JP3610976B2 - 液晶表示パネル及びその検査方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の電極が形成された一対の透明基板間に液晶を封入した液晶表示パネルに関するものである。また、本発明は、この液晶表示パネルにおいて透明基板上に形成した複数の電極間に短絡が有るか否かを検査する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
液晶表示パネルは、一般に、一対の透明基板をシール材によって間隙をおいて接着し、その間隙内に液晶を封入することによって製造される。そして、液晶表示パネルに対して液晶駆動用IC、バックライト、ケーシング等といった付帯機器が装着されることによって液晶表示装置が製造される。
【0003】
液晶表示パネルには、液晶に電圧を印加するための複数の透明電極がそれぞれの透明基板上に形成される。これらの透明電極は、ストライプ状、あるいは数字、文字、特定の絵柄等といった特殊パターン状に形成される。これらの透明電極は非常に微細な寸法に形成されるので、互いに接触して短絡不良を発生するおそれがある。それ故、液晶表示パネルを製造するに際しては、製造工程の前段階で、透明電極間に短絡が生じているかどうかを検査する必要がある。
【0004】
このような検査を行う際に、従来は、所定の間隔をおいて並べた2つの検査プローブを各透明電極に接触させていき、検査プローブ同士が導通したか否かに基づいて、透明電極同士が短絡しているか否かを検査する。通常は2つの検査プローブを、隣り合う2つの透明電極にそれぞれ当てながら前記の検査を行う。このような検査方法は、例えば特開昭61−194484号公報に開示されている。この公報には、一定間隔で並べられた検査用パターンに検査プローブを接触させてショート等の検査を行う方法が開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の検査方法はいずれも、検査用パターンの全てが、検査プローブの間隔に一致した間隔で並べられていることが前提であり、その間隔が変化する場合は考慮されていない。従って、検査用パターンの間隔が変化する場合にはその変化に対応して検査プローブ間の間隔もその都度調整しなければならない。しかし、検査プローブの間隔をその都度、調整することは、液晶表示パネルの生産性を著しく低下させるので、好ましくない。そこで、検査対象となる透明基板の検査用パターンに併せて特殊な形態に検査プローブを配置することが考えられる。しかし、このように構成したものはある特殊な検査用パターンには適用できるが、その他の電極パターンに対して用いることができないので、汎用性が著しく低いという問題点がある。
【0006】
一方、検査プローブを用いた検査方法としては、所定の検査間隔をおいて配置した2つの検査プローブを検査対象である複数の透明電極に対して走査させる方法がある。しかし、この検査方法も、検査用パターンの全てが検査プローブ間の間隔(検査間隔)で並んでいれば支障なく実行できるが、検査プローブの走査領域内(検査領域内)にその検査間隔と異なる間隔で並べられた検査用パターンが存在する場合には、2つの検査プローブをそれらの検査用パターンに同時に接触させることはできないので、このような検査用パターンに関しては検査を行うことができない。
【0007】
そこで、本発明の課題は、上記の問題点を解消するものであり、検査対象となる透明基板に形成されている電極の中に間隔の異なる電極が含まれている場合でも一定間隔に配置された汎用の検査プローブを用いて全ての電極について支障なく検査を行うことができる液晶表示パネル、及びその検査方法を提供することにある。
【0008】
上記の課題を解決するため、本発明においては、検査プローブを用いて検査を行うことができる液晶表示パネルであって、対向配置された第1の及び第2の透明基板と、当該第1の及び第2の透明基板の間隙内に液晶封入領域を区画形成するシール材と、前記液晶封入領域内に封入された液晶と、前記第2の透明基板上に第1の検査間隔で並んで配列された複数の第1の電極と、前記第1の検査間隔とは異なる間隔で、前記第2の透明基板上に前記第1の電極と並んで配列された複数の第2電極と、前記複数の第2の電極の各々から延設された複数の第1の検査用電極と、前記第2の透明基板上の前記液晶封入領域外に第2の検査間隔で並んで配列され、前記第1の透明基板上に配列された端子と電気的に接続する複数の第3の電極と、前記第3の電極を横切る方向に構成された第2の検査領域とを有し、前記複数の第3の電極は、前記第1の検査用電極と並んで配列されており、前記複数の第3の電極の間隔と前記複数の第1の検査用電極の間隔とが前記第2の検査間隔であることを特徴とする。また、前記複数の第3の電極は、前記第1の透明基板上に配列された端子と導電性のシール材を介して電気的に接続していることを特徴とする。また、上述の液晶表示パネルの検査方法であって、検査プローブと該検査プローブによって検査すべき基板とを相対的に移動させることにより、前記の各検査プローブを検査領域上で検査箇所となる各電極を横切る方向に走査していき、前記各検査プローブが当該各電極のうち隣接する電極の1つずつに順次接触していく間に当該検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて当該各電極間に短絡があるか否かを検査することを特徴とする。
【0009】
本発明において、第1及び第2の電極は、それぞれ異なる間隔で形成されているため、第1の検査間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブでは第1の電極の短絡を検査できても、第2の電極の短絡を直接、検査できない。しかるに本発明では、第2の電極から延設された第1の検査用電極は、それが属する検査領域の検査間隔で並列している。従って、第2の電極の間隔のままでは検査プロ−ブで短絡の有無を検査できない場合でも、第1の検査用電極の間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブをそのまま第1の検査用電極に当てていけば、第2の電極の短絡も検査できる。従って、検査箇所となる電極の間隔に検査プローブの間隔を調整し、そのまま当該電極の各々に各検査プローブを1本ずつ当てていくだけで、検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて第1及び第2の電極の全てについて短絡があるか否かを検査することができる。
【0010】
本発明において、前記第1の電極および前記第2の電極は、例えば前記液晶封入領域内に形成されている液晶用駆動用の電極である。
【0011】
本発明において、更に、前記液晶封入領域内から外れた位置に第2の検査間隔で並列に形成された複数の第3の電極と、該複数の第3の電極を横切る方向に構成された第2の検査領域とを有し、前記第1の検査用電極は、前記第2の検査領域内に前記複数の第3の電極と並列に前記第2の検査間隔で形成されていることが好ましい。このように構成すれば、第2の検査領域で第3の電極について短絡の有無を検査するときに、第2の電極についても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第2の電極用に設ける必要がなく、かつ、第2の電極だけの検査を行う必要がない。
【0012】
本発明において、前記第2の電極と前記第1の検査用電極とは、前記第2の電極より狭い線幅をもって前記第2の電極の形成間隔よりも狭い間隔で基板外周側に形成された配線パターンにより電気的に接続されていることが好ましい。このような配線パターンは、液晶表示パネルを製造し終えた後は、表示動作に寄与しないものである。そこで、これらの配線パターンを狭い間隔で、かつ狭い線幅で基板外周側に形成することにより、これらの配線パターンが占有する領域を可能な限り狭くし、かつ、表示動作に寄与する電極等の形成を妨げないようにすることが好ましい。
【0013】
このようにして、前記第2の電極と前記第1の検査用電極との間を電気的に接続する配線パターンが占有する面積を狭めた場合には、この配線パターンの外周側に前記シール材を形成する領域を確保できる。従って、前記シール材としては、前記第1の透明基板に形成されている電極と前記第2の透明基板に形成されている電極とを電気的に接続する導電粒子を含んでいるものを使用することができる。すなわち、導電粒子を含むシール材を用いるときには、第1の透明基板側と第2の透明基板側との間で不要な電気的接続を避けるために、シール材の形成領域に前記配線パターンを極力形成しない方がよい。しかるに本発明では、前記配線パターンが占有する面積を狭めてあるので、この配線パターンが形成されている領域を避けるようにしてそこより基板外周側にシール材を形成する領域を確保することができる。このような領域にシール材を形成するのであれば、シール材の形成領域に配線パターンを形成しなくて済むか、あるいはシール材の形成領域を通る配線パターンを必要最小限に止めることができる
【0014】
本発明において、更に、前記液晶封入領域内で前記第1の検査領域から外れた位置に複数の第4の電極が形成される場合がある。この場合には、前記複数の第4の電極の各々から延設された第2の検査用電極を前記第2の検査領域内に前記第3の電極と並列に前記第2の検査間隔で形成することが好ましい。このように構成すれば、第2の検査領域で第3の電極について短絡の有無を検査するときに、第4の電極についても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第4の電極用に設ける必要がなく、かつ、第4の電極だけの検査を行う必要がない。
【0015】
本発明において、前記第1の検査用電極は、前記第1の検査領域内に前記第1の電極と並列に第1の検査間隔で形成してもよい。このように構成すれば、第1の検査領域で第1の電極について短絡の有無を検査するときに、第2の電極についても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上に検査領域を第2の電極用に設ける必要がなく、かつ、第2の電極だけの検査を行う必要がない。
【0016】
本発明において、前記検査間隔は、検査箇所となる電極のうち隣接する電極の1つずつに接触して当該隣接する電極間の導通の有無を検査する複数の検査プローブの間隔に相当する。
【0017】
すなわち、本発明において、「検査領域」とは、例えば検査箇所である複数の電極に対して2本の検査プローブを走査移動させる場合にはその走査移動領域のことを意味し、多数の検査プローブを一定の間隔で並べた検査装置を用いる場合には、これらの検査プロ−ブが配列される領域のことを意味する。また、本発明において、「検査間隔」とは、2本の検査プローブを用いる場合にはこれらの検査プローブの間隔に相当し、多数の検査プローブを用いる場合には個々の検査プローブの間隔に相当する。但し、前記の複数の検査プローブは斜めに配置される場合があり、この場合の「検査間隔」は、電極を直角に横切る方向における検査プローブのずれ量に相当する。
【0018】
このように構成した液晶表示パネルに対しては、以下の方法で検査を行うことができる。すなわち、前記検査プローブと該検査プローブによって検査すべき前記透明基板とを相対的に移動させることにより、前記の各検査プローブを前記の検査領域上で検査箇所となる前記の各電極を横切る方向に走査していく。その結果、前記の各検査プローブが当該各電極のうち隣接する電極の1つずつに順次接触していく。従って、その間に検査プローブ同士が導通するか否かを監視すれば、その監視結果に基づいて、検査対象である電極間に短絡があるか否かを検査することができ、その自動化も容易である。
【0019】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明に係る液晶表示パネルの外観を示す斜視図であり、図2は、その分解斜視図である。
【0020】
これらの図において、液晶表示パネル10は、例えば透明なガラスによって形成された第1の透明基板1と、同じく透明なガラスによって形成された第2の透明基板2とを有している。これらの透明基板1、2の一方にはシール材3が印刷等によって形成され、そのシール材3を間に挟んで第1透明基板1と第2透明基板2とが接着される。そして、第1透明基板1と第2透明基板2との間に形成される間隙(セルギャップ)のうち、シール材3で区画形成された液晶封入領域40の内側に液晶41が封入される。
【0021】
第1透明基板1の外側表面には偏光板4aが粘着剤等によって粘着される。一方、第2透明基板2の外側表面にも偏光板4bが粘着剤等によって粘着される。ここにいう粘着というのは、取り外しができないように強固に接着するということではなく、比較的弱い力で容易に剥がすことができる程度に貼り付けることを意味している。
【0022】
ここで、第2の透明基板2は第1の透明基板1よりも大きいので、第2の透明基板2に第1の透明基板1を重ねた状態において、第2の透明基板2は、その一部が第1の透明基板1の下端縁より張り出す。この張出し部にはIC装着位置9が形成されており、ここに液晶駆動用IC13が接着される。この接着は、例えばACF( Anisotropic conductive film:異方性導電膜)を第2の透明基板2と液晶駆動用IC13との間に挟んだ上でそれらを加熱圧着することによって行われる。また、第2の透明基板2において、IC装着位置9より下端側には入力端子12が形成されており、これら入力端子12にはフレキシブル配線板(図示せず。)、例えばヒートシールが接続される。
【0023】
図3及び図4は、それぞれ第1の透明基板1及び第2の透明基板2に形成した透明電極の配置パターンを示す平面図である。
【0024】
図3に示すように、第1の透明基板1の内側表面には、複数のストライプ状電極6aと、特定の絵柄として形成された特殊パターン電極6bとが形成されている。これらの電極6a、6bは、第1の透明基板1の端部に形成した各端子8にそれぞれ配線接続されている。これらの透明電極はいずれもITO膜(Indium Tin Oxide)などで形成される。
【0025】
図4に示すように、第2の透明基板2の内側表面のうち、シール材3で区画形成された液晶封入領域40には、複数のストライプ状電極7aと、これらのストライプ状電極7aに接続する複数の特殊パターン電極7bと、ストライプ状電極7aから独立した特殊パターン電極7g(第4の電極)が形成されている。これらの電極のうち、ストライプ状電極7aおよび特殊パターン電極7b、7gは、IC装着位置9に形成された各端子11に配線接続されている。また、第2の透明基板2の下端部では、入力端子12からIC装着位置9に向かって配線が形成されている。さらに、第2の透明基板2には、IC用端子11につながる電極21が所定の間隔で形成されている。
【0026】
このように構成した第1透明基板1と第2透明基板2とを、図1及び図5に示すように接着した状態で、第1の透明基板1のストライプ状電極6aと、第2の透明基板2のストライプ状電極7aとは交差し、各交差点で1つの画素が形成される。また、第1の透明基板1の特殊パターン電極6bと、第2の透明基板2の特殊パターン電極7b、7gとが重なり合って個々の特殊パターンが形成される。
【0027】
また、第1透明基板1と第2透明基板2とを接着した状態で、第1の透明基板1の各端子8と、第2透明基板2の各電極21とは、図6に模式的に示すように、対向する。従って、第1の透明基板1の内側表面のうち図3に一点鎖線で示す領域、または第2透明基板2の表面のうち図4に一点鎖線で示す領域にギャップ材及び導電粒子を含むシール材3を塗布しておき、しかる後に、第1の透明基板1と第2の透明基板2と張り合わせれば、図7に拡大して示すように、第1の透明基板1の各端子8と、第2透明基板2の電極21とは、シール材3に含まれる導電粒子31を介して導通することになる。ここで、導電粒子31は、弾性変形可能なプラスチチックビーズの表面にめっきを施したもので、その粒径は約6.6μmである。これに対して、ギャップ材32の径は約5.6μmである。それ故、第1の透明基板1と第2の透明基板2と重ねた状態でその間隙を狭めるような力を加えながらシール材3を硬化させると、導電粒子31は、第1の透明基板1と第2の透明基板2の間で押し潰された状態で第1の透明基板1の各端子8と第2透明基板2の電極21とを導通させる。この状態で、第1の透明基板1と第2透明基板2との間隙はギャップ材32で規定されることになる。
【0028】
さらに、第1の透明基板1と第2の透明基板2との間において、シール材3によって区画形成された液晶封入領域40内には液晶41が封入される。従って、入力端子12及びヒートシールを通して液晶駆動用IC13に液晶駆動用電力及び駆動信号が送られると、液晶駆動用IC13は、送られてきた駆動信号に基づいて希望する適宜のストライプ状電極6a、7a、あるいは特殊パターン電極6b、7b、7gに電圧を印加することによって液晶41の配向状態を制御し、液晶表示パネル10上に希望の像を表示する。
【0029】
このように構成された液晶表示パネル10において、正常な像を表示するためには、ストライプ状電極6a、7a、並びに特殊パターン電極6b、7b、7gを問わず、全ての電極が短絡状態にないことが要求される。電極が短絡状態にあるか否かを検査するため、本実施形態では液晶表示パネル10の電極配線パターンを以下のように構成している。なお、以下の説明では、第2の透明基板2の上に形成された各透明電極に対して検査を行う場合を考える。
【0030】
まず、図4において、液晶封入領域40内にはストライプ状電極7aを直角に横切る位置に第1の検査領域14aを設定し、それとは別に、液晶封入領域40から外れた位置に第2の検査領域14bを設定する。第1の検査領域14aは、第1の検査間隔D1(第1の検査領域14aに固有の検査間隔)をおいて並べられた2個の検査プローブ16を第2の透明基板2に対して相対的に走査移動させたときの移動領域に相当する。また、第2の検査領域14bは、第2の検査間隔D2(第2の検査領域14bに固有の検査間隔)をおいて並べられた2個の検査プローブ17を第2の透明基板2に対して相対的に走査移動させたときの移動領域に相当する。ここで、検査プローブ16、17は斜めに配置され、この場合の検査間隔D1、D2は、電極を直角に横切る方向における検査プローブのずれ量に相当する。
【0031】
検査プローブ16、17は、検査対象の電極よりも小さな面積又はほぼ等しい面積の先端接触部分を有しており、さらに図示しない検査回路に接続される。これらの検査プローブは、その先端接触部分の所で検査箇所である電極に接触し、それらの電極が持っている電気的状態、例えばショートしているか否か等の状態を電気信号の形で検査回路へ伝達する。この検査回路は、少なくとも一対の検査プローブの間にショートが生じているかどうか、すなわち所定量以上の電流が流れるかどうかを検知できる回路を含んでいる。このような電気回路は従来より広く知られており、また種々の回路構成とすることができるので、詳しい説明は省略する。
【0032】
第1の検査領域14aでは、ストライプ状電極7aに属するほとんどのストライプ状電極7f(第1の電極)が、検査プローブ16の第1の検査間隔D1と同じ間隔、すなわち同じピッチで並んでいる。このため、2本の検査プローブ16をストライプ状電極7fの1つずつに順次当てていくだけで、検査プローブ16同士が導通するか否かに基づいてストライプ状電極7fの全てについて短絡が有るか否かを検査することができる。
【0033】
しかし、図面に向かって左側の3個のストライプ状電極7c、7d、7e(第2の電極)は間隔D3で並んでおり、その間隔は第1の検査間隔D1と異なっている。たとえば、ストライプ状電極7fの各間隔は0.15mmないし0.36mmであるのに対して、ストライプ状電極7c、7d、7eの各間隔はかなり広い。そこで、本形態では、これらのストライプ状電極7c、7d、7eからは配線パターン18aが延びていてそれらの配線パターン18aの先端に第1の検査用電極19aが形成されている。ここで、配線パターン18aの各間隔は、たとえば0.1mmないし0.12mmである。また、第1の検査用電極19aの各間隔は、たとえば0.18mmないし0.34mmである。これらの第1の検査用電極19aは、第1の検査領域14aとは別の第2の検査領域14bにおいて、検査プローブ17の第2の検査間隔D2で並んでいる。また、第2の検査領域14bの中には、IC用端子11に電気的接続する電極21が検査プローブ17の第2の検査間隔D2で並んでおり、これらの電極21の一部分が検査用電極として利用される。しかも、第2の検査領域14bにおいて、第1の検査用電極19aと電極21とは、同じ間隔(検査プローブ17の第2の検査間隔D2/同じピッチ)で並列に配置された状態にある。従って、第2の検査間隔D2をもつ検査プローブ17を第1の検査用電極19aおよび電極21の1つずつに順次当てていくだけで、検査プローブ17同士が導通するか否かに基づいて第1の検査用電極19aおよび電極21の全てについて短絡があるか否かを検査することができる。すなわち、電極21に短絡が有るか否かを検査しながら、ストライプ状電極7c、7d、7eに短絡が有るか否かを同時に検査することができる。それ故、検査工程を簡略化できるとともに、ストライプ状電極7c、7d、7eの短絡検査を行うための検査領域を別途、確保する必要がないという利点がある。
【0034】
また、特殊パターン電極7gからも配線パターン18bが延びていてそれらの配線パターンの先端に第2の検査用電極19bが形成されている。これらの第2の検査用電極19bも第2の検査領域14bの中において、第1の検査用電極19aおよび電極21と並列に配置され、かつ、第2の検査間隔D2で並んでいる。従って、第2の検査間隔D2をもつ検査プローブ17を第1の検査用電極19a、第2の検査用電極19b、および電極21の1つずつに順次当てていくだけで、電極21及びストライプ状電極7c、7d、7eに加えて、特殊パターン電極7gについても短絡が有るか否かを検査することができる。それ故、検査工程を簡略化できるとともに、特殊パターン電極7gの短絡検査を行うための検査領域を別途、確保する必要がないという利点がある。
【0035】
このような検査工程は、第2の透明基板2を多数取りするための大型のガラス基板上に各電極を形成した以降、第2の透明基板2を切り出す前に行うと作業効率がよい。また、第2の透明基板2に短絡等の欠陥があったときには、レーザ光などを用いて短絡箇所を修復することもできる。但し、以下の説明では、検査の方法が分かりやすいように、大型のガラス基板から第2の透明基板2を切り出した状態で検査を自動的に行う場合を説明する。
【0036】
まず、検査プローブ16、17が設置されている検査ステージ上の所定位置に、検査対象である第2の透明基板2をセットする。そして、検査プローブ16、17を第2の透明基板2の各検査領域14a、14bの端部に位置合わせし、しかる後に、検査プローブ16、17を第2の透明基板2に対して移動させる。あるいは、第2の透明基板2を検査プローブ16、17に対して移動させる。その結果、各検査プローブ16、17は、第2の透明基板2の表面で各検査領域14a、14bに沿って走査することになる。
【0037】
この走査中に、ストライプ状電極7f内のいずれかの電極間で短絡が発生していれば、第1の検査領域14a内を移動する検査プローブ16がその短絡の原因である電極に到来したときにその短絡が検出される。また、IC端子11につながる電極21に短絡が発生していれば、第2の検査領域14b内を移動する検査プローブ17がその短絡の原因である電極に到来したときにその短絡が検出される。
【0038】
但し、第1の検査領域14aにおいて、検査プローブ16が左端部のストライプ状電極7c、7d、7eの所まで移動したとしても、その検査プローブ16ではそれらの電極間の検査を行うことはできない。検査プローブ16の検査間隔D1と、ストライプ状電極7c、7d、7eの間隔(ピッチ)とが異なるからである。また、特殊パターン電極7gについても検査を行うことができない。検査プローブ16の検査間隔D1と、配線パターン18bの間隔(ピッチ)と異なるからである。しかるに本形態では、これらのストライプ状電極7c、7d、7e、及び特殊パターン電極7gにつながる第1および第2の検査用電極19a、19bが第2の検査領域14bまで延びていて、しかも第1および第2の検査用電極19a、19b間の間隔が第2の検査領域14b固有の検査間隔、すなわち第2の検査プローブ17の検査間隔D2に一致している。従って、ストライプ状電極7c、7d、7eの検査、及び特殊パターン電極7gの検査は、第1の検査プローブ16によって直接には実行できないが、第2の検査プローブ17によって行うことができる。それ故、本発明の液晶表示パネル10及び液晶表示パネル10の検査方法によれば、検査対象の電極の中にピッチの異なる電極が存在する場合でも、これらの電極には所定の間隔で並列する検査用電極が電気的に接続しているので、一定間隔で並べられた汎用の検査プローブを用いて支障なく、かつ、自動的に検査を行うことができる。
【0039】
また、ストライプ状電極7c、7d、7eと検査用電極19aとを電気的に接続する配線パターン18aは、液晶表示パネル10を製造し終えた後は、表示動作に寄与しないものである。そこで、配線パターン18aについては、シール材3の形成領域の内側領域に間隔D2、D3のいずれよりも狭い間隔で、かつ、ストライプ状電極7c、7d、7eより狭い線幅で基板外周側に形成されている。従って、配線パターン18aが占有する領域を可能な限り狭くし、かつ、表示動作に寄与するストライプ状電極7aの形成等を妨げないようにしてある。また、配線パターン18aが占有する面積を狭めた場合には、この配線パターン18aの外周側にシール材3を形成する領域を確保できる。従って、シール材3としては、第1の透明基板1の端子8と第2の透明基板2の電極21とを電気的に接続する導電粒子31を含んでいるものを使用することができる。すなわち、導電粒子31を含むシール材3を用いるときには、第1の透明基板1の側と第2の透明基板2の側との間で不要な電気的接続を避けるために、シール材3の形成領域に配線パターンを極力形成しない方がよい。しかるに本形態では、配線パターン18aが占有する面積を狭めてあるので、この配線パターン18aが形成されている領域を避けるようにしてそこより基板外周側にシール材3を形成する領域を確保することができる。このような基板外周側にシール材3を形成するのであれば、シール材3の形成領域に配線パターン18aを形成しなくて済むか、あるいはシール材3の形成領域を通る配線パターン18aを必要最小限に止めることができる。
【0040】
図8は、液晶表示パネルに用いた第2の透明基板の平面図である。なお、図8に示す第2の透明基板は、基本的な構成が図4に示した第2の透明基板と同一なので、共通する部分には同一の符号を付してそれらの詳細な説明を省略する。
【0041】
上記形態では、第1の検査用電極19aは、第2の検査領域14b内に電極21と並列に形成したが、図8に示すように、ストライプ状電極7c、7d、7e(第2の電極)に電気的接続する第1の検査用電極19aを、第1の検査領域14a内にストライプ状電極7f(第1の電極)と並列に形成してもよい。この場合には、第1の検査用電極19aの間隔とストライプ状電極7fの間隔とを等しくする。すなわち、第1の検査用電極19aの間隔も、検査プローブ16の第1の検査間隔D1とする。このように構成すれば、第1の検査領域14aでストライプ状電極7fについて短絡の有無を検査するときに、ストライプ状電極7c、7d、7eについても短絡の有無を検査できる。それ故、透明基板上にストライプ状電極7c、7d、7eの検査領域を別途設ける必要がなく、かつ、ストライプ状電極7c、7d、7eだけの検査を行う必要がない。つまり、全てのストライプ状電極7aの検査領域を1個だけとすることができる。
【0042】
以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はその実施形態に限定されるものではなく、請求の範囲に記載した技術的範囲内で種々に改変できる。
【0043】
例えば、図4に示す実施形態では、1つの検査領域14a、14bにつきそれぞれ2本の検査プローブ16、17を用いたが、これに代えて、多数の検査プローブを検査領域14a、14bに沿って一定の検査間隔D1、D2で連続して並べることにより、多数の電極を同時に検査することもできる。
【0044】
また、上記形態では、第2の透明基板2の上に液晶駆動用IC13を直接に搭載する形式のいわゆるCOG( Chip On Glass)形式の液晶表示パネルに本発明を適用したものであるが、それ以外の任意の形式の液晶表示パネルに本発明が適用できることはもちろんである。
【0045】
また、以上の説明では、図4に示す第2の透明基板2上に形成したストライプ状電極7c、7d、7e、および特殊パターン電極7gに対して検査用電極19a、19bを設けた場合を示したが、図3に示す第1の透明基板1上に形成した電極に対しても、本発明を適用してもよい。
【0046】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る液晶表示パネルにおいて、第1及び第2の電極は、それぞれ異なる間隔で形成されているため、第1の検査間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブでは第1の電極の短絡を検査できても、第2の電極の短絡を直接、検査できないが、第2の電極から延設された第1の検査用電極は、それが属する検査領域の検査間隔で並列している。従って、第2の電極の間隔のままでは検査プロ−ブで短絡の有無を検査できない場合でも、第1の検査用電極の間隔に相当する間隔で配置された検査プロ−ブをそのまま第1の検査用電極に当てていけば、第2の電極の短絡も検査できる。従って、検査箇所となる電極の間隔に検査プローブの間隔を調整し、そのまま当該電極の各々に各検査プローブを1本ずつ当てていくだけで、検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて第1及び第2の電極の全てについて短絡があるか否かを検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した液晶表示パネルの斜視図である。
【図2】図1に示した液晶表示パネルの分解斜視図である。
【図3】図1に示す液晶表示パネルを構成する一方の透明基板上の透明電極の配置パターンを示す平面図である。
【図4】図1に示す液晶表示パネルを構成する他方の透明基板上の透明電極の配置パターンを示す平面図である。
【図5】図1に示す液晶表示パネルのA−A′線に相当する位置で切断したときの縦断面図である。
【図6】図1に示す液晶表示パネルのB−B′線に相当する位置で切断したときの縦断面図である。
【図7】図1に示す液晶表示パネルのシール材の塗布領域を拡大して示す縦断面図である。
【図8】液晶表示パネルに用いた透明基板の平面図である。
【符号の説明】
1 第1透明基板
2 第2透明基板
3 シール材
4a、4b 偏光板
5 液晶表示パネル
6a ストライプ状電極
6b 特殊パターン電極
7a ストライプ状電極
7b 特殊パターン電極
7c、7d、7e ストライプ状電極(第2の電極)
7f ストライプ状電極(第1の電極)
7g 特殊パターン電極(第4の電極)
8 端子
9 IC装着位置
11 端子
12 入力端子
13 液晶駆動用IC
14a 第1の検査領域
14b 第2の検査領域
16、17 検査プローブ
18a、18b 配線パターン
19a 第1の検査用電極
19b 第2の検査用電極
21 電極(第3の電極)
Claims (3)
- 検査プローブを用いて検査を行うことができる液晶表示パネルであって、
対向配置された第1の及び第2の透明基板と、
当該第1の及び第2の透明基板の間隙内に液晶封入領域を区画形成するシール材と、
前記液晶封入領域内に封入された液晶と、
前記第2の透明基板上に第1の検査間隔で並んで配列された複数の第1の電極と、
前記第1の検査間隔とは異なる間隔で、前記第2の透明基板上に前記第1の電極と並んで配列された複数の第2電極と、
前記複数の第2の電極の各々から延設された複数の第1の検査用電極と、
前記第2の透明基板上の前記液晶封入領域外に第2の検査間隔で並んで配列され、前記第1の透明基板上に配列された端子と電気的に接続する複数の第3の電極と、
前記第3の電極を横切る方向に構成された第2の検査領域とを有し、
前記複数の第3の電極は、前記第1の検査用電極と並んで配列されており、
前記複数の第3の電極の間隔と前記複数の第1の検査用電極の間隔とが前記第2の検査間隔であることを特徴とする液晶表示パネル。 - 前記複数の第3の電極は、前記第1の透明基板上に配列された端子と導電性のシール材を介して電気的に接続していることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示パネル。
- 請求項1又は請求項2に記載の液晶表示パネルの検査方法であって、
検査プローブと該検査プローブによって検査すべき基板とを相対的に移動させることにより、前記の各検査プローブを検査領域上で検査箇所となる各電極を横切る方向に走査していき、
前記各検査プローブが当該各電極のうち隣接する電極の1つずつに順次接触していく間に当該検査プローブ同士が導通するか否かに基づいて当該各電極間に短絡があるか否かを検査することを特徴とする液晶パネルの検査方法。
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