JPH11202353A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH11202353A JPH11202353A JP282698A JP282698A JPH11202353A JP H11202353 A JPH11202353 A JP H11202353A JP 282698 A JP282698 A JP 282698A JP 282698 A JP282698 A JP 282698A JP H11202353 A JPH11202353 A JP H11202353A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、駆動電極の導通及び短絡試験をし
易くした液晶表示装置を提供する。 【解決手段】 対向する少なくとも２枚の基板１、２の
間に液晶を挟持してなり、少なくとも一方の基板にはシ
ールに囲まれた液晶表示部を駆動するための駆動電極４
０が形成されており、少なくとも前記駆動電極を駆動す
るための駆動回路３と前記駆動回路に信号を入力するた
めの外部接続部とを配設するための延出部２１を表示部
の外側に有しており、一方の基板の延出部であり前記駆
動電極から引き出された引き出し線の端部には駆動回路
接続用の端子４１が配設され、前記端子に前記駆動回路
を接続してなる液晶表示装置において、前記端子４１か
ら搭載された前記駆動回路３の下部を通る延長された延
長電極５０を有し、前記延長電極に検査用端子５１を接
続する。
易くした液晶表示装置を提供する。 【解決手段】 対向する少なくとも２枚の基板１、２の
間に液晶を挟持してなり、少なくとも一方の基板にはシ
ールに囲まれた液晶表示部を駆動するための駆動電極４
０が形成されており、少なくとも前記駆動電極を駆動す
るための駆動回路３と前記駆動回路に信号を入力するた
めの外部接続部とを配設するための延出部２１を表示部
の外側に有しており、一方の基板の延出部であり前記駆
動電極から引き出された引き出し線の端部には駆動回路
接続用の端子４１が配設され、前記端子に前記駆動回路
を接続してなる液晶表示装置において、前記端子４１か
ら搭載された前記駆動回路３の下部を通る延長された延
長電極５０を有し、前記延長電極に検査用端子５１を接
続する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、駆動電極の導通及
び短絡試験をし易くした液晶表示装置に関する。
び短絡試験をし易くした液晶表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】携帯用機器に使用される液晶表示装置は
近年益々小型化され、限られたスペースを有効に利用す
るレイアウトが行なわれる。図８はこの種の液晶表示装
置の概略構成を示す斜視図である。図中、１は透明な上
基板、２はこれと対向する透明な下基板である。両基板
１、２の間にはリング状のシールを介在させて液晶を封
止し、液晶表示部を形成する。上基板１及び下基板２の
相対向する内面には透明な駆動電極が成膜され、この駆
動電極間に電圧を印加することで所望の画像が表示され
る。駆動電極には２種類ある。１つはセグメント（信号
線）駆動電極であり、他の１つはコモン（走査線）駆動
電極である。
近年益々小型化され、限られたスペースを有効に利用す
るレイアウトが行なわれる。図８はこの種の液晶表示装
置の概略構成を示す斜視図である。図中、１は透明な上
基板、２はこれと対向する透明な下基板である。両基板
１、２の間にはリング状のシールを介在させて液晶を封
止し、液晶表示部を形成する。上基板１及び下基板２の
相対向する内面には透明な駆動電極が成膜され、この駆
動電極間に電圧を印加することで所望の画像が表示され
る。駆動電極には２種類ある。１つはセグメント（信号
線）駆動電極であり、他の１つはコモン（走査線）駆動
電極である。
【０００３】下基板２の延長部２１には駆動電極に駆動
電圧を印加する駆動用ＩＣ（駆動回路）３が搭載され
る。図９はこの駆動用ＩＣ搭載部３１を示している。駆
動用ＩＣ搭載部３１には、液晶表示部内部から駆動電極
４０が引き出される。この駆動電極４０の端部には駆動
回路接続用端子４１が形成されている。
電圧を印加する駆動用ＩＣ（駆動回路）３が搭載され
る。図９はこの駆動用ＩＣ搭載部３１を示している。駆
動用ＩＣ搭載部３１には、液晶表示部内部から駆動電極
４０が引き出される。この駆動電極４０の端部には駆動
回路接続用端子４１が形成されている。
【０００４】ＩＣ搭載部３１に実際に駆動用ＩＣ３を搭
載する前工程として、図１０に示すように、端子４１に
試験用治具６の検査針６１を接触させて駆動電極４０の
導通及び短絡試験を行う。
載する前工程として、図１０に示すように、端子４１に
試験用治具６の検査針６１を接触させて駆動電極４０の
導通及び短絡試験を行う。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した液晶表示装置
が小型化され、表示に必要ない延長部２１が短くなる
と、図９に示すように、上基板１の端部１１と端子４１
との距離Ｌ１が極めて短くなる。このため試験用治具を
用いて導通及び短絡試験を行う場合、図１０に示すよう
に、治具本体６が上基板１の端部１１に当たって、治具
６から突出した検査針６１を端子４１に接触できない不
具合が生ずる。また端子４１に検査針６１を強く当てる
と、端子４１を損傷して駆動用ＩＣ３との接続の信頼性
を低下させる不都合が生ずる。
が小型化され、表示に必要ない延長部２１が短くなる
と、図９に示すように、上基板１の端部１１と端子４１
との距離Ｌ１が極めて短くなる。このため試験用治具を
用いて導通及び短絡試験を行う場合、図１０に示すよう
に、治具本体６が上基板１の端部１１に当たって、治具
６から突出した検査針６１を端子４１に接触できない不
具合が生ずる。また端子４１に検査針６１を強く当てる
と、端子４１を損傷して駆動用ＩＣ３との接続の信頼性
を低下させる不都合が生ずる。
【０００６】更に、液晶表示装置の小型化に伴い、端子
４１の面積が減少し、しかも配列ピッチが狭くなると、
検査針６１を正確に当てることが難しくなり、誤って隣
接する端子に接触させてしまうことがある。また、端子
４１の配列ピッチが機種毎に異なると、その都度対応す
る配列ピッチの検査針を有した治具を使用する必要があ
り、試験用治具の製造および管理が煩雑化する。これら
が本発明で解決しようとする課題である。
４１の面積が減少し、しかも配列ピッチが狭くなると、
検査針６１を正確に当てることが難しくなり、誤って隣
接する端子に接触させてしまうことがある。また、端子
４１の配列ピッチが機種毎に異なると、その都度対応す
る配列ピッチの検査針を有した治具を使用する必要があ
り、試験用治具の製造および管理が煩雑化する。これら
が本発明で解決しようとする課題である。
【０００７】本発明は、駆動電極の導通及び短絡試験を
し易くした液晶表示装置を提供することを目的としてい
る。
し易くした液晶表示装置を提供することを目的としてい
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、対
向する少なくとも２枚の基板の間に液晶を挟持してな
り、少なくとも一方の基板にはシールに囲まれた液晶表
示部を駆動するための駆動電極が形成されており、少な
くとも前記駆動電極を駆動するための駆動回路と前記駆
動回路に信号を入力するための外部接続部とを配設する
ための延出部を表示部の外側に有しており、一方の基板
の延出部であり前記駆動電極から引き出された引き出し
線の端部には駆動回路接続用の端子が配設され、前記端
子に前記駆動回路を接続してなる液晶表示装置におい
て、前記端子から搭載された前記駆動回路の下部を通る
延長された延長電極を有し、前記延長電極に検査用端子
を接続した液晶表示装置で達成できる。
向する少なくとも２枚の基板の間に液晶を挟持してな
り、少なくとも一方の基板にはシールに囲まれた液晶表
示部を駆動するための駆動電極が形成されており、少な
くとも前記駆動電極を駆動するための駆動回路と前記駆
動回路に信号を入力するための外部接続部とを配設する
ための延出部を表示部の外側に有しており、一方の基板
の延出部であり前記駆動電極から引き出された引き出し
線の端部には駆動回路接続用の端子が配設され、前記端
子に前記駆動回路を接続してなる液晶表示装置におい
て、前記端子から搭載された前記駆動回路の下部を通る
延長された延長電極を有し、前記延長電極に検査用端子
を接続した液晶表示装置で達成できる。
【０００９】本発明の上記目的はまた、対向する少なく
とも２枚の基板の間に液晶を挟持してなり、基板にはシ
ールに囲まれた液晶表示部を駆動するためのセグメント
駆動電極およびコモン駆動電極が形成されており、少な
くとも前記駆動電極を駆動するための駆動回路と前記駆
動回路に信号を入力するための外部接続部とを配設する
ための延出部を表示部の外側に有しており、一方の基板
の延出部には前記セグメント駆動電極および前記コモン
駆動電極が電気的に延長された引き出し線を有し、前記
引き出し線の端部には駆動回路接続用の端子が配設さ
れ、前記端子に前記駆動回路を接続してなる液晶表示装
置において、前記駆動回路接続用端子から搭載された前
記駆動回路の下部を通る延長された延長電極を有し、前
記延長電極がセグメント電極ブロックとコモン電極ブロ
ックにブロック化して前記延長電極を配設する事で検査
用端子をなした液晶表示装置で達成できる。
とも２枚の基板の間に液晶を挟持してなり、基板にはシ
ールに囲まれた液晶表示部を駆動するためのセグメント
駆動電極およびコモン駆動電極が形成されており、少な
くとも前記駆動電極を駆動するための駆動回路と前記駆
動回路に信号を入力するための外部接続部とを配設する
ための延出部を表示部の外側に有しており、一方の基板
の延出部には前記セグメント駆動電極および前記コモン
駆動電極が電気的に延長された引き出し線を有し、前記
引き出し線の端部には駆動回路接続用の端子が配設さ
れ、前記端子に前記駆動回路を接続してなる液晶表示装
置において、前記駆動回路接続用端子から搭載された前
記駆動回路の下部を通る延長された延長電極を有し、前
記延長電極がセグメント電極ブロックとコモン電極ブロ
ックにブロック化して前記延長電極を配設する事で検査
用端子をなした液晶表示装置で達成できる。
【００１０】本発明の実施形態によると、前記検査用端
子の端子間ピッチが規格化される。また、前記検査用端
子の端子間ピッチと端子電極の幅が規格化される。ある
いは、前記検査用端子の端子間ピッチが規格化され、さ
らに前記延長電極のセグメント駆動電極ブロックとコモ
ン駆動電極ブロックのブロック間が前記規格化された端
子間ピッチより広く設定される。
子の端子間ピッチが規格化される。また、前記検査用端
子の端子間ピッチと端子電極の幅が規格化される。ある
いは、前記検査用端子の端子間ピッチが規格化され、さ
らに前記延長電極のセグメント駆動電極ブロックとコモ
ン駆動電極ブロックのブロック間が前記規格化された端
子間ピッチより広く設定される。
【００１１】前記検査用端子が前記駆動回路接続用端子
より表面積が狭く設定されることがあり、逆に前記検査
用端子が前記駆動回路接続用端子より表面積が広く設定
されることもある。さらには、前記検査用端子が市松状
に配列されることもある。あるいは、前記延長電極の電
極幅が前記引き出し線の線幅より狭く設定されることも
ある。
より表面積が狭く設定されることがあり、逆に前記検査
用端子が前記駆動回路接続用端子より表面積が広く設定
されることもある。さらには、前記検査用端子が市松状
に配列されることもある。あるいは、前記延長電極の電
極幅が前記引き出し線の線幅より狭く設定されることも
ある。
【００１２】駆動用ＩＣ搭載部内へ延長された延長電極
の各端部に形成された検査用端子に対し、検査治具から
突出した検査針を当接することは、駆動回路接続用端子
に対する場合より容易であり、しかも駆動回路接続用端
子を損傷させずに済む。
の各端部に形成された検査用端子に対し、検査治具から
突出した検査針を当接することは、駆動回路接続用端子
に対する場合より容易であり、しかも駆動回路接続用端
子を損傷させずに済む。
【００１３】本発明によれば、検査治具から突出した検
査針を正確に検査用端子に当接させることができる。ま
た、小型化に伴い駆動電極の配列ピッチが減少しても、
検査治具の適用は容易である。更に、駆動電極の配列ピ
ッチが機種毎に異なっても、１もしくは少ない種類の検
査治具で対応できる。
査針を正確に検査用端子に当接させることができる。ま
た、小型化に伴い駆動電極の配列ピッチが減少しても、
検査治具の適用は容易である。更に、駆動電極の配列ピ
ッチが機種毎に異なっても、１もしくは少ない種類の検
査治具で対応できる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面に示した実施形態を参
照して、本発明を詳細に説明する。図１は本発明の第１
の実施形態を示す要部平面図である。この図において、
１は上基板、１１はその端部、２１は下基板の延長部、
３１は延長部２１に設定された駆動用ＩＣ搭載部、４０
は上基板１を含む液晶表示部から引き出された駆動電
極、４１はその先端に形成された駆動回路接続用端子、
５０はこの駆動回路接続用端子４１から駆動用ＩＣ搭載
部３１内に延長された延長電極、５１はその先端に形成
された検査用端子である。
照して、本発明を詳細に説明する。図１は本発明の第１
の実施形態を示す要部平面図である。この図において、
１は上基板、１１はその端部、２１は下基板の延長部、
３１は延長部２１に設定された駆動用ＩＣ搭載部、４０
は上基板１を含む液晶表示部から引き出された駆動電
極、４１はその先端に形成された駆動回路接続用端子、
５０はこの駆動回路接続用端子４１から駆動用ＩＣ搭載
部３１内に延長された延長電極、５１はその先端に形成
された検査用端子である。
【００１５】駆動回路接続用端子４１に接続された延長
電極５０は、上基板１の端部１１と検査用端子５１との
距離Ｌ２を、前記端部１１と駆動回路接続用端子４１と
の距離Ｌ１より長しＬ２とする。従って、検査用端子５
１に対する試験用治具の適用は、端部１１に近い駆動回
路接続用端子４１に対する場合より容易になる。
電極５０は、上基板１の端部１１と検査用端子５１との
距離Ｌ２を、前記端部１１と駆動回路接続用端子４１と
の距離Ｌ１より長しＬ２とする。従って、検査用端子５
１に対する試験用治具の適用は、端部１１に近い駆動回
路接続用端子４１に対する場合より容易になる。
【００１６】図２（Ａ）及び（Ｂ）は本発明に適用する
検査用治具６の正面図および側面図を示している。図１
の例では、検査用端子５１の幅Ｗ２は、駆動回路接続用
端子４１の幅Ｗ１より広い。従って、図２（Ａ）に正面
図を示すような絶縁性素材（例えばゴム）６０から複数
本の検査針６１を突出させた多針型検査治具６の各検査
針６１を、幅Ｗ１の狭い駆動回路接続用端子４１に対す
る場合に比べ、幅Ｗ２の広い検査用端子５１に対して
は、多少の位置ズレがあっても当接させることができ、
操作し易い。
検査用治具６の正面図および側面図を示している。図１
の例では、検査用端子５１の幅Ｗ２は、駆動回路接続用
端子４１の幅Ｗ１より広い。従って、図２（Ａ）に正面
図を示すような絶縁性素材（例えばゴム）６０から複数
本の検査針６１を突出させた多針型検査治具６の各検査
針６１を、幅Ｗ１の狭い駆動回路接続用端子４１に対す
る場合に比べ、幅Ｗ２の広い検査用端子５１に対して
は、多少の位置ズレがあっても当接させることができ、
操作し易い。
【００１７】検査用端子５１の幅Ｗ２を拡大すると、複
数の検査用端子５１を横一列に配列するスペースはなく
なる。この場合は、図１のように、交互に縦方向の位置
を入れ換えた市松状の配列とすれば良い。この場合の検
査治具６は、図２（Ｂ）の側面図に示すように、検査針
６１を市松状に配列させたものとする。
数の検査用端子５１を横一列に配列するスペースはなく
なる。この場合は、図１のように、交互に縦方向の位置
を入れ換えた市松状の配列とすれば良い。この場合の検
査治具６は、図２（Ｂ）の側面図に示すように、検査針
６１を市松状に配列させたものとする。
【００１８】図３は本発明の第２の実施形態を示す要部
平面図である。この実施形態は、検査用端子５１の幅、
配列パターンおよび配列ピッチを駆動回路接続用端子４
１のそれらと等しくしたまま、上基板１の端部１１から
遠ざけた基本形である。延長電極５０および検査用端子
５１は、駆動用ＩＣ（図８の３）によってその後覆われ
てしまう空きスペース（駆動用ＩＣ搭載部３１）を利用
するため、他の配線スペースの有効利用の妨げにはなら
ない。
平面図である。この実施形態は、検査用端子５１の幅、
配列パターンおよび配列ピッチを駆動回路接続用端子４
１のそれらと等しくしたまま、上基板１の端部１１から
遠ざけた基本形である。延長電極５０および検査用端子
５１は、駆動用ＩＣ（図８の３）によってその後覆われ
てしまう空きスペース（駆動用ＩＣ搭載部３１）を利用
するため、他の配線スペースの有効利用の妨げにはなら
ない。
【００１９】図４は本発明の第３の実施形態を示す要部
平面図である。この実施形態は、検査用端子５１の配列
ピッチＰ２を駆動回路接続用端子４１の配列ピッチＰ１
より大きく設定したものである。そして、この検査用端
子５１の拡大された配列ピッチＰ２を標準的な検査治具
６に対応させて規格化し、駆動回路接続用端子４１の配
列ピッチＰ１が機種によって異なる場合でも、共通の検
査治具６を兼用できるようにする。
平面図である。この実施形態は、検査用端子５１の配列
ピッチＰ２を駆動回路接続用端子４１の配列ピッチＰ１
より大きく設定したものである。そして、この検査用端
子５１の拡大された配列ピッチＰ２を標準的な検査治具
６に対応させて規格化し、駆動回路接続用端子４１の配
列ピッチＰ１が機種によって異なる場合でも、共通の検
査治具６を兼用できるようにする。
【００２０】上述した本発明の各実施形態は、本発明の
一部を示すに過ぎない。即ち、本発明の１つの基本概念
は、図５に示すように、一定ピッチで配列される駆動回
路接続用端子４１を延長電極５０で検査用端子５１まで
引き出して、図７に示すように、上基板１の端部１１か
ら遠ざけ、検査用治具６の検査針６１をスペース的余裕
を持って検査用端子５１に接触させて短絡および導通試
験ができるようにすること、および駆動回路接続用端子
４１に検査針６１による損傷を残さない点にある。な
お、図７において、７０は液晶を封止するためのリング
状のシール、７１は封止された液晶である。
一部を示すに過ぎない。即ち、本発明の１つの基本概念
は、図５に示すように、一定ピッチで配列される駆動回
路接続用端子４１を延長電極５０で検査用端子５１まで
引き出して、図７に示すように、上基板１の端部１１か
ら遠ざけ、検査用治具６の検査針６１をスペース的余裕
を持って検査用端子５１に接触させて短絡および導通試
験ができるようにすること、および駆動回路接続用端子
４１に検査針６１による損傷を残さない点にある。な
お、図７において、７０は液晶を封止するためのリング
状のシール、７１は封止された液晶である。
【００２１】検査用端子５１の配列ピッチは、接続用端
子４１の配列ピッチより広くても狭くても良い。但し、
検査用端子５１の配列ピッチを規格化することは、検査
用治具６の種類を減少させて、共用化するために重要で
ある。また延長電極（測定部は除く）は不用意なショー
トを防ぐため、各々の配線間隔はできるだけ大きくし、
最低限導通がとれればよいようにする。
子４１の配列ピッチより広くても狭くても良い。但し、
検査用端子５１の配列ピッチを規格化することは、検査
用治具６の種類を減少させて、共用化するために重要で
ある。また延長電極（測定部は除く）は不用意なショー
トを防ぐため、各々の配線間隔はできるだけ大きくし、
最低限導通がとれればよいようにする。
【００２２】本発明の他の基本概念は、図６に示すよう
に、セグメント駆動電極Ｓとコモン駆動電極Ｃのパッド
はＩＣ内部で密集しているので、これらをそれぞれブロ
ック化し、各ブロック間にピッチＢを確保することであ
る。この場合も延長先でセグメント駆動電極Ｓのブロッ
クとコモン駆動電極Ｃのブロックが離れるようになる。
一方、ブロック内の検査用端子は図５に示した如く、標
準化されたピッチとしてある。検査針６１を用いた検査
よりも更に簡易な検査として、セグメント電極Ｓブロッ
ク全体とコモン電極Ｃブロック全体に電圧を印可し、液
晶表示装置を全点灯状態にして、各々の電極の断線有無
の検査を行うこともある。この場合はセグメント電極Ｓ
ブロック及びコモン電極Ｃブロックに一括して電圧を印
可する治具６２Ｓ及び６２Ｃ（例えば導電ゴム）を用い
るが、この際各ブロック間ピッチＢを確保することで６
２Ｓ及び６２Ｃ治具の形成、位置精度を簡易にする事が
出来る。
に、セグメント駆動電極Ｓとコモン駆動電極Ｃのパッド
はＩＣ内部で密集しているので、これらをそれぞれブロ
ック化し、各ブロック間にピッチＢを確保することであ
る。この場合も延長先でセグメント駆動電極Ｓのブロッ
クとコモン駆動電極Ｃのブロックが離れるようになる。
一方、ブロック内の検査用端子は図５に示した如く、標
準化されたピッチとしてある。検査針６１を用いた検査
よりも更に簡易な検査として、セグメント電極Ｓブロッ
ク全体とコモン電極Ｃブロック全体に電圧を印可し、液
晶表示装置を全点灯状態にして、各々の電極の断線有無
の検査を行うこともある。この場合はセグメント電極Ｓ
ブロック及びコモン電極Ｃブロックに一括して電圧を印
可する治具６２Ｓ及び６２Ｃ（例えば導電ゴム）を用い
るが、この際各ブロック間ピッチＢを確保することで６
２Ｓ及び６２Ｃ治具の形成、位置精度を簡易にする事が
出来る。
【００２３】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、小型
化により表示に必要のない延長部が短くなった液晶表示
装置でも、基板端部に試験用治具が当たることがなくな
るため、試験用治具を用いた導通および短絡試験を容易
に行うことができる。また、本発明では試験用治具の検
査針をＩＣ接続用端子とは別の検査用端子に接触させる
ので、検査針によって駆動用ＩＣとの接続用端子を損傷
する恐れがない。更に、本発明では、駆動用ＩＣへの接
続端子の配列ピッチが狭い液晶表示装置でも、隣接する
接続端子に誤って検査針を接触させることが回避され
る。更にまた、本発明によれば、機種毎の試験用端子の
配列ピッチを統一できるので、これに対応する試験用治
具の製造及び管理が容易になる。このように、本発明に
よれば、駆動電極の導通及び短絡試験をし易くした液晶
表示装置を得ることができる。
化により表示に必要のない延長部が短くなった液晶表示
装置でも、基板端部に試験用治具が当たることがなくな
るため、試験用治具を用いた導通および短絡試験を容易
に行うことができる。また、本発明では試験用治具の検
査針をＩＣ接続用端子とは別の検査用端子に接触させる
ので、検査針によって駆動用ＩＣとの接続用端子を損傷
する恐れがない。更に、本発明では、駆動用ＩＣへの接
続端子の配列ピッチが狭い液晶表示装置でも、隣接する
接続端子に誤って検査針を接触させることが回避され
る。更にまた、本発明によれば、機種毎の試験用端子の
配列ピッチを統一できるので、これに対応する試験用治
具の製造及び管理が容易になる。このように、本発明に
よれば、駆動電極の導通及び短絡試験をし易くした液晶
表示装置を得ることができる。
【図１】本発明の第１の実施形態を示す要部平面図であ
る。
る。
【図２】多針型検査治具の構成図である。
【図３】本発明の第２の実施形態を示す要部平面図であ
る。
る。
【図４】本発明の第３の実施形態を示す要部平面図であ
る。
る。
【図５】本発明の１つの基本概念を示す平面図である。
【図６】本発明の他の基本概念を示す平面図である。
【図７】本発明の液晶表示装置の基板延長部を示す側面
図である。
図である。
【図８】液晶表示装置の概略構成を示す斜視図である。
【図９】図８の要部拡大平面図である。
【図１０】従来の液晶表示装置の基板延長部示す側面図
である。
である。
１ 上基板 １１ 端部 ２ 下基板 ２１ 延長部 ３ 駆動用ＩＣ（駆動回路） ３１ 駆動用ＩＣ搭載部 ４０ 駆動電極 ４１ 駆動回路接続用端子 ５０ 延長電極 ５１ 検査用端子 ６ 検査治具 ６１ 検査針 Ｓ セグメント駆動電極 Ｃ コモン駆動電極
Claims (11)
- 【請求項１】 対向する少なくとも２枚の基板の間に液
晶を挟持してなり、少なくとも一方の基板にはシールに
囲まれた液晶表示部を駆動するための駆動電極が形成さ
れており、少なくとも前記駆動電極を駆動するための駆
動回路と前記駆動回路に信号を入力するための外部接続
部とを配設するための延出部を表示部の外側に有してお
り、一方の基板の延出部であり前記駆動電極から引き出
された引き出し線の端部には駆動回路接続用の端子が配
設され、前記端子に前記駆動回路を接続してなる液晶表
示装置において、 前記端子から搭載された前記駆動回路の下部を通る延長
された延長電極を有し、前記延長電極に検査用端子を接
続したことを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項２】 対向する少なくとも２枚の基板の間に液
晶を挟持してなり、基板にはシールに囲まれた液晶表示
部を駆動するためのセグメント駆動電極およびコモン駆
動電極が形成されており、少なくとも前記駆動電極を駆
動するための駆動回路と前記駆動回路に信号を入力する
ための外部接続部とを配設するための延出部を表示部の
外側に有しており、一方の基板の延出部には前記セグメ
ント駆動電極および前記コモン駆動電極が電気的に延長
された引き出し線を有し、前記引き出し線の端部には駆
動回路接続用の端子が配設され、前記端子に前記駆動回
路を接続してなる液晶表示装置において、 前記駆動回路接続用端子から搭載された前記駆動回路の
下部を通る延長された延長電極を有し、前記延長電極が
セグメント電極ブロックとコモン電極ブロックにブロッ
ク化して前記延長電極を配設する事で検査用端子をなし
たことを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項３】 前記検査用端子の端子間ピッチが規格化
されていることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示
装置。 - 【請求項４】 前記検査用端子の端子間ピッチが規格化
されていることを特徴とする請求項２に記載の液晶表示
装置。 - 【請求項５】 前記検査用端子の端子間ピッチと端子電
極の幅が規格化されていることを特徴とする請求項１に
記載の液晶表示装置。 - 【請求項６】 前記検査用端子の端子間ピッチと端子電
極の幅が規格化されていることを特徴とする請求項２に
記載の液晶表示装置。 - 【請求項７】 前記検査用端子の端子間ピッチが規格化
されており、さらに前記延長電極のセグメント駆動電極
ブロックとコモン駆動電極ブロックのブロック間が前記
規格化された端子間ピッチより広いことを特徴とする請
求項２または請求項４または請求項６に記載の液晶表示
装置。 - 【請求項８】 前記検査用端子が前記駆動回路接続用端
子より表面積が狭いことを特徴とする請求項１乃至７に
記載の液晶表示装置。 - 【請求項９】 前記検査用端子が前記駆動回路接続用端
子より表面積が広いことを特徴とする請求項１乃至８に
記載の液晶表示装置。 - 【請求項１０】 前記検査用端子が市松状に配列されて
いることを特徴とする請求項１乃至９に記載の液晶表示
装置。 - 【請求項１１】 前記延長電極の電極幅が前記引き出し
線の線幅より狭いことを特徴とする請求項１乃至１０に
記載の液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP282698A JPH11202353A (ja) | 1998-01-09 | 1998-01-09 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP282698A JPH11202353A (ja) | 1998-01-09 | 1998-01-09 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11202353A true JPH11202353A (ja) | 1999-07-30 |
Family
ID=11540230
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP282698A Pending JPH11202353A (ja) | 1998-01-09 | 1998-01-09 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11202353A (ja) |
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005062876A (ja) * | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示装置 |
| JP2005181530A (ja) * | 2003-12-17 | 2005-07-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び電子機器 |
| JP2005201958A (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法 |
| US6930744B1 (en) * | 1999-05-14 | 2005-08-16 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | LCD device having test contact pads |
| US6977708B2 (en) * | 2002-07-26 | 2005-12-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Substrate for liquid crystal display having multiple terminals connected to semiconductor chip, and liquid crystal display having the same |
| JP2006003741A (ja) * | 2004-06-18 | 2006-01-05 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶表示パネル |
| WO2006006365A1 (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 表示装置 |
| WO2006073010A1 (ja) * | 2005-01-07 | 2006-07-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示装置、表示装置用基板、表示装置の製造方法、表示装置用基板の製造方法、検査信号入力装置用基板およびそれを備えた検査信号入力装置 |
| JP2007058174A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Samsung Electronics Co Ltd | アレイ基板及びそれを有する表示装置 |
| JP2007219046A (ja) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Epson Imaging Devices Corp | 液晶表示パネル |
| JP2007219047A (ja) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Epson Imaging Devices Corp | 液晶表示パネル |
| JP2007286539A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電子機器および電気光学装置の検査方法 |
| US7358570B2 (en) | 2005-02-04 | 2008-04-15 | Epson Imaging Devices Corp. | Liquid crystal display panel |
| WO2015016009A1 (ja) * | 2013-07-30 | 2015-02-05 | 富士フイルム株式会社 | 撮像モジュール及び電子機器 |
| US11116079B2 (en) | 2016-07-13 | 2021-09-07 | Samsung Display Co., Ltd. | High resolution display device |
-
1998
- 1998-01-09 JP JP282698A patent/JPH11202353A/ja active Pending
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6930744B1 (en) * | 1999-05-14 | 2005-08-16 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | LCD device having test contact pads |
| KR100831805B1 (ko) * | 2002-07-26 | 2008-05-28 | 샤프 가부시키가이샤 | 액정 표시 장치용 기판 및 그것을 구비한 액정 표시 장치및 그 제조 방법 |
| US6977708B2 (en) * | 2002-07-26 | 2005-12-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Substrate for liquid crystal display having multiple terminals connected to semiconductor chip, and liquid crystal display having the same |
| JP2005062876A (ja) * | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示装置 |
| JP2005181530A (ja) * | 2003-12-17 | 2005-07-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び電子機器 |
| JP4608881B2 (ja) * | 2003-12-17 | 2011-01-12 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学措置用基板、電気光学装置及び電子機器 |
| JP2005201958A (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法 |
| JP4682516B2 (ja) * | 2004-01-13 | 2011-05-11 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置用基板、電気光学装置及び電子機器 |
| JP2006003741A (ja) * | 2004-06-18 | 2006-01-05 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶表示パネル |
| WO2006006365A1 (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 表示装置 |
| WO2006073010A1 (ja) * | 2005-01-07 | 2006-07-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示装置、表示装置用基板、表示装置の製造方法、表示装置用基板の製造方法、検査信号入力装置用基板およびそれを備えた検査信号入力装置 |
| US7358570B2 (en) | 2005-02-04 | 2008-04-15 | Epson Imaging Devices Corp. | Liquid crystal display panel |
| KR100860193B1 (ko) * | 2005-02-04 | 2008-09-24 | 엡슨 이미징 디바이스 가부시키가이샤 | 액정 표시 패널 |
| JP2007058174A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Samsung Electronics Co Ltd | アレイ基板及びそれを有する表示装置 |
| JP2007219046A (ja) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Epson Imaging Devices Corp | 液晶表示パネル |
| JP2007219047A (ja) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Epson Imaging Devices Corp | 液晶表示パネル |
| JP2007286539A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電子機器および電気光学装置の検査方法 |
| WO2015016009A1 (ja) * | 2013-07-30 | 2015-02-05 | 富士フイルム株式会社 | 撮像モジュール及び電子機器 |
| JP5887468B2 (ja) * | 2013-07-30 | 2016-03-16 | 富士フイルム株式会社 | 撮像モジュール及び電子機器 |
| US11116079B2 (en) | 2016-07-13 | 2021-09-07 | Samsung Display Co., Ltd. | High resolution display device |
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