JP2006003741A - 液晶表示パネル - Google Patents

Abstract

【課題】 高価な検査装置を使用することなく、液晶駆動用ＩＣチップ搭載前の中間機能検査を容易にできるようにした液晶表示パネルを提供すること。
【解決手段】 液晶表示パネルの一対の基板のうち、一方の基板に液晶駆動用ＩＣチップを搭載するチップ搭載領域が設けられ、この搭載領域内に透明電極にそれぞれ接続された複数本の引出電極が導出され、この導出された引出電極に前記液晶駆動用ＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子が形成されたＣＯＧ型の液晶表示パネルにおいて、
前記複数本の引出電極は、前記バンプ用端子よりもさらに前記チップ搭載領域内に延出され、この引出電極の延長部端に検査用端子が設けられ、前記複数個のバンプ用端子及び検査用端子は、前記引出電極の長手方向と直交する方向において、互いに隣接する前記バンプ用端子及び検査用端子の位置がずらされてそれぞれ一列又は複数列に配列されているようにする。
【選択図】 図３

Description

本発明はチップ・オン・グラス（Chip On Glass、以下「ＣＯＧ」という。）型の液晶表示パネルに関し、詳しくは、液晶駆動用ＩＣ（Integrated Circuit）チップ搭載前に導電ラバーを用いて中間機能検査を容易にできるようにした液晶表示パネルに関する。

ＣＯＧ型液晶表示パネルは、複数本の透明電極が形成され周辺部がシール材で貼り合わされ間に液晶が封入された一対の基板のうち、一方の基板に液晶駆動用ＩＣチップを搭載するチップ搭載領域が設けられ、この搭載領域内にそれぞれ透明電極に接続された複数本の引出電極が導出され、これらの導出された引出電極に液晶駆動用ＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子が形成された構成を有している。

そして、この基板は、液晶駆動用ＩＣチップが搭載される前に、電極の断線、電極間の短絡等がないか、またそれぞれの電極に所定の電圧を印加したとき設計通りの表示がされるか等の中間機能検査が行なわれる。この検査は、一般に、複数の電極の先端部に接触ピンを接触させ、この接触ピンを通して各電極に電圧を印加することによって行われる。

このような検査法は、複数の電極の間隔が広い場合は何ら問題なく実行することができる。しかしながら、近年、携帯電話機等の液晶表示パネルは高精細化され、これに伴って、各電極間の間隔が極めて狭くなり、一方でチップ搭載領域に多数の引出電極が集結した回路設計となっている。このため、個々の電極に接触ピンを接触させることは、極めて困難な作業となっている。

この困難な作業を回避する方法として、複数個のバンプ用端子のうち、所定の端子を選択、例えば一つ置きのバンプ用端子を選択して接触ピンを接触させた検査が行なわれている。

しかし、この方法によっても、接触ピンの位置合わせに高度な精度が要求され、しかも作業効率が悪く、バンプ用端子数及びＩＣチップ数が多くなればそれに比例して作業時間も増大し、検査ミスも発生し易くなる。また、バンプ用端子に接触ピンを接触させるので、バンプ用端子が損傷する恐れがある。

そこで、このような不都合を解消するために、バンプ用端子とは別に、検査用の端子を設け、駆動用チップ搭載前の基板検査を容易にした液晶表示パネルが知られている。（例えば、特許文献１参照。）。

図４は、下記特許文献１に記載された液晶表示パネルの要部拡大平面図である。

この液晶表示パネル４０は、フロントガラス基板１と、この基板１より若干大きい面積を有するリアガラス基板２とを備え、各基板１、２が対向する部分は、周辺シール材３を介してそれらの間に液晶が封入されて表示領域が形成され、また、リアガラス基板２の張り出し部分には、液晶駆動用ＩＣチップ（図示省略）が搭載されるチップ搭載領域ＭＡが設けられ、このチップ搭載領域ＭＡ内に各引出電極４の端部が引き込まれた構成を有している。

それぞれの引出電極４ａ〜４ｉは、チップ搭載領域ＭＡ内に入ってからの所定の長さ部分がＩＣチップのバンプに接続されるバンプ接続部Ａとされている。各引出電極４ａ〜４ｉの各バンプ接続部Ａには、周辺シール材３とは反対側に延びる、すなわちチップ搭載領域ＭＡ内に向けて更に延びる延長部Ｂがそれぞれ連設されて、各延長部Ｂの終端部にバンプ接続部Ａの幅よりも幅広の四角形状の拡幅ランドＲがそれぞれ形成されている。

各延長部Ｂは、交互にその長さが異なっており、奇数番目の引出電極４ａ、４ｃ、４ｅ、４ｇ、４ｉの各延長部Ｂは短長、偶数番目の引出電極４ｂ、４ｄ、４ｆ、４ｈの各延長部Ｂは奇数番目の拡幅ランドＲを越える長さとなっている。

したがって、各引出電極４ａ〜４ｉの終端部に拡幅ランドＲが形成されると、ＩＣチップ４の搭載前にピンプローブ方式により検査を行なう場合、図４の黒丸で示されているように、その接触ピンを幅の広い拡幅ランドＲに接触させることができるので、従来のようにバンプ接続部Ａに接触ピンを接触させる場合に比べて厳密な位置合わせ精度が不要となり検査が容易になる。
特開２０００−１３７２３９号公報（図３、段落［００１７］〜［００２２］）

しかしながら上記特許文献１においては、それぞれのランドＲは、バンプ接続部Ａの幅より幅広に、たとえば四角形状の拡幅ランドを形成しなければならないので、ランド数が多くなるとチップ搭載領域内に収まらなくなる。近年の液晶表示パネルは、電極数が多く、しかも高い密度で配列されるので、このような拡幅ランドを多数個チップ搭載領域内に配設することはできない。

また、検査方法も接触ピンを用いて、個々のランドに個別に接触させて行なわなければならないので、検査の作業効率が悪く、作業時間も多くなるし、また、接触ピンを用いて接触ピンの全ピンをバンプ用端子に接触させて検査を行なうとすると、極めて高価な検査装置が必要になる。更に、ＣＯＧのうち、種類の異なる端子（ソース用、ゲート用、コモン用）を置く位置が分かれていないので、導電ラバーを用いた簡易な検査機を使用すると、異なる種類同士の端子が各々隣同士に配置されている場合、点灯を意図されていない他の端子も点灯してしまい、正常に検査ができなくなる。

本発明は、上記のような従来技術が抱える課題を解決するためになされたものであり、本発明の目的は、高価な検査装置を使用することなく、液晶駆動用ＩＣチップ搭載前の中間機能検査を容易にできるようにした液晶表示パネルを提供することにある。

上記目的を達成するために、請求項１に記載の液晶表示パネルは、複数本の透明電極が形成され周辺部がシール材で貼り合わされ間に液晶が封入された一対の基板のうち、一方の基板に液晶駆動用ＩＣチップを搭載するチップ搭載領域が設けられ、この搭載領域内に前記透明電極にそれぞれ接続された複数本の引出電極が導出され、この導出された引出電極に前記液晶駆動用ＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子が形成されたチップ・オン・グラス型の液晶表示パネルにおいて、
前記複数本の引出電極は、前記バンプ用端子よりも更に前記チップ搭載領域内に延出され、この引出電極の延長部端に検査用端子が設けられ、前記複数個のバンプ用端子及び検査用端子は、前記引出電極の長手方向と直交する方向において、互いに隣接する前記バンプ用端子及び検査用端子の位置がずらされてそれぞれ一列又は複数列に配列されていることを特徴とする。

請求項２に記載の発明は、請求項１の液晶表示パネルにおいて、前記複数本の引出電極はそれぞれＲ、Ｇ、Ｂの画素に対応する透明電極に接続されて前記検査用端子はそれぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子とされ、これらのＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子が、それぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子毎に前記引出電極の長手方向と直交する方向に一列に配列されていることを特徴とする。

請求項３に記載の発明は、請求項１の液晶表示パネルにおいて、前記検査用端子は、その幅が前記バンプ用端子の幅よりも小さく形成されていることを特徴とする。

本発明によれば上記の構成を備えることにより以下に述べるような優れた効果を奏する。すなわち、請求項１の発明によれば、バンプ用端子を高密度に配列でき、更に検査用端子をより高密度に配列することができる。また、検査用端子の位置がずらされて一列又は複数列に配列されているので、導電ラバー等の簡易な帯状検査用端子（以下、「検査プローブ」という。）を使用する検査機で断線、短絡等の検査が可能になるので、ピンタイプのプローブを使用するものに比べて、構造が簡単で安価な検査装置を用いて中間検査を行うことができるようになる。

また、バンプ用端子と検査用端子とが分離されており、検査は専用の検査用端子で行いバンプ用端子を使用することがないので、検査の際にバンプ用端子を損傷することがなく、しかも検査用端子はチップ搭載領域内に形成されるので、チップ搭載領域外を他の配線に利用でき、スペースの有効利用が図れる。更に、駆動用ＩＣチップが搭載されると、引出電極及び検査用端子がこのＩＣチップの下に隠れるので、検査用端子等が腐食することがなく、また塵等が浸入して短絡事故を起こすことがなくなる。

また、請求項２の発明によれば、請求項１の効果に加え、Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子は、それぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子毎に分かれて一列に配列されているので、Ｒ、Ｇ、Ｂの画素に対応する電極毎の検査が可能になる。しかも、この検査は、ピンタイプのプローブを用いることなく、安価な導電ラバーを用いた検査が可能になり。また、Ｒ、Ｇ、Ｂ電極毎の単色単位で断線、短絡等の検査も可能になる。更に、バンプ用端子及び検査用端子をより高密度に配列することができる。

また、請求項３の発明によれば、検査用端子の幅がバンプ用端子の幅よりも小さく形成されるので、チップ搭載領域内に多数の検査用端子を高密度に配列できる。

以下、図面を参照して本発明の最良の実施形態を説明する。但し、以下に示す実施形態は、本発明の技術思想を具体化するための液晶表示装置を例示するものであって、本発明をこの液晶表示装置に特定することを意図するものではなく、特許請求の範囲に含まれるその他の実施形態のものも等しく適応し得るものである。

図１は、本発明の一実施例に係る液晶表示装置を示し、図１（ａ）は平面図、図１（ｂ）は図１(ａ)のＡ−Ａ断面図、図２は、液晶駆動用ＩＣチップが搭載される前の基板張出部分の要部拡大平面図である。

液晶表示パネル１０は、図１、図２に示すように、フロントガラス基板１１と、このガラス基板１１より若干大きい面積を有するリアガラス基板１２とを備えている。これらの基板１１、１２の対向面側にはＩＴＯ（Indium Tin Oxide）からなる透明電極（図示省略）が形成されている。

一対の基板１１、１２は、周辺シール材１３を介してそれらの間に液晶が封入される所定のセルギャッブが生ずるように貼り合わされ、両基板１１、１２が対向する部分に表示領域が形成され、リアガラス基板が張り出した部分１２１（以下、基板張出部分という）に液晶駆動用ＩＣチップ１４を搭載するチップ搭載領域ＭＡが形成される。このチップ搭載領域ＭＡは、ＩＣチップの形状に合わせた長辺ａ 、ｂ及び短辺ｃ、ｄからなるほぼ矩形状のスペースで形成される。

基板張出部分１２１上には、透明電極の引出電極が同じくＩＴＯにより形成され、この引出電極はチップ搭載領域ＭＡ内に延びている。また、各基板１１、１２には、図１(ａ)に示すように、偏光板１５、１５がそれぞれ貼着されている。

チップ搭載領域ＭＡには、図２に示すように、複数本の引出電極２０がこの領域ＭＡに集結するように配線される。

このチップ搭載領域ＭＡには、３辺ａ、ｃ、ｄから複数本の引出電極２０の端部が引き込まれている。なお、図３では１辺ａにのみ引出電極２０が引き込まれているが、同様に他の辺ｃ、ｄにも引き込まれており、各辺に引き込まれた引出電極２０は同じ構成を有している。

複数本の引出電極２０ａ〜２０ｎは、透明電極側から周辺シール材１３を潜ってチップ搭載領域ＭＡ内に引き出される。各引出電極２０ａ〜２０ｎは、チップ搭載領域ＭＡ内に入ってからの所定の長さ部分にＩＣチップ１４のバンプ端子と接続されるバンプ用端子２１ａ〜２１ｎが形成される。また、複数本の透明電極は、Ｒ、Ｇ、Ｂ画素に接続されている。したがって、バンプ用端子２１ａ〜２１ｎもＲ、Ｇ、Ｂ用となっている。

図３（ａ）は、図２のチップ搭載領域内のＹ部拡大図である。ちなみに図３においては、Ｙ部において引き込まれている引出電極を２０ｕ〜２０ｚとして表示している。

図３（ａ）に示すように、Ｒ、Ｇ、Ｂ画素に接続されたバンプ用端子２１ｕ〜２１ｚは、矩形状のチップ搭載領域の一辺ａから、それぞれ一定の距離離れた位置に形成される。例えば、バンプ用端子２１ｕ、２１ｗ、２１ｙは、距離Ｌ１離れ、バンプ用端子２１ｖ、２１ｘ、２１ｚは、距離Ｌ２（Ｌ１＞Ｌ２）離れた位置に形成されている。

この配列によれば、Ｒ、Ｇ、Ｂバンプ用端子２１ｕ〜２１ｚは、引出電極の長手方向と直交する方向において重ならないので、引出電極の間隔を短縮しながらバンプ用端子を高密度に配列することができる。

また、前記Ｒ、Ｇ、Ｂバンプ用端子２１ｕ〜２１ｚの先端には、Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚが形成されている。すなわち、各Ｒ、Ｇ、Ｂバンプ用端子２１ｕ〜２１ｚから、引出電極をチップ搭載領域ＭＡ内に向けて更に延ばし、その端部に形成される。

その際、それぞれのＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚは、図３（ａ）に示すように、矩形状のチップ搭載領域ＭＡの一辺ａから、それぞれ一定の距離離れた位置に形成される。例えば、Ｒ検査用端子２２ｕ、２２ｘは距離Ｌｒ離れ、Ｇ検査用端子２２ｖ、２２ｙは距離Ｌｇ離れ、Ｂ検査用端子２２ｗ、２２ｚは距離Ｌｂ離れており、各距離Ｌｒ、Ｌｇ、Ｌｂは、例えばＬｒ＞Ｌｇ＞Ｌｂの関係になるようにして配列される。

この配列によれば、Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚは、接続された画素の種類ごとに引出電極の長手方向と直交する方向においてずれて重なることなく一列に整列されるので、引出電極の間隔を短縮しながら検査用端子を高密度に配列することができる。

また、各Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚの表面幅は、図３（ａ）に示すように、各Ｒ、Ｇ、Ｂバンプ用端子２１ｕ〜２１ｚの幅より小さく形成される。すなわち、各Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚをチップ搭載領域内に収めるためには、引出電極の長手方向と直交する方向における長さ（幅）が、短ければよい。この場合、導電ラバーの中に含まれている導電性粒子と、各Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚとの導通を十分にとるために、各Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚの面積はある程度必要となる。そのため、通常は、各Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚはその面積を維持するために幅を短くし、その分、幅と直交する方向における長さを長くする。検査用端子及びバンプ用端子の形状は、図３（ａ）に示した矩形に限定されず、丸、楕円等の任意の形状にしてもよい。

したがって、各Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚの表面幅を小さくすることにより、Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚは、引出電極の長手方向と直交する方向において重ならないので、引出電極の間隔を更に短縮しながら検査用端子を更に高密度に配列することができる。

図３（ｂ）は、上記の液晶表示装置に使用される検査プローブの１例を示す平面図である。

この検査プローブ３０は、ほぼ矩形状で所定の肉厚を有する板状体３１、例えばシリコンラバーからなり、図３（ｂ）に示すように、横長手方向に所定幅に所定量の導電性粒子を混入することにより帯状導電層３２Ｒ、３２Ｇ、３２Ｂが形成されており、残余の部分は帯状絶縁層３３、３３として各帯状導電層３２Ｒ、３２Ｇ、３２Ｂの間に介在されている。また、各帯状導電層３２Ｒ、３２Ｇ、３２Ｂは、それぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚに対応し、検査時にこれらの検査用端子と接触される幅長を有している。この検査プローブ３０は、検査装置（図示省略）に接続されている。

液晶駆動ＩＣを搭載前の液晶表示パネル１０の検査は、チップ搭載領域内ＭＡに一列に並んだＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子に、導電ラバーからなる検査プローブ３０の帯状導電層３２Ｒ、３２Ｇ、３２Ｂを接触させ、検査装置から所定の信号を送って、電極の断線、電極間の短絡等の検査が行われる。

この検査プローブ３０は、接触ピンを使用する検査プローブに比べて、簡単な構造であり安価に製作できる。また、Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子をそれぞれ単色単位で個別に且つ同時に接触させることができるので、検査の作業時間の短縮が可能になる。

図１は、本発明の一実施例に係る液晶表示装置を示し、図１（ａ）は平面図、図１（ｂ）は図１(ａ)のＡ−Ａ断面図、 図２は、液晶駆動用ＩＣチップが搭載される前の基板張出部分の要部拡大平面図、 図３は、引出電極及びそれに用いる検査プローブを説明する図であり、図３（ａ）は、図２のチップ搭載領域内のＹ部拡大図、図３（ｂ）は、上記の液晶表示装置に使用される検査プローブの１例を示す平面図、 図４は、下記特許文献１に記載された液晶表示パネルの要部拡大平面図。

符号の説明

１０ 液晶表示パネル
１１ フロントガラス基板
１２ リアガラス基板
１３ 周辺シール材
１４ ＩＣチップ
２０、２０ａ〜２０ｎ、２０ｕ〜２０ｚ
引出電極
２１ｕ〜２１ｚ バンプ用端子
２２ｕ〜２２ｚ 検査用端子
３０ 検査プローブ
３１ 板状体
３２Ｒ、３２Ｇ、３２Ｂ 帯状導電層
３３ 帯状絶縁層
ＭＡ チップ搭載領域

Claims (3)

1. 複数本の透明電極が形成され周辺部がシール材で貼り合わされ間に液晶が封入された一対の基板のうち、一方の基板に液晶駆動用ＩＣチップを搭載するチップ搭載領域が設けられ、この搭載領域内に前記透明電極にそれぞれ接続された複数本の引出電極が導出され、この導出された引出電極に前記液晶駆動用ＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子が形成されたチップ・オン・グラス型の液晶表示パネルにおいて、
   前記複数本の引出電極は、前記バンプ用端子よりも更に前記チップ搭載領域内に延出され、この引出電極の延長部端に検査用端子が設けられ、前記複数個のバンプ用端子及び検査用端子は、前記引出電極の長手方向と直交する方向において、互いに隣接する前記バンプ用端子及び検査用端子の位置がずらされてそれぞれ一列又は複数列に配列されていることを特徴とする液晶表示パネル。
2. 前記複数本の引出電極はそれぞれＲ、Ｇ、Ｂの画素に対応する透明電極に接続されて前記検査用端子はそれぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子とされ、これらのＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子が、それぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子毎に前記引出電極の長手方向と直交する方向に一列に配列されていることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネル。
3. 前記検査用端子は、その幅が前記バンプ用端子の幅よりも小さく形成されていることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネル。

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