JP2003287769A - 液晶表示パネル及びその検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査対象となる電極の中に間隔の異なる電極
が含まれている場合でも一定間隔に配置された汎用の検
査プローブを用いて全ての電極について支障なく検査を
行うことができる液晶表示パネル、及びその検査方法を
提供すること。 【解決手段】 液晶表示パネル内に含まれる透明基板２
上のストライプ状電極７ａに対して第１の検査領域１４
ａが設定され、電極２１に対して第２の検査領域１４ｂ
が設定される。第１の検査領域１４ａ内には、一定の検
査間隔Ｄ１で並んだ複数のストライプ状電極７ｆと、こ
の検査間隔Ｄ１と異なる間隔で並んだ複数のストライプ
状電極７ｃ、７ｄ、７ｅとが含まれ、これらのストライ
プ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅは、第２の検査領域１４ｂ内
に含まれる第１の検査用電極１９ａにつながる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の電極が形成
された一対の透明基板間に液晶を封入した液晶表示パネ
ルに関するものである。また、本発明は、この液晶表示
パネルにおいて透明基板上に形成した複数の電極間に短
絡が有るか否かを検査する方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】液晶表示パネルは、一般に、一対の透明
基板をシール材によって間隙をおいて接着し、その間隙
内に液晶を封入することによって製造される。そして、
液晶表示パネルに対して液晶駆動用ＩＣ、バックライ
ト、ケーシング等といった付帯機器が装着されることに
よって液晶表示装置が製造される。

【０００３】液晶表示パネルには、液晶に電圧を印加す
るための複数の透明電極がそれぞれの透明基板上に形成
される。これらの透明電極は、ストライプ状、あるいは
数字、文字、特定の絵柄等といった特殊パターン状に形
成される。これらの透明電極は非常に微細な寸法に形成
されるので、互いに接触して短絡不良を発生するおそれ
がある。それ故、液晶表示パネルを製造するに際して
は、製造工程の前段階で、透明電極間に短絡が生じてい
るかどうかを検査する必要がある。

【０００４】このような検査を行う際に、従来は、所定
の間隔をおいて並べた２つの検査プローブを各透明電極
に接触させていき、検査プローブ同士が導通したか否か
に基づいて、透明電極同士が短絡しているか否かを検査
する。通常は２つの検査プローブを、隣り合う２つの透
明電極にそれぞれ当てながら前記の検査を行う。このよ
うな検査方法は、例えば特開昭６１−１９４４８４号公
報に開示されている。この公報には、一定間隔で並べら
れた検査用パターンに検査プローブを接触させてショー
ト等の検査を行う方法が開示されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
検査方法はいずれも、検査用パターンの全てが、検査プ
ローブの間隔に一致した間隔で並べられていることが前
提であり、その間隔が変化する場合は考慮されていな
い。従って、検査用パターンの間隔が変化する場合には
その変化に対応して検査プローブ間の間隔もその都度調
整しなければならない。しかし、検査プローブの間隔を
その都度、調整することは、液晶表示パネルの生産性を
著しく低下させるので、好ましくない。そこで、検査対
象となる透明基板の検査用パターンに併せて特殊な形態
に検査プローブを配置することが考えられる。しかし、
このように構成したものはある特殊な検査用パターンに
は適用できるが、その他の電極パターンに対して用いる
ことができないので、汎用性が著しく低いという問題点
がある。

【０００６】一方、検査プローブを用いた検査方法とし
ては、所定の検査間隔をおいて配置した２つの検査プロ
ーブを検査対象である複数の透明電極に対して走査させ
る方法がある。しかし、この検査方法も、検査用パター
ンの全てが検査プローブ間の間隔（検査間隔）で並んで
いれば支障なく実行できるが、検査プローブの走査領域
内（検査領域内）にその検査間隔と異なる間隔で並べら
れた検査用パターンが存在する場合には、２つの検査プ
ローブをそれらの検査用パターンに同時に接触させるこ
とはできないので、このような検査用パターンに関して
は検査を行うことができない。

【０００７】そこで、本発明の課題は、上記の問題点を
解消するものであり、検査対象となる透明基板に形成さ
れている電極の中に間隔の異なる電極が含まれている場
合でも一定間隔に配置された汎用の検査プローブを用い
て全ての電極について支障なく検査を行うことができる
液晶表示パネル、及びその検査方法を提供することにあ
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明の液晶パネルは、第１の間隔で形成された複
数の第１電極と、前記複数の第１電極と並んで配置され
ており、前記第１の間隔とは異なる間隔で形成された複
数の第２電極と、前記複数の第２電極の各々から延出さ
れた複数の第１の検査電極とを備えることを特徴とす
る。

【０００９】本発明において、第１及び第２の電極は、
それぞれ異なる間隔で形成されているため、第１の検査
間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブでは第１
の電極の短絡を検査できても、第２の電極の短絡を直
接、検査できない。しかるに本発明では、第２の電極か
ら延設された第１の検査用電極は、それが属する検査領
域の検査間隔で並列している。従って、第２の電極の間
隔のままでは検査プロ−ブで短絡の有無を検査できない
場合でも、第１の検査用電極の間隔に相当する間隔で配
置された検査プロ−ブをそのまま第１の検査用電極に当
てていけば、第２の電極の短絡も検査できる。従って、
検査箇所となる電極の間隔に検査プローブの間隔を調整
し、そのまま当該電極の各々に各検査プローブを１本ず
つ当てていくだけで、検査プローブ同士が導通するか否
かに基づいて第１及び第２の電極の全てについて短絡が
あるか否かを検査することができる。

【００１０】本発明において、前記第１の電極および前
記第２の電極は、例えば前記液晶封入領域内に形成され
ている液晶用駆動用の電極である。

【００１１】本発明において、更に、前記液晶封入領域
内から外れた位置に第２の検査間隔で並列に形成された
複数の第３の電極と、該複数の第３の電極を横切る方向
に構成された第２の検査領域とを有し、前記第１の検査
用電極は、前記第２の検査領域内に前記複数の第３の電
極と並列に前記第２の検査間隔で形成されていることが
好ましい。このように構成すれば、第２の検査領域で第
３の電極について短絡の有無を検査するときに、第２の
電極についても短絡の有無を検査できる。それ故、透明
基板上に検査領域を第２の電極用に設ける必要がなく、
かつ、第２の電極だけの検査を行う必要がない。

【００１２】本発明において、前記第２の電極と前記第
１の検査用電極とは、前記第２の電極より狭い線幅をも
って前記第２の電極の形成間隔よりも狭い間隔で基板外
周側に形成された配線パターンにより電気的に接続され
ていることが好ましい。このような配線パターンは、液
晶表示パネルを製造し終えた後は、表示動作に寄与しな
いものである。そこで、これらの配線パターンを狭い間
隔で、かつ狭い線幅で基板外周側に形成することによ
り、これらの配線パターンが占有する領域を可能な限り
狭くし、かつ、表示動作に寄与する電極等の形成を妨げ
ないようにすることが好ましい。

【００１３】このようにして、前記第２の電極と前記第
１の検査用電極との間を電気的に接続する配線パターン
が占有する面積を狭めた場合には、この配線パターンの
外周側に前記シール材を形成する領域を確保できる。従
って、前記シール材としては、前記第１の透明基板に形
成されている電極と前記第２の透明基板に形成されてい
る電極とを電気的に接続する導電粒子を含んでいるもの
を使用することができる。すなわち、導電粒子を含むシ
ール材を用いるときには、第１の透明基板側と第２の透
明基板側との間で不要な電気的接続を避けるために、シ
ール材の形成領域に前記配線パターンを極力形成しない
方がよい。しかるに本発明では、前記配線パターンが占
有する面積を狭めてあるので、この配線パターンが形成
されている領域を避けるようにしてそこより基板外周側
にシール材を形成する領域を確保することができる。こ
のような領域にシール材を形成するのであれば、シール
材の形成領域に配線パターンを形成しなくて済むか、あ
るいはシール材の形成領域を通る配線パターンを必要最
小限に止めることができる。

【００１４】本発明において、更に、前記液晶封入領域
内で前記第１の検査領域から外れた位置に複数の第４の
電極が形成される場合がある。この場合には、前記複数
の第４の電極の各々から延設された第２の検査用電極を
前記第２の検査領域内に前記第３の電極と並列に前記第
２の検査間隔で形成することが好ましい。このように構
成すれば、第２の検査領域で第３の電極について短絡の
有無を検査するときに、第４の電極についても短絡の有
無を検査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第４
の電極用に設ける必要がなく、かつ、第４の電極だけの
検査を行う必要がない。

【００１５】本発明において、前記第１の検査用電極
は、前記第１の検査領域内に前記第１の電極と並列に第
１の検査間隔で形成してもよい。このように構成すれ
ば、第１の検査領域で第１の電極について短絡の有無を
検査するときに、第２の電極についても短絡の有無を検
査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第２の電極
用に設ける必要がなく、かつ、第２の電極だけの検査を
行う必要がない。

【００１６】本発明において、前記検査間隔は、検査箇
所となる電極のうち隣接する電極の１つずつに接触して
当該隣接する電極間の導通の有無を検査する複数の検査
プローブの間隔に相当する。

【００１７】すなわち、本発明において、「検査領域」
とは、例えば検査箇所である複数の電極に対して２本の
検査プローブを走査移動させる場合にはその走査移動領
域のことを意味し、多数の検査プローブを一定の間隔で
並べた検査装置を用いる場合には、これらの検査プロ−
ブが配列される領域のことを意味する。また、本発明に
おいて、「検査間隔」とは、２本の検査プローブを用い
る場合にはこれらの検査プローブの間隔に相当し、多数
の検査プローブを用いる場合には個々の検査プローブの
間隔に相当する。但し、前記の複数の検査プローブは斜
めに配置される場合があり、この場合の「検査間隔」
は、電極を直角に横切る方向における検査プローブのず
れ量に相当する。

【００１８】このように構成した液晶表示パネルに対し
ては、以下の方法で検査を行うことができる。すなわ
ち、前記検査プローブと該検査プローブによって検査す
べき前記透明基板とを相対的に移動させることにより、
前記の各検査プローブを前記の検査領域上で検査箇所と
なる前記の各電極を横切る方向に走査していく。その結
果、前記の各検査プローブが当該各電極のうち隣接する
電極の１つずつに順次接触していく。従って、その間に
検査プローブ同士が導通するか否かを監視すれば、その
監視結果に基づいて、検査対象である電極間に短絡があ
るか否かを検査することができ、その自動化も容易であ
る。

【００１９】

【発明の実施の形態】図１は、本発明に係る液晶表示パ
ネルの外観を示す斜視図であり、図２は、その分解斜視
図である。

【００２０】これらの図において、液晶表示パネル１０
は、例えば透明なガラスによって形成された第１の透明
基板１と、同じく透明なガラスによって形成された第２
の透明基板２とを有している。これらの透明基板１、２
の一方にはシール材３が印刷等によって形成され、その
シール材３を間に挟んで第１透明基板１と第２透明基板
２とが接着される。そして、第１透明基板１と第２透明
基板２との間に形成される間隙（セルギャップ）のう
ち、シール材３で区画形成された液晶封入領域４０の内
側に液晶４１が封入される。

【００２１】第１透明基板１の外側表面には偏光板４ａ
が粘着剤等によって粘着される。一方、第２透明基板２
の外側表面にも偏光板４ｂが粘着剤等によって粘着され
る。ここにいう粘着というのは、取り外しができないよ
うに強固に接着するということではなく、比較的弱い力
で容易に剥がすことができる程度に貼り付けることを意
味している。

【００２２】ここで、第２の透明基板２は第１の透明基
板１よりも大きいので、第２の透明基板２に第１の透明
基板１を重ねた状態において、第２の透明基板２は、そ
の一部が第１の透明基板１の下端縁より張り出す。この
張出し部にはＩＣ装着位置９が形成されており、ここに
液晶駆動用ＩＣ１３が接着される。この接着は、例えば
ＡＣＦ（ Anisotropic conductive film：異方性導電
膜）を第２の透明基板２と液晶駆動用ＩＣ１３との間に
挟んだ上でそれらを加熱圧着することによって行われ
る。また、第２の透明基板２において、ＩＣ装着位置９
より下端側には入力端子１２が形成されており、これら
入力端子１２にはフレキシブル配線板（図示せず。）、
例えばヒートシールが接続される。

【００２３】図３及び図４は、それぞれ第１の透明基板
１及び第２の透明基板２に形成した透明電極の配置パタ
ーンを示す平面図である。

【００２４】図３に示すように、第１の透明基板１の内
側表面には、複数のストライプ状電極６ａと、特定の絵
柄として形成された特殊パターン電極６ｂとが形成され
ている。これらの電極６ａ、６ｂは、第１の透明基板１
の端部に形成した各端子８にそれぞれ配線接続されてい
る。これらの透明電極はいずれもＩＴＯ膜（Indium Tin
Oxide）などで形成される。

【００２５】図４に示すように、第２の透明基板２の内
側表面のうち、シール材３で区画形成された液晶封入領
域４０には、複数のストライプ状電極７ａと、これらの
ストライプ状電極７ａに接続する複数の特殊パターン電
極７ｂと、ストライプ状電極７ａから独立した特殊パタ
ーン電極７ｇ（第４の電極）が形成されている。これら
の電極のうち、ストライプ状電極７ａおよび特殊パター
ン電極７ｂ、７ｇは、ＩＣ装着位置９に形成された各端
子１１に配線接続されている。また、第２の透明基板２
の下端部では、入力端子１２からＩＣ装着位置９に向か
って配線が形成されている。さらに、第２の透明基板２
には、ＩＣ用端子１１につながる電極２１が所定の間隔
で形成されている。

【００２６】このように構成した第１透明基板１と第２
透明基板２とを、図１及び図５に示すように接着した状
態で、第１の透明基板１のストライプ状電極６ａと、第
２の透明基板２のストライプ状電極７ａとは交差し、各
交差点で１つの画素が形成される。また、第１の透明基
板１の特殊パターン電極６ｂと、第２の透明基板２の特
殊パターン電極７ｂ、７ｇとが重なり合って個々の特殊
パターンが形成される。

【００２７】また、第１透明基板１と第２透明基板２と
を接着した状態で、第１の透明基板１の各端子８と、第
２透明基板２の各電極２１とは、図６に模式的に示すよ
うに、対向する。従って、第１の透明基板１の内側表面
のうち図３に一点鎖線で示す領域、または第２透明基板
２の表面のうち図４に一点鎖線で示す領域にギャップ材
及び導電粒子を含むシール材３を塗布しておき、しかる
後に、第１の透明基板１と第２の透明基板２と張り合わ
せれば、図７に拡大して示すように、第１の透明基板１
の各端子８と、第２透明基板２の電極２１とは、シール
材３に含まれる導電粒子３１を介して導通することにな
る。ここで、導電粒子３１は、弾性変形可能なプラスチ
チックビーズの表面にめっきを施したもので、その粒径
は約６．６μｍである。これに対して、ギャップ材３２
の径は約５．６μｍである。それ故、第１の透明基板１
と第２の透明基板２と重ねた状態でその間隙を狭めるよ
うな力を加えながらシール材３を硬化させると、導電粒
子３１は、第１の透明基板１と第２の透明基板２の間で
押し潰された状態で第１の透明基板１の各端子８と第２
透明基板２の電極２１とを導通させる。この状態で、第
１の透明基板１と第２透明基板２との間隙はギャップ材
３２で規定されることになる。

【００２８】さらに、第１の透明基板１と第２の透明基
板２との間において、シール材３によって区画形成され
た液晶封入領域４０内には液晶４１が封入される。従っ
て、入力端子１２及びヒートシールを通して液晶駆動用
ＩＣ１３に液晶駆動用電力及び駆動信号が送られると、
液晶駆動用ＩＣ１３は、送られてきた駆動信号に基づい
て希望する適宜のストライプ状電極６ａ、７ａ、あるい
は特殊パターン電極６ｂ、７ｂ、７ｇに電圧を印加する
ことによって液晶４１の配向状態を制御し、液晶表示パ
ネル１０上に希望の像を表示する。

【００２９】このように構成された液晶表示パネル１０
において、正常な像を表示するためには、ストライプ状
電極６ａ、７ａ、並びに特殊パターン電極６ｂ、７ｂ、
７ｇを問わず、全ての電極が短絡状態にないことが要求
される。電極が短絡状態にあるか否かを検査するため、
本実施形態では液晶表示パネル１０の電極配線パターン
を以下のように構成している。なお、以下の説明では、
第２の透明基板２の上に形成された各透明電極に対して
検査を行う場合を考える。

【００３０】まず、図４において、液晶封入領域４０内
にはストライプ状電極７ａを直角に横切る位置に第１の
検査領域１４ａを設定し、それとは別に、液晶封入領域
４０から外れた位置に第２の検査領域１４ｂを設定す
る。第１の検査領域１４ａは、第１の検査間隔Ｄ１（第
１の検査領域１４ａに固有の検査間隔）をおいて並べら
れた２個の検査プローブ１６を第２の透明基板２に対し
て相対的に走査移動させたときの移動領域に相当する。
また、第２の検査領域１４ｂは、第２の検査間隔Ｄ２
（第２の検査領域１４ｂに固有の検査間隔）をおいて並
べられた２個の検査プローブ１７を第２の透明基板２に
対して相対的に走査移動させたときの移動領域に相当す
る。ここで、検査プローブ１６、１７は斜めに配置さ
れ、この場合の検査間隔Ｄ１、Ｄ２は、電極を直角に横
切る方向における検査プローブのずれ量に相当する。

【００３１】検査プローブ１６、１７は、検査対象の電
極よりも小さな面積又はほぼ等しい面積の先端接触部分
を有しており、さらに図示しない検査回路に接続され
る。これらの検査プローブは、その先端接触部分の所で
検査箇所である電極に接触し、それらの電極が持ってい
る電気的状態、例えばショートしているか否か等の状態
を電気信号の形で検査回路へ伝達する。この検査回路
は、少なくとも一対の検査プローブの間にショートが生
じているかどうか、すなわち所定量以上の電流が流れる
かどうかを検知できる回路を含んでいる。このような電
気回路は従来より広く知られており、また種々の回路構
成とすることができるので、詳しい説明は省略する。

【００３２】第１の検査領域１４ａでは、ストライプ状
電極７ａに属するほとんどのストライプ状電極７ｆ（第
１の電極）が、検査プローブ１６の第１の検査間隔Ｄ１
と同じ間隔、すなわち同じピッチで並んでいる。このた
め、２本の検査プローブ１６をストライプ状電極７ｆの
１つずつに順次当てていくだけで、検査プローブ１６同
士が導通するか否かに基づいてストライプ状電極７ｆの
全てについて短絡が有るか否かを検査することができ
る。

【００３３】しかし、図面に向かって左側の３個のスト
ライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅ（第２の電極）は間隔Ｄ
３で並んでおり、その間隔は第１の検査間隔Ｄ１と異な
っている。たとえば、ストライプ状電極７ｆの各間隔は
０．１５ｍｍないし０．３６ｍｍであるのに対して、ス
トライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの各間隔はかなり広
い。そこで、本形態では、これらのストライプ状電極７
ｃ、７ｄ、７ｅからは配線パターン１８ａが延びていて
それらの配線パターン１８ａの先端に第１の検査用電極
１９ａが形成されている。ここで、配線パターン１８ａ
の各間隔は、たとえば０．１ｍｍないし０．１２ｍｍで
ある。また、第１の検査用電極１９ａの各間隔は、たと
えば０．１８ｍｍないし０．３４ｍｍである。これらの
第１の検査用電極１９ａは、第１の検査領域１４ａとは
別の第２の検査領域１４ｂにおいて、検査プローブ１７
の第２の検査間隔Ｄ２で並んでいる。また、第２の検査
領域１４ｂの中には、ＩＣ用端子１１に電気的接続する
電極２１が検査プローブ１７の第２の検査間隔Ｄ２で並
んでおり、これらの電極２１の一部分が検査用電極とし
て利用される。しかも、第２の検査領域１４ｂにおい
て、第１の検査用電極１９ａと電極２１とは、同じ間隔
（検査プローブ１７の第２の検査間隔Ｄ２／同じピッ
チ）で並列に配置された状態にある。従って、第２の検
査間隔Ｄ２をもつ検査プローブ１７を第１の検査用電極
１９ａおよび電極２１の１つずつに順次当てていくだけ
で、検査プローブ１７同士が導通するか否かに基づいて
第１の検査用電極１９ａおよび電極２１の全てについて
短絡があるか否かを検査することができる。すなわち、
電極２１に短絡が有るか否かを検査しながら、ストライ
プ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅに短絡が有るか否かを同時に
検査することができる。それ故、検査工程を簡略化でき
るとともに、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの短絡
検査を行うための検査領域を別途、確保する必要がない
という利点がある。

【００３４】また、特殊パターン電極７ｇからも配線パ
ターン１８ｂが延びていてそれらの配線パターンの先端
に第２の検査用電極１９ｂが形成されている。これらの
第２の検査用電極１９ｂも第２の検査領域１４ｂの中に
おいて、第１の検査用電極１９ａおよび電極２１と並列
に配置され、かつ、第２の検査間隔Ｄ２で並んでいる。
従って、第２の検査間隔Ｄ２をもつ検査プローブ１７を
第１の検査用電極１９ａ、第２の検査用電極１９ｂ、お
よび電極２１の１つずつに順次当てていくだけで、電極
２１及びストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅに加えて、
特殊パターン電極７ｇについても短絡が有るか否かを検
査することができる。それ故、検査工程を簡略化できる
とともに、特殊パターン電極７ｇの短絡検査を行うため
の検査領域を別途、確保する必要がないという利点があ
る。

【００３５】このような検査工程は、第２の透明基板２
を多数取りするための大型のガラス基板上に各電極を形
成した以降、第２の透明基板２を切り出す前に行うと作
業効率がよい。また、第２の透明基板２に短絡等の欠陥
があったときには、レーザ光などを用いて短絡箇所を修
復することもできる。但し、以下の説明では、検査の方
法が分かりやすいように、大型のガラス基板から第２の
透明基板２を切り出した状態で検査を自動的に行う場合
を説明する。

【００３６】まず、検査プローブ１６、１７が設置され
ている検査ステージ上の所定位置に、検査対象である第
２の透明基板２をセットする。そして、検査プローブ１
６、１７を第２の透明基板２の各検査領域１４ａ、１４
ｂの端部に位置合わせし、しかる後に、検査プローブ１
６、１７を第２の透明基板２に対して移動させる。ある
いは、第２の透明基板２を検査プローブ１６、１７に対
して移動させる。その結果、各検査プローブ１６、１７
は、第２の透明基板２の表面で各検査領域１４ａ、１４
ｂに沿って走査することになる。

【００３７】この走査中に、ストライプ状電極７ｆ内の
いずれかの電極間で短絡が発生していれば、第１の検査
領域１４ａ内を移動する検査プローブ１６がその短絡の
原因である電極に到来したときにその短絡が検出され
る。また、ＩＣ端子１１につながる電極２１に短絡が発
生していれば、第２の検査領域１４ｂ内を移動する検査
プローブ１７がその短絡の原因である電極に到来したと
きにその短絡が検出される。

【００３８】但し、第１の検査領域１４ａにおいて、検
査プローブ１６が左端部のストライプ状電極７ｃ、７
ｄ、７ｅの所まで移動したとしても、その検査プローブ
１６ではそれらの電極間の検査を行うことはできない。
検査プローブ１６の検査間隔Ｄ１と、ストライプ状電極
７ｃ、７ｄ、７ｅの間隔（ピッチ）とが異なるからであ
る。また、特殊パターン電極７ｇについても検査を行う
ことができない。検査プローブ１６の検査間隔Ｄ１と、
配線パターン１８ｂの間隔（ピッチ）と異なるからであ
る。しかるに本形態では、これらのストライプ状電極７
ｃ、７ｄ、７ｅ、及び特殊パターン電極７ｇにつながる
第１および第２の検査用電極１９ａ、１９ｂが第２の検
査領域１４ｂまで延びていて、しかも第１および第２の
検査用電極１９ａ、１９ｂ間の間隔が第２の検査領域１
４ｂ固有の検査間隔、すなわち第２の検査プローブ１７
の検査間隔Ｄ２に一致している。従って、ストライプ状
電極７ｃ、７ｄ、７ｅの検査、及び特殊パターン電極７
ｇの検査は、第１の検査プローブ１６によって直接には
実行できないが、第２の検査プローブ１７によって行う
ことができる。それ故、本発明の液晶表示パネル１０及
び液晶表示パネル１０の検査方法によれば、検査対象の
電極の中にピッチの異なる電極が存在する場合でも、こ
れらの電極には所定の間隔で並列する検査用電極が電気
的に接続しているので、一定間隔で並べられた汎用の検
査プローブを用いて支障なく、かつ、自動的に検査を行
うことができる。

【００３９】また、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅ
と検査用電極１９ａとを電気的に接続する配線パターン
１８ａは、液晶表示パネル１０を製造し終えた後は、表
示動作に寄与しないものである。そこで、配線パターン
１８ａについては、シール材３の形成領域の内側領域に
間隔Ｄ２、Ｄ３のいずれよりも狭い間隔で、かつ、スト
ライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅより狭い線幅で基板外周
側に形成されている。従って、配線パターン１８ａが占
有する領域を可能な限り狭くし、かつ、表示動作に寄与
するストライプ状電極７ａの形成等を妨げないようにし
てある。また、配線パターン１８ａが占有する面積を狭
めた場合には、この配線パターン１８ａの外周側にシー
ル材３を形成する領域を確保できる。従って、シール材
３としては、第１の透明基板１の端子８と第２の透明基
板２の電極２１とを電気的に接続する導電粒子３１を含
んでいるものを使用することができる。すなわち、導電
粒子３１を含むシール材３を用いるときには、第１の透
明基板１の側と第２の透明基板２の側との間で不要な電
気的接続を避けるために、シール材３の形成領域に配線
パターンを極力形成しない方がよい。しかるに本形態で
は、配線パターン１８ａが占有する面積を狭めてあるの
で、この配線パターン１８ａが形成されている領域を避
けるようにしてそこより基板外周側にシール材３を形成
する領域を確保することができる。このような基板外周
側にシール材３を形成するのであれば、シール材３の形
成領域に配線パターン１８ａを形成しなくて済むか、あ
るいはシール材３の形成領域を通る配線パターン１８ａ
を必要最小限に止めることができる。

【００４０】［その他の実施の形態］図８は、別の実施
の形態に係る液晶表示パネルに用いた第２の透明基板の
平面図である。なお、図８に示す第２の透明基板は、基
本的な構成が図４に示した第２の透明基板と同一なの
で、共通する部分には同一の符号を付してそれらの詳細
な説明を省略する。

【００４１】上記形態では、第１の検査用電極１９ａ
は、第２の検査領域１４ｂ内に電極２１と並列に形成し
たが、図８に示すように、ストライプ状電極７ｃ、７
ｄ、７ｅ（第２の電極）に電気的接続する第１の検査用
電極１９ａを、第１の検査領域１４ａ内にストライプ状
電極７ｆ（第１の電極）と並列に形成してもよい。この
場合には、第１の検査用電極１９ａの間隔とストライプ
状電極７ｆの間隔とを等しくする。すなわち、第１の検
査用電極１９ａの間隔も、検査プローブ１６の第１の検
査間隔Ｄ１とする。このように構成すれば、第１の検査
領域１４ａでストライプ状電極７ｆについて短絡の有無
を検査するときに、ストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅ
についても短絡の有無を検査できる。それ故、本形態で
も、透明基板上にストライプ状電極７ｃ、７ｄ、７ｅの
検査領域を別途設ける必要がなく、かつ、ストライプ状
電極７ｃ、７ｄ、７ｅだけの検査を行う必要がない。つ
まり、全てのストライプ状電極７ａの検査領域を１個だ
けとすることができる。

【００４２】以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を
説明したが、本発明はその実施形態に限定されるもので
はなく、請求の範囲に記載した技術的範囲内で種々に改
変できる。

【００４３】例えば、図４に示す実施形態では、１つの
検査領域１４ａ、１４ｂにつきそれぞれ２本の検査プロ
ーブ１６、１７を用いたが、これに代えて、多数の検査
プローブを検査領域１４ａ、１４ｂに沿って一定の検査
間隔Ｄ１、Ｄ２で連続して並べることにより、多数の電
極を同時に検査することもできる。

【００４４】また、上記形態では、第２の透明基板２の
上に液晶駆動用ＩＣ１３を直接に搭載する形式のいわゆ
るＣＯＧ（ Chip On Glass）形式の液晶表示パネルに本
発明を適用したものであるが、それ以外の任意の形式の
液晶表示パネルに本発明が適用できることはもちろんで
ある。

【００４５】また、以上の説明では、図４に示す第２の
透明基板２上に形成したストライプ状電極７ｃ、７ｄ、
７ｅ、および特殊パターン電極７ｇに対して検査用電極
１９ａ、１９ｂを設けた場合を示したが、図３に示す第
１の透明基板１上に形成した電極に対しても、本発明を
適用してもよい。

【００４６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る液晶
表示パネルにおいて、第１及び第２の電極は、それぞれ
異なる間隔で形成されているため、第１の検査間隔に相
当する間隔で配置された検査プロ−ブでは第１の電極の
短絡を検査できても、第２の電極の短絡を直接、検査で
きないが、第２の電極から延設された第１の検査用電極
は、それが属する検査領域の検査間隔で並列している。
従って、第２の電極の間隔のままでは検査プロ−ブで短
絡の有無を検査できない場合でも、第１の検査用電極の
間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブをそのま
ま第１の検査用電極に当てていけば、第２の電極の短絡
も検査できる。従って、検査箇所となる電極の間隔に検
査プローブの間隔を調整し、そのまま当該電極の各々に
各検査プローブを１本ずつ当てていくだけで、検査プロ
ーブ同士が導通するか否かに基づいて第１及び第２の電
極の全てについて短絡があるか否かを検査することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明を適用した液晶表示パネルの斜視図で
ある。

【図２】 図１に示した液晶表示パネルの分解斜視図で
ある。

【図３】 図１に示す液晶表示パネルを構成する一方の
透明基板上の透明電極の配置パターンを示す平面図であ
る。

【図４】 図１に示す液晶表示パネルを構成する他方の
透明基板上の透明電極の配置パターンを示す平面図であ
る。

【図５】 図１に示す液晶表示パネルのＡ−Ａ′線に相
当する位置で切断したときの縦断面図である。

【図６】 図１に示す液晶表示パネルのＢ−Ｂ′線に相
当する位置で切断したときの縦断面図である。

【図７】 図１に示す液晶表示パネルのシール材の塗布
領域を拡大して示す縦断面図である。

【図８】 本発明の別の形態に係る液晶表示パネルに用
いた透明基板の平面図である。

【符号の説明】

１ 第１透明基板 ２ 第２透明基板 ３ シール材 ４ａ、４ｂ 偏光板 ５ 液晶表示パネル ６ａ ストライプ状電極 ６ｂ 特殊パターン電極 ７ａ ストライプ状電極 ７ｂ 特殊パターン電極 ７ｃ、７ｄ、７ｅ ストライプ状電極（第２の電極） ７ｆ ストライプ状電極（第１の電極） ７ｇ 特殊パターン電極（第４の電極） ８ 端子 ９ ＩＣ装着位置 １１ 端子 １２ 入力端子 １３ 液晶駆動用ＩＣ １４ａ 第１の検査領域 １４ｂ 第２の検査領域 １６、１７ 検査プローブ １８ａ、１８ｂ 配線パターン １９ａ 第１の検査用電極 １９ｂ 第２の検査用電極 ２１ 電極（第３の電極）

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】液晶パネルにおいて、 第１の間隔で形成された複数の第１電極と、 前記複数の第１電極と並んで配置されており、前記第１
   の間隔とは異なる間隔で形成された複数の第２電極と、 前記複数の第２電極の各々から延出された複数の第１の
   検査電極とを備えることを特徴とする液晶パネル。
2. 【請求項２】対向配置した第１及び第２の基板と、 前記第１及び第２基板の間隙内に液晶封入領域を区画形
   成するシール材とを具備することを特徴とする請求項１
   に記載の液晶表示パネル。
3. 【請求項３】請求項２に記載の液晶表示パネルにおい
   て、 前記第１及び第２の電極が前記液晶封入領域内に形成さ
   れていることを特徴とする液晶表示パネル。
4. 【請求項４】請求項２又は請求項３に記載の液晶表示パ
   ネルにおいて、 前記液晶封入領域外に第２の間隔で形成された第３の電
   極を更に備え、 第３の電極は前記第１の検査電極と並んで配置されてお
   り、 前記第２の間隔と前記第１の検査電極同士の間隔とが等
   しいことを特徴とする液晶表示パネル。
5. 【請求項５】請求項２乃至請求項４のいずれかに記載の
   液晶表示パネルにおいて、 前記第２の電極同士の間隔より狭い間隔で形成された配
   線パターンを有し、 前記第２の電極と前記第１の検査用電極とが前記配線パ
   ターンにより電気的に接続されていることを特徴とする
   液晶表示パネル。
6. 【請求項６】請求項５に記載の液晶表示パネルにおい
   て、 前記シール材は導電粒子を含むとともに、前記配線パタ
   ーンより外側に形成されていることを特徴とする液晶表
   示パネル。
7. 【請求項７】請求項４乃至請求項６のいずれかに記載の
   液晶表示パネルにおいて、 前記液晶封入領域内に形成された複数の第４の電極と、
   前記複数の第４の電極の各々から延設された第２の検査
   用電極とを有し、 前記第２の検査用電極は前記第３の電極と並んで配置さ
   れ、且つ前記第２の間隔で形成されてなることを特徴と
   する液晶表示パネル。
8. 【請求項８】請求項１乃至請求項７のいずれかに記載の
   液晶表示パネルにおいて、 前記第１の検査用電極は、前記第１の電極と並んで配置
   され、且つ前記第１の間隔で形成されていることを特徴
   とする液晶表示パネル。
9. 【請求項９】請求項１乃至請求項８のいずれかに記載の
   液晶表示パネルおいて、 前記検査間隔は、検査箇所となる電極のうち隣接する電
   極の１つずつに接触して当該隣接する電極間の導通の有
   無を検査する複数の検査プローブの間隔に相当すること
   を特徴とする液晶表示パネル。
10. 【請求項１０】請求項１乃至請求項９のいずれかに記載
    の電極パターン基板を検査する方法において、 検査プローブにより前記電極パターン基板を走査するこ
    とを特徴とする電極パターン基板の検査方法。
11. 【請求項１１】請求項１乃至請求項９のいずれかに記載
    の液晶表示パネルに対する液晶表示パネルの検査方法で
    あって、 検査プローブと該検査プローブによって検査すべき基板
    とを相対的に移動させることにより、前記の各検査プロ
    ーブを検査領域上で検査箇所となる各電極を横切る方向
    に走査していき、 前記各検査プローブが当該各電極のうち隣接する電極の
    １つずつに順次接触していく間に当該検査プローブ同士
    が導通するか否かに基づいて当該各電極間に短絡がある
    か否かを検査することを特徴とする液晶表示パネルの検
    査方法。
12. 【請求項１２】請求項１乃至請求項９のいずれかに記載
    の液晶表示パネルを製造する方法において、 請求項１０又は請求項１１に記載の液晶表示パネルの検
    査方法による検査工程を有することを特徴とする液晶表
    示パネルの製造方法。