KR100445714B1

KR100445714B1 - 액정표시패널및그검사방법

Info

Publication number: KR100445714B1
Application number: KR1019970049003A
Authority: KR
Inventors: 요시후미 고바야시
Original assignee: 세이코 엡슨 가부시키가이샤
Priority date: 1996-10-04
Filing date: 1997-09-26
Publication date: 2004-12-04
Also published as: CN1083111C; CN1178916A; KR19980032412A; TW309597B; TW354834B

Abstract

검사 대상이 되는 전극 중에 간격이 다른 전극이 포함되어 있는 경우에도 일정한 간격으로 배치된 범용의 검사 프로브를 사용하여 모든 전극에 대하여 지장없이 검사를 행할 수 있는 액정 표시 패널 및 그 검사 방법을 제공하기 위한 것이다. 액정 표시 패널내에 포함되는 투명 기판(2)상의 줄무늬모양 전극(7a)에 대하여 제1 검사 영역(14a)이 설정되며, 전극(21)에 대하여 제2 검사 영역(14b)이 설정된다. 제1 검사 영역(14a)내에는 일정한 검사 간격(D1)으로 배열된 복수의 줄무늬모양 전극(7f)과, 이 검사 간격(D1)과 다른 간격으로 배열된 복수의 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)이 포함되며, 이들의 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)은 제2 검사 영역(14b)내에 포함되는 제1 검사용 전극(19a)으로 연결된다.

Description

액정 표시 패널 및 그 검사 방법

본 발명은 복수의 전극이 형성된 한 쌍의 투명 기판간에 액정을 봉입한 액정 표시 패널에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 이 액정 표시 패널에 있어서 투명 기판상에 형성된 복수의 전극간에 단락이 있는지의 여부를 검사하는 방법에 관한 것이다.

액정 표시 패널은 일반적으로, 한 쌍의 투명 기판을 시일제에 의해서 간격을 두고 접착하여, 그 간격 내에 액정을 봉입함으로써 제조된다. 그리고, 액정 표시 패널에 대하여 액정 구동용 IC, 백라이트, 케이싱 등과 같은 부대기기가 장착됨으로써 액정 표시 장치가 제조된다.

액정 표시 패널에는 액정에 전압을 인가하기 위한 복수의 투명 전극이 각각의 투명 기판상에 형성된다. 이들의 투명 전극은 줄무늬모양, 혹은 숫자, 문자, 특정한 그림 등과 같은 특수 패턴 형상으로 형성된다. 이들의 투명 전극은 매우 미세한 치수로 형성되기 때문에, 서로 접촉하여 단락 불량이 발생할 우려가 있다. 그 때문에, 액정 표시 패널을 제조하는 데에 있어서는 제조 공정의 전단계에서, 투명 전극간에 단락이 생기고 있는지의 여부를 검사할 필요가 있다.

이러한 검사를 행할 때에, 종래는 소정의 간격을 두고 배열된 2개의 검사 프로브를 각 투명 전극에 접촉시키고, 검사 프로브끼리 도통하였는지의 여부에 의거하여, 투명 전극끼리 단락되어 있는지의 여부를 검사한다. 통상은 2개의 검사 프로브를, 인접하는 2개의 투명 전극에 각각 접촉하면서 상기의 검사를 행한다. 이와 같은 검사 방법은 예를 들면 일본 특허공개공보 소61-194484호에 개시되어 있다. 이 공보에는 일정한 간격으로 배열된 검사용 패턴에 검사 프로브를 접촉시키고 쇼트 등의 검사를 행하는 방법이 개시되어 있다.

그러나, 종래의 검사 방법은 모두 검사용 패턴의 전부가 검사 프로브의 간격에 일치된 간격으로 배열되어 있는 것이 전제이며, 그 간격이 변화하는 경우는 고려되어 있지 않다. 따라서, 검사용 패턴의 간격이 변화하는 경우에는 그 변화에 대응하여 검사 프로브 간의 간격도 그 때마다 조정하지 않으면 안된다. 그러나, 검사 프로브의 간격을 그 때마다 조정하는 것은 액정 표시 패널의 생산성을 현저하게 저하시키기 때문에, 바람직하지 못하다. 그래서, 검사 대상이 되는 투명 기판의 검사용 패턴과 더불어 특수한 형태로 검사 프로브를 배치하는 것이 고려된다. 그러나, 이와 같이 구성한 것은 어느 특수한 검사용 패턴에는 적용할 수 있지만, 그 밖의 전극 패턴에 대하여 사용할 수 없기 때문에, 범용성이 현저하게 낮다고 하는 문제점이 있다.

한편, 검사 프로브를 사용한 검사 방법으로서는 소정의 검사 간격을 두고 배치된 2개의 검사 프로브를 검사 대상인 복수의 투명 전극에 대하여 주사시키는 방법이 있다. 그러나, 이 검사 방법도, 검사용 패턴의 전부가 검사 프로브간의 간격(검사 간격)으로 배열되어 있으면 지장없이 실행할 수 있지만, 검사 프로브의 주사 영역내(검사 영역내)에 그 검사 간격과 다른 간격으로 배열된 검사용 패턴이 존재하는 경우에는 2개의 검사 프로브를 그들의 검사용 패턴에 동시에 접촉시킬 수 없기 때문에, 이러한 검사용 패턴에 관해서는 검사를 행할 수 없다.

그래서, 본 발명의 과제는 상기의 문제점을 해소하는 것으로, 검사 대상이 되는 투명 기판에 형성되어 있는 전극 중에 간격이 다른 전극이 포함되어 있는 경우에도 일정한 간격으로 배치된 범용의 검사 프로브를 사용하여 모든 전극에 관하여 지장없이 검사를 행할 수 있는 액정 표시 패널 및 그 검사 방법을 제공하는 데에 있다.

상기의 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에서는 대향 배치된 제1 및 제2 투명 기판과, 상기 제1 및 제2 투명 기판의 간극내에 액정 봉입 영역을 구획 형성하는 시일제와, 상기 액정 봉입 영역내에 봉입된 액정을 갖는 액정 표시 패널에 있어서, 상기 제1 및 제2 투명 기판 중의 적어도 한쪽은 제1 검사 간격으로 병렬로 형성된 복수의 제1 전극과, 상기 복수의 제1 전극을 가로지르는 방향으로 구성된 제1 검사 영역과, 상기 제1 검사 간격과는 다른 간격으로 상기 제1 전극과 병렬로 형성된 복수의 제2 전극과, 상기 복수의 제2 전극의 각각으로부터 연장된 복수의 제1 검사용 전극을 구비하고, 상기 복수의 제1 검사용 전극은 상기 제1 검사용 전극이 속하는 검사 영역의 검사 간격으로 병렬로 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 있어서, 제1 및 제2 전극은 각각 다른 간격으로 형성되어 있기 때문에, 제1 검사 간격에 상당하는 간격으로 배치된 검사 프로브에서는 제1 전극의 단락을 검사할 수 있어도, 제2 전극의 단락을 직접 검사할 수 없다. 그런데 본 발명에서는 제2 전극으로부터 연장된 제1 검사용 전극은 그것이 속하는 검사 영역의 검사 간격으로 병렬되어 있다. 따라서, 제2 전극의 간격대로는 검사 프로브로 단락의 유무를 검사할 수 없는 경우에도, 제1 검사용 전극의 간격에 상당하는 간격으로 배치된 검사 프로브를 그대로 제1 검사용 전극에 접촉해 가면, 제2 전극의 단락도 검사할 수 있다. 따라서, 검사 개소가 되는 전극의 간격에 검사 프로브의 간격을 조정하여, 그대로 상기 전극의 각각에 각 검사 프로브를 1개씩 접촉해 가는 것만으로, 검사 프로브끼리 도통하는지의 여부에 근거하여 제1 및 제2 전극의 전부 대하여 단락이 있는지의 여부를 검사할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은 예를 들면 상기 액정 봉입 영역내에 형성되어 있는 액정 구동용 전극이다.

본 발명에 있어서, 또한, 상기 액정 봉입 영역내에서 벗어난 위치에 제2 검사 간격으로 병렬로 형성된 복수의 제3 전극과, 상기 복수의 제3 전극을 가로지르는 방향으로 구성된 제2 검사 영역을 가지며, 상기 제1 검사용 전극은 상기 제2 검사 영역내에 상기 복수의 제3 전극과 병렬로 상기 제2 검사 간격으로 형성되어 있는 것이 바람직하다. 이와 같이 구성하면, 제2 검사 영역에서 제3 전극에 대하여 단락의 유무를 검사했을 때에, 제2 전극에 대해서도 단락의 유무를 검사할 수 있다. 따라서, 투명 기판상에 검사 영역을 제2 전극용으로 설치할 필요가 없고, 또한, 제2 전극만의 검사를 행할 필요가 없다.

본 발명에 있어서, 상기 제2 전극과 상기 제1 검사용 전극과는 상기 제2 전극보다 좁은 선폭을 가지며 상기 제2 전극의 형성 간격보다도 좁은 간격으로 기판 외주측에 형성된 배선 패턴에 의해 전기적으로 접속되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 배선 패턴은 액정 표시 패널의 제조가 종료된 후에는 표시 동작에 기여하지 않는 것이다. 그래서, 이들의 배선 패턴을 좁은 간격으로, 또한 좁은 선폭으로 기판 외주측에 형성함으로써, 이들의 배선 패턴이 점유하는 영역을 가능한 한 좁게 하고, 또한, 표시 동작에 기여하는 전극 등의 형성을 방해하지 않도록 하는 것이 바람직하다.

이렇게하여, 상기 제2 전극과 상기 제1 검사용 전극 사이를 전기적으로 접속하는 배선 패턴이 점유하는 면적을 좁힌 경우에는 이 배선 패턴의 외주측에 상기시일제를 형성하는 영역을 확보할 수 있다. 따라서, 상기 시일제로서는 상기 제1 투명 기판에 형성되어 있는 전극과 상기 제2 투명 기판에 형성되어 있는 전극을 전기적으로 접속하는 도전 입자를 포함하고 있는 것을 사용할 수 있다. 즉, 도전 입자를 포함하는 시일제를 사용했을 때에는 제1 투명 기판측과 제2 투명 기판측간에 불필요한 전기적 접속을 피하기 위해서, 시일제의 형성 영역에 상기 배선 패턴을 되도록 형성하지 않는 것이 좋다. 그런데 본 발명에서는 상기 배선 패턴이 점유하는 면적을 좁히고 있으므로, 이 배선 패턴이 형성되어 있는 영역을 피하도록 하여 거기에서 기판 외주측에 시일제를 형성하는 영역을 확보할 수 있다. 이러한 영역에 시일제를 형성하는 것이면, 시일제의 형성 영역에 배선 패턴을 형성하지 않고 종료하거나, 혹은 시일제의 형성 영역을 통과하는 배선 패턴을 필요 최소한으로 고정시킬 수 있다.

본 발명에 있어서, 또한, 상기 액정 봉입 영역내에서 상기 제1 검사 영역에서 벗어난 위치에 복수의 제4 전극이 형성되는 경우가 있다. 상기의 경우에는 상기 복수의 제4 전극의 각각으로부터 연장하여 설치된 제2 검사용 전극을 상기 제2 검사 영역내에 상기 제3 전극과 병렬로 상기 제2 검사 간격으로 형성하는 것이 바람직하다. 이렇게 구성하면, 제2 검사 영역에서 제3 전극에 대하여 단락의 유무를 검사할 때에, 제4 전극에 대하여도 단락의 유무를 검사할 수 있다. 그 때문에, 투명 기판상에 검사 영역을 제4 전극용으로 설치할 필요가 없고, 또한, 제4 전극만의 검사를 행할 필요가 없다.

본 발명에 있어서, 상기 제1 검사용 전극은 상기 제1 검사 영역내에 상기 제1 전극과 병렬로 제1 검사 간격으로 형성하여도 된다. 이와 같이 구성하면, 제1 검사 영역에서 제1 전극에 대하여 단락의 유무를 검사할 때에, 제2 전극에 대하여도 단락의 유무를 검사할 수 있다. 그 때문에, 투명 기판상에 검사 영역을 제2 전극용으로 설치할 필요가 없고, 또한, 제2 전극만의 검사를 행할 필요가 없다.

본 발명에 있어서, 상기 검사 간격은 검사 개소가 되는 전극 중, 인접하는 전극에 1개씩 접촉하고 상기 인접하는 전극간의 도통의 유무를 검사하는 복수의 검사 프로브의 간격에 상당한다.

즉, 본 발명에 있어서, 「검사 영역」이란, 예를 들면 검사 개소인 복수의 전극에 대하여 2개의 검사 프로브를 주사 이동시키는 경우에 그 주사 이동 영역인 것을 의미하며, 복수의 검사 프로브를 일정한 간격으로 배열된 검사 장치를 사용하는 경우에는 이들의 검사 프로브가 배열되는 영역인 것을 의미한다. 또한, 본 발명에서, 「검사 간격」이란, 2개의 검사 프로브를 사용하는 경우에는 이들의 검사 프로브의 간격에 상당하고, 복수의 검사 프로브를 사용하는 경우에는 개개의 검사 프로브의 간격에 상당한다. 단지, 상기의 복수의 검사 프로브는 비스듬하게 배치되는 경우가 있고, 이 경우의 「검사 간격」은 전극을 직각으로 가로지르는 방향에 있어서의 검사 프로브의 어긋남에 상당한다.

이와 같이 구성한 액정 표시 패널에 대하여는 이하의 방법으로 검사를 행할 수 있다. 즉, 상기 검사 프로브와 상기 검사 프로브에 의해서 검사해야 할 상기 투명 기판을 상대적으로 이동시킴으로써, 상기의 각 검사 프로브를 상기의 검사 영역상에서 검사 개소가 되는 상기의 각 전극을 가로지르는 방향으로 주사해 간다. 그결과, 상기의 각 검사 프로브가 상기 각 전극중 인접하는 전극에 1개씩 순차 접촉해 간다. 따라서, 그 동안에 검사 프로브끼리 도통하는지의 여부를 감시하면, 그 감시 결과에 의거하여, 검사 대상인 전극간에 단락이 있는지의 여부를 검사할 수 있고, 그 자동화도 용이하다.

도 1은 본 발명을 적용한 액정 표시 패널의 사시도.

도 2는 도 1에 도시된 액정 표시 패널의 분해 사시도.

도 3은 도 1에 도시된 액정 표시 패널을 구성하는 한쪽의 투명 기판상의 투명 전극의 배치 패턴을 도시한 평면도.

도 4는 도 1에 도시된 액정 표시 패널을 구성하는 다른쪽의 투명 기판상의 투명 전극의 배치 패턴을 도시한 평면도.

도 5는 도 1에 도시된 액정 표시 패널의 A-A'선에 상당하는 위치에서 절단하였을 때의 종단면도.

도 6은 도 1에 도시된 액정 표시 패널의 B-B'선에 상당하는 위치에서 절단하였을 때의 종단면도.

도 7은 도 1에 도시된 액정 표시 패널의 실제의 도포영역을 확대하여 도시한 종단면도.

도 8은 본 발명의 다른 형태와 관계되는 액정 표시 패널에 사용한 투명 기판의 평면도.

※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ※

1: 제1 투명 기판 2: 제2 투명 기판

3: 시일제 4a, 4b: 편광판

5: 액정 표시 패널 6a: 줄무늬모양 전극

6b: 특수 패턴 전극 7a: 줄무늬모양 전극

7b: 특수 패턴 전극

7c, 7d, 7e: 줄무늬모양 전극(제2 전극)

7f: 줄무늬모양 전극(제1 전극)

7g: 특수 패턴 전극(제 4 전극)

8: 단자 9: IC장착 위치

11: 단자 12: 입력 단자

13: 액정 구동용 IC 14a: 제1 검사 영역

14b: 제2 검사 영역 16, 17: 검사 프로브

18a, 18b: 배선 패턴 19a: 제 1 검사용 전극

19b: 제2 검사용 전극 21: 전극(제3 전극)

도 1은 본 발명과 관계되는 액정 표시 패널의 외관을 도시한 사시도이고, 도 2는 그 분해 사시도이다.

이들 도면에 있어서, 액정 표시 패널(10)은 예를 들면 투명한 글라스에 의해 형성된 제1 투명 기판(1)과, 마찬가지로 투명한 글라스에 의해 형성된 제2 투명 기판(2)을 갖고 있다. 이들의 투명 기판(1, 2)의 한쪽에는 시일제(3)가 인쇄 등에 의해서 형성되어, 그 시일제(3)를 사이에 끼워 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2)이 접착된다. 그리고, 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2) 사이에 형성되는 간격(셀갭)중, 시일제(3)로 구획 형성된 액정 봉입 영역(40)의 내측에 액정(41)이 봉입된다.

제1 투명 기판(1)의 외측 표면에는 편광판(4a)이 점착제 등에 의해서 점착된다. 한편, 제2 투명 기판(2)의 외측 표면에도 편광판(4b)이 점착제 등에 의해서 점착된다. 여기에서 말하는 점착이라고 하는 것은 뗄 수 없도록 견고하게 접착한다는 것이 아니라, 비교적 약한 힘으로 용이하게 뗄 수 있을 정도로 붙이는 것을 뜻하고 있다.

여기에서, 제2 투명 기판(2)은 제1 투명 기판(1)보다도 크기 때문에, 제2 투명 기판(2)에 제1 투명 기판(1)을 포갠 상태에 있어서, 제2 투명 기판(2)은 그 일부가 제1 투명 기판(1)의 하단 가장자리로부터 벗어난다. 이 벗어난 부분에는 IC 장착 위치(9)가 형성되어 있고, 여기에 액정 구동용 IC(13)가 접착된다. 이 접착은 예를 들면 ACF(Anisotropic conductive film : 이방성 도전막)를 제2 투명 기판(2)과 액정 구동용 IC(13) 사이에 끼운 뒤에 그들을 가열 압착함으로써 행해진다. 또한, 제2 투명 기판(2)에 있어서, IC 장착 위치(9)에서 하단측으로는 입력 단자(12)가 형성되어 있고, 이들 입력 단자(12)에는 플렉시블 배선판(도시하지 않음), 예를 들면 히트 시일이 접속된다.

도 3 및 도 4는 각각 제1 투명 기판(1) 및 제2 투명 기판(2)에 형성된 투명 전극의 배치 패턴을 도시한 평면도이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 제1 투명 기판(1)의 내측 표면에는 복수의 줄무늬모양 전극(6a)과, 특정한 도면으로서 형성된 특수 패턴 전극(6b)이 형성되어 있다. 이들의 전극(6a, 6b)은 제1 투명 기판(1)의 단부에 형성된 각 단자(8)에 각각 배선 접속되어 있다. 이들의 투명 전극은 어느 것이나 ITO막(Indium Tin Oxide) 등으로 형성된다.

도 4에 도시한 바와 같이, 제2 투명 기판(2)의 내측 표면중, 시일제(3)로 구획 형성된 액정 봉입 영역(40)에는 복수의 줄무늬모양 전극(7a)과, 이들의 줄무늬 모양 전극(7a)에 접속하는 복수의 특수 패턴 전극(7b)과, 줄무늬모양 전극(7a)에서 독립한 특수 패턴 전극(7g)(제4 전극)이 형성되어 있다. 이들의 전극중, 줄무늬모양 전극(7a) 및 특수 패턴 전극(7b, 7g)은 IC 장착 위치(9)에 형성된 각 단자(11)에 배선 접속되어 있다. 또한, 제2 투명 기판(2)의 하단부에서는 입력 단자(12)로부터 IC 장착 위치(9)를 향하여 배선이 형성되어 있다. 또한, 제2 투명 기판(2)에는 IC용 단자(11)에 연결된 전극(21)이 소정의 간격으로 형성되어 있다.

이와 같이 구성된 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2)을, 도 1 및 도 5에 도시된 바와 같이 접착된 상태로, 제1 투명 기판(1)의 줄무늬모양 전극(6a)과, 제2 투명 기판(2)의 줄무늬모양 전극(7a)은 교차하고, 각 교차점에서 1개의 화소가 형성된다. 또한, 제1 투명 기판(1)의 특수 패턴 전극(6b)과, 제2 투명 기판(2)의 특수 패턴 전극(7b, 7g)이 겹쳐서 개개의 특수 패턴이 형성된다.

또한, 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2)을 접착한 상태로, 제1 투명 기판(1)의 각 단자(8)와, 제2 투명 기판(2)의 각 전극(21)은 도 6에 모식적으로 도시된 바와 같이, 대향한다. 따라서, 제1 투명 기판(1)의 내측 표면 중 도 3에 일점 쇄선으로 나타낸 영역, 또는 제2 투명 기판(2)의 표면 중 도 4에 일점 쇄선으로 나타낸 영역에 갭재 및 도전 입자를 포함하는 시일제(3)를 도포해 두고, 그런 후에, 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2)과 맞붙이면, 도 7에 확대하여 도시된 바와 같이, 제1 투명 기판(1)의 각 단자(8)와, 제2 투명 기판(2)의 전극(21)은 시일제(3)에 포함되는 도전 입자(31)를 통해 도통하게 된다. 여기에서, 도전 입자(31)는 탄성 변형 가능한 플라스틱 비즈의 표면에 도금을 실시한 것으로, 그 입경은 약 6.6㎛이다. 이것에 대하여, 갭재(32)의 직경은 약 5.6㎛이다. 그러므로, 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2)과 포갠 상태로 그 간격을 좁히도록 하는 힘을 가하면서 시일제(3)를 경화시키면, 도전 입자(31)는 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2) 사이에서 눌려진 상태로 제1 투명 기판(1)의 각 단자(8)와 제2 투명 기판(2)의 전극(21)을 도통시킨다. 이 상태로, 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2)의 간격은 갭재(32)로 규정된다.

또한, 제1 투명 기판(1)과 제2 투명 기판(2)의 사이에 있어서, 시일제(3)에 의해 구획 형성된 액정 봉입 영역(40)내에는 액정(41)이 봉입된다. 따라서, 입력 단자(12) 및 히트 시일을 통해서 액정 구동용 IC(13)에 액정 구동용 전력 및 구동 신호가 이송되면, 액정 구동용 IC(13)는 이송되어 온 구동 신호에 의거하여 원하는 적당한 줄무늬모양 전극(6a, 7a), 혹은 특수 패턴 전극(6b,7b,7g)에 전압을 인가함으로써 액정(41)의 배향 상태를 제어하여, 액정 표시 패널(10)상에 원하는 형상을 표시한다.

이와 같이 구성된 액정 표시 패널(10)에 있어서, 정상적인 형상을 표시하기 위해서는 줄무늬모양 전극(6a, 7a), 및 특수 패턴 전극(6b,7b,7g)을 막론하고, 모든 전극이 단락 상태가 아닌 것이 요구된다. 전극이 단락 상태에 있는지의 여부를 검사하기 위해서, 본 실시예에서는 액정 표시 패널(10)의 전극 배선 패턴을 아래와 같이 구성하고 있다. 또, 이하의 설명에서는 제2 투명 기판(2)상에 형성된 각 투명 전극에 대하여 검사를 행하는 경우를 고려한다.

우선, 도 4에 있어서, 액정 봉입 영역(40)내에는 줄무늬모양 전극(7a)을 직각으로 가로지르는 위치에 제1 검사 영역(14a)을 설정하고, 그것과는 별도로, 액정 봉입 영역(40)에서 벗어난 위치에 제2 검사 영역(14b)을 설정한다. 제1 검사 영역(14a)은 제1 검사 간격(D1)(제1 검사 영역(14a)에 고유의 검사 간격)을 두고배열된 2개의 검사 프로브(16)를 제2 투명 기판(2)에 대하여 상대적으로 주사 이동시켰을 때의 이동 영역에 상당한다. 또한, 제2 검사 영역(14b)은 제2 검사 간격(D2)(제2 검사 영역(14b)에 고유의 검사 간격)을 두고 배열된 2개의 검사 프로브(17)를 제2 투명 기판(2)에 대하여 상대적으로 주사 이동시킬 때의 이동영역에 상당한다. 여기에서, 검사 프로브(16, 17)는 비스듬히 배치되고, 이 경우의 검사 간격(D1, D2)은 전극을 직각으로 가로지르는 방향에 있어서의 검사 프로브의 어긋남량에 상당한다.

검사 프로브(16, 17)는 검사 대상의 전극보다도 작은 면적 또는 거의 같은 면적의 선단 접촉 부분을 갖고 있고, 또한 도시하지 않은 검사 회로에 접속된다. 이들의 검사 프로브는 그 선단 접촉 부분에서 검사 개소인 전극에 접촉하여, 그들의 전극이 갖고 있는 전기적 상태, 예를 들면 쇼트되어 있는지의 여부 등의 상태를 전기 신호의 형으로 검사 회로에 전달한다. 이 검사 회로는 적어도 한 쌍의 검사 프로브 사이에 쇼트가 생기고 있는지의 여부, 즉 소정량 이상 전류가 흐르는지의 여부를 검지할 수 있는 회로를 포함하고 있다. 이러한 전기 회로는 종래부터 널리 알려져 있고, 또한 여러 가지 회로 구성으로 할 수 있기 때문에, 자세한 설명은 생략한다.

제1 검사 영역(14a)에서는 줄무늬모양 전극(7a)에 속하는 대부분 줄무늬모양 전극(7f)(제1 전극)이, 검사 프로브(16)의 제1 검사 간격(D1)과 같은 간격, 즉 같은 피치로 배열되어 있다. 이 때문에, 2개의 검사 프로브(16)를 줄무늬모양 전극(7f)에 1개씩 순차 접촉해 가는 것만으로, 검사 프로브(16)끼리가 도통하는지의 여부에 의거하여 줄무늬모양 전극(7f)의 전부 대하여 단락이 있는지의 여부를 검사할 수 있다.

그러나, 도면을 향해 좌측의 3개의 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)(제2 전극)은 간격(D3)으로 배열되어 있고, 그 간격은 제1 검사 간격(D1)과 다르게 되어 있다. 예를 들면, 줄무늬모양 전극(7f)의 각 간격은 0.15mm 내지 0.36mm인데 대하여, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)의 각 간격은 상당히 넓다. 그래서, 본 형태에서는 이들의 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)에서는 배선 패턴(18a)이 연장되어 있고 그들의 배선 패턴(18a)의 선단에 제1 검사용 전극(19a)이 형성되어 있다. 여기에서, 배선 패턴(18a)의 각 간격은 예를 들면 0.1mm 내지 0.12mm이다. 또한, 제1 검사용 전극(19a)의 각 간격은 예를 들면 0.18mm 내지 0.34mm이다. 이들의 제1 검사용 전극(19a)은 제1 검사 영역(14a)과는 다른 제2 검사 영역(14b)에 있어서, 검사 프로브(17)의 제2 검사 간격(D2)으로 배열되어 있다. 또한, 제2 검사 영역(14b) 중에는 IC용 단자(11)에 전기적으로 접속하는 전극(21)이 검사 프로브(17)의 제2 검사 간격(D2)으로 배열되어 있고, 이들의 전극(21)의 일부분이 검사용 전극으로서 이용된다. 더욱이, 제2 검사 영역(14b)에서, 제1 검사용 전극(19a, 21)과는 같은 간격(검사 프로브(17)의 제2 검사 간격(D2)/같은 피치)으로 병렬로 배치된 상태에 있다. 따라서, 제2 검사 간격(D2)을 갖는 검사 프로브(17)를 제1 검사용 전극(19a 및 21)에 1개씩 순차 접촉해 가는 것만으로, 검사 프로브(17)끼리가 도통하는지의 여부에 의거하여 제1 검사용 전극(19a 및 21)의 전부에 대하여 단락이 있는지의 여부를 검사할 수 있다. 즉, 전극(21)에 단락이 있는지의 여부를 검사하면서, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)에 단락이 있는지의 여부를 동시에 검사할 수 있다. 그 때문에, 검사 공정을 간략화할 수 있는 동시에, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)의 단락 검사를 행하기 위한 검사 영역을 별도로 확보할 필요가 없다고 하는 이점이 있다 .

또한, 특수 패턴 전극(7g)에서도 배선 패턴(18b)이 연장되어 있고 그들의 배선 패턴의 선단에 제2 검사용 전극(19b)이 형성되어 있다. 이들의 제2 검사용 전극(19b)도 제2 검사 영역(14b)내에 있어서, 제1 검사용 전극(19a 및 21)과 병렬로 배치되며, 또한, 제2 검사 간격(D2)으로 배열되어 있다 . 따라서, 제2 검사 간격(D2)을 갖는 검사 프로브(17)를 제1 검사용 전극(19a), 제2 검사용 전극(19b), 및 전극(21)에 1개씩 순차 접촉해 가는 것만으로, 전극(21) 및 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)에 더하여, 특수 패턴 전극(7g)에 대하여도 단락이 있는지의 여부를 검사할 수 있다. 그 때문에, 검사 공정을 간략화할 수 있는 동시에, 특수 패턴 전극(7g)의 단락 검사를 행하기 위한 검사 영역을 별도로 확보할 필요가 없다고 하는 이점이 있다.

이러한 검사 공정은 제2 투명 기판(2)을 다수 갖기 위한 대형 글라스 기판상에 각 전극을 형성한 후, 제2 투명 기판(2)을 잘라내기 전에 행하면 작업이 효율적이다. 또한, 제2 투명 기판(2)에 단락 등의 결함이 있을 때에는 레이저광 등을 사용하여 단락 개소를 다시 복구할 수도 있다. 단, 이하의 설명에서는 검사의 방법을 알기 쉽게, 대형 글라스 기판으로부터 제2 투명 기판(2)을 잘라낸 상태에서 검사를 자동적으로 행하는 경우를 설명한다.

우선, 검사 프로브(16,17)가 설치되어 있는 검사 스테이지상의 소정 위치에,검사 대상인 제2 투명 기판(2)을 세트한다. 그리고, 검사 프로브(16, 17)를 제2 투명 기판(2)의 각 검사 영역(14a, 14b)의 단부에 위치 맞춤하고, 그런 후에, 검사 프로브(16, 17)를 제2 투명 기판(2)에 대하여 이동시킨다. 혹은 제2 투명 기판(2)을 검사 프로브(16, 17)에 대하여 이동시킨다. 그 결과, 각 검사 프로브(16, 17)는 제2 투명 기판(2)의 표면에서 각 검사 영역(14a, 14b)을 따라서 주사하게 된다.

이 주사중에, 줄무늬모양 전극(7f) 중의 어느 하나의 전극사이에서 단락이 발생하고 있으면, 제1 검사 영역(14a)내를 이동하는 검사 프로브(16)가 그 단락의 원인인 전극에 도래하였을 때에 그 단락이 검출된다. 또한, IC 단자(11)에 연결되는 전극(21)에 단락이 발생하고 있으면, 제2 검사 영역(14b)내를 이동하는 검사 프로브(17)가 그 단락의 원인인 전극에 도래하였을 때에 그 단락이 검출된다.

단, 제1 검사 영역(14a)에 있어서, 검사 프로브(16)가 좌측 단부의 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)까지 이동했어도, 그 검사 프로브(16)에서는 그들의 전극간의 검사를 행할 수 없다. 검사 프로브(16)의 검사 간격(D1)과, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)의 간격(피치)이 다르기 때문이다. 또한, 특수 패턴 전극(7g)에 대하여도 검사를 행할 수 없다. 검사 프로브(16)의 검사 간격(D1)과, 배선 패턴(18b)의 간격(피치)이 다르기 때문이다. 그런데 본 형태에서는 이들의 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e), 및 특수 패턴 전극(7g)으로 연결되는 제1 및 제2 검사용 전극(19a, 19b)이 제2 검사 영역(14b)까지 연장되어 있고, 게다가 제1 및 제2 검사용 전극(19a, 19b)간의 간격이 제2 검사 영역(14b) 고유의 검사 간격, 즉 제2 검사 프로브(17)의 검사 간격(D2)에 일치하고 있다. 따라서, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)의 검사, 및특수 패턴 전극(7g)의 검사는 제1 검사 프로브(16)에 의해서 직접적으로는 실행할 수 없지만, 제2 검사 프로브(17)에 의해서 행할 수 있다. 그 때문에, 본 발명의 액정 표시 패널(10) 및 액정 표시 패널(10)의 검사 방법에 의하면, 검사 대상의 전극 중에 피치가 다른 전극이 존재하는 경우에도, 이들의 전극에는 소정의 간격으로 병렬하는 검사용 전극이 전기적으로 접속하고 있기 때문에, 일정한 간격으로 배열된 범용의 검사 프로브를 사용하여 지장없이, 또한, 자동적으로 검사를 행할 수 있다.

또한, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)과 검사용 전극(19a)을 전기적으로 접속하는 배선 패턴(18a)은 액정 표시 패널(10)의 제조가 끝난 후에는 표시 동작에 기여하지 않는 것이다. 그래서, 배선 패턴(18a)에 관해서는 시일제(3)의 형성 영역인 내측 영역에 간격(D2, D3)중의 어느 것보다도 좁은 간격으로, 또한, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)보다 좁은 선폭으로 기판 외주측에 형성되어 있다. 따라서, 배선패턴(18a)이 점유하는 영역을 가능한 한 좁게 하고, 또한, 표시 동작에 기여하는 줄무늬모양 전극(7a)의 형성 등을 방해하지 않도록 하고 있다. 또한, 배선 패턴(18a)이 점유하는 면적을 좁힌 경우에는 이 배선 패턴(18a)의 외주측에 시일제(3)를 형성하는 영역을 확보할 수 있다. 따라서, 시일제(3)로서는 제1 투명 기판(1)의 단자(8)와 제2 투명 기판(2)의 전극(21)을 전기적으로 접속하는 도전 입자(31)를 포함하고 있는 것을 사용할 수 있다. 즉, 도전 입자(31)를 포함하는 시일제(3)를 사용할 때에는 제1 투명 기판(1)의 측과 제2 투명 기판(2)측 사이에 불필요한 전기적 접속을 피하기 위해서, 시일제(3)의 형성 영역에 배선 패턴을 되도록 형성하지 않는 것이 좋다. 그런데 본 형태에서는 배선 패턴(18a)이 점유하는 면적을 좁히고있으므로, 이 배선 패턴(18a)이 형성되어 있는 영역을 피하도록 하고 거기에서 기판 외주측에 시일제(3)를 형성하는 영역을 확보할 수 있다. 이러한 기판 외주측에 시일제(3)를 형성하는 것이면, 시일제(3) 형성영역에 배선 패턴(18a)을 형성하지 않고 종료하거나, 혹은 시일제(3) 형성영역을 통과하는 배선 패턴(18a)을 필요 최소한으로 정지시킬 수 있다.

[그 밖의 실시예]

도 8은 다른 실시예와 관계되는 액정 표시 패널에 사용한 제2 투명 기판의 평면도이다. 또, 도 8에 도시된 제2 투명 기판은 기본적인 구성이 도 4에 도시된 제2 투명 기판과 동일하기 때문에, 공통되는 부분에는 동일한 부호를 붙이고 그들의 상세한 설명을 생략한다.

상기 실시예에서는, 제1 검사용 전극(19a)은 제2 검사 영역(14b)내에 전극(21)과 병렬로 형성하였지만, 도 8에 도시된 바와 같이, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)(제2 전극)에 전기적 접속하는 제1 검사용 전극(19a)을, 제1 검사 영역(14a)내에 줄무늬모양 전극(7f)(제1 전극)과 병렬로 형성하여도 무방하다. 이 경우에는 제1 검사용 전극(19a)의 간격과 줄무늬모양 전극(7f)의 간격을 같게 한다. 즉, 제 1 검사용 전극(19a)의 간격도, 검사 프로브(16)의 제1 검사 간격(D1)으로 한다. 이와 같이 구성하면, 제1 검사 영역(14a)에서 줄무늬모양 전극(7f)에 대하여 단락의 유무를 검사할 때에, 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)에 대하여도 단락의 유무를 검사할 수 있다. 그 때문에, 본 형태에서도, 투명 기판상에 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e)의 검사 영역을 별도로 설치할 필요가 없고, 또한, 줄무늬모양전극(7c, 7d, 7e)만의 검사를 행할 필요가 없다. 즉, 모든 줄무늬모양 전극(7a)의 검사 영역을 1개만으로 할 수 있다.

이상, 바람직한 실시예를 들어 본 발명을 설명하였지만, 본 발명은 그 실시예에 한정되지 않고, 청구 범위에 기재된 기술적 범위내에서 여러가지로 개량, 변경할 수 있다.

예를 들면, 도 4에 예시된 실시예에서는 1개의 검사 영역(14a, 14b)에 관하여 각각 2개의 검사 프로브(16, 17)를 사용하였지만, 이것을 대신하여, 복수의 검사 프로브를 검사 영역(14a, 14b)을 따라서 일정한 검사 간격(D1, D2)으로 연속하여 배열함으로써, 복수의 전극을 동시에 검사할 수도 있다.

또한, 상기 실시예에서는 제2 투명 기판(2)상에 액정 구동용 IC(13)를 직접적으로 탑재하는 형식의 이른바 COG(Chip On Glass)형식의 액정 표시 패널에 본 발명을 적용한 것이지만, 그 이외의 임의의 형식의 액정 표시 패널에 본 발명을 적용할 수 있음은 물론이다.

또한, 이상의 설명에서는 도 4에 도시된 제2 투명 기판(2)상에 형성한 줄무늬모양 전극(7c, 7d, 7e) 및 특수 패턴 전극(7g)에 대하여 검사용 전극(19a, 19b)을 설치한 경우를 도시하였지만, 도 3에 도시된 제1 투명 기판(1)상에 형성된 전극에 대하여도 본 발명을 적용하여도 된다.

상술한 바와 같이, 본 발명과 관계되는 액정 표시 패널에 있어서, 제1 및 제 2 전극은 각각 다른 간격으로 형성되어 있기 때문에, 제1 검사 간격에 상당하는 간격으로 배치된 검사 프로브에서는 제1 전극의 단락을 검사할 수 있어도, 제2 전극의 단락을 직접, 검사할 수 없지만, 제2 전극으로부터 연장하여 설치된 제1 검사용 전극은 그것이 속하는 검사 영역의 검사 간격으로 병렬되어 있다. 따라서, 제2 전극 간격 그대로는 검사 프로브로 단락의 유무를 검사할 수 없는 경우에도, 제1 검사용 전극의 간격에 상당하는 간격으로 배치된 검사 프로브를 그대로 제1 검사용 전극에 접촉해 가면, 제2 전극의 단락도 검사할 수 있다. 따라서, 검사 개소가 되는 전극의 간격에 검사 프로브의 간격을 조정하고, 그대로 상기 전극 각각에 각 검사프로브를 1개씩 접촉해 가는 것만으로, 검사 프로브끼리 도통하는지의 여부에 의거하여 제1 및 제2 전극의 전부에 대하여 단락이 있는지의 여부를 검사할 수 있다.

Claims

대향 배치된 제1 및 제2 투명 기판과, 상기 제1 및 제2 투명 기판의 간극 내에 액정 봉입 영역을 구획 형성하는 시일제와, 상기 액정 봉입 영역내에 봉입된 액정을 갖는 액정 표시 패널에 있어서,

상기 제1 및 제2 투명 기판중의 적어도 한쪽은, 제1 검사 간격으로 병렬로 형성된 복수의 제1 전극과, 상기 복수의 제1 전극을 가로지르는 방향으로 구성된 제1 검사 영역과, 상기 제1 검사 간격과는 다른 간격으로 상기 제1 전극과 병렬로 형성된 복수의 제2 전극과, 상기 복수의 제2 전극의 각각으로부터 연장하여 설치된 복수의 제1 검사용 전극을 구비하며,

상기 복수의 제1 검사용 전극은 상기 제1 검사용 전극이 속하는 검사 영역의 검사 간격으로 병렬로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제1항에 있어서,

상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은 상기 액정 봉입 영역내에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제2항에 있어서,

상기 액정 봉입 영역내에서 벗어난 위치에 제2 검사 간격으로 병렬로 형성된 복수의 제3 전극과, 상기 복수의 제3 전극을 가로지르는 방향으로 구성된 제2 검사영역을 더 구비하며,

상기 제1 검사용 전극은 상기 제2 검사 영역내에 상기 복수의 제3 전극과 병렬로 상기 제2 검사 간격으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제3항에 있어서,

상기 제2 전극과 상기 제1 검사용 전극은, 상기 제2 전극보다 좁은 선폭을 갖고 상기 제2 전극의 형성 간격보다도 좁은 간격으로 기판 외주측에 형성된 배선 패턴에 의해 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제4항에 있어서,

상기 시일제는, 상기 제1 투명 기판에 형성되어 있는 전극과 상기 제2 투명 기판에 형성되어 있는 전극을 전기적으로 접속하는 도전 입자를 포함하며, 또한 상기 배선 패턴보다 기판 외주측에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제3항에 있어서,

상기 액정 봉입 영역내에서 상기 제1 검사 영역에서 벗어난 위치에 형성된 복수의 제4 전극과, 상기 복수의 제4 전극의 각각으로부터 연장 설치되어 상기 제2 검사 영역내에 상기 제3 전극과 병렬로 상기 제2 검사 간격으로 형성된 제2 검사용 전극을 더 구비하고 있는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제1항에 있어서,

상기 제1 검사용 전극은 상기 제1 검사 영역내에 상기 제1 전극과 병렬로 상기 제1 검사 간격으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제1 항 내지 제 7항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 검사 간격은 검사 개소가 되는 전극 중 인접하는 전극에 1개씩 접촉하여 상기 인접하는 전극 간의 도통의 유무를 검사하는 복수의 검사 프로브의 간격에 상당하는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널.
제 8항에 규정한 액정 표시 패널에 대한 검사 방법에 있어서,

상기 검사 프로브와 상기 검사 프로브에 의해서 검사해야 할 상기 투명 기판을 상대적으로 이동시킴으로써, 상기 각 검사 프로브를 상기 검사 영역상에서 검사 개소가 되는 상기 각 전극을 가로지르는 방향으로 주사해 가며,

상기 각 검사 프로브가 상기 각 전극 중 인접하는 전극에 1개씩 순차 접촉해가는 동안에 상기 검사 프로브끼리가 도통하는지의 여부에 의거하여 상기 각 전극 간에 단락이 있는지의 여부를 검사하는 것을 특징으로 하는, 액정 표시 패널의 검사 방법.