서 액정표시장치와 통전시험용 인쇄회로기판을 접속시킨 상태를 나타내는 평면도.
도 4는 종래 액정표시장치를 나타내는 평면도.
다음으로 본 발명에 따른 액정표시장치의 통전 시험방법의 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
먼저 도 1에 나타낸 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치(10)의 일실시예는 리드선 단자(14), (16)를 복수의 다른 길이로 교대로 배열하여 기판(12)에 인쇄하여 형성한다.
상기에서 이웃하여 위치하고 서로 단락되지 않아야 하는 리드선 단자(14), (16)는 서로 다른 길이로 기판(12)에 인쇄하여 형성한다..
즉 서로 단락되지 않아야 하는 두 개의 리드선 단자(14), (16) 중에서 하나의 리드선 단자(14)는 기판(12)의 모서리까지 연장하여 형성하고, 이웃하여 위치하는 다른 하나의 리드선 단자(16)는 상기한 리드선 단자(14)보다 짧은 길이로 형성하여 기판(12)의 모서리로부터 소정의 길이만큼 안쪽으로 위치하도록 인쇄한다.
그리고 본 발명에 따른 액정표시장치의 통전 시험방법의 일실시예는 도 2 및 도 3에 나타낸 바와 같이, 액정표시장치(10)의 리드선 단자(14), (16)를 복수의 다른 길이로 교대로 배열하여 기판(12)에 형성하고, 통전시험용 인쇄회로기판(20)의 단락검사용 단자(24), (25)를 길이가 긴 리드선 단자(14)와 접촉하도록 형성하며, 통전시험용 인쇄회로기판(20)의 통전검사용 단자(22), (23)를 길이가 긴 리드선 단자(14)와 길이가 짧은 리드선 단자(16)가 함께 접촉하도록 형성하여 리드선 단자(14), (16)의 단락검사와 통전검사를 행한다.
상기에서 통전시험용 인쇄회로기판(20)의 단락검사용 단자(24), (25) 및 통전검사용 단자(22), (23)는 동일한 기능의 전극에 대응되는 상기한 리드선 단자(14), (16)가 함께 접촉하도록 소정의 패턴으로 형성한다.
예를 들면 도 2에 나타낸 바와 같이, 제1공통전극(C1)에 대응하는 하나이상의 리드선 단자(14)가 인접하여 위치하는 경우에는 함께 접촉하도록 단락검사용 단자(24)를 소정의 길이로 형성하고, 제1세그먼트전극(S1)에 대응하는 하나이상의 리드선 단자(14)가 인접하여 위치하는 경우에는 함께 접촉하도록 단락검사용 단자(25)를 소정의 길이로 형성한다.
또 제2공통전극(C2)에 대응하는 하나이상의 리드선 단자(16) 및 제1공통전극(C1)에 대응하는 하나이상의 리드선 단자(14)가 인접하여 위치하는 경우에는 함께 접촉하도록 통전검사용 단자(22)를 소정의 길이로 형성하고, 제2세그먼트전극(S2)에 대응하는 하나이상의 리드선 단자(16) 및 제1세그먼트전극(S1)에 대응하는 하나이상의 리드선 단자(14)가 인접하여 위치하는 경우에는 함께 접촉하도록 통전검사용 단자(23)를 소정의 길이로 형성한다.
즉 통전검사는 제1세그먼트전극(S1)에 대응하는 리드선 단자(14)와 제2세그먼트전극(S2)에 대응하는 리드선 단자(16) 사이의 통전 여부 및 제1공통전극(C1)에 대응하는 리드선 단자(14)와 제2공통전극(C2)에 대응하는 리드선 단자(16) 사이의 통전 여부를 검사하는 것이고, 단락검사는 제1세그먼트전극(S1)에 대응하는 리드선 단자(14)와 제2세그먼트전극(S2)에 대응하는 리드선 단자(16) 사이의 단락 여부 및 제1공통전극(C1)에 대응하는 리드선 단자(14)와 제2공통전극(C2)에 대응하는 리드선 단자(16) 사이의 단락 여부를 검사하는 것이다.
도 2 및 도 3에서는 액정표시장치(10) 및 통전시험용 인쇄회로기판(20)의 양 바깥쪽으로 공통전극을 위치시키고, 안쪽으로 세그먼트전극을 위치시켜 형성하는 것으로 나타내었지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 다양한 형태로 공통전극과 세그먼트전극을 배열하여 형성하는 경우에도 적용 가능하고, 다양한 형태로 게이트전극과 신호전극을 형성하는 경우에도 적용 가능하다.
상기한 통전검사용 단자(22), (23) 및 단락검사용 단자(24), (25)는 도전성이 좋은 구리판이나 은 또는 알루미늄 등을 이용하여 형성한다.
상기한 통전검사용 단자(22), (23) 및 단락검사용 단자(24), (25)는 서로 단락되지 않도록 형성한다.
또 서로 다른 기능의 전극에 대응하는 통전검사용 단자(22), (23) 끼리 또는 단락검사용 단자(24), (25) 끼리 서로 단락되지 않도록 형성한다.
상기와 같이 이루어지는 본 발명에 따른 액정표시장치(10)의 통전시험을 행하고자 하는 경우에는 도 3에 나타낸 바와 같이, 단락검사용 단자(24), (25)에는 길이가 길게 기판(12)의 모서리까지 연장하여 형성된 리드선 단자(14)만 접촉하고, 통전검사용 단자(22), (23)에는 길이가 길게 형성된 리드선 단자(14)와 길이가 짧게 형성된 리드선 단자(16)가 함께 접촉하도록 상기한 통전시험용 인쇄회로기판(20)을 액정표시장치(10)에 접속시켜 통전 및 단락여부를 검출한다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 특허청구범위와 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속한다.
상기와 같이 이루어지는 본 발명에 따른 액정표시장치 및 액정표시장치의 통전 시험방법에 의하면, 리드선 단자의 폭 및 피치를 0.2㎜ 이하로 형성하는 경우에도 모듈로 조립하지 않은 액정표시장치 상태에서 통전검사와 단락검사를 행할 수 있으므로, 리드선의 단락불량 검출이 용이하고, 부품의 손실이 적다.
Claims (4)
- (삭제)
- (삭제)
- 액정표시장치의 리드선 단자를 복수의 다른 길이로 교대로 배열하여 기판에 형성하고,통전시험용 인쇄회로기판의 단락검사용 단자를 길이가 긴 리드선 단자와 접촉하도록 형성하며,통전시험용 인쇄회로기판의 통전검사용 단자를 길이가 긴 리드선 단자와 길이가 짧은 리드선 단자가 함께 접촉하도록 형성하여,리드선 단자의 단락검사와 통전검사를 행하는 액정표시장치의 통전 시험방법.
- 제3항에 있어서, 상기한 통전시험용 인쇄회로기판의 단락검사용 단자 및 통전검사용 단자는 동일한 기능의 전극에 대응되는 상기한 리드선 단자가 함께 접촉하도록 소정의 패턴으로 형성하는 액정표시장치의 통전 시험방법.
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