JP2005251930A - 実装構造体、検査方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】
２枚の基板の位置ずれ検査を容易にし、作業効率が向上した実装構造体、検査方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器を提供すること。
【解決手段】
第１基板６０と、対向する第１辺５２ａと第２辺５２ｂとを備え、前記第１基板６０上に前記第１辺５２ａ及び前記第２辺５２ｂが位置するように前記第１基板６０上に配置された第２基板５０とを備えた実装構造体であって、前記第１基板６０上に、少なくとも前記第１辺５２ａ及び前記第２辺５２ｂのいずれかの付近に設けられた前記第１基板６０と前記第２基板５０との位置ずれ量を検出するマーク６３を具備する。
【選択図】 図５

Description

本発明は、パーソナルコンピュータや携帯電話機などの電子機器に用いられる実装構造体、その実装構造体を用いた電気光学装置、その電気光学装置を用いた電子機器、その実装構造体の検査方法及びその電気光学装置の製造方法に関する。

電気光学装置、例えば液晶装置は、一対の基板間に液晶を封入した液晶パネルと、液晶パネルに対して信号を供給する回路基板と、回路基板と液晶パネルとを電気的に接続する第１フレキシブル配線基板と、外部回路及び回路基板と電気的に接続する第２フレキシブル配線基板を有している。第２フレキシブル配線基板の回路基板と接続する端部と反対の端部には外部回路と接続するためのコネクタが設けられており、第２フレキシブル配線基板のコネクタが設けられている端部は折り曲げられて組み込まれている。

この種の液晶装置を製造する際、回路基板とフレキシブル配線基板との接続は例えば次のように行われる。すなわち、回路基板を支持台上の所定位置に位置決めして載置し、接着層を間に挟んでフレキシブル配線基板をその回路基板上に載せる。そして、所定温度に加熱した押圧子によって重なり合った回路基板、接着層及びフレキシブル配線基板を所定圧力で押し付けることによって、接着層を介してフレキシブル配線基板と回路基板とを接続する。（例えば、特許文献１参照。）。

ここで、例えば回路基板とフレキシブル配線基板とがずれて接着されると、電気光学装置に組み込んだ際、回路基板とフレキシブル配線基板との接続部分に余計な負荷が生じていた。例えば、回路基板とフレキシブル配線基板とがずれて接着されると、本来あるべき位置にコネクタが位置しないため、コネクタと外部回路とを無理に接続することにより回路基板とフレキシブル配線基板との接着部分に余計な負荷が生じる。これにより、回路基板とフレキシブル配線基板との接続付近でフレキシブル配線基板が切れ、液晶装置の動作特性に影響を及ぼすことがあった。また、回路基板とフレキシブル配線基板とがずれて接着することにより、回路基板とフレキシブル配線基板との間での接続不良が生じるなどの問題があった。

そこで、従来では、回路基板とフレキシブル配線基板との加熱圧着後、回路基板とフレキシブル配線基板との位置ずれ検査を行っている。この位置ずれ検査は測長機を用いて行われ、位置ずれ量を測長機により測定し、その測定値が予め決められた数値範囲内にあるか否かにより良品か否かを判断していた。
特開平１０−１１２５８４号公報（段落[０００２]）

しかしながら、測長機を用いての検査は検査時間が長くなり、作業効率が非常に悪いという問題があった。

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたもので、２枚の基板の位置ずれ量検査を容易にし、作業効率が向上する実装構造体、検査方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の実装構造体は、第１基板と、対向する第１辺と第２辺とを備え、前記第１基板上に前記第１辺及び前記第２辺が位置するように前記第１基板上に配置された第２基板とを備えた実装構造体であって、前記第１基板上に、少なくとも前記第１辺及び前記第２辺のいずれかの付近に設けられた前記第１基板と前記第２基板との位置ずれ量を検出するマークを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１基板上に、少なくとも第１辺及び第２辺のいずれかの付近に位置ずれ量を検出するマークが設けられているので、第１基板と第２基板との位置ずれ検査時において、マークの見え方により２枚の基板の位置ずれ量を検出でき、その位置ずれ量が良品の範囲内にあるか否かを測長機を用いずに目視またはルーペにより容易に判断することができ、作業効率が良い。

また、前記マークは、前記第１辺及び前記第２辺のそれぞれの付近に設けられていることを特徴とする。

このような構成によれば、第１基板上に、第２基板を挟んで第１辺及び第２辺付近にそれぞれマークを設けても良い。

また、前記第１基板及び前記第２基板それぞれの、互いに対応する位置に位置合わせ用の基準穴が設けられていることを特徴とする。

このように、第１基板及び第２基板それぞれに基準穴を設けることにより、この基準穴により２枚の基板の位置合わせを行うことができる。基準穴の数が多いほど２枚の基板の位置合わせ精度は高くなるが、基板の設計上、設けることができる基準穴の数が制限される場合がある。このように基準穴の数を制限される場合、２枚の基板の位置ずれが起こりやすいため、本発明のように短時間で容易に位置ずれ検査を行える位置ずれを検出するマークを設けることは有効である。

また、前記マークは、前記基準穴に基づく回転方向の位置ずれを検出することを特徴とする。

このように、マークを基準穴に基づいた回転方向の位置ずれを検出するマークとすることができ、回転方向における位置ずれを測長機を用いずに目視またはルーペにより容易に判断することができる。 また、前記マークは、前記辺を挟む２つの島状をなすことを特徴とする。

このように、マークを、辺を挟んでその両側に１つづつ島状に形成することができる。そして、島状のマークと辺との位置関係を目視またはルーペにより観察することにより、第１基板と第２基板との位置ずれ角をも含む位置ずれ量を検出することができ、更にその位置ずれ量が良品の範囲内にあるかどうかを検査することができる。例えば第１辺及び第２辺それぞれにマークを設ける場合、計４つの島状のマークからなる位置ずれ検査用マークが設けられる。そして、第１基板と第２基板との位置ずれ検査を行う際、第１基板と第２基板とを重ね合わせた状態で、例えば、第２基板を挟んでその両側にマークが確認でき、かつ４つの島状のマークのうち内側の２つの島状のマークと第２基板との間に間隙がないことを確認することにより、測長機を用いることなく、目視またはルーペにより良品と判断することができる。

また、前記マークは、前記辺側が階段形状を有していることを特徴とする。

このように階段形状のマークとすることにより、更に詳細なおよその位置ずれ量を把握することができ、マークに目盛り機能を待たせることができる。すなわち、例えば単なる矩形状のマークとする場合よりも、階段形状のマークとすることにより、より詳細な位置ずれ量を把握することができる。

また、前記マークは、前記辺をまたぐことを特徴とする。

このように、マークを、辺をまたいだ形状に形成することができる。そして、島状のマークと辺との位置関係を目視またはルーペにより観察することにより、第１基板と第２基板との位置ずれ角をも含む位置ずれ量を検出することができ、またその位置ずれ量が良品の範囲内にあるかどうかを検査することができる。例えば第１辺及び第２辺それぞれにマークを設ける場合、計２つの島状のマークからなる位置ずれ検査用マークが設けられる。そして、例えば第１基板と第２基板との位置ずれ検査を行う際、第１基板と第２基板とを重ね合わせた状態で、第２基板を挟んでその両側に位置ずれ検査用マークが確認でき、かつ２つの島状のマークの内側の辺と第２基板との間に間隙がないことを確認することにより、目視またはルーペにより良品と判断することができる。

また、前記マークは、中央部から外側に向かって高さが高くなる階段形状を有している。

このように階段形状のマークとすることにより、更に詳細なおよその位置ずれ量を把握することができ、マークに目盛り機能を待たせることができる。

また、前記マークは目盛り形状を有することを特徴とする。

このようにマークに目盛り形状とすることにより、単に位置ずれが良品の範囲か否かという判断だけでなく、測長機を用いずに目視またはルーペにより、およその位置ずれ量を把握することができる。

また、前記第１基板の表面は緑色に着色され、前記マークは白色からなることを特徴とする。

このような構成によれば、マークの認識がしやすいので、位置ずれ検査の作業効率が良い。

本発明の検査方法は、第１基板と、対向する第１辺と第２辺とを備え、前記第１基板上に前記第１辺及び前記第２辺が位置するように前記第１基板上に配置された第２基板と、の位置ずれを検査する検査方法において、前記第１基板上に前記第２基板を重ね合わせる工程と、前記第１基板及び前記第２基板を重ね合わせた状態で、前記第１基板上に、少なくとも前記第１辺及び前記第２辺のいずれかの付近に設けられた前記第１基板と前記第２基板との位置ずれ量を検出するマークにより位置ずれ量を検査する工程とを有することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、少なくとも第１辺及び第２辺のいずれかの付近に位置ずれ量を検出するマークが設けられているので、第１基板と第２基板との位置ずれ検査時において、マークの見え方により２枚の基板の位置ずれ量を検出でき、その位置ずれ量が良品の範囲内にあるか否かを測長機を用いずに目視またはルーペにより容易に判断することができ、作業効率が良い。

また、前記第１基板は第１基準穴、前記第２基板は第２基準穴を備え、前記重ね合わせ工程において、前記第１基準穴と前記第２基準穴とが対応するように前記第１基板と前記第２基板とを重ね合わせることを特徴とする。

このように、第１基板及び第２基板それぞれに基準穴を設け、この基準穴により２枚の基板の位置合わせを行うことができる。基準穴の数が多いほど２枚の基板の位置合わせ精度は高くなるが、基板の設計上、設けることができる基準穴の数が制限される場合がある。このように基準穴の数を制限される場合、２枚の基板の位置ずれが起こりやすいため、本発明のように短時間で容易に位置ずれ検査を行える位置ずれ量を検出するマークを設けることは有効である。

本発明の電気光学装置の製造方法は、前記第１基板と、前記第２基板と、前記第１基板または前記第２基板に電気的に接続された電気光学パネルとを備えた電気光学装置の製造方法であって、前記第１基板と前記第２基板との位置ずれの検査を、上述に記載の検査方法を用いて行ったことを特徴とする。

本発明のこのような製造方法により製造された電気光学装置では、第１基板と第２基板との位置ずれ不良がないので、第１基板と第２基板との接続部分に負荷が生じにくい。従って、例えば外的衝撃を受けても、第１基板と第２基板との接続付近で第１基板または第２基板が切れることなく、接続不良が生じることがない。更に、位置ずれによる第１基板と第２基板との接続不良がない。従って、電気光学装置の動作特性不良を起こすことがなく、表示不良のない電気光学装置を得ることができる。

本発明の電気光学装置は、第１基板と、対向する第１辺と第２辺とを備え、前記第１基板上に前記第１辺及び前記第２辺が位置するように前記第１基板上に配置された第２基板と、前記第１基板または前記第２基板に電気的に接続された電気光学パネルとを備えた電気光学装置であって、前記第１基板上に、少なくとも前記第１辺及び前記第２辺のいずれかの付近に設けられた前記第１基板と前記第２基板との位置ずれ量を検出するマークを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１基板上に位置ずれ量を検出するマークを設けているので、このマークを用いて第１基板と第２基板との位置ずれ検査を容易に行うことができる。このような検査を行って製造された電気光学装置では、第１基板と第２基板との位置ずれ不良がないので、第１基板と第２基板との接続部分に負荷が生じにくい。従って、例えば外的衝撃を受けても、第１基板と第２基板との接続付近で第１基板または第２基板が切れることなく、接続不良が生じることがない。更に、位置ずれによる第１基板と第２基板との接続不良がない。従って、電気光学装置の動作特性不良を起こすことがなく、表示不良のない電気光学装置を得ることができる。

また、本発明の電子機器は、上述に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、表示特性の良い表示画面を有する電子機器を得ることができる。

以下、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。なお、以下実施形態を説明するにあたっては、電気光学装置として液晶装置を例にあげる。具体的には透過型のパッシブマトリックス方式の液晶装置、またその液晶装置を用いた電子機器について説明するがこれに限られるものではない。また、以下の図面においては各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。

（電気光学装置の構成及び実装構造体の構成）

図１は本発明の実施形態に係る電気光学装置としての液晶装置の概略断面図である。図２は、図１の液晶装置の第１フレキシブル配線基板を折り曲げずに伸ばした状態の概略斜視図であり、ここではバックライトの図示を省略している。図３は、液晶装置の一部を構成する回路基板の概略平面図である。図４は、図３の楕円Ａで囲んだ領域の拡大図である。図５は、実装構造体８５としての重なり合った第２フレキシブル配線基板と回路基板との位置関係を示す平面図である。図５では、第２フレキシブル配線基板と回路基板とが位置ずれなく最も最適な位置で接続された状態を示す。

図１及び図２に示すように、液晶装置１は、電気光学パネルとしての液晶パネル２と、液晶パネル２を挟み込むように設けられた一対の偏光板３０と、液晶パネル２に電気的に接続された第１フレキシブル配線基板９１と、第１フレキシブル配線基板９１に接続された第１基板としての回路基板６０と、回路基板６０と電気的に接続された第２基板としての第２フレキシブル配線基板５０と、液晶パネル２の一方の面に隣接して配置されたバックライト４０を具備している。

液晶パネル２は、シール材３１により接着された一対の基板２ａ及び２ｂを有している。一対の基板２ａ及び２ｂとシール材３１により囲まれた領域内には電気光学材料例えばＳＴＮ（Ｓｕｐｅｒ Ｔｗｉｓｔｅｄ Ｎｅｍａｔｉｃ）液晶３２が封入されている。

基板２ａは、基材１０と、この基材１０の液晶側表面上にストライプ状に形成されたセグメント電極配線１１と、このセグメント電極配線１１を覆って順次形成されたオーバーコート層１２及び配向膜１３とを有している。

一方、基板２ｂは、基材２０と、この基材２０の液晶側表面上にセグメント電極配線１１と交差してストライプ状に形成されたコモン電極配線２２と、このコモン電極配線２２を覆って順次形成されたオーバーコート層１２及び配向膜１３とを有している。更に、基板２ｂは、基板２ａよりも張り出した張り出し部に実装された駆動用ＩＣ３３と、駆動用ＩＣ３３及び第１フレキシブル配線基板９１と電気的に接続する外部接続用端子２３と、コモン電極配線２２が延在してなるコモン接続用端子２２ａと、セグメント電極配線１１と電気的に接続するセグメント接続用端子１１ａとを有している。駆動用ＩＣ３３には、回路基板６０から第１フレキシブル配線基板９１に設けられた配線（図示せず）及び外部接続用端子２３を介して、表示画像に係る各種の信号が供給される。そして、駆動用ＩＣ３３からは、駆動用ＩＣ３３に電気的に接続されたコモン接続用端子２２ａ及びセグメント接続用端子１１ａを介して、コモン電極配線２２及びセグメント電極配線１１に対して駆動信号が供給される。

ここで、基材１０及び２０は、例えばガラスや合成樹脂といった光透過性材料から形成された板状部材である。セグメント電極１１及びコモン電極２２はＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍｕ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅ）等の透明導電材料で形成されており、これらのセグメント電極１１及びコモン電極２２が交差する所が像を表示する画素となる。また、オーバーコート層１２は例えば酸化ケイ素、酸化チタンまたはこれらの混合物により形成され、配向膜１３は例えばポリイミド系樹脂により形成される。

第１フレキシブル配線基板９１は、その一端部が液晶パネル２の外部接続端子２３と電気的に接続し、他端部が回路基板６０に電気的に接続している。

第２基板としての第２フレキシブル配線基板５０は、回路基板６０よりも幅が狭い形状をしており、その一端部５０ａには、図示しない外部回路と電気的な接続をとるためのコネクタ９０が設けられ、他端部５０ｂは回路基板６０と電気的に接続している。図１に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の一端部５０ａは折り曲げられている。外部接続端子２３と第１フレキシブル配線基板９１、第１フレキシブル配線基板９１と回路基板６０、回路基板６０と第２フレキシブル配線基板５０は、それぞれＡＣＦ（Ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ Ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ Ｆｉｌｍ：異方性導電フィルム）７１、７２及び７０により導電接着されている。図１に示すように、液晶装置１の状態では、第１フレキシブル配線基板９１は、その一部が折り曲げられ、回路基板６０及び第２フレキシブル配線基板５０はバックライト４０側に位置するように配置される。図２に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の一端部５０ａ及び他端部５０ｂは、第２フレキシブル配線基板５０の中央部５０ｃの幅よりも広い幅を有している。第２フレキシブル配線基板５０は、その中央部５０ｃにおいて対向する第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂを有しており、本実施形態においては第１辺５２ａと第２辺５２ｂは、ほぼ平行な関係にある。第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂは、回路基板６０と第２フレキシブル配線基板５０とを重ね合わせた時に、回路基板６０の表面上に位置する。第２フレキシブル配線基板５０の他端部５０ｂには、２つの位置合わせ用の第２基準穴５１が設けられている。第２フレキシブル配線基板５０は、可撓性を有するポリイミドフィルムなどからなるベース基材と、このベース基材上に形成された銅などからなる配線（図示せず）と、この配線に電気的に接続する一端部５０ａ及び５０ｂに形成された接続用端子（図示せず）とを有する。端部５０ａ及び５０ｂに形成される接続用端子は、それぞれコネクタ９０及び回路基板６０と電気的に接続される。

図３に示すように、第１基板としての回路基板６０には、２つの位置合わせ用の第１基準穴６１と、位置ずれ量を検出するマークとしての位置ずれ検査用マーク６３と、ランド６６などが設けられている。

第１基準穴６１は、第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とを重ね合わせたときに、上述した第２フレキシブル配線基板５０に設けられた第２基準穴５１と対応する位置に設けられている。ランド６６は、第２フレキシブル配線基板５０の接続端子と、ＡＣＦ貼り付け領域６２に貼り付けられるＡＣＦ７０を介して導電接続される箇所である。

図３から図５に示すように、位置ずれ検査用マーク６３は、第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂとを有する。図５に示すように、第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とを重ね合わせた際、位置ずれ検査用マーク６３は、少なくともその一部が第２フレキシブル配線基板５０を挟んでその両側、すなわち第１辺５２ａ付近及び第２辺付近５２ｂにそれぞれ位置するように設けられる。ここでは、第１辺５２ａ付近に位置する位置ずれ検査用マークを第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａ、第２辺５２ｂ付近に位置する位置ずれ検査用マークを第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂと称している。

第１辺５２ａ付近に位置する第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａは、第１辺５２ａを挟んでその両側に２つの島状のマーク、外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａ及び内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂを有している。外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａ及び内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂは、それぞれ第１辺５２ａに近い側が４段の階段形状を有し、第１辺５２ａに遠い側は直線形状を有している。階段を形成する段は全て矩形状を有しており、各段の高さ方向は、位置ずれなく最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とが重なり合って接続された場合の第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂと平行の関係にある。外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａ及び内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂの階段形状は、これらマーク間の中心部から外側に向かって段々と高さが高くなるように形成されている。ここでは、外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａと内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂとの間隙の中心部から外側に向かって順に、段を第１段目、第２段目、第３段目、第４段目と呼ぶ。外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａ及び内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂの階段の各段の高さは、外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａの第４段目の高さが最も高くなるように形成され、その他の段の高さはいずれも同じ高さとなるように形成されている。また、図４に示すように、例えば外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａと内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂとは、その間隙aが２ｍｍとなるように設計され、全ての階段の段幅ｂが１ｍｍとなるように設計されている。

一方、第２辺５２ｂ付近に位置する第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂにおいても、第２辺５２ｂを挟んで２つの島状のマーク、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａ及び内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂを有している。外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａ及び内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂはそれぞれ第２辺５２ｂに近い側が階段形状を有し、第２辺５２ｂに遠い側は直線形状を有している。階段を形成する段は全て矩形状を有しており、各段の高さ方向は、位置ずれなく最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とが重なり合って接続された場合の第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂと平行の関係にある。外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａ及び内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂの階段形状は、これらマーク間の中心部から外側に向かって段々と高さが高くなるように形成されている。ここでは、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａと内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂとの間隙の中心部から外側に向かって順に、階段を第１段目、第２段目、第３段目、第４段目と呼ぶ。外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａ及び内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂの各段の高さは、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａの第４段目の高さが最も高くなるように形成され、その他の段の高さはいずれも同じ高さとなるように形成されている。第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂにおいても、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａと内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂとはその間隙が２ｍｍとなるように設計され、全ての階段の幅が１ｍｍとなるように設計されている。すなわち、第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂとは、線対称形状をなしている。

第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂは、位置ずれなく最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とが重なり合って接続された場合に、図５に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２a及び第２辺５２ｂが、それぞれ外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａと内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂとの間隙の中心線、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Bａと内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Bｂとの間隙の中心線に沿って配置されるように、形成される。すなわち、回路基板６０上に第２フレキシブル配線基板５０が最適な状態で配置された場合、外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａと外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａのみが見えることとなる。

位置ずれ検査用マーク６３は、例えばランド６６形成と同時に形成することができる。これにより、別に位置ずれ検査用マークを形成する工程を設けることなく、製造効率が良い。また、回路基板６０表面に、部品の形状や回路固有の部品番号などがシルク印刷により印刷されている場合があるが、このシルク印刷を用いて位置ずれ検査用マークを形成することもできる。この場合、シルク印刷はたいてい白色で形成され、回路基板はその表面をたいてい緑色にコーティングされているため、位置ずれ検査用マークの認識がしやすい。このように、回路基板の表面色によって位置ずれ検査用マークの色を選別することによって、後述する位置ずれ検査用マークを用いた位置ずれ検査をより容易に行うことができる。

（電気光学装置の製造方法及び検査方法）

本実施形態では、上述のように回路基板６０に位置ずれ検査用マークを設けることによって、回路基板６０と第２フレキシブル配線基板５０との位置ずれ検査を容易に行うことができる。以下、この位置ずれ検査方法を含んだ上述に記載の電気光学装置としての液晶装置の製造方法について図６〜図１１を用いて説明する。

図６は、回路基板と第２フレキシブル配線基板との接続工程及び位置ずれ検査工程を説明するための製造工程図である。図６（ａ）において、左図は平面図、右図はこの平面図の線Ｂ−Ｂ´で切断した断面図である。図６（ｂ）において、左図は平面図、右図はこの平面図の線Ｃ−Ｃ´で切断した断面図である。図６（ｃ）において、左図は平面図、右図はこの平面図の線Ｄ−Ｄ´で切断した断面図である。図７〜図１０は、回路基板と第２フレキシブル配線基板との位置ずれ検査時の位置ずれ判断基準を説明するための位置ずれ検査用マーク付近の部分拡大平面図である。

まず、既知の方法により回路基板６０、第２フレキシブル配線基板５０、第１フレキシブル配線基板９１及び液晶パネル２とを用意する。次に、詳細については後述するが、第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とをＡＣＦ７０を介して加熱圧着して接続した後、位置ずれ検査を行う。その後、液晶パネル２と第１フレキシブル配線基板９１、第１フレキシブル配線基板９１と回路基板６０とを、それぞれＡＣＦ７１、７２を介して加熱圧着する。次に、液晶パネル２を挟み込むように一対の偏光板３０を配置し、更にバックライト４０を配置し、第１フレキシブル配線基板９１を折り曲げて回路基板６０及び第２フレキシブル配線基板５０が液晶パネル２のバックライト４０側に位置するように配置して、液晶装置１が完成する。尚、第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０との加熱圧着工程と、第１フレキシブル配線基板９１と液晶パネル２、及び第１フレキシブル配線基板９１と回路基板６０との加熱圧着工程を別工程で行っているが、同時に行うこともできる。

以下に、上述の第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０との加熱圧着工程及び位置ずれ検査工程の詳細について説明する。

図６（ａ）に示すように、２つの基準ピン８１を備えた支持台８０上に、基準ピン８１が回路基板６０の第１基準穴６１に貫通するように回路基板６０を載置する。

次に、図６（ｂ）に示すように、ＡＣＦ７０を回路基板６０のＡＣＦ貼り付け位置６２に貼り付ける。

次に、図６（ｃ）に示すように、ＡＣＦ７０を介して回路基板６０上に第２フレキシブル配線基板５０を載置する。第２フレキシブル配線基板５０に設けられた第２基準穴５１は、基準ピン８１によって貫通される。その後、ＡＣＦ７０が貼り付けられた領域を、押圧子（図示せず）によって第２フレキシブル配線基板５０側から所定圧力で押し付け、加熱することによって、回路基板６０と第２フレキシブル配線基板５０とをＡＣＦ７０を介して加熱圧着する。

次に、支持台８０に載置した状態で、回路基板６０上に形成された位置ずれ検査用マーク６３を用いて目視あるいはルーペを用いて位置ずれ検査を行う。本実施形態においては、回路基板６０と第２フレキシブル配線基板５０とを重ね合わせた時、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで両側、すなわち第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近それぞれに位置ずれ検査用マーク６３の少なくとも一部が位置し、かつ内側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂ及び６３Ｂｂと第２フレキシブル配線基板５０との間に間隙が生じていなければ、良品と判断した。以下、具体例をあげて説明する。

図７は、位置ずれなく最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とが重なり合って接続された場合の部分平面図である。

図７に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２a及び第２辺５２ｂが、それぞれ外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａと内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂとの間隙の中心線、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Bａと内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Bｂとの間隙の中心線に沿って、位置する。すなわち、回路基板６０上に第２フレキシブル配線基板５０が最適な状態で配置された場合、外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａと外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａのみが見えることとなる。図７に示すとおり、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近にそれぞれ位置ずれ検査用マーク６３の少なくとも一部が位置し、かつ内側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂ及び６３Ｂｂと第２フレキシブル配線基板５０との間に間隙が生じていないため、良品と判断される。

図８は、第２フレキシブル配線基板５０が図面上左側に位置ずれした状態で回路基板６０と重なり合って接続された場合の部分平面図である。

図８に示すように、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近にそれぞれ位置ずれ検査用マーク６３の少なくとも一部が位置し、かつ内側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂ及び６３Ｂｂと第２フレキシブル配線基板５０との間に間隙が生じていないため、良品と判断される。

図９は、第２フレキシブル配線基板５０が図面右側に位置ずれした状態で回路基板６０と重なり合って接続された場合の部分平面図である。

図９に示すように、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近にそれぞれ位置ずれ検査用マーク６３の少なくとも一部が位置し、かつ内側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂ及び６３Ｂｂと第２フレキシブル配線基板５０との間に間隙が生じていないため、良品と判断される。

本実施形態においては、位置ずれ検査用マーク６３の階段の段幅は全て１ｍｍと等間隔になっており、隣り合う内側位置ずれ検査用マークと外側位置ずれ検査用マークとの間隙は２ｍｍとなっている。このため、例えば図９において、位置ずれ検査用マークの底辺位置における、最適な配置位置とのｘ方向（位置ずれ検査用マーク６３の底辺方向）の位置ずれ量は約４ｍｍ程度と測長機を用いずに判断することができる。更に、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂがそれぞれ位置ずれ検査用マーク６３のどの部分に位置するかを見ることによって、最適な配置状態から第２フレキシブル配線基板５０がどれだけθずれしているかを判断することができる。言い換えると、第２基準穴５１に基づく回転方向の位置ずれ量を判断することができる。例えば、第２フレキシブル配線基板５０が、２つの第２基準穴５１のうち一方の第２基準穴５１の中心を基点として回転方向に位置ずれした場合、その第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ（または第２辺５２ｂ）と、最適な配置状態の第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ（または第２辺５２ｂ）とがなす角度（回転角）が、θずれ量となる。この場合、第１辺５２ａ側で測定されるθずれ量と、第２辺５２ｂ側で測定されるθずれ量は値が異なり、辺５２ａ及び５２ｂのうち、基点とした方の第２基準穴５１に最も遠い辺側で測定する方が、そのθずれ量が大きくなる。従って、第１辺５２ａ側及び第２辺５２ｂ側それぞれにおけるθずれ量が、両方とも予め決められた範囲内にあるかどうかを確認すればよい。このθずれ量のおよその値は、位置ずれ検査用マーク６３の底辺部及び上辺部それぞれと、第２フレキシブル配線基板５０の辺５２ａまたは５２ｂとが交差する位置から測定することができる。また、他の例をあげると、第２フレキシブル配線基板５０が、２つの第２基準穴５１それぞれの中心を結ぶ線の中心を基点として回転方向に位置ずれした場合、その第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ（または第２辺５２ｂ）と、最適な配置状態の第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ（または第２辺５２ｂ）とがなす角度が、θずれ量となる。この場合、本実施形態においては、第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂとは線対称形状となっており、その対称軸上に基点が位置するので、第１辺５２ａ側で測定されるθずれ量と、第２辺５２ｂ側で測定されるθずれ量は値が同じとなる。従って、第１辺５２ａ側及び第２辺５２ｂ側の少なくとも一方のθずれ量が予め決められた範囲内にあるかどうかを確認すればよい。そして、この場合においても、θずれ量のおよその値は、位置ずれ検査用マーク６３の底辺部及び上辺部それぞれと、第２フレキシブル配線基板５０の辺５２ａまたは５２ｂとが交差する位置から測定することができる。尚、実際には、第２フレキシブル配線基板５０がどこを基点にして回転しているかを判断することは困難なため、第１辺５２ａ側及び第２辺５２ｂ側それぞれのθずれ量が規定の範囲内にあるかどうかを確認すればよい。

このように本実施形態においては、位置ずれ検査用マーク６３を階段形状とすることにより、位置ずれ検査用マーク６３は、θずれも含む位置ずれ量を把握できる目盛り機能をも備えている。また、マークを階段状にすることにより、単にマークを矩形状とするよりも、より詳細な位置ずれ量を把握することができる。

図１０は、不良と判断される場合の部分平面図である。

図１０に示すように、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近にそれぞれ位置ずれ検査用マーク６３の少なくとも一部が位置しているが、内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂと第２フレキシブル配線基板５０との間に間隙６４が生じているため不良品と判断される。この際、回路基板６０の表面はたいていは緑色に着色されているため、第２フレキシブル配線基板５０と内側位置ずれ検査用マーク６３ｂとの間隙６４に回路基板の表面の緑色を確認すれば、容易に不良と判断することができる。また、位置ずれ検査用マーク６３を白色のシルク印刷で形成した場合、白色と緑色との色の識別のしやすさから位置ずれ検査がしやすい。

このように本実施形態においては、位置ずれ検査用マークを回路基板に設け、回路基板と第２フレキシブル配線基板とを重ね合わせたときの位置ずれ検査用マークの見え方により良品か否かを判断する。これにより測長機を用いずに目視やルーペなどを用いて容易にかつ正確に位置ずれ検査を行うことができ、作業効率が向上する。更に、位置ずれ検査用マークを階段状とすることにより、およその位置ずれ量を、測長機を用いることなく容易に測定することができる。

尚、位置ずれ検査用マーク６３は、ＡＣＦ貼り付け位置６２からなるべく離れた位置に設けることが望ましく、ＡＣＦ貼り付け位置６２と位置ずれ検査用マーク６３との距離を長くとるほど第２フレキシブル配線基板５０の位置ずれをより正確に検査することができる。

上述のような位置ずれ検査方法を経て良品と判断された回路基板６０及び第２フレキシブル配線基板５０が組み込まれた液晶装置１では、回路基板６０と第２フレキシブル配線基板５０との接続部分に負荷が生じにくく、第２フレキシブル配線基板５０が切れにくい。すなわち、本実施形態においては、コネクタ９０が所望の位置に位置するので、外部回路とコネクタ９０との接続に無理がなく、回路基板６０と第２フレキシブル配線基板５０との接続部分に負荷が生じにくく、第２フレキシブル配線基板５０が切れにくい。また、回路基板５０と第２フレキシブル配線基板６０との接続不良がなく、動作特性不良のない液晶装置を得ることができる。

（第１変形例）

上述の回路基板６０では、位置ずれ量を検出するマークとして階段形状のマークを使用したが、図１１に示すように、目盛り状の位置ずれ検査用マーク６５を用いることもできる。以下、図１１から図１４を用いて説明する。

図１１は、第１変形例としての回路基板１６０を示す概略平面図である。図１２は、図１１の楕円Ｅで囲まれた領域の拡大図である。図１３及び図１４は、回路基板と第２フレキシブル配線基板との位置ずれ検査時の位置ずれ判断基準を説明するための位置ずれ検査用マーク付近の部分拡大平面図である。図１３（ａ）は、最適な状態で回路基板と第２フレキシブル配線基板とが配置された時の状態を示す図である。図１３（ｂ）及び図１３（ｃ）はいずれも第２フレキシブル配線基板がずれて配置された時の状態であるが、良品と判断される例である。図１４は、不良品と判断される例である。尚、上述の実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。

図１１から図１３に示すように、第１変形例における位置ずれ検査用マーク６５は、第１辺側位置ずれ検査用マーク６５Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク６５Ｂとを有する。図１１〜図１３に示すように、第２フレキシブル配線基板５０と回路基板１６０とを重ね合わせた際、位置ずれ検査用マーク６５は、少なくとものその一部が、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第１辺５２ａ付近及び第２辺付近５２ｂにそれぞれ位置するように設けられている。ここでは、第１辺５２ａ付近に位置する位置ずれ検査用マーク６５を第１辺側位置ずれ検査用マーク６５Ａ、第２辺５２ｂ付近に位置する位置ずれ検査用マーク６５を第１辺側位置ずれ検査用マーク６５Ｂと称している。

図１２に示すように、第１辺側位置ずれ検査用マーク６５Ａ及び第２辺側位置ずれ検査用マーク６５Ｂは、いずれも目盛り形状を有しており、１本の横線に交差してｃの幅で等間隔に５本の縦線が形成された形状となっている。５本の縦線のうち中央部が最も長く、この中央部に位置する縦線から離れて位置するほど縦線の長さは短くなっている。

本実施形態においては、回路基板１６０と第２フレキシブル配線基板５０とを重ね合わせた時、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで両側、すなわち第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近それぞれに位置ずれ検査用マーク６５の少なくとも一部が位置すれば、良品と判断した。以下、具体例をあげて説明する。

図１３（ａ）は、位置ずれなく最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０と回路基板１６０とが重なり合って接続された場合の部分平面図である。図１３（ａ）に示すように、最適な配置状態では、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２a及び第２辺５２ｂが、それぞれ第１辺側位置ずれ検査用マーク６５Ａの中央部に位置する最も長い縦線、第２辺側位置ずれ検査用マーク６５Ｂの中央部に位置する最も長い縦線に沿って位置する。すなわち、回路基板１６０上に第２フレキシブル配線基板５０が最適な状態で配置された場合、第１辺側位置ずれ検査用マーク６５Ａの左半分と第２辺側位置ずれ検査用マーク６５Ｂの右半分のみが見えることとなる。図に示すとおり、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近にそれぞれ位置ずれ検査用マーク６５の少なくとも一部が位置するので、この場合良品と判断される。

図１３（ｂ）は、第２フレキシブル配線基板５０が図面上、左側に位置ずれした状態で回路基板１６０と重なり合って接続された場合の部分平面図である。図１３（ｂ）に示すように、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近それぞれに位置ずれ検査用マーク６５の少なくとも一部が位置するので、この場合も良品と判断される。

図１３（ｃ）は、第２フレキシブル配線基板５０が図面右側に位置ずれした状態で回路基板１６０と重なり合って接続された場合の部分平面図である。図１３（ｃ）に示すように、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近それぞれに位置ずれ検査用マーク６５の少なくとも一部が位置するので、この場合も良品と判断される。

本実施形態においては、位置ずれ検査用マーク６５の目盛り幅は全て等間隔になっている。仮に目盛り幅を１ｍｍとした場合、例えば図１３（ｂ）において、位置ずれ検査用マーク６５の横線位置における、第２フレキシブル配線基板５０の最適な配置位置との位置ずれ量は約２ｍｍ程度と測長機を用いずに判断することができる。このように本変形例においては、位置ずれ検査用マーク６５を目盛り状とすることにより、位置ずれ検査用マーク６５は、位置ずれ量を把握できる目盛り機能をも備える。

図１４は、不良と判断される場合の部分平面図である。図に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の第２辺５２ｂ付近に第２辺側位置ずれ検査用マーク６５Ｂを確認できるが、第１辺５２ａ付近には位置ずれ検査用マーク６５Aを確認することができない。この場合、不良品と判断される。

このように本変形例においても、位置ずれ検査用マークを回路基板に設けることにより、回路基板と第２フレキシブル配線基板とを重ね合わせたときの位置ずれ検査用マークの見え方により良品か否かを判断することができる。これにより測長機を用いずに目視やルーペなどを用いて容易にかつ正確に位置ずれ検査を行うことができ、作業効率が向上する。更に、位置ずれ検査用マークを目盛り状とすることにより、およその位置ずれ量を、測長機を用いることなく容易に測定することができる。

（第２変形例）

図１５は、第２変形例における位置ずれ量を検出するマークの拡大図である。

上述の第１変形例においては、回路基板６０上に形成される第１辺側位置ずれ検査用マーク６５Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク６５Ｂとは、それぞれ孤立したパターン形状であった。これに対し、図１５に示すように、第１辺側位置ずれ検査用マーク１６５Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク１６５Ｂのそれぞれの横線が連結して、横線を共有した形状の位置ずれ検査用マーク１６５とすることもできる。

（第３変形例）

図１６は、第３変形例における位置ずれ量を検出するマークと第２フレキシブル配線基板との位置関係を示す拡大図である。上述の実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その説明は省略する。

上述の実施形態においては、第２フレキシブル配線基板５０の対向する辺５２ａ及び５２ｂ付近それぞれに、２つの島状の階段形状の位置ずれ検査用マークを形成していた。これに対し、図１６に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の対向する第１辺５２ａ及び第２５２ｂ付近それぞれに、辺５２をまたいで１つの島状の矩形状の位置ずれ検査用マーク６７Ａ及び６７Ｂを設けても良い。

変形例３における位置ずれ量を検出するマークとしての位置ずれ検査用マーク６７は、第１辺側位置ずれ検査用マーク６７Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク６７Ｂとを有する。図１６に示すように、第２フレキシブル配線基板５０と回路基板とを重ね合わせた際、位置ずれ検査用マーク６７は、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで、第１辺５２ａ付近及び第２辺付近５２ｂにそれぞれ位置するように設けられている。ここでは、第１辺５２ａ付近に位置する位置ずれ検査用マーク６７を第１辺側位置ずれ検査用マーク６７Ａ、第２辺５２ｂ付近に位置する位置ずれ検査用マーク６７を第２辺側位置ずれ検査用マーク６７Ｂと称している。第１辺側位置ずれ検査用マーク６７Ａ及び第２辺側位置ずれ検査用マーク６７Ｂは、それぞれ同じ大きさの矩形状を有し、その長手方向は、最適な状態で第２フレキシブル配線基板と回路基板とを重ね合わせた時の第２フレキシブル配線基板５０の辺５２ａ及び５２ｂとほぼ平行に位置する。

本実施形態においては、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａが第１辺側位置ずれ検査用マーク６７Ａの上辺６７Ａａ及び底辺６７Ａｂの双方と交差し、かつ第２フレキシブル配線基板５０の第２辺５２ｂが第２辺側位置ずれ検査用マーク６７Ｂの上辺６７Ｂａ及び底辺６７Ｂｂの双方と交差した状態である場合を、良品と判断している。言い換えると、第２フレキシブル配線基板５０を挟んでその両側に位置ずれ検査用マーク６７が確認でき、かつ第１辺側位置ずれ検査用マーク６７Ａ及び第２辺側位置ずれ検査用マーク６７Ｂそれぞれの内側の辺６７Ａｃ及び６７Ｂｃと、第２フレキシブル配線基板５０との間に間隙がない場合を良品としている。これにより、測長機を用いずとも、目視あるいはルーペにより、θずれを含む位置ずれが許容範囲内にあるかどうかを検査することができる。尚、最適な状態で第２フレキシブル配線基板と回路基板とが重ね合わさった場合、図１６に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の辺５２ａ及び５２ｂは、第１辺側位置ずれ検査用マーク６７Ａ及び第２辺側位置ずれ検査用マーク６７Ｂそれぞれの中心線ｃと一致する。

（第４変形例）

図１７は、第４変形例における位置ずれ量を検出するマークと第２フレキシブル配線基板との位置関係を示す拡大図である。上述の実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その説明は省略する。

上述の実施形態においては、第２フレキシブル配線基板５０の対向する辺５２ａ及び５２ｂ付近それぞれに、２つの島状の階段形状の外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａ及び内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂ、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａ及び内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂを形成していた。これに対し、図１７に示すように、外側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａａと内側第１辺側位置ずれ検査用マーク６３Ａｂ、外側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂａと内側第２辺側位置ずれ検査用マーク６３Ｂｂとを、それぞれ連結させた形状としても良い。すなわち、第２フレキシブル配線基板５０の対向する第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂ付近それぞれに、辺５２をまたいで１つの島状の矩形状の位置ずれ検査用マーク１６３Ａ及び１６３Ｂを設けても良い。

変形例４における位置ずれ量を検出するマークとしての位置ずれ検査用マーク１６３は、第１辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ｂとを有する。図１７に示すように、第２フレキシブル配線基板５０と回路基板とを重ね合わせた際、位置ずれ検査用マーク１６３は、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで両側に、第１辺５２ａ付近及び第２辺付近５２ｂにそれぞれ位置するように設けられている。ここでは、第１辺５２ａ付近に位置する位置ずれ検査用マーク１６３を第１辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ａ、第２辺５２ｂ付近に位置する位置ずれ検査用マーク１６３を第２辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ｂと称している。

第１辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ａ及び第２辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ｂは、内側が階段形状を有し、外側が直線形状を有している。階段は、中央部から外側に向かって高さが高くなっていく階段形状となっており、中央部の段の段幅eは、その他の全ての段の段幅ｄの２倍となっている。階段の各段は、その高さ方向が、位置ずれなく最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０と回路基板６０とが重なり合って接続された場合の第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂと平行の関係にある。第１辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ａ及び第２辺側位置ずれ検査用マーク１６３Bの階段の高さは、最も外側に位置する段の高さが最も高くなるように形成され、その他の段の高さはいずれも同じ高さとなるように形成されている。第１辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ｂとは、線対称形状をなしている。

第１辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ａと第２辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ｂは、位置ずれなく最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０と回路基板とが重なり合って接続された場合に、図１７に示すように、第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２a及び第２辺５２ｂが、それぞれ第１辺側位置ずれ検査用マーク１６３Ａの中央部の段の中心線、第2辺側位置ずれ検査用マーク１６３Bの中央部の段の中心線に沿って位置するように、形成される。

本変形例においては、回路基板と第２フレキシブル配線基板５０とを重ね合わせた時、第２フレキシブル配線基板５０を挟んで両側、すなわち第２フレキシブル配線基板５０の第１辺５２ａ付近及び第２辺５２ｂ付近それぞれに位置ずれ検査用マーク１６３の少なくとも一部が位置し、かつ位置ずれ検査用マーク１６３Ａ及び１６３Ｂそれぞれの内側の辺１６３Ａａ及び１６３Ｂａと第２フレキシブル配線基板５０との間に間隙が生じていなければ、良品と判断した。

このように、本変形例においても、測長機を用いずとも、目視あるいはルーペにより、位置ずれが許容範囲内にあるかどうかを検査することができる。また、本変形例においても、位置ずれ検査用マークを階段形状とすることにより、測長機を用いずにおよその位置ずれ量を測定することができる。

（第５変形例）

上述の実施形態においては、第１辺５２ａ及び第２辺５２ｂそれぞれの付近に、位置ずれ検査用マーク６３Ａ及び６３Ｂを設けている。これに対し、図１８に示すように、一方の辺、例えば第１辺５２ａ付近にのみ位置ずれ検査用マーク６８を設けても良い。尚、上述の実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、詳細な説明は省略する。

図１８は、第５変形例における位置ずれ量を検出するマークと第２フレキシブル配線基板との位置関係を示す拡大図である。図１８では、最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０が配置された場合の状態を示す。

本変形例における位置ずれを検出するマークとしての位置ずれ検査用マーク６８は、第１辺５２ａをまたいで両側それぞれに配置された階段状の第１位置ずれ検査用マーク６８Ａと、階段状の第２位置ずれ検査用マーク６８Ｂとからなる。第１位置ずれ検査用マーク６８Ａと第２位置ずれ検査用マーク６８Ｂとは線対称の関係にあり、それぞれ内側が階段形状、外側が直線形状を有している。階段幅、階段高さそれぞれは、いずれの段においても同じ寸法となっており、第１位置ずれ検査用マーク６８Ａと第２位置ずれ検査用マーク６８Ｂとは、階段幅の２倍の幅の間隙をおいて位置する。最適な状態で第２フレキシブル配線基板５０が配置された場合、第１辺５２ａは、第１位置ずれ検査用マーク６８Ａと第２位置ずれ検査用マーク６８Ｂとの間隙の中心線に沿う。

本変形例においては、例えば、第２位置ずれ検査用マークの６８Ｂの第１辺５２ａから離れた側の直線状の辺６８Ｂａと第１辺５２ａとの間に間隙が生じず、かつ第１位置ずれ検査用マーク６８Ａａの第１辺５２ｂから離れた側の直線状の辺６８Ａａの全てが確認できれば、良品と判断する。また、本変形例においても、マークを階段状とすることにより、詳細な位置ずれ角をも含む位置ずれ量を把握することができる。

このように、第２フレキシブル配線基板５０の一方の辺をまたぐように島状の線対称のマークを設けてもよい。尚、本変形例では、階段状のマークとしたが、例えば矩形状のマークとすることができる。

以上、実装構造体として、フレキシブル配線基板と回路基板との積層体を例にあげて説明したがこれに限られるものでなく、重ね合わせた２枚の基板の位置ずれ検査に本発明を適用することが可能である。例えば液晶パネルとフレキシブル配線基板との位置ずれ検査に上述のような位置ずれ検査用マークを用いることが可能である。また、回路基板がフレキシブル配線基板よりもその幅が狭い形状であれば、フレキシブル配線基板上に位置ずれ検査用マークを設けて位置ずれ検査を行うことも可能である。

また、位置ずれを検出するマークは上述に記載した形状に限定されるものではない。

（電子機器）

次に、上述した液晶装置１を備えた電子機器について説明する。

図１９は本実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図である。

電子機器３００は、表示制御系として例えば図１９に示すように液晶パネル２及び表示制御回路３９０などを備え、その表示制御回路３９０は表示情報出力源３９１、表示情報処理回路３９２、電源回路３９３及びタイミングジェネレータ３９４などを有する。

また、液晶パネル２上は、その表示領域Ｇを駆動する駆動回路３６１を有する。

駆動回路３６１は上述した液晶装置１の駆動用ＩＣ３３に相当し、制御回路３９０は回路基板６０に相当する。

表示情報出力源３９１は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）などからなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスクなどからなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備えている。更に表示情報出力源３９１は、タイミングジェネレータ３９４によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号などの形で表示情報を表示情報処理回路３９２に供給するように構成されている。

また、表示情報処理回路３９２はシリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路などの周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号ＣＬＫと共に駆動回路３６１へ供給する。駆動回路３６１は、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路３９３は、上述した各構成要素に夫々所定の電圧を供給する。

具体的な電子機器としては、携帯電話機やパーソナルコンピュータなどの他に液晶装置が搭載されたタッチパネル、プロジェクタ、液晶テレビやビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、上述した例えば液晶装置１が適用可能なのは言うまでもない。

なお、本発明の電気光学装置及び電子機器は、上述した例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更を加え得ることは勿論である。

例えば、上述した電気光学装置はいずれも液晶パネルを有する液晶装置であるが、無機或は有機エレクトロルミネッセンス装置、プラズマディスプレイ装置、電気泳動ディスプレイ装置、電子放出素子を用いた装置（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｄｉｓｐｌａｙ及びＳｕｒｆａｃｅ‐Ｃｏｎｄｕｃｔｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ‐Ｅｍｉｔｔｅｒ Ｄｉｓｐｌａｙ等）などの各種電気光学装置であってもよい。

以上、好ましい実施形態を上げて本発明を説明したが、本発明は上述したいずれの実施形態にも限定されず、本発明の技術思想の範囲内で適宜変更して実施できる。

例えば、上述の実施形態ではパッシブマトリクス型の液晶装置について説明したがこれに限られるものではなく、例えば薄膜トランジスタ素子アクティブマトリクス型、薄膜ダイオード素子アクティブマトリクス型の液晶装置であってもよい。更には、半透過型に限らず反射型、透過型であってもよい。

実施形態に係る液晶装置の概略断面図。 図１に示す液晶装置の分解概略斜視図。 実施形態に係る回路基板の平面図。 図３の楕円Ａの拡大図。 回路基板と第２フレキシブル配線基板との位置関係を示す平面図。 回路基板と第２フレキシブル配線基板との接続工程を示す工程図。 第２フレキシブル配線基板と位置ずれ検査用マークの位置関係を示す図。 第２フレキシブル配線基板と位置ずれ検査用マークの位置関係を示す図。 第２フレキシブル配線基板と位置ずれ検査用マークの位置関係を示す図。 第２フレキシブル配線基板と位置ずれ検査用マークの位置関係を示す図。 第１変形例に係る回路基板の平面図。 図１１の楕円Ｅの拡大図。 第２フレキシブル配線基板と位置ずれ検査用マークの位置関係を示す図。 第２フレキシブル配線基板と位置ずれ検査用マークの位置関係を示す図。 第２変形例にかかわる位置ずれ検査用マークの平面図。 第３変形例にかかわる位置ずれ検査用マークの平面図。 第４変形例にかかわる位置ずれ検査用マークの平面図。 第５変形例にかかわる位置ずれ検査用マークの平面図。 実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図。

符号の説明

１ 液晶装置、 ２ 液晶パネル、 ５０ 第２フレキシブル配線基板、５１ 第２基準穴、 ５２ａ 第１辺、 ５２ｂ 第２辺、 ６０ 回路基板、 ６１ 第１基準穴、 ６３ 位置ずれ検査用マーク、 ６３Ａ 第１辺側位置ずれ検査用マーク、 ６３Ａａ 外側第１辺側位置ずれ検査用マーク、 ６３Ａｂ 内側第１辺側位置ずれ検査用マーク、 ６３Ｂ 第２辺側位置ずれ検査用マーク、 ６３Ｂａ 外側第２辺側位置ずれ検査用マーク、 ６３Ｂｂ 内側第２辺側位置ずれ検査用マーク、 ６５ 位置ずれ検査用マーク、 ６５Ａ 第１辺側位置ずれ検査用マーク、 ６５Ｂ 第２辺側位置ずれ検査用マーク、 ６７ 位置ずれ検査用マーク、 ６７Ａ 第１辺側位置ずれ検査用マーク、 ６７Ｂ 第２辺側位置ずれ検査用マーク、 ６８ 位置ずれ検査用マーク、 ６８Ａ 第１位置ずれ検査用マーク、 ６８Ｂ 第２位置ずれ検査用マーク、 ８５ 実装構造体、 １６３ 位置ずれ検査用マーク、 １６３Ａ 第１辺側位置ずれ検査用マーク、 １６３Ｂ 第２辺側位置ずれ検査用マーク、 １６５ 位置ずれ検査用マーク、 １６５Ａ 第１辺側位置ずれ検査用マーク、 １６５Ｂ 第２辺側位置ずれ検査用マーク、 ３００ 電子機器

Claims (14)

1. 第１基板と、
   対向する第１辺と第２辺とを備え、前記第１基板上に前記第１辺及び前記第２辺が位置するように前記第１基板上に配置された第２基板と
   を備えた実装構造体であって、
   前記第１基板上に、少なくとも前記第１辺及び前記第２辺のいずれかの付近に設けられた前記第１基板と前記第２基板との位置ずれ量を検出するマークを具備することを特徴とする実装構造体。
2. 前記マークは、前記第１辺及び前記第２辺のそれぞれの付近に設けられていることを特徴とする請求項１記載の実装構造体。
3. 前記第１基板及び前記第２基板それぞれの、互いに対応する位置に位置合わせ用の基準穴が設けられていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の実装構造体。
4. 前記マークは、前記基準穴に基づく回転方向の位置ずれを検出することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の実装構造体。
5. 前記マークは、前記辺を挟む２つの島状をなすことを特徴とする請求項１から請求項４いずれか一項に記載の実装構造体。
6. 前記マークは、前記辺側が階段形状を有していることを特徴とする請求項５記載の実装構造体。
7. 前記マークは、前記辺をまたぐことを特徴とする請求項１から請求項４いずれか一項に記載の実装構造体。
8. 前記マークは、中央部から外側に向かって高さが高くなる階段形状を有していることを特徴とする請求項７記載の実装構造体。
9. 前記マークは目盛り形状を有することを特徴とする請求項１から請求項４いずれか一項に記載の実装構造体。
10. 第１基板と、対向する第１辺と第２辺とを備え、前記第１基板上に前記第１辺及び前記第２辺が位置するように前記第１基板上に配置された第２基板と、の位置ずれを検査する検査方法において、
    前記第１基板上に前記第２基板を重ね合わせる工程と、
    前記第１基板及び前記第２基板を重ね合わせた状態で、前記第１基板上に、少なくとも前記第１辺及び前記第２辺のいずれかの付近に設けられた前記第１基板と前記第２基板との位置ずれ量を検出するマークにより位置ずれ量を検査する工程と
    を有することを特徴とする検査方法。
11. 前記第１基板は第１基準穴、前記第２基板は第２基準穴を備え、
    前記重ね合わせ工程において、前記第１基準穴と前記第２基準穴とが対応するように前記第１基板と前記第２基板とを重ね合わせることを特徴とする請求項１０記載の検査方法。
12. 前記第１基板と、前記第２基板と、前記第１基板または前記第２基板に電気的に接続された電気光学パネルとを備えた電気光学装置の製造方法であって、
    前記第１基板と前記第２基板との位置ずれの検査を、請求項１０または請求項１１記載の検査方法を用いて行ったことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
13. 第１基板と、
    対向する第１辺と第２辺とを備え、前記第１基板上に前記第１辺及び前記第２辺が位置するように前記第１基板上に配置された第２基板と、
    前記第１基板または前記第２基板に電気的に接続された電気光学パネルと
    を備えた電気光学装置であって、
    前記第１基板上に、少なくとも前記第１辺及び前記第２辺のいずれかの付近に設けられた前記第１基板と前記第２基板との位置ずれ量を検出するマークを具備することを特徴とする電気光学装置。
14. 請求項１３記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。

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